电子显微分析试题集
电子显微分析试题集-推荐下载
下表为与该体心立方物相对应的表格的一部分。
K
U VW
H1 K1 L1
H2 K2 L2
R2/R R3/R1
FAI D1 D2
1
1 1 1 1 0 1 -1
-1 0 1
1.00 1.000
120.00 2.744 2.744
0
4 1 0 0 0 -1 -1
0 1 -1
1.00 1.414
90.00 2.744 2.744
的波长为 0.0197 埃），相机长度 100cm，理论相机常数为 19.7mm.Ǻ.请先标定该铜晶体的花样， 并校正该电镜在相机长度为 100cm 时的相机常数（该电镜由于多年没有校正相机常数，实际值与理 论值相差可能比较大）。附表为与铜晶体有关的衍射谱的几何特征表。
对全部高中资料试卷电气设备，在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验；通电检查所有设备高中资料电试力卷保相护互装作置用调与试相技互术关，系电通，力1根保过据护管生高线0产中不工资仅艺料可高试以中卷解资配决料置吊试技顶卷术层要是配求指置，机不对组规电在范气进高设行中备继资进电料行保试空护卷载高问与中题带资22负料，荷试而下卷且高总可中体保资配障料置各试时类卷，管调需路控要习试在题验最到；大位对限。设度在备内管进来路行确敷调保设整机过使组程其高1在中正资，常料要工试加况卷强下安看2与全22过，22度并22工且22作尽2下可护1都能关可地于以缩管正小路常故高工障中作高资；中料对资试于料卷继试连电卷接保破管护坏口进范处行围理整，高核或中对者资定对料值某试，些卷审异弯核常扁与高度校中固对资定图料盒纸试位，卷置编工.写况保复进护杂行层设自防备动腐与处跨装理接置，地高尤线中其弯资要曲料避半试免径卷错标调误高试高等方中，案资要，料求编5试技写、卷术重电保交要气护底设设装。备备4置管高调、动线中试电作敷资高气，设料中课并3技试资件且、术卷料拒管中试试调绝路包验卷试动敷含方技作设线案术，技槽以来术、及避管系免架统不等启必多动要项方高方案中式；资，对料为整试解套卷决启突高动然中过停语程机文中。电高因气中此课资，件料电中试力管卷高壁电中薄气资、设料接备试口进卷不行保严调护等试装问工置题作调，并试合且技理进术利行，用过要管关求线运电敷行力设高保技中护术资装。料置线试做缆卷到敷技准设术确原指灵则导活：。。在对对分于于线调差盒试动处过保，程护当中装不高置同中高电资中压料资回试料路卷试交技卷叉术调时问试，题技应，术采作是用为指金调发属试电隔人机板员一进，变行需压隔要器开在组处事在理前发；掌生同握内一图部线纸故槽资障内料时，、，强设需电备要回制进路造行须厂外同家部时出电切具源断高高习中中题资资电料料源试试，卷卷线试切缆验除敷报从设告而完与采毕相用，关高要技中进术资行资料检料试查，卷和并主检且要测了保处解护理现装。场置设。备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况，然后根据规范与规程规定，制定设备调试高中资料试卷方案。
电子显微镜技术及应用考核试卷
4. SEM中，以下哪些因素会影响样品表面的形貌？
A.电子束的强度
B.样品表面的粗糙度
C.样品制备方法
D.电子束的加速电压
5.以下哪些方法可以提高TEM的分辨率？
A.使用更短波长的电子束
B.使用更高数值孔径的物镜
C.使用更好的样品制备技术
D.以上都是
6.在SEM中，以下哪些技术可以用来进行元素分析？
六、案例题（本题共2小题，每题5分，共10分）
1.案例题：某科研团队利用透射电子显微镜（TEM）研究了一种新型纳米材料的微观结构。请根据以下信息，回答以下问题：
（1）描述该纳米材料的制备过程。
（2）说明如何使用TEM观察该材料的微观结构。
（3）分析TEM图像，讨论该纳米材料的晶体结构和缺陷特征。
（4）结合TEM结果，讨论该纳米材料在特定应用中的潜在优势。
C.提高样品的导电性
D.以上都是
17.电子显微镜中，以下哪个术语表示样品的制备过程？
A.处理
B.制备
C.干燥
D.以上都是
18.在电子显微镜中，以下哪种样品可以观察到细胞器？
A.细胞核
BБайду номын сангаас细胞质
C.细胞膜
D.以上都是
19.以下哪种现象是电子显微镜中电子与样品相互作用的结果？
A.电子吸收
B.电子散射
C.电子衍射
8. SEM中，样品的导电性可以通过真空镀膜来改善。（）
9.电子显微镜中，电子束的加速电压越高，样品的图像越清晰。（）
10. TEM中，样品的染色可以增加样品的对比度。（）
11. SEM中，样品表面的粗糙度可以通过电子束的强度来调整。（）
12.电子显微镜中，样品的制备质量对成像的分辨率没有影响。（）
电子显微技术试题
电子显微技术一、名词解释1.数值孔径2.景深与焦长3.齐焦4.像差5.色差6.电子探针二、选择题1.适于观察细胞复杂网络如内质网膜系统、细胞骨架系统的三维结构的显微镜是( )A．普通光学显微镜B．荧光显微镜C．相衬显微镜D．激光扫描共聚焦显微镜2. 下面对透射电镜描述不正确的是( )A．利用泛光式电子束和透射电子成像B．观察细胞内部超微结构C．发展最早,性能最完善D．景深长、图像立体感强3. 电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是( )A．普通透射电镜B．普通扫描电镜C．超高压电镜D．扫描隧道显微镜4. 物象在低倍镜（10X）下清晰可见，换高倍镜（40X）后看不见了，这是因为( )A．玻片放反了B．高倍物镜故障C．物象不在视野正中央D．焦距没调好5. 用于透射电镜的超薄切片厚度通常为( )A．50 nm ～100nmB．0.2μmC．10μmD．2nm6. 关于扫描隧道显微镜(STM)，下列叙述错误的是( )A．STM是IBM苏黎世实验室的Binnig等人在1981年发明的B．可直接观察到DNA、RNA和蛋白等生物大分子C．仅可在真空条件下工作D．依靠一极细的金属针尖在标本表面扫描来探测标本的形貌7. 下面哪一种措施与提高显微镜分辨能力无关( )A．使用放大倍率较高的目镜B．使用折射率高的介质C．扩大物镜直径D．使用波长较短的光源8. 透射电镜的反差取决于样品对( )的散射能力A．二次电子B．入射电子C．样品质量厚度D．样品性质9. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是( ) A．背散射电子B．二次电子C．吸收电子D．透射电子10. 透射电镜所具有的特征有( )A．分辨率高B．放大倍数高C．成像立体感强D．标本须超薄11. 电子枪产生的电子是( )A．入射电子B．俄歇电子C．弹性散射电子D．二次电子12. 电镜标本制备时常用的固定剂有( )A．锇酸B．戊二醛C．丙酮D．过碘酸13. 下面属于超高压电子显微镜的优点的是( ) A．可用于观察厚切片B．可以提高分辨率C．可提高图像质量D．减少辐射损伤范围14. 二次电子检测系统不包括( )A．收集体B．显像管C．闪烁体D．光电倍增管15. 扫描电镜的反差是由( )决定的A．吸收电子产率B．反射电子产率C．二次电子产率D．特征X射线产率三、判断题1.1938年，俄国工程师Max Knoll和Ernst Ruska制造出了世界上第一台透射电子显微镜(TEM)。
清华大学2007年电子显微分析期末考试试题
清华大学2007年电子显微分析期末考试试题考试科目：电子显微分析考试时间： 2007年试卷类型：本科期末Examination of Electron Microscopy and Analysis (Jan. 2007)Question sheet ADepartment: Name (in Chinese): Student ID No.:Section I Section II Section IIITotalScoreSection I. (20 marks. The answers should be written in English on this question sheet)1. There are two diffraction spots G1 and G2 in an electron diffraction pattern. The excitation error (s)of G1 is m and the excitation errorof G2 is 2m (m>0). Which diffraction spot looks brighter, G1 or G2?( ) (2 marks)2. The thickness of a TEM specimen is usually thinner than 100nm. Write out two TEM specimen preparation methods that can make TEM specimen of ceramic samples with the required thickness. ( ) (2 marks)3. You want to take an atomic resolution image of a specimen, but you do not want the image contrast to alter with a change in defocusing. Which technique should you use? (HRTEM, HAADF, EF-TEM) (2 marks)4. O Ka line is at 520eV and Cr La is at 590eV. If you want to separate them using an X-ray analysis technique in SEM, which technique should you use? ( ). If you want to distinguish diamond from graphite using microanalysis technique in TEM, which technique should you use ? ( ) If you want to determine if a materials is polycrystalline or amorphous using TEM, which technique should youuse?( ) (3 marks)5. The side length of the CRT of a SEM is 100mm and the scanning distance of the electron beam on an object in a specimen is 0.02mm. What is the real length of this object if the image of the object displayed on the CRT has a lengthof 5mm? ( ) (3marks)6. The Kikuchi lines can be used for measuring a small tilting angle. If you tilta sample holder by a small angle and the corresponding movement of the Kikuchi lines is 7mm, how many degree have you tilted (assume the camera length Lis 800mm) ? ( ) (4 marks)7. The TEM of a Philips CM-120 has an accelerating voltage of 120kV. What is the wavelength of the electron beam (Relativistic effects should be taken into account )? () Assume n=1 and sina=0.95, what is the theoretical resolution of this TEM. ( ) (4 marks)Section II. (30 marks. The answers should be written in English or Chinese on the answer book)1. Explain briefly what is a bright field (BF) image and what is a centered dark field (CDF) image. (The optical ray diagram of BF and CDF images should be drawn).(10 mar ks)2. What is the principle of observing defects in crystalline material using diffraction contrast imaging? Are the shape and size of the real defect the same as those of its diffraction contrast image? (Give an example to support your answer) (10 marks)3. The size of the selected area in selected area diffraction (SAD) of TEM depends on the size of the SAD aperture. Is it possible to obtain a SAD from an area of 0.05 mm in diameter if the size of the SAD aperture is 0.05mm? (The reason should be given). Are there any other methods that can be used to obtain a electron diffraction pattern from an area of 0.05 mm in size? (If yes, give the names of thetechniques.) (10 marks)Section III. (50 marks. The answers should be written in English on the answer book) 1． (1) Find the corresponding twin reflection of the matrix reflection (420) in an fcc material if [HKL]=111, and determine if the diffraction spots of the twin reflection superimpose with the diffraction spots of the matrix reflection?(2) Find the corresponding twin reflections of the matrix reflection (110) ina bcc material if [HKL]= 11, and determine if the diffraction spots of the twinreflection superimpose with the diffraction spots of the matrixreflection? (10 marks)2. The electron diffraction pattern of an fcc material is shown in the figure, whereR1＝R2=10mm, R3=16.3mm, the angle between R1 and R2 is q1＝70°, and the angle between R2 and R3 is q2＝35°. The camera constant Ll is 2.05mm · nm. Index the diffraction pattern and determine the crystal direction[uvw]. (20 marks)3. Plot out and superimpose the zero order and the lowest order of (111) Laue zone for a bcc system. (The details of the calculation must begiven) (20 marks)。
电子显微分析试题集1
材料结构分析一、名词解释：球差:球差是由于电磁透镜的中心区域和边沿区域对电子的会聚能力不同而造成的。
色差：由于入射电子波长（或能量）不同造成的。
景深：指在保持像清晰的前提下，试样在物平面上下沿镜轴可移动的距离，或者说试样超越物平面所允许的厚度。
焦深（焦长）：指在保持像清晰的前提下，像平面沿镜轴可移动的距离，或者说观察屏或照相底版沿镜轴所允许的移动距离。
分辨率：成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离明场像：让投射束通过物镜光阑所成的像暗场像：仅让衍射束通过物镜光阑所称的像消光距离：符合布拉格条件时透射波与衍射波之间能量交换或强度振荡的深度周期。
菊池花样：在稍厚的薄膜试样中观察电子衍射时，经常会发现在衍射谱的背景衬度上分布着黑白成对的线条。
这时，如果旋转试样，衍射斑的亮度虽然会有所变化，但它们的位置基本上不会改变。
但是，上述成对的线条却会随样品的转动迅速移动。
这样的衍射线条称为菊池线，带有菊池线的衍射花样称之为菊池衍射谱。
衍射衬度：衍射衬度是由于晶体薄膜的不同部位满足布拉格衍射条件的程度有差异而引起的衬度双光束条件：假设电子束穿过样品后，除了透射束以外，只存在一束较强的衍射束精确地符合布拉格条件，而其它的衍射束都大大偏离布拉格条件。
作为结果，衍射花样中除了透射斑以外，只有一个衍射斑的强度较大，其它的衍射斑强度基本上可以忽略，这种情况就是所谓的双光束条件。
电子背散射衍射：在扫描电子显微镜中，利用非弹性散射的背散射电子与晶体衍射后，在样品的背面得到的菊池衍射结果，其形成原理与TEM中的菊池衍射没有本质的区别二次电子：二次电子是被入射电子轰击出来并离开样品表面的核外电子，它来自于样品于距表面5～10nm深度范围，能量为0～50eV二次电子对样品表面形貌十分敏感，因此非常适合于表面形貌分析。
产额与原子序数之间没有明显的依赖关系，所以不能用它来进行成分分析。
背散射电子：是指被固体样品原子反弹回来的一部分入射电子，其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
电子显微分析作业与答案
电子显微分析作业姓名：陈晋栋1、场发射扫描电镜(FSEM)为何具有更高的空间分辨率？叙述在纳米材料研究中的主要应用。
答：由于场发射电子枪发射出的电子束流所含电子密度高，电子束束斑小、能量高，电子束打在样品表面能都激发出更多的二次电子且打入的深度要比W灯丝的深，故场发射扫描电镜具有更高的空间分辨率。
FSEM在纳米材料的研究当中主要用来观察纳米材料的结构、形貌，在一定程度上可以进行微区的成分分析。
2、论述衍射衬度像在材料研究中的主要应用。
答：衍射衬度主要用来观察样品的缺陷，如层错、位错等。
样品微区晶体取向或者晶体结构不同，满足布拉格方程的程度不同，使得在样品下表面形成一个随位置分布不同而变化的衍射振幅分布，所以像的亮度随着衍射条件的不同而变化，产生衍射衬度。
衍射衬度对晶体结构和取向十分敏感，当样品中存在缺陷时，该处相对于周围晶体发生了微小的变化，导致缺陷处和周围晶体产生不同的衍射条件，进而形成不同的衬度，将缺陷显示出来。
3、何为结构像？HREM相位衬度像的主要影响因素？答：结构像是指像点与原子团或原子围城的通道对应，可以用结构进行直接解释。
HREM相位衬度的主要影响因素有：（1）电镜的球差，用球差系数Cs表示(spherical aberration coefficient)；（2）成像时的焦距位置，用离焦量△f 表示(defocus)偏离正焦的距离；（3）加速电压，它改变了电子束的波长λ；（4）电子束发散角α；（5）透镜的光阑尺寸D；（6）试样的厚薄。
4、STEM方式中HADDF高分辨像的原理和特点是什么？（与相位衬度像比较）答：HADDF高分辨像的成像原理：利用高角环形光阑收集STEM的衍射模式下的高角度漫散射的电子成像。
HADDF像的特点：HADDF的Z衬度像是一种非相干的成像，可以排除HREM由于相位衬度引起的像解析的复杂性，它的衬度依赖于原子序数Z，并不随着物镜的欠焦量和样品厚度的变化而发生衬度反转，比HREM像更容易解释。
材料测试与分析技术习题-第八章 扫描电子显微分析
第八章扫描电子显微分析
一、选择题
1. 在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（）。
A.和电子束垂直的表面；
B. 和电子束成30º的表面；
C. 和电子束成45º的表面；
D. 和电子束成60º的表面。
3. 可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（）。
A. 背散射电子；
B. 吸收电子；
C. 特征X射线；
D. 俄歇电子。
4. 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）。
A. 波谱仪；
B. 能谱仪；
C. 俄歇电子谱仪；
D. 特征电子能量损失谱。
5. 波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。
A. 快速高效；
B. 精度高；
C. 没有机械传动部件；
D. 价格便宜。
二、填空题
1.扫描电子显微镜的放大倍数是的扫描宽度与的扫描宽度的比值。
在
衬度像上颗粒、凸起的棱角是衬度，而裂纹、凹坑则是衬度。
2.分辨率最高的物理信号是为 nm，分辨率最低的物理信号是为
nm以上。
3.扫描电子显微镜可以替代进行材料观察，也可以对进行
分析观察。
三、名词解释
1.背散射电子
2.吸收电子
3.特征X射线
4.波谱仪
5.能谱仪。
电子显微学考试
电子显微学考试第一章复习题：1.什么是轴对称场？为什么电子只在轴对称场中聚焦和成像？所谓轴对称场，是指在这种场中，电位的分布对系统的主光轴具有旋转对称性。
非旋转对称磁场在不同方向会聚电子的能力是不同的。
因此，所有电子不能在轴上的同一点上会聚，就会出现象散。
2.磁透镜的像散是如何形成的？如何纠正？像散是由于透镜磁场的非旋转对称而引起的。
极靴内孔不圆、上下极靴的轴线错位、制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因，都会使电磁透镜的磁场产生椭圆度。
透镜磁场的这种非旋转对称，使它在不同方向上的聚焦能力出现差别，结果使物点p通过透镜后不能在像平面上聚焦成一点。
像散消除器可以补偿像散。
3.什么是透镜畸变？为什么电子显微镜进行低倍率观察时会产生畸变？如何矫正？透镜的畸变是由球差引起的，图像的放大率会随着离轴径向距离的增加而增大或减小。
当透镜作为投影镜时，特别在低放大倍数时更为突出。
因为此时在物面上被照射的面积有相当大的尺寸，球差的存在使透镜对边缘区域的聚焦能力比中心部分大。
反映在像平面上，即像的放大倍数将随离轴径向距离的加大而增加或减小。
电子电路可以对其进行校正：在强激励下，球差系数CS显著降低；在不破坏真空的情况下，根据放大倍数选择不同内径的透镜杆靴；两个投影镜用于消除失真。
4.TEM的主要结构自上而下列出1）电子光学系统――照明系统、图像系统、图像观察和记录系统；2）真空系统；3）电源和控制系统。
电子枪、第一冷凝器、第二冷凝器、冷凝器光圈、样品台、物镜光圈、物镜、选择光圈、中间透镜、投影透镜、双目光学显微镜、观察窗、荧光屏和摄像室。
5.透射电镜和光学显微镜的区别是什么？光学显微镜用光束照明，简单直观，分辨本领低（0.2微米），只能观察表面形貌，不能做微区成分分析；tem分辨本领高（1a）可把形貌观察，结构分析和成分分析结合起来，可以观察表面和内部结构，但仪器贵，不直观，分析困难，操作复杂，样品制备复杂。
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材料结构分析一、名词解释：球差景深分辨率明场像暗场像消光距离菊池花样衍射衬度双光束条件电子背散射衍射二次电子背散射电子二、简答1．透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间关系如何?2．照明系统的作用是什么?它应满足什么要求?3．成像系统的主要构成及其特点是什么?4．分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系，并画出光路图。
5．说明多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
6．制备薄膜样品的基本要求是什么?具体工艺过程如何?双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品?7．什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?8．画图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像，暗明场像。
9．什么是消光距离?影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件参数是什么? 10．衍衬运动学的基本假设及其意义是什么?怎样做才能满足或接近基本假设? 11．举例说明理想晶体衍衬运动学基本方程在解释衍衬图像中的应用。
12．什么是缺陷不可见判据?如何用不可见判据来确定位错的布氏矢量?13．写出电子束入射固体晶体表面激发出的三种物理信号，它们有哪些特点和用途?14．扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?15．二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 16．当电子束入射重元素和轻元素时，其作用体积有何不同?各自产生的信号的分辨率有何特点?17．二次电子像景深很大；样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在?18. 要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器?用怎样的操作方式进行具体分析?19．举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。
20. 电子探针仪与扫描电镜有何异同?电子探针仪如何与扫描电镜和透射电镜配合进行组织结构与微区化学成分的同位分析?21. 波谱仪和能谱仪各有什么优缺点?22. 某多晶体的电镜衍射图中，有八个衍射环，R从小到大读数依次等于6．28、7．27、10．29、12．05、12．57、14．62、15．87、16．31mm，若该晶体属于立方晶系，能否判断该样品的点阵类型?23.透射电镜的电子光学系统（镜筒）包括哪几个部分，分别指出电子枪、聚光镜、物镜、中间镜、投影镜和照相机各属于哪个部分；指出物镜光阑和选区光阑所在的位置。
24.电磁透镜的像差包括哪几种，分别说明它们产生的原因及消除的方法。
25.透射电镜中有哪些主要光阑，在什么位置？其作用如何？26.试画一张含有空洞、位错、层错（倾斜）和晶界的多晶薄膜衍衬像。
27.试分析位错线像总是出现在它的实际位置的一侧或另一侧的成因。
三、如图为某一晶体的电子衍射花样，该晶体为体心立方，晶格常数为a=0.388nm.经测量后得到：RA=7.3mm，RB=12.7mm，RC=12.6mm，RD=14.6mm，RE=16.4mm，<AOB；加速电压200kV（相应的波长为0.0251埃），相机长度800mm，相机常数为20.08mm.Ǻ两斑点算出花样的晶带轴，以验证晶带轴的正确性（要求写出表达式和过程）。
八、如图为铜晶体的电子衍射花样，晶格常数为a=0. 3613nm.经测量后得到：R1=8.95mm，R2=9mm，R3=10.4mm，R4=14.6mm，R5=17.2mm，<R1OR2=71；加速电压300kV（相应的波长为0.0197埃），相机长度100cm，理论相机常数为19.7mm.Ǻ.请先标定该铜晶体的花样，并校正该电镜在相机长度为100cm时的相机常数（该电镜由于多年没有校正相机常数，实际值与理论值相差可能比较大）。
附表为与铜晶体有关的衍射谱的几何特征表。
附表：铜晶体衍射谱几何特征表序号U V W H1 K1 L1 H2 K2 L2 R2/R1 R3/R1 FAI D1 D21 1 1 1 02 -2 -2 0 2 1 .000 1.000 120.00 1.277 1.2772 6 53 -1 3 -3 -3 3 1 1. 000 1.026 61.73 .829 .8293 6 5 2 -24 -4 -4 4 2 1. 000 1.054 63.61 .602 .6024 4 2 1 0 2 -4 -2 4 0 1 .000 1.095 66.42 .808 .8085 1 1 0 -1 1 -1 -1 1 1 1. 000 1.155 70.53 2.086 2.0866 1 0 0 0 -2 0 0 0 -2 1 .000 1.414 90.00 1.806 1.8067 5 3 1 2 -2 -4 -2 4 -2 1.0 00 1.291 99.59 .738 .7388 5 2 1 1 -1 -3 -1 3 -1 1.0 00 1.348 95.22 1.089 1.0899 4 3 2 2 0 -4 -2 4 -2 1. 095 1.342 79.48 .808 .73810 4 1 1 0 -2 2 1 -3 -1 1.1 73 1.173 64.76 1.277 1.08911 3 3 2 2 -2 0 1 1 -3 1. 173 1.541 90.00 1.277 1.08912 6 4 1 2 -2 -4 -2 4 -4 1.22 5 1.472 82.18 .738 .60213 6 3 1 1 -1 -3 -1 3 -3 1.31 4 1.348 69.77 1.089 .82914 5 4 3 1 1 -3 -3 3 1 1. 314 1.477 101.98 1.089 .82915 6 2 1 0 2 -4 -2 4 4 1. 342 1.414 107.35 .808 .60216 5 4 2 0 2 -4 -4 4 2 1. 342 1.673 90.00 .808 .60217 6 3 2 -2 4 0 -2 0 6 1. 414 1.612 81.87 .808 .57118 6 5 4 2 -4 2 4 0 -6 1. 472 1.683 96.50 .738 .50119 4 3 3 0 2 -2 -3 1 3 1. 541 1.541 108.93 1.277 .82920 6 1 1 0 2 -2 -1 3 3 1. 541 1.837 90.00 1.277 .82921 2 2 1 2 -2 0 2 0 -4 1. 581 1.581 71.57 1.277 .80822 6 4 3 2 0 -4 -4 6 0 1. 612 1.673 104.36 .808 .50123 2 1 1 1 -1 -1 0 2 -2 1.6 33 1.915 90.00 2.086 1.27724 3 1 0 0 0 -2 -1 3 1 1. 658 1.658 107.55 1.806 1.08925 3 1 1 0 -2 2 2 -4 -2 1.7 32 1.732 73.22 1.277 .73826 5 5 2 2 -2 0 1 1 -5 1. 837 2.092 90.00 1.277 .69527 5 5 4 -2 2 0 -3 -1 5 2.0 92 2.092 76.17 1.277 .61128 3 2 2 0 2 -2 -4 2 4 2. 121 2.121 103.63 1.277 .60229 3 3 1 2 -2 0 2 0 -6 2. 236 2.236 77.08 1.277 .57130 2 1 0 0 0 -2 -2 4 0 2. 236 2.449 90.00 1.806 .80831 6 5 5 0 2 -2 -5 3 3 2. 318 2.525 90.00 1.277 .55132 3 2 1 1 -1 -1 -1 3 -3 2.51 7 2.582 97.61 2.086 .82933 5 1 0 0 0 -2 -1 5 1 2.598 2.598 101.10 1.806 .69534 5 1 1 0 -2 2 2 -4 -6 2.646 2.646 100.89 1.277 .48335 4 4 1 2 -2 0 0 2 -8 2.915 2.915 99.87 1.277 .43836 5 2 2 0 -2 2 4 -6 -4 2.915 2.915 80.13 1.277 .43837 5 3 0 0 0 -2 -3 5 -1 2.958 2.958 80.27 1.806 .61138 4 4 3 2 -2 0 4 2 -8 3.240 3.240 81.12 1.277 .39439 5 3 3 0 2 -2 -6 4 6 3.317 3.317 98.67 1.277 .38540 4 3 1 1 -1 -1 -1 3 -5 3.416 3.464 84.40 2.086 .611四、对于面心立方结构，已知单胞长度a=3.597Å，相机长度L=770mm ，电子束波长 =0.0334Å.下图中给出这一样品沿某一电子束入射方向的电子衍射谱，已知OA=12.4mm, OB=20.3mm,OC=23.7mm ，请计算出A 、B 、C 、D 点的指标以及晶带轴方向。
五、从体心立方单晶电子图测得：R A =10.8mm, R B =24.0mm, R C =24.0mm,∠AOB=102°,∠AOC=78.0°，试求： （1） A,B,C 斑点的指数 （2） 晶带轴的指数[UVW]六、扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同？请写出二种主要可以用作扫描电镜成像的信号，比较这二种信号成像时的分辨率有何不同？并用图示的方法解释引起分辨率差异的原因。
七、根据衍衬成像的运动学理论可知，衍射束强度为2222)()(sin s ts I gg ππξπ=。
试从衍衬运动学角度来解释在样品观察时，为什么会出现等厚条纹现象？八、根据衍衬成像的运动学理论可知，衍射束强度为2222)()(sin s ts I gg ππξπ=。
试从衍衬运动学角度来解释在样品观察时（当样品厚度不变），为什么会出现等倾条纹现象？九、试比较电子衍射与X 射线衍射的优缺点。
十、在下图中标出荧光屏、中间镜、试样、物镜、投影镜的位置。
说明在透射电子显微分析中为什么能同时得到图像和衍射花样？这是怎样实现的？十一、由下图解释如何才能获得选区电子衍射？。