ADC测试参数定义、分析及策略之动态测试
ADC芯片参数测试技术解析
ADC芯片参数测试技术解析ADC芯片参数测试技术解析随着数字技术的不断发展和计算机在信号处理、控制等领域中的广泛应用，过去由模拟电路实现的工作，今天越来越多地由数字电路或计算机来处理。
作为模拟与数字之间的桥梁，模拟数字转换器（ADC）的重要性越来越突出，由此也推动了ADC测试技术的发展。
本文首先介绍了ADC的测试，包括静态参数和动态参数测试，然后结合自动测试系统测试实例，详细介绍了ADC芯片参数的测试过程。
测试原理1. 1静态参数的测试原理ADC的静态参数是指在低速或者直流流入ADC芯片测得的各种性能参数。
静态参数测试方法有逐点测试法等，其主要测试过程如图1所示。
（1）零点误差的测量零点误差又称输入失调，是实际模数转换曲线中数字0的代码中点与理想模数转换曲线中数字0的代码中点的最大误差，记为EZ。
其测试方法如下：输入电压逐渐增大，当图1中的数字显示装置从00..00变为00..01，记下此时输入电压Vin1 ，然后逐渐减小输入电压，使数字显示装置由00..01变为00..00，记下输入电压Vin2 ：式中：N 为A /D的位数; VFSR 为A /D输入电压的满量程值，LSB为ADC的最低有效位。
（2）增益误差EG 测量增益误差是指转换特性曲线的实际斜率与理想斜率之间的偏差。
测试方法如下：把零点误差调整为0，输入电压从满量程开始变化，使数字输出由11..11 变11..10，记为Vin1。
反方向逐渐变化Vin ，使输出端由11..10变为11..11，记下输入电压Vin2 。
则：（3）线性误差的测量线性误差指实际转换曲线与理想特性曲线间的最大偏差。
实际测量是测试第j码的代码中。
adc测试标准
ADC的测试标准主要包括以下几个方面：转换速率：ADC从开始转换到转换完成所需要的时间，采样信号频率越高，所需的ADC采样速率也应越高。
静态指标：最小误差（Quantizing Error）：由于ADC分辨率有限而导致的误差，通常为1个或半个最小数字量表示的模拟变化量。
偏移增益误差（Offset/Gain Error）：实际ADC线性方程与理想ADC线性方程的偏差（斜率、截距不一致）。
满刻度误差（Full Scale Error）：满刻度输入时，对应的实际输入信号与理想输入信号的差值。
微分非线性（Differential nonlinearity，DNL）：ADC相邻两刻度的最大偏差。
积分非线性（Integral nonlinearity，INL）：
ADC数值点对应的模拟量和真实值之间最大误差值，即ADC输出数值偏理想线性最大的距离。
ADC动态指标：总谐波失真THD、信噪比和失真SINAD、有效位数ENOB、信噪比SNR、无杂散动态范围SFDR。
ADC测试参数定义、分析及策略之线性测试
ADC测试参数定义、分析及策略之线性测试线性测试动态测试关注的是器件的传输和性能特征，即采样和重现时序变化信号的能力，相比之下，线性测试关注的则是器件内部电路的误差。
对ADC来说，这些内部误差包括器件的增益、偏移、积分非线性(INL)和微分非线性(DNL)误差，这些参数说明了静止的模拟信号转换成数字信号的情况，主要关注具体电平与相应数字代码之间的关系。
测试ADC静态性能时，要考虑两个重要因素：第一，对于给定的模拟电压，一个具体数字代码并不能告诉多少有关器件的信息，它仅仅说明这个器件功能正常，要知道器件功能到底如何还必须考虑模拟电压的范围(它会产生一个输出代码)以及代码间的转换点；第二，动态测试一般关注器件在特定输入信号情况下的输出特性，然而静态测试是一个交互性过程，要在不同输入信号下测试实际输出。
总的来说，ADC的误差可以分为与直流（DC）和交流（AC）有关的误差。
DC误差又细分为四类：量化误差、微分非线性误差、积分非线性误差、偏移与增益误差。
AC误差一般与信噪及总谐波失真问题有关。
◆量化误差（Quantization Error）量化误差是基本误差，用图3所示的简单3bit ADC来说明。
输入电压被数字化，以8个离散电平来划分，分别由代码000b到111b去代表它们，每一代码跨越Vref/8的电压范围。
代码大小一般被定义为一个最低有效位（Least Significant Bit，LSB）。
若假定Vref＝8V时，每个代码之间的电压变换就代表1V。
换言之，产生指定代码的实际电压与代表该码的电压两者之间存在误差。
一般来说，0.5LSB偏移加入到输入端便导致在理想过渡点上有正负0.5LSB的量化误差。
图3 理想ADC转换特性图6 INL和DNL与增益和偏移一样，计算非线性微分与积分误差也有很多种方法，代码平均和电压抖动两种方法都可以使用，但是由于存在重复搜索，当器件位数较多时这两种方法执行起来很费时。
经典：ADC与DAC-动态性能测试
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Windows function
15
Windows function
16
Calculation (1): FFT
• Ps = sum{Pf(m-k):1:Pf(m&um{Ph(2:n)} ;
• Amplitude α=20log(Iamp/Qamp);
22
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RXADC 测试环境要求（2）
• How to select sample numbers ----coherent sampling Fin / Fsample = Ncycle / Nrecord, Fin : Periodic input signal Fsample : Sampling frequency of the ADC Ncycle : Integer number of cycles within the sampling window Nrecord : Number of data points in the sampling window or FFT
Ph(i)= sum{Ph(i-1:i+1)}; • Pn = sum(Pf) - Ps- Pdc – Ph; • Signal bin 的选择：
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Calculation (2): FFT
• S/N = 10* log(Ps/Pn); • SINAD = 10* log[Ps/(Pn+Ph)]; • THD = 10* log(Ph/Ps); • SFDR = 10* log[Ps / Pmax.spurious
minimizes spectral leakage
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Window function
ADC参数解释和关键指标
第五章ADC 静态电参数测试（一）翻译整理：李雷本文要点：ADC 的电参数定义ADC 电参数测试特有的难点以及解决这些难题的技术ADC 线性度测试的各类方法ADC 数据规范（Data Sheet）样例快速测试ADC 的条件和技巧用于ADC 静态电参数测试的典型系统硬件配置关键词解释失调误差 Eo（Offset Error）：转换特性曲线的实际起始值与理想起始值（零值）的偏差。
增益误差E G（Gain Error）：转换特性曲线的实际斜率与理想斜率的偏差。
（在有些资料上增益误差又称为满刻度误差）线性误差Er（Linearity Error）：转换特性曲线与最佳拟合直线间的最大偏差。
（NS 公司定义）或者用：准确度E A（Accuracy）：转换特性曲线与理想转换特性曲线的最大偏差（AD 公司定义）。
信噪比(SNR): 基频能量和噪声频谱能量的比值。
一、ADC 静态电参数定义及测试简介模拟/数字转换器（ADC）是最为常见的混合信号架构器件。
ADC是一种连接现实模拟世界和快速信号处理数字世界的接口。
电压型ADC（本文讨论）输入电压量并通过其特有的功能输出与之相对应的数字代码。
ADC的输出代码可以有多种编码技术（如：二进制补码，自然二进制码等）。
测试ADC 器件的关键是要认识到模/数转换器“多对一”的本质。
也就是说，ADC 的多个不同的输入电压对应一个固定的输出数字代码，因此测试ADC 有别于测试其它传统的模拟或数字器件（施加输入激励，测试输出响应）。
对于 ADC，我们必须找到引起输出改变的特定的输入值，并且利用这些特殊的输入值计算出ADC 的静态电参数（如：失调误差、增益误差，积分非线性等）。
本章主要介绍ADC 静态电参数的定义以及如何测试它们。
Figure5.1：Analog-to-Digital Conversion Process. An ADC receives an analog input and outputs the digital codes that most closely represents then input magnitude relative to full scale.1．ADC 的静态电参数规范ADC的静态电参数主要验证器件的输入-输出转换曲线符合设计（理想）曲线的程度。
高速模数转换器动态参数的定义和测试
高速模数转换器动态参数的定义和测试一、动态参数高速模数转换器（adc）的参数定义和描述如表1 所示。
表一、动态参数定义：二、测试方案中的线路板布局和硬件需求为合理测试高速adc 的动态参数，最好选用制造商预先装配好的电路板，或是参考数据手册中推荐的线路板布局布板，高速数据转换器的布板需要高速电路的设计技巧，通常应遵守以下基本规则：所有的旁路电容尽可能靠近器件安装，最好和adc 在同一层面，采用表面贴装元件使引线最短，减小寄生电感和电容。
模拟电源、数字电源、基准电源和输入公共端采用两个0.1mf 的陶瓷电容和一个2.2m(f 双极性电容并联对地旁路。
采用具有独立的地平面和电源平面的多层电路板，保证信号的完整性。
采用独立的接地平面时应考虑adc 模拟地和数字地的物理位置。
两个地平面之间的阻抗要尽可能低，二者间的交流和直流电压差低于0.3v 以避免器件的损坏和死锁。
模拟地与数字地应单点连接，可以用低阻值表贴电阻（1ω~5ω）、铁氧体磁珠连接或直接短路，避免充满噪声的数字地电流对模拟地的干扰。
如果模拟地与数字地充分隔离时，也可以将所有的接地引脚置于同一平面。
高速数字信号线应远离敏感的模拟信号线。
所有的信号线应尽可能短，而且无90(拐角。
时钟输入要作为模拟输入信号来处理，远离任何模拟输入和数字信号。
选择恰当的测试方案和正确的测试设备是获得数据转换器最佳参数的重要环节。
以下提出的硬件选择方案对高速adc max1448 的测试是必需的，也是行之有效的。
直流电源(hewlett packard e3620a, 双电源0-25v, 0-1a):为模拟和数字电路提供独立的供电电源。
每个电源必须能够提供100ma 的驱动电流。
AD和动态范围
AD和动态范围1、首先明确动态范围的概念：动态范围=20*log(最大的数/最小的数单精度浮点格式： [31] 1位符号 [30-23]8位指数 [22-00]23位小数单精度浮点数动态范围=1667.6dB 这样大的动态范围使得我们在编程的时候几乎不必考虑乘法和累加的溢出，而如果使用定点处理器编程，对计算结果进行舍入和移位则是家常便饭，这在一定程度上会损失是精度。
原因在于定点处理处理的信号的动态范围有限，16位定点DSP表示整数范围为1-65536，其动态范围为20*log(65536/1)=96dB32定点DSP，动态范围为20*log(2^32/1)=192dB,对绝大多数应用所处理的信号已经足够了。
2、对于ADC它的转化位数决定了其动态范围，由于AD转换器的位数限制，一般输入信号的动态范围都比较小max125：14位，动态范围=20*log(2^14/1)=84.29db,如果只算有效位的话，低2位不算了，那么还会降低20*log(2^12/1)=72.25db3、运放的动态范围4、输入信号的动态范围=================================================ADC测试参数定义、分析及策略之动态测试◆输入信号对于模数转换器来说，输入信号的“纯度”会影响数字输出的性能。
输入信号中的耦合噪声将转换为输出信号数字噪声，如果输入信号中有太多噪声和失真，ADC性能实际上会被测试条件所掩盖。
输入信号的精度和纯度最终取决于器件的转换分辨率，一般来说测试设备的精度要比被测器件高10倍以上。
另外可以考虑在输入端使用滤波器，除去输入信号之外的噪声和失真。
◆采样与一致性即采样频率必须是被测信号频率的两倍以上，我们可以获得正确的采样频率范围，利用采样点再现输入信号。
在我们所举例子中，ADC必须以输入频率两倍以上的频率“运行”或采样，以便正确地数字化再现出输入信号，得到有效动态测试结果。
高速ADC、DAC测试原理及测试方法
高速ADC/DAC 测试原理及测试方法随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC ADC、、DAC 的指标都提出了很高的要求。
比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC 有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。
因此，保证ADC/DAC 在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。
ADC/DAC 芯片的性能测芯片的性能测试试是由芯片芯片生产厂家完成生产厂家完成生产厂家完成的，的，的，需需要借助昂贵借助昂贵的的半导体测试仪器试仪器，，但是对于是对于板级板级板级和系统和系统和系统级级的设计人员来说设计人员来说，，更重更重要的是如要的是如要的是如何验何验何验证芯片在证芯片在板级或板级或系统系统系统级级应用应用上上的真正真正性能指标。
性能指标。
一、ADC的主要参数ADC 的主要指标分要指标分为静态为静态为静态指标和动指标和动指标和动态态指标2大类大类。
静态静态指标指标指标主主要有要有：：•Differential Non-Linearity (DNL)•Integral Non-Linearity (INL)•Offset Error•Full Scale Gain Error动态指标指标主主要有要有：：•Total harmonic distortion (THD)•Signal-to-noise plus distortion (SINAD)•Effective Number of Bits (ENOB) •Signal-to-noise ratio (SNR) •Spurious free dynamic range (SFDR)二、ADC 的测试方案要进行ADC 这些众多这些众多指标的指标的指标的验验证，证，基本基本基本的方的方的方法法是给ADC 的输入的输入端端输入一个理想的信号，的信号，然后然后然后对对ADC 转换转换以以后的数的数据进行据进行据进行采集和分采集和分采集和分析析，因此，，因此，ADC ADC 的性能测的性能测试试需要多台仪器多台仪器的的配合并配合并用用软件软件对测对测对测试结果进行试结果进行试结果进行分分析。
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ADC测试参数定义、分析及策略之动态测试2007-11-08 10:50:21分类：前言混合信号技术给当今的半导体制造商们带来了很多新挑战，以前一些对数字电路只有很小影响的缺陷如今在嵌入式器件中却可能大大改变模拟电路的功能，导致器件无法使用。
为确保这些新型半导体器件达到“无缺陷”水平，需要开发新的测试策略、方法与技术。
本文将结合一个简单的混合信号器件——模数转换器(ADC)来对这些策略、技术与方法进行讨论，说明混合信号器件测试的步骤和方法。
有了这些基本认识后，就可将其扩展并应用到当前先进的嵌入式半导体器件中，如数字滤波器、音频/视频信号处理器及数字电位计等。
传统半导体器件测试包括基本参数测试(连续性、泄漏、增益等)和功能测试(将器件输出与给定输入相比较)，混合信号测试还要再另外增加两个测试，即动态测试和线性测试。
动态参数描述的是器件对一个特定频率或多频率时序变化信号的采样(从模拟信号中建立数字波形)和重现(利用数字输入建立模拟信号)能力。
线性参数则相反，描述的是器件在特性，主要关注数字和模拟电路之间的关系。
下面将对这两种特性分别作详细说明。
动态测试模数转换器的动态特性有时也称作传输参数，代表器件模拟信号采样和输入波形的数字再现能力，信噪比(SNR)、总谐波失真(THD)及有效位数(ENOB)等指标可使制造商对器件输出的“纯度”和数字信息精度进行量化。
新型动态测试技术产生于上世纪80年代，主要围绕数字信号处理和傅立叶变换，将时域波形和信号分别转换为频谱成分。
这种技术可以同时对多个测试频率进行采样，效率和重复性非常高。
图1是对一个普通ADC器件进行快速傅立叶变换(F FT)测试的示意图，图中可以看到模拟信号在时域转换成数字代码，然后用傅立叶变换转换成频谱。
对ADC输出进行傅立叶分析可提供宝贵的性能信息，但如果测试时条件设置不当得到的信息也会毫无意义。
为了从器件输出信号的傅立叶分析中提取有意义的性能参数，在讨论FFT结果之前首先需要考虑测试条件，其中包括输入信号完整性、采样频率、一致性及系统测量误差(假频、量化及采样抖动误差)。
图1 ADC器件傅立叶测试示意图◆输入信号对于模数转换器来说，输入信号的“纯度”会影响数字输出的性能。
输入信号中的耦合噪声将转换为输出信号数字噪声，如果输入信号中有太多噪声和失真，ADC性能实际上会被测试条件所掩盖。
输入信号的精度和纯度最终取决于器件的转换分辨率，一般来说测试设备的精度要比被测器件高10倍以上。
另外可以考虑在输入端使用滤波器，除去输入信号之外的噪声和失真。
◆采样与一致性采样频率是采样时间的倒数，如果采样数据点选择正确，一个无限时序变化信号可用有限几个数据点来表示。
通过奈奎斯特采样间隔定理，即采样频率必须是被测信号频率的两倍以上，我们可以获得正确的采样频率围，利用采样点再现输入信号。
在我们所举例子中，ADC必须以输入频率两倍以上的频率“运行”或采样，以便正确地数字化再现出输入信号，得到有效动态测试结果。
一致性是动态测试第二个关键的部分，当能对测试信号的生成与采样进行控制时，它可以提供很多东西。
一致性采样主要是为了保证采样数据包含完整的输入周期描述信息，使得在有限的样本中收集到尽可能多输入信息。
一致性采样定义了测试频率(Ft)、样本大小(M)、采样频率(Fs)以及测试周期(N)之间的关系，如式（1）所示：M/Ft=N/Fs 式（1）这里的M和N为互质数。
另外，一致性采样还可以保证傅立叶变换将采样数据的频率成分放入离散频段中。
◆量化、假频与采样抖动量化误差指的是从时序变化信号中可分离出的最小量值信息，以我们讨论的ADC测试为例，量化误差就是最小步距代表的电压，或建立输入测试信号的模拟信号源最小分辨率。
假频是由采样产生的，它将高频信号认作低频信号。
实际上当采样频率小于信号频率两倍时，采样周期即已违反了奈奎斯特采样规定，对高频信号采用低采样率的结果就好像它是一个低频信号。
抖动误差是指系统输入或采样能力与期望值之间的差异或偏离，换句话说，本来一个有一定幅度的信号预计在时间X产生，但由于抖动误差会使信号比预期的时间提前或推迟出现；同样抖动误差也可能在采样时产生，原来规定在时间X采集数据但实际却比预期时间提前或推迟。
量化误差、抖动误差和假频都会使输入信号失真，在频谱上出现错误信息。
如果测试条件都设置正确，同时也遵守采样规则，那么时基采样信号经傅立叶变换后的频率部分将提供重要的器件性能参数。
图2是一个典型的傅立叶变换图，突出的部分是基本频率，定义为器件输入频率，在这个例子中是一个1kHz正弦波，图中也显示了在基本频率倍频上出现的谐波频率和最大幅值。
对于我们讨论的ADC器件，从频谱可以算出五个重要动态传输特性，分别是信噪比(SNR)、总谐波失真(THD)、无杂散动态围(SFDR)、信号与噪声失真比(S INAD)以及有效位数(ENOB)。
图2 傅立叶变换图·信噪比（Signal to Noise Ratio，SNR）信噪比是输入信号和噪声(不包括任何谐波以及直流) 的功率比，是定义器件部噪声大小的基本参数。
SNR定义的详细描述如式（2）所示：式（2）理论上ADC的信噪比围取决于系统的位数，式（3）是理想的N bit ADC的理论SNR计算公式：SNR=6.02N+1.76dB 式（3）这里N代表位数。
系统部噪声会使偏离或SNR大于理论值围，可能造成误差的原因包括：器件量化误差、器件部噪声和驱动/采样源产生的非线性噪声（应用噪声）。
量化噪声关系到转换器的分辨率，转换器的噪声主要是和输入比较器的完善程度有关。
附声卡中对SNR的定义：SNR是对声卡抑制噪音能力的一个评价。
声卡处理的是对我们有用的音频信号，而噪音是指我们不希望有的音频信号，通常是一些规律且难听的声音，是背景噪声（由机箱电磁干扰产生）与声卡各部件在工作时产生的“杂音”的综合，声卡应该尽量屏蔽和减少这些噪音的出现与功率（音量）。
在没有出现饱和与截止情况下，有用信号功率与噪音信号功率的比值就是SNR，单位为dB。
SNR值越高说明声卡的滤波效能越好，声音听起来也就越清晰。
按照微软在PC98中的规定，声卡的SNR值必须不低于80dB。
·无杂散动态围（Spurious-free Dynamic Range，SFDR）无杂散动态围能对系统失真进行量化，它是基本频率与杂波信号最大值的数量差。
杂波通常产生于各谐波中(虽然并不总是这样)，它表示器件输入和输出之间的非线性。
偶次谐波中的杂波表示传递函数非对称失真，一个“给定”的输入信号应该产生一个“给定”的输出，但由于系统非线性，实际输出并不等于预期值，当系统接收到大小相等极性相反的信号时，得到的两个输出不相等，这里的非线性就是非对称的。
奇次谐波中的杂波表示系统传递函数的对称非线性，即给定的输入产生的输出失真对正负输入信号在数量上都是相等的。
附：在频域中，SFDR是衡量线性特性的有效方法。
如果单音正弦信号加到输入，SFDR定义在一定频率围的信号与第二大频率成分的功率差。
在大多通信应用中，输入是多音信号，信号由幅度、相位、和频率不同的多个信号组成。
测量SFDR时将引起一些混淆，有时更好是用称之为多音功率比（Multi-tone Power Ratio，MTPR）进行测量，MTPR定义为单音载波与失真的功率比。
我们在多个频率施加一定数量的等幅但相位不同的信号。
在某点测量该点的输出和该点失真的功率。
注意这有几个参数影响MTPR，例如单音幅度、挑选的单音频率、单音数量。
在不同情况下，得出的MTPR也不同。
当单音数量增加，将形成一个高的峰值。
高峰值可能使放大器饱和并使DAC超出围。
我们用峰值/平均值比（PAR）或峰值因子，测量输入信号的峰值与有效值功率，对单音正弦信号PAR＝A2/(A/sqrt(2))2=2。
有时PAR也定义为均方根功率比。
如果输入单音幅度相等，单音数量和相位决定PAR。
多个信号输出的S FDR见式（4）：SFDR＝6.02×N＋4.77-10×log(PAR) 式（4）高速DAC根据奈奎斯特采样定理，如果采样时钟为fs，信号带宽为fn=fs/2，但SFDR 可能比较差。
提高SFDR的一个有效途径是采用比奈奎斯特频率小的带宽，当信号带宽为fB，定义过采样率OSR＝fs/fB。
单个信号输出的SFDR如式（5）所示：SFDR=6.02×N+1.76+10×log(OSR) 式（5）采样时钟的抖动影响信号的抖动，并且时钟本身存在杂散，这些杂散通过电路耦合到输出，降低信号质量。
·总谐波失真（Total Harmonic Distortion，THD）总谐波失真是输入信号与系统所有谐波的总功率比，它可提供系统对称和非对称非线性产生的总失真大小，用以表达其对信号的谐波含量的作用或者影响。
式（6）附：谐波失真是指音箱在工作过程中，由于会产生谐振现象而导致音箱重放声音时出现失真。
尽管音箱中只有基频信号才是声音的原始信号，但由于不可避免地会出现谐振现象（在原始声波的基础上生成二次、三次甚至多次谐波），这样在声音信号中不再只有基频信号，而是还包括由谐波及其倍频成分，这些倍频信号将导致音箱在放音时产生失真。
总谐波失真是指用信号源输入时，输出信号（谐波及其倍频成分）比输入信号多出的额外谐波成分，通常用百分数来表示。
一般来说，1MHz频率处的总谐波失真最小，因此不少产品均以该频率的失真作为它的指标。
所以测试总谐波失真时，是发出1MHz的声音来检测，并希望这个值越小越好。
·信号与噪声失真比（Signal to Noise And Distortion，SINAD）信号与噪声失真比SINAD是输入信号和所有输出信号失真功率（包括谐波成分，不包括直流）比，它测量的是输出信号所有传递函数非线性加上系统所有噪声(量化、抖动和假频)的累积效果。
其定义如下：式（7）在完美的转换器中，SINAD和SNR是相同的。
SNR是转换器所能达到的理想状态，SINAD是反映转换器实际性能参数的指标，当然，我们希望SINAD越接近SNR越好。
·有效位数（Effective Number of Bits，ENOB）有效位数ENOB是在ADC器件信噪比基础上计算出来的，它将传输信号质量转换为等效比特分辨率。
实际上系统噪声使输出信号失真，失真大小就反映在信噪比上。
ADC的比特分辨率可以用来计算给定器件的理论信噪比，反过来也成立，所以器件的信噪比测量值也可用来计算有效器件比特分辨率。
所有噪声源和器件的不精确性合在一起，可以转化为量化误差与有效器件分辨率。
让我们再次重新温习一下在ADC中的两个重要的概念：SINAD表示ADC的信噪失真比，指ADC满量程单频理想正弦波输入信号的有效值与ADC输出信号的奈奎斯特带宽的全部其它频率分量（包括谐波分量，不包括直流分量）的总有效值之比。