西工大数电实验报告实验一2020最新版
数字电子工业实习实验报告
数字电子技术实习报告一、实习目的与要求本次数字电子技术实习旨在让我们更好地理解和掌握数字电子技术的基本原理和应用，提高我们的实践能力和动手能力。
实习要求我们能够熟练使用数字电子实验设备，完成预定的实验项目，并能够对实验结果进行分析和总结。
二、实习内容与过程1. 实习前的准备：我们在实习前学习了数字电子技术的基本理论知识，包括数字逻辑基础、逻辑门电路、组合逻辑电路、触发器、时序逻辑电路等，并熟悉了相关实验设备的原理和使用方法。
2. 实习过程：我们在实验室里进行了多个数字电子实验，包括逻辑门电路实验、组合逻辑电路实验、触发器实验、时序逻辑电路实验等。
在实验过程中，我们亲自动手操作，观察实验现象，并记录实验数据。
3. 实验结果分析与总结：我们对实验结果进行了详细的分析和总结，深入理解了数字电子技术的原理和应用，并发现了实验过程中存在的问题，提出了改进措施。
三、实习心得与体会1. 通过本次实习，我们对数字电子技术有了更深入的理解和掌握，能够熟练使用相关实验设备，完成了预定的实验项目。
2. 实习过程中，我们学会了如何观察实验现象，分析实验数据，提高了解决问题的能力。
3. 实习让我们认识到，理论知识与实践操作是相辅相成的，只有掌握了扎实的理论知识，才能在实际操作中游刃有余。
4. 实习培养了我们的团队合作精神和责任感，我们在实习过程中相互帮助，共同完成了实验任务。
5. 实习让我们明白了，数字电子技术在现代社会中的重要地位和作用，激发了我们进一步学习的兴趣和动力。
四、实习成果与展望通过本次实习，我们取得了丰硕的成果，不仅提高了我们的实践能力和动手能力，也加深了对数字电子技术的理解和掌握。
在今后的学习和工作中，我们将继续努力，充分发挥数字电子技术的作用，为我国电子事业的发展贡献自己的力量。
总之，本次数字电子技术实习是一次非常有意义的实践教学活动，我们对数字电子技术有了更深入的了解和掌握，也培养了我们的实践能力和团队合作精神。
西工大数电实验报告——计数器及其应用
计数器及其应用班级：03051001班 学号： 姓名： 同组成员：一、 实验目的1. 熟悉常用中规模计数器的逻辑功能。
2. 掌握二进制计数器和十进制计数器的工作原理和使用方法。
3. 运用集成计数器构成1/N 分频器。
二、 实验设备数字电路试验箱、函数信号发生器、数字双踪示波器、74LS90三、 实验原理计数是一种最简单基本运算，计数器在数字系统中主要是对脉冲的个数进行计数，以实现测量、计数和控制的功能，同时兼有分频功能。
计数器按计数进制有：二进制计数器，十进制计数器和任意进制计数器；按计数单元中触发器所接收计数脉冲和翻转顺序分有：异步计数器，同步计数器；按计数功能分有：加法计数器，减法计数器，可逆（双向）计数器等。
目前，TTL 和CMOS 电路中计数器的种类很多，大多数都具有清零和预置功能，使用者根据器件手册就能正确地运用这些器件。
实验中用到异步清零二-五-十进制异步计数器74LS90。
74LS90是一块二-五-十进制异步计数器，外形为双列直插，引脚排列如图（1）所示，逻辑符号如图（2）所示，图中的NC 表示此脚为空脚，不接线，它由四个主从JK 触发器和一些附加门电路组成，其中一个触发器构成一位二进制计数器；另三个触发器构成异步五进制计数器。
在74LS90计数器电路中，设有专用置“0”端)1(0R 、)2(0R 和置“9”端)1(9S 、)2(9S 。
其中)1(0R 、)2(0R 为两个异步清零端，)1(9S 、)2(9S 为两个异步置9端，CP1、CP2为两个时钟输入端，Q0~Q3为计数输出端，74LS90的功能表见表（1），由此可知：当R1=R2=S1=S2=0时，时钟从CP1引入，Q0输出为二进制；时钟从CP2引入，Q3输出为五进制；时钟从CP1引入，而Q0接CP2 ，即二进制的输出与五进制的输入相连，则Q3Q2Q1Q0输出为十进制（8421BCD码）；时钟从CP2引入，而Q3接CP1 ，即五进制的输出与二进制的输入相连，则Q0Q1Q2Q3输出为十进制（5421BCD码）。
数电第一次实验报告_西工大
数电实验1一．实验目的1.了解掌握QuartusⅡ中原理图的设计方法2.了解掌握ED0实验开发板的使用方法二.实验设备开发环境开发板三.实验内容要求1：根据参考内容，用原理图输入方法实现一位全加器。
1）用QuartusII波形仿真验证；2）下载到DE0 开发板验证。
要求2：参照参考内容，用74138 3-8 译码器和7400 与非门，用原理图输入方法实现一位全减器。
1）用QuartusII 波形仿真验证；2）下载到DE0 开发板验证。
四.实验原理1.实验1实现一位全加器原理图如下Ai，Bi为两个加数，Si为全加和，Ci-1为低位的进位，Ci为向高位的进位。
2.实验2用74138 3-8 译码器和7400 与非门实现一位全减器原理图如下。
A0为被减数，A1为减数，Ci为来自低位的借位，CO为向高位的借位五.实验结果实验1：原理图输入波形仿真配置针脚在计算机上完成模拟实验之后，重新进行编译，然后将程序下载到DE0开发板上并对全加器进行验证。
验证结果无误。
实验2：原理图输入波形仿真六.故障排除&实验心得实验中，我们最大的问题就在于如何构建整个系统。
整个实验都是比较基本的一些语句和一些简单门电路的综合使用。
我们进一步的了解了整个系统的构建和编译过程，使我们对VHDL语句和Quartus的使用有了进一步的认识。
个人认为，VHDL语言不够简洁，有些表示比较麻烦。
这次实验首次让我们将数电理论运用到实践，增强了我们对于全加器和全减器的理解和运用，为我们将来的学习和工作提供了良好的基础。
数电实验报告范文
数电实验报告范文实验名称：数字电路设计与实现实验目的：通过实验，掌握数字电路设计的基本原理和方法，并了解数字电路中常见的逻辑门的应用和性能特点，学会使用逻辑门组合构成各种数字电路，实现指定功能。
实验原理：1.逻辑门的基本原理与应用：逻辑门是数字电路中最基本，并且最重要的一类元件。
常见的逻辑门有与门、或门、非门，与非门、或非门、异或门等。
它们分别表示并、或、非、与非、或非、异或运算。
2.组合逻辑电路：由多个逻辑门组成的逻辑电路，称为组合逻辑电路。
在组合逻辑电路中，各个逻辑门输出与输入的关系是由逻辑门之间的位置和连接方式决定的。
实验仪器和材料：1.数字电路实验箱2.数字逻辑集成电路（例如74LS00、74LS02、74LS04等）3.连线实验步骤：1.实验前准备：将所需的74系列数字集成电路插入到数字电路实验箱的插槽中并连接好电源。
2.实验一：实现逻辑门的基本逻辑运算a.连接和经逻辑门74LS08，将A、B作为输入，将其输出接到LED指示灯上；b.依次给A、B输入不同的逻辑电平，观察输出结果，并记录下来；c.尝试连接其他逻辑门实现不同的逻辑运算，并观察其输出结果。
3.实验二：组合逻辑电路的设计a.根据实验需求，设计一个3输入与门电路；b.使用74LS08等逻辑门实现该电路；c.给输入端依次输入不同的逻辑电平，观察输出结果，并记录下来。
4.实验三：数字电路的简化和优化a.给定一个复杂的逻辑电路图，使用布尔代数等方法进行化简，寻找最简布尔方程；b.结合实际情况，将最简布尔方程转换为最简的逻辑电路图；c.根据设计的逻辑电路图，使用逻辑门组装出该电路，并验证其功能。
实验数据和结果：1.实验一结果：A，B，输:-------:，:-------:，:---------0，0，0，1，1，0，1，1，2.实验二结果：A，B，C，输:-------:，:-------:，:-------:，:--------0，0，0，0，0，1，0，1，0，0，1，1，1，0，0，1，0，1，1，1，0，1，1，1，3.实验三结果：（示例）原始布尔方程：F=A'B+AB'+AC+B'C最简化布尔方程：F=A⊕B⊕C逻辑电路图：实验结论：通过本次实验，我们学习到了逻辑门的基本原理、应用和各个逻辑门的特点。
数电实验报告实验
一、实验目的1. 理解和掌握数字电路的基本原理和设计方法。
2. 培养动手能力和实验技能。
3. 提高分析问题和解决问题的能力。
二、实验原理数字电路是一种以二进制为基础的电路，其基本元件是逻辑门和触发器。
本实验主要涉及以下几种逻辑门：与门、或门、非门、异或门、同或门、与非门、或非门等。
1. 与门（AND Gate）：当所有输入端都为高电平时，输出才为高电平。
2. 或门（OR Gate）：当至少一个输入端为高电平时，输出为高电平。
3. 非门（NOT Gate）：对输入信号取反。
4. 异或门（XOR Gate）：当输入端信号不同时，输出为高电平。
5. 同或门（NOR Gate）：当输入端信号相同时，输出为高电平。
6. 与非门（NAND Gate）：与门和非门的组合。
7. 或非门（NOR Gate）：或门和非门的组合。
三、实验器材1. 数字电路实验箱2. 逻辑门芯片3. 电源4. 连接线5. 测试仪器四、实验步骤1. 组成基本逻辑门电路：根据实验原理，搭建与门、或门、非门、异或门、同或门、与非门、或非门等基本逻辑门电路。
2. 测试电路功能：使用测试仪器对搭建的电路进行测试，验证电路是否满足基本逻辑功能。
3. 组成组合逻辑电路：根据实验要求，搭建组合逻辑电路，如全加器、半加器、译码器、编码器等。
4. 测试组合逻辑电路：使用测试仪器对搭建的组合逻辑电路进行测试，验证电路是否满足设计要求。
5. 组成时序逻辑电路：根据实验要求，搭建时序逻辑电路，如触发器、计数器、寄存器等。
6. 测试时序逻辑电路：使用测试仪器对搭建的时序逻辑电路进行测试，验证电路是否满足设计要求。
五、实验结果与分析1. 基本逻辑门电路测试结果：根据测试数据，搭建的与门、或门、非门、异或门、同或门、与非门、或非门等基本逻辑门电路均满足设计要求。
2. 组合逻辑电路测试结果：根据测试数据，搭建的全加器、半加器、译码器、编码器等组合逻辑电路均满足设计要求。
西北工业大学数电实验一
示波器的使用和TTL 逻辑电路设计一、 实验目的1. 加深了解TTL 逻辑门电路的结构和参数；2. 认识和掌握基本的TTL 逻辑门电路的连接方式；3. 熟悉数字型示波器的基本使用方法 二、 实验设备数字电路实验箱、数字双踪示波器、74LS20、电位器、电阻 三、 实验原理1. TTL 实现与运算AB AB F ==1该逻辑函数的逻辑电路如图a 所示：图a2. TTL 实现或运算B A B A B A F =+=+=2该逻辑函数的逻辑电路如图b 所示：(悬空)1F图b3. TTL 实现异或运算ABB AB A AB B AB A AB B AB A B A B A F 3=+=+=+=该逻辑函数的逻辑电路如图c 所示：图c四、 实验内容1. TTL 实现与运算2FAB3F A把输入信号A和B分别从引脚1和2输入，从3输出信号AB，再利用（2）中的方法，将引脚3输出的信号从引脚4输入，引脚5悬空（相当于输入高电平），从引脚6输出信号就实现了与门；2.TTL实现或运算先采用1中的方法实现A和B，分别从引脚1和4输入信号A和B，引脚2和5悬空（相当于输入高电平），引脚3和6就分别输出了信号A和B。
再将引脚3和6输出的信号分别输入到引脚9和10，由引脚8输出信号就实现了或门；3.TTL实现异或运算把输入信号A和B分别从引脚1和2输入，从3输出信号AB，再从引脚4和9分别输入信号A和B，由引脚3输出的信号AB分别从引脚5和10输入，这样引脚6和8分别输出信号A AB⋅，最后分别将⋅和B AB⊕；这两个信号从引脚12和13输入，则从引脚14输出的信号就是A B五、实验结果1.TTL实现与运算2.TTL实现或运算3.TTL实现异或运算六、故障排除1.确保74LS00和电路板接触良好，能够很好的传递电路信号；2.电路连接接口连接紧密，电位器能很好的实现电路的开闭。
七、心得体会加深了解TTL逻辑门电路的结构，认识和掌握基本的TTL逻辑门电路的连接方式，为今后的数字电路学习和实践打下坚实的基础。
西北工业大学数电实验报告1
实验1 TTL集成逻辑门参数测试学号：姓名：日期：组号：一、实验目的：（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。
（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。
（3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。
二、实验设备：数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器，电阻。
三、实验原理：门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL 逻辑门电路。
TTL集成电路的使用规则：（1）插集成块时，要认清定位标记，不得插反。
（2）使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。
实验中要求使用Vcc=+5V。
电源极性不允许接错。
（3）空闲输入端处理方法。
悬空，相当于正逻辑“1”，一般小规模集成电路的数据输入端允许悬空处理。
但易受外界干扰，导致电路逻辑功能不正常。
因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。
（4）输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处状态。
（5）输出端不允许并联使用（三态门和OC门除外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。
（6）输出端不允许直接接电源Vcc，不允许直接接地，否则会损坏器件。
四、实验内容：1、TTL信号的产生2、与非门的测试3、用74LS00实现逻辑函数：F=ABF=A+BF=A○+B五、实验结果：F=AB=AB∙1A∙∙B∙1F=A+B=1∙∙B∙ABF=A○+B=A AB。
数电第一次实验报告_西工大
数电实验1一．实验目的1.了解掌握QuartusⅡ中原理图的设计方法2.了解掌握ED0实验开发板的使用方法二.实验设备1.Quartus开发环境2.ED0开发板三.实验内容要求 1：根据参考内容，用原理图输入方法实现一位全加器。
1）用 QuartusII波形仿真验证；2）下载到 DE0 开发板验证。
要求 2：参照参考内容，用 74138 3-8 译码器和 7400 与非门，用原理图输入方法实现一位全减器。
1）用 QuartusII 波形仿真验证；2）下载到 DE0 开发板验证。
四.实验原理1.实验1实现一位全加器原理图如下Ai，Bi为两个加数，Si为全加和，Ci-1为低位的进位，Ci为向高位的进位。
2.实验2用 74138 3-8 译码器和 7400 与非门实现一位全减器原理图如下。
A0为被减数，A1为减数，Ci为来自低位的借位，CO为向高位的借位五.实验结果实验1：原理图输入波形仿真配置针脚在计算机上完成模拟实验之后，重新进行编译，然后将程序下载到DE0开发板上并对全加器进行验证。
验证结果无误。
实验2：原理图输入波形仿真六.故障排除&实验心得实验中，我们最大的问题就在于如何构建整个系统。
整个实验都是比较基本的一些语句和一些简单门电路的综合使用。
我们进一步的了解了整个系统的构建和编译过程，使我们对VHDL语句和Quartus的使用有了进一步的认识。
个人认为，VHDL语言不够简洁，有些表示比较麻烦。
这次实验首次让我们将数电理论运用到实践，增强了我们对于全加器和全减器的理解和运用，为我们将来的学习和工作提供了良好的基础。
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QuartusII原理图： （3）波形仿真：
数字电子技术实验
（4）记录电路输出结果
ABY 000 010 100 111
3、（要求三）用与非门实现“或”逻辑。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实 现电路测试逻辑功能。 （1）逻辑表达式变换过程： Y A B A·B （2）原理图（Multisim和QuartusII中绘制的原理图）： Multisim原理图：
QuartusII原理图：
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数字电子技术实验
（3）波形仿真：
（4）记录电路输出结果
ABY 000 011 101 110
5、（要求五）用门电路设计实现一位全加器，用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现电路测试逻辑功能。 （1）全加器的真值表：
A B C S C0 0 0 000 0 0 110 0 1 010 0 1 101 1 0 010 1 0 101 1 1 001 1 1 111
三、实验设备
（1）电脑一台； （2）数字电路实验箱； （3）数据线一根。
2
四、实验原理
要求 1： 要求 2： 要求 3：
要求 4： 要求 5：
数字电子技术实验
五、实验内容
1、（要求一）测试与非门逻辑功能。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现 电路测试逻辑功能。
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数字电子技术实验
（1）逻辑表达式变换过程：Y=(A·B)'=A'+B' （2）原理图（Multisim和QuartusII中绘制的原理图）：
Multisim原理图：
QuartusII原理图：
（3）波形仿真：
（4）记录电路输出结果
ABY 001 011 101 110
2、（要求二）用与非门实现“与”逻辑。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实 现电路测试逻辑功能。
（1）逻辑表达式变换过程： Y A B A B （2）原理图（Multisim和QuartusII中绘制的原理图）： Multisim原理图：
QuartusII原理图：
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数字电子技术实验
（3）波形仿真：
（4）记录电路输出结果
ABY 实现“异或”逻辑。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现电路测试逻辑功能。 （1）逻辑表达式变换过程： Y A B A B A B （2）原理图（Multisim和QuartusII中绘制的原理图）： Multisim原理图：
要求 1：测试与非门逻辑功能。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现电路测 试逻辑功能。 要求 2：用与非门实现“与”逻辑。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现电 路测试逻辑功能。 要求 3：用与非门实现“或”逻辑。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现电 路测试逻辑功能。 要求 4：用与非门实现“异或”逻辑。用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实现 电路测试逻辑功能。 要求 5：用门电路设计实现一位全加器，用 MULTISIM 软件仿真后，用 FPGA 实 现电路测试逻辑功能。
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数字电子技术实验
六、实验过程中的问题
1.用 QuartusII 做波形仿真时第一次设置错了时间单位，导致仿真波形错误； 2.一位全加器设计时最开始读错了题设要求，导致设计十分复杂。
七、心得体会
1.对 QuartusII 软件的使用还不够熟练； 2.对相关知识掌握不够。
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S ABC （2）最简逻辑表达式推导：
C AB A BC
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数字电子技术实验 （3）原理图（Multisim和QuartusII中绘制的原理图）： Multisim原理图：
QuartusII原理图：
（4）波形仿真：
（5）记录电路输出结果
A B C S C0 0 0 000 0 0 110 0 1 010 0 1 101 1 0 010 1 0 101 1 1 001 1 1 111
数字电子技术实验
数字电子技术基础 实验报告
题目：实验一 TTL 集成门电路逻辑变换
学号： 姓名：
1
数字电子技术实验
实验一 TTL 集成门电路逻辑变换 一、实验目的
1.了解掌握 QuartusⅡ软件的使用方法； 2.了解掌握 Multisim 软件的使用方法； 3.掌握门电路的相关特性。
二、实验要求