测试指导类-USB接口指标测试指导书
USB数据线硬件与可靠性测试规范图文稿
U S B数据线硬件与可靠性测试规范文件管理序列号：[K8UY-K9IO69-O6M243-OL889-F88688]常规检验标准要求硬件常规测试充电时间测试数据线可靠性试验要求与方法?1.本规范参考标准GB/T2423.1-1989电工电子产品基本环境实验规程实验A：低温试验方法GB/T2423.2-1989电工电子产品基本环境实验规程实验B：高温试验方法GB/T2423.3-1989电工电子产品基本环境实验规程实验Ca:恒定湿热实试验方法GB/T2423.8-1995电工电子产品环境实验第二部分：实验Ed:自由跌落GB/T2423.17-1993电工电子产品基本环境实验规程实验Ka:盐雾试验方法GB/T2423.29-1999电工电子产品环境实验第二部分：实验U:引出端及整体安装件强度2.概要：2.1测试条件标准：温度:+15～+35℃相对湿度:45%～75%(RH)气压:86～106kPa2.2试验前，应对样品外观和功能进行检验，发现不合格品时，应在同一批产品中随机抽取合格品替换。
同时对不合格品进行分析，找出原因，列入周期试验报告中，但不作为周期检验合格与否的依据2.3试验中发现不良时，应对不良品进行分析，并把不良情况列入周期检验报告中，且作为周期检合格与否的依据2.4试验后，样品不能作为正常产品入库使用4.5客户有特殊要求时，以客户要求为准。
3.环境可靠性要求及试验方法?3.1高温试验：3.1.1试验条件：在温度65±2℃的环境下保持24小时。
3.1.2试验方法：试验箱达到实验条件后，将产品裸露放入试验箱的内架上，试验完成，在常温下恢复2小时。
3.1.3试验后要求：金属部件无锈蚀、变形等可见损伤，注塑部件及线体无变形、发白、脱油，内芯线无外露和断线等情况发生；不干胶标贴不可翘起；使用线材测试仪测试电性能正常。
3.2低温测试：3.2.1试验条件：在温度－20±2℃的环境下保持24小时℃,低温点为-20℃，每个温度点保持60min，循环次数为12次。
usb接口测试标准国标
usb接口测试标准国标
USB接口测试标准国标。
USB（Universal Serial Bus）接口是一种用于连接计算机与外部设备的通用接口标准。
随着USB接口在各种设备中的广泛应用，为了保证设备的兼容性和稳定性，制定了USB接口测试标准国标，以确保USB设备的质量和性能。
USB接口测试标准国标主要包括对USB接口物理连接、传输速率、电气特性、协议规范等方面的测试要求。
其中，物理连接测试主要包括对接口连接器、线缆连接、接地和屏蔽等方面的测试；传输速率测试主要包括对USB 2.0、USB 3.0等不同版本的传输速率进行测试；电气特性测试主要包括对电压、电流、功耗等参数进行测试；协议规范测试主要包括对USB通信协议遵从性、数据传输可靠性等方面的测试。
通过执行USB接口测试标准国标，可以确保USB设备在连接、传输和通信方面的稳定性和可靠性，提高用户体验和设备性能。
同时，符合USB接口测试标准国标的设备也能够更好地与其他USB设备兼容，避免出现兼容性问题。
总之，USB接口测试标准国标的制定和执行对于保障USB设备的质量和性能至关重要，也为USB设备的生产和应用提供了技术支持和保障。
希望未来能够进一步完善USB接口测试标准国标，促进USB设备技术的发展和应用。
usb接口测试标准
usb接口测试标准USB接口测试标准是指对USB接口进行测试时所遵循的一系列规范和要求。
USB接口是一种用于连接计算机和外部设备的通用接口标准，它可以实现数据传输、电源供应和设备控制等功能。
由于USB接口在计算机领域中应用广泛，因此对其进行测试是非常重要的，可以确保接口的稳定性和可靠性。
USB接口测试标准包括以下几个方面：1. 电气特性测试：主要测试USB接口的电压、电流、阻抗等电气特性是否符合规范要求。
这些测试可以通过使用专业的测试仪器来完成，例如示波器、信号发生器等。
2. 信号完整性测试：主要测试USB接口传输信号的完整性，包括信号的时钟频率、上升时间、下降时间、峰值电压等参数。
这些测试可以通过使用信号发生器和示波器来完成。
3. 功能性测试：主要测试USB接口是否能够正常地进行数据传输和设备控制。
这些测试可以通过使用专门的测试软件来完成，例如USB设备模拟器和数据包分析器等。
4. 兼容性测试：主要测试USB接口的兼容性，包括与不同操作系统、不同设备的兼容性。
这些测试可以通过使用各种设备和操作系统来完成。
5. 可靠性测试：主要测试USB接口在长时间使用和恶劣环境下的稳定性和可靠性。
这些测试可以通过使用长时间运行的测试设备和模拟恶劣环境来完成。
6. 安全性测试：主要测试USB接口是否存在安全隐患，例如是否容易受到黑客攻击或病毒感染等。
这些测试可以通过使用专门的安全测试工具来完成。
7. 性能测试：主要测试USB接口的传输速度和响应时间等性能指标。
这些测试可以通过使用专业的性能测试工具和设备来完成。
以上是USB接口测试标准的主要内容，通过对USB接口进行全面的测试，可以确保接口的质量和可靠性，提高用户体验。
同时，也可以帮助厂商识别并解决潜在问题，提高产品竞争力。
在进行USB接口测试时，需要遵循相关的标准和规范，并结合实际情况进行合理的测试方案设计和执行。
三头USB充电器导通测试仪操作指导书
1.目的：
为规范三头USB 充电器导通测试仪使用，确保仪器能准确检测，使生产品质能够得到有效管控，特制定此作业指导书。
2.范围：
本文件适用于公司内所有三头USB 充电器导通测试仪的使用。
3.仪器操作界面简述 3.1仪器图示
3.2 操作界面说明
4、测试步骤说明： 4.1参数设定
4.1.1打开电源开关，点击屏幕上参数设置键,依照规格书设定好电流，电压上下限及测试时间。
测试键
显示界面
电源键
测试值显示区域
参数设定区域
不良统计区域
电源插座
USB 测试插孔 点击此处，进入进行参数设置
4.2产品测试
4.21.将产品与测试设备连接，按测试键。
连接示意图
测试键
4.2.2 记录屏幕上显示的电流值与电压值，不良统计区红色表示NG，绿色表示OK 。
4.2.2 测试完后取出产品，关闭仪器电源。
5、注意事项：
5.1每天上班前对测试仪进行保养与点检。
5.2测试时禁止重复开关机。
5.3在搬运过程中注意轻拿轻放，避免碰撞。
5.4非专业人员请勿打开机壳，以免触电及损坏设备。
5.5 仪器使用时禁止触碰电源插座，防止触电。
USB测试规范
善方向。
7
1、电波暗室
2、接收机
3、接收天线
电磁兼容 依客户标准（如0dB,-2dB,- 4、频谱仪
EMC
3dB,-4dB,-6dB等） 6、转台、升
降台
7、转台、升
降台控制器
1. 线材本身的屏蔽效果（铝 测试Cable连接
箔，编织，缠绕，外被防电磁材 终端设备产品一
料）；
般测试EMI（电
2. 线材与连接器加工连接处屏 磁干扰），测试
Apple数据线， MFI测试此项
延迟
4
Propagat ion
Delay
5.2ns/m
TDR（时域反 射仪）
1. 信号对绞线绞距； 2.信号对绞线绝缘材质（介质常 数)
延迟差 Propagat 5 ion
Delay Skew
100ps
TDR（时域反 射仪）
1. 2. Байду номын сангаас.
信号对绞线对称性和一致性; 成品长度； 信号对绞线裁剥及焊接尺寸
e
同模阻抗
3
Common Impedanc
e
0.772
1 4 8 12 24 48 96 200
400
0.15
0.2 0.39 0.57 0.76 0.95 1.35 1.9 3.2
5.8
90欧+/-15%(76.5-103.5 欧）
30欧+/-30%(39-21欧）
2. 加工信号芯线时伤到芯线导
NA（网络分 体
眼图测试是判定
6
眼图 Eye Diagram
眼睛张开程度大小（以波罩 Eye Mask模块为中心），眼 图接触到Eye Mask则表示信 号质量不好，离Eye Mask越
USB数据线检测标准
内部电源线红黑线应不低于24AWG,内部信号线绿白线应不 低于28AWG。 （外被标识内容参考:28AWG/1P+24AWG/2C。)
线材的长度和外径测试数据与合同要求相符，与到货信息 、到货包装标明信息均一致。 实测线长测量误差允许在±20mm以内；
将待测USB数据线插头与测试工装（或 带有相应接口的部件）相连接，连续 进行20次插拔测试，观察最终测试效 果
将推拉力计的上下夹具对准，保证其 在同一垂直线上，将待测端口使用夹 具进行固定，匀速摇动手摇装置。测 试拉力时需摇动至彻底分离，示数不 不变，3s后具体会自动存入测试仪器 中；测试推力时需保证其确定插到 位，此时停止摇动，示数在3s后自动 存入测试仪器中，但测试完毕后需取 下测试线材，确认插进不会随意脱 落，否则需要复测。
要求端口形式： 实际端口形式：
外部标识：
要求长度： 实测长度：
磁环数量： 是否为真磁环：
是否有铝箔屏蔽： 是否有编制网屏蔽： 4根导线是否吸附：
线阻记录如下 线芯1： 线芯2： 线芯3： 线芯4：
判定结果 合格(√)/不合格(X)
异常现象描述：
插入力： 拔出力：
至少有1个磁环，超过3米的线应有2个磁环； 用磁铁吸附，应有明显吸附力；
USB数据线内部应存在4根导线、铝箔屏蔽层、金属 编织网屏蔽层； 使用磁铁进行吸附检测，4根导线应保证无吸附现象。
USB线材4根导线的阻值应满足： 1.5M线：1、4线芯的线阻均≤0.4Ω，2、3线芯的线阻均 ≤0.55Ω； 3M线：1、4线芯的线阻均≤0.6Ω，2、3线芯的线阻均≤1 Ω。 （其余长度的线阻可参考上述要求适当调整）
插拔过程顺畅； 20次后，USB插口应无变形、破损、凹陷等异常情况，PIN 针无翘起，弯折等异常现象，插口金属端与线材本身、胶 壳未产生缝隙或脱离等异常现象。
TPC-USB+温度、压力、湿度模块实验指导书
温度、湿度、压力传感器模块实验指导书（USB版）清华大学科教仪器厂2009.11目录温度、湿度、压力传感器实验板介绍 (3)实验一LM35DZ测温实验 (4)一、实验目的 (4)二、实验内容 (4)三、参考流程图 (6)四、参考程序 (6)实验二压力传感器实验指导 (12)一、实验目的 (12)二、实验原理及说明 (12)三、实验要求及接线 (14)四、实验程序参考框图 (16)五、实验程序清单： (17)实验三湿度传感器实验 (21)一．实验目的 (21)二、实验原理 (21)三、实验接线 (23)四、实验内容 (23)五．实验程序参考框图 (24)六、程序清单 (24)温度、湿度、压力传感器实验板介绍一、温度、压力、湿度三种传感器及放大电路做在一块扩展实验板上，实验板上还包括ADC0809A/D转换电路和对外连接的插座、插线孔。
板结构如下图。
扩展板可以与清华大学科教仪器厂生产的任何一种微机接口或单片机试验箱相连，连接方式有三种：1、利用自锁紧插孔连接：扩展板上有28个自锁紧插孔，每个插孔标有信号名称，可以与试验台上的数据总线、地址线、控制线、电源线、模拟量输入输出等信号连接。
2、利用20芯双排插座（J1）与试验台连接：扩展版的20芯双排插座信号与TPC-2003A、TPC-2003A+、TPC-USB、TPC-UP的20芯扩展插座兼容，包括D0-D7、IOR、IOW、1MHZ时钟等，可以直接连接。
3、利用两个8芯单排插座(J2J3)连接：两个8芯插座信号合起来与20芯双排插座信号相同，这样增加了实验板与主实验台连接的灵活性。
实验一LM35DZ测温实验一、实验目的：了解数字温度传感器工作原理及使用方法。
二、实验内容：1.查看资料了解LM35DZ的测温原理、内部结构和使用方法。
2.实验电路如下图所示：图中的ADC0809用来测量从温度芯片LM35DZ输入的电压值，通过对照压力，温度对照表来确定，当前的温度值。
USB线材试验指导书1.1
1
50ຫໍສະໝຸດ 导线无断开，绝缘层无 损伤
2
插拔寿命
1）次数：5000次 2）速度：20~30次/分
1）NaCL%：5% PH值6.5~7.2 3 盐雾试验 2）试验槽温度：35℃±1℃
3）时间：8h
1
5
0
插头无损坏，接触良 好；绝缘层无损伤
1
5
0
插塞、插口镀层无明显 氧化、生锈等现象
备注
1、两端插塞不同的USB线，两端分别做摇摆试验； 2、用做完摇摆试验的样品做盐雾试验; 3、本试验需要样品数量为10PCS。
拟制：程才权 标准化审核：张彦强
审核： 黄春旺
批准：黄春旺
版本号：1.1
序号
试验 项目
东莞市步步高视听电子有限公司 USB线试验指导书
文件编号：SYS-Y368
页次：第1页，共1页 试验条件
生效日期：2008-01-17
样本大小和 合格判定数
pnc
试验判定
1）负重：300g 2）弯曲角度：90° 1 摇摆寿命 3）弯曲速度：20~30次/分 4）杆高：400mm 5）弯曲次数：3000次（1500回）
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USB接口指标测试指导书最小部门：（企业业务BG—企业数通产品线—企业数通研发管理部—企业数通硬件开发部）评审记录：所属产品：来源：关键词：USB接口指标；USB眼图测试；Chirp测试；Droop测试。
1、USB接口指标描述为了顺应市场的要求，目前的产品大部分都出的是的接口，而且我们产品都是作为HOST 端，一共提供3种速率，如下表。
当我们的设备是作为HOST端是，数据方向是Down Stream，其关注的指标有：1、信号质量1)眼图测试(Eye-Diagram testing)2)信号速率(Signal Rate)3)包结尾宽度(End of Packet Width)4)JK抖动(JK jitter)5)KJ抖动(KJ jitter)6)连续抖动(Consecutive jitter)7)单调性测试(Monotonic test (for HS))8)上升与下降时间(Rise and Fall times)2、Droop(电压跌落)3、Chirp (Shake Hands)2、USB接口指标测试方法（1）信号质量测试由于我们的设备都是作为HOST端，在这里只介绍HOST端的接口指标测试方法。
1)USB High Speed信号质量测试方法a)连接好被测设备(DUT)、测试夹具和示波器，具体的连接示意图如图1所示。
图 1 High Speed信号质量测试连接示意图b)DUT上电，启动USB测试包，发送测试命令，使USB端口能够发送出测试码流，具体的码流波形如图2所示。
图 2 High Speed信号质量测试波形c)运行示波器上的USB测试软件，在Analyze菜单中选择Test 启动后的界面如图3所示。
在软件的Measurements菜单中选择Select，然后选择High Speed，选择测试项，在这里可以点击Select All，将信号质量的测试项全部选上。
在这个界面上还有一个选项Config，该选项是用来初始化Monotonic Property，选择后的界面如图4所示，是用来初始化边沿的单调性是从高低电平的多少百分比开始Check。
图 3 TEK USB测试软件图 4 High Speed信号质量测试初始化界面d)选择眼图的模板。
在USB 的标准协议中，一共有4种模板。
其测试模板的选择和端口的数据方向和测试点的选择有关。
协议中定义个测试点的选择及对应的模板选择。
如图5和图6所示。
图 5 标准中的测试模型图 6 标准中关于模板选择的描述不同的模板对应的眼高和眼宽要求不一样，如果我们的设备是作为HOST端，数据流向是Down Stream，测试点可以选择TP2和TP3，如果设备对外宣传是标准的接口，就说明我们设备的USB端口上是可以再加USB延长线的，即USB Cable。
当然测试点的选择就是在TP2了，测试的模板就是Template 1，其对应在示波器上九应该选择Down Stream+Near End，对应示波器的选择如下图所示。
如果设备内部已经经过了连接器和排线，对外宣称只支持的设备，那如果我们在设备的出端口测试，模板就选择Template 2，其对应在示波器上应该选择Down Stream+Far End。
其Template 1和Template 2两个模板对应的大小和参数如图7和图8所示。
总结如下，在测试时，根据不同的测试场景，选择不同的测试模板。
Host测试点模板示波器设置TP2Template 1Down Stream+Near End TP3Template 2Down Stream+Far End图7 标准Template1模板的要求图8 标准Template2模板的要求图9 High Speed信号质量测试中Tier的选择选择完模板后，在图9中还有Tier选项需要选择，为了能够支持Hub级联，我们选择Tier6，具体的解释可以参考协议中。
在图10中还有一个Configure选项，需要初始化使用的通道和选择的探头类型。
如图10所示。
图10 High Speed信号质量测试中Configure的选择e)示波器设置好后，就可以点击示波器软件上的RUN开始测试。
测试完后，会生成一个测试报告，保存测试报告在Utilites选项中，选择Report Generator，如图11所示。
图11 生成High Speed信号质量测试报告其中报告中截图如图12所示，其信号质量的测试数据全部都在报告中体现了，每个测试项是否满足要求，都能在报告中找到答案。
图12 High Speed信号质量测试报告的具体内容2)USB Full Speed信号质量测试方法和High Speed信号质量测试不同的地方在于测试组网的方式不一样，具体的测试组网如图13所示。
有几个需要注意的地方是USB夹具需要5V供电，需要一个将夹具设置到Initial状态，Initial指示灯点亮。
在测试Host Full Speed信号质量时，需要一个Full Speed的从设备，该供设备需要是USB协会认证的设备。
在这里不在用差分探头了，需要用两个单端探头，注意D+，D-的对应连接的示波器通道。
图13 Full Speed信号质量测试组网示意图测试组网连接好后，不用发送测试命令，示波器上就应该能抓到所需要的测试波形，如图14所示。
图14 Full Speed信号质量测试波形示波器其他的测试和High Speed一样，不同的地方是测试项的选择，需要选择Full Speed，其测试项还是选择Select All。
3)USB Low Speed信号质量测试方法Low Speed的测试组网方式和Full Speed测试组网方式一样，不一样的地方是这次用的是Low Speed从设备，可以使用鼠标等从设备。
测试时选择Low Speed，测试项选择Select All。
示波器上就应该能抓到所需要的测试波形，如图15所示。
图15 Low Speed信号质量测试波形与Full Speed测试方法不同的是，测试Low Speed时需要使用Cross，具体的设置在File 菜单中，选择Preferences，会弹出一个设置窗口，在此窗口中需要将图中所示的选项选中，选择后就可以用Cross来指示有效的Low Speed信号，具体的设置方法如图16所示。
图16 Low Speed信号质量测试设置方法（2）Droop测试这里的Droop测试就和电源中的USB插拔冲击电流和Drop测试内容是一致的，但是我们通常通过直接插拔U盘来测试VBUS上的电压跌落情况，其实这种测试方法是不正确的，因为根据的标准定义是当端口上有100mA的负载变化时，VBUS上的电压跌落要求小于330mV，这里为什么需要关注VBUS的电压跌落，主要担心USB 端口负载的变化影响VBUS电源上其他器件和USB端口的正常工作。
测试组网如下图所示，需要将测试夹具连接到被测端口，用USB端口给夹具供电。
需要使用2个探头来来进行测试，一个探头用于Triger，点在负载端口上的VBUS 信号上，另一个探头点在总线的VBUS信号线上。
测试组网如图17所示。
图17 Droop测试组网示意图具体的示波器设置，选择Analyze菜单——> Tset Package——>Measurements，选择High Speed菜单中Droop测试项。
测试时，需要根据实际的应用进行Config设置，如图18所示。
1）需要选择Port，对应测试夹具上实际使用的Port；2）Hub菜单选择，一般我们测试的都是Host，所以选择Bus Powered；3）Select Source选择，需要选择Live/Ref，其中的VBus需要对应上实际使用的探头对应的通道，Trigger选择点在被测端口的通道上。
设置完后，按下RUN，此时需要将测试夹具上的选择开关从无负载拨到有负载的情况，以便能让示波器抓到电压Droop 信号。
图18 Droop测试时示波器设置测试到的波形如图19所示，最后软件会测试到实际的电压Droop。
图19 Droop测试波形（3）Chirp测试USB全速外设备和低速外设是通过在D+或D-数据线上上拉的电阻予以区别，D+上拉为全速外设，D-上拉为低速外设。
高速外设的识别则比较复杂，需要通过主机与高速外设握手才能识别。
本篇对高速USB握手进行说明。
高速外设最初以全速外设的形式出现，即：高速外设在插入USB HUB/HOST时D+数据线上拉的电阻；高速握手成功之后，外设与主机进入高速模式。
如果握手不成功，则返回全速模式；在高速握手过程中，USB HUB/HOST要判定与其相连的外设是否支持高速模式，外设也要判定USB HUB/HOST是否支持高速模式。
下面将具体说明高速设备的握手过程，其整个过程如图20所示。
图20 USB HOST与Device整个握手过程1)USB HUB/HOST检测到插入的外设为全速外设，即：D+数据线被上拉；2)USB HUB/HOST检测到插入的外设为全速外设后，复位总线。
即：向总线发送SE0。
此SE0的持续时间不得小于微秒。
本例的SE0持续时间为微秒；3)高速外设检测到总线上SE0的持续时间不小于微秒后，向总线发送Chirp K信号。
此Chirp K信号的持续时间不小于1毫秒且不大于7毫秒。
本例的Chirp K信号持续时间为2毫秒；4)高速外设发送Chirp K信号结束后，总线回复到SE0状态。
如果USB HUB/HOST支持高速模式，则必须在Chirp K信号结束后100微秒内做出响应。
本例中USB HUB/HOST在Chirp K信号结束后微秒时做出了响应；5)HUB/HOST在Chirp K信号结束后100微秒内做出了响应，向总线发送连续的Chirp K/J对，每个Chirp K信号或Chirp J信号的宽度不小于40微秒且不大于60微秒（本例为50-60微秒之间），每2个相邻的Chirp K和Chirp J信号之间的间隔不应大于微秒。
6)高速外设在检测到连续的最少3对Chirp K/J对后，在500微秒内必须断开D+上的上拉电阻，并连接D+和D-上对地的高速端接电阻，完成高速握手，进入高速传输模式。
在USB标准组织中，对EL_33, EL_34, EL_35这三个参数有要求，EL_33是指Chirp Response Time，指高速Device做出Chirp K信号响应结束后，到HOST做出响应的时间，标准要求小于100us；EL_34是指Chirp-K&J Duration，指HOST和Device连续发送每个Chirp K信号或Chirp J信号的宽度，标准要求在40us和60us之间；EL_35是指从HOST发送Chirp-J/K结束到HOST发送SOF信号开始的时间，标准要求在100us和500us之间。