电子元器件老化标准审批稿
电子产品老化操作规程
电子产品老化操作规程
产品高温老化操作规程
Q/
1范围
本规程适用于产品高温老化操作。
本规程使用于XXXXXX公司所属公司的各生产车间操作员工。
2操作规程
2.1 产品高温老化箱的温度应控制在+58℃~+62℃范围内，产品通电老化的通电电压应为额定电压的110%；
2.2 进入高温老化箱的产品必须是经过调试合格的产品；
2.3 进入高温老化箱的产品必须事先登记，老化期间应进行三次以上巡回检查，发现不正常产品应立即撤除，经分析排除后重新进行老化，时间重新开始并应记录；
2.4 产品高温老化结束前应检查产品是否正常并记录；
2.5 分励脱扣器和闭合电磁铁在高温老化箱先不带电老化2小时，之后再做2小时带电吸合、释放动作，每50秒动作1次；
2.6 HSL1Z、HSM1Z带电老化24小时；
2.7 HST系列控制器，应不带外壳进行高温老化，带电老化24小时；
2.8 HSQ系列高温老化，之前连续通电23小时后，第24小时每1分钟切换一次；
2.9 HSL1系列高温老化每10秒动作一次，连续工作12小时；
2.10HSW1欠压脱扣器高温老化时，每5分钟吸合释放1次，连续工作24小时；
2.11仪表类产品，连续通电老化24小时；
2.12HSM8L系列产品，常温通电老化24小时；
2.13HSM9W系列产品，常温通电老化24小时。
附加说明:
本标准由XXXXXX公司元件车间提出
本标准起草人:XXXXXX
本标准所代替标准的历次版本发布情况：。
ic元器件老化筛选
ic元器件老化筛选IC元器件老化筛选是电子元器件生产过程中的一项重要环节，旨在筛选出老化严重的元器件，确保产品的可靠性和稳定性。
本文将从老化筛选的定义、目的、方法和影响因素等方面进行阐述。
一、老化筛选的定义IC元器件老化筛选是指在元器件生产过程中，通过对元器件进行一定时间的老化处理，模拟实际使用环境下的使用情况，通过筛选出老化程度较轻的元器件，确保产品的可靠性和稳定性。
二、老化筛选的目的老化筛选的主要目的是提前筛选出老化严重的元器件，避免这些元器件在使用过程中出现故障，从而保证产品的可靠性。
通过老化筛选，可以排除那些容易出现性能衰减或失效的元器件，提高产品的质量和可靠性。
三、老化筛选的方法1. 温度老化筛选：将元器件放置在恒定温度下进行老化处理，时间可根据产品要求确定。
常用的温度老化筛选有高温老化、低温老化和温循老化等。
2. 电压老化筛选：将元器件加以一定电压的载荷进行老化处理，以模拟实际工作环境下的电压应力。
常用的电压老化筛选有高电压老化、低电压老化和电压循环老化等。
3. 电流老化筛选：将元器件加以一定电流的载荷进行老化处理，以模拟实际工作环境下的电流应力。
常用的电流老化筛选有高电流老化、低电流老化和电流循环老化等。
4. 其他老化筛选：根据具体产品的要求，也可以进行其他类型的老化筛选，如振动老化、湿热老化等。
四、影响老化筛选的因素1. 元器件的材料：不同材料的元器件老化特性不同，有些材料老化速度较快，而有些材料老化速度较慢。
2. 元器件的结构：不同结构的元器件老化特性也不同，有些结构容易受到外界环境的影响，老化速度较快。
3. 外界环境条件：元器件的老化速度受到温度、湿度、振动等外界环境条件的影响，不同环境条件下元器件的老化速度也不同。
五、老化筛选的意义IC元器件老化筛选对于保证产品的可靠性和稳定性具有重要意义。
通过老化筛选，可以排除那些容易出现故障的元器件，提高产品的质量和可靠性。
同时，老化筛选还可以提供关于元器件老化特性的数据，为产品设计和生产提供参考依据。
双85老化试验标准
双85老化试验标准一、引言老化试验是对产品进行可靠性评估的重要手段之一。
双85老化试验标准是一种常用的老化试验方法，适用于评估电子元器件或设备在高温高湿环境下的可靠性。
本文将深入探讨双85老化试验标准的内容和要求。
二、双85老化试验标准的基本原理双85是指试验温度为85℃，湿度为85%RH。
在这样的高温高湿环境中进行老化试验，可以模拟电子元器件或设备在极端环境下的工作情况，评估其在长期使用过程中的可靠性。
三、双85老化试验标准的具体要求3.1 试验设备在双85老化试验中，需要使用具备以下条件的试验设备： - 温湿度控制精度高，能够实现85℃、85%RH的设定； - 空间大小适合测试样品的容量； - 具备自动控制功能，可以按照预设的试验参数进行自动运行。
3.2 试验条件双85老化试验需要在恒定的高温高湿环境中进行，具体条件如下： - 温度为85±2℃； - 湿度为85%RH±5%RH； - 试验时间根据产品的可靠性要求来确定。
3.3 试验样品进行双85老化试验的样品应符合以下要求： - 样品数量足够，能够代表整个批次产品的可靠性水平； - 样品选择应符合统计学要求，有代表性； - 样品应在试验开始前进行严格筛选和测试，确保其初始性能稳定。
3.4 试验过程与观察试验过程中需要对样品进行观察和记录，以评估其可靠性。
具体要求如下： 1. 每隔一定的时间，对样品进行性能测试，记录测试结果； 2. 每天进行一次试验观察，记录样品的外观变化、气味等； 3. 定期检查试验设备，确保其正常运行； 4. 在试验过程中，发现样品出现故障或异常情况时，要及时记录并采取相应措施。
3.5 试验结束与数据分析试验结束后，需要对试验数据进行分析和评估，以得出可靠性结论。
具体要求如下：1. 统计分析试验数据，计算关键指标的平均值、标准差等； 2. 根据试验结果，评估产品的可靠性水平； 3. 对不同样品之间的可靠性差异进行分析，找出影响因素； 4. 如果有多批样品进行试验，需要对各批样品的可靠性进行比较。
电子产品老化作业规范
1.0目的为提高产品可靠度，消除残余应力和参与溶剂等物质，模拟环境，以鉴别和剔除产品工艺和元器件引起的早期故障，确保整机质量和期望寿命。
同时为了防止质量、安全事故的发生，特制定本规范。
2.0 范围适用于公司自行设计开发生产的成品、半成品及主要模块的老化过程和操作规则。
以下情况需进行老化作业：新产品试产、主要部件更换、所有出货产品。
3.0 职责老化专员负责老化产品的放入与取出，老化过程监控以及产品老化的记录。
4.0作业内容4.1 老化操作规范4.1.1 老化职责负责老化产品的放入与取出，老化过程监控以及产品老化的记录。
4.1.2 老化要求高温老化：环境温度为45℃±5℃，老化时间暂定为48小时；若因客观原因需减少老化时间，必须提交老化时间更改申请表，注明原因并提交上级部门同意后方可。
凡是经过更换器件重新焊接的都需要重新老化48小时；若只是更换器件但不需要重新焊接的，只需要重新老化2小时即可。
常温老化：在常温的环境中，对机子做100%的老化，一般老化时间在4-8小时，老化过程中要做充放电、录像等操作。
老化过程中，一点要记录好老化报表，有不良品，要及时向产线负责人或PE汇报情况，让其分析原因。
4.2操作步骤4.2.1、将初次调测合格的产品使用周转车或其它工具推入老化房放入指定区域内。
4.2.2、连接前确认老化房相关电源开关均处于开启状态，依据产品供电要求连接电源线以及负载。
4.2.3、逐一开启老化产品的电源开关，观看电源指示灯及运行信号灯是否正常，有误则查找原因并解决故障。
4.2.4、老化作业人员应在产品开始老化后登记老化开始时间，每间隔2小时左右巡视一次老化房，检查产品是否存在异常，老化房的环境温度是否异常。
若有产品在老化中损坏，需及时断电送修。
4.2.5、产品老化时间达到后，老化人员逐一观察本老化产品的电源指示灯及运行信号灯是否正常，关闭老化产品供电电源。
将产品运出老化房并登记产品结束老化时间，进入产品复测。
电子元器件可靠性老化筛选规定
电子产品及元器件可靠性老化筛选规定1范围为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准。
本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后，进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检查、处理。
剔除早期失效的器件，提高产品的可靠性。
本标准适用于所有装有电子元器件的产品，除非产品另有规定。
2规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。
凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范。
然而鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。
GB/T 2828-87 抽样检验标准3老化筛选项目及条件3.1 半导体器件、集成电路低温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度－25±3℃的低温箱中，保持4h，常温下测试电参数。
高温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度＋125±3℃的高温箱中，保持4h，常温下测试电参数。
3.2 继电器低温运行：将继电器置于温度－25±3℃的低温箱中，保持1h，通电工作后测量低温下的释放电压，然后在此低温下，触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。
高温运行。
将继电器置于温度＋70±3℃的高温箱中，保持1h，通电工作后测量高温下的释放电压，然后在此温度下触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。
注: 以上筛选设备条件如暂时不具备时，可由工艺人员根据现有设备条件实施。
4筛选检查4.1 文件编制元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺，规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。
4.2 检验种类对进行老化的元器件实行全检。
4.3 检验电性能的项目4.3.1 电阻器4.3.1.1 电阻器的额定功率电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中，当大气压力为750±30mmHg ，在产品标准中规定的温度下，长期连续负荷所允许消耗的最大功率。
设备老化更换申请报告
设备老化更换申请报告尊敬的领导：我司近期对部分设备进行了全面检查和评估，发现部分设备已经出现了严重老化现象，对生产效率和产品质量造成了一定的影响。
为了保障生产运营的稳定性和产品质量的持续提升，特向公司提交设备老化更换申请报告，希望能够得到您的支持和批准。
首先，我们针对老化设备进行了详细的技术分析和评估。
经过专业技术人员的多次检测和实验，确认了部分设备的关键部件已经严重磨损，存在安全隐患，甚至已经影响了设备的正常运行和生产效率。
在此基础上，我们提出了更换老化设备的紧急需求，并对更换后的设备性能指标和效益进行了充分的论证和分析。
其次，我们对设备老化更换的影响进行了全面评估。
根据现有生产计划和市场需求，我们认为设备老化更换将对生产进度和产品质量产生积极的影响。
新设备的投入使用将大大提高生产效率和产品质量，缩短生产周期，增加产能，进而提升企业的竞争力和市场份额。
因此，设备老化更换对企业的长远发展具有重要意义。
最后，我们对设备老化更换的具体方案进行了详细规划和预算。
我们已经与多家设备供应商进行了沟通和比较，确定了更换设备的型号和规格，并与财务部门进行了充分的沟通和协商，制定了详细的预算方案。
同时，我们还就更换过程中可能出现的生产中断和人员安排等问题进行了充分的准备和应对方案，确保更换过程的顺利进行。
综上所述，我们认为设备老化更换对企业的发展至关重要，是当前急需解决的问题。
我们将会全力以赴，确保更换过程的顺利进行，同时也希望能够得到领导的支持和关注。
我们相信，在领导的正确决策和支持下，设备老化更换将会为企业带来更加稳健和可持续的发展。
谨此呈报，敬请领导审阅并批准。
谢谢！此致。
敬礼。
电子元器件老化标准修订稿
电子元器件老化标准 WEIHUA system office room 【WEIHUA 16H-WEIHUA WEIHUA8Q8-一、外观质量检查拿到一个电子元器件之后，应看其外观有无明显损坏。
比如变压器，要看其所有引线有否折断，外表有无锈蚀，线包、骨架有无破损等。
又如三极管，要看其外表有无破损，引脚有无折断或锈蚀，还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。
对于电位器、可变电容器之类的可调元件，还要检查在调节范围内，其活动是否平滑、灵活，松紧是否合适，无机械噪声，手感好，并保证各触点接触良好。
各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求，爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点，积累经验。
二、电气性能的筛选要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作，并且经得起应用环境和其他可能因素的考验，这是对电子元器件的筛选必不可少的一道工序。
所谓筛选，就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验，暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。
筛选的理论是：如果试验及应力等级选择适当，劣质品会失效，而优良品则会通过。
人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件，在刚投入使用的时候，一般失效率较高，叫做早期失效，经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶段中，电子元器件的失效率会大大降低。
过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段，那将意味着寿终正寝。
这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元器件的效能曲线。
电子元器件失效，是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。
元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。
因此，人们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产品前就将劣质品剔除，让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠性。
在正规的电子工厂里，采用的老化筛选项目一般有：高温存储老化；高低温循环老化；高低温冲击老化和高温功率老化等。
其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电，模拟实际工作条件，再加上＋80℃～＋180℃的高温经历几个小时，它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施，也是目前采用得最多的一种方法。
电子元器件的老化测试分析
CE MAGAZINE PAGE 59电子元器件的老化测试分析张凡 于迎伟【摘 要】电子元器件属于电子设备的基础性元件，对于电子设备的性能可产生直接影响，为了确保电子元器件的品质，进行老化测试是生产厂家的必要任务。
采用老化测试的方法，能够提升电子元器件的质量，为满足用户对电子设备的可靠性要求奠定基础。
鉴于此，本文简述了电子元器件老化测试的内涵，围绕电子元器件老化测试系统，概述了该类系统的类型和性能影响因素，以电容器一类电子元器件的老化测试为例，讨论了系统设计的实践。
【关键词】电子元器件；老化测试；系统设计实践；影响因素；种类作者简介：张凡，本科，陕西恒太电子科技有限公司，助理工程师；于迎伟，本科，陕西恒太电子科技有限公司，工程师。
引言伴随现代科技的发展，电子产品与设备的复杂性越发增加，使用范围更加广泛。
但由于长期使用与外部环境等方面的影响，电子产品与设备容易出现电子元器件老化的问题，造成其性能与可靠性的下降，因此，对电子元器件进行老化测试，用以评价元器件在差异性条件下的工作稳定性、使用寿命，是电子工程领域内的重要课题。
因此，技术人员需要深入研究电子元器件老化测试系统的设计，探索更多用于元器件测试的技术，以此为社会的进步作出贡献。
一、电子元器件老化测试的内涵老化测试本质上是一种模拟电子元器件使用流程的测试方法，旨在检测与去除元器件内部的缺陷。
在测试过程中，会模拟元器件的实际工作状态，并施加特定的电应力以加速元器件内部的物理和化学反应，从而使潜在的问题如漏电、焊接不良、硅晶片裂纹等提前显现出来。
老化测试可以保证元器件参数的稳定性，测试期间需要严格管控电应力参数和环境温度，以防元器件发生失效的现象[1]。
二、电子元器件老化测试系统的概述（一）电子元器件老化测试系统的种类（1）内存老化型：①易失性内存：该类型系统的测试工作较为简单，原因在于在无需特殊算法、时序的情况下，便能反复对其擦写操作。
测试人员通常要将所有电子元器件写入数据处理后，再逐个选择元器件的种类，读出对应的数据，再开展后续的比较分析工作。
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电子元器件老化标准 YKK standardization office【 YKK5AB- YKK08- YKK2C- YKK18】一、外观质量检查拿到一个电子元器件之后，应看其外观有无明显损坏。
比如变压器，要看其所有引线有否折断，外表有无锈蚀，线包、骨架有无破损等。
又如三极管，要看其外表有无破损，引脚有无折断或锈蚀，还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。
对于电位器、可变电容器之类的可调元件，还要检查在调节范围内，其活动是否平滑、灵活，松紧是否合适，无机械噪声，手感好，并保证各触点接触良好。
各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求，爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点，积累经验。
二、电气性能的筛选要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作，并且经得起应用环境和其他可能因素的考验，这是对电子元器件的筛选必不可少的一道工序。
所谓筛选，就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验，暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。
筛选的理论是：如果试验及应力等级选择适当，劣质品会失效，而优良品则会通过。
人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件，在刚投入使用的时候，一般失效率较高，叫做早期失效，经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶段中，电子元器件的失效率会大大降低。
过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段，那将意味着寿终正寝。
这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元器件的效能曲线。
电子元器件失效，是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。
元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。
因此，人们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产品前就将劣质品剔除，让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠性。
在正规的电子工厂里，采用的老化筛选项目一般有：高温存储老化；高低温循环老化；高低温冲击老化和高温功率老化等。
其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电，模拟实际工作条件，再加上＋80℃～＋180℃的高温经历几个小时，它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施，也是目前采用得最多的一种方法。
对于业余爱好者来说，在单件电子制作过程中，是不太可能采取这些方法进行老化检测的，在大多数情况下，采用了自然老化的方式。
例如使用前将元器件存放一段时间，让电子元器件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验，然后再来检测它们的电性能，看是否符合使用要求，优存劣汰。
对于一些急用的电子元器件，也可采用简易电老化方式，用一台输出电压可调的脉动直流电源，使加在电子元器件两端的电压略高于元件额定值的工作电压，调整流过元器件的电流强度，使其功率为～2倍额定功率，通电几分钟甚至更长时间，利用元器件自身的特性而发热升温，完成简易老化过程。
三、元器件的检测经过外观检查以及老化处理后的电子元器件，还必须通过对其电气性能与技术参数的测量，以确定其优劣，剔除那些已经失效的元器件。
当然，对于不同的电子元器件应有不同的测量仪器，但对于业余电子爱好者来说，一般不具备专用电子测量仪器的条件，但起码应有一块万用电表，利用万用电表可以对一些常用的电子元器件进行粗略检测。
各种电子元器件涉及到的电性能参数很多，我们要根据业余制作牵涉到的必须要弄清楚的有关参数进行检测，而不必对该元器件的所有参数都一一检测。
下面例举几种基本元器件的检测。
（1）电阻器它是所有电子装置中应用最为广泛的一种元件，也是最便宜的电子元件之一。
它是一种线性元件，在电路中的主要用途有限流、降压、分压、分流、匹配、负载、阻尼、取样等。
检测该元件时，主要看它的标称阻值与实际测量阻值的偏差程度。
在大量的生产中，由于加工过程中各道工序对电阻器的作用，电阻器的实际值不可能做到与它的标称值完全一致，因此其阻值具有离散性，为了便于管理和组织生产，工程上按照使用的需要，给出了允许偏差值，如±5%、±10%、±20%。
再加上万用电表检测电阻器时的误差，一般要求其误差不超过允许偏差的10%即认为合格。
同时亦可通过外观检查综合判断其优劣。
（2）电容器电容器也是电子装置中用得最多的电子元器件之一。
它的质量好坏直接影响到整机的性能，同时也是容易失效的元件。
在检查电容器时，如果电解电容器的贮存期超过了三年，可以认为该元件已经失效。
有些电容器上没有出厂年限标志，外观则完好无损，肉眼很难判断出它的质量问题，因此就必须要对它进行检测。
电容器在电路中担任隔直、滤波、旁路、耦合、中和、退耦、调谐、振荡等。
它的常见故障有击穿、漏电、失效（干涸）。
用万用电表的欧姆档检查电容器是利用了电容器能够充放电原理进行的，这时应选用欧姆档的最高量程（R×1kΩ或R×10kΩ）来测量。
当万用电表的两根表棒与电容器的两引脚相接时，表针先向顺时间方向偏转一个角度，此时称为电容器的充电，当充电到一定程度时，电容器又开始放电，此时万用电表的指针便返回到∞位置。
在测量过程中，表针摆动的角度越大，说明所检测的电容器容量越大。
表针返回后越接近∞处，说明所检测的电容器漏电越小，即所检测的电容器的质量越高。
测量电解电容器时，由于其引脚有正、负极之分，应将红表棒接电容器的负极，黑表棒接电容器的正极，这样测量出来的漏电电阻才是正确的。
反接时一般漏电电阻要比正接时小，利用这一点，还可判断出无极性标志的电解电容器的极性。
如果电容器的容量太小，如在4700P以下，就只能检查它是否漏电或击穿，如果在测量中，表针摆动一下回不到∞处，而是停留在0～∞处的中间某一位置上，说明该电容器漏电严重。
在万用电表与被测小电容器之间加装一只NPN型硅三极管，要求其β值大于100，集电极-发射极之间的耐压应大于25V，ICEO越小越好。
被测电容器接到A、B两端。
由于三极管VT的电流放大作用，较小容量的电容器也能引起表针较大幅度的摆动，然后返回到∞位置，如不能返回到∞处的，则可估测出漏电电阻。
对于可变电容器、拉线电容器，亦可用万用电表检测出它们有否碰片或漏电、短路等。
（3）电感器电感器是一种非线性元件，可以储存磁能。
由于通过电感的电流值不能突变，所以，电感对直流电流短路，对突变的电流呈高阻态。
电感器在电路中的基本用途有：扼流、交流负载、振荡、陷波、调谐、补偿、偏转等。
利用万用电表对其进行检测时，即只能判断出它的直流电阻值，如果已经标明了数值的电感器，只要其直流电阻值大致符合，即可视为合格。
（4）晶体二极管晶体二极管是一种非线性器件，它的正、反两个方向的电阻值相差悬殊，这就是二极管的单向导电性。
在电路中，利用这一特性，可以作整流、检波、箝位、限幅、阻尼、隔离等。
用万用电表测量二极管时，可选用欧姆档R×1kΩ。
由于二极管具有单向导电性，它的正、反向电阻是不相等的，两者阻值相差越大越好。
对于常用的小功率二极管，反向电阻应比正向电阻大数百倍以上。
用红表棒接二极管的正极，黑表棒接它的负极，测得的是反向电阻。
反之，红表棒接二极管的负极，黑表棒接它的正极，测得的是正向电阻。
二极管的正向电阻一般在100Ω～1kΩ左右；硅二极管的正向电阻一般在几百欧至几千欧。
如果测得它的正、反向电阻都是无穷大，说明该二极管内部已开路；如果它的正、反向电阻均为0，说明二极管内部已短路；如果它的正、反向电阻相差无几，说明二极管的性能变差失效。
出现以上三种情况的二极管均不能使用。
（5）晶体三极管三极管是电子装置中的重要元件，它的质量优劣直接关系到系统工作的可靠性和稳定性，因此，它是最需要进行老化筛选的器件之一。
已知一个三极管的型号和管脚排列，可采用如下简易测试法来判断它的性能。
应该注意的是：对一般小功率低压三极管，不宜采用R×10kΩ档进行测试，以免表内的高电压损坏三极管。
可用万用表检查三极管的穿透电流大小。
测量时注意PNP型和NPN型晶体管的接法。
万用表的量程一般选用R×100或R×1kΩ档，要求测得的电阻值越大越好，对于中功率的锗管，此值应大于数千欧；对于硅管，此值应大于数百千欧。
如果所测得的数值过小，说明管子的穿透电流大，管子的性能不好。
如果测量时万用电表的表针摇摆不定，说明管子的稳定性很差。
如果测得的阻值接近于零，说明管子内部已击穿短路，不能使用。
在检查三极管的放大性能β值时，可以采用估测法。
如果被测管是NPN 型，可按此方法测试，如果被测管是PNP则按虚线方式连接。
测量时表针应向右偏转，其偏转角度越大，说明管子的放大倍数β越大。
如果加上电阻R之后表针变化的角度不大或根本不变，则说明管子的放大作用很差或已经损坏。
其R的阻值可在51～100kΩ范围内选取。
也可能利用人手的电阻，用手捏住管子的c-b两极，但不要使它们短路，以手的皮肤电阻代替R。
对于结型场效应管，已知型号与管脚，如果用万用表测G（栅极）和S（源极）之间，G与D（漏极）之间没有PN结电阻，说明该管子已坏。
用万用表的R×1kΩ档，表棒分别接在场效应管的S极和D极上，然后用手碰触管子的G 极，若表针不动，说明管子不好；若表针有较大幅度的摆动，说明管子可用。
以上所述的管子测量方法虽是粗略的，但一般都切实可行，如欲进行更严格的测量筛选，则宜使用专门的测试仪器。
（6）集成电路集成电路的门类、品种很多，在业余条件下，电子爱好者似乎没有特别的测试方法，采用万用表进行测量时，只能对照已知的集成块引脚数据，用测得的数据与已知的数据进行对比，从而判断出被测集成块的好坏。
也可以搭一个简单的试验电路，将集成块插入电路中进行试验，如能完成某些功能或符合某种逻辑关系便可用。
如对音乐集成电路进行测试，可先制作一个简易电路，留出音乐集成电路的插脚（或用夹子），将音乐集成电路置于电路中，如果发声正常则可使用，否则不可使用。
如果有时间也乐于动手的话，不妨自制一些常用的集成电路的简易试验仪器，可方便日后的电子电路制作。
（7）其他电子元器件常用的各种开关、接插件、发光二极管、扬声器、耳机等，主要用万用表检测它们的通断情况。
对于发光二极管和扬声器、耳机，也可用电池组来试验其发光或发声程序，以此来判断其优劣。