集成电路测试原理及方法
集成电路芯片电参数测试
集成电路芯片电参数测试集成电路芯片的电参数测试是评估芯片性能和质量的重要步骤之一。
电参数测试可以帮助设计工程师和制造工程师了解芯片的工作条件，优化芯片设计和制造过程。
本文将介绍集成电路芯片的电参数测试的基本原理、测试方法和常见测试指标。
一、电参数测试的基本原理电参数测试是通过将待测芯片接入测试设备，对芯片进行各项电性能指标的测试。
通常，芯片的接口与测试仪器相连接，测试仪器通过向芯片施加电压、电流等信号，测量芯片的电压、电流等响应信号。
通过对这些响应信号的分析，可以得到芯片的电参数信息。
二、电参数测试的方法1. 直流电性能测试直流电性能测试是测试芯片在直流工作状态下的电压、电流等基本电性能指标。
其中包括：(1) 静态电压测量：测量芯片的电源电压、管脚电压等；(2) 静态电流测量：测量芯片的静态工作电流；(3) 动态电流测量：测量芯片在不同工作状态下的动态电流变化。
2. 交流电性能测试交流电性能测试是测试芯片在交流信号下的电性能，用于评估芯片的信号处理能力和频率响应特性。
其中包括：(1) 频率特性测试：测量芯片在不同频率下的增益、相位等指标；(2) 时域响应测试：测量芯片对快速变化信号的响应能力；(3) 噪声测试：测量芯片在不同频率范围内的噪声水平。
3. 温度特性测试温度特性测试用来评估芯片在不同温度环境下的电性能变化，以确定芯片的工作温度范围和温度稳定性。
其中包括：(1) 温度漂移测试：测量芯片在不同温度下的电性能漂移；(2) 温度稳定性测试：测量芯片在恒定温度条件下的电性能稳定性。
4. 功耗测试功耗测试是测试芯片在不同工作模式下的功耗消耗，用于评估芯片的能耗性能和电池寿命。
其中包括：(1) 静态功耗测试：测量芯片在待机模式下的功耗消耗；(2) 动态功耗测试：测量芯片在不同工作负载下的功耗消耗。
三、常见的电参数测试指标1. 电源电压：芯片的工作电压范围和电压稳定性；2. 静态电流：芯片的工作电流和功耗；3. 输出电压范围和电流驱动能力；4. 时钟频率和时钟精度；5. 噪声水平和信噪比；6. 时延、上升时间和下降时间。
集成电路的基本原理和工作原理
集成电路的基本原理和工作原理集成电路是指通过将多个电子元件（如晶体管、电容器、电阻器等）和互连结构（如金属导线、逻辑门等）集成到单个芯片上，形成一个完整的电路系统。
它是现代电子技术的重要组成部分，广泛应用于计算机、通信、嵌入式系统和各种电子设备中。
本文将介绍集成电路的基本原理和工作原理。
一、集成电路的基本原理集成电路的基本原理是将多个电子元件集成到单个芯片上，并通过金属导线将这些元件互连起来，形成一个完整的电路系统。
通过集成电路的制造工艺，可以将电子元件和互连结构制造到芯片的表面上，从而实现芯片的压缩和轻量化。
常见的集成电路包括数字集成电路（Digital Integrated Circuit，简称DIC）、模拟集成电路（Analog Integrated Circuit，简称AIC）和混合集成电路（Mixed Integrated Circuit，简称MIC）等。
集成电路的基本原理包括以下几个关键要素：1. 材料选择：集成电路芯片的制造材料通常选择硅材料，因为硅材料具有良好的电子特性和热特性，并且易于形成晶体结构。
2. 晶圆制备：集成电路芯片的制造过程通常从硅晶圆开始。
首先，将硅材料熔化，然后通过拉伸和旋转等方法制备成硅晶圆。
3. 掩膜制备：将硅晶圆表面涂覆上光感光阻，并通过光刻机在光感光阻表面形成图案。
然后使用化学溶液将未曝光的部分去除，得到掩膜图案。
4. 传输掩膜：将掩膜图案转移到硅晶圆上，通过掩膜上沉积或蚀刻等方法，在硅晶圆表面形成金属或电子元件。
5. 互连结构制备：通过金属导线、硅氧化物和金属隔离层等材料，形成元件之间的互连结构，实现元件之间的电连接。
6. 封装测试：将芯片放置在封装材料中，通过引脚等结构与外部电路连接，然后进行测试和封装。
集成电路的基本原理通过以上几个关键步骤实现电子元件和互连结构的制备和组装，最终形成一个完整的电路系统。
二、集成电路的工作原理集成电路的工作原理是指通过控制电流和电压在电路系统中的分布和变化，从而实现电子元件的工作和电路系统的功能。
高温集成电路应用
▪ 高温集成电路的应用领域
1.高温集成电路在航空航天、汽车、能源等领域有广泛应用， 对提高设备性能和可靠性具有重要作用。 2.在高温环境下，集成电路的性能表现和应用范围受到限制， 因此需要不断研发和改进高温集成电路技术。 3.随着科技的不断发展，高温集成电路的应用领域将进一步扩 大，为各行业发展提供技术支持。
高温集成电路简介
▪ 高温集成电路的发展趋势
1.随着技术的不断进步，高温集成电路的工作温度范围不断提 高，性能也不断提升。 2.高温集成电路正向着更低功耗、更高集成度的方向发展。
▪ 高温集成电路的设计挑战
1.高温环境下，集成电路的材料和结构需要特殊设计，以确保 稳定性和可靠性。 2.高温集成电路的设计需要考虑到热效应对电路性能的影响， 优化散热设计。
高温集成电路应用
目录页
Contents Page
1. 高温集成电路简介 2. 高温集成电路原理 3. 高温集成电路设计和制造 4. 高温集成电路的应用领域 5. 高温集成电路的优势和挑战 6. 高温集成电路的可靠性测试 7. 高温集成电路的发展前景 8. 结论：高温集成电路的重要性
高温集成电路应用
高温集成电路应用
高温集成电路设计和制造
高温集成电路设计和制造
▪ 高温集成电路设计
1.耐高温材料选择：需要选用能够在高温环境下保持稳定性能 的材料，如陶瓷、金属化合物等。 2.热设计：针对高温环境下的工作条件，需要进行热设计，以 确保集成电路的散热性能。 3.电路优化：优化电路设计，降低功耗，减少热量产生，提高 集成电路的高温稳定性。
高温集成电路简介
高温集成电路简介
▪ 高环境下工作的集成电路，能够在高温条件下保持优良的性 能和可靠性。 2.高温集成电路主要包括高温数字集成电路和高温模拟集成电路两大类，分别用于 处理数字信号和模拟信号。
集成电路测试原理
集成电路测试原理
集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。
1.基本原理
被测电路DUT可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入x和网络功能集F（x），确定原始输出回应y，并分析y是否表达了电路网络的实际输出。
因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输入应用于被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到结果。
图1 基本原理
2.测试过程
(1)测试设备
通常被叫做自动测试设备，是用来向被测试器件施加输入，并观察输出。
考虑被测器件的技术指标和规范，费用(美分/美秒、可靠性、服务能力、软件编程难易程度。
(2)测试接口
合理地选择测试插座和设计制作测试负载。
集成电路原理及应用的内容
集成电路原理及应用的内容1. 概述集成电路（Integrated Circuit，IC）是将大量电子器件（电阻、电容、晶体管等）以及其它元器件（电感、变压器等）集成到同一块或几块半导体晶片上的电路。
本文将介绍集成电路的原理及应用。
2. 集成电路的分类根据集成电路的规模和复杂度，可以将集成电路分为以下几类：2.1 数字集成电路•逻辑门电路：包括与门、或门、非门、异或门等，用于数字信号的逻辑运算。
•存储器：用来存储大量的二进制数据，包括RAM、ROM、Flash等。
•处理器：包括微处理器、信号处理器等，用于运算和控制。
2.2 模拟集成电路•放大器：包括运放和功率放大器，用于信号放大和增强。
•滤波器：用于信号滤波和频率选择。
•电源管理电路：包括稳压器、开关电源等，用于电源管理和电压稳定。
2.3 混合集成电路混合集成电路将数字电路和模拟电路集成在一起，既可以进行数字信号的处理，又可以进行模拟信号的放大和滤波等。
3. 集成电路的原理集成电路的原理基于半导体器件的特性和电路设计的原理，下面是集成电路的原理要点：3.1 半导体器件•晶体管：包括NPN型晶体管和PNP型晶体管，用于放大和开关等。
•二极管：包括正向导通二极管和反向截止二极管，用于整流和保护等。
•MOSFET：场效应管，用于功率放大和开关等。
3.2 电路设计•逻辑设计：采用布尔代数和逻辑门的原理进行设计，实现数字信号的处理与控制。
•放大器设计：采用电路理论和反馈控制原理，实现模拟信号的放大和增强。
•滤波器设计：采用频率响应和滤波器特性的原理，实现信号的滤波和频率选择。
4. 集成电路的应用集成电路广泛应用于各个领域，下面是集成电路常见的应用场景：4.1 通信领域•数字通信系统：集成电路用于数字信号的调制、解调和处理。
•无线通信系统：集成电路用于无线射频信号的放大、滤波和解调等。
•数据通信系统：集成电路用于数据传输和处理，包括网络交换和路由器等。
4.2 汽车电子•车载娱乐系统：集成电路用于音频、视频处理和控制。
iddq测试原理
iddq测试原理iddq测试原理是一种集成电路（IC）测试方法，用于检测芯片内部的电流。
它是一种零漏电流测试技术，通过检测芯片在静态状态下的电流来判断芯片的可靠性和质量。
iddq测试原理是基于CMOS（互补金属氧化物半导体）技术的电路测试方法。
CMOS电路是一种低功耗、高集成度的电路技术，广泛应用于各种集成电路中。
CMOS电路由N型MOS（NMOS）和P型MOS（PMOS）两种类型的MOSFET（金属氧化物半导体场效应晶体管）组成。
在CMOS电路中，NMOS和PMOS是互补的，当一个导通时，另一个处于截止状态。
iddq测试原理利用CMOS电路中的互补特性，通过测量芯片在静态状态下的电流来判断芯片是否正常。
在正常情况下，静态电流应该非常小，接近于零，因为CMOS电路在静态状态下是不消耗功耗的。
而当芯片存在缺陷时，例如晶体管漏电流过大、晶体管通道短路等，会导致芯片内部的电流明显增加。
iddq测试就是通过测量芯片的静态电流来检测这些缺陷。
iddq测试方法可以分为两种：全芯片iddq测试和局部iddq测试。
全芯片iddq测试是在芯片的所有输入和输出端口都关闭的情况下进行的，这样可以确保测量到的电流是芯片内部的电流。
而局部iddq测试则是在具体的电路模块上进行的，通过选择性地关闭部分输入和输出端口，可以更精确地定位电流缺陷。
iddq测试在集成电路制造过程中具有重要的意义。
它可以帮助制造商及时发现芯片的制造缺陷，提高芯片的质量和可靠性。
在芯片设计阶段，iddq测试也可以用来评估芯片的功耗和电流泄漏情况，优化电路设计。
虽然iddq测试方法简单有效，但也存在一些应用限制。
首先，iddq测试只能检测到静态电流缺陷，对于动态电流缺陷无能为力。
其次，iddq测试需要芯片处于静态状态，对于一些高速运行的芯片来说，测试过程可能会影响芯片的正常工作。
因此，在实际应用中，还需要结合其他测试方法来全面评估芯片的性能和可靠性。
总结起来，iddq测试原理是一种通过测量芯片的静态电流来检测电流缺陷的方法。
实验七集成运算放大器指标测试
实验七集成运算放大器指标测试一、实验目的1、掌握运算放大器主要指标的测试方法。
2、通过对运算放大器μA741指标的测试，了解集成运算放大器组件的主要参数的定义和表示方法。
二、实验原理集成运算放大器是一种线性集成电路，和其它半导体器件一样，它是用一些性能指标来衡量其质量的优劣。
为了正确使用集成运放，就必须了解它的主要参数指标。
集成运放组件的各项指标通常是由专用仪器进行测试的，这里介绍的是一种简易测试方法。
本实验采用的集成运放型号为μA741（或F007），引脚排列如图7－1所示，它是八脚双列直插式组件，②脚和③脚为反相和同相输入端，⑥脚为输出端，⑦脚和④脚为正、负电源端，①脚和⑤脚为失调调零端，①⑤脚之间可接入一只几十KΩ的电位器并将滑动触头接到负电源端。
⑧脚为空脚。
1、μA741主要指标测试图7－1 μA741管脚图图7－2 U0S、I0S测试电路1）输入失调电压U 0S理想运放组件，当输入信号为零时，其输出也为零。
但是即使是最优质的集成组件，由于运放内部差动输入级参数的不完全对称，输出电压往往不为零。
这种零输入时输出不为零的现象称为集成运放的失调。
输入失调电压U 0S 是指输入信号为零时，输出端出现的电压折算到同相输入端的数值。
失调电压测试电路如图7－2所示。
闭合开关K 1及K 2，使电阻R B 短接，测量此时的输出电压U 01 即为输出失调电压，则输入失调电压O1F11OS U R R R U +=实际测出的U 01可能为正，也可能为负，一般在1～5mV ，对于高质量的运放U 0S 在1mV 以下。
测试中应注意：a 、将运放调零端开路。
b 、要求电阻R 1和R 2，R 3和R F 的参数严格对称。
2）输入失调电流I 0S输入失调电流I 0S 是指当输入信号为零时，运放的两个输入端的基极偏置电流之差，B2B1OS I I I -=输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级两个晶体管β的失配度，由于I B1 ，I B2 本身的数值已很小（微安级），因此它们的差值通常不是直接测量的，测试电路如图7－2所示，测试分两步进行a 、 闭合开关K 1及K 2，在低输入电阻下，测出输出电压U 01 ， 如前所述，这是由输入失调电压U 0S 所引起的输出电压。
数字集成电路实验指导书
数字集成电路实验指导书2012年10月实验1 ：创建工艺库和Virtuoso原理图编辑及仿真一、实验目的：1.创建一个工艺库。
2.掌握电原理图（schematic）设计输入方法。
3.熟悉仿真设置。
二、实验器材：PC机一台，CADENCE的IC5141软件一套。
三、实验步骤：（一）：创建SMIC18工艺库过程1.在当前目录下创建一个目录，目录名为：12WDZXXX（学号后三位）2.将smicmmrf_1p6M_200706091815.tar拷贝到11WDXXX目录并解压。
解压命令：tar –xvf smicmmrf_1p6M_200706091815.tarls时会有一个目录smicmmrf_1p6M_200706091815根据该目录下的docs目录下，打开内容SMIC_0.18MMRF_Reference_Manual.pdf（转到第6页)看相当文档。
3.输入cd回到用户根目录，执行环境变量配置souece cad.cshrc4、cd 11WDXXX 进入11WDXXX目录5、输入icfb & 进入IC5141软件6、执行菜单：Tools/library manager在打开的窗口中: Edit/library path…在library中输入: smic18mmrf在path中输入：前面的路径/smicmmrf_1p6M_200706091815/smic18mmrf然后：file/save as …弹出对话框点击yes（二）：Virtuoso原理图编辑和仿真1、打开Tools/library manager，查看里面是否有:analoglib、basic和smic18mmrf 等相应的库。
若没有这些库要进行另外处理。
2、建立自己的设计库Design Lib。
File->New->Library，弹出“New Library”对话框,在name输入自己定义的名字如：INVlib在Technology File中选：Attach to an existing techfile后点击OK，在弹出的对话框中Technology File选：smic18mmrf后点击OK。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
集成电路测试原理及方法简介院系：电气工程及自动化学院姓名：学号：指导教师：设计时间：摘要随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。
集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。
集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。
本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。
逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。
关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法目录一、引言....................................................................................................... 错误!未指定书签。
二、集成电路测试重要性........................................................................... 错误!未指定书签。
三、集成电路测试分类............................................................................... 错误!未指定书签。
四、集成电路测试原理和方法................................................................... 错误!未指定书签。
4.1.数字器件的逻辑功能测试 ........................................................................ 错误!未指定书签。
4.1.1测试周期及输入数据............................................................................... 错误!未指定书签。
4.1.2输出数据................................................................................................... 错误!未指定书签。
4.2 集成电路生产测试的流程 ........................................................................ 错误!未指定书签。
五、集成电路自动测试面临的挑战........................................................... 错误!未指定书签。
参考文献....................................................................................................... 错误!未指定书签。
一、引言随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。
电脑﹑手机和3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。
2007年世界半导体营业额高达2.740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2.850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。
因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。
集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。
而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。
在这个集成电路生产的整个过程中，集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。
如：集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试，只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂，测试是保证产品质量的重要环节。
集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它为集成电路的进步做出了巨大贡献。
我国的集成电路自动测试系统起步较晚，虽有一定的发展，但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距，特别是在一些关键技术上难以实现突破。
国内使用的高端大型自动测试系统，几乎是被国外产品垄断。
市场上各种型号国产集成电路测试，中小规模占到80%。
大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。
大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试，我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术，因此，本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。
二、集成电路测试重要性随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。
在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。
如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题，良好的测试流程，可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰，这对于提高产品质量，建立生产销售的良性循环，树立企业的良好形象都是至关重要的。
次品的损失成本可以在合格产品的售价里得到相应的补偿，所以应寻求的是质量和经济的相互制衡，以最小的成本满足用户的需要。
作为一种电子产品，所有的芯片不可避免的出现各类故障，可能包括：1.固定型故障；2.跳变故障；3.时延故障；4.开路短路故障；5桥接故障，等等。
测试的作用是检验芯片是否存在问题，测试工程师进行失效分析，提出修改建议，从工程角度来讲，测试包括了验证测试和生产测试两个主要的阶段。
一款新的集成电路芯片被设计并生产出来，首先必须接受验证测试。
在这一阶段，将会进行功能测试、以及全面的交流（）参数和直流()参数的测试等，也可能会探测芯片的内部结构。
通常会得出一个完整的验证测试信息，如芯片的工艺特征描述、电气特征（参数、参数、电容、漏电、温度等测试条件）、时序关系图等等。
通过验证测试中的参数测试、功能性测试、结构性测试，可以诊断和修改系统设计、逻辑设计和物理设计中的设计错误，为最终规范(产品手册)测量出芯片的各种电气参数，并开发出测试流程。
当芯片的设计方案通过了验证测试，进入生产阶段之后，将利用前一阶段设计好的测试流程进行生产测试。
在这一阶段里，测试的目的就是对被测芯片进行“”或“”判断。
由于要每一片芯片进行生产测试，所以测试成本是这一阶段的首要问题。
出于此种目的，测试的效率很关键，生产测试生产没有验证测试那么全面，测试通常所采用的测试向量集不会包含过多的测试向量，但是必须有足够高的模型化故障的覆盖率以满足质量上的要求。
三、集成电路测试分类依照器件开发和制造阶段、采用的工艺技术、测试项目种类以及待测器件等的不同，测试技术可以分为很多种类。
器件开发阶段的测试包括：1.晶圆测试（）：对裸露的、尚未切割的每颗晶圆进行探针测试。
测试过程中，要让测试仪的探针与晶粒上的节电接触，测试晶粒的电气特性不合格的晶粒会被标上记号。
探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑，以便于时序调整和矫正。
2.生产测试：晶圆上的芯片经过封装后，对成品进行全面的电性能测试。
3.老化测试：通过生产性测试的产品并不是完全一致的，在实际应用当中，有些会很快失效，而有些会能长时间正常工作。
老化测试是通过一个长时间的连续或周期性的测试使不耐用的器件失效，从而确保老化测试后器件的可靠性。
老化测试分为静态老化测试和动态老化测试。
静态老化测试是在给器件提供供电电压下，提高器件的工作温度，对其寿命进行测试。
动态老化测试是在静态老化测试的基础上施加激励。
4.质量控制测试：为确保生产产品的质量，对准备出厂的合格器件进行抽样测试，确保良品的合格率。
目前，集成电路针对不同的应用场合分为民用标准级、工业标准级和军用标准级别，不同的级别参数测试的标准高低不同。
图1为集成电路一般的测试流程：图1 测试流程四、集成电路测试原理和方法通常的按测试项目种类分主要包括：1．逻辑功能测试：根据被测器件的真值表，设计向量，对器件逻辑功能进行测试。
2．直流参数测试：在的引脚上施加电流或电压，测出具体的参数数值。
测试项目包括：开路/短路测试，输出驱动电流测试，漏电电流测试，电源电流测试，转换电平测试等。
4.1.数字器件的逻辑功能测试结合体图2，逻辑功能测试是旨在于检查被测器件在类似实际使用的环境下是否能实现其预期逻辑功能的一类测试，也就是我们常说的功能测试。
功能测试根据被测器件的真值表、状态方程、测试图形来测试器件的逻辑功能。
功能测试是全集的，测试向量集不会包含多余的测试向量，但必须有足够高的故障覆盖率。
在电路中传输的逻辑“1/0”是由带定时特性和电平特性的波形，与波形形状、脉冲宽度、脉冲边缘或斜率以及上升沿和下降沿的位置都有关系。
功能测试关注的重点是测试图形产生的速度、边沿定时控制的特性、输入/输出控制和屏蔽选择。
参照被测器件（）的器件手册，考虑各个方面的性能，必须仔细检查下列项的准确值：①被测器件电源电压最小值/最大值；② (输出电压)；③ (输入电压)；④ (输出负载电流)；⑤动态电流负载参考电平；⑥测试频率/周期；⑦输入信号时序(时钟/建立时间/保持时间/控制信号)；⑧输入信号波形编码方式；⑨输出时序(在周期内何时对输出进行采样)；⑩向量序列(向量文件内的开始/停止位置)。
从以上可以看出，逻辑功能测试中需要配置大量的资源信息，主要由两大块组成，一是测试向量文件，另外一块是包含测试指令的主测试程序。
测试向量代表了测试待测器件所需的激励输入和期望输出的逻辑状态。
主测试程序设定测试速率、引脚部件电平值、输入通道的编码格式、波形和时序等所必需的信息。
从向量存储器里输出的数据与时序，编码格式以及电平数据结合在一起，通过引脚电路施加给被测器件。
输入的测试数据就包含测试向量、输入信号时序、输入信号格式化编码、输入电平组等。
执行功能测试时，设定必要的初始程序、合理的电平和电流值和定时条件后，测试系统逐个周期的给提供激励，同时在一个周期内对的输出进行监测，输出信号与测试向量表示的期望值相互比较，如果输出引脚输出的逻辑状态与期望不相符合，则功能测试失效。
对输出响应的检测有两种方法。
(1)比较法：输入激励同时应用于被测电路和一个称为金器件(设为无故障)的相同器件，比较两者输出响应即可判断被测电路正确性。
这种比较法一般适用于比较简单的标准中小规模(、)电路的测试。
(2)存储响应法：结合图2，在计算机的控制下，被测器件的测试集存放在测试系统高速缓冲存储器中。
测试时，测试图形根据测试主频逐排读出，输入激励顺次施加于被测器件，逐拍与期望响应作为比较。
如果比较结果全部一致，则证明器件功能合格；否则称器件功能失效。