微电子概论--封装与测试

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集成电路封装与测试_毕业设计论文

集成电路封装与测试_毕业设计论文

毕业设计(论文)集成电路封装与测试摘要IC封装是一个富于挑战、引人入胜的领域。

它是集成电路芯片生产完成后不可缺少的一道工序,是器件到系统的桥梁。

封装这一生产环节对微电子产品的质量和竞争力都有极大的影响。

按目前国际上流行的看法认为,在微电子器件的总体成本中,设计占了三分之一,芯片生产占了三分之一,而封装和测试也占了三分之一,真可谓三分天下有其一。

封装研究在全球范围的发展是如此迅猛,而它所面临的挑战和机遇也是自电子产品问世以来所从未遇到过的;封装所涉及的问题之多之广,也是其它许多领域中少见的,它需要从材料到工艺、从无机到聚合物、从大型生产设备到计算力学等等许许多多似乎毫不关连的专家的协同努力,是一门综合性非常强的新型高科技学科。

媒介传输与检测是CPU封装中一个重要环节,检测CPU物理性能的好坏,直接影响到产品的质量。

本文简单介绍了工艺流程,机器的构造及其常见问题。

关键词:封装媒介传输与检测工艺流程机器构造常见问题AbstractIC packaging is a challenging and attractive field. It is the integrated circuit chip production after the completion of an indispensable process to work together is a bridge device to the system. Packaging of the production of microelectronic products, quality and competitiveness have a great impact. Under the current popular view of the international community believe that the overall cost of microelectronic devices, the design of a third, accounting for one third of chip production, packaging and testing and also accounted for a third, it is There are one-third of the world. Packaging research at the global level of development is so rapid, and it faces the challenges and opportunities since the advent of electronic products has never been encountered before; package the issues involved as many as broad, but also in many other fields rare, it needs to process from the material, from inorganic to polymers, from the calculation of large-scale production equipment and so many seem to have no mechanical connection of the concerted efforts of the experts is a very strong comprehensive new high-tech subjects .Media transmission and detection CPU package is an important part of testing the physical properties of the mixed CPU, a direct impact on product quality. This paper describes a simple process, the structure of the machine and its common problems.Keyword: Packaging Media transmission and detectionTechnology process Construction machinery Frequently Asked Questions目录第一章引言 (5)1.1集成电路封装定义和分类 (5)1.2集成电路的封装技术的发展 (7)第二章封装测试流程概述 (13)2.1封装 (13)2.2测试 (14)2.3 FINISH (14)第三章媒介传输与检测设备 (15)3.1适用范围 (15)3.2流程要求 (16)3.2.1流程说明 (19)3.2.2所需设备 (20)3.2.3所需物料 (20)3.2.4设施要求 (20)3.2.5工艺、设备和产品参数 (21)3.3设备说明 (23)3.3.1设备结构 (23)3.3.2设备控制 (31)3.3.3设备启动与停机 (35)3.4常见问题...................................... 错误!未定义书签。

微电子器件测试与封装-第四章

微电子器件测试与封装-第四章
•饱和压降即器件导 通时的压降,饱和 压降越小损耗越小 ,发热量越低
•SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
•双极晶体管的测试
• Page 20
•内容|半导体器件测试
•双极晶体管的测试
•hFE-共发射极低频小信号输出交流短路电流放大系数 •β-当集电极电压与电流为规定值时,Ic与Ib之比,即β =IC/IB 。 • 一般数值上hFE= β,测试条件VCE= IC=
• 芯片测试(中测) • 成品测试(成测)
•SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
• Page 7
•内容|半导体器件测试
ห้องสมุดไป่ตู้
•器件的符号
•D
•G •S
•SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
• Page 8
•内容|半导体器件测试
•器件的测试
•内容|半导体器件测试
•BVEBO-C极开路时 EB的反向击穿电压
•双极晶体管的测试
•SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
• Page 19
•内容|半导体器件测试
•1、VBESAT:三极 管在饱和状态时输 入的正向压降 •2、VCESAT:三极 管在饱和状态时集 电极-发射极间的 压降,也叫饱和压 降
•二极管的参数
•内容|半导体器件测试
•器件的测试
• 半导体器件测试的目的 :
• 检验产品能否符合技术指标的要求 • 剔除不良品 • 根据参数进行分选 • 可靠性筛选
• 测试内容:
• 静态电参数 • 动态电参数 • 热阻 • 可靠性测试
•根据不同环境,可分为:

微电子器件测试与封装-第四章

微电子器件测试与封装-第四章
DTS-1000分立器件测试系统 TESEC 881测试系统 JCT-200测试系统 联动科技分立器件测试系统
3/4/2014
内容|半导体器件测试
热阻测试仪
TESEC KT-9614热阻测试仪 TESEC KT-9414热阻测试仪
可靠性测试设备介绍
EAS测试系统
ITC5500 EAS测试系统 TESEC 3702LV测试系统 觉龙 T331A EAS测试系统
SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
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内容|半导体器件测试
双极晶体管的测试
热阻(RTH)-阻碍热流散发的物理参数,是表 征晶体管工作时所产生的热量向外界散发的 能力 由于直接测热阻很困难,以测dvbe来测试三 极管的热阻 条件: VCB=25V IE=? IM=6mA PT=70ms DT=70ms UPP=120mv LOW=40mv
G S
• 4.VTH: Gate Threshold Voltage
• 5.RDSON: Static Drain-to-Source On-Resistance • 6.VFSD:Diode Forward Voltage
• 7.GMP:GFS
• 8.VP: Pinch-Off Voltage
SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD
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内容|半导体器件的测试
MOSFET的测试
• 1.測試項目(IGSS),測試線路 如右:
• IGSS:此為在閘極周圍所介入的氧化膜的洩
極電流,此值愈小愈好,當所加入的電壓, 超過氧化膜的耐壓能力時,往往會使元件遭 受破壞。

集成电路设计基础—封装与测试

集成电路设计基础—封装与测试
(1)划片槽与焊盘 在一个晶圆上分布着许多块集成电路,在封装时要将各块 集成电路切开。这个切口就叫划片槽。
划片槽示意图
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《集成电路设计基础》
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集成电路设计中的封装考虑
(2)高速芯片封装 在高频和高速系统设计时,不同封装形式的引脚的寄生参 数必须加以考虑 。
几种封装形式下引脚的寄生电容和电感的典型值
功能测试 只对在集成电路设计之初所要求的运算功能或逻辑功 能是否正确进行测试。
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《集成电路设计基础》
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数字集成电路测试技术
数字集成电路测试技术中要解决的问题主要有:故障模型的 提取,测试矢量的生成技术,电路的可测试结构设计方法等。
(1)固定故障模型
故障模型就是将物理缺陷的影响模型化为逻辑函数的逻辑 及时延等方面的特征。目前用得最多的故障模型是单固定 型故障,即是任何时候电路中只有一条信号线固定为0 (或1)值,无论电路输入取什么值时该线取值不变。
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集成电路封装的内容
(3) 保证自硅晶圆的减薄、划片和分片开始,直到芯片粘 接、引线键合和封盖等一系列封装所需工艺的正确实施, 达到一定的 规模化和自动化;
(4) 在原有的材料基础上,提供低介电系数、高导热、高机 械强度等性能优越的新型有机、无机和金属材料;
(5) 提供准确的检验测试数据,为提高集成电路封装的性能 和可靠性提供有力的保证。
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§ 12.1集成电路封装技术基础
• 集成电路封装对集成电路有着极其重要 的作用,主要有以下四个方面:
2021/4/5
《集成电路设计基础》
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集成电路封装的作用
(1)对集成电路起机械支撑和机械保护作用。 (2)对集成电路起着传输信号和分配电源的作用。 (3)对集成电路起着热耗散的作用。 (4)对集成电路起着环境保护的作用。

第14章微电子概论封装

第14章微电子概论封装

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封装


PLCC:plastic leaded chip carrier,带引线的 塑料芯片载体。表面贴装型封装之一。引脚从封装的 四个侧面引出,呈丁字形,是塑料制品。 Leadless Carrier:无引脚芯片载体。指陶瓷基板 的四个侧面只有电极接触而无引脚的表面贴装型封装。 是高速和高频IC用封装。
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封装中的问题 2. 45度规则: 位于拐角处的压焊线和旁边的压焊块靠得很近, 这样很容易引起短路。 压焊线与芯片边缘所形成的夹角应保持在45 度角之内。称之为“45度规则”。
45o 45o
short circuit
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封装中的问题 3. 使si的重叠最小: 最边上的压焊块没有放在芯片的角上,所以压 焊块和硅片重叠的部分太多。 这样压焊线可能会下垂或掉下来,造成电路短 路。所以必须尽可能缩短未使用硅片部分之上 的压焊线。
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尺寸估计 1. 压焊块限制设计: pad-limited design 对封装的选择在很大程度上取决于芯片的尺寸。 压焊块限制设计:根据信号数量所需要的压焊 块数目来确定芯片的最小尺寸。 弄清楚压焊块之间所要求的最小间距,把这些 压焊块尽可能靠紧排列在一个矩形中。
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尺寸估计 1. 压焊块限制设计: pad-limited design
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压焊方法 2. 超声球形压焊:


给导线加上一个高电压脉冲使金属线头在没有碰到压焊块 之前就已经熔化。线头一熔化就用一个以超声速度振荡的 小套管把它定位在压焊块上。当把导线压焊在压焊块上时 小套管的振荡进一步提供了能量来加热导线。 由于不用楔形物来捶击,不会出现诸多机械方面的问题。 导线也不会像楔形压焊时那样留下一个伸出来的小尾巴。

集成电路封装与测试

集成电路封装与测试

集成电路封装与测试一:封装1.集成电路封装的作用大体来说,集成电路封装有如下四个作用:(l)对集成电路起机械支撑和机械保护作用。

集成电路芯片只有依托不同类型的封装才能应用到各个领域的不同场所,以满足整机装配的需要(2)对集成电路起着传输信号和分配电源的作用。

各种输人输出信号和电源地只有通过封装上的引线才能将芯片和外部电子系统相沟通,集成电路的功能才能得到实现和发挥(3)对集成电路起着热耗散的作用。

集成电路加电工作时,会因功耗而发热,特别是功率集成电路,工作时芯片耗散热量大。

这些热量若不散发掉,就会使芯片温升过高,从而影响电路的性能或造成电路失效,因此,必须通过封装来散发芯片热量,以保证集成电路的性能和可靠性(4)对集成电路起着环境保护的作用。

集成电路芯片若无封装保护,将受污染等环境损伤,性能无法实现。

由于集成电路的应用愈来愈广泛,多数集成电路必须能耐各种恶劣环境的影响,因此,封装对集成电路各种性能的正确实现起着重要的保证作用电路的发展受广泛应用前景的驱动、而集成电路的封装又随着集成电路的发展而发展。

没有集成电路封装的发展,集成电路的发展就很难实现。

由此可见,集成电路封装对集成电路有着极其重要的作用2.集成电路封装的内容归纳起来至少有以下几个方面:(1)根据集成电路的应用要求,通过定的结构设计、工艺设计、电设计、热设计和可靠性设计制造出合格的外壳或引线框架等主要零部件,并不断提高设计、工艺技术,以适应集成电路发展的需要;(2)按照整机要求和组装需要,改进封装结构、确定外形尺寸,使之达到通用化、标准化,并向多层次、窄节距、多引线、小外形和高密度方向发展;(3)保证自硅晶圆的减薄、划片和分片开始,直到芯片粘接、引线键合和封盖等-系列封装所需工艺的正确实施,达到一定的规模化和自动化,并不断研制开发新工艺、新设备和新技术,以提高封装工艺水平和质量,同时努力降低封装成本:(4)随着集成电路封装日益发展的需要,在原有的材料基础上,需进一步提供低介电系数、高导热、高机械强度等性能优越的新型有机、无机和金属材料;(5)完善和改进集成电路封装的检验手段,统一检验方法,并加强工艺监测和质量控制,提供准确的检验测试数据,为提高集成电路封装的性能和可靠性提供有力的保证集成电路封装对器件性能的影响越来越大,某些集成电路的性能受封装技术的限制与受集成电路芯片性能的限制几乎相同,甚至更大。

(完整版)微电子封装必备答案

(完整版)微电子封装必备答案

微电子封装答案微电子封装第一章绪论1、微电子封装技术的发展特点是什么?发展趋势怎样?(P8、9页)答:特点:(1)微电子封装向高密度和高I/O引脚数发展,引脚由四边引出向面阵排列发展。

(2)微电子封装向表面安装式封装发展,以适合表面安装技术。

(3)从陶瓷封装向塑料封装发展。

(4)从注重发展IC芯片向先发展后道封装再发展芯片转移。

发展趋势:(1)微电子封装具有的I/O引脚数将更多。

(2)微电子封装应具有更高的电性能和热性能。

(3)微电子封装将更轻、更薄、更小。

(4)微电子封装将更便于安装、使用和返修。

(5)微电子封装的可靠性会更高。

(6)微电子封装的性能价格比会更高,而成本却更低,达到物美价廉。

2、微电子封装可以分为哪三个层次(级别)?并简单说明其内容。

(P15~18页)答:(1)一级微电子封装技术把IC芯片封装起来,同时用芯片互连技术连接起来,成为电子元器件或组件。

(2)二级微电子封装技术这一级封装技术实际上是组装。

将上一级各种类型的电子元器件安装到基板上。

(3)三级微电子封装技术由二级组装的各个插板安装在一个更大的母板上构成,是一种立体组装技术。

3、微电子封装有哪些功能?(P19页)答:1、电源分配2、信号分配3、散热通道4、机械支撑5、环境保护4、芯片粘接方法分为哪几类?粘接的介质有何不同(成分)?。

(P12页)答:(1)Au-Si合金共熔法(共晶型) 成分:芯片背面淀积Au层,基板上也要有金属化层(一般为Au或Pd-Ag)。

(2)Pb-Sn合金片焊接法(点锡型) 成分:芯片背面用Au层或Ni层均可,基板导体除Au、Pd-Ag外,也可用Cu(3)导电胶粘接法(点浆型) 成分:导电胶(含银而具有良好导热、导电性能的环氧树脂。

)(4)有机树脂基粘接法(点胶型) 成分:有机树脂基(低应力且要必须去除α粒子)5、简述共晶型芯片固晶机(粘片机)主要组成部分及其功能。

答:系统组成部分:1 机械传动系统2 运动控制系统3 图像识别(PR)系统4 气动/真空系统5 温控系统6、和共晶型相比,点浆型芯片固晶机(粘片机)在各组成部分及其功能的主要不同在哪里?答:名词解释:取晶、固晶、焊线、塑封、冲筋、点胶第二章芯片互连技术1、芯片互连的方法主要分为哪几类?各有什么特点?(P13页)答:(1)引线键合(WB)特点:焊接灵活方便,焊点强度高,通常能满足70um以上芯片悍区尺寸和节距的焊接需要。

集成电路封装与测试-第一章

集成电路封装与测试-第一章
“集成电路(IC)“是指微小化的或微电子的器件,它将这样的一些元 件如三极管、电阻、介电体、电容等集成为一个电学上的电路,使致 具有专门的功能。
“Packaging” is defined as the bridge that interconnects the ICs and other components into a system-level board to form electronic products
单边 引脚
SIP
ZIP
(单列引脚式封装) (交叉引脚式封装)
QFP
PLCC
双边
(四侧引脚扁平封装) (无引线塑料封装载体 ) 引脚
CLCC (无引线陶瓷封装载体 )
底部 引脚
DIP (双列式封装)
PGA (针脚阵列封装)
BGA (球栅阵列式封装)
表面贴装型
引脚插入型
② 按主要使用材料来分,有 裸芯片 金属封装 (6 ~ 7)%
4~5%
4.1 IC封装的发展趋势
16.8~27.4%
2003 2004
IC封装产量仍以平均4~5年一个增长周期在增长。 2000年是增长率最高的一年(+15%以上)。 2001年和2002年的增长率都较小。 半导体工业可能以“三年养五年” !
4.2 技术发展趋势
△ 芯片封装工艺: 从逐个管芯封装到出现了圆片级封装,即先将圆片 划片成小管芯, 再逐个封装成器件,到在圆片上完 成封装划片后就成器件。
晶体管的发明,最早可以追溯到1929年,当时工 程师利莲费尔德就已经取得一种晶体管的专利。 但是,限于当时的技术水平,制造这种器件的材 料达不到足够的纯度,而使这种晶体管无法制造 出来。
三人获得了1956年 诺贝尔物理学奖
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封装的形式和类型
分立器件
TO系列
集 成 电 路
双列直插型 DIP
带引线芯片载体 PLCC CLCC
四侧引脚扁平封装 QFP
阵列引脚PGA
球栅阵列 BGA
封装的发展进程


结构方面是TO→DIP→LCC→QFP→BGA →CSP;
材料方面是金属、陶瓷→陶瓷、塑料→塑料;
引脚形状是长引线直插→短引线或无引线贴装 →球状凸点; 装配方式是通孔插装→表面贴装(SMT)→直 接安装
合金烧结
一般分离的二极管、晶体管等要以衬 底作为一个引出电极,这就要求芯片和金 属基座之间形成一层低电阻的导通焊接层; 在粘贴之前,要做一次背面欧姆接触的金 属化处理。通常采用背面蒸金和化学镀镍 的方法。
烧结方法

1)银浆烧结 应用:小功率晶体管或者结深较浅的超高频 或者微波小功率晶体管 2)金锑合金 应用:大功率晶体管,管芯与管座形成低 阻欧姆接触,具有良好的导热性。 烧结温度要高于金硅熔点377°C, 3)铅锡合金 应用:大功率晶体管,常用氢气连续烧结或 抽真空烧结。
特点
1、适合在PCB(印刷电路板)上穿孔焊接,操作方便。 2、芯片面积与封装面积之间的比值较大,故体积也较大。 Intel系列CPU中8088就采用这种封装形式,缓存(Cache)和早期的 内存芯片也是这种封装形式。
芯片载体封装

80年代出现了芯片载体封装,这些 载体的封装形 式包括: 无线陶瓷芯片载体LCCC (Leadless Ceramic Chip Carrier)、 塑料四边引出扁平封装PQFP (Plastic Quad Flat Package) 、 小尺寸封装SOP(Small OutlinePackage) 、塑料有线芯 片载体PLCC (Plastic Leaded Chip Carrier)。
减薄一致性好效率 高,适于大生产
一致性好,效率稍 低 设备简单,效率低
磨削法
化学腐蚀法
划片
目的
把经过前部工序加工的圆片,用划片机切割 成单个芯片,然后用分片机把这些芯片分离 开,经镜检后转入芯片装架工序。
方法
背面贴膜——切割——裂片——分片——镜检 分类
金刚砂轮或激光切 割至芯片厚度的 90~100% “蓝”膜受热 膨胀拉伸将 各芯片裂开 (绷片)

特点
1)减少了印制板面积(可节省面积60—70%) 2)减轻了重量(可减轻重量70—80%) ; 3)安装容易实现自动化; 4)由于采用了膏状焊料的焊接技术,提高了产 品的焊接质量和可靠性; 5)减小了寄生电容和寄生电感 。
PGA

PGA(Pin Grid Array Package)芯片封装形式在芯片
键合方法
热压键合 加热+加压 方法:楔焊、针焊、球焊 简单,成本低;但需要对硅片加(330~350℃), 键合强度不高 超声波键合 机械振动摩擦+压力 无需对衬底加热;键合牢固;可调节超声波的频 率和压力来适用不同粗细、材质的引线。

TAB与FCB

TAB,(Tape Automation Bonding)载带自动焊,也称为带式自动 键合,是一种将IC安装和互连到柔性金属化聚合物载带上的IC组装技 术。载带内引线键合到IC上,外引线键合到常规封装或印刷线路板 PWB上,整个过程均自动完成。 FCB ,(Flip Chip Bonding)倒装芯片键合是将芯片有源区面对基板 进行键合。FCB 的基本点是在芯片和基板上分别制备焊盘,然后面对 面键合。键合材料可以是金属引线或TAB ,也可以是合金焊料或有机 导电聚合物制成的凸焊点。它可以利用芯片上所有面积来获得I/O 端, 硅片利用效率得到极大提高。
特点:
1) 尺寸小 2) 技术集成 3) 数据速度和信号质量好 4)可靠性高/使用环境不受限制 5) 成本较高
WLP


WLP,圆片级封装是指将CSP的焊料凸点直接做在硅 圆片的各个芯片上,然后再切割成独立的可以直接倒装 焊的IC芯片 。 它是以圆片为加工对象,封装的全过程都在圆片生产厂 内运用芯片的制造设备完成,使芯片的封装、老化、测 试完全融合在圆片生产流程之中。封装好的圆片经切割 所得到的单个IC芯片,可直接贴装到基板或印制电路板 上。它可以将封装尺寸减小至IC芯片的尺寸,生产成本 大幅度下降,并且把封装与芯片的制造融为一体,将彻 底改变芯片制造业与芯片封装业分离的局面。

特点
1)I/O数较多。BGA封装器件的I/O数主要由封装体的尺 寸和焊球节距决定。 2)提高了贴装成品率,潜在地降低了成本。 3)BGA的阵列焊球与基板的接触面大、短,有利于散热。 4)BGA阵列焊球的引脚很短,缩短了信号的传输路径,减 小了引线电感、电阻,因而可改善电路的性能。 5)明显地改善了I/O端的共面性,极大地减小了组装过程 中因共面性差而引起的损耗。 6)BGA适用于MCM封装,能够实现MCM的高密度、高性 能。 7)BGA和~BGA都比细节距的脚形封装的IC牢固可靠。

ZIF(Zero Insertion Force Socket)是指零插拔力的插座。把 这种插座上的扳手轻轻抬起,CPU就可很容易、轻松地插 入插座中。然后将扳手压回原处,利用插座本身的特殊结 构生成的挤压力,将CPU的引脚与插座牢牢地接触,绝对 不存在接触不良的问题。而拆卸CPU芯片只需将插座的扳 手轻轻抬起,则压力解除,CPU芯片即可轻松取出。 PGA封装具有以下特点: 1.插拔操作更方便,可靠性高。 2.可适应更高的频率。
质量轻,成本低; 适于模铸,可塑性强,自动化机械化水平 高。 目前集成电路最普遍的封装材料

3)陶瓷封装
优点:耐高温,致密好,密封性好,电气 性能好,适合高密度型封装 应用: 大功率器件; 高性能、高密度的集成电路。

4)玻璃封装
小功率锗二极管大多采用玻璃封装,现在 少用。但是可以与塑料封装一起结合,既可以 实现封装的高温定型、可靠性,又可降低成本。
DIP

在70年代流行的是双列直插封装,DIP(Dual In- line Package)是指采用双列直插形式封装的集成电路 芯片。绝大多数中小规模集成电路均采用这种封装形 式,其引脚数一般不超过100个。是Intel 8位和16位处 理芯片采用的封装方式,缓存芯片、BIOS芯片和早期 的内存芯片也使用这种封装形式。它的引脚从两端引 出,需要插入到专用的DIP芯片插座上。
圆片级封装技术是真正意义上的批量生产芯片封装技术, 它具有如下特点: 1)是以批量生产工艺进行制造的; 2)圆片级封装生产设施的费用低,因为它充分利用了圆片 的制造设备,无须投资另建封装生产线; 3)圆片级封装的芯片设计和封装设计可以统一考虑、同时 进行,这将提高设计效率,减少设计费用; 4)圆片级封装中间环节大大减少,周期缩短很多,这必将 导致成本的降低。 此外,应注意圆片级封装的成本与每个圆片上的芯片数 量密切相关。圆片上的芯片数越多,圆片级封装的成本 也越低。圆片级封装主要采用薄膜再分布技术、凸点技 术等两大基础技术。

封装

目的
1)器件的保护,保证其能正常工作; 2)物理支撑,便于与其他的电路进行更高级 的装配; 3)影响器件的某些功能:频率、功率等。
封 装 的 层 次
封装的材料
1)金属封装


散热性能好,抗机械损伤强, 电磁屏蔽效果好,但成本高, 笨重。 分立器件; 微波器件; 小规模集成电路。
2)塑料封装

BGA

BGA封装出现于90年代初期,它是在封装体基板 的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路 板(PCB)互接。 它算是第三代面矩阵式(Area Array)IC封装技术。 它在晶粒底部以阵列的方式布置许多锡球,用这些 锡球代替传统的导线架,每个锡球就是一个引脚, 锡球规则的排列在芯片底部,就形成了这种独特的 封装结构。
第五章 集成电路的封装与测试
组装工艺的基本方式,上节课已 经讲过),将不合格的芯片打上墨点,做好记号, 后面划片的时候可以直接进行挑选!
背面减薄
方法名称 要求 特点
研磨法
把硅片正面粘在磨盘 上,用金刚砂研磨减 薄背面
用砂轮磨削 正面用树脂、石蜡或 塑料薄膜保护,用酸 腐蚀背面
装架/贴片
目的 也称为装片与烧结,将芯片粘贴固定在金属基 座或引线框架上。 要求 1)导热和导电性能好; 2)装配定位准确,能满足自动键合的需要 3)芯片和管壳底座连接的机械强度高,可靠性高, 能承受键合和封装时的高温和机械震动

方法
1)环树脂粘贴 常用环氧、聚酰亚胺、酚醛以及有机树脂 作粘贴剂。加金、银粉—导电胶;加氧化 铝—绝缘胶。 应用:环氧树脂粘贴牢固,有良好的传热和 散热功能,广泛用于 IC芯片的粘贴,尤其 是MOS电路。
QFP/PFP

QFP,(Quad Flat Package)方形扁平封装的封装形 式最为普遍。其芯片引脚之间距离很小,引脚很细,很 多大规模或超大集成电路都采用这种封装形式,引脚数 量一般都在100个以上。Intel系列CPU中80286、80386和 某些486主板芯片采用这种封装形式。 PFP(Plastic Flat Package)方式封装的芯片与QFP方 式基本相同。唯一的区别是QFP一般为正方形,而PFP 既可以是正方形,也可以是长方形。
应用
到目前为止该技术仅限于高密度、高性能器件 的封装,而且该技术仍朝着细节距、高I/O端数 方向发展。 BGA封装技术主要适用于PC芯片组、微处理器 /控制器、ASIC、门阵、存储器、DSP、PDA、 PLD等器件的封装。
多芯片模块组装MCM
CSP

1994年9月,日本三菱电气公司研究出一种芯片面 积/封装面积=1:1.1的封装结构,其封装外形尺寸只 比裸芯片大一点点。 CSP(Chip Size Package)芯片尺寸封装。它定义为 封装后尺寸不超过原芯片的1.2倍或封装后面积不超 过裸片面积的1.5倍。它减小了芯片封装外形的尺寸, 做到裸芯片尺寸有多大,封装尺寸就有多大。
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