原子吸收的干扰及消除方法

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原子吸收测试中的干扰和消除方法

原子吸收测试中的干扰和消除方法

Ag Mg Pt Pt Cu
312.30 313.16 265.95 265.96 244.16
Co Cr Cu Fe Hg
240.71 357.87 324.75 248.33 253.65
Co Ar CuΒιβλιοθήκη Cu Al241.16 358.27 323.12 249.21 266.92
Ba
Be Bi Ca Cd
Wavelength
2. 自吸收校正
能进行全波段的背景校正, 又能进行结构背景校正,但 是降低了灵敏度。
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灯电流是控制空心阴极灯的主要参数 太小:信号弱 太大:产生自吸
自吸 自蚀
o
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o
o
氘灯扣除背景光路图
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氘灯扣背景法优缺点
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加入保护剂
保护剂可与被测元素生成易分解的或更稳定的配合物,防 止被测元素与干扰组份生成难离解的化合物。保护剂一般是 有机配合剂。 ——EDTA、 8-羟基喹啉、葡萄糖、甘油等 例如: (1)钙与EDTA生成稳定化合物,加入EDTA可阻止钙和 磷酸根形成稳定化合物,从而抑制磷酸根对钙的干扰。 (2)8-羟基喹啉可以消除铝对镁的干扰,因为8-羟基 喹啉与铝形成了稳定的络合物,保护镁不受干扰。
2%KCl+0.4ppm Pb
2%KCl+0.8ppm Pb 1%CaCl2 1%CaCl2+0.4ppm Pb
0.025
0.045 0.016 0.039
0.015
0.032 0.000 0.015
0.014
0.028 0.000 0.014

原子吸收光谱分析干扰因素及消除方法(二)

原子吸收光谱分析干扰因素及消除方法(二)

原子吸收光谱分析干扰因素及消除方法(二)1.电离干扰电离干扰是指待测元素在火焰中汲取能量后,除举行原子化外,还使部分原子电离,从而降低了火焰中基态原子的浓度,使待测元素的吸光度降低,造成结果偏低。

火焰温度愈高,电离干扰愈显著。

当对电离电位较低的元素(如Be、Sr、Ba、Al)举行分析时,为抑制电离干扰,除可采纳降低火焰温度的办法外,还可向试液中加入消电离剂,如1% Cscl(或KCI、RbCl)溶液,因Cscl在火焰中极易电离产生高的电子密度,此高电子密度可抑制待测元素的电离而除去干扰。

2.放射光谱的干扰原子汲取光谱用法的锐线光源应只放射波长范围很窄的特征谱线,但因为以下缘由也会放射出少量干扰谱线而影响测定。

(1)当空心阴极灯放射的敏捷线和次敏捷线非常临近,且不易分开时就会降低测定敏捷度。

例如,Ni的敏捷线为232.0nm,次敏捷线为231.6nm和231.1nm,若使它们彼此分开,应选用窄的光谱通带,否则会降低测定的敏捷度。

(2)空心阴极灯内充有Ar、Ne等惰性气体,其放射的敏捷线与待测元素的敏捷线相近时,也产生干扰。

例如Ne放射359.34nm 谱线,Cr的敏捷线为359.35nm,为此测铬元素的空心阴极灯,应改充Ar而消退Ne的干扰。

(3)空心阴极灯阴极含有的杂质元素放射出与待测元素相近的谱线。

例如:待测元素Sb 217.02nm, Sb 231.15nm, Hg 253.65nm, Mn 403.31nm;杂质元素Pb 217.00nm, Ni 231.10nm,Co253.60nm, Ca 403.29nm。

此时应转变锐线的波长,以避开干扰。

3.背景干扰 (1)背景干扰的产生背景干扰主要是由分子汲取和光散射而产生的,表现为增强表观吸光度,使测定结果偏高。

分子汲取是指在原子化过程因为燃气、助燃气、生成气体、试液中的盐类与无机酸(主要为H2SO4、H3PO4)等分子或自由基对锐线辐射的汲取而产生的干扰。

原子吸收光谱法的干扰及其消除方法

原子吸收光谱法的干扰及其消除方法

原子吸收光谱法的干扰及其消除方法
在原子吸收光谱法的实践中,存在一些干扰因素,影响了分析的精准度。

主要的干扰因素可以分为分光干扰、化学干扰和电离干扰三类。

分光干扰中包括背景干扰和散射光干扰。

背景干扰是由于样品溶液中的无机盐和有机物的存在,会吸收分析线的光,造成干扰。

对此类干扰可以使用背景校正设备,如析取系统和双束分光光度计等进行消除。

散射光干扰主要是由于灯源、烧杯、光学器件等散射光引起,能通过增加透镜数量、提高设备密封性和灯源封闭性等措施减少。

化学干扰主要是由于样品溶液中的离子和有机物质影响原子析出、原子化和吸光过程。

针对此类干扰,可以采取改善雾化效果、改变火焰条件、添加释放剂和掩蔽剂等措施。

电离干扰则主要是由于样品在火焰中被电离,使得原子浓度变低,引起分析误差。

解决电离干扰的主要方法是添加离子化助剂,如碱金属盐等。

以上几类干扰并非孤立存在,往往相互影响,需要根据具体情况采取适当的消除措施。

总的来说,通过实验参数的优化和合理的仪器设备选择,是解决原子吸收光谱法干扰问题的重要途径。

同时,对干扰机理的深入研究,也有助于更有效地消除干扰,进一步提高分析的准确度和精密度。

原子吸收的干扰与消除

原子吸收的干扰与消除

第三节 干扰及消除方法
目前原子吸收分光光度计上一般都配有连续光源自动扣 除背景装备。连续光源用氘灯在紫外区;碘钨灯、氙灯 在可 见区扣除背景。 氘灯产生的连续光谱进入单色器狭缝,通常比原子吸收 线 宽度 大一百倍左右。氘灯对原子吸收的信号为空心阴极 灯原子信号的0.5%以下。由此,可以认为氘灯测出的主要是 背景吸收信号,空心阴极灯测的是原子吸收和背景信号,二 者相减得原子吸收值。氘灯校正法已广泛应用于商品原子吸 收光谱仪器中,氘灯校正的波长和原子吸收波长相同,校正 效果显然比非共振线法好。
第三节 干扰及消除方法
离剂是比被测元素电离电位低的元素,相同条件下消电离剂 首先电离,产生大量的电子,抑制被测元素的电离。 例如,测钙时可加入过量的KCl溶液消除电离干扰。钙 的电离电位为6.1eV,钾的电离电位为4.3eV。由于K电离产 生大量电子,使钙离子得到电子而生成原子。
四、光谱干扰
(1)吸收线重叠 共存元素吸收线与被测元素分析线波长很接近时,两谱 线重叠或部分重叠,会使结果偏高。 (2)光谱通带内存在的非吸收线
第三节 干扰及消除方法
Zeeman效应 是指在磁场作用下简并的谱线发生分裂的 现象。Zeeman效应分为正常Zeeman效应 和反常Zeeman效 应。
0
H =0
0


H >0 +
正常Zeeman效应
-
+
反常Zeeman效应
第三节 干扰及消除方法
在正常Zeeman效应中,每条谱线分裂为三条分线,中 间一条为组分,其频率不受磁场的影响;其它两条称为 组分,其频率与磁场强度成正比。在反常Zeeman效应中, 每条谱线分裂为三条分线或更多条分线,这是由谱线本身的 性质所决定的。反常Zeeman效应是原子谱线分裂的普遍现 象,而正常Zeeman效应仅仅是假定电子自旋动量矩为零, 原子只有轨道动量矩时所有的特殊现象。 利用塞曼效应校正背景的方法可分为两大类:光源调制 法和吸收线调制法。 由于施加磁场的方式不同,每一类又可分为若干小类。

原子吸收光谱分析中的干扰因素分析及消除方法

原子吸收光谱分析中的干扰因素分析及消除方法

原子吸收光谱分析中的干扰因素分析及消除方法作者:李晓杰来源:《科学与财富》2016年第31期摘要:本文主要针对原子吸收光谱分析中的干扰因素及消除方法展开了分析,通过结合具体的试验实例,对原子吸收光谱分析中的干扰因素作了详细的阐述,并给出了相应的消除方法,以期能为有关方面的需要提供参考借鉴。

关键词:原子吸收光谱法;干扰;消除方法;分析所谓的原子吸收光谱法,是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法。

在实际的应用过程中,会存在着一定的干扰因素,因此,为了原子吸收光谱法试验的科学和准确,就需要采取有效的消除方法对感染因素做好应对。

基于此,本文就原子吸收光谱分析中的干扰因素及消除方法进行了分析,相信对有关方面的需要能有一定的帮助。

1 原子吸收光谱分析中的干扰因素及其消除方法1.1 物理干扰及其消除方法物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化过程中,由于试样的任何物理变化而引起的原子吸收强度变化的效应。

物理干扰是一种非选择性干扰,对试剂中各元素的影响基本上是相似的。

吸样毛细管的长度和直径、溶剂的蒸气压、溶液的黏度、雾化器的压力以及侵入试剂溶液中的深度这些因素都会影响进样速度,从而影响到分析元素的原子化效率。

消除物理干扰的主要方法有:(1)配制与分析试样组成相似的标准系列溶液制作校正曲线,这是最常用的方法。

(2)配置与分析试样组成相似的标准溶液有困难时,可用标准加入法,可以提高测定的准确度。

(3)试样中分析元素浓度较高时,在灵敏度能满足要求的情况下,可以采用稀释溶液的方法减小或消除物理干扰。

(4)用双道原子吸收分光光度计时,以待测元素与内标元素的原子吸收强度比制作校正曲线进行定量,可以有效地消除物理干扰。

(5)在电热原子吸收光谱法中,加入某种化学改进剂与待测元素生成难挥发化合物,可以消除在干燥与灰化过程中的物理干扰。

1.2 化学干扰及其消除方法化学干扰是指在试样溶液中或气相中分析元素与共存物质之间的化学作用而引起的干扰效应,它主要影响分析元素化合物的解离与原子化的速度和程度,降低原子吸收信号。

原子吸收光谱法--电离干扰和消除方法

原子吸收光谱法--电离干扰和消除方法

原子吸收光谱法--电离干扰和消除方法原子吸收光谱法是一种常用的分析技术,用于测量样品中金属离子的浓度。

然而,在实际应用过程中,常常会遇到电离干扰的问题,这会影响准确测量和分析结果的可靠性。

因此,消除电离干扰是提高原子吸收光谱法分析精确性和准确性的关键。

电离干扰是指在样品原子化和电离的过程中,产生的能量交换和碰撞现象,导致原子吸收光谱信号的偏移和扩展。

主要包括光电离、自吸收、电场电离、化学干扰等。

具体来说,光电离是指分析过程中样品分子或金属原子受到光照射后,电子从价层跃迁至导带,形成电离现象。

这会引起原子吸收光谱信号的衰减和偏移,使分析结果失真。

解决光电离干扰的方法有:使用易电离气体来抑制光电离现象的发生,如加入氮气或乙炔;采用原子化温度和电离温度的优化组合,使光电离现象最小化。

自吸收是指样品中金属原子吸收光谱信号受到自身存在的浓度梯度差异的影响。

当样品中金属离子浓度较高时,会导致原子吸收光谱信号的衰减,使分析结果出现偏差。

消除自吸收的方法包括:选择合适的波长,使样品中金属离子的吸收峰位于吸收峰的低浓度区域;稀释样品,降低金属离子的浓度,减小自吸收现象的影响。

电场电离是指在原子化过程中,通过电场作用使金属离子进一步电离的现象。

这会导致原子吸收光谱信号的增加和偏移,从而影响分析结果的准确性。

消除电场电离的方法包括:优化电场条件,使电场对金属离子的电离作用最小化;选择合适的离化电位,使金属离子的电离程度减小。

化学干扰是指样品中其他元素或化合物对测定元素的原子吸收光谱信号产生影响的现象。

这会导致原子吸收光谱信号的偏移和混杂,使分析结果失真。

消除化学干扰的方法有:使用空白对照法,即在没有干扰物的情况下测量和分析样品的原子吸收光谱信号;采用化学修饰剂,如掩蔽剂、络合剂等,来选择性地吸附和分离目标元素。

综上所述,消除电离干扰是保证原子吸收光谱法测量精确性和准确性的关键。

通过优化实验条件和采取适当的消除方法,可以有效地减小电离干扰的影响,提高分析结果的可靠性。

原子吸收测试中的干扰和消除方法汇总

原子吸收测试中的干扰和消除方法汇总
原子吸收测试中的
干扰和消除方法
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原子吸收测试中的干扰和消除
物理干扰 化学干扰 电离干扰 光谱干扰 扣背景技术
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物理干扰
指试样在蒸发和原子化过程中,由于其物理 特性如黏度、表面张力、密度等变化引起的 原子吸收强度下降的效应。它是非选择性干 扰,对试样中的各个元素影响是相同的。 消除物理干扰的方法: 1、配置与试样相似组成的标准样品; 2、采用标准加入法; 3、若试样溶液的浓度高,还可采用稀释法。
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化学干扰
化学干扰:是被测元素原子与共存组份发生化学反应生成 稳定的化合物,影响被测元素的原子化,而引起的干扰。
——选择性干扰
(1)分子蒸发 待测元素形成易挥发卤化物和某些氧化物,在灰化温度 下蒸发损失; 形成难离解的化合物(氧化物、炭化物、磷化物等)
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消除电离干扰的方法
使用低温火焰 例如:在测定Na时,使用贫燃焰, 乙炔 1300ml/min
使用标准加入法北京普析通用器有限责任公司光谱干扰
吸收线重叠或者光谱通带内存在非吸收线 背景吸收
光散射 ——原子化过程中产生的固体微粒 对光的散射 分子吸收——原子化过程中生成的氧化物及 盐类对光的吸收主要考虑分子吸收和光散射 的影响,它们是形成光谱背景的主要因素。
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电离干扰
指高温电离而使基态原子数减少,引起原 子吸收信号下降的现象。 —— 气相干扰效应;主要是指碱金属和 碱土金属 被测元素浓度越大 电离干扰越小。
A
M — M++e
C
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原子吸收光谱分析中的干扰及消除方法

原子吸收光谱分析中的干扰及消除方法

吴 鸣 吉林省梅河口市产品质量检验所摘要:原子吸收光谱法可以对60多种金属元素和部分非金属元素来进行测量。

这种测定方法不但速度快,方法简便,而且检测结果比较精准。

和其他检测仪器比起来,其设施费用要低一些。

文章主要介绍了原子吸收法中存在的干扰现象及其消除方法。

关键词:原子吸收光谱;干扰;消除中图分类号:O652 文献识别码:A 文章编号:1001-828X(2016)001-000388-01一、前言我国从80年代开始在检测重金属方面使用原子吸收光谱法,且使用范围越来越广。

不过该方法存在干扰因素,包括光谱干扰以及非光谱干扰两种类型。

光谱干扰是因为测定仪器内部出现了问题而造成的,非光谱干扰则包括化学和物理等干扰。

二、干扰类型和消除方法(一)光谱干扰及消除1.多重谱线干扰多重谱线干扰指的是光谱通带里同时存在几条发射线,并且这些发射线都参与到吸收当中。

像Co等过渡族元素就很容易出现这种情况。

要是这几条发射线的波长都差不多,那它们就很容易在同一个时候参与吸收,因为这些谱线的吸收系数比主线的吸收系数要低,因而导致光度计的灵敏度降低,造成其工作曲线出现弯曲的情况。

理论研究和实验结果表明,干扰的大小取决于吸收线重叠程度,干扰元素的浓度及其灵敏度。

当两种元素的吸收线的波长差小于0.03nm时,则认为吸收线重叠干扰是严重的。

消除方法:可以根据实际情况降低检测的狭缝宽度,不过需要注意的是,如果狭缝宽度太低的话会因为信噪比下降,造成光度计的灵敏度下降,影响测定。

2.非吸收线干扰在分析线的周围可能会存有一些不是等待检测元素的谱线,这部分谱线也许是检测元素的吸收线,也许是等待检测元素的非吸收线。

这些谱线会对光度计产生干扰,造成工作曲线出现弯曲。

消除方法:将光谱通带减小到能够把非吸收线分离出来,所以需要将狭缝宽度降低到一定位置。

3.背景吸收背景吸收分为分子吸收与光散射两种。

这两种干扰的程度不一,但其消除方法是一样的。

消除方法:如果是火焰原子吸收可以采取归零的方式来解决,如果是石墨原子吸收的背景则需要选择合适的干燥灰化,并确定好合适的原子化的温度或者石墨管的改造来进行消除。

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2020/8/10
空气乙炔火焰的温度分布
富燃
化学计量火焰
2020/8/10
空气乙炔火焰中Cu和Ca 的基态原子分布
Cu
Ca
2020/8/10
• 实验证明,火焰的组分和火焰的不同部 位干扰程度有很大差别。通过改变火焰 组分和观测高度,能在很大程度上抑制 或消除干扰。当然,实际工作中不能指 望完全用这种方法消除化学干扰。消除 干扰的方法主要有:
2020/8/10
化学干扰的机制
化学干扰发生在火焰中,所以也被称为气相 干扰。关于产生化学干扰的机理,主要的解释 是共存成分与待测元素生成难解离的化合物。 人们最常提到的例子就是硫酸根、磷酸根对钙 的干扰,从各种形态钙的熔点得到解释。
氯化钙:772oC;硫酸钙:1450oC 过磷酸钙:1677oC 磷酸钙的溶融、蒸发和解离要比氯化钙困难 得多。
2020/8/10
D,采用标准加入法

采用标准加入法消除干扰的原理与基体
匹配法相同,也是为了使待测元素在标准溶液
中和在试样溶液中所受的干扰程度一致。具体
作法是将试样溶液分成四等份,在其中三份中
加入不同量的标准溶液,用水稀释Hale Waihona Puke 一定体积后测定。•
由于这种方法是将标准溶液加入试样溶液
之中,标准溶液与试样溶液的组分完全一致,
• 在盐酸溶液中有1000微克/毫升铁共存时,铬 的吸光度降低20%,在0.1mol/L硫酸介质中,铬 的吸光度降低50%。如果改用一氧化二氮-乙炔火 焰测定,可以完全消除铁的干扰。
• 氧-乙炔火焰也有很高的温度,有用富氧空气-乙 炔火焰和氧屏蔽火焰
2020/8/10
B,添加干扰抑制剂
所谓干扰抑制剂是一个统称,根据作用机制
镧,将钙从磷酸盐状态释放出来。
2020/8/10
• 保护剂:与待测元素形成络合物 加EDT A可抑制磷酸根对钙的干扰。加八羟基喹啉可 抑制铝对钙镁的干扰。利用相应的有机络合剂 与金属离子形成有机络合物,避免了生成难解 离的化合物。常用的还有:水扬酸、乙二醇、 乙酰丙酮等。

助熔剂:氯化铵、高氯酸盐等 其作用
2020/8/10
消除化学干扰的方法
• 改变火焰组分 • 改变观测高度 • 添加相应的化学试剂 • 基体匹配 • 标准加入法 • 改变分析线
2020/8/10
A,使用高温火焰
• 使用高温火焰能够抑制和消除很多化学干扰。常用 的高温火焰主要是一氧化二氮-乙炔火焰,能使一些 在空气-乙炔火焰中难力解离的化合物解离。用一氧 化二氮-乙炔火焰测定钙、镁磷酸根离子的共存浓高 达200微克/毫升也没有干扰。
• 对化学干扰还有另一种解释,一些金属 离子虽然不与待测元素生成难熔化合物 ,但这些金属元素在火焰中生成难熔氧 化合物,当这些元素的浓度很高时,待 测元被这些难熔氧化物包裹,使得待测 元素不能充分原子化。最终体现为对待 测元素的干扰。
• 实验表明,化学干扰直接与化合物的熔 融、解离有关,也就是与火焰温度有关 。
2020/8/10
• 磷酸根也对其它一些元素的测定有干 扰,这些干扰也可以从它们的磷酸盐与 硝酸盐或氯化物的物理化学性质得到解 释。
• 阳离子有时也对待测元素产生干扰。 如有大量的铝或铁共存也对钙和镁的测 定有干扰,研究表明,这些元素与测定 元素生成难熔化合物 MgAl2O4、
CaAl2O4。
2020/8/10
一般情况下,物理干扰的幅度并不很大。溶 液比重和粘度的变化是溶液化学组分变化的结果 。当溶液中化学组分的变化足以使溶液比重和粘 度发生变化时,很难区别是共存化学成分引起的 干扰还是物理干扰。
2020/8/10
化学干扰
由于试样溶与标准溶液的化学组分不 同所致。在火焰中共存成分与测定元素发 生不同的化学反应,导致待测元素原子化 效率的变化,称为化学干扰。化学干扰有 时体现为测量信号降低,有时体现为测量 信号升高。人们通常将前一种情况称为负 干扰,将后一种情况称为正干扰。由于正 干扰实际上提高了测定灵敏度,在大多数 情况下是人们刻意追求的,往往不把他们 看作是干扰。
• 凝聚相干扰:基于雾滴干燥、盐类熔融汽化产生的干 扰。
• 气相干扰:基于化合物解离、基态原子激发、电离造 成的干扰。
2020/8/10
物理干扰
物理干扰主要是指因溶液的比重、粘度等物 理性质的差异产生的干扰,发生在溶液雾化过程 ,也被称为传输干扰。主要体现为溶液提升速率 的变化和雾化效率的降低和雾滴粒度加大。
A2=2A1、A3=3A1、A4=4A1。
2020/8/10
E,化学分离
对于组分复杂的试样的分析更为有利。同时也
不需要寻求高纯物质。
2020/8/10
标准加入法
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应用标准加入法必须注意的问题
1,标准曲线必须是直线。因此不能消除 与浓度有关的干扰和电离干扰。
2,有背景吸收时必须校正背景吸收。 3,空白也必须用标准加入法校正。 4,标准溶液的添加量要合理。
在于使分析元素氯化、助熔、盐类颗粒粉碎等
作用。
• 缓冲剂:使干扰程度趋于迟钝。
• 几种试剂同时加。
2020/8/10
C,基体匹配法
• 所谓基体匹配法就是通常说的标准溶 液打底,往标准溶液中添加试样组分, 使标准溶液的组分与试样溶液的组分相 同。这种方法是待测元素在标准溶液中 所受的干扰与在试样溶液中所受的干扰 程度一致。这种方法主要用于组分简单 的试样的分析。对基体物质的纯度要求 较高,往往不易获得。
原子吸收的干扰及消除方法
火焰原子吸收的原子化过程
2020/8/10
干扰分类
• 物理干扰:基于溶液黏度、比重变化引起的干扰。 • 化学干扰:基于与共存成分发生化学反应引起的干扰
。 • 光谱干扰:吸收线重叠产生的干扰。 • 电离干扰:基态原子电离造成的干扰。
• 传输干扰:基于溶液提升速率、雾化效率、雾滴粒度 分布造成的干扰。
不同又把它们细分为 释放剂、保护剂、助熔 剂、缓冲剂

释放剂:将待测元素从难熔化合物中释放
出来,测定钙、镁时添加镧 锶。磷的浓度在
20微克/毫升时,钙的吸光度降低20%,1
0微克/毫升铝存在,钙的吸光度降低50%,
50微克/毫升铝降低90%,加镧盐后,铝、
磷的共存量达200微克/毫升也不干扰。据考
察,是由于镧与干扰离子生成了磷酸镧、铝酸
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