薄片和扫描电镜的观察图片库
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电镜精美图片
肺吞噬细胞吞噬大肠杆菌
人卵子的电子显微镜彩色强化扫描图
电镜下的细胞
昆虫复眼
花粉
菜青虫体表
电子显微镜下 放大2500倍的酵母
精子在向卵子进攻
吸附在大肠杆菌上的噬菌体 （电子显微镜25000倍）
电子显微镜下的 金黄色葡萄球菌
凋亡肌细胞 爱滋病毒
血管
中性粒细胞 T淋巴细胞与激活的血小板
细胞病毒攻击 T淋巴细胞
巨噬细胞攻击大肠杆菌
中性粒细胞、 血小板等
T细胞、红细胞、 血小板
大肠内膜
气管内膜 生长中的毛发 小肠内膜
毛发
神经细胞
子宫内膜 汗孔
HIV侵袭免疫细胞
Ｔ细胞与Ｂ细胞
白血球
巨噬细胞
自然杀手细胞纤灭癌细胞
一种钟形虫 （伪彩色）
植物气孔SEM照片 （伪彩色）
大肠杆菌
淋病球菌
弧形霍乱菌
一种细菌的负染照片，显示荚膜
肺炎支原体
附着在内皮细胞表面的ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ克次氏体和 细胞内包含立克次氏体的内吞体
La Crosse virus Poliovirus 1.
Influenza virus
Ebola virus Coronavirus
Smallpox virus
大肠杆菌
电子显微镜下放大 10000倍的JBC菌
电子显微镜下的蚊子
第一支SARS病毒灭活疫苗中的 SARS灭活病毒颗粒的电子显微镜照片。
岩心分析
氧
硅
图2-4 硅氧四面体面片
③八面体：指Al3+(或Mg2+)在中心、四周有六个阴离子 O2-或OH-构成的一个立体几何图形正好是 八个面，故称为八面体。因其由Al3+和O2组成，故又称它为Al- O八面体。
氧
铝、镁等
图2-5 单个铝氧（或氢氧）八面体
④八面体片：由八面体沿一个平面相互连接而成，
表2-1 岩心分析揭示的内容和所用的方法
内 孔隙度 容 常规条件 模拟围压 总孔隙度、连同孔隙度 总孔隙度 方 法 气测法、煤油饱和法孔隙度仪 CMS - 300全自动岩心分析仪 渗透率仪 CMS - 300全自动岩心分析仪 压汞或等温吸附法 气—水、油—气、气—油—水 油湿、水湿、中间润湿 类型、大小、形态、连通性、分布 大小、分布 粒度大小、分布 接触关系、成分、含量、成岩变化 产状 粘土矿物
绿泥石的结构化学式为：
｛Mg6［AlxSi8-xO20］(OH)4 ｝n-1· ｛（Mg6 –xAlx(OH)12｝n+
伊利石的一般结构式如下：
Kx+y(Al2-yMgy)(Si4-xAlx)O10(OH)2
图2-9 2:1型伊利石结构图
特点：
1.伊利石与蒙脱石不同之处是晶层内的阳离子交换量
比蒙脱石少。阳离子交换主要是Si-O四面体晶片内， 所以不均衡电荷主要在四面体片内，距离层间阳离子 很近，当结构层中出现阳离子K+时，便被紧紧地吸 附住，并恰好嵌在上下两个四面体晶片间氧原子的六 方网眼中(K+离子半径大约1.33×10-1nm，2个四面体 六方网眼半径为l.4×10-1nm，上下两个为2×1.4×101nm)形成一种强键，致使水存在时难以进入晶层间， 引起晶层的膨胀。所以伊利石是一种不膨胀的粘土矿 物。晶面间距(d001)为10×10-1nm。
篇电镜透射电镜和扫描电镜PPT课件
a 样品越厚，图像越暗
b 原子序数越大，图像越暗
c 密度越大，图像越暗
扫描电镜（SEM）
最大特点是焦深大，图像富有立体感，特别适 合于表面形貌的研究。 放大倍数范围广，从十几倍到2万倍，几乎覆 盖了光学显微镜和TEM的范围。 制样简单，样品的电子损伤小，所以SEM成为 高分子材料常用的重要剖析手段。
物镜(M0)用来获得被检物的一次放大像和衍射谱，它决定 显微镜的分辨率，是电镜的心脏．中间镜(Mi)是个可变倍 率的弱透镜，它的作用是把物镜形成一次中间像或衍射谱 射到投影镜的物面上．投影镜(Mp)把中间镜形成的二次像 及衍射谱放大到荧光屏上，一般具有2—3个聚光镜和4— 6个物镜加投影镜。
电镜的总放大倍数等于成像系统各透镜放大倍数的乘 积．即：
低压扫描电镜 场发射电子枪 环境扫描电镜
1~100eV
扫描电镜可变真空度 Nhomakorabea低能扫描电镜 分辨率0.4nm 1Pa~300Pa
SEM
扫描电子显微镜的结构和工作原理
由电子枪发射出来的电子束，在加速电压作 用下，经过二至三个聚光镜汇聚，再经 物镜聚集成一个细的电子束聚焦在样品 表面。在聚光镜与物镜之间装有扫描线 圈，在它的作用下使电子束在样品表面 扫描。
照明系统
电子光学系统（核心） 成像系统
透射电镜（电源与控制系统 TEM）
真空系统
观察与记录系统
透射电镜的构造及成象
电子枪发射电子束 经聚光镜聚焦 照射样品 电子束穿过样品 经物 镜放大成像
在物镜的背焦 面上形成衍射花样
在物镜的像平 面上形成显微图像
图像被中间镜和投影镜逐步放大 在荧光屏或感光底片上成像
高分辨型（ TEM）
晶格分辨率 0.14nm
b 原子序数越大，图像越暗
c 密度越大，图像越暗
扫描电镜（SEM）
最大特点是焦深大，图像富有立体感，特别适 合于表面形貌的研究。 放大倍数范围广，从十几倍到2万倍，几乎覆 盖了光学显微镜和TEM的范围。 制样简单，样品的电子损伤小，所以SEM成为 高分子材料常用的重要剖析手段。
物镜(M0)用来获得被检物的一次放大像和衍射谱，它决定 显微镜的分辨率，是电镜的心脏．中间镜(Mi)是个可变倍 率的弱透镜，它的作用是把物镜形成一次中间像或衍射谱 射到投影镜的物面上．投影镜(Mp)把中间镜形成的二次像 及衍射谱放大到荧光屏上，一般具有2—3个聚光镜和4— 6个物镜加投影镜。
电镜的总放大倍数等于成像系统各透镜放大倍数的乘 积．即：
低压扫描电镜 场发射电子枪 环境扫描电镜
1~100eV
扫描电镜可变真空度 Nhomakorabea低能扫描电镜 分辨率0.4nm 1Pa~300Pa
SEM
扫描电子显微镜的结构和工作原理
由电子枪发射出来的电子束，在加速电压作 用下，经过二至三个聚光镜汇聚，再经 物镜聚集成一个细的电子束聚焦在样品 表面。在聚光镜与物镜之间装有扫描线 圈，在它的作用下使电子束在样品表面 扫描。
照明系统
电子光学系统（核心） 成像系统
透射电镜（电源与控制系统 TEM）
真空系统
观察与记录系统
透射电镜的构造及成象
电子枪发射电子束 经聚光镜聚焦 照射样品 电子束穿过样品 经物 镜放大成像
在物镜的背焦 面上形成衍射花样
在物镜的像平 面上形成显微图像
图像被中间镜和投影镜逐步放大 在荧光屏或感光底片上成像
高分辨型（ TEM）
晶格分辨率 0.14nm
扫描电镜分析 ppt课件
4
二 材料涂层表面、切面进行分析
表面分析是指对材料的表面特性和表面现象进行 观察分析、测量的方法和技术，是扫描电镜最基本、 最普遍的用途。通常用二次电子成像，来观察样品表 面的微观结构、化学组成等情况。
5
图2. 1500倍率下陶瓷膜层的表面形貌照片
从图2可以看出陶瓷膜层的组织是均匀的,但含有一 定数量的孔洞(图片上的黑孔处为孔洞)。这些孔洞是膜 层迅速烧结后残留下来的,它们所处的位置就是成膜过程 中能量密度的集中区。
对比图（a）,图1(b)用60%硫 酸酸浸提纯的硅藻土很大程度地清 理了硅藻面孔道，使硅藻壳体大部 分的孔结构显露出来，并且非常完 整地保护了硅藻壳体，硅藻土的比 表面积和孔体积增大较大。而硅藻 土的调湿性能正是由其独特的孔隙 结构所赋予的，所以酸浸提纯这一 操作很是关键。
15
硅藻土基调湿材料的形貌分析
陶瓷膜由过渡层、致密层和疏松层组成。过渡层为 膜层与基体的交界面,膜层与基体犬牙交错,形成微区冶 金结合;中间为无气孔和其它缺陷的致密层;致密层外侧 是疏松层,层中存在许多孔洞及其它缺陷。
8
图5a.膨胀石墨外观的SEM图
图5b.膨胀石墨表面孔隙结构SEM图
膨胀石墨的外观如蠕虫状,由许多粘连、叠合的石墨鳞 片构成,片间有许多蜂窝状的微细孔隙.其微片厚度大致在 100～300 nm之间,孔隙的尺寸在10-3～10 nm之间。
13
硅藻土原料与纯化硅藻土的表面形貌分析
图（a）为硅藻原土的SEM 图，从图中我们可以清晰的看 到原土硅藻壳体表面所覆盖的 大量的碎屑、炭质、粘土矿物 等杂质，壳体几乎被杂质所覆 盖和填充，还出现了孔洞塌陷 等现象，可以说几乎看不到清 晰的硅藻壳面的多孔结构。
（a）硅藻原土SEM图
二 材料涂层表面、切面进行分析
表面分析是指对材料的表面特性和表面现象进行 观察分析、测量的方法和技术，是扫描电镜最基本、 最普遍的用途。通常用二次电子成像，来观察样品表 面的微观结构、化学组成等情况。
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图2. 1500倍率下陶瓷膜层的表面形貌照片
从图2可以看出陶瓷膜层的组织是均匀的,但含有一 定数量的孔洞(图片上的黑孔处为孔洞)。这些孔洞是膜 层迅速烧结后残留下来的,它们所处的位置就是成膜过程 中能量密度的集中区。
对比图（a）,图1(b)用60%硫 酸酸浸提纯的硅藻土很大程度地清 理了硅藻面孔道，使硅藻壳体大部 分的孔结构显露出来，并且非常完 整地保护了硅藻壳体，硅藻土的比 表面积和孔体积增大较大。而硅藻 土的调湿性能正是由其独特的孔隙 结构所赋予的，所以酸浸提纯这一 操作很是关键。
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硅藻土基调湿材料的形貌分析
陶瓷膜由过渡层、致密层和疏松层组成。过渡层为 膜层与基体的交界面,膜层与基体犬牙交错,形成微区冶 金结合;中间为无气孔和其它缺陷的致密层;致密层外侧 是疏松层,层中存在许多孔洞及其它缺陷。
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图5a.膨胀石墨外观的SEM图
图5b.膨胀石墨表面孔隙结构SEM图
膨胀石墨的外观如蠕虫状,由许多粘连、叠合的石墨鳞 片构成,片间有许多蜂窝状的微细孔隙.其微片厚度大致在 100～300 nm之间,孔隙的尺寸在10-3～10 nm之间。
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硅藻土原料与纯化硅藻土的表面形貌分析
图（a）为硅藻原土的SEM 图，从图中我们可以清晰的看 到原土硅藻壳体表面所覆盖的 大量的碎屑、炭质、粘土矿物 等杂质，壳体几乎被杂质所覆 盖和填充，还出现了孔洞塌陷 等现象，可以说几乎看不到清 晰的硅藻壳面的多孔结构。
（a）硅藻原土SEM图
利用扫描电镜全面了解样品
2
图 3.a 背散射成像下裂痕位置 500 X 图 3.b 背散射成像下裂痕位置 1,000 X
3
图 3.c 背散射成像下裂痕位置 2,000 X
图 3.d 背散射成像下裂痕位置 5,000 X 更高倍数下对样品进行观察，展示出镀层表面的形貌，图 4。样品表面存在黑色斑点。由于 背散射成像性质，可以推断此处成分元素较轻，也有可能为陡直的坑。分别使用背散射 Top 模式，3D 粗糙度重建系统，二次电子模式，以及能谱对此处进行深入分析。
利用扫描电镜全面了解样品
样品名称 铅电池极片框架 样品类型 金属，固体 是否喷金 未喷金 设备型号 飞纳台式扫描电镜 Phenom Pure+ 测试项目 • 扫描电镜：
背散射探头 Full 模式 Topo 模式 3D 粗糙度重建 二次电子探头 • 能谱： EDS mapping 测试目的 表面镀层质量观察 光学导航介绍 借助光学导航显微镜，可以定位到不同位置。操作人员始终明白当前样品所处的位置。对于 想观察的区域，也只需要在光学导航图上点击鼠标左键即可移动至此位置。图 1. 右上小图 中黄框代表当前照片成像位置。 借助右下方电子导航，可以在高倍数下进行更精准的位置导航。
EDS 能谱测试 EDS 能谱为了对黑斑位置进行进一步分析，我们进行 EDS 能谱 mapping 面扫。面扫显示 出黑斑位置存在 Al 元素的聚集。
总结
一些位置存在裂纹缺陷，另外一些位置镀层存在孔洞缺陷。使用不同探头成像模式对样品进 行分析。不同探头分别可以获得不同的信息。
8
图 7. 3D 粗糙度重建 二次电子成像 二次电子成像获得样品表面更为敏感的形貌信息。
6三种不同成像模式对比图 8. 样品表面图 9. 三种成像模式对比，左：BSD Full 模式；中，BSD Top 模式；右：二次电子模式
图 3.a 背散射成像下裂痕位置 500 X 图 3.b 背散射成像下裂痕位置 1,000 X
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图 3.c 背散射成像下裂痕位置 2,000 X
图 3.d 背散射成像下裂痕位置 5,000 X 更高倍数下对样品进行观察，展示出镀层表面的形貌，图 4。样品表面存在黑色斑点。由于 背散射成像性质，可以推断此处成分元素较轻，也有可能为陡直的坑。分别使用背散射 Top 模式，3D 粗糙度重建系统，二次电子模式，以及能谱对此处进行深入分析。
利用扫描电镜全面了解样品
样品名称 铅电池极片框架 样品类型 金属，固体 是否喷金 未喷金 设备型号 飞纳台式扫描电镜 Phenom Pure+ 测试项目 • 扫描电镜：
背散射探头 Full 模式 Topo 模式 3D 粗糙度重建 二次电子探头 • 能谱： EDS mapping 测试目的 表面镀层质量观察 光学导航介绍 借助光学导航显微镜，可以定位到不同位置。操作人员始终明白当前样品所处的位置。对于 想观察的区域，也只需要在光学导航图上点击鼠标左键即可移动至此位置。图 1. 右上小图 中黄框代表当前照片成像位置。 借助右下方电子导航，可以在高倍数下进行更精准的位置导航。
EDS 能谱测试 EDS 能谱为了对黑斑位置进行进一步分析，我们进行 EDS 能谱 mapping 面扫。面扫显示 出黑斑位置存在 Al 元素的聚集。
总结
一些位置存在裂纹缺陷，另外一些位置镀层存在孔洞缺陷。使用不同探头成像模式对样品进 行分析。不同探头分别可以获得不同的信息。
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图 7. 3D 粗糙度重建 二次电子成像 二次电子成像获得样品表面更为敏感的形貌信息。
6三种不同成像模式对比图 8. 样品表面图 9. 三种成像模式对比，左：BSD Full 模式；中，BSD Top 模式；右：二次电子模式
扫描电镜分析优秀PPT
(a)×5000
(b)×5000
(c)×5000
(d)×5000
烧结温度为850℃，四种调湿材料的电镜图：（a） 样品1（b）样品2 (c）样品3（d）样品4
左图(a)、(b)、(c)、(d) 分别代表样品1(硅藻土)， 样品2(90%硅藻土，10%粉煤 灰)，样品3(98%硅藻土，2% 过硼酸钠)，样品4(90%硅藻 土，8%粉煤灰，2%过硼酸钠) 的电镜图。
9
图5c.膨胀石
膨胀石墨折断后对它的内部截面进行扫描电镜观察,可以
发现其内表面上存在.大量厚度在50～80 nm的薄片,如图5c所
示。
图5d为充分粉碎后的膨胀石墨粉末的SEM图。所有的薄片
厚度均在100 nm以下,一般分布在30～80 nm.说明,膨胀石墨
扫描电镜的应用
组员：张海媛 邓青沂 褚鹏
1
简介
扫描电子显微镜是一种用途广泛的多功能仪器，具有很 多优越的性能，重要特点是景深大，图像富立体感，具有 三维形态。它可以进行三维形貌的观察和分析，当然，还 可以进行微区的成分分析等其他方面的应用。
2
一 纳米材料形貌的观察分析
图 1 是铝合金表面经 4.0 mol/L盐酸溶液刻蚀 12 min 后的扫描电镜 照片。从图 1(a)放大 3000 倍的扫描电镜照片中可见，刻蚀后的铝合金 表面上均匀地形成了许多凹坑状结构。图 1(b)为放大 5000 倍的照片， 从图中可以清楚地看到这些由长方体状的凸台和凹坑构成的深浅相间 的结构，这些凸台与凹坑之间相互连通,在表面上形成了一个“迷宫” 结构。
6
图3. 扫描电镜10000倍率下的陶瓷膜层表面形貌
从图3可明显看出,在孔洞四周是蜂窝状的膜层。这是 由热影响区造成的,热影响区中的能量会影响烧结后陶瓷膜 层的形貌,图中的细小浅色颗粒是在烧结过程中由于烧结能 量极高,在瞬间烧结时发生溅射,溅射后经过烧结形成的产 物。
扫描电镜的结构及典型试样形貌观察 ppt课件
ppt课件
11
四 利用扫描电镜观察样品形貌的操作步骤
向冷却阱中加入液氮。打开样品室， 装样，关闭样品室，抽真空 通过Z轴调节工作距离 (最佳值为12mm) 调节X、Y轴， 寻求感兴趣的样品区域 当真空指示灯亮时，打开V1阀， 加电压至20kV，电流加至60μA
调节对比度和亮度， 使样品在显示屏上显示出来
ppt课件
9
电子束与物质相互作用及产生的信息
5~50nm
1nm
入 射 电 子 束
500~5000nm
100~1000nm
俄歇电子 二次电子 背散射电子 特征X射线
连续X射线
背散射电子空间分辨率 X射线的分辨率
ppt课件
图4
10
三 扫描电镜样品的制备
1.要求干净，干燥的块状或粉末样品，尺 寸不大于φ20×10mm。 2.金属断口样品：要求是干净、新鲜的表 面；如果是金相样品须进行深腐蚀。 3.非金属样品须在真空镀膜机中喷镀金、 铝或碳，以保证样品导电性良好。
ppt课件
15
a
b
图7 样品组织的扫描图像
图a为带有滑移线的奥氏体组织 图b为贝氏体组织
ppt课件
16
五 实验报告要求
明确本次实验目的； 简单画出扫描电镜的成像原理图； 简述所观察样品的二次电子像形貌特征。 源自ppt课件17
图 1 KYKY-2800 型 扫 描 电 镜
ppt课件 4
扫描电镜（SEM）的用途
扫描电镜主要用于研究各种不同样品的组 织及表面形貌，它可以应用到各个领域之 中的不同方向，它以各种不同的实物为研 究对象。例如，它可以研究金属及合金的 组织，磨损形貌，腐蚀和断裂形貌；也可 以很方便地研究玻璃，陶瓷，纺织物等的 细微结构和形貌；
扫描电子显微镜 引言扫描电镜结构原理扫描电镜图象及衬扫描电镜结果分析示例扫描电镜的主要特点PPT课件
第28页/共77页
景深D大
景深大的图像立体感强，对粗糙不平的断
口样品观察需要大景深的SEM。SEM的景深
Δf可以用如下公式表示：
Δf =
(0.2 d ) D Ma
式中D为工作距离，a为物镜光阑孔径，M
为 放大倍率，d为电子束直径。可以看出，长
工作距离、小物镜光阑、低放大倍率能得到大
景深图像。
第29页/共77页
返回
第36页/共77页
3. 定量分析准确度高
电子探针是目前微区元素定量分析最准 确的仪器。电子探针的检测极限(能检测到 的元素最低浓度)一般为（0.01－0.05）%， 不同测量条件和不同元素有不同的检测极限， 但由于所分析的体积小，所以检测的绝对感 量极限值约为10-14g，主元素定量分析的相 对误差为(1—3)%，对原子序数大于11 的元 素，含量在10% 以上的时，其相对误差通 常小于2%。
电子探针分析过程中一般不损坏试样，试样
分析后，可以完好保存或继续进行其它方面的分
析测试，这对于文物、古陶瓷、古硬币及犯罪证
据等的稀有试样分析尤为重要。
第38页/共77页
返回
5. 微区离子迁移研究
多年来，还用电子探针的入射电子 束注入试样来诱发离子迁移，研究了固 体中微区离子迁移动力学、离子迁移机 理、离子迁移种类、离子迁移的非均匀 性及固体电解质离子迁移损坏过程等， 已经取得了许多新的结果。
多孔SiC陶瓷的二次电子像
第30页/共77页
一般情况下，SEM景深比TEM大10倍，比光学显微镜（OM） 大 1 0 0 倍 。 如 1 0 0 0 0 倍 时 , TEM :D＝1m，SEM:10m, 100倍时，OM:10m，SEM=1000m。
景深D大
景深大的图像立体感强，对粗糙不平的断
口样品观察需要大景深的SEM。SEM的景深
Δf可以用如下公式表示：
Δf =
(0.2 d ) D Ma
式中D为工作距离，a为物镜光阑孔径，M
为 放大倍率，d为电子束直径。可以看出，长
工作距离、小物镜光阑、低放大倍率能得到大
景深图像。
第29页/共77页
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第36页/共77页
3. 定量分析准确度高
电子探针是目前微区元素定量分析最准 确的仪器。电子探针的检测极限(能检测到 的元素最低浓度)一般为（0.01－0.05）%， 不同测量条件和不同元素有不同的检测极限， 但由于所分析的体积小，所以检测的绝对感 量极限值约为10-14g，主元素定量分析的相 对误差为(1—3)%，对原子序数大于11 的元 素，含量在10% 以上的时，其相对误差通 常小于2%。
电子探针分析过程中一般不损坏试样，试样
分析后，可以完好保存或继续进行其它方面的分
析测试，这对于文物、古陶瓷、古硬币及犯罪证
据等的稀有试样分析尤为重要。
第38页/共77页
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5. 微区离子迁移研究
多年来，还用电子探针的入射电子 束注入试样来诱发离子迁移，研究了固 体中微区离子迁移动力学、离子迁移机 理、离子迁移种类、离子迁移的非均匀 性及固体电解质离子迁移损坏过程等， 已经取得了许多新的结果。
多孔SiC陶瓷的二次电子像
第30页/共77页
一般情况下，SEM景深比TEM大10倍，比光学显微镜（OM） 大 1 0 0 倍 。 如 1 0 0 0 0 倍 时 , TEM :D＝1m，SEM:10m, 100倍时，OM:10m，SEM=1000m。
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方解石溶解所形成的次生孔隙，方解石 微红污色，蓝色区域为孔隙）
多类型的孔隙，粒内孔隙（BP）和次生的粒 内孔隙（SWP）。注意超孔隙（OS）
生物扰动砂岩，含超过10％的碎屑粘土。 注意看不到孔隙。
充填了高岭石（Ch）的孔隙。注意高岭石叠 覆在石英之上，且滞后于石英胶结物（OV）
显示了强烈的石英再生胶结物（OV）。注意局部的 厚层页岩覆层阻碍了石英胶结作用(箭头处）
显示孔隙搭桥作用的纤维状的伊利石胶 结物（A）和环碎屑颗粒的伊利石（B）
白云岩
长石砂岩
海绿石石英砂岩
石英岩
竹叶状灰岩
显微图像：显示黑色燧石（B）和绿色 燧石（G），注意红污色的方解石。
显微图像：显示了介于坚硬石英颗粒之 间的弯环状的白云母（箭头）
某些重矿物颗粒的部分溶解(箭头处）
含丰富牡蛎残片的砂岩
显微图像：方解石胶结的砾岩
显微图像：A显示了含有蠕虫状氯化物的脉状石英 (箭头处） ；B显示了拉伸状的多晶石英颗粒。
镜下观察ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
——薄片和扫描电镜
薄片具有微晶石英颗粒
钙化的长石颗粒，注意长石在溶解和交 代后的不溶残留（箭头）
薄片显示了新鲜的、黄色污点的钾长石 （正常光）
被钙（C）部分交代的斜长石颗粒
显微图像：显示了部分、乃至几乎完全被溶 解的长石颗粒（F），蓝色部分微孔隙
显微图像：显示变质了的粉砂岩颗粒（M）。注意红 污色方解石和蠕虫状高岭石（箭头）。蓝色为孔隙。
洁净的、分选好的砂岩：石英胶结物(OV )几乎完全占据了原生孔隙，破坏了储层性质
显微图像：中等幅度（0.5mm）的缝合 线
1类方解石（红污色）。注意颗粒之间 的点接触（p）和凹凸接触（C）
2类方解石胶结物（红污色），滞后于 石英再生长（OV）
具有微孔隙的高岭石胶结物（A）和成 形良好的假六边形的板状高岭石（B）