霍尔效应法测定螺线管磁场分布

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霍尔效应法测量螺线管磁场分布

霍尔效应法测量螺线管磁场分布

霍尔效应法测量螺线管磁场分布霍尔效应法测量螺线管磁场分布1879年美国霍普金斯大学研究生霍尔在研究载流导体在磁场中受力性质时发现了一种电磁现象,此现象称为霍尔效应,半个多世纪以后,人们发现半导体也有霍尔效应,而且半导体霍尔效应比金属强得多。

近30多年来,由高电子迁移率的半导体制成的霍尔传感器已广泛用于磁场测量和半导体材料的研究。

用于制作霍尔传感器的材料有多种:单晶半导体材料有锗,硅;化合物半导体有锑化铟,砷化铟和砷化镓等。

在科学技术发展中,磁的应用越来越被人们重视。

目前霍尔传感器典型的应用有:磁感应强度测量仪(又称特斯拉计),霍尔位置检测器,无接点开关,霍尔转速测定仪,100A-2000A大电流测量仪,电功率测量仪等。

在电流体中的霍尔效应也是目前在研究中的“磁流体发电”的理论基础。

近年来,霍尔效应实验不断有新发现。

1980年德国冯·克利青教授在低温和强磁场下发现了量子霍尔效应,这是近年来凝聚态物理领域最重要发现之一。

目前对量子霍尔效应正在进行更深入研究,并取得了重要应用。

例如用于确定电阻的自然基准,可以极为精确地测定光谱精细结构常数等。

通过本实验学会消除霍尔元件副效应的实验测量方法,用霍尔传感器测量通电螺线管内激励电流与霍尔输出电压之间关系,证明霍尔电势差与螺线管内磁感应强度成正比;了解和熟悉霍尔效应重要物理规律,证明霍尔电势差与霍尔电流成正比;用通电长直通电螺线管轴线上磁感应强度的理论计算值作为标准值来校准或测定霍尔传感器的灵敏度,熟悉霍尔传感器的特性和应用;用该霍尔传感器测量通电螺线管内的磁感应强度与螺线管轴线位置刻度之间的关系,作磁感应强度与位置刻线的关系图,学会用霍尔元件测量磁感应强度的方法.实验原理1.霍尔效应霍尔元件的作用如图1所示.若电流I 流过厚度为d 的半导体薄片,且磁场B 垂直作用于该半导体,则电子流方向由于洛伦茨力作用而发生改变,该现象称为霍尔效应,在薄片两个横向面a 、b 之间与电流I ,磁场B 垂直方向产生的电势差称为霍尔电势差.霍尔电势差是这样产生的:当电流I H 通过霍尔元件(假设为P 型)时,空穴有一定的漂移速度v ,垂直磁场对运动电荷产生一个洛仑兹力)(B v q F B⨯= (1)式中q 为电子电荷,洛仑兹力使电荷产生横向的偏转,由于样品有边界,所以偏转的载流子将在边界积累起来,产生一个横向电场E ,直到电场对载流子的作用力F E =qE 与磁场作用的洛仑兹力相抵消为止,即qE B v q =⨯)( (2)这时电荷在样品中流动时不再偏转,霍尔电势差就是由这个电场建立起来的。

霍尔效应和霍尔效应法测量螺线管磁场

霍尔效应和霍尔效应法测量螺线管磁场

——形成‚具有‘控制变量法’特征的采集实验数 据‛的实验步骤;
•通电螺旋管的磁感应强度的分布
保持激磁电流为 250mA 不变 按照表二要求改变传感器的位置测出对应的 U H 值
霍尔效应和霍尔效应法测量螺线管磁场
五、实验操作 六、数据处理
•霍尔效应的特性研究
解读表1实验数据所能揭示的学科现象
作 U H I B 图,分析现象特征及计算斜率 依据实验数据运用公式计算霍尔元件的灵敏度
U H KH I H B
mA
工作电源


双刀开关 螺线管
V- V+ OUT
霍尔元件
读数视窗
霍尔效应和霍尔效应法测量螺线管磁场
四、实验步骤的策划
依据实验原理的依存条件
——形成‚使霍尔元件处于能满足实验原理所要求
的条件‛的实验步骤
霍尔工作电流的调整
U H KB
V 2.50V
V+
——无磁场状态下,使霍尔元件处于标准工作条件; 通过调节霍尔工作电源,使之 U H
使霍尔元件处于正常工作状态 将霍尔元件放置在长直通电螺线管中(保持螺线管电流不变) 改变霍尔元件在螺线管中的位置,用电压表测量霍尔电压 利用霍尔电压与磁感应强度之间的关系测量B的分布特征
霍尔效应和霍尔效应法测量螺线管磁场
三、实验系统的构建 主要实验部件 —— 基于问题元素:霍尔元件 霍尔元件 ——半导体元件 电路特征—— V+、V-、OUT
霍尔效应和霍尔效应法测量螺线管磁场
四、实验步骤的策划
依据实验参量的因果关系
——形成‚具有‘控制变量法’特征的采集实验数 据‛的实验步骤;
•霍尔效应及其特性研究
按表一要求依次改变螺线管电流:每次改变量 50mA 测出对应的 U H 值

实验十二_霍尔效应法测定螺线管轴向磁感应强度分布

实验十二_霍尔效应法测定螺线管轴向磁感应强度分布

实验十二_霍尔效应法测定螺线管轴向磁感应强度分布置于磁场中的载流体,如果电流方向与磁场垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场,这个现象是霍普斯金大学研究生霍尔于1879年发现的,后被称为霍尔效应。

随着半导体物理学的迅速发展,霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。

通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。

若能测量霍尔系数和电导率随温度变化的关系,还可以求出半导体材料的杂质电离能和材料的禁带宽度。

如今,霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的主要手段,而且随着电子技术的发展,利用该效应制成的霍尔器件,由于结构简单、频率响应宽(高达10GHz )、寿命长、可靠性高等优点,已广泛用于非电量测量、自动控制和信息处理等方面。

在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍尔器件,将有更广阔的应用前景。

了解这一富有实用性的实验,对日后的工作将有益处。

一、实验目的1.掌握测试霍尔元件的工作特性。

2.学习用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。

3.学习用霍尔元件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。

二、实验原理1.霍尔效应法测量磁场原理霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。

对于图(1)(a )所示的N 型半导体试样,若在X 方向的电极D 、E 上通以电流Is ,在Z 方向加磁场B ,试样中载流子(电子)将受洛仑兹力B v e F g = (1)其中e 为载流子(电子)电量, 为载流子在电流方向上的平均定向漂移速率,B 为磁感应强度。

无论载流子是正电荷还是负电荷,F g 的方向均沿Y 方向,在此力的作用下,载流子发生便移,则在Y 方向即试样A 、A´电极两侧就开始聚积异号电荷而在试样A 、A´两侧产生一个电位差V H ,形成相应的附加电场E —霍尔电场,相应的电压V H 称为霍尔电压,电极A 、A´称为霍尔电极。

螺线管磁场测定实验

螺线管磁场测定实验

磁力线是平行于轴线的直线系,渐近两端口时,这些直线变为从两端口离散的曲线,说明其 内部的磁场在很大一个范围内是近似均匀的, 仅在靠近两端口处磁感应强度才显著下降, 呈 现明显的不均匀性。 根据上面理论计算, 长直螺线管一端的磁感应强度为内腔中部磁感应强 度的 1/2。 四三、实验内容 1.霍尔元件输出特性测量 A. 仔细阅读本实验仪使用说明书后, 按图 5-4 连接 THQDX-1 电磁学实验装置上 10mA 恒流源、直流毫伏表、1A 恒流源和实验仪之间相对应的 Is、VH 和 IM 各组连线,Is 及 IM 换 向开关投向上方, 表明 Is 及 IM 均为正值 (即 Is 沿 X 方向, B 沿 Z 方向) , 反之为负值。 VH、 Vσ切换开关投向上方测 VH,投向下方测 Vσ。经教师检查后方可开启测试仪的电源。 注意: 图 5-3 中虚线所示的部分线路即样品各电极及线包引线与对应的双刀开关之间连线已 由制造厂家连接好。 必须强调指出:决不允许将 THQDX-1 电磁学实验装置上的“1A 恒流源”误接到实验仪的 “Is 输入”或“VH 输出” 处,否则一旦通电,霍尔元件即遭损坏!
( 1 2 1 L ) ( D )2 2 2
式中 D 为长直螺线管直径,L 为螺线管长度。 磁感应强度为最大,且等于
1
BO = μ0NI 2 M(
1 L 2 1 1+ ( L )2 ( D )2 2 2
1 1) ( L )2 ( D )2 2 2
1 L 2
=μ0NIM
(11) L D2 由于本实验仪所用的长直螺线管满足 L>>D,则近似认为 BO =μ0 NIM
实验四
螺线管磁场测定实验
霍尔效应法测定螺线管轴向磁感应强度分布 置于磁场中的载流体, 如果电流方向与磁场垂直, 则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附 加的横向电场, 这个现象是霍普斯金大学研究生霍尔于 1879 年发现的, 后被称为霍尔效应。 随着半导体物理学的迅速发展, 霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法 之一。 通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、 载流子浓度、 载流子迁移率等主要参数。 若能测量霍尔系数和电导率随温度变化的关系, 还可以求出半导 体材料的杂质电离能和材料的禁带宽度。 如今, 霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的 主要手段,而且随着电子技术的发展,利用该效应制成的霍尔器件,由于结构简单、频率响 应宽(高达 10GHz) 、寿命长、可靠性高等优点,已广泛用于非电量测量、自动控制和信息 处理等方面。在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍尔器件,将有 更广阔的应用前景。了解这一富有实用性的实验,对日后的工作将有益处。 一、实验目的 1.掌握测试霍尔元件的工作特性。 2.学习用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。 3.学习用霍尔元件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。 二、实验设备 1.QX-2 螺线管磁场实验仪 2.THQDX-1 电磁学实验装置上的 1A 恒流源、10mA 恒流源、直流毫伏表 三、实验原理 1.霍尔效应法测量磁场原理 霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。 当带电粒子 (电子或空穴) 被约束在固体材料中, 这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负 电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。对于图 5-1(a)所示的 N 型半导体 试样,若在 X 方向的电极 D、E 上通以电流 Is,在 Z 方向加磁场 B,试样中载流子(电子) 将受洛仑兹力

霍尔法测量通电螺线管内的磁场分布实验PPT

霍尔法测量通电螺线管内的磁场分布实验PPT

KH IS
K
特性曲线
准备工作:霍尔传感器调节至标准工作状态,并定标
实验原理:霍尔效应测磁场
长直通电螺线管轴线上B的分布 毕奥-萨伐尔定律
B
1 2
0
N 2L
I (cos2
cos1)
螺线管 无限长 有限长

N 2L
I
B中心
1 2
0
2
NI L2 +R2
B两端
1 2
B中心
B两端>
1 2
无接点开关
磁流体发电
确定电阻的自然 测定光谱精细结
基准
构常数
目录
1 实验背景 2 实验原理 3 实验仪器 4 实验步骤
5 实验拓展
磁场的测量
磁场
霍尔效应
特斯拉计-高斯计 霍尔效应
霍尔探头
霍尔效应
什么是霍尔效应?
Edwin Hall 美国
半导体
• 霍尔(Hall)1879年:在长方形导体薄膜上通电流,沿着电 流的垂直方向上施加磁场,就会在与电流和磁场两者垂直
霍尔效应测磁场长直通电螺线管轴线上b的分布coscos螺线管无限长有限长中心两端两端中心两端中心中心实验仪器待测磁场长直通电螺线管位置测量测量工具霍尔传感器电路工作电路测量电路导线开关实验仪器实验步骤测量通电螺线管内轴线上的磁感应强度bxcmmvbmt1002003000000mv实验步骤思考
霍尔法测量通电螺线管内 的磁场分布
的方向上产生电势差。
• 半个世纪以后人们发现半导体也有霍尔效应,并且比金属 材料还要强
霍尔效应
霍尔效应如何测磁场?
UH KH ISB
UH
B
KH:霍尔元件的灵敏度(~d).

霍尔元件测定螺线管轴向磁场分布.

霍尔元件测定螺线管轴向磁场分布.

VH 值偏大(当 VH 与 VO 同号)或偏小(当 VH 与 VO 异号)。当然,还有其他的副效应也会给测量带来 误差。但是,在非强磁场和非大电流条件下,所有这些副效应给测量带来的误差都可以用电流
IS 和磁场 B 换向的对称测量法予以消除。具体的说,就是保持电流 IS 和磁场 B(即 IM)的大小不变, 并设定电流 IS 和磁场 B 的方向后,依次测量由下列四组不同方向的 IS 和 B 组合的 A、A′两点之 间电压 V1、V2、V3 和 V4 ,即
图 6.24 霍尔效应测试仪电路图
出 VH—IM 曲线。 2.测绘螺线管轴线上磁感应强度的分布 取 IS=10.00mA,XM=0.800A,测试过程中保持不变。 (1)调节旋纽 X1、X2,使测距尺读数 X1=0.00cm, X2=0.00cm。先保持 X2=0.00cm,调节
X1,使 X1 分别停留在 0.00cm、0.50cm、1.00cm、1.50cm、2.00cm、5.00cm、8.00cm、11.00cm、 14.00cm 处读数,再保持 X1=14.00cm,调节 X2 旋钮,使 X2 分别停留在 3.00cm、6.00cm、9.00cm、 12.00cm、12.50cm、13.00cm、13.50cm、14.00cm 处读数,按对称测量法测出各相应位置的 V1、 V2、V3 和 V4 值,并计算相应的 VH 和 B 值,记入相应的数据表格中。(探头离中心位置 X=14.00- X1-X2。)
设薄片内载流子浓度为 n ,则
IS=nevbd
(2)
由式(1) 、(2)可得:
VH
=
EHb =
1 ne
IsB d
=
RH
IsB d
(3)
其中,VH 为 AA′两电极间电压,称为霍尔电压,

霍尔效应法测量螺线管磁场

霍尔效应法测量螺线管磁场

研胳wZprtf霍尔效应法测量螺线管磁场实验报告【实验目的】1•了解霍尔器件的工作特性。

2•掌握霍尔器件测量磁场的工作原理。

3•用霍尔器件测量长直螺线管的磁场分布。

4.考查一对共轴线圈的磁耦合度。

【实验仪器】长直螺线管、亥姆霍兹线圈、霍尔效应测磁仪、霍尔传感器等。

【实验原理】1•霍尔器件测量磁场的原理图1霍尔效应原理如图1所示,有—N型半导体材料制成的霍尔传感器,长为L,宽为b,厚为d,其四个侧面各焊有一个电极1、2、3、4。

将其放在如图所示的垂直磁场中,沿3、4两个侧面通以电流I,则电子将沿负I方向以速ur ir u度运动,此电子将受到垂直方向磁场B的洛仑兹力F m ev e B作用,造成电子在半导体薄片的1测积累urn过量的负电荷,2侧积累过量的正电荷。

因此在薄片中产生了由2侧指向1侧的电场E H,该电场对电子ur uuu uir n ir的作用力F H eE H,与F m ev e B反向,当两种力相平衡时,便出现稳定状态,1、2两侧面将建立起稳定的电压U H,此种效应为霍尔效应,由此而产生的电压叫霍尔电压U H , 1、2端输出的霍尔电压可由数显电压表测量并显示出来。

如果半导体中电流I是稳定而均匀的,可以推导出式中,R H为霍耳系数,通常定义K H R H /d ,由R H和K H的定义可知,对于一给定的霍耳传感器,R H和K H有唯一确定的值,在电流I不变的情况下,U H R HU H满足:世K H IB , dK H称为灵敏度。

研島加吋与B有一一对应关系。

2•误差分析及改进措施由于系统误差中影响最大的是不等势电势差,下面介绍一种方法可直接消除不等势电势差的影响,不用多次改变B、丨方向。

如图2所示,将图2中电极2引线处焊上两个电极引线5、6,并在5、6间连接一可变电阻,其滑动端作为另一引出线2, 将线路完全接通后,可以调节滑动触头2,使数字电压表所测电压为零,这样就消除了1、2两引线间的不等势电势差,而且还可以测出不等势电势差的大小。

霍尔效应法测定螺线管磁场分布

霍尔效应法测定螺线管磁场分布

实验四 霍尔效应法测定螺线管磁场分布霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应。

1879年美国霍普金斯大学研究生霍尔在研究金属导电机理时发现了这种电磁现象,故称霍尔效应。

后来曾有人利用霍尔效应制成测量磁场的磁传感器,但因金属的霍尔效应太弱而未能得到实际应用。

随着半导体材料和制造工艺的发展,人们又利用半导体材料制成霍尔元件,由于半导体材料的霍尔效应显著而得到了发展,现在广泛用于非电量的测量、电动控制、电磁测量和计算装置方面。

一、实验目的1.了解霍尔效应现象,掌握其测量磁场的原理。

2.测绘霍尔元件的S H I -U ,M H I -U 曲线,了解霍尔电压H U 与霍尔元件工作电流S I ,霍尔电压H U 与励磁电流M I 之间的关系。

3.学会用霍尔效应测量长直通电螺线管轴向磁场分布的方法。

4.学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二、实验仪器螺线管磁场实验仪,电压表,电流表,电流源。

三、实验原理1.霍尔效应图4-1 霍尔效应霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在两侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如图4-1所示,磁场B 位于z 的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x 正方向通以电流S I (称为工作电流),假设载流子为电子(N 型半导体材料),它沿着与电流S I 相反的x 负向运动。

由于洛仑兹力L F 作用,电子向图中虚线箭头所指的y 轴负方向偏转,并使B 侧电子积累,A 侧正电荷积累,形成从A 到B 的电场,这个电场称为霍尔电场H E ,相应的电势差称为霍尔电压H U 。

此时,运动的电子受到向上的电场力E F 的作用,随着电荷的积累,E F 增大,当两力大小相等时,电子积累达到动态平衡。

设电子以平均速度v 向x 负方向运动(图1),在磁场B 的作用下,电子所受的洛仑兹力为B v e F L =式中,e 为电子电量,v 为电子漂移平均速度,B 为磁感应强度。

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实验四 霍尔效应法测定螺线管磁场分布霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应。

1879年美国霍普金斯大学研究生霍尔在研究金属导电机理时发现了这种电磁现象,故称霍尔效应。

后来曾有人利用霍尔效应制成测量磁场的磁传感器,但因金属的霍尔效应太弱而未能得到实际应用。

随着半导体材料和制造工艺的发展,人们又利用半导体材料制成霍尔元件,由于半导体材料的霍尔效应显著而得到了发展,现在广泛用于非电量的测量、电动控制、电磁测量和计算装置方面。

一、实验目的1.了解霍尔效应现象,掌握其测量磁场的原理。

2.测绘霍尔元件的S H I -U ,M H I -U 曲线,了解霍尔电压H U 与霍尔元件工作电流S I ,霍尔电压H U 与励磁电流M I 之间的关系。

3.学会用霍尔效应测量长直通电螺线管轴向磁场分布的方法。

4.学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二、实验仪器螺线管磁场实验仪,电压表,电流表,电流源。

三、实验原理1.霍尔效应图4-1 霍尔效应霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在两侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如图4-1所示,磁场B 位于z 的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x 正方向通以电流S I (称为工作电流),假设载流子为电子(N 型半导体材料),它沿着与电流S I 相反的x 负向运动。

由于洛仑兹力L F 作用,电子向图中虚线箭头所指的y 轴负方向偏转,并使B 侧电子积累,A 侧正电荷积累,形成从A 到B 的电场,这个电场称为霍尔电场H E ,相应的电势差称为霍尔电压H U 。

此时,运动的电子受到向上的电场力E F 的作用,随着电荷的积累,E F 增大,当两力大小相等时,电子积累达到动态平衡。

设电子以平均速度v 向x 负方向运动(图1),在磁场B 的作用下,电子所受的洛仑兹力为B v e F L =式中,e 为电子电量,v 为电子漂移平均速度,B 为磁感应强度。

同时,电场作用于电子上的电场力的大小为l eU eE F H H E /==,式中H E 为霍尔电场强度,H U 为霍尔电压,l 为霍尔元件宽度,当达到动态平衡时,E L F F =,即H eE B v e = (1)设霍尔元件厚度为d ,载流子浓度为n ,则霍尔元件的工作电流为ld v ne I S = (2)由(1)式和(2)两式可得dBI R d B I ne l E U S H S H H ===1 (3)即霍尔电压H U (A 、B 间电压)与S I 和B 的乘积成正比,与霍尔元件的厚度d 成反比,比例系数ne R H 1=称为霍尔系数(严格来说,对于半导体材料,在弱磁场下应引入一个修正因子83π=A ,从而有neR H 183π=),它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导率μσne =的关系,还可以得到σμ/=H R (4)式中μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用N 型半导体材料,当霍尔元件的材料和厚度确定时,ned d R K H /1/H == (5)将式(5)代入式(3)中得B I K S H H U = (6)式中H K 称为元件的灵敏度,它表示霍尔元件在单位磁感应强度和单位控制电流下的霍尔电压的大小,其单位为)/(T mA mV ⋅,一般要求H K 愈大愈好。

由于金属的电子浓度()n 很高,所以它的H R 或H K 都不大,因此不适宜作霍尔元件。

此外元件厚度d 愈薄,H K 愈高,所以制作时,往往采用减少d 的办法来增加灵敏度,但不能认为d 愈薄愈好,因为此时元件的输入和输出电阻将会增加。

本实验霍尔片的厚度0.2mm =d ,宽度 2.5mm =l ,长度3.5mm =l 。

应当注意:当磁感应强度B 和元件平面法线成一角度时(如图4-2),作用在元件上的有效磁场是其法线方向上的分量θcos B ,此时,θcos U H H B I K S =,所以一般在使用时应调整元件两平面方位,使H U 达到最大,即:0=θ,这时有B I K B I K S S H H H cos U ==θ (7)由式(7)可知,当工作电流S I 或磁感应强度B 两者之一改变方向时,霍尔电压H U 方向随之改变;若两者方向同时改变,则霍尔电势H U 极性不变。

图4-2 磁场与霍尔元件不垂直图4-3霍尔元件测量磁场的电路霍尔元件测量磁场的基本电路如图4-3,将霍尔元件置于待测磁场的相应位置,并使元件平面与磁感应强度B 垂直,在其控制端输入恒定的工作电流S I ,霍尔元件的霍尔电压输出端接毫伏表,测量霍尔电压H U 的值。

2.通电螺线管的磁场图4-4 螺线管磁场分布图4-4所示的是长直螺线管的磁感线分布,由图可知,其内腔中部磁感线是平行于轴线的直线,渐近两端口时,这些直线变为从两端口离散的曲线,说明其内部的磁场在很大范围内是均匀的,仅在靠近两端口处磁感应强度显著下降,呈现明显的不均匀性。

根据比奥-萨伐尔)Savat Biot (-定律,通电长直螺线管轴线上中心点的磁感应强度为:22DL NI B M+=μ中心 (8)理论计算可得,长直螺线管轴线上两端点的磁感应强度为内腔中部磁感应强度的1/2222121DL NI B B M+==μ中心端面 (9)式中μ为磁介质的磁导率,真空中的磁导率)/(10470A m T ⋅⨯=-πμ,N 为螺线管的总匝数,M I 为螺线管的励磁电流,L 为螺线管的长度,D 为螺线管的平均直径。

3.霍尔电压H U 的测量方法值得注意的是,在产生霍尔效应的同时,因伴随着各种副效应,以致实验测得的A 、A '两极间的电压并不等于真实的霍尔电压H U 值,而是包含着各种副效应所引起的附加电压,因此必须设法消除。

根据副效应产生的机理可知,采用电流和磁场换向的对称测量法,基本上能把副效应的影响从测量结果中消除。

即在规定了电流和磁场正、反方向后,分别测量由下列四组不同方向的S I 和B 组合的A A 'U ('A 、A 两点的电压)即:S I ,B ++ 1'U U =A AS I ,B +- 2'U U =A A S I ,B -- 3'U U =A A S I ,B -+ 4'U U =A A然后求1U 、2U 、3U 和4U 的代数平均值:4U U U U U 4321H -+-=(10)采用上述的测量方法,虽然还不能完全消除所有的副效应,但由于其它副效应引入的误差不大,故忽略不计。

四、技术性能1.主机(1)线圈励磁电源:A I M 000.1~0=,连续可调,由三位半数字电表指示。

(2)霍尔元件工作电流:mA I S 00.10~0=,连续可调,由三位半数字电表指示。

(3)霍尔电压量程:mV 99.199~0,由四位半数字毫伏表指示。

2.螺线管(1)螺线管长度:26.0cm L =,螺线管内径 2.0cm =Φ,外径 3.9cm =Φ。

(2)螺线管匝数:102600N ±=匝。

五、实验仪器介绍图4-5 螺线管磁场仪螺线管磁场实验仪由四端霍尔传感器探测棒、螺线管、励磁电源、霍尔工作电流、毫伏表。

霍尔电压、霍尔电流、励磁电流由大号船型开关换向。

其仪器组成外型如图4-5所示。

1为H U 电压输入及霍尔电压指示,2为S I 电流输出及霍尔电流指示,3为M I 电流输出及励磁电流指示,4为电源开关及电源指示,5为M I 励磁电流输入端及电流换向开关,6为S I 电流输入端及霍尔电流换向开关,7为H U 电压输出及霍尔电压换向开关,8为霍尔片移动探测杆,9为移动杆支座及刻度线,10为螺线管。

六、实验步骤1.实验连接线 如图4-6所示。

图4-6 线路图(1)开机或关机前,应该将测试仪的“S I 调节”和“M I 调节”旋钮逆时针旋到底。

(开机预热10分钟后开始实验)(2)按仪器面板上的文字和符号提示将螺线管(主机)与螺线管(附件)正确连接。

(3)将(主机)面板的励磁电流M I 端,接上(附件)上的M I 励磁电流端。

(4)将(主机)面板的S I 霍尔电流端,接(附件)上S I 霍尔电流端。

(将红接线柱与红接线柱对应相连,黑接线柱与黑接线柱对应相连)。

(5)将(主机)面板的H U 霍尔电压端,接(附件)上H U 霍尔电压端 (将红接线柱与红接线柱对应相连,黑接线柱与黑接线柱对应相连)。

(6)霍尔电流和励磁电流在换向后等待几秒后读取数据 2.测绘S H I -U 曲线顺时针转动“M I 调节”旋钮,使A I M 3.0=固定不变,再调节S I ,从mA 00.1到mA 00.6,每次改变mA 00.1,将对应的实验数据H U 值填入表1中。

(注意,测量每一组数据时,都要将M I 和S I 改变极性,从而每组都有4个H U 值)。

3.测绘M H I -U 曲线调节mA I S 3.00=固定不变,然后调节M I ,A A I M 6.0~1.0=每次增加A 1.0,将对应的实验数据H U 值填入表2中,极性改变同上。

4.测绘x H -U 曲线调节A I M 3.0=固定不变,调节mA I S 3.00=固定不变,然后移动霍尔传感器拉杆,每次移动cm 0.1,将对应的实验数据H U 值填入表3中,极性改变同上。

螺线管两端要多测量几个数据。

七、实验数据1.测量霍尔电压H U 与工作电流S I 的关系 1)先将M I ,S I 调零。

2)将霍尔元件移至螺线管中心13cm 处,调节A I M 3.0=,S I 每次递增mA 00.1,分别测量霍尔电压H U 值(1U 、2U 、3U 和4U )填入表1中。

3)绘出S HU I -曲线,验证线性关系。

表1 S HU I -的关系,A I M 3.0=。

2.测量霍尔电压H U 与励磁电流M I 的关系 1)先将M I ,S I 调零。

2)将霍尔元件移至螺线管中心13cm 处,调节A I 3.00m S =。

M I 每次递增A 0.1,分别测量霍尔电压H U 值(1U 、2U 、3U 和4U )填入表2中。

3)绘出M H U I -曲线,验证线性关系的范围, 表2 M H U I -的关系,A I 3.00m S =。

2.测量霍尔电压H U 与x 的分布 1)先将M I ,S I 调零。

2)将霍尔元件传感器探测杆移动0-28 cm ,调节A I 3.00m S =,调节A I M 3.0=,分别测量霍尔电压H U 值(1U 、2U 、3U 和4U )填入表2中。

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