新型非接触式在线涂层测厚技术与传统膜厚仪对比研究
涂层测厚仪与镀锌层测厚仪有什么区别吗
产品名称：OU3500涂镀层测厚仪∙产地：中国销售：沧州欧谱∙简介：OU3500涂层测厚仪是欧谱公司最新研发的新产品，是德国EPK/易高等同类产品的替代产品，与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点：测量速度快：测量速度比其它Time系列快6倍；精度高：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上唯一能达到A级的产品,功能、数据、操作、显示全部是中文。
∙一、概述沧州欧谱OU3500涂层测厚仪是欧谱公司最新研发的新产品，是一种小型便携式仪器，磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。
其性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，多次通过国家技术监督部门的性能试验，获得计量器具制造许可证。
二、主要特点：1. 零位稳定：所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
2. 线性编辑：多数涂层测厚仪除了基础校零外，仪器本身没有线性编辑，使得测量重复性误差大，本仪器出厂加入线性编辑增加测量精度与重复稳定性。
3. 温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。
同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。
所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
4. 独特的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。
OU3500涂层测厚仪探头·测厚仪最容易损坏的部件是探头，本公司的OU3500涂层测厚仪对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。
OU3500涂层测厚仪探头线·由于涂镀层测厚仪使用频率很高，探头线成为易损件。
一般国产仪器的探头用不多久就会出现故障，多数问题出在探头线上。
OU3500镀层测厚仪使用的探头线是在日本定做的。
这种导线最初用于机器人，规定可经受几百万次的曲折。
膜厚测量方法综述
薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。
很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。
对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要，只有整体厚度均匀，每一层树脂的厚度才可能均匀。
因此，薄膜厚度是否均匀，是否与预设值一致，厚度偏差是否在指定的范围内，这些都成为薄膜是否能够具有某些特性指标的前提。
薄膜厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。
1. 各种在线和非在线测厚技术发展快速包装材料厚度的测试最早用于薄膜厚度测量的是非在线测厚技术。
之后，随着射线技术的不断发展逐渐研制出与薄膜生产线安装在一起的在线测厚设备。
上个世纪60年代在线测厚技术就已经有了广泛的应用，现在更能够检测薄膜某一涂层的厚度。
同时，非在线测厚技术也有了长足的发展，各种非在线测试技术纷纷兴起。
在线测厚技术与非在线测厚技术在测试原理上完全不同，在线测厚技术一般采用射线技术等非接触式测量法，非在线测厚技术一般采用机械测量法或者基于电涡流技术或电磁感应原理的测量法，也有采用光学测厚技术、超声波测厚技术的。
2. 在线测厚较为常见的在线测厚技术有β射线技术，X射线技术和近红外技术。
2.1 β射线技术β射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术，在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。
它对于测量物没有要求，但β传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。
2.2 X射线技术这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。
X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量由多种元素构成的聚合物，信号源放射性强。
X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。
2.3 近红外技术近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。
涂层测厚仪和超声波测厚仪的不同点及操作规程
涂层测厚仪和超声波测厚仪的不同点及操作规程涂层测厚仪和超声波测厚仪的不同点涂层测厚仪和超声波测厚仪都属于无损检测仪器，即在非破坏材料的情况下对材料厚度进行厚度测量的仪器，涂层测厚仪和超声波测厚仪都能够通过探头从材料的单面对材料进行接触式测量厚度。
从而避开了卡尺、千分尺、量规等需要从双面卡住测量厚度的弊端，发挥了无损检测的优势，从而广泛应用于板材制造，管道防腐，电镀涂装，机械零部件制造，航空航天等紧要领域。
涂层测厚仪和超声波测厚仪应用在不同领域的材料厚度测量。
实际上涂层测厚仪偏重于表面覆层的测量，而超声波测厚仪侧重于壁厚和板厚的基材测量。
不同点：涂层测厚仪涂层测厚仪也叫覆层测厚仪，镀层测厚仪，涂镀层测厚仪，膜厚仪等多种变通的称呼，紧要用于测量金属上的涂层，防腐层，电镀层，塑料，油漆，塑胶，陶瓷，珐琅等覆盖层的厚度，所以国家标准的正规命名为覆层测厚仪。
也可以扩展应用到对纸张，薄膜，板材等的厚度进行间接测量（间接测量方法可致电时代山峰公司咨询133****1010）。
涂层测厚仪精度比较高一般以um为单位，显示辨别率可以达到0.01，0.1，1um等精度。
涂层测厚仪的量程范围：一般在0—1250um；特别的在0—400um和0—50mm。
涂层测厚仪目前最主流的有两种：磁性法和涡流法，也有叫：磁性和非磁性法，铁基和非铁基法。
磁性法：铁基涂层测厚仪用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。
涡流法：非铁基涂层测厚仪用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等有色金属基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层、涂层等。
涂层测厚仪广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
不同点：超声波测厚仪超声波测厚仪紧要是用来测量钢板，钢管等基材的厚度而不是测量涂层和镀层的厚度。
超声波测厚仪的其他称呼：超声测厚仪（简称UT），超声波测量仪，壁厚测量仪，钢板测厚仪等，国家标准专业命名为超声波测厚仪。
在线离线3D锡膏测厚仪,3D SPI与激光锡膏测厚仪的区别
New TechnologyNew Development3D Solder Paste Inspection新技术引领新发展三维锡膏视觉检查系统中国3D SPI 白光技术第一品牌主题大纲3D SPI的发展和应用思泰克公司介绍思泰克的SPI产品思泰克SPI产品的特点3D SPI的发展和应用3D SPI是3D Solder Paste Inspection的简称：三维锡膏检测仪•系全自动非接触式测量，用于锡膏印刷机之后，贴片机之前，在过去的十年里，从最初的焊膏测厚仪到今天的三维检测，经历了不断发展和变革的过程。
所有目前SPI所采用的数学模型的核心都是三角测高法，通过一侧成一定角度的投射光在焊膏表面形成畸变，由设置在顶部的垂直相机捕捉畸变，根据三角测高法测出高度，乘以焊膏面积，从而得到被测焊膏的体积。
3D SPI 的发展和应用为什么要使用3D SPI 2D 观测（从正上方）2D 观测（从斜侧）3D 检测OK OK NG为了在检测中不遗漏印刷不良，就必须使用3D SPI 检测用SPI 检测出的不良・体积*・面积・高度*・偏移・缺失・破损・高度偏差(拉尖)**只有3D SPI 才能检测出3D SPI的发展和应用为什么要使用3D SPISMT的发展趋势：元器件小型化和引脚间距密集化SMT的缺陷分析：•众所周知锡膏印刷流程会产生很多缺陷已经是一个不争的事实．一些刊物和公司甚至指出这类缺陷的数量已占总缺陷数量的74%。
•另外一个不争的事实是锡膏体积是判断焊点质量及其可靠性的一个重要指标。
100%的采用锡膏检测(SPI)将有助于减少印刷流程中产生的焊点缺陷，而且可通过最低的返工(如清洗电路板)成本来减少废品带来的损失，另外一个好处是焊点的可靠性将得到保证。
3D SPI的发展和应用为什么要使用3D SPI为什么要使用3D SPI印刷质量控制的影响因素3D SPI 的发展和应用为什么要使用3D SPI 3D SPI的发展和应用为什么要使用3D SPI 3D SPI的发展和应用3D SPI 的应用3D SPI的发展和应用3D SPI 的应用3D SPI的发展和应用l 3D SPI 锡膏检测设备是提高产品良率和品质的最佳工具。
一种适用于在线检测的纳米薄膜厚度精确测量方法
Ｋｅ ｙ ｗｏｒ ： ｔ ｉ ｌ ； ｈｉｋ ｅ ｓ ｄ ｔ ｒ ｎ ｔ ｏ ｐ ｅ ｉｅ ｄｓ ｈ ｎ ｆ ｍ ｔ ｃ ｎ ｓ ； ｅ ｅ ｍｉ ａ ｉ ｎ； ｒ ｃ ｓ ｉ
０ 引 言
自２ 世纪 ７ 年代 以来 ， ０ ０ 薄膜 技术和 薄膜材
料得 到 了迅速 发 展 ，已成 为 当代 真 空技术 和 材 料 科学 中最 活跃 的研 究 领域 。由于跨 学 科 的综 合设 计与 高精 尖 的制造 技术 已使 得薄 膜 技术 渗
Ｅ－ ａｌ ｍ ｉ：３６ ６ ５ ６ ｑ ｃ ｍ ２ ７ ４７ ＠ ｑ．ｏ
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透 到信 息、生物、航空 、 航天 和新能源等前 沿领 域， 薄膜技术在从 航天 、 星等空 间探 测器到集 卫 成 电路 、生物芯 片、激光器件 、液晶显示 以及集 成光学等 方面都发 挥着重要 作用 ［ ３。 １］ － 薄 膜 的光学 常数 （ 折射 率 ｎ和 消光 系 数 ｋ ） 和厚 度是 决定 其性 质和控 制性 能 的基本参 数 。
或 极小值 。利 用薄 膜 的透射 或反 射率 曲线上 的 ２ 或 ２ 以上 的极值 点的位置 ， 个 个 即可计 算 出薄
膜 的厚 度和光学常数 。 该方法计算 简单 ， 是薄 但
精度 机械触 针在 物体 表面 上进 行运 动来感 知表
面轮廓 的变 化 。台阶 仪就 是这 种方 法 的应 用实 例。 作为 一种基 于机械运 动的探针测量设 备，台 阶仪 的精 度受 到许 多 因素 的限制 ，而 且其 在测 量薄膜厚度 时， 需要露 出薄 膜基底作 为阶梯 。 因 此， 往往 需要对薄膜进行 二次加工 。 在测量 时，
OFrame扫描式在线薄膜测厚仪
OFrame扫描式在线薄膜测厚仪美国巴顿菲尔·格罗斯特工程有限公司（位于马萨诸塞洲格罗斯特市）最新研制成功了一种O-frame在线薄膜厚度检测仪。
利用这种厚度检测仪可以快速、精确地检测出吹塑薄膜的厚度，并且可以直接与上一级的计算机控制系统进行数据交换。
该检测仪器可以不受薄膜组成成份及温度的影响而对多层共挤薄膜的厚度进行检测。
O-frame扫描式在线薄膜测厚仪被安装在吹塑机摆动的主塑料膜拉出机构与副塑料膜拉出机构之间，利用β射线从塑料薄膜的两侧对薄膜的厚度进行检测。
安装在直角支架上的传感器对塑料薄膜的两侧进行扫描，在主拉塑机构旋转第一个90°时，传感器就开始向主控计算机系统传递检测数据。
这与传统的经过20min左右的360°旋转后才开始计算薄膜的厚度、才开始传送检测数据的老式塑料薄膜在线测厚系统相比，O-frame测厚仪的检测速度要快的多。
据巴顿菲尔·格罗斯特工程公司的吹塑设备工程师Carl Johnson先生介绍，他们的这种薄膜厚度检测仪不仅比市场上常见的测厚仪更加精确，而且其检测速度也更快。
当主塑料膜拉塑机构还没有完成一周的旋转时，大约6min左右，就可以得到第一个检测报告了。
该测厚仪利用了一个智能化的算法语言进行数据处理，根据它的运算，在Extrol 过程控制软件的帮助下，塑料薄膜的厚度变化、分布状态和薄膜的平均厚度都可以得到精确的数值。
根据这些数据，吹塑生产线的控制系统能够适时地调整吹塑生产的控制参数，再结合使用重量分析式定量控制技术和自动的塑料膜形态调节系统，可以使塑料薄膜的厚度公差保持在非常小的范围内。
O-frame在线薄膜测厚系统可以比市场上任何一种检测系统都能更快地得到检测结果在多层共挤塑料薄膜的生产中，准确地测出塑料膜的厚度以及保持塑料膜的厚度不变有着非常重要的意义。
在许多多层共挤吹塑生产线中采用的都是振荡电容式测厚系统，这种检测系统的缺点是，在较高的温度下或者当多层薄膜中包含具有不同介电常数的材料时，无法检测含有EVOH 材料或者尼龙材料的多层薄膜的厚度。
SRM-50无接触及连续的金属涂层薄片电阻率测量系统
SRM-50无接触及连续的金属涂层薄片电阻率测量系统一. 概况本系统通过测量薄片电阻率来测量绝缘材料，如塑料薄膜、纸张、玻璃等，上金属涂层的厚度。
这种“不接触”的技术允许系统可以在线测量薄片厚度，而不在涂层上留下任何刮痕或者损伤涂层。
同时该系统为连续无间断的测量系统，从而可保证涂层控制不会有任何间断。
SRM-50系统包含了装载探测头的一个整体框架结构、测量接口以及接口适配器。
探测头成对出现，对称安置在横梁上。
对于宽幅材料，通过安置多对探测头的方法来测量整个材料宽度上的涂层情况。
具体探测头数量根据客户要求来提供。
所有探测头均连接到一条串口数据线，从而减少了接口数据线的数量。
测量接口控制探测头，以及组织数据流和接口功能。
所有探测头的测量值均可在输出（串口接口）读取。
探测头适用于真空环境，而接口盒则放置在真空室外。
探测头的安装、拆卸、维护均非常容易。
考虑到测量数据的可视化操作以及分析，需要配置安装有相应软件的电脑。
本系统提供一套具有最基本功能的软件。
含有控制及分析功能的高版本软件为可选配置。
具有更多功能的MESA 软件也是可选配置，该软件集成了图形演示、纵向横向数据、条形图、数据保存和提取、文件输出和打印等功能。
在测量玻璃面时，由于玻璃厚度所导致的探测头与金属涂层之间距离的改变会影响测量的精度，该问题可通过一个选装的距离传感器来解决。
该传感器连接至数据总线，并自动补偿距离改变所引起的误差。
以下配件可供选择：电脑、监视器、打印机。
二. 技术特点本系统测量金属涂层的电阻率。
1. 测量原理附有金属涂层的材料运行于2个探测头之间，探测头产生一个高频磁场穿过金属涂层。
部分高频能量被金属涂层所吸收，从而导致能量损失。
该能量损失被探测头测量下来。
通过能量损失和薄片电阻率之间的换算方法，能量损失可以转换成薄片电阻率。
该数据然后又探测头中的AD 电路转换成相应的数字信号并传送至测量接口，并最终送到电脑或者其他处理设备。
涂层厚度无接触在线测量技术研究
此 可 以考 虑采 两 种
国大部分 的中小型印铁制罐企业 的涂层厚度大都是
１ 涂层测厚技 术
涂 层 测 厚 技 术 主要 有 磁 性 、 涡流 、 超 声波 、 电解
方法结合 ， 共 同测出涂层厚度 ， 这个方法即是要求两 种 方 法 结 合一 起 ， 对 于测 量 时 的 同步 、 抗 振 动或 晃 动 等有 比较严 格 的要求 ， 同时必 须对 测 量结果 进 行必要
均匀性 、 涂料计算、 数据记录以及报警等 问题 。该 系统的应用， 对提 高印铁生产线生产效率和产品质量有很好的促进作 用。
关键词 ： 印铁 ； 涂层测厚 ； 传 感器 中图分类 号 ： Ｔ Ｇ１ ４ １ 文献标识码 ： Ａ 文章编号 ： １ ６ ７ ２ — ５ ４ ５ Ｘ （ ２ ０ １ ６ ） ０ ９ — ０ １ ９ １ — ０ ３
（ １ ） 测量方式及测量距离问题 。大多数仪器测厚 是 接 触式 测 量 的 ，而 无 接触 测 量 时一 般也 要 求 探 头 距离涂层越近越好 ，一般的无接触距离在几个毫米 之 间，对 于湿涂层及在线测量 中，不可能采用接触 式， 而生产线 中铁板印涂涂料后 由传送带传送 ， 其中
《 装备制造技术） ） ２ ０ １ ６ 年第 ０ ９ 期
涂层 厚度无接触在 线测量技术研 究
黄凯旋 。 陈飞燕
（ 集美大学 ， 福建 厦门 ３ ６ １ ０ ２ １ ）
摘 要： 介绍 了采用不 同的测厚技 术研制 的涂层无接触测厚 系统 ， 以及 系统研 制过 程 中所解决的无接 触远 距 离测厚 、 涂层
的铁 板 是有 抖 动起 伏 的 ，因此 探 头 与涂 层 的距 离 最 少 必 须 在厘 米 级别 以上 ，本 项 目中探 头距 离涂 层 最 好 能 达到 １ ５ ～ ２ ０ ｃ ｍ， 目前 很多 测 量方 法或 测 量仪 器
厚板焊缝无损检测评价——新技术与传统法的比较
陷 ，还是离表面很近的表层缺陷？除非 Ｕ Ｔ数
据 分析表 明该缺 陷与表 面无关 ，就必 须考虑是 表 层缺 陷 ，或是表 面开 口缺 陷 ，应 判 不合格 ；
１ 现状与问题及 新动 向 ．
对板厚 １ ｍ 以 ０ ｍ 上的承压设备大厚度焊缝 ， ０ 通 常 先 用 超 声 波 作 １ ０ 手 工 检 测 ， 再 用 ０％ 对传统 的手工超声检 测 ，Ａ ＭＥ 规范只要 Ｓ ４ Ｖ以上直 线加速器 作适 当 比例 的射线照相 。 求对 波幅高于评 定线 即 ２％ ＤＡＣ （ Ｍｅ ０ 距离波幅 手工超声要在焊缝两面四侧，用 ２ ３ － 种折射角 校 正 ） 曲线的 信号 进 行评 析 。ＤＡ 曲线要 根 Ｃ 对焊缝横断面作分层扫查。仪器调试程序繁复， 据焊 缝厚度 ，选用适 当直 径的横 孔校准 试块来 检测劳动强度大，检测周期长；而厚板射线照 绘制 。评析 目的是要判 断 ：反射体 究竟是 平面 相 ，由于相关于高 能射 线的 固有不 清晰度 增大 ， 状 （ 裂纹、 未熔合或未焊透）还是体积状缺陷？ 胶片颗粒性增大，灵敏度和缺陷检出率总会受 若为平面状缺陷，应 “ 判废”（ 即令返修） ；若 到一定 限制 。 为体积状缺 陷 ，应 测长评定 。 对 非 波幅 法 －－ ＯＦ Ｔ Ｄ法 （ 传播 时差 法 ） ， 新 旧世纪 之交 ，欧 、美 、 日已将 先进 的超 声 Ｔ Ｄ （ ｉ — ｆ Ｆ ｉｈ － ｆ ａ ｔ ｎ，即 规范案例 ２３ 规定 ，视焊缝厚度 ｔ ＯＦ Ｔ ｍｅ ｏ － ｌ ｔ Ｄｉ ｒ ｃｉ ｇ ｆ ｏ ２５ ，若超声指 衍射时差 ）技术 ，用于大厚度焊缝无损检测。 示长度１ 达到下列数值， 应评析超声信号性贡 （ 借 实践证明，在厚板中，有很多缺陷用 “ 直加” 助于不检波 Ａ扫描波形相位和相应的 Ｄ扫描信 作射线 照相 发 现不 了 ，而 用手 工超声 ，缺 陷信 号 图像特 征 ） ： （ ）ｔ ３ １ ≤ ８ ｍｍ，ｌ ３ ８ ｍ； ＞ ．ｒ ａ 号往往低于评定线 （ Ａ ２ Ｃ线） ，成为所谓 “ 零 价”信号 ，但用 Ｔ Ｄ技术就 易于检 出 ，也易 ＯＦ （ ）３ ｔ １ ２ ２ ８＜ ＜ ０ ｍｍ，ｌ ｌ ； ＞ ５ 于 测 长 测高 。 美 ＡＳ ＭＥ锅 炉 压力 容 器 规 范 自 （）ｔ １２ ｍｍ，ｌ ００ｔ ｌ １ｍｍ ３ ＞ ０ ＞ ．５ 或 ＞ ９ １９ 年起 即将该 技术的应用列 人 ９６ 规范案例 （ｏｅ Ｃ ｄ （ 取两者 中较小值 ） 。 ｃｓ）２３ ，至今 已有 ｌ ａｅ ２５ ０年历史 。 评析时 ，应判定信号源，是来自几何形状 显然，质量评定和验收条件必须适合于所 还是真 缺陷 ？若为几 何信号 ，应记 录位置 ；若 用技术 的特 性 ，详 析 ＡＳ ＭＥ规 范可见 ，规范案 为缺 陷信号 ，应视 缺陷位置 （ 面或 内部 ）和 表 例２３ ２ ５不仅 规 定 了超 声 检测 取 代射 线 照相 的 沿焊缝纵 断 面的长度 尺寸 ，按验收 标准 （ 第 见 最低 要求 ，也规定 了与 传统超 声检 测要求截 然 ４节 ）进行评 价 ，判定合格 与否 。 不同的全新的评定和验收条件。本文结合实例， ３ 缺 陷记 录标 准 ． Ａ ＭＥ 规范要求 ：用超 声手工检测 时 ，凡 Ｓ 展示大厚度焊缝采用 Ｔ Ｆ Ｏ Ｄ新技术的亮点 ，并 ０Ｄ 与传统法作比较，说 明两种方法对缺陷作无损 信号高度大于 ５％ ＡＣ线的缺陷，均应记录其
关于涂层测厚检测实验报告
关于涂层测厚检测实验报告一、实验目的1、熟悉防腐层的用途和种类2、掌握各种防腐层质量检测的方法并熟悉设备使用二、实验设备磁阻测厚仪、超声波测厚仪、针孔电火花检测仪三、实验原理主要针对防腐层厚度和点蚀进行检测1、磁阻测厚仪：采用磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度，也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
2、超声波测厚仪：超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。
主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头，产生超声波发射脉冲波，脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示测厚数值，它主要根据声波在试样中的传播速速乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。
3、针孔电火花检测仪——检测时该仪器的高压探头贴近被检测物，移扫时，当一旦遇到针孔、气泡等类似质量缺陷，高压电将此处的气隙击穿产生电火花，此时仪器就发出报警声，也可以通过观察火花来判断表面涂覆层质量和焊缝质量。
电离物质得到能力，电子激发，电子激发形成电火花。
击穿，非导电介质，被击穿变成导体。
四、实验步骤1、超声波测厚仪1）测量准备将探头插头插入主机探头插座中，按ＯＮ键开机，全屏幕显示数秒后显示上次关机前使用的声速，如下图所示，此时可开始测量。
2）声速的调整如果当前屏幕显示为厚度值，按 VEL 键进入声速状态，屏幕将显示当前声速存储单元的内容。
每按一次，声速存储单元变化一次，可循环显示五个声速值。
如果希望改变当前显示声速单元的内容，用▲或▼键调整到期望值即，时将此值存入该单元。
3）校准在每次更换探头、更换电池之后应进行校准。
此步骤对保证测量准确度十分关键。
如有必要，可重复多次。
将声速调整到 5900m/s 后按 ZERO 键，进入校准状态，屏幕显示：在随机试块上涂耦合剂，将探头与随机试块耦合，屏幕显示的横线将逐条消失，直到屏幕显示 4.00mm 即校准完毕。
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新型非接触式在线涂层测厚技术与传统膜厚仪对比研究精准把控喷涂工艺的每个环节，对于稳定工艺质量十分重要。
例如建筑型材生产厂家需要持续有效控制铝型材表面涂层厚度手段，避免造成产品色差，遮盖力不够，漆膜柔韧性差导致冲击实验不通过，桔皮或严重肌状皱纹等质量缺陷。
喷涂厂家需要借助可靠的测厚方法检测产品表面涂层厚度，同时对工艺流程进行统计及溯源，才能有效及时发现生产过程哪个环节出现问题（如喷枪堵塞、没有调整好喷粉设备参数），并在出现生产缺陷前找出形成的原因及解决方法，降低因膜厚不良导致的返工，提升生产速度和品质，这正是保证铝型材表面粉末喷涂质量的关键。
市面上多种测厚技术
一、接触式涡电流原理膜厚仪
采用接触式电磁感应或涡流法膜厚仪操作简易，价格便宜，但也存在不少局限性。
例如需等待膜层干燥后再测试，无法在喷涂/涂布后马上得知干膜厚度；无法测试曲面、弯角、小零件等复杂形状；不能在生产线上在线测试；受底材的种类限制，很多材料不适用。
二、破坏式测厚仪
测量非金属底材涂层厚度——采用DIN EN ISO 2808标准提及到的楔形切割法；DIN 50950标准提及到的横切法。
但此类方法需要破坏漆膜，损伤工件。
测量数值受人为操作影响较大。
三、非接触无损涂层厚度的测试方法
1）瑞士Coatmaster 实时在线非接触无损热测法
Coatmaster非接触式测厚系统利用涂层与底材之间的热性能差异来实现非接触
无损测量涂层厚度，首先用计算机控制闪光灯对未固
化的漆膜进行短暂脉冲加热。
高速红外传感器记录下
涂层表面随时间变化的温度，表面温度根据涂层厚度
和热性能以特征动态进行衰减。
利用专门开发的算法
评估表面的动态温度分布情况，最后可以定量确定涂
层厚度。
测量原理图解见右图，安全、简单、快速且精确
测量多层涂料厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量。
对人体无害。
2）β辐射的反向散射
基于β辐射反向散射法（DIN EN ISO 3543），使用同位素源产生的高能电子照射待测涂层。
由于多次散射过程（后向散射），一些入射的电子在入射侧离开该涂层。
反向散射率，即放置在后半空间中的辐射检测器的脉冲率，可用作涂层厚度的度量
参数。
但辐射对人体有害，必须做好防护。
3）X射线荧光法
在X射线荧光法（标准DIN EN ISO 3497）中，通过X射线照射来激发涂层以发射荧光辐射。
在该方法中，光子的数量用作涂层厚度的度量参数。
它主要用于测试
电子，半导体和珠宝行业的金属涂层。
4）光干涉
其余使用光学干涉原理（椭圆光度法和反射计）。
用白光或红外光横向（椭圆光度法）或垂直（反射光度法）照射待测涂层。
根据折射率，部分入射辐射再次被
反射。
从表面和边界表面反射的光由于不同的传播时间而导致干涉图案，这可用
作评估涂层厚度。
光学干涉方法只能用于光学透明涂层，主要用于研究纳米范围
内的薄层。
比较上述几种非接触式无损测量方法，只有Coatmaster非接触式测厚系统采用对人体无危害性的原理，应作为非接触膜厚测试的优先选择测量方案。
此外，coatmaster测厚系统能够安全、简单、快速且精确测量涂层厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量，帮助企业高效保证产品质量，减少材料消耗，节省生产成本：
1. 不限涂层种类，液体油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑油、胶水等都适用；
2. 适应各种不规则和外形复杂工件；
3. 实时在产线上监测膜厚，膜厚如果超过合格值即时给出报错信号，数据100%存档；
4. 在固化前测出干膜厚度，及时调整喷枪距离、出粉量等参数，提高膜厚均匀性及色调一致性。
及时发现喷枪堵塞等设备失效问题并和调整工艺参数。
5. 不限测试底材，木材、橡胶、塑料、玻璃、混凝土等底材均可高精度测出涂层膜厚；
膜厚数据对比测试一：传统磁感应接触方法VS Coatmaster非接触式测厚系统第一组用Coatmaster非接触式测厚系统测试；第二组用传统磁性膜厚仪方法测量未固化的天花板粉末涂层厚度，测试读数由电脑记录。
由下图的测试数据可知，他们具有很好的一致性。
红点为传统磁性膜厚仪测试干膜，蓝点为Coatmaster测量系统测试未固化粉末
膜厚数据对比测试二：Coatmaster非接触式膜厚分析仪VS干膜膜厚仪
用两种膜厚测试方法在铝型材上同一位置分别测试未固化和已固化的膜厚
膜厚测试对比
结论：在铝型材上相同位置测试数据接近，且Coatmaster重复性和精度要更好；
现场图片
测试过程及数据呈现：
使用两种测量仪器都第一点的大致相同位置进行测厚
使用两种测量仪器都第二点的大致相同位置进行测厚
使用两种测量仪器都第三点的大致相同位置进行测厚
Coatmaster ：89.8μm 干膜膜厚仪：88μm Coatmaster ：60.7μm 干膜膜厚仪：60μm
Coatmaster ：82.9μm 干膜测厚仪：82μm
无损测厚设备对于生产厂家的重要性
综述，精度更高和重复性更好的无损测厚设备能够协助生产厂家找出工艺问题（如喷枪堵塞），分析异常的膜厚数据快速判断是原料还是喷涂设备出现问题，从而提高喷涂工艺稳定性，有效减少产品质量缺陷，最终协助厂家进行来料检验、对比产品品质差异等工序。
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