扫描电子显微镜与能谱仪
扫描电子显微镜及能谱仪SEM
扫描电子显微镜及能谱仪SEM扫描电子显微镜及能谱仪SEM扫描电子显微镜及能谱仪SEM是一种强大的实验仪器，它能够帮助我们开启微观世界的大门，从而深入了解物质在最基本层面的性质和结构。
本文将在以下几个方面对SEM及其应用进行介绍。
一、扫描电子显微镜SEM的原理扫描电子显微镜SEM是一种采用电子束的显微镜，通过高能电子束与样品相互作用，透过扫描线圈产生扫描信号，实现对样品表面形貌的观察和获取高清晰度的图像。
SEM和光学显微镜有很大的不同，光学显微镜是使用光来观察物质的显微镜，而SEM则是使用电子来观察物质。
扫描电子显微镜SEM的工作原理主要分为以下三个步骤：1、获得高能电子束：扫描电子显微镜SEM内部有个电子枪，电子枪发射出的电子经过加速器的加速器和聚焦极的聚焦，成为高能电子束。
2、扫描样品表面：高能电子束射向样品表面，样品表面反弹回来的电子信号被SEM仪器捕获。
3、产生扫描信号：把从样品表面反弹回来的电子信号进行放大，形成显微图像。
二、能谱仪的原理能谱仪是SEM中的重要组成部分，它可以检测电子在样品中的反应和监测样品中所含的化学元素，以及相应元素的含量。
能谱仪的工作原理是通过检测样品产生的X射线来分析样品组成，电子束与样品相互作用，产生一系列的X射线能量峰值。
每个元素都有不同能级的电子，其X射线产生的能量也分别对应不同的峰值。
因此，通过表征能谱仪所发现的不同X射线能量峰的位置和强度，可以确定样品中所含元素。
三、SEM的应用1、矿物学SEM被广泛应用于矿物学研究中，因为它能够提供很高的图像分辨率。
将样品与高能电子束相互作用可使样品表面反射的电子被收集，从而形成高分辨率的矿物学图像。
2、材料科学在材料科学中，SEM被用于表面形貌研究以及微观结构解析。
通过SEM可以获取材料的内部结构和力学特性，为材料研发和工业应用提供了有力支持。
3、医学SEM在医学领域也有极为重要的应用，例如用于人体组织医学研究。
SEM可以提供高质量且精细的人体组织图像，进一步促进了医学领域的研究和治疗。
扫描电子显微镜与能谱分析
进行成分分析。如果用X射线探测器测到了样品微区中存
在某一特征波长，就可以判定该微区中存在的相应元素。
六、俄歇电子
• 如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能 量E不以X射线的形式释放，而是用该能量将核 外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种 二次电子叫做俄歇电子。
• 因每一种原子都有自己特定的壳层能量，所以它 们的俄歇电子能量也各有特征值，一般在50-1500 eV范围之内。俄歇电子是由试样表面极有限的几 个原于层中发出的，这说明俄歇电子信号适用于 表层化学成分分析。
• 由于镜筒中的电子束和显像管中的电子束 是同步扫描，荧光屏上的亮度是根据样品 上被激发出来的信号强度来调制的，而由 检测器接收的信号强度随样品表面状态不 同而变化，从而，由信号检测系统输出的 反映样品表面状态特征的调制信号在图像 显示和记录系统中就转换成一幅与样品表 面特征一致的放大的扫描像。
3．真空系统和电源系统
特点
• 可做综合分析。 • SEM装上波长色散X射线谱仪（WDX）（简称
波谱仪）或能量色散X射线谱仪（EDX） （简称能谱仪）后，在观察扫描形貌图像 的同时，可对试样微区进行元素分析。
• 装上不同类型的试样台和检测器可以直接 观察处于不同环境（加热、冷却、拉伸等） 中的试样显微结构形态的动态变化过程 （动态观察）。
K
hc EK EL2
• 式中，h为普朗克常数，c为光速。对于每一元素，EK、
EL2都有确定的特征值，所以发射的X射线波长也有特征值，
这种X射线称为特征X射线。
• •
X射线的波长和原子序数之间服从莫塞莱定律： (2)
Z
K
2
• 式中，Z为原子序数，K、为常数。可以看出，原子序数
先进合金材料IQC检测的先进工具与方法
先进合金材料IQC检测的先进工具与方法引言先进合金材料在现代工业中扮演着至关重要的角色。
为了确保这些材料的质量和性能，IQC（Incoming Quality Control）检测成为了供应链管理中的重要一环。
本文将介绍先进合金材料IQC检测中的先进工具与方法，以提高检测效率和准确性。
一、扫描电子显微镜（SEM）扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种常用的先进合金材料IQC检测工具。
它利用电子束与样品表面相互作用，生成高分辨率的图像。
SEM能够对材料的表面形貌、晶粒结构、缺陷等进行观察和分析。
通过SEM，我们可以发现并分析材料中的微小缺陷，如裂纹、孔洞等，从而及时发现质量问题，提高合金材料的品质。
二、能谱仪（EDS）能谱仪（Energy Dispersive Spectroscopy，EDS）是SEM的重要附属设备之一。
它可以分析SEM生成的图像中的元素成分。
先进合金材料通常由多种金属元素组成，因此通过EDS技术，我们能够快速准确地确定合金材料中各种元素的含量及其分布情况。
这为材料质量评估提供了重要依据，并帮助优化材料的配方和加工工艺。
三、X射线衍射（XRD）X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是一种用于研究晶体结构的重要技术。
对于先进合金材料，XRD可以用来确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体取向等。
通过比对标准衍射图谱，我们可以快速确定材料的相组成。
同时，XRD还可以检测材料中可能存在的杂质、晶体缺陷等问题，提供有力支持和指导，保证合金材料的质量和性能符合要求。
四、红外光谱仪（FTIR）红外光谱仪（Fourier Transform Infrared Spectroscopy，FTIR）是一种常用的材料分析工具，用于检测材料的化学成分及其分子结构。
先进合金材料往往具有复杂的化学成分，在合金制备和加工过程中，可能会发生化学反应、形成新的物质。
(精品)扫描电子显微镜SEM和能谱分析技术EDS
EDS
能量分辨率：132eV 分析范围:Be-U
JEOL-6380/SEM的工作界面
颗粒
10，0000-Au 6，0000-纳米晶 金刚石
薄膜及涂层材料
昆虫
生物材料 头发
EDAX-EDS的工作界面---谱线收集
能谱谱线收集实例
Element CK OK AlK SiK MoL CrK MnK FeK
6 能谱仪（EDS）的结构
7 能谱仪（EDS）的特点
优点
1）快速并且可以同时探测不同能量的X-光能谱 2）接受信号的角度大。 3）仪器设计较为简单 4）操作简单
性能 分析时间 检测效果 谱鉴定 试样对检测影响 探测极限 定量分析精度
EDS 几分钟 100％ 简单 较小
700ppm ±5－10％
缺点
1）能量解析度有限 2）对轻元素的探测能力有限
3）探测极限 4) 定量能力有限
8 仪器功能介绍及应用
型号 日本电子JEOL-6380LV 美国EDAX GENESIS 2000
SEM/EDS的主要性能指标
SEM
分辨率：高真空模式：3.0nm；低真空模式：4.0nm 低真空：1－270Pa 加速电压：0.5KV-30KV 放大倍数：5倍-30万倍 电子枪：W发卡灯丝式 检测器：高真空模式和低真空模式下的二次电子检测，
号，大小和极性相同，而对于形貌信
息，两个检测器得到的信号绝对值相
同，其极性相反。
Al
Sn
二次电子图像 VS. 背散射电子图像
4 扫描电镜对样品的作用－－
物镜光栏、工作距离与样品之间的关系
物镜光栏的影响
工作距离的影响
5 能谱仪（EDS）的工作原理
东华大学分析测试中心大型精密分析仪器简介
东华大学分析测试中心大型精密分析仪器简介扫描电子显微镜—能谱仪（SEM－EDS）仪器型号：SEM：JSM－5600LV；EDS：IE 300 X生产厂家：SEM：日本JEOL；EDS：英国Oxford主要配置：SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。
主要技术指标：●SEM：高真空分辨率3.5nm，低真空分辨率4.5nm;●SEM: 放大倍数范围18-300,000；●EDS：Mn的Kα处的分辨率优于132eV；可测元素范围4Be-92U。
主要用途：固体样品表面微区形貌观察；材料断口形貌及其内部结构分析；微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。
透射电子显微镜（TEM）仪器型号：H－800生产厂家：日本Hitachi主要配置：SEM探测器，STEM探测器，真空镀膜仪，超薄切片机。
主要技术指标：●分辨率：可倾动角±25°时，晶格分辨0.204 nm，点间距0.45 nm；●放大倍数：电子图象：1000 ～6×105（30档可调），选区图象：1000～3×105（25档可调）；●加速电压：200 kV、175kV、150kV、100kV、75kV。
主要用途：分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；分析高分子材料及其复合材料的形态结构；微粒形状观察及其尺寸分析；染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。
扫描探针显微镜（SPM）仪器型号：NanoScope Ⅳ生产厂家：美国Veeco主要配置：接触模式、轻敲模式；静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式；配有液体样品池，可用于分析液体环境中的样品；加热台，控温范围：室温～250℃。
主要技术指标：●最大平面扫描范围：125 μm × 125 μm；●最大垂直扫描范围：2.5 μm；●最高水平分辨率：0.1 nm；●最高垂直分辨率：0.01 nm。
扫描电镜-能谱仪实验技术在《材料分析方法》课程教学中的应用
扫描电镜-能谱仪实验技术在《材料分析方法》课程教学中的应用引言材料分析方法是材料科学与工程专业的一门重要课程，主要介绍材料分析的方法和技术。
扫描电镜-能谱仪是一种先进的材料分析仪器，具有高分辨率、高灵敏度和多功能性等特点，被广泛应用于材料表面形貌和成分分析中。
本文将介绍扫描电镜-能谱仪实验技术在《材料分析方法》课程教学中的应用，并探讨其在教学中的意义和作用。
一、扫描电镜-能谱仪实验技术的基本原理扫描电镜-能谱仪是将扫描电子显微镜（SEM）和能谱仪（EDS）相结合的一种先进材料分析仪器。
它利用电子束对样品进行扫描，通过收集样品发出的电子、X射线和光子等信息，实现样品表面形貌和成分的分析。
扫描电镜-能谱仪的基本原理是利用电子与物质相互作用产生的多种信号，包括二次电子显微图像、反射电子显微图像、能谱图像等，来获取样品的形貌、化学成分和晶体结构等信息。
二、扫描电镜-能谱仪实验技术在《材料分析方法》课程教学中的应用1. 观察样品表面形貌扫描电镜-能谱仪可以对样品进行高分辨率、三维的表面形貌观察，为学生展示材料表面的微观结构和形貌特征。
通过观察样品的表面形貌，学生可以直观地了解材料的微观结构、表面粗糙度和晶粒形貌等信息，对材料的特性有更深入的理解。
2. 分析样品成分扫描电镜-能谱仪还可以对样品进行化学成分分析，通过能谱技术获取样品的元素分布和含量信息。
学生可以通过实验操作，了解不同元素的能谱特征、能谱仪的工作原理和数据分析方法，从而掌握材料的定性和定量分析技术。
3. 研究样品结构扫描电镜-能谱仪还可以对样品的晶体结构和微观组织进行研究，通过显微观察和能谱分析，揭示材料的晶体结构、晶粒大小和形貌等重要信息。
这对于学生深入理解材料的微观组织和性能关系具有重要意义。
4. 实验结果分析与报告撰写扫描电镜-能谱仪实验在《材料分析方法》课程教学中，学生需要进行样品制备、实验操作、数据分析与结果报告等过程。
通过这些实验活动，学生可以培养实验操作技能、数据处理能力、科学研究精神和报告撰写能力，提高学生的综合素质和实际能力。
扫描电子显微镜与X射线能谱仪校准方式
JSM-6610LV扫描电子显微镜与IE 250型X射线能谱仪校验方式1、要紧内容与适用范围本方式规定了JSM-6610LV扫描电子显微镜、IE 250型X射线能谱仪的技术要求、校验条件及校验方式。
本方式适用于JSM-6610LV扫描电子显微镜、IE 250型X射线能谱仪的校验。
2、概述JSM-6610LV扫描电子显微镜在石油地质上是用于分析各类岩石和古生物化石样品的形貌特点的分析仪器，其原理是利用聚焦高能电子束在样品表面扫描产生各类信息（二次电子、背散射电子、透射电子、吸收电子等），这些信息被检测器接收，通过运算机图像处置系统转换成图像。
IE 250型X射线能谱仪是在扫描电镜下，利用高能聚焦电子束轰击样品表面，使其各类元素产生不同的特点X-射线，依照特点X-射线的能谱峰位及强度，可测定样品中所含的元素及其含量。
3、技术要求技术性能3.1.1电子枪加速电压：～30KV灯丝：预对中，钨丝探测器：二次电子探测器、高灵敏度半导体探测器图像类型：背散射电子像(成份像、拓朴像、立体像)3.1.2样品台X-Y：样品移动范围125mm-100mmZ：样品移动范围5mm-80mmT：-10°～+90°R：360°3.1.3运算机操纵系统3.1.4 X射线能谱仪检出Mn谱线值为6。
3.1.5 X射线能谱仪分辨率小于150KeV。
环境要求3.2.1室内温度：20±5 o3.2.2室内相对湿度：≤60%3.2.3杂散磁场：＜平安靠得住性3.3.1仪器配备稳压电源3.3.2仪器埋设专用地线3.3.3室内整洁，配备冷暖两用空调4、校验项目物镜光栅对中、聚焦和排除像散、二次电子像清楚度、X射线能谱仪谱峰位置。
5、校验方式物镜光栅对中：最好在5,000倍以上完成此项调整。
5.1.1按下光栅调剂键，SCAN1的图像在必然的方向上做有节拍的漂移，证明物镜光栅不对中。
5.1.2依照图像漂移方向，细调物镜光栅横向及纵向操纵旋纽，直至SCAN1的图象沿对角线方向扩散或收缩。
扫描电子显微镜X射线能谱仪(SEMEDS)
扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)美信检测扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）是依据电子与物质的相互作用。
当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。
原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。
SEM/EDS 正是根据上述不同信息产生的机理，对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息，对x射线的采集，可得到物质化学成分的信息。
电子束激发样品表面示意图应用范围：1．材料组织形貌观察，如断口显微形貌观察，镀层表面形貌观察，微米级镀层厚度测量，粉体颗粒表面观察，材料晶粒、晶界观察等。
2．微区化学成分分析，利用电子束与物质作用时产生的特征X射线，来提供样品化学组成方面的信息，可定性、半定量检测大部分元素（Be4-PU94），可进行表面污染物的分析，焊点、镀层界面组织成分分析。
根据测试目的的不同可分为点测、线扫描、面扫描；3．显微组织及超微尺寸材料分析，如钢铁材料中诸如马氏体、回火索氏体、下贝氏体等显微组织的观察分析，纳米材料的分析4．在失效分析中主要用于定位失效点，初步判断材料成分和异物分析。
主要特点：1．样品制备简单，测试周期短；2．景深大，有很强的立体感，适于观察像断口那样的粗糙表面；3．可进行材料表面组织的定性、半定量分析；4．既保证高电压下的高分辨率，也可提供低电压下高质量的图像；技术参数：分辨率：高压模式：3nm，低压模式：4nm放大倍数：5~100万倍检测元素：Be4-PU94最大样品直径：200mm图象模式：二次电子、背散射应用图片：日立3400N+IXRF。
扫描电子显微镜SEM和能谱分析技术EDS
EDS
能量分辨率：132eV 分析范围:Be-U
JEOL-6380/SEM的工作界面
颗粒
10，0000-Au 6，0000-纳米晶 金刚石
薄膜及涂层材料
昆虫
生物材料 头发
EDAX-EDS的工作界面---谱线收集
能谱谱线收集实例
Element CK OK AlK SiK MoL CrK MnK FeK
(3)粉末样品的制备：
导电胶－－粘牢粉末－－吸耳球－－观察 悬浮液－－滴在样品座上－－溶液挥发－－观察
(4)不导电样品：
通常对不导电样品进行喷金、喷碳处理或使用导电胶 形貌观察：喷金处理 成分分析：喷碳处理
样品制备注意事项
a 显露出所欲分析的位置 b 不得有松懈的粉末或碎屑 c 需耐热，不得有熔融蒸发的现象 d不能含有液状或胶状物质，以免挥发 e非导体表面需镀金或镀碳 f 磁性材料会影响聚焦，成像效果不好
阴极 控制极
阳极 电子束 聚光镜
试样
样品表面激发的电子信号
特征X射线
二次电子、背散射电子和特征X射线
二次电子
它是被入射电子轰击出来的样品核外电子.
背散射电子
它是被固体样品中原子反射回来的一部分 入射电子。
特征X射线
它是原子的内层电子受到激发之后， 在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射
6 能谱仪（EDS）的结构
7 能谱仪（EDS）的特点
优点
1）快速并且可以同时探测不同能量的X-光能谱 2）接受信号的角度大。 3）仪器设计较为简单 4）操作简单
性能 分析时间 检测效果 谱鉴定 试样对检测影响 探测极限 定量分析精度
EDS 几分钟 100％ 简单 较小
扫描电子显微镜及能谱仪(SEM
扫描电子显微镜及能谱仪（SEM&EDX）测试服务项目负责人：马文witsin.marvingmail.仪器简介扫描电镜检测电子束与样品相互左右后产生的各种物理信号，用于成像或者得到样品表面的元素信息。
它具有分辨率高、景深大、放大倍数连续可调、制样简单、保真度好的特点，可广泛应用于企业生产和科学研究中的显微形貌与成分分析中。
服务领域●材料表面形貌观测；●微粒物质EDX元素分析；●纳米材料形貌及尺度分析；●断口形貌观测；●镀膜厚度、形态、失效分析；●未知物元素组成快速检测；更多信息请参照扫描电镜典型实例服务价格典型应用1.材料表面形貌：纤维基体（AN）与蛋白质的双组份品性和纤维纵向具有无规则沟槽的特性，使牛奶纤维具有天然纤维优良的吸湿性和合成纤维较好的导湿性，穿着滑爽、透气。
2.镀膜分析观察镀膜的形态，用于分析均匀性、厚度、失效原因等。
3.微观形态及尺度分析利用扫描电镜可以看到粉末产品的形态，用于分析产品的形态特性。
如下图为电熔氧化铬（Cr2O3）的微观形态，并可利用软件自带标尺表示尺度。
4.微小杂物元素分析利用EDS分析生产工艺中微小杂物，如结合生产工艺分析某一微粒子污染物，确认该微粒子为玻璃屑。
5.面扫描技术利用面扫描，可以直观地表达一个平面内不同元素的分布情况，广泛应用于材料的分析研究中。
业务流程一、联系咨询：传真：9-608服务：witsin.servicegmail.QQ：79957169MSN：witsin.servicehotmail.二、准备样品根据前期沟通交流，提供符合测试要求的样品。
三、送样../白字内容添加页脚-新建文件夹5-doc/.witsin../intro/UploadFiles_5640/3songyang.jpg地址：XX市闵行区金平路555弄523号200240 收件人：李成虹：9-601，传真：9-608四、填写测试委托单：witsin.servicegmail.传真：9-608检测周期普通服务：5个工作日；加急服务：3个工作日，测试费按普通服务加收30%附加费；特急服务：1.5个工作日，测试费按普通服务加收100%附加费；有些检测可能需要更长的测试周期，具体以报价单为准。
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扫描电子显微镜与能谱仪
第一节扫描电镜的分类及应用 扫描电镜的分类
各种扫描电镜的用途
1.1 扫描电镜的分类
¾常规扫描电镜（SEM）
¾环境扫描电镜（ESEM）
¾场发射扫描电镜（FE-SM）
¾扫描隧道显微镜（STM）
¾扫描透射电镜（STEM）
¾扫描探针显微镜（SPM）
¾原子力显微镜（AFM）
¾分析型电镜（与能谱，红外等设备联用）
1.2 应用
•在化工，造纸，皮革，医药，机械等领域的应用
•电镜如何与各领域更好的结合
第二节电镜及能谱仪的构造及工作原理 电子束与固体样品作用时产生的信号
电镜的工作原理
电镜的构造
主要性能
与能谱仪联用
2.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
2.2 电镜工作原理
2.3 构造
•电子光学系统
•信号收集及显示系统•真空系统和电源系统
2.4 电镜主要性能
分辨率
景深
2.5能谱仪（EDS）
•能谱仪，全称为能量分散谱仪（EDS）
它是依据不同元素的特征X射线具有不同的能量这一特点来对检测的X射线进行分散展谱，实现对微区成分分析。
EDS广泛应用于样品表面的成分定性和定量分析（可以得到微区元素的线分布和面分布）
2.5.1 样品要求
•样品表面洁净
•表面具有良好导电性
•样品表面光滑平整
•样品干燥，不含有挥发性物质
2.5.2 样品分析方法
•点分析（囊效应）•线分析
•面分析
2.5.3 样品分析
•定性分析：给出元素种类•定量分析：给出元素含量
2.5.4 结果分析
¾ZAF定量修正法
原子序数修正因子
吸收修正因子
荧光修正因子
¾W%和A%的含义
逃逸峰和肩并峰
100100Total 1
1.01870.83590.12773.7615CoK
1.15041.02270.83860.0072
0.20.73MnK 1.00130.91460.9520.0029
0.150.33S K 1.00040.19721.01190.0473
21.8423.68O K 1.00020.44241.0290.2744
74.0660.27C K F A Z K-
Ratio
At %Wt %Element
第三节扫描电镜样品制备
纸张、粉末、薄膜、皮革等固体样品 菌类、凝胶等生物样品
乳液样品
寄语
•扫描电镜的样品制备是决定样品观察是否成功的主要影响因素之一。
通常观点都认为其样品制备简单，可我观点不同，每一种都有内在的特点，制样人需要根据样品自身特点和期望的观察效果做出相应判断。
本节课，我们主要对固体样品中的粉末样品、薄膜样品，生物样品以及液体样品作介绍。
3.1 粉末样品制备
制备时需要明确目的，比如需要的是颗粒表面包裹、吸附的信息或是颗粒的外观及排列信息或是表面元素信息等。
原则是原位反应样品的状态。
对于粒径为微米级的样品，碾磨后即可使用；粒径为纳米级的样品，最好超声分散后再使用。
¾若主要以样品表面的吸附等信息为主时，建议轻微搅拌分散后使用。
¾颗粒的外观及排列信息，需要控制浓度。
¾表面元素信息，需要样品碾磨并压片后使用。
为什么对于很多纳米材料，不建议使用我校ESEM测试？
3.2薄膜样品制备
①成膜物质为比较粘稠的物质，比如沥青，建议使用刮膜法；
②成膜物质具有均匀透明的性质，例如胶水，有文献报道，可用四氢呋喃等有机溶剂溶解分散后，铺膜观察；
e成膜物质具有一定的形状及力学强度，可用液氮、液氦等快速冷却后脆断，暴露出新鲜的断面，观察。
3.3 生物样品
①蠕形虫的观察，首先必须给样品洗澡清洁，将样品身上带有的脂肪等物质清除后，设置仪器参数，观察样品；
②孢子、细胞等，建议做包埋和固定后，再观察；
③细菌，可以使用合适的化学试剂轻微处理后观察。
总之，生物样品的制备需要配备制样设备和试剂
3.4 乳液样品
•乳液样品的制备是我们的创新技术，有很多值得讨论的问题，希望和大家交流。
•首先必须清楚了解待测液体中的所有组分，采用化学试剂处理，清除掉溶剂、添加剂、催化剂等杂组分的影响，去除可能成盐物质对物质形貌的影响后，观察。
多孔氧化铝模板制备的金纳米线的形貌（a）低倍像（b）高倍像
谢谢！授课人：许静。