多功能型光电子能谱仪详细配置及技术指标
光电子能谱仪

光电子能谱仪(XPS,UPS)FUNSOM 谢跃民20134214099 一、绪论[1-3]电子能谱分析是一种研究物质表层元素组成与离子状态的表面分析技术。
光电子能谱是表面电子能谱中很重要的一部分,光电子能谱的历史可以一直追溯到1887年赫兹发现光电效应。
其后,相当长的一段时间内,光电发射现象一直是被研究的对象,直到爱因斯坦在1905年用量子理论成功解释了光电效应。
随后20世纪60年代,超高真空技术和微弱信号检测技术的发展为光电子能谱的诞生创造了条件,光电子能谱技术真正作为一种实验手段引起人们的重视。
1954 年瑞典科学家Kai Siegbahn 教授和他的研究小组在进行β电子能谱的研究过程中研制成世界上第一台双聚焦磁场式光电子能谱仪。
此后经过不断改进性能,精确测量了元素周期表中各元素的内层电子结合能,并清楚的看到有关谱峰。
瑞典的科学家于1965 年把这种方法叫做化学分析用电子能谱(Electron spectroscopy for chemical analysis),简称ESCA。
由于ESCA 主要采用了铝和镁的特征软X 射线作为光源,后来人们就把这种方法称之为X 射线光电子能谱(X-ray photoelectronspectroscopy),简称XPS。
1962 年,伦敦帝国学院的D. W. Turner 等人又创造使用了真空紫外光源的光子能谱仪。
这种能谱仪更适合于研究价带电子状态,正好与X 射线光电子能谱互相补充。
此方法被称为紫外光子能谱(Ultraviolet photoelectron spectroscopy), 简称为UPS。
多年来,XPS谱仪技术方面也取得了巨大的进展。
目前光子能谱已经被广泛应用各个领域,如物理学、化学、材料科学、表面科学等,尤其是XPS,已经成为一种常规的材料表面分析手段。
光子能谱技术的特点包括: 1.是一种非破坏性测量手段 2.一种表面灵敏的分析手段3.适合分析塑料和高分子聚合物 4. XPS有明确的化学位移,能用来研究元素的化学状态5.可测定元素的相对含量等等。
能谱仪技术指标

能谱仪技术指标1、技术指标:1)*可靠性:可以配合各主流品牌的场发射扫描电镜使用,且在北京的地质行业有配合先例,提供用户名单和联系方式;2)探测器:硅漂移晶体,超薄窗口,完全独立真空;晶体有效面积不小于60 mm2,探头整体有效采集面积不小于50mm2;适合低电压或小束流分析;3)*探测器制冷和定位:采用三级帕尔贴制冷,最低工作温度可达零下80摄氏度;探头采用马达控制的自动伸缩设计,可以在软件里实现控制,确保针对不同尺寸样品的定位精度;4)元素分析范围Be4—U92;5)免维护性:探头不包含冗余的前置放大电路板,随时可以断电,无需重新校正;6)分辨率MnKa优于127eV,CKa优于56eV,F Ka优于64eV(20000CPS);在不同计数率下谱峰稳定,分辨率衰减小于1eV;7)输出最大计数率:大于500,000CPS谱峰无畸变,可处理最大计数率优于750,000CP S;8)软件:64位能谱应用软件,操作简便界面清楚,直接读出电镜参数和仪器状态,结果输出方便,适合于不同层次的用户尽快掌握;9)谱定性分析:具备点、线、面扫描分析功能,高帽法扣除背景避免人为误差;10)*谱定量分析:可对抛光表面或粗糙表面进行点、线和面的分析;具有虚拟标样法(间接标样法)以及有标样法(直接标样法);可以方便的得到归一化和非归一化定量结果;11)*谱峰稳定性:具备零峰设计,相对峰位稳定,无需铝铜双峰校准,保证数据重现性;12)图像输出:支持BMP,TIFF, JPEG等流行的图像格式,对视场上任选区域进行能谱分析和线、面扫描,可得到元素的线分布、常规面分布、快速面分布和定量面分布等,所支持电镜数字图像最大清晰度优于8192*8192,全息X射线成分图最大清晰度(live Spectrum Mapping)优于4096*4096.13)*高级应用软件:针对地质领域,可以提供多视场自动叠加的数据拼接功能,实现大范围面扫描和特征元素富集区域的自动分析;14)图形处理器配置不低于:知名品牌,Intel Core i7-2600 处理器,8G以上内存,1TB硬盘,DVD/RW 刻录光驱,24”平板液晶显示器,专用实验台等;2、培训要求卖方在用户现场进行技术培训,一年以后免费提供深入的技术培训课程,终生提供免费的应用咨询以及技术帮助3、售后服务3.1 安装:要求卖方到用户现场进行免费安装、调试、试运行。
量子点LED多功能光谱探测系统技术参数

项号
货物名称
数量
技术参数及性能(配置)要求
单价(万元)
总价(万元)
1
量子点LED多功能光谱探测系统
1套
介绍:
紫外可见-近红外时间分辨光致发光光谱TRPLS和电致发光光谱TRELS;包括激发光谱、发射光谱和快速三维光谱;满足皮秒到秒级的时间分辨(PL EL)荧光测试;提供真空低温变温环境用于材料及器件的PL和EL相关测试;光致发光绝对量子效率及色坐标测量;用于发光器件及工艺设计综合表征。可实现向生物传感器、生物医药研究和环境保护等领域扩展。为了研究量子点发光材料及光电器件的瞬态光谱的电荷注入和复合过程等,此设备的特色是指定配备了时间分辨的EL测量系统和时间分辨近红外PL-PL测量装置。
技术指标:
1.基本功能:
1.1光致发光发光光谱、电致发光光谱及EEM三维光谱采集;
1.2100ps-10s荧光寿命采集;包括光致发光及电致发光衰减曲线;
1.3EL/PL动态荧光寿命,时间分辨发射谱,
1.4200-1000nm全波段动态光谱采集;
1.5EL/PL近红外发光光谱及寿命;
2.整机主要技术指标:
5.配置要求:
5.1450W氙灯及闪烁氙灯灯室,软件自动切换1件
5.2激发单色仪1件
5.3反射式样品仓及参比检测器1件
5.4双轴三塔轮成像光谱仪1件
5.5FIOP冷冻CCD光谱检测器1件
5.6精选级R928P PMT1件
5.7H10330-75 NIR PMT 1件
5.8时间分辨电致发光控制及驱动器(含控制软件)1套
1.7整机信噪比:优于30,000:1(水拉曼信噪比,350nm激发,5nm带宽)
X射线光电子能谱仪介绍

X射线光电子能谱仪介绍X射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS),也称为电子能谱仪(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis,简称ESCA),是一种分析物质表面化学成分和电子结构的有效工具。
本文将从原理、仪器结构、操作流程和应用等方面进行详细介绍。
首先,我们来了解XPS的基本原理。
XPS是利用X射线照射样品表面,当X射线与样品表面原子发生相互作用时,会发生光电效应。
光电子(或称为光电子子)从样品表面解离出来并被收集。
通过测量其动能和相对强度,可以获得样品表面的化学成分和原子的电子态信息。
XPS仪器的主要结构包括X射线源、样品台、光电子分析仪和能谱仪。
X射线源通常采用单晶衍射器或连续谱型,能够提供较高的光子能量和对数计数率。
样品台有多种形式,如固定晶格、转动晶格、升降台等,能够调整样品的位置和角度。
光电子分析仪是收集和加速光电子的装置,包括透镜系统、走时单元和检测器等。
能谱仪则通过光电子的动能和相对强度来测量和分析样品的化学成分。
XPS的操作流程一般包括样品准备、实验参数设置、数据采集和数据处理等步骤。
首先,样品需进行表面处理,如去除氧化层、清洗污染物等,以确保表面的纯净度和可再现性。
其次,根据实验需求设置合适的参数,如X射线源能量、极角、测量区域等。
然后,通过探测光电子的动能和相对强度,采集一系列能谱。
最后,根据所得数据进行分析和处理,如峰拟合、能量校准、峰面积计算等,从而获得样品的化学成分和表面电子结构信息。
XPS在多个领域具有广泛的应用。
首先,它可用于表面化学成分分析,可以确定样品表面元素的种类和含量。
其次,XPS可以研究样品的化学状态和电子结构变化,如氧化态、配位数、轨道混成等。
另外,XPS也可用于界面分析,研究不同材料之间的相互作用和界面电子结构。
此外,XPS还可用于薄膜、催化剂、电极、半导体等领域的研究和表征。
光电子能谱仪使用方法说明书

光电子能谱仪使用方法说明书一、引言光电子能谱仪是一种用于研究材料表面电子结构的实验仪器,其基本原理是利用光电效应将光子能量转化为电子能量。
本说明书旨在详细介绍光电子能谱仪的使用方法,帮助用户更好地操作和理解该仪器。
二、仪器概述光电子能谱仪主要包括以下部分:1. 光源:提供具有特定能量的光束,常用的光源有气体放电灯、激光器等。
2. 样品台:用于固定待测试材料,保持材料表面与光束的垂直。
3. 分析系统:包括能量分析器和探测器,用于分析和检测光电子的能量和强度。
4. 数据采集与处理系统:用于记录和处理从探测器中获取的光电子能谱数据。
三、仪器操作步骤1. 准备工作:在使用光电子能谱仪之前,确保以下准备工作已完成:- 仪器的电源和其他连接线已正确连接。
- 光源和分析系统的参数已设定好,满足实验需求。
- 样品台已清洁干净,确保无杂质。
- 数据采集与处理系统已准备好,以便记录和处理数据。
2. 样品装载:先将待测试的样品均匀地固定在样品台上,确保其表面平整且垂直于光束的方向。
如果样品较小,可以采用夹具或胶水固定。
3. 光源调整:根据实验需求,选择合适的光源,并调整对应的参数。
通常需要确定光源的波长、能量和强度等。
确保所选的光源和参数能够满足实验要求。
4. 能量分析器设置:根据待测样品的特性和研究目的,设置能量分析器的参数。
包括调整分析器的入射角度、加速电压和滤光片等。
确保这些参数能够使光电子能谱仪得到准确的测试结果。
5. 数据记录与处理:启动数据采集与处理系统,通过探测器采集到的光电子能谱数据进行记录和处理。
可以使用相应的软件对数据进行分析和拟合,以得到更详细的结果。
6. 结束操作:实验结束后,及时关闭光源、能量分析器等电源,并将样品台清洁干净。
四、注意事项1. 使用光电子能谱仪时需佩戴相应的个人防护设备,如护目镜、手套等。
2. 在操作过程中,避免直接接触光源和能量分析器等高温部件,以免造成烫伤。
3. 确保仪器的储存和操作环境干燥、无尘,并保持适宜的温度和湿度。
多功能仪器技术指标

多功能仪器技术指标:
1、功耗:典型值20W,最大30W;供电:12 VDC
2、具有相位测量、频率测量、频谱分析、信号发生器(包括函数发生器)、锁相放大、数字
滤波器(包括IIR和FIR滤波器)、示波器、PID控制、激光器锁频/稳频、波特分析(又称传函分析或者幅相分析)、以及数据采集功能
3、相位测量精度达优于1μcycle;测量频率达到200MHz
4、对DC-200MHz 的输入信号进行频谱分析,并根据测量范围的不同,自动调整分辨率带
宽(RBW)
5、解调信号频率范围最大可达200MHz;动态储备≥80dB;移相精度≥1毫度;频率分辨率
<5μHz能对信号进行低通、高通、带通、带阻滤波,最高输出采样率>15MHz;支持自定义滤波器功能。
6、支持远程无线操作或者电脑控制
7、两个输入端口、两个输出端口
8、内置10 MHz本地晶振
9、输出信号采样率:1 GSa/S,输入信号采样率:500 MSa/S
10、支持SD卡存储功能。
能谱仪技术参数

能谱仪技术参数(带*部分是必须满足的条件)1主要参数:1.1*该能谱仪与JEM-2100F场发射透射电镜配套使用;1.2*探测器:电制冷探测器,窗口有效面积≧30mm2;1.3*能量分辨率:在100,000CPS条件下Mn Ka保证优于129eV;1.4 *元素分析范围优于Be4~Am95;1.5 谱峰稳定性:1,000cps到100,000cps,Mn Ka峰谱峰漂移小于1eV,48小时内峰位漂移小于1.5eV;1.6 具备零峰修正功能,快速稳定谱峰,开机后无需重新修正峰位,10min内可达到稳定状态;1.7 *能谱仪处理单元与计算机采用分立式设计,单探测器输出最大计数率600,000CPS,可处理最大计数率优于1,500,000CPS;1.8*可进行谱定性和定量分析。
要求配备完善而精准的原子数据库,包含所有的分析线系(K, L, M 和N线系),具备较为准确的定量方法;1.9可将电镜图像传输到能谱仪的显示器上,支持最大像素4096*4096,并以该图为中心做微区分析;1.10*所有校准数据均保存于信号处理器中,重装或者升级电脑可由用户自己完成,无需工程师上门重新校准系统;数据需能够复查,便于进行重新提取和分析;1.11通过处理器自动扣除和峰(非软件扣除),自动选择最佳处理时间1.12 *具有STEM模式点、线、面分析功能,且配备高分辨电镜专用的漂移矫正功能。
1.13计算机配置:22寸显示器,处理器intel 4核/内存8GB/硬盘1TB/1G独立显卡/win7 pro系统。
1.14 *实验报告:多种输出格式, 单键可生成Word文档, 及HTML格式。
2保修、培训及交货2.1. 免费保修期:至少1年。
保修期内,任何由制造商选材和制造不当引起的质量问题,厂家负责免费维修。
保修期自验收签字之日起计算。
保修期满前1个月内卖方应负责一次免费全面检查,并写出正式报告,如发现潜在问题,应负责排除。
2.2. 维修响应时间:卖方应在24小时内对用户的服务要求做出响应,一般问题在48小时内解决,重大问题或其它无法立刻解决的问题应在一周内解决或提出明确的解决方案,否则卖方应赔偿相应的损失。
现代X光电子能谱仪简介

ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ和位敏
。采用多通
道板探测器和位敏探测器时,还可以以快照方式(snap s h o t ) 收集X P S 谱,也可以实现快速平行X P S 成像 ( i X P S ) 。新型电子探测器的采用不仅大大有助于提高 仪器的灵敏度,而且大大提高了采集数据的速度。 5.电子中和器 在X P S实验中常常遇到样品荷电问题,影响测量。 为了解决这一问题,传统电子能谱仪通常采用“漫灌 式”(f l o o d)的低能(~5 0 0 e V )电子中和或减弱样 品上的剩余正电荷。这种方法虽然很简单,但是在中和 样品时易出现荷电不均匀。为了克服这一问题,现代电 子能谱仪采用更低能量的单色电子中和,同时为了在单 色化小束斑X P S (S A X P S )中能有效地中和,需采用同 轴低能电子中和
E-mail:cmee@263.net
9
2007年第10期(总第56期)
配件,有利于扩展仪器功能。现代能谱仪中有多组透镜 组合而成,根据测量分析要求可选择不同的工作模式。 4.电子检测器 电子监测器也是电子能谱仪的一个主要部件。传统 电子能谱仪采用通道式电子倍增器(Channeltron)。为 了提高检测灵敏度,现代电子能谱仪一般采用多通道电 子探测器(Multi-Channeltron),甚至采用多通道板 探测器(multi-channel plate detector) 探测器(position sensor detector)
。对于一些电子能谱仪的基本结构单元、性
能等在普通的电子能谱书籍中可以查阅到[ 5 , 6 ] ,此处不 再赘述,本文将着重介绍现代X 光电子能谱仪结构和特 点。
一、现代 X 光电子能谱仪结构
一般电子能谱仪包括有:激发源,电子能量分析 器,电子倍增器,微电子线路控制,计算机软件数据系 统,真空系统,分析室,样品制备室以及样品制备装置 等等,现代电子能谱仪在此基础上作了很大的改进[7]。 1.单色化X射线源 目前主要使用的是A l K α射线单色源,它由A l 靶X 射线源和石英晶体组成。Al靶激发的X射线(1486.6eV) 经过石英晶体发生布拉格衍射使Al 的X 射线单色化。为 了增加照射样品的X 光强度,提高灵敏度和实现小束斑 X P S分析,不同的仪器厂家采用不同的方法。第一种方 法是微聚焦单色化,聚焦电子束轰击在阳极靶某位置 处,产生的X 光经过凹面石英晶体布拉格反射后聚焦照 射到样品上,凹面石英晶体的反射使得X 射线聚焦成一 个束斑,提高了X 光照射到样品上的功率密度。在此方 收稿日期:2 0 0 7 - 0 8 - 0 7 作者简介:吴正龙,男,硕士, 副教授。
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多功能型光电子能谱仪详细配置及技术指标
一、系统主要结构和功能要求
1.仪器主体为两室结构,分别是分析室和样品制备室兼快速进样室;
2.超高真空分析室内应实现单色化XPS、双阳极XPS、成像XPS、深度剖
析XPS、离子散射谱ISS、能量损失谱REELS、紫外光电子能谱(UPS)、自动化五轴样品台及样品加热等功能;配备独立的从粗真空到超高真空
抽气系统;
3.样品制备室应实现样品的大束斑离子清洁、至少三个样品托的停放台以
及超高真空监测等功能;配备独立的从粗真空到超高真空抽气系统;
二、系统各部分详细配置及相应要求:
1. 分析室
1.1 真空腔及抽气系统
1.1.1 真空腔为纯μ金属制造,外径不低于300mm;
1.1.2 抽气系统为钛升华泵、磁悬浮涡轮分子泵以及机械泵各一套;
1.1.3 烘烤12小时并完成除气,抽气48小时后,系统本底真空优于
5.0x10-10 mbar;
1.2 能量分析器
1.2.1 180ο半球能量分析器,半径不小于150mm;
1.2.2 能量扫描范围为0~5000 eV;
1.2.3 外罩为纯μ金属制造;
1.3 探测器
1.3.1 电子倍增器,用于XPS能谱;
1.3.2 微通道板探测器,用于XPS成像,可实现小于6μm成像区域的能谱获取;
1.4 单色化X射线源
1.4.1 微聚焦单色化Al Kα X射线源;
1.4.2 束斑面积从900μm到200μm连续可调;
1.4.3 最优能量分辨率:对Ag3d5/2峰,半高宽优于0.45 eV;
1.4.4 大束斑灵敏度:对Ag3d5/2峰能量分辨优于0.5 eV时,灵敏度
(要求为常规工作条件下实际值)应好于400k cps;
1.4.5 60μm束斑灵敏度:对Ag3d5/2峰的能量分辨优于0.5 eV时,
灵敏度(要求为常规工作条件下实际值)应好于20k cps;
1.4.6 20μm 束斑灵敏度:对Ag3d5/2峰的能量分辨优于0.5 eV时,
灵敏度(要求为常规工作条件下实际值)应好于500 cps;
1.5 双阳极X射线源
1.5.1 Al/Mg双阳极Al Kα X射线源,单源功率均不低于400W;1.5.2 对Ag 3d5/2峰,能量分辨优于0.8eV时,灵敏度优于650,000 cps 1.5.3 另提供高能X射线源Zr/Ti双阳极靶材一套,实现高能XPS以
及高能XAES;
1.6 成像XPS
快速平行成像,对Ag3d5/2,线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm;
1.7 超高真空监测装置
1.7.1 可实现大气至10-10mbar范围的连续真空测量;
1.7.2 系统软件可显示系统真空压力值;
1.8 离子散射谱ISS
在1 keV He离子作用于清洁金表面,能量分辨优于15eV时,灵敏度应优于20,000 cps/nA;
1.9 电子能量损失谱REELS
分析室可实现电子能量损失谱配置,电子枪发射的电子最高能量应不低于1000eV,能量分辨率优于0.5eV;
1.10 深度剖析离子枪
1.10.1 工作气体为He、Ar或Ne;
1.10.2 离子能量100 eV ~ 3000 eV连续可调;
1.10.3 3keV情况下,束流应高于6 μA;
1.10.4 在
2.5uA和4keV时,束斑直径应不高于200 μm;
1.10.5 差分抽气,离子枪工作时,分析室内真空度优于 3.0x10-7 mbar;
1.10.6 可通过离子束流的偏转和扫描,实现Ar离子致SEM谱;
1.11 样品台
1.11.1 轴向:5轴样品台,即X、Y、Z移动,倾斜及旋转;
1.11.2 移动:X方向不小于50 mm,Y方向不小于20mm,Z方向不
小于10 mm;
1.11.3 移动精度1μm;
1.11.4 倾斜:以水平方向为轴-90º~+60º;
1.11.5 通过样品实时图像上,可通过鼠标点击实现样品台的移动;
1.11.6 加热和冷却:可实现最高600K的加热以及最低170K的冷却;
1.12 电荷中和系统
对PET绝缘样品,在O-C=O结构中C1s峰能量分辨(FWHM)优
于0.82 eV时,C-C结构中C 1s峰的灵敏度(要求为正常工作条
件下的真实测量值)优于60,000 cps;
1.13 样品观察
1.13.1可变焦彩色CCD摄像头电视显示系统,能清楚观察样品500um~3mm区域图象;
1.13.2 分析室需具备CF75观察视窗两个,并装有防X射线玻璃;
1.13.3 观察窗口法线方向需位于水平线以上,以方便观察。
1.14 俄歇电子能谱(AES)
1.14.1电子枪:肖特基场发射电子枪;
1.14.2系统配有满足绝缘样品AES电荷中和需要的离子中和源
1.14.3 空间分辨率,10keV/5nA时优于95nm;
1.14.4 10kV/5nA(FRR=0.5%)时Cu样品LMM峰(918eV),强
度不低于600k cps,与955eV处背景相比,10keV时信噪比
好于750:1;
2. 样品制备室
2.1真空腔及抽气系统
2.1.1 不锈钢制造;
2.1.2 抽气系统为独立的一套涡轮分子泵和机械泵;
2.1.3 本底真空度应优于8.0x10-9 mbar;
2.2 多层样品停放台
可一次停放至少三个样品托;
2.3 大束斑样品清洁离子枪
2.3.1 工作气体为He、Ar或Ne;
2.3.2 离子能量300 eV ~ 3000 eV连续可调;
2.3.3 束斑最大直径15~20 mm;
2.5 超高真空监测装置
超高真空阴极离子规一套;
4. 系统控制及标定
4.1 谱仪参数设置,系统软件应实现可视化操作;
4.2 谱仪硬件控制
4.2.1分析部件均可通过系统软件控制
4.2.2 系统软件具备可视化操作界面,实现对真空泵、阀门、真空
规、离子枪、中和枪以及加热冷却等的控制;
4.2.3 所有进气阀门均可通过软件控制实现自动化开启和关闭;
4. 2.4 系统软件内置真空安全互锁控制模块,可有效禁止真空设备
的误操作。
4.4 多功能样品台,样品台移动可通过鼠标操作实时的光学像而实现,并具有可视化操作界面,
5. 随系统计算机一台,预装数据采集和处理软件包
5.1 数据处理方法:定性分析、定量分析、曲线拟合等;
5.2 需具备SMART本底扣除方法;
5.3 数据库:包括完整的XPS、AES和ISS数据库;
5.4 实验数据(原始数据及分析结果)可存为通用格式,并能导入Microsoft Office 软件;
5.5 软件的数据处理部分,可在其他PC计算机上安装使用;
5.6 软件介质:以安装光盘形式提供;
6. 随系统配备的真空烘烤系统
7. 与以上所有系统相关联的电子学控制柜。