LTE-FDD测试频段干扰分析
1. 概述
在某运营商开始规模建设LTE-FDD试验网初期，因为使用的是1755MHz-1785MHz和1850MHz-1880MHz这未使用的60MHz的频段，需要对该频段整体的干扰情况进行了解，并由针对性的提出解决办法，将优化前移到网络的建设前，建设一张精品网络，为LTE-FDD试验网和商用建网提供技术支撑，保障网络的性能质量。
本文基于以上考虑，研究对该频段可能的干扰情况，并结合实际案例进行分析并提出解决方法。
2. LTE频段理论底噪
RBW(ResolutionBandwidth)扫频仪频率分辨率，代表两个不同频率的信号能够被清楚的分辨出来的最低频宽差异。
NFrev（NoiseFactor）为扫频仪接收噪声系数，决定扫频仪接收机灵敏度。
理论低噪=-174+10*log（RBW）+NFrev （公式2-1）
测试过程中，设置以下参数：
1. RBW取值为15KHz，
2. NFrev为噪声系数，不同的扫频仪该值不同，根据扫频仪厂家提供为8dB，
得到本次测试的理论低噪为-124dBm.
3. 频谱干扰分析
对1755MHz-1785MHz的频段和1850MHz-1880MHz的频段进行可能的干扰分析。
1755MHz-1785MHz的频段
1. 该频段被非法占用
2. 阻塞干扰：DCS1800（上行频段1710MHz-1755MHz）
3. 杂散干扰：DCS1800（上行频段1710MHz-1755MHz）
4. 互调干扰：
a) DCS1800（上行频段1710MHz-1755MHz，下行1805MHz-1850MHz）
b) GSM900/E-GSM（上行频段889MHz-909MHz）
c) CDMA下行频段（下行频段870MHz-880MHz）
5. 二次谐波：
a) GSM900/E-GSM（上行频段889MHz-909MHz使用）
b) CDMA下行频段（870MHz-880MHz）
1850MHz-1880MHz频段
1. 该频段被非法占用
2. 阻塞干扰：
a) DCS1800（下行频段1805MHz-1850MHz）
b) F频段（1880MHz-1920MHz）
3. 杂散干扰：
a) DCS1800（下行频段1805MHz-1850MHz）
b) F频段（1880MHz-1920MHz）
4. 互调干扰：
a) GSM900/E-GSM（下行频段934MHz-954MHz）
b) DCS1800（上行频段1710MHz-1755MHz，下行1805MHz-1850MHz）
5. 二次谐波:
a) GSM900/E-GSM（下行频段934MHz-954MHz）
4. 扫频工作
在某城市安排对1755MHz-1785MHz和1850MHz-1880MHz频段，在晚忙时进行扫频工作，扫频测试采用同一套扫频设备，问题定位采用同一套频谱分析仪。
4.1. 测试路线
测试路线尽量遍历某市一环内的主要道路，测试车速不超过35km/h。
4.2. 扫频参数设置
根据第2章节公式2-1，计算理论缔造为-124dBm。
5. 扫频测试结果
5.1. 1755MHz-1785MHz&1850MHz-1880MHz频段测试结果
总体扫频测试1755MHz-1785MHz频段平均值-118.6dBm，1850MHz-1880MHz频段平均值116.1dBm。从平均信号强度值以及表5-1采样点信号分布表来看，在路面上，
1850MHz-1880MHz频段的干扰要强于1755MHz-1785MHz。
表5-1采样点信号强度分布表
1755MHz-1785MHz频段
整体底噪较低，个别区域有接收到较强电平信号，底噪有所抬升。在扫频过程中发现在1780MHz-1785MHz频段上存在一定量的干扰，根据第3章节的分析，初步判断可能存在
GSM900(890MHz-892.5MHz的二次谐波或者二阶互调)上行干扰或者是DCS1800三阶互调干扰。
我们需要注意的是，对于1755MHz-1785MHz是FDD-LTE的上行频段的情况，干扰主要影响的是基站的接收，路面扫频不能完全对干扰情况有完整的认识，建议在选点建网时，对天面上该频段做进一步的扫描。
1850MHz-1880MHz频段
在扫频过程中发现1850MHz-1855MHz的干扰最为严重，考虑到该5MHz频段邻近DCS1800现网的频段，可能存在严重的阻塞干扰或带外杂散干扰；其次是1875MHz-1880MHz，该5MHz 频段邻近TD-SCDMA/TD-LTE频段，也可能存在阻塞或是带外杂散干扰。
5.2. 1755MHz-1785MHz
为了更好的了解该30MHz的频段的情况，将该30MHz的频段按照间隔5MHz分为6个子频段。从表5-2中，我们可以看到1755MHz-1775MHz整体干扰都较小。
1755MHz-1775MHz（30MHz）
表5-2 5MHz间隔采样点信号强度分布表（1755MHz-1775MHz）
5.3. 1850MHz-1880MHz
为了更好的了解该30MHz的频段的情况，将该30MHz的频段按照间隔5MHz分为6个子频段。从表5-3中，我们看出1860MHz-1870MHz的干扰最小，越向频段的边缘，干扰越严重，其中最为严重的是1850MHz-1855MHz。在扫频的过程中，发现该城市1880MHz-1900MHz该20MHz已经被LTE使用，但是对1875MHz-1880MHz的影响相对较小；因为1850MHz邻近DCS1800（下行频段1805MHz-1850MHz）GSM设备由于在网时间长，射频器件出现问题的可能性较大。从整体上分析，要降低该频段的干扰，其中重点在于对邻近的DCS1800的可能存在的阻塞和杂散干扰，以及防止可能的非法占用的情况。
1850MHz-1880MHz（30MHz）
表5-3 5MHz间隔采样点信号强度分布表（1850MHz-1880MHz）
6. 干扰定位案例
6.1. 1755MHz-1785MHz干扰案例
在对1755MHz-1785MHz频段扫频过程中，在靠近篆塘公园的路段连续发现信号强度为-102dBm左右的强信号，后台查看干扰频点，均发现在1781.82MHz的中心频点，带宽为400KHz 的频带上有信号强度为-102dBm的信号。根据该干扰信号的特点，计算890.91=1781.82/2，评估为GSM900的上行二次谐波干扰。（图6-1,6-2,6-3）
图6-1 干扰点图6-2 干扰点地理位置
图6-3干扰点频谱图
测试人员携带频谱分析仪，来到干扰点附近的公交汽车站（图6-4），根据第3章节频谱干扰分析以及之前扫频分析，怀疑是GSM900/E-GSM（上行频段889MHz-909MHz使用）的二次谐波的干扰，采取移动号码手机拨测的方式，发现每次使用移动号码拨测的时候，在1783.7MHz出现干扰信号，强度为-73.56dBm，频宽为430KHz（图6-5）。
计算1783.7MHz/2=891.85MHz，
查看附近站点频点使用情况发现CI:12661,TCH:891.8MHz（图6-6）。该结果符合初步估计的结果，该频段用于上行，因此干扰的产生是UE在发射过程中产生的二次谐波，这类干扰的主要需要终端厂家在生产时对射频器件严格把关。
图6-4 测试点图6-5 干扰点频谱图
图6-6干扰小区位置图
6.2. 1850MHz-1880MHz干扰案例
在对1850MHz-1880MHz频段扫频过程中，在西昌路靠近昆明一中的路段连续发现信号强度为-105dBm—-95dBm的采样点。说明该区域存在干扰，接下来使用频谱仪对该区域进行问题定位。
图6-7干扰区域
测试人员携带频谱分析仪，来到干扰点附近的华兴酒店（图6-8），根据第3章节频谱干扰分析以及之前扫频分析，怀疑是GSM900/E-GSM（下行频段934MHz-954MHz使用）的二次谐波的干扰。
以下是对一个干扰频点的定位案例
第一步（图6-9和6-10）：
频谱仪发现在中心频点1872.75MHz，有信号强度在-69dBm—-74.53dBm的干扰信号，根据波形带宽（540KHz-590KHz）和时域持续时间（0.6ms-0.72ms），怀疑存在GSM900的二次谐波或者是二阶互调。
第二步：
计算1872.75MHz/2=936.38MHz。
第三步：
查看附近移动频点发现CI:21153,TCH:936.4MHz和938MHz。
结论：
该核查结果符合初步估计的结果，在测试过程中，当八木天线指向华兴酒店的时候，频谱仪上干扰明显出现，其他方向干扰基本没有，因此干扰的产生可能是华兴酒店楼上的基站在发射过程中产生的二次谐波和二阶互调干扰。临时关闭怀疑干扰小区，发现干扰不存在。
华兴酒楼天线位置
图6-8 测试环境图6-9 1850MHz-1880MHz整体情况
图6-10 1872.75MHz频域信号干扰情况
7. 结论
随着4G时代步伐不断加快，对网络性能的要求不断提高，致力于建设精品网络成为运营商的必然选择。然而精品网络的建设，必须建立在细节品质的基础上，对频段的干扰的了解和及时处理。如果在建网之前没有对干扰进行很好的排查，以后再进行大规模整改将需要投入非常巨大的人力和成本，并且还会影响用户的体验。这也体现爱立信一直以来崇尚的在建网初期全面考量，变扑火式为预防式的优化理念，与此同时爱立信已经为多个运营商成功部署优质的LTE网络，并且得到广泛的验证。
电磁兼容技术实训报告
电磁兼容技术实训报告 课题：USB电缆线的EMC设计与测试班级： 姓名： 学号： 指导老师： 实训时间：2014.10.27-2014.11.01
一、电磁兼容 1、EMC概念： 电磁兼容性（Electro Magnetic Compatibility，简称EMC）是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此，EMC包括两个方面的要求：一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值；另一方面是指器具对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即电磁敏感性。所谓电磁干扰是指任何能使设备或系统性能降级的电磁现象。而所谓电磁干扰是指因电磁干扰而引起的设备或系统的性能下降。 电磁干扰（Electro Magnetic Interference，简称EMI），即处在一定环境中的设备或系统，在正常运行时，不应产生超过相应标准所需要的电磁能量，相对应的测试项目有： ●电源线传导骚扰（CE）； ●信号、控制线传导骚扰（CE）； ●辐射骚扰（RE）； ●谐波电流测量（Harmonic）； ●电压波动和闪烁测量（Fluctuation and Flicker）； 电磁干扰度（Electro Magnetic Susceptibility，简称EMS），即处在一定环境中的设备或系统，在正常运行时，设备或系统能承受相应标准规定范围内的电磁能量干扰，相对应的测试项目有： ●静电放电抗扰度（ESD）；
●电快速瞬变脉冲群抗扰度（EFT/B）； ●浪涌（SURGE）； ●辐射抗扰度（RS）； ●传导抗扰度（CS）； ●电压跌落与中断（DIP）； 2、电磁干扰的危害： 电磁干扰有可能使设备或系统的工作性能偏离预期的指标或使工作性能出现不希望的偏差，即工作性能发生了“降级”。甚至还可能使设备或系统失灵，或导致寿命缩短，或使系统效能发生不允许的永久性下降，严重时，还能摧毁设备或系统。而且还将影响人体健康。 3、电磁兼容设计的目的： 电磁兼容设计的目的是使设计的电子设备或系统在预期的电磁环境中实现电磁兼容，其要求是使电子设备或系统满足EMC标准的规定并具有两方面的能力：a.能在预期的电磁环境中正常工作，无性能降低或故障；b.对该电磁环境不是一个污染源。 二、EMC三要素 系统要发生电磁兼容性问题，必须存在三个因素，即电磁干扰源、传播路径（耦合途径）、敏感设备。 1、电磁干扰源 任何形式的自然或电能装置所发射的电磁能量，能使共享同一环境的人或其它生物受到伤害，或使其它设备、分系统或系统发生电磁危害，导致性能降级或失效。
常见包装袋密封性检测标准方法
常见包装袋密封性检测标准方法 包装袋广泛应用于食品包装以及药品包装的各个领域，以其包装成本经济、易于加工、易于控制、易于生产等优势而成为目前市场上极为普遍的一种包装形式，包装袋的密封性能、封口强度是包装袋质量的重要指标，其关乎着包装内容物的产品质量、保质期，同时也是产品流通环节的必要保障。 而在包装袋生产过程中由于众多因素的影响，可能会产生封合时的漏封、压穿或材料本身的裂缝、微孔，而形成内外连通的小孔。这些都会对包装内容物产生很不利的影响，特别是食品、医药包装、日化等行业，密封性将直接影响产品的质量。密封性不好是造成日后渗漏腐败的主要原因。其中风琴袋的包装特别是四层处最容易出现泄漏。广州标际对密封性测试的相关标准可见详表1：表1 密封性测试的有关标准 密封性测试具体方法各不相同，国内生产实践中常用GB/T 15171-1994标准。 1.着色液浸透法 这种方法通常用来检验空气含量极少的复合袋的密封性。方法如下：将试验液体（与滤纸有明显色差的着色水溶液）倒入擦净的试验样袋内，密封后将袋子平放在滤纸上，5min后观察滤纸上是否有试验液体渗漏出来，然后将袋子翻转，对其另一面进行测试。 2.水中减压法（真空法） 这种方法又包括真空泵法和真空发生器法，通常用来检验空气含量较多的复合袋。
（1）真空泵法 测试装置主要由透明耐压容器、样品架以及真空系统（真空泵、真空表等）组成。这种方法有如下缺点：形成真空的时间长，且不稳定；密封性能不好；压力为指针式显示，精度偏低。因此现在已逐步被淘汰。 （2）真空发生器法 这种方法目前在软包装行业内应用广泛，它利用射流原理，正压变负压形成稳定的空气源，高精度电子压力传感器实时显示测试容器内的真空度，微电脑自动控制，试验参数（真空度和保持时间）可随意设定，达到真空所需时间短，真空保持平稳，密封性能好。 3.测试步骤 根据GB/T 15171-1994软包装件的密封性能试验方法：在水的作用下，外层材料的性能在试验期间是否会发生变化，如外层采用塑料薄膜的包装外，可以通过对真空室抽真空，使浸在水中的试样产生内外压差，以观测试样内气体外逸或水向内渗入情况，以此判定试样的密封性能。 参照GB/T 15171-1994标准，在真空室内放入适量的蒸馏水，将包装袋浸入水中，袋子的顶端与水面的距离不得小于25mm.盖上真空室的密封盖，设置真空度，并保持30s。在此期间如有连续的气泡产生，则为漏气，孤立的气泡不视为泄漏。 需要说明的是，该设备的真空度数值0～-100Kpa可以设定，此外该设备还具有自动保压、补压功能，达到设定的压力后自动计时开始保压，保压时间到后如不漏气则为合格产品，若未达到设定的压力与时间即出现冒泡现象，则包装袋视为不合格，可手动泄压，打开密封盖，更换试样袋，重新设置真空度和保持时间。所设置的真空度值根据试样的特性（如所用包装材料、密封情况等）或按有关产品标准的规定确定，但不得因试样的内外压差过大使试样发生破裂或封口处开裂。 4. 泄漏常见原因及解决方法（见表2） 表2包装袋泄漏常见原因及解决方法
移动APP测试方法
超赞！移动APP测试实用指南 译者注：本文从测试人员的角度出发，提出了100多个在测试移动App过程中需要考虑的问题。不管你是测试人员、开发、产品经理或是交互设计师，在进行移动App开发时，这些问题都很有参考价值。我和Queen合力译出此文，分享给大家，希望有所帮助和启发。 测试人员常被看作Bug寻找者，但你曾想过他们实际是如何开展测试的吗？你是否好奇他们究竟都做些什么，以及他们如何在一个典型的技术项目中体现价值？ 作者将带你经历测试人员的思维过程，探讨他们测试移动App时的各种考虑。本文的目的在于揭示测试人员的这一思维过程，并展示他们通常所考虑内容的广度和深度。 1.测试人员需要询问问题 测试人员的核心能力在于提出有挑战性的相关问题。如果你能将调查、询问技巧和技术、产品的知识结合起来，渐渐地，你也会成为一个好的测试人员。 比如，测试人员可能会问： o这个App应该在什么平台上使用？ o这个App到底是干什么的？ o如果我这样做，会发生什么情况？ 诸如此类。 测试人员能从各种场景中发现问题，它们可能来自对话、设计、文档、用户反馈或者是产品本身。这些可能性太多了……因此，让我们一探究竟吧！ 2.从哪里开始测试
理想情况下，测试人员应该掌握所测产品的所有最新细节资料。但事实上这很少见，因此，像其他人一样，测试人员只能将就使用手上有限的资料。但这不是不能测试的借口！测试人员其实是可以从内部和外部多种不同的来源处收集信息的。 这个阶段，测试人员可以问这些问题： o有哪些信息：规格？项目会议？用户文档？知识渊博的团队成员？有支持论坛或者是公司在线论坛提供帮助？有现存Bug的记录吗？ o该应用是在什么系统、平台和设备上进行运作和测试？ o该应用是处理什么类型的数据（比如个人信息、信用卡等等）？ o该应用有整合外部应用（比如API和数据来源）吗？ o该应用需要用到特定的移动端网页吗？ o现有消费者如何评价这个产品？ o有多少时间可用于测试？ o测试的优先级和风险是什么？ o哪些用户使用起来不愉快，为什么？ o如何发布和更新？ o基于以上收集的信息，测试人员可以制定测试计划了。通常预算决定测试方法，一天测完，一个星期或一个月测完 的方法肯定不同。当你逐渐熟悉团队、工作流程以及这类 问题的解决方式时，你就更容易预测结果了。 o案例：FacebookApp的社会评论 o当作为一名测试人员收集信息时，我喜欢选用 FacebookApp作为案例，因为用户的抱怨到处都是。以下 仅仅展示了部分遇到难题的用户在iTunesAppStore中发表的评论，网络上还有很多。
电磁环境测试报告格式样本
地球站站址电磁环境测试报告二***年*月
*****网 *****站 电磁环境测试报告 建站单位：************** 台站地址：************** 测试： ************** 审核： ************** 批准： ************** 测试单位（盖章） 年月日
目录 1．概述 2．预定工作参数 3．干扰电平标准 4．测试系统参数 5．测试 6．测试结果 7．结论 8．附图
1．概述 1．1地球站工作情况简述 该地球站是******站，主要用于******。 1．2测试任务与目的 本次测试的目的，就是全面测试预选站址的电磁环境，确定各类干扰源的干扰信号强度。根据国标GB13615－92《地球站电磁环境保护要求》和国家无委“建设卫星通信网和设置使用地球站暂行规定”的要求，分析地球站与各类无线电干扰源辐射的兼容性，选址是否符合技术要求，预选站址是否可行。作为建设单位上报站址和无委审批台站的技术依据。 2．预定工作参数 2．1 卫星参数 卫星名称鑫诺1号 卫星标称规定经度 110.5 0（东经） 下行工作载波中心频率 12.4162GHz 下行工作载波带宽 8640k Hz 下行工作载波EIRP： 35.5 dBW/该载波 ： 205.9 dB 下行损耗L f 2．2 地球站地理参数 地址：北京市 地理坐标：东经：***度 18 分 24 秒 北纬： ** 度 55 分 19 秒 地面海拔高度： 35 米 天线距地面高度： 25 米 天际线仰角图（见附图表 1 ） 2．3 地球站技术参数 天线工作指向：方位角 189 度，仰角 43.3 度 天线口径： 6.2 米 天线接收增益： 56 dBi 接收载波中心频率： 12.4162 G Hz 接收信号带宽： 8640 kHz 接收信号调制方式： QPSK 传输速率： 9257 kbit/s FEC: 3/4 接收系统等效噪声温度： 160 K
电子产品的电磁干扰测试标准解析
电子产品的电磁干扰测试标准解析 随着科学技术的发展，越来越多的数字化，高速化的电气和电子设备在社会各个领域广泛使用，在推动社会发展的同时，伴随着电气和电子设备应用而产生的电磁干扰也给社会带来了电磁污染问题。而电磁污染与水污染，空气污染被称为当今社会的三大污染源。随着电磁干扰问题的日益突出，国际电工技术委员会（IEC）相应出台了IEC61000-4-4，IEC61000-4-5，IEC61000-4-11，CISPR -16，CISPR-15等。这些措施和标准旨在规范点电子产品的电磁干扰限制和其它规范，以减少电磁干扰带来的社会问题。 众所周知，EMC的测试目标是电子电器设备，而照明设备作为其中重要的一块，自然也有相应的约束。如美国的FCC认证，欧盟的CE认证等都对LED照明设备提出了相关的测试项目。当谈论到电磁干扰时，一般来将有两种干扰源；一种是传导干扰(EMS)，主要是电子设备产生的干扰信号通过导电介质或公共电源线互相产生干扰，LED灯具的FCC 认证传导干扰扫瞄测试频率从0.15MHz开始至30MHz结束，CE认证中的传导干扰扫瞄测试频率从9KHz开始至30MHz结束。另外一种干扰是辐射干扰(EMI)，主要是指电子设备产生的干扰信号通过空间耦合把干扰信号传给另一个电网络或电子设备，LED灯具的FCC认证空间辐射干扰扫瞄测试频率从30MHz开始至1GHz结束，CE认证中的空间辐射干扰扫瞄测试频率从30KHz开始至300MHz结束。 对于EMI的测试，国际无线电干扰特别委员会（CISPR）出台了CISPR-16 无线电干扰及抗干扰测量器具规范，而对于照明行业，国际无线电干扰特别委员会还提出了CISPR-15 电子照明及相关设备无线电干扰特性限制及测量方法，并且各国也根据本国情况出台了各类的EMI照明检测规范，如欧盟出来的EN55015-2007，中国出台的GB17743-1999等。对于欧盟国家来说，EN55015标准（引用CISPR-15）适用于灯具频率超过100Hz传统照明设备，如白炽灯，荧光灯，自整流节能灯等。通常此类设备频率不超过30MHz, 相应的辐射干扰限值表1。但是对于新兴的LED照明行业，通常频率都超过30MHz,在CE认证中明确提出扫描频率是从30MHz到300MHz.
药用输液袋密封性能测试方案20160616
药用输液袋密封性能测试方案 发布时间：2015/6/16 摘要：药用输液袋大多采用聚烯烃、聚酰胺树脂原料共挤形成的复合膜作为包装材料，其具有极高的卫生安全性、无析出颗粒、高阻隔性、不易破裂等优点，但其密封性好坏是最影响药液质量、破坏无菌环境的性能指标。本文采用Labthink兰光自主研发的MFY-01密封试验仪检测输液袋的密封性能，并详述了该仪器的测试原理及试验详细过程，从而为制药企业等行业在对输液袋等包装密封性能的监控提供参考。 关键词：输液袋、药用、软塑包装、密封性能、密封试验仪、泄漏、漏气、气泡 1、意义 药用输液袋包括聚氯乙烯（PVC）材质及非PVC复合膜材质，目前大多使用非PVC复合膜材质的三层或五层共挤复合膜，其主要材质为聚丙烯（PP)、聚乙烯（PE)、聚酰胺（PA）及多种弹性材料（SEBS），是目前最安全的输液包装材料之一，不含任何增塑剂，自身与药液之间无任何反应及吸附现象，摒除了玻璃瓶的析碱问题，抗低温性好，是一种优质的材质。 质量良好的药用输液袋应不易破裂，其阻气性与阻水性高，内部药液不易变质或泄露，可满足高要求的无菌环境。但药用输液袋是依靠热封将其四周各封边密封，而热封过程中易出现热封参数设置不合适导致热封不严密或热封过度，例如热封温度过高则引起封边根部易断裂或漏气，抑或热封刀表面不平整导致封边褶皱含有未密封贴合的泄漏点。倘若输液袋的密封性不好，则外界环境中水蒸气、氧气等气体则易渗入输液袋内部，引起细菌侵入，导致药液变质及氧化，甚至在运输或使用过程中出现泄漏。本文采用专业的密封性能测试仪向相关制药生产企业介绍有关输液袋密封性能的测试方案。 图1 药用输液袋包装 2、标准 目前，软塑包装的密封性能试验主要参考GB/T 15171-1994《软包装件密封性能试验方法》，该标准适用于各种材料制成的密封软包装件的密封性能试验。 3、试验样品 某品牌输液袋成品包装。
电磁兼容技术报告
任何一个电子设备、分系统、系统以至复杂的系统工程，要能达到设计的指标和正常运行，只考虑电性能的设计是不够的，还必须同步进行EMC 设计。否则，在产品定型或系统组建后再发现电磁兼容问题，将会带来许多麻烦，甚至不可挽回的损失。 EMC 学科的建立和一系列电磁兼容标准的制定，为我们从理论与实践的结合 上实现产品或系统的电磁兼容提供了指导。电磁兼容的工作应从设备或系统研 制的初期，即方案论证阶段就开始考虑，并贯穿研制过程的各个阶段。而EMC 设计则是实现设备或系统电磁兼容的关键环节。有资料表明，进行EMC 设计，可以使90％左右的干扰得以控制。 EMC 设计的最终目的是为了使我们的设备或系统能在预定的电磁环境中正 常、稳定的工作，无性能降低或无故障，并对该电磁环境中的任何事物不构成电 磁骚扰，即实现电磁兼容。 EMC 设计的目标是通过EMC 测试和认证。 EMC 设计涉及的内容很多。总括来说，主要是对系统之间及系统内部的电磁兼容性进行分析、预测和控制。从原理上讲，要研究干扰的三要素(干扰源、干扰的耦合通道和接收器)和抑制干扰的措施等。从技术上来说，主要是如何运 用滤波、接地和屏蔽三大技术。滤波是消除传导干扰(低频)的最好方法，屏蔽对高频辐射干扰的隔离比较有效。合理的接地会减小地环路的干扰电流。 电磁兼容设计的基本原则和方法，首先是根据电磁兼容的有关标准和规范， 把产品设计对EMC 提出的指标要求分解成元器件级、电路级、模块级和产品级
的指标要求，再按照各级要实现的功能要求，逐级分层次的进行设计。下面以计算机为例，谈谈EMC 设计的粗浅认识。 一、计算机系统工作的特点 数字计算机是一个含有多种元器件和许多分系统的复杂的信息技术设备(ITE) 。外来的电磁骚扰，内部元器件之间、分系统之间的相互窜扰等，对计算 机及其传送的信息所产生的干扰与破坏，严重地威胁着计算机工作的稳定性、可靠性和安全性。据统计，由于干扰引起的计算机事故占其总事故的80％以上。另外，计算机作为高速运行的数字系统，也不可避免地向外辐射电磁干扰，污染电磁环境，对人体和其它设备造成危害。所以，计算机系统既是干扰源，又是干 扰的敏感接收设备。随着信息技术的飞速发展，数字系统，特别是计算机系统的电磁兼容性问题会越来越突出。 由于计算机系统以高速运行并传送数字逻辑信号，所以，计算机系统的电磁兼容性研究有其特殊性。主要表现在： 1.计算机是以数字电路为主，数字集成电路既是干扰源又是干扰的敏感器 件，如MOS 电路、D/A 电路等； 2.计算机以低电平传送信号，在电磁环境中易受干扰，即抗扰性差； 3.数字电路工作于逻辑方式，干扰超过阈值后，其状态不会因干扰消失而 恢复(模拟电路在瞬时干扰消失后，系统工作可以恢复正常)； 4.计算机以识别二进制码为基础，传送的是脉冲信号，因此，系统中分布 着高频含量丰富的谐波，易产生高频干扰； 5.计算机工作于开关和瞬时状态的电路较多，瞬时产生的能量很大，干扰
阀门密封及性能等各种试验方法
1.阀门在总装完成后必须进行性能试验，以检查产品是否符合设计要求和是否达到国家所规定的质量标准。阀门的材料、毛坯、热处理、机加工和装配的缺陷一般都能在试验过程中暴露出来。 常规试验有壳体强度试验、密封试验、低压密封试验、动作试验等，并且根据需要，依次序逐项试验合格后进行下一项试验。 2.强度试验: 阀门可看成是受压容器，故需满足承受介质压力而不渗漏的要求，故阀体、阀盖等零件的毛坯不应存在影响强度的裂纹、疏松气孔、夹渣等缺陷。阀门制造厂除对毛坯进行外表及内在质量的严格检验外，还应逐台进行强度试验，以保证阀门的使用性能。 强度试验一般是在总装后进行。毛坯质量不稳定或补焊后必须热处理的零件，为避免和减少因试验不合格而造成的各种浪费，可在零件粗加工后进行中间强度试验（常称为毛泵）。经中间强度试验的零件总装后，如用户未提出要求，阀门可不再进行强度试验。苏阀为了保证质量，在中间强度试验后，阀门都全部最后再进行强度试验。 试验通常在常温下进行，为确保使用安全，试验压力P一般为公称压力PN 的~倍。试验时阀门处于开启状态，一端封闭，从另一端注入介质并施加压力。检查壳体（体、盖）外露表面，要求在规定的试验持续时间（一般不小于10分钟）内无渗漏，才可认为该阀门强度试验合格。为保证试验的可靠性，强度试验应在阀门涂漆前进行，以水为介质时应将内腔的空气排净。 渗漏的阀门，如技术条件允许补焊的可按技术规范进行补焊，但补焊后必须重新进行强度试验，并适当延长试验持续时间。 3.密封试验: 除节流阀外，无论是切断用阀还是调节用阀，均应具有一定的关闭密封性，故阀门出厂前需逐台进行密封试验，带上密封的阀门还要进行上密封试验。
电磁兼容性测试报告
泉海科技电磁兼容性（EMC)测试报告（电源电压：24V）机 型QH7101H2图 号 DZ93189781020状 态正常生产 失效模式等级的定义（依据ISO 7637－3附页A）： A等级：在干扰照射期间和照射后，器件或系统所有功能符合设计要求。 B等级：在干扰照射期间，器件或系统所有功能符合设计要求，但部分指标超差，在照射移开后，超差的指标能自动恢复正常，记忆功能应保持A级。 C等级：在照射期间，器件或系统有一个功能不符合设计要求，但在照射移开后，能自动恢复正常操作。 D等级：在照射期间，器件或系统有一个功能不符合设计要求，在照射移开后，不能自动恢复正常操作，需通过简单的操作，器件或系统才能复位。 E等级：在照射期间和照射后，器件或系统有多个功能不能符合设计要求，需要修理或替换器件或系统才能恢复正常。 测试项目测试条件等级要求 测试结果备注 脉冲1Ua: 27 V Us: -600 V t1: 5 s t2: 200 ms t3: ≤100 μs td: 2ms tr: ≤（3+0/1.5）μs Ri: 50 Ω 脉冲数量: 5000 。 B级 符合要求B级 本报告由泉海公司实验室提供 脉冲2a Ua:27 V Us: +50 V t1: 5 s t2: 200 ms td: 0.05ms tr: ≤（3+0/1.5）μs Ri: 2 Ω 脉冲数量：5000个 B级 符合要求B级 脉冲2b Ua:27 V Us: +20 V td:0.2~2s tr: 1ms ±0.5ms Ri: 0.05Ω t12: 1ms ±0.5ms t6: 1ms ±0.5ms 脉冲数量：10个 B级符合要求B级 脉冲3a Ua:27 V Us: -200 V t1: 100 μs t4: 10 ms t5: 100 ms td: 0.1μs tr:≤5 ns±1.5ns Ri: 50 Ω 测试时间：1h。 A级 符合要求A级 脉冲3b Ua: 27 V Us:+200 V t1: 100 μs t4: 10 ms t5: 100 ms td: 0.1μs tr:≤5 ns±1.5ns Ri: 50 Ω 测试时间：1h A级 符合要求A级 脉冲4Ub: 27 V Us: -16V Ua: -5~12V V t7: 100 ms t8: ≤50 ms t9: 20s t10:10ms t11: 100 ms Ri: 0.02 Ω 脉冲数量：9000个(其中t8=100ms， 3000个t8=1s，3000个，t8=5s，3000个) B级符合要求B级 脉冲5a Ua: 27 V Us: +174 V td: 350 ms tr: 10 ms Ri: 2 Ω 周期:1min 脉冲数量：10个B级符合要求B级 测试员：何秀英 测试日期：2013.1.12 报告编号：qh-js-1201003
干扰-MR不处理分析报告案例
MR不处理分析报告 1 现象描述 C国LTE项目，做上行拉网测试时，UE从M站点FE2切换到N站点FE2，切换成功后，N站点FE2测量控制消息还没有下发，UE又上报测量报告，基站不处理，导致掉话。 前台信令截图 2 告警信息 无 3 原因分析 【问题结论】 UE从A小区成功切换到B小区后，如果B小区测量控制消息还没有下发，UE就上报测量报告要求切换到C小区，此时UE上报的测量报告中的measId是沿用A 小区下发给它的测量控制消息中的measId（因为没有收到B小区下发的测量控制消息，故无法更新），因为测量报告中的measld与B小区预期的不一致，故B小区不处理测量报告。
【原因分析】 （1）UE 从M 站点FE2（A 小区）切换至N 站点FE2（B 小区），M 站点FE2（A 小区）作为目标小区时下发的测量控制消息中预期的measIdObjectId=1，之后上报的测量报告中measId=1，两者一致，故M 站点FE2（A 小区）处理测量报告，UE 成功切换到N 站点FE2（B 小区）。 （2）UE 成功切换到N 站点FE2（B 小区）后，从前台信令可以看出，N 站点FE2（B 小区）还没有下发测量控制消息，UE 就上报测量报告。 从后台虚拟用户跟踪信令可以看出，在UE 上报多个测量报告（measId=1）后， N 站点FE2（B 小区）才下发测量控制消息（预期measIdObectId=2），两者不一致，故之前的测量报告，基站不处理，导致切换失败。 A 站点FE2作为目标小区下发 的测量控制消息
（3）该问题是在切换时出现了RRC重配置流程与MR测量报告嵌套，正常情况下，在测量控制还未下发前，UE是不会上报MR测量报告的，一般情况下，有两个原因会导致该问题发生： 1、终端UE问题，终端设计不符合协议； 2、上行信号质量较差，干扰严重。 4 处理过程 调整M站点FE2功率，降低干扰。测试发生切换失败时，区域的SINR<-5dB，RSRP为-100dbm左右，调整完M站点FE2功率后，区域的SINR>-3dB，RSRP 为-95dbm左右，复测未出现该问题； 5 学习心得 切换过程中，如果基站没有下发测量控制消息，或者UE没有收到测量控制消息，UE就无法更新其上报MR的内容，这样将导致UE想切换时，基站侧预期的MR 与实际的MR不一致，基站不处理MR，最终导致切换失败。 这种问题发生的频率不高，出现问题时应先排除上行干扰。
常见因素对胰岛素检测的干扰分析
常见因素对胰岛素检测的干扰分析 【摘要】［目的］分析常见的因素对胰岛素检测的干扰。［方法］分别评价抗凝剂三种可能出现的异常增高的干扰因素胆红素、甘油三酯、蛋白质，标本溶血以及标本保存温度和时间对结果的影响。［结果］EDTA?K2、肝素抗凝血，与血清管比较胰岛素检测结果无显著差异；高浓度的胆红素、甘油三酯、蛋白质对结果没有显著的干扰作用；溶血可造成胰岛素结果的下降，而且与溶血程度和温度呈正相关，随着放置时间的延长，胰岛素值会进一步下降。［结论］EDTA?K2、肝素抗凝剂，病理情况下高浓度的胆红素、甘油三酯、蛋白质不会引起胰岛素检测结果显著的变化；溶血可以引起胰岛素结果的下降，应加以避免。 血清胰岛素测定，在糖尿病的诊断、分型和治疗上有重要的指导作用，然而，常会遇到一些不符合临床的结果，给诊治带来困难，我们分析了一部分常见的因素，来评价利用化学发光技术检测胰岛素的干扰作用，现报告如下。 1材料与方法 1.1仪器与试剂
全自动化学发光分析仪Abbotti2000，使用配套原装胰岛素检测试剂、标准品、质控品，美国雅培公司生产。胰岛素测定方法：化学发光免疫分析。标本本院新鲜无溶血、脂血及黄疸的病人标本，胰岛素浓度分布，5.7～154.6mU/L，共20例。影响因素的评价方法：（1）抗凝剂：分别用EDTA?K2，肝素抗凝，与血清管比较。（2）干扰物质：在血清中加入高浓度胆红素、甘油三酯、蛋白质标准品（均由北京利德曼公司提供），使成可能出现的不同病理高浓度，对照管中加入等量的生理盐水，与各管比较。（3）溶血及标本保存条件在血清中加入血红蛋白（血红蛋白经新鲜血标本溶血自制），使标本呈轻微溶血和明显溶血，对照管加等量生理盐水，分别于4℃保存1h、4h，25℃保存1h、4h后检测。 1.2统计学处理 各组数据以x±s表示，分别与对照进行配对t检验。 2结果 2.1用EDTA?K2，肝素抗凝组与对照血清组比较，无显著差异，结果见表1。表1不同抗凝剂对胰岛素测定的影响（略）
泡罩包装密封性能监控方案
泡罩包装密封性能监控方案 摘要：泡罩包装是由塑料硬片与药用铝箔通过热封工艺形成的包装形式，泡罩包装的密封性能是一项极为重要的性能指标，对所包装药品的质量具有重要影响。本文利用MFY-01密封试验仪检测泡罩包装的密封性能，并介绍了设备的测试原理，叙述了试验的基本过程，从而为企业对泡罩包装密封性能的监控提供参考。 关键词：泡罩包装、水泡包装、PTP包装、医药、密封性能、密封试验仪、漏气、气泡 1、意义 随着药品包装形式的优胜劣汰，泡罩包装以其保护性好、使用方便、质量轻便等优点已成为目前药品包装市场的重要组成部分。泡罩包装，又称水泡包装、PTP包装，主要由两部分组成，分别为带有水泡眼的塑料硬片、药用铝箔。包装时，将药品放入硬片的水泡眼中，然后与药用铝箔进行热封，从而形成了各水泡眼相互独立的泡罩包装。由于泡罩包装其中一个水泡眼的破坏并不会对其他水泡眼的完整性产生影响或产生较小影响，故每个水泡眼自身的密封完整性就显的尤为重要。若泡罩包装的密封性较差，则外界环境中水蒸气、氧气等气体就会沿着密封较差处，渗透进包装内部，引起药品出现潮解、变色等现象。 图1 泡罩包装 2、标准 目前，密封性能试验主要是参考GB/T 15171-1994《软包装件密封性能试验方法》，该标准适用于各种材料制成的密封软包装件的密封性能试验。 3、试验样品 某品牌颗粒状药品包装用泡罩包装。
4、试验设备 本文采用密封试验仪测试泡罩包装样品的密封性能。 图2 MFY-01密封试验仪 4.1试验原理 本设备是采用压差法测试原理研发。试验时，样品置于密封罐的水中，通过对密封罐内部抽真空，使浸在水中样品的内外产生压差，若样品的密封性较差，在压差的作用下，样品内部的气体会沿样品表面的密封薄弱处向外部溢出，在水中表现为样品表面有连续的气泡产生，或者通过观察样品膨胀及释放真空后形状的恢复情况，判断样品的密封性能。 4.2 适用范围 ●本设备适用于食品、制药、医疗器械、日化、汽车、电子元器件、文具等行业的包装袋、 瓶、管、罐、盒等的密封性能测试，包括玻璃类、塑料类、金属材料类等。适用于跌落、耐压等试验后，试样密封性能的测试。 ●本设备符合多项国家和国际标准，如GB/T 15171、ASTM D3078等。 4.3设备参数 ●真空度为0 ~ -90 KPa。 ●真空室的有效尺寸有3种可供选择，分别为270 mm (直径) × 210 mm (高度)、360 mm (直径) × 585 mm (高度) 、460 mm (直径) × 330 mm (高度)。 ●系统采用数字预置试验真空度及真空保持时间，确保测试数据的准确性。 ●自动恒压补气技术进一步确保测试能够在预设的真空条件下进行。
T软包装件密封性能测试方法
中华人民共和国国家标准 软包装件密封性能试验方法 GB/T 15171－94 Test method for leaks in sealed flexible packages 1主题内容与适用范围 本标准规定了软包装件密封性能的试验方法。 本标准适用于各种材料制成的密封软包装件试验。 2试验目的 本标准可用作以下目的之一的试验： a．比较和评价软包装件的密封工艺及密封性能； b．为确定软包装件密封性能的技术要求提供有关依据； c．试验经跌落、耐压等试验后软包装件的密封性能等。
3术语 3．1软包装件 需具有密封性能的软包装件，其所用包装材料不得有各种针孔、裂口及封口处未封和开封等影响密 封性能的缺陷。 3．2密封性能 软包装件防止其他物质进入或内装物逸出的特性。 4试验原理 4．1方法一 此方法用于在水的作用下，外层材料的性能在试验期间不会显着降低的包装件，如外层采用塑料薄 膜的包装件。 通过对真空室抽真空，使浸在水中的试样产生内外压差，观测试样内气体外逸
或水向内渗入情况， 以此判定试样的密封性能。 4．2方法二 此方法用于在水的作用下，外层材料的性能在试验期间会显着降低的包装件，如外层采用纸质材料 的包装件。 方法二分A、B两种方法，仲裁检验用方法A。 4．2．1方法A 将试样内充入试验液体，封口后将试样置于滤纸上，观察试验液体从试样内向外的泄漏情况。 4．2．2方法B 通过对真空室抽真空，使试样产生内外压差，观测试样膨胀及释放真空后试样形状的恢复情况，以
此判定试样的密封性能。 国家技术监督局1994－08－16批准1995－03－01实施 GB／T 15171－94 5试验装置 试验装置应包括以下部分： 5．1真空室：由透明材料制成的能承受100 kPa压力的真空容器和密封盖组成。 真空容器用于盛放试验液体和试验样品；密封盖用于密封真空室。抽真空时，密封盖应能保证真空 室的密闭性。 试验时，真空室内所能达到的最大真空度应不低于95 kPa，并能在30～60 s 由正常大气压力达到 该真空度。
移动应用的一般测试流程和需要注意的测试项
移动应用的一般测试流程和需要注意的测试项 App测试的时候，建议让开发打好包APK和IPA安装包，测试人员自己安装应用，进行测试。在测试过程中需要注意的测试点如下： 1.安装和卸载 应用是否可以在IOS不同系统版本或android不同系统版本上安装 安装过程中是否可以取消 安装空间不足时是否有相应提示 是否可以删除应用 测试卸载后文件是否全部删除所有的安装文件夹 卸载过程中出现死机，断电，重启情况，待环境恢复后是否可以正确卸载 卸载是否支持取消功能，单击取消后软件卸载情况是否正常 2.运行 App安装完成后，是否可以正常打开软件 App运行时，是否有加载图示 App的速度是可以让人接受，切换是否流畅 3.登录 登录用户名和密码错误时，界面有提示信息 用户主动退出登录后，下次启动App时，应该进入登录界面 对于支持自动登录的App，是否能自动登录成功且数据库操作无误 密码更改后，登录时是否做到了有效数据的校验 对于未登录时一些页面的操作，是否做了控制 切换账号登录，检验登录的信息是否做到及时更新 App切换到后台时，再次切换到前台的测试，如登录时，有电话打进来 对于IOS与android不同设备登录同一个账号时，对个人信息等数据进行操作后，确保数据数库操作无误，且IOS与android设备看到的数据都是最新的。 4.离线 离线是应用程序在本地的客户端会缓存一部分数据以功程序下次调用 对于一些程序，需要在登录进来后，这时没有网络的情况下可以浏览本地数据对于无网络时，刷新获取新数据时，不能获取数据且能给出友好提示 切换到后台，再次切换到前台时，可以正常查看 对界面的数据不提供离线查看，需要给出相应提示且界面更新后无任何数据 确认在无网情况下可以浏览本地数据 确认退出App再开启App时能正常浏览 确认切换到后台再切回App应用时可以正常浏览
软包装件密封性能测试方法
GBT 15171-94[2]软包装件密封性能测试方法 1主题内容与适用范围 本标准规定了软包装件密封性能的试验方法。 本标准适用于各种材料制成的密封软包装件试验。 2试验目的 本标准可用作以下目的之一的试验： a.比较和评价软包装件的密封工艺及密封性能； b.为确定软包装件密封性能的技术要求提供有关依据； c.试验经跌落、耐压等试验后软包装件的密封性能等。 3术语 3.1.软包装件 需具有密封性能的软包装件，其所用包装材料不得有各种针孔、裂口及封口处未封和开封等影响密封性能的缺陷。 3.2.密封性能 软包装件防止其他物质进入或内装物逸出的特性。 4试验原理 4.1.方法一 此方法用于在水的作用下，外层材料的性能在试验期间不会显著降低的包装件，如外层采用塑料薄膜的包装件。
通过对真空室抽真空，使浸在水中的试样产生内外压差，观测试样内气体外逸或水向内渗入情况，以此判定试样的密封性能。 4.2.方法二 此方法用于在水的作用下，外层材料的性能在试验期间会显著降低的包装件，如外层采用纸质材料的包装件。 方法二分A、B两种方法，仲裁检验用方法A。 4.2.1.方法A 将试样内充入试验液体，封口后将试样置于滤纸上，观察试验液体从试样内向外的泄漏情况。 4.2.2.方法B 通过对真空室抽真空，使试样产生内外压差，观测试样膨胀及释放真空后试样形状的恢复情况，以此判定试样的密封性能。 5试验装置 试验装置应包括以下部分： 5.1.真空室：由透明材料制成的能承受100 kPa压力的真空容器和密封盖组成。 真空容器用于盛放试验液体和试验样品；密封盖用于密封真空室。抽真空时，密封盖应能保证真空室的密闭性。 试验时，真空室内所能达到的最大真空度应不低于95 kPa，并能在30～60 s由正常大气压力达到该真空度。 5.2.试样夹具：用于将试样固定在真空室内的试验液体中，其材质和形状不得 对试样性能和试验观测造成影响。
高压变频器控制柜电磁干扰测试报告
编号： 高压变频器控制柜电磁干扰测试报告 编制：刘敏涛 审核： 批准： 发布日期:
目录 1、电磁干扰测试背景 (1) 2、变频器控制柜电磁干扰理论分析 (1) 3、变频器控制柜电磁干扰数据分析 (2) 3.1 一次、二次接地系统对二次线的影响 (2) 3.2真空断路器、真空接触器分合闸对二次线的影响 (4) 3.3微型断路器分合闸对二次线的影响 (5) 3.4继电器分合闸对二次线的影响 (6) 3.5高压上电对二次线的影响 (6) 3.6变频运行对二次线的影响 (7) 3.7 DCS对二次线的影响 (9) 3.8 并网平台通讯线对二次线的影响 (10) 3.9 屏蔽线双绞线效果对比 (11) 4、测试结论与改造建议 (14)
高压变频器控制柜电磁干扰测试报告 1、电磁干扰测试背景 并网测试曲阜项目2800kV A高压变频器时，发现在并网瞬间立即报出“高压开关跳闸、运行过程中用户高压开关跳闸”故障。通过对PLC程序一段一段的监控，发现并网瞬间PLC 接收到了KM3（工频合闸接触器）闭点位置信号，信号很短暂，而KM3合闸位置信合与KM2（变频输出接触器）合闸位置信号是互锁的，如果变频运行的时候PLC检测到KM3闭点位置信号就立马发重故障，发重故障之后跳开用户开关。分析是由于电磁干扰造成KM3误发位置信号。对曲阜项目、威海项目、金大地项目、周口项目、简约集成型项目共11台变频器进行测试，测试的点主要是PLC的输入输出点对地之间的电压，测试用的仪器为示波器和万用表。 2、变频器控制柜电磁干扰理论分析 二次回路干扰形成的主要原因有下列几种: (1)雷电流或者工频短路电流注入接地网所造成的干扰; 雷电流注入接地网会造成电流变化率di/dt很大，造成干扰，对变频器来说，一般安装在室内离防雷接地点较远的位置，所以只要采取合适的隔离措施和选择合格的隔离器件就能减少该干扰，如选择控制电源增加隔离变压器、PLC输入输出自带隔离等。由于没有干扰源，本次无法测试。 (2)工频短路电流注入接地网所造成的干扰; 工频短路电流产生工频共模电压，作用于二次线与地之间,使二次设备处于高电位。由于二次回路的阻抗的不平衡,共模干扰最终会转化成差模干扰电压而影响二次设备的正常工作。对此种干扰采取的最好防护措施是将屏蔽层正确接地。由于没有干扰源，本次无法测试。 (3)接地系统设计不可靠所造成的干扰; 接地系统设计不可靠包括如接地电阻设计不合理（包括变频器接地电阻和厂区接地电阻）、变频器屏蔽线屏蔽层接地不合理，接地点位置设计不合理、一次接地和二次接地点短接等。变频器接地电阻设计一般是根据标准规范选择合适的接地线即可，接地点位置设计主要保证所有接地点就近接地，所以该点本次不做测试。本次主要对一次二次接地系统短接在一起和一次二次接地系统分开接地产生的干扰效果进行测试。 (4)一次、二次设备的操作引起的干扰； 一次设备如断路器、隔离开关的操作,还是二次设备如继电器、控制开关的操作,都会对二次回路产生一定的干扰。变频器内部的主要开关设备包括：真空断路器、真空接触器、380V 风机电源微型断路器、380V预充电电源微型断路器、继电器等设备。本次对该部分接触器操
测试系统中干扰及其形成机理
测试系统中干扰及其形成机理 测试系统中干扰及其形成机理 摘要：阐述了测试系统中的各类干扰，并对其产生的原因作了较详细的分析。针对干扰的特性，指出了它们的危害范围及程度，以便于对其进行抑制，增强抗干扰的效果。关键词：测试系统干扰干扰源随着国民经济和社会生产的迅速发展，测试系统已经广泛应用到科学研究和生产实践的各个领域。由于存在干扰，它对测试系统的稳定度和精确度受到了直接的影响，严重时可使测试系统不能正常工作。因此，从系统的设计、制造、使用方式以及工作环境等各个方面都不得不优先考虑抗干扰问题。所以对干扰的研究是测试技术的重要课题。干扰形成的全过程是由干扰源发出的干扰信号，经过耦合通道达到受感器上，构成整个系统的干扰。干扰的三个环节，称之为干扰系统的三要素，如图1所示。要有效地抑制干扰，首先要找到干扰的发源地，防患于发源处是抑制干扰的积极措施。当产生了难以避免的干扰，削弱通道对干扰的耦合以及提高受感器的抗干扰能力就成为非常重要的方法。为了讨论方便，将干扰源分为来自测试系统外部和同部的两个方面，现分别给予讨论。 1来自测试系统外部的干扰 1.1自然干扰自然干扰包括雷达、大气层的电场变化、电离层变化以及太阳黑子的电磁辐射等。雷电能在传输线上产生辐值很高的高频涌浪电压，对系统形成的干扰。太阳黑子的电磁辐射能量很强，可造成无线通信中断。来自宇宙的自然干扰，只有高频才能穿过地球外层的电离层，频率在几十MHz到200MHz之间，电压一般在μV量级，对低频系统影响甚微。 1.2放电干扰 1.2.1电晕放电最常见的电晕放电来自高压输出线。高压输电线因绝缘失效会产生间隙脉冲电流，形成电晕放电。在输电线垂直方向上的电晕干扰，其电平随频率升高而衰减。当频率低于1MHz 时，衰减微弱；当频率高于1MHz时，急剧衰减。因此电晕放电干扰对高频系统影响不大，而对低频系统影响较为严重，应引起注意。 1.2.2辉光放电辉光放电即气体放电。当两个接点之间的气体被电离时，由于离子磁撞而产生辉光放电，肉眼可见到蓝色的辉光。辉光放电所需电压与接点之间的距离、气体类型和气压有关。荧光灯、霓红灯、闸流管以及工业生产中使用的大型辉光离子氧化炉等，均是利用这一原理制造的辉光放电设备。这类设备对测试系统都是干扰源，
密封胶试验方法
精心整理实验 建筑密封胶下垂度测试试验方法 一、实验目的 检测密封胶下垂度，以判定胶体的流动性 二、实验原理 在规定条件下，将密封胶注入规定尺寸的模具中，在一定温度下以垂直和水平的位置保持规定时间，测出试样流出模具端部的长度，从而依据一定标准判断出其流动性。 三、实验依据 GB16776-2005《建筑用硅酮密封胶》 GB/T13477.6-2002《建筑密封材料试验方法流动性的测定》 四、实验设备配置 下垂度模具，鼓风干燥箱，钢板尺，聚乙烯条 五、试件的制备 将下垂度模具用丙酮等溶剂清洗干净并干燥。把聚乙烯条衬在模具底部，使其盖住模具上部边缘，并固定在外侧，然后把已在（23±2）℃下放置24h 的密封材料用刮刀填入模具内。 六、实验方法与步骤 1垂直方向： a 将制备好的试件立即垂直放置在已调节至（50± 2）℃的干燥箱内，磨具的延伸端向下，见图1，放置24h。 b 从干燥箱中取出试件，用钢板尺在垂直方向上测量每一试件中试样从底面往延伸端向下移动的距离（mm）。 2水平方向 a 将制备好的试件立即水平放置在已调节至（50± 2）℃的干燥箱内，磨具的延伸端向下，见图2，放置24h。 b 从干燥箱中取出试件，用钢板尺在水平方向上测量每一试件中试样超出槽形模具前端的最大距离（mm）。 七、实验结果判定 下垂度在垂直方向上≤ 3mm，水平方向上无变形为合格 八、试验过程注意事项
1制备试件时，避免形成气泡，在模具内表面将密封材料压实，修整密封材料的表面，使其与模具的表面和末端齐平，放松模具背面的聚乙烯条。 2下垂度试验每一试件的下垂值，精确至1mm 3如果试验失败，允许重复一次实验，但只能重复一次。当试样从槽形模具中滑脱时，模具内表面可按生产方的建议进行处理，然后重复进行试验。. 实验二 建筑单组份密封胶挤出性试验方法 一、实验目的 测定单组份密封胶挤出性 二、实验原理 在规定条件下采用压缩空气将密封材料从聚乙烯挤胶筒中挤出至水中，测定一次将全部样品挤出所需时间的长短，判定出胶体的挤出性。 三、实验依据 GB16776-2005《建筑用硅酮密封胶》 GB/T13477.4-2002《建筑密封材料试验方法原包装单组分密封材料挤出性的测定》 四、实验设备配置 聚乙烯挤胶筒、稳压气源、秒表、气动挤抢、恒温箱 五、试件的制备试验前，将待测胶挤入聚乙烯挤胶筒中，放置在（23±2）℃恒温箱中至少 24h。 六、实验方法与步骤 1试验在（18~23）℃下进行 2将试件从恒温箱中取出，插入气动挤抢，升压至（250± 10）kPa。 3一次性将全部样品从筒中挤出，用秒表记录出时间，试验次数为一次。 七、实验结果判定 挤出时间≤ 10s 为合格 实验三 建筑双组份密封胶适用期测定试验方法 一、实验目的检测双组份密封胶适用期，以判定胶体的适用性 、实验原理 在规定条件下，将双组份密封胶混合5min 后，注入挤胶筒中，一定时间后采用压缩空