材料测试技术1
现代材料测试技术测试方法1精选全文

4.1差热分析
4.1.1差热分析的基本原理
2、差热分析的基本理论
ΔH=KS
差热曲线的峰谷面积S和 反应热效应△H成正比, 反应热效应越大,峰谷 面积越大。
具有相同热效应的反应, 传热系数K越小,峰谷面 积越大,灵敏度越高。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
1、DTA曲线的特征 DTA曲线是将试样和参比物置于
2、DTA曲线的温度测定及标定:外推法(反应起点、转变点、 终点) 外延起始温度——表示反应的起始温度
3、DTA曲线的影响因素 差热分析是一种热动态技术,在测试过程中体系的温度不断变 化,引起物质热性能变化。因此,许多因素都可影响DTA曲 线的基线、峰形和温度。归纳起来,影响DTA曲线的主要因 素有下列几方面:
用相同质量的试样和升温速度对不同粒度的胆矾进 行研究(如图)。说明颗粒大小影响反应产物的扩散 速度,过大的颗粒和过小的颗粒都可能导致反应温 度改变,相邻峰谷合并,分辨率下降。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
试样用量的多少与颗粒大 小对DTA曲线有着类似的 影响,试样用量多,放热 效应大,峰顶温度滞后, 容易掩盖邻近小峰谷,特 别是对在反应过程中有气 体放出的热分解反应。
(1)仪器方面的因素:包括加热炉的形状和尺寸,坩埚材料及大 小,热电偶的位置等。
(2)试样因素:包括试样的热容量、热导率和试样的纯度、结晶 度或离子取代以及试样的颗粒度、用量及装填密度等。
(3)实验条件:包括加热速度、气氛、压力和量程、纸速等。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
(1)热容和热导率的变化: 试样的热容和热导率的变化会引起 差热曲线的基线变化,一台性能良 好的差热仪的基线应是一条水平直 线,但试样差热曲线的基线在反应 的前后往往不会停留在同一水平上, 这是由于试样在反应前后热容或热 导率变化的缘故。
材料分析测试技术试题1

第一章1、同种材料经过不同的处理后其性能不变()2、XRD可以进行样品表面微观形貌观察()3、x-ray是电磁波,具有粒子性和波动性()4、在医学透视上的x-ray波长很长,故又称为软x-ray()5、对于长方形焦点的x-ray管,对这长边的表观焦点形状为线状,它的强度很强()6、连续x-ray的强度随着管压的增高而增高()7、连续x-ray谱中,能量最大值在光子能量最大的λ0处()8、Kα线比Kβ线的波长长而强度高()9、每种物质的俄歇电子能量大小只取决于该物质的原子能级结构,是物质的固有特征()10、质量吸收系数与物质密度和状态无关,只与原子序数和x-ray的波长有关()11、随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小()12、经滤波后的X射线是相对的单色光()13、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度()14、产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态()15、X射线是单色的()16、x-ray的波长很短,能量和动量很大,具有很强的穿透能力()17、连续x-ray谱短波限只与管电压有关()18、x-ray管中阳极靶物质的原子序数越大,所需临界激发电压值越高()19、线吸收系数与物质种类、密度、x-ray波长有关()20、x-ray不反射,几乎不折射()21、原子系统中各能级的能量差是不均匀的,越靠近原子核的相邻能极差越大()22、光的干涉条件是散射波之间振动方向相同、频率相同、位相差恒定()第二章1、空间点阵只有14种,而晶体结构可以有无限种()2、空间点阵与晶体结构是相同的两个概念()3、立方晶系的{100}晶面族包含6个晶面()4、同一晶带中所有晶面的法线都与晶带轴垂直()5、(100)和(110)同属于[001]晶带轴()6、单色x-ray的衍射只在满足布拉格定律的若干个特殊角度上产生()7、X射线衍射线的强度接近于入射线强度()8、X射线的入射线与反射线的夹角永远是2θ()9、X射线的衍射是大量原子参与的一种散射现象()10、产生X射线衍射现象的必要条件是有一个可以干涉的波和一组周期排列的散射中心()11、干涉指数只能是互质的整数()12、衍射方向决定于晶胞的大小与形状()13、干涉晶面与实际晶面的区别在于:干涉晶面是虚拟的,指数间存在公约数n()14、X射线衍射与光的反射一样,只要满足入射角等于反射角就行()15、一种布拉菲点阵可以代表许多种晶体结构()16、晶面间距越大的晶面其指数也越大()17、粉末法多晶体试样的形状可以是任意的()18、晶面指数的数值是晶面在三个坐标轴上的截距()19、凡是属于[uvw]晶带的晶面,其晶面指数(hkl)必须符合hu+kv+lw=0()20、若已知特征x-ray的波长和衍射角,则通过布拉格方程可以计算出晶面间距()21、劳埃法是采用连续x-ray作为入射光源的()22、粉末法采用的X射线为单色x-ray()第三章1、衍射方向在X射线波长一定的情况下取决与晶面间距()2、物质的原子序数越小,非相干散射越弱()3、在一个晶面族中,等同晶面越多,参加衍射的概率就越大()4、X射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息,峰越宽说明晶粒越大()5、在其他条件一定的情况下,晶粒越小,X射线衍射强度越弱()6、原子的热振动可使X射线衍射强度增大()7、温度一定时,衍射角越大,温度因子越小,衍射强度随之减小()8、布拉格方程只涉及X射线衍射方向,不能反映衍射强度()9、衍射角一定时,温度越高,温度因子越小,衍射强度随之减小()10、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射()第四章1、大直径德拜相机可以提高衍射线分辨率,缩短曝光时间()2、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确()3、在衍射仪法中,衍射几何包括二个圆。
材料分析测试技术

并提出改进措施。
3
材料比较
不同材料之间的测试结果可以用于选择 最合适的材料用于特定应用。
测试技术在材料质量控制中的应用保产 品符合相关标准和规 范。
缺陷检测
通过测试方法来检测 和识别可能存在的材 料缺陷。
质量问题解决
测试技术用于分析和 解决材料质量问题, 以确保产品的一致性 和可靠性。
测试技术的发展趋势
1 自动化和数字化
测试过程的自动化和数字 化将提高测试效率和结果 可靠性。
2 多模态测试
结合多种测试技术,以获 取更全面和准确的材料性 能数据。
3 材料仿真
借助计算机仿真技术,预 测材料性能和行为。
总结和展望
材料分析测试技术是材料科学的重要组成部分,对于材料研发和质量控制具有关键作用。随着科技的不断进步, 测试技术将继续发展,为材料行业带来更多创新和进步。
从物理、化学、力学等角 度进行测试,包括显微镜 观察、拉伸测试和热分析 等。
测试技术的分类
非破坏性测试
通过不改变材料结构进行测试,如X射线检测和 超声波检测。
表征测试
用于确定材料的组成、结构和性能,如扫描电镜 和X射线衍射。
破坏性测试
需要破坏样品以获取数据,如拉伸测试和硬度测 试。
化学分析
通过化学方法确定材料的组成和含量。
常用的材料分析测试技术
扫描电子显微镜(SEM)
通过扫描样品表面的电子束来观 察材料的形貌和结构。
X射线衍射(XRD)
用于分析材料的晶体结构和相组 成。
拉伸测试
通过施加力来测试材料的机械性 能和强度。
测试技术在材料研发中的应用
1
新材料开发
测试技术可用于评估和优化新材料的性
材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案第⼀章⼀、选择题1.⽤来进⾏晶体结构分析的X射线学分⽀是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电⼦回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发⽣装置是Cu靶,滤波⽚应选()A.C u;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电⼦把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原⼦的K层电⼦打出去后,L层电⼦回迁K层,多余能量将另⼀个L层电⼦打出核外,这整个过程将产⽣()(多选题)A.光电⼦;B. ⼆次荧光;C. 俄歇电⼦;D. (A+C)⼆、正误题1. 随X射线管的电压升⾼,λ0和λk都随之减⼩。
()2. 激发限与吸收限是⼀回事,只是从不同⾓度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单⾊光。
()4. 产⽣特征X射线的前提是原⼦内层电⼦被打出核外,原⼦处于激发状态。
()5. 选择滤波⽚只要根据吸收曲线选择材料,⽽不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产⽣ X 射线和 X 射线。
2. X 射线与物质相互作⽤可以产⽣、、、、、、、。
3. 经过厚度为H 的物质后,X 射线的强度为。
4. X 射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X 射线称,常⽤于;长波长的X 射线称,常⽤于。
习题1. X 射线学有⼏个分⽀?每个分⽀的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产⽣的可能性,为什么?(1)⽤CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)⽤CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)⽤CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相⼲散射”、“⾮相⼲散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?⽤哪些物理量描述它?5. 产⽣X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒⼆象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电⼦在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光⼦的最⼤动能。
材料测试技术试题

第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种。
2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即、、。
3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是、、。
4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种,它们分别是、、、、、、。
6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、、。
7、特征X射线产生的根本原因是。
8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、和字顺索引。
9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。
10、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:和11、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为。
12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、,其中和应用较为普遍。
13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。
15、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为。
二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算(只做带下划线部分)1、某晶体粉末样品的XRD数据如下,请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检2、简述特征X-射线谱的特点。
3、推导布拉格公式,画出示意图。
4、定性物相分析的注意事项?5、回答X射线连续光谱产生的机理。
6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。
7、简述连续X射线谱的特征8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9. 测角仪的调整要求?10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用?11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则?电子显微分析部分(第2、3、4章)一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的、和。
现代材料分析测试技术材料分析测试技术-1

据说日本电子已经制造了带球差校正器的透射电 镜,但一个球差校正器跟一台场发射透射电镜的 价格差不多。
TEM Cs Corrector
Un-corrected
Corrected
No Fringe
什么原因导致这样的结果呢?原来电磁透镜也和光学透 镜一样,除了衍射效应对分辨率的影响外,还有像差对 分辨率的影响。由于像差的存在,使得电磁透镜的分辨 率低于理论值。电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
一、球差
球差是因为电磁透镜的中心区域磁场和边缘区域磁场对 入射电子束的折射能力不同而产生的。离开透镜主轴较 远的电子(远轴电子)比主轴附近的电子(近轴电子) 被折射程度大。
原来的物点是一个几何点,由于球差的影响现在变成了
半径为ΔrS的漫散圆斑。我们用ΔrS表示球差大小,计
算公式为:
rS
1 4
C
s
3
(1-10)
式中 Cs表示球差系数。 通常,物镜的球差系数值相当于它的焦距大小,
约为1-3mm,α为孔径半角。从式(1-10)中可以 看出,减小球差可以通过减小球差系数和孔径半 角来实现。
引起电子能量波动的原因有两个, 一是电子加速电压不稳,致使入射 电子能量不同;二是电子束照射试 样时和试样相互作用,部分电子产 生非弹性散射,致使能量变化。
最小的散焦斑RC。同 样将RC折算到物平面
上,得到半径为ΔrC 的圆斑。色差ΔrC由 下式来确定:
rC
Cc
E E
(1-12)
更短的波长是X射线。但是,迄今为止还没有找到能使X 射线改变方向、发生折射和聚焦成象的物质,也就是说 还没有X射线的透镜存在。因此X射线也不能作为显微镜 的照明光源。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。
在工程竣工验收前,应对工程档案进展( C ),验收合格后,须出具工程档案认可文件。
A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前,图纸排后B、图纸排前,文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料,图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下,打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护:构造部位由监理和施工各方共同选定,同一强度等级不宜少于10组,且不应少于( A )组。
A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。
A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制,进展( C )。
A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。
A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类,对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。
材料测试技术第1章X射线的性质2
五、X射线的探测与防护
• 探测:荧光屏、照相底片、辐射 探测器等。 • 防护:铅板、铅玻璃、铅橡皮工 作服、铅玻璃眼镜等。
X射线对物质晶体的研究?
波的干涉
(a) 同位相,相长干涉 (b) 反位相,相消干涉
(c) 存在一定位相差
1.X射线的波-粒二象性 2.连续X射线谱的特点 3.X射线产生的基本条件与基本性质 4.特征(标识)X射线的特点, 5.光电效应与俄歇效应 6.相干散射与非相干散射 7.什么叫特征X射线激发电压V激?
特征X射线小结
3)特征谱结构
K系特征谱 : Kα、Kβ、Kγ,
Kα(Kα1、Kα2)
4)λ 与Z的关系
√1/λ =K(Z-σ )
荧光X射线光谱分析(XRF、XFS)
四、 X射线与物质的相互作用
散射 X射线作用于物质 吸收 透过→衰减
1
X射线的散射
X射线与物质内层电子作用时, 电子便成为新的电磁波源向空间各个方向辐射与入射 X射线频率相同的电磁波,新的散射波之间可以发生 干涉作用。 X射线 光量子 →碰撞(原子中束缚较紧、Z较大电子 )→新振动波源群(原子中的电子);与X射线的周期 、频率相同,方向不同。
2. K的透射率计算:
滤波片的厚度已确定为15.3 m log [100 / I ] = 0.434×49.2×8.92×0.00153 log I = log100 - 0.291 I = 101.71 = 51.3 即在此条件下CuK辐射的透射率为51.3%。
多元素物质(机械混合物、固溶体或化合物): μm = w1μm1 + w2μm2 + … 式中: w1,w2…-各元素的重量百分数 μm1,μm2…—各元素的质量吸收系数
材料测试技术课后题答案
材料测试技术课后题答案1、大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比,在哪两方面有其优越性?答:①提高X射线强度;②缩短了试验时间2、何为特征X射线谱?特征X射线的波长与(管电压)、(管电流)无关,只与(阳极材料)有关。
答:由若干条特定波长的谱线构成。
当管电压超过一定的数值(激发电压V激)时产生。
不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。
因此叫特征X射线。
3、什么是Kα射线?在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线?4、答:L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,称之为Kα射线。
Kα射线的强度大约是Kβ射线强度的5倍,因此,在实验中均采用Kα射线。
Kα谱线又可分为Kα1和Kα2,Kα1的强度是Kα2强度的2倍,且Kα1和Kα2射线的波长非常接近,仅相差0.004Å左右,通常无法分辨,因此,一般用Kα来表示。
但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。
5、Al是面心立方点阵,点阵常数a=4.049Å,试求(111)和(200)晶面的面间距。
计算公式为:d hkl=a(h2+k2+l2)-1/2答:d111=4.049/(12+12+12)-1/2=2.338Å;d200=4.049/(22)-1/2=2.0245Å6、说说不相干散射对于衍射分析是否有利?为什么?7、答:有利。
不相干散射线由于波长各不相同,因此不会互相干涉形成衍射,所以它们散布于各个方向,强度一般很低,它们在衍射工作中只形成连续的背景。
不相干散射的强度随sinθ/λ的增大而增强,而且原子序数越小的物质,其不相干散射愈大,造成对衍射分析工作的不利影响。
6、在X射线衍射分析中,为何要选用滤波片滤掉Kβ射线?说说滤波片材料的选取原则。
实验中,分别用Cu靶和Mo靶,若请你选滤波片,分别选什么材料?答:(1)许多X射线工作都要求应用单色X射线,由于Kα谱线的强度高,因此当要用单色X射线时,一般总是选用Kα谱线。
但从X射线管发出的X射线中,当有Kα线时,必定伴有Kβ谱线及连续光谱,这对衍射工作是不利的,必须设法除去或减弱之,通常使用滤波片来达到这一目的。
现代材料测试技术习题1
习题1-1 试计算当管电压为50kV时,X射线管中电子击靶时的速度与动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?1-2 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
1-3 X射线实验室用防护铅屏,其厚度通常至少为1mm,试计算这种铅屏对CuKα、M oKα辐射的透射因子(I投射/I入射)各为多少?1-4 试计算含w c=0.8%,w Cr=4%,w w=18%的高速钢对MoKɑ辐射的质量吸收系数。
1-5 欲使钼靶X射线管发射的X射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光辐射,问需加的最低的管压值是多少?所发射出的荧光辐射波长是多少?2-1试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111],[121],[221],(010),(110),(123),(121)。
2-2 下面是某立方晶系物质的几个面间距,试将它们按大小次序重新排列。
(312),(100),(200),(311),(121),(111),(210),(220),(130),(030),(221),(110)。
2-3 当X射线在原子列中衍射时,相邻原子散射线在某个方向上的程差若不为波长的整数倍,则此方向必然不存在衍射线,这是为什么?2-4 当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的程差是多少?相邻两个(HKL)发射线的程差又是多少?2-5 画出Fe2B在平行于(010)上的部分倒易点。
Fe2B属正方晶系,点阵参数a=b=5.10Å,c=4.24Å。
2-6 判别下列哪些晶面属于[111]晶带:(110),(231),(231),(211),(101),(133),(112),(132),(011),(212)。
2-7 试计算(311)及(132)的共同晶带轴。
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特征(标识)X射线谱
当加于X射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一 特定值UK时,在连续谱的某些特定的波长位置会出现一系 列强度峰,峰窄而尖锐。它们的波长对一定材料的阳极靶 有严格恒定的数值,此波长可作为阳极靶材的标志或特征。 故称为特征谱或标识谱。
Mo靶 35kV
特征X射线产生的机理
经典原子模型
• 波动性
• 粒子性
描述X射线波动性的物理量,如频率、波长
与描述其粒子特性的光量子能量E、动量P之 间,遵循爱因斯坦关系式: E = h = hc / P=h/ =h /c
X射线谱
X射线强度随波长变化曲线称为X射线谱 连续X射线谱 X射线波长从短波限开始直到波长等于无穷大的一 系列波长所构成的谱线称为连续X射线谱.
(100)
(200)
干涉面指数
◆ 晶面(hkl)的n级反射面 (nh nk nl),用符号(HKL)表 示,称为反射面或干涉面。其中H=nh,K=nk, L=nl。(hkl)是晶体中实际存在的晶面,(HKL)只是 为了使问题简化而引入的虚拟晶面。干涉面的面 指数称为干涉指数。 ◆ 对立方晶系,干涉面的间距与干涉指数的关系为:
2
FHKL FHKL
n f j cos 2 ( HX j 1
j
j
KY j LZ j )
2
n f j s in 2 ( HX j 1
KY j LZ j )
每个简单晶胞只含一个原子,其坐标为(0,0,0),原 子散射因子为f,则
原子内的电子分布在 一系列量子化的壳层 上。最内层(K层)能 量最低。
2 2 me 4 En (Z )2 h2n2
h n 2 n1 ( En 2 ) ( En1 )
莫塞莱定律
◆莫塞莱(Moseley H.G.J.)对特征谱进行系统 研究后,在1914年得出了特征谱波长λ和阳极靶 的原子序数Z之间的关系——莫塞莱定律:
晶体既可看成由平行的原子面所组成,晶
体的衍射线,亦当是原子面的衍射线叠加 而得。
晶体对X射线的衍射,可视为晶体中某些
原子面对X射线的“反射”。
布拉格方程
方程的导出
同一原子面(A)上: Δ =PR-KQ = 0 不同原子面(A、B):
Δ =ML + LN =d sin + d sin
将衍射当成反射,是 导出布拉格方程的基 础。
倒易矢量及其基本性质
以任一倒易阵点为坐标原点(以下称倒易原点,一般取其与 Z 正点阵坐标原点重合),以a*、b*、c*分别为三坐标轴单位 Y 矢量。 由倒易原点向任意倒易阵点(以下常简称为倒易点)的连接 矢量称为倒易矢量,用r*表示。 PHKL 若r*终点(倒易点)坐标为(HKL)(此时可将r*记作 (HKL) r*HKL),则r*在倒易点阵中的坐标表达式为 r*
间距小的晶面,其掠射角必须是较大的
衍射极限条件 掠射角 的极限范围是:0°~ 90°
反射级数 n ≤ 2d /
|sin |≤1
干涉面间距 d ≥ / 2
2.4 X射线衍射方
法
劳埃法
实验条件:
连续X射线照射、 单晶样品
功能: 测定晶体的对称性、 确定晶体的取向和单 晶的定向切割
荧光辐射:当入射X射线(光量子)的能量等于或略大于被照射物质
原子某壳层电子的结合能时,将该壳层电子击出而使原子处于激发态,
原子外层高能态电子向内层空位跃迁,辐射出具有特定波长值的X射 线,这种由入射X射线所激发出来的特征X射线辐射称为荧光辐射。
俄歇效应:原子中一个K层电子被入射光量子击出后,L层一个电子跃 入K层填补空位,此时多余的能量不以辐射X射线的方式放出,而是另
|FHKL|2 = f 2[cos22π(0) + i sin22π(0)] = f 2
物质对X射线的吸收程度。 质量吸收系数与波长λ和吸收物质的原子序数Z存在函数关系:
m K 4 Z
3
3
注意,随波长的降低,μm并非呈连 续的变化,而是在某些波长位置上 突然升高,出现了吸收限。(右图) 这种带有特征吸收限的吸收系数曲 线称为该物质的吸收谱。
二、X射线的真吸收 1. 光电效应
当入射X射线光量子的能量等于或略大于吸收体原子某壳 层电子的结合能时,此光量子就很容易被电子吸收,获得能 量的电子从内层逸出成为自由电子,称光电子,原子则处于 相应的激发态。这种光子击出电子的现象即为光电效应。此 效应消耗大量入射能量,表现为吸收系数突增,对应的入射 波长即为吸收限。
b
c* = 1 / d001
a*
c
c* 001
011
111
021
O* O
b
100
010 b*
a
a*
厄瓦尔德图解及应用举例
B C A
H hkl = 1 / dhkl O
1/ O’
1/
X射线衍射强度
2 e V 2 1 cos 2 2 2 P FHKL I I0 A( )e 2 M 32R mc V胞 sin 2 cos 3 2
, , , 0, 0, 0分别为散射光和入射光与三个点阵轴 矢的夹角。 衍射斑
对于直角坐标系: cos2 + cos2 + cos2 = 1
劳埃方程式从本质上解决了X射线在晶体
中的衍射方向问题,但三维的衍射圆锥, 难以表示和想像,三个劳埃方程使用上亦 欠方便,从实用角度来说,理论有简化的 必要。
2dsin = n
布拉格方程的讨论
布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非 充分条件。 反射级数 2d200 sin = 2(d100/2) sin =
(hkl)的n级反射看作(nh nk nl)的一级反射
d100
入射线
( )
反射线
d200
2d100 sin =2
D A
C
B
2 I a Aa ( ZAe ) 2 Z 2 I e
f
2
Ia A Ie A
2 a 2 e
Ia f
2
Ie
f
Aa Ae
一个晶胞对X射线的散射
AB Aa e
k n i
f Ae e i
k
n
S0
A
δj = rj · - rj · 0 = rj · S S (S-S0)
d HKL a / H K L
2 2
2
◆ 在X射线衍射分析中,如无特别声明,所用的面间 距一般是指干涉面间距。
掠射角
掠射角θ是入射线(或反射线)与晶面的夹角,可表 征衍射的方向。 sin 由布拉格方程:
2dsin =
sin = /(2d)
一定时
d 相同的晶面,必然在θ相同的情况下才能获得反射
X射线衍射分析
X射线物理学基础
X射线的产生
X射线产生的几个基本条件:
• 产生自由电子; • 使电子作定向高速运动; • 在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
主要构造:
• 阴极:发射电子。 • 阳极靶:使电子突然减速并 发射X射线。 • 窗口:是X射线射出的通道。
X射线的本质
电磁波或电磁辐射,具有波粒二相性。
连续谱的形成及存在短波限的量子力学解释:
在管电压 U 作用下,电子到达阳极靶时动能为 eU ,若
一个电子在与阳极靶碰撞时,把全部能量都给予一个
光子,这就是一个光子所可能获得的最大能量,即
hνmax = eU,此光量子的波长即为短波限λSWL,
max
eU c h SWL
SWL
hc 6.626 10 34 J s 2.998 10 8 m s 1 eU 1.602 10 19 C U 12.4 10 7 1240 m nm U U
FHKL
一个晶胞所有原子的相干散射波振幅 Ab = 一个电子相干散射波振幅 Ae
n i j
FHKL f j e
j 1
FHKL f j cos 2 ( HX j KYj LZ j ) i sin 2 ( HX j KYj LZ j )
j 1
n
2
FHKL
I / I0 为穿透系数或透射系数;μl 称线吸收系数(单位为cm-1)。
2. 质量吸收系数
为了避开线吸收系数随吸收体物理状态不同而改变的困 难,可以用μl /ρ代替μl,ρ为吸收物质的密度,这样:
I I 0e
l t
I 0e
m t
μm =μl /ρ称质量吸收系数(单位为cm2·-1),表示单位重量 g
1
K 2 (Z )
莫塞莱定律已成为X射线荧光光谱分析和电子探针微 区成分分析的理论基础。
X射线与物质的相互作用
相干散射(弹性散射或汤姆逊散射)——经典散射 当X射线与原子中受核束缚较紧的内层电子相撞时,电子 受X射线电磁波的影响而绕其平衡位置发生受迫振动,于 是变加速振动着的电子便以自身为中心,向四周辐射新的 电磁波,其波长与入射X射线波长相同,且彼此间有确定 的周相关系。可以发生相互干涉,故称相干散射。 非相干散射(康普顿-吴有训效应) ——量子散射 当X射线光子与原子中受束缚力弱的电子(如原子中的外层电 子、自由电子等)发生碰撞时,电子被撞离原子并带走光子 的一部分能量而成为反冲电子。光子损失了能量波长变长并 改变了2θ角,不能产生干涉效应,故叫非相干散射。
Δλ= λ’- λ = 0.00243(1-cos2θ) = 0.00486sin2 θ