现代分析测试技术TE
现代分析测试技术复习知识点答案

《现代分析测试技术》复习知识点答案(总13页)--本页仅作为文档封面,使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--一、名词解释1. 原子吸收灵敏度:也称特征浓度,在原子吸收法中,将能产生1%吸收率即得到的吸光度的某元素的浓度称为特征浓度。
计算公式: S=×C/A (ug/mL/1%)S——1%吸收灵敏度 C——标准溶液浓度——为1%吸收的吸光度A——3次测得的吸光度读数均值2. 原子吸收检出限:是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量。
通常以产生空白溶液信号的标准偏差2~3倍时的测量讯号的浓度表示。
只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时,才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。
计算公式: D=c Kδ/A mD——元素的检出限ug/mL c——试液的浓度δ——空白溶液吸光度的标准偏差 A m——试液的平均吸光度 K——置信度常数,通常取2~33.荧光激发光谱:将激发光的光源分光,测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化,以I F—λ激发作图,便可得到荧光物质的激发光谱4.紫外可见分光光度法:紫外—可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱区的辐射来进行分析测定的方法。
这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁,广泛用于无机和有机物质的定量测定,辅助定性分析(如配合IR)。
5.热重法:热重法(TG)是在程序控制温度下,测量物质质量与温度关系的一种技术。
TG基本原理:许多物质在加热过程中常伴随质量的变化,这种变化过程有助于研究晶体性质的变化,如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象;也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。
热重分析通常可分为两类:动态(升温)和静态(恒温)。
检测质量的变化最常用的办法就是用热天平(图1),测量的原理有两种:变位法和零位法。
材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法材料的现代分析测试方法是为了研究材料的组成、结构、性质以及相应的测试手段。
通过分析测试方法,我们可以深入了解材料的特点,进而为材料的研发、优化和应用提供有效的数据支持。
下面将介绍几种常用的材料现代分析测试方法。
一、质谱分析法质谱分析法是一种通过测量样品中不同质荷比(m/z)的离子的相对丰度来确定样品组成和结构的分析方法。
质谱分析法适用于分析有机物和无机物。
其优点是能快速分析出物质组成,提供准确的质量数据,对于结构复杂的样品仍能有效分析。
二、核磁共振(NMR)谱学核磁共振谱学是一种通过测量样品中核自旋与磁场相互作用的现象来分析样品结构和组成的方法。
不同核的共振频率和强度可以提供关于样品分子结构和组成的信息。
核磁共振谱学适用于有机物和无机物的分析。
由于从核磁共振谱图中可以获得丰富的结构信息,所以核磁共振谱学被广泛应用于有机化学、药物研发和材料科学等领域。
三、红外光谱学红外光谱学是一种通过测量样品对不同波长的红外辐射的吸收情况来分析样品结构和组成的方法。
不同官能团在红外区域会有特定的吸收峰位,因此红外光谱能提供有关样品中化学键和官能团的信息。
红外光谱学适用于有机物和无机物的分析。
它具有非破坏性、快速、易于操作等特点,在化学、生物和材料科学领域得到了广泛应用。
四、X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种通过测量样品对入射X射线的衍射现象来研究样品结构和晶体结构的方法。
不同物质的晶格结构具有不同的衍射图样,通过分析衍射图样可以获得样品的晶体结构信息。
X射线衍射适用于分析有晶体结构的材料,如金属、陶瓷、单晶等。
它能提供关于晶体结构、晶粒尺寸和应力等信息,被广泛应用于材料科学、地质学和能源领域。
五、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)扫描电子显微镜和透射电子显微镜是一种通过聚焦电子束对材料进行观察和分析的方法。
扫描电子显微镜主要用于获得材料的表面形貌、颗粒分布和成分分析。
透射电子显微镜则能提供材料的内部结构和界面微观结构的信息。
材料现代分析与测试技术论文

材料结构分析结课论文学院:物理化学学院专业班级:应化1001 姓名:学号: 311013030110材料现代分析与测试技术论文随着经济的迅速发展,人们对材料的需求日益增加。
为了满足这些现代技术对材料的需求,世界各国都非常重视功能材料的研究和开发。
功能材料作为现代技术的标志,引起了各国的关注,已经成为材料科学中的一个分支学科,并在不同程度上推动或加速了各种现代技术的进一步发展。
本篇综述简单介绍了功能材料的材料是现代科技和国民经济的物质基础。
一个国家生产材料的品种、数量和质量是衡量其科技和经济发展水平的重要标志。
因此,现在称材料、信息和能源为现代文明的三大支柱,又把新材料、信息和生物技术作为新技术革命的主要标志。
材料的发展虽然历史悠久,但作为一门独立的学科始于20世纪60年代。
材料的研究和制造开始从经验的、定性的和宏观的向理论的、定量的和微观的发展。
20世纪70年代,美国学者首先提出材料科学与工程这个学科全称。
1975年美国科学院发表的《材料与人类》专著中[1],对材料科学与工程定义为:探索和应用材料的成分、结构、加工和其性质与应用之间关系的一门学科。
功能材料的概念是美国 Morton J A于1965年首先提出来的。
功能材料是指具有一种或几种特定功能的材料,如磁性材料、光学材料等,它具有优良的物理、化学和生物功能,在物件中起着“功能”的作用[2]。
20世纪60年代以来,各种现代技术的兴起,强烈刺激了功能材料的发展。
为了满足这些现代技术对材料的需求,世界各国都非常重视功能材料的研究和开发。
同时,由于固体物理、固体化学、量子理论、结构化学、生物物理和生物化学等学科的飞速发展以及各种制备功能材料的新技术和现代分析测试技术在功能材料研究和生产中的实际应用,许多新功能材料不仅已经在实验室中研制出来,而且已经批量生产和得到基本性能、特点和分类及其发展现状和发展趋势。
(1)X射线单晶体衍射仪(X-ray single crystal diffractometer,简写为XRD) 原理:根据布拉格公式:2dsinθ=λ可知,对于一定的晶体,面间距d一定,有两种途径可以使晶体面满足衍射条件,即改变波长λ或改变掠射角θ。
现代分析测试技术-福州大学测试中心

授课 2 实验 2
第九部分 核磁共振波
4
谱仪原理及应用
授课 2 实验 2
考试
4
3
学习本课 程之前必 须先修的 主要课程
大学物理 物理化学 材料科学基础
晶体学
主要教学 方式
授课及实验课
备注
开 课
测试中心 教 研 室
任课 教师 姓名 职 称
杨晓华 教授 张新奇工程师 陈志鑫 副研究员 黄清明 高工 陈天文 高工 尹华 冯蕊 高工 卢巧梅 助理研究员 童 萍 助理研究员 刘 薇 助理研究员 林 芬 工程师 何运慧 工程师 林 韵 工程师
容
4. 具 备 专 业 从 事 材 料 分 析 测 试 工 作 的 初 步 基 础 , 具 备 通
提
过 继 续 学 习 掌 握 材 料 分 析 新 方 法 、新 技 术 的 自 学 能 力 。
要
教
学
时
数
总学时数
第一学期
第 学期
第 学期
课内
36
主 要 教 材 、 参 考 书 目 或 文 献 目 录
课 外 课 内 周学时数 课 内
36
4
书
目
材料现代分析测试实验 透射电子显微学进展 材料现代分析方法 材料分析测试技术 X 射线荧光光谱分析
色谱联用技术
周学时数 课 内
周学时数
编著者
张庆军 科学技术出版社 北京工业大学出版社 哈尔滨工业大学出版社 吉昂,陶光仪, 卓尚军,罗立强
汪正范,杨树民,
电喷雾质谱应用技术
热分析仪器.;热分析导论 表面分析技术 表面物理导论
目 课程的学习使学生对材料的现代分析测试方法有一个初步的较全面的了解和认识,
SEM和EDS的现代分析测试方法

SEM和EDS的现代分析测试方法SEM(扫描电子显微镜)和EDS(能量散射X射线分析)是一对常用于材料科学和地质学等领域的现代分析测试方法。
SEM利用电子束扫描样品表面,通过获取样品表面的电子信号来生成高分辨率的图像;EDS则通过分析样品表面散射的X射线能谱来确定样品元素的组成。
这两种技术的结合能够提供精确的显微结构和化学成分信息,为材料研究和质量控制提供了有力的分析手段。
SEM主要通过扫描电子束在样品表面的不同位置进行扫描,利用激发的次级电子、反射电子和主束电子回散射的电子等不同信号来获得样品表面的形貌信息。
相对于光学显微镜,SEM具有更高的分辨率和放大倍数,能够观察到更小尺寸的细节结构。
此外,SEM还可以通过选择不同的操作模式(如反射电子显微镜模式和透射电子显微镜模式)来观察不同类型的样品,如金属、陶瓷、生物样品等。
在材料科学领域,SEM常用于观察样品中的晶体结构、颗粒形貌、纤维组织等微观结构。
EDS是SEM的一个重要附属技术,它通过分析样品表面散射的X射线能谱来确定样品元素的组成。
当电子束轰击样品表面时,样品中的原子会激发出一系列特征X射线。
这些X射线的能量和强度与样品中元素的种类和含量有关。
EDS系统可以通过收集散射的X射线并对其进行能量谱分析,从而确定样品中存在的元素及其相对含量。
EDS不仅能够提供定性分析结果,还可以通过比对与标准参考谱库进行定量分析,得到精确的元素含量。
SEM-EDS组合技术具有广泛的应用范围。
在材料科学中,它可以用于研究材料的显微结构、相变、晶粒生长等问题。
例如,可以通过SEM观察金属材料中的晶粒尺寸和分布,进而对材料的力学性能和导电性能进行评估。
同时,通过使用EDS技术,还可以分析材料中微量元素的含量,进一步揭示材料的化学成分和微观特征。
总之,SEM和EDS是一对功能强大的现代分析测试方法。
它们可以提供高分辨率的显微结构和准确的化学组分信息,而且应用范围广泛,适用于材料科学、地质学、生物学和环境科学等领域的研究和应用。
现代分析测试技术 X射线光谱分析

连续转动 在样品上方放置一块分光晶体,利用晶 体衍射把不同的X射线分开。 特定方向产生衍射: 2dsin = 面向衍射束安置一个接收器.便可记录 下不同波长的x射线。
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在波谱仪中,X射线信号来自样品表层的一个极小的体积,
可将其看作点光源,由此点光源发射的X射线是发散的,故能
定点定性分析 线扫描分析 面扫描分析
定点定量分析
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1、定点定性分析
对试样某一选定点(区域)进行定性成分分析,以确定
该点区域内存在的元素。
原理如下: 关闭扫描线圈,使电子束定在需要分析的某一点上,激 发试样元素的特征 X 射线。用谱仪探测并显示 X射线谱,根 据谱线峰值位置的波长或能量确定分析点区域的试样中存在
并测得它们的强度射线光谱分析。据此进行材料的成
分分析,这就是X射线光谱分析。
2
用于探测样品受激产生的特征射线的波长和强度的设备,
称为X射线谱仪;有以下两种: 利用特征X射线的波长不同来展谱,实现对不同波长 X射线 检测的波长色散谱仪(WDS),简称波谱仪。 利用特征X射线的能量不同来展谱,实现对不同能量 X射线 检测的能量色散谱仪(EDS),简称能谱仪。 区别:
由于Li离子极易扩散的特性,使用和保存都
要在液氮温度下。
X光子电脉冲信号(脉冲高度与被吸收光子的能量成正比)
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11.2.2 能量色散谱仪的结构和工作原理
能量色散谱仪主要由Si(Li)半导体探测器、多道脉冲高度
分析器以及脉冲放大整形器和记录显示系统组成。
X光子电流脉冲
电压脉冲
锂漂移硅能谱仪方框图
脉冲高度与被 吸收的光子能 量成正比
《现代分析测试技术》课程中有关“准晶”教学的几点启示

《现代分析测试技术》课程中有关“准晶”教学的几点启示摘要:“现代分析测试技术”是理工科大学生的一门重要的专业基础课。
面对时代转型,“现代分析测试技术”课程的教学也面临如何改变传统的教学方式,逐步适应社会需求的问题。
本文作者就在教学过程中利用以色列科学家达尼埃尔·谢赫特曼因1982年发现“准晶”而独享2011年诺贝尔化学奖的事件,结合“准晶”发现过程的一些故事以及作者的一些体会加入到教学中,起到了很好的教学效果。
关键词:现代分析测试技术;课程教学;准晶中图分类号:g42文献标识码:a文章编号:1009-0118(2013)02-0031-02多年来,《现代分析测试技术》的课程一直是各高校材料专业开设的一门经典课程,在提高大学生创新能力、创造能力方面发挥着重要的作用。
它主要讲授了材料工作者经常使用的几种分析测试技术,如x射线衍射、透射电镜、扫描电镜和电子探针的基本原理、试验方法和应用。
作者以前在讲授这门课程的时候,每每讲到透射电镜为人类所做出的杰出贡献的时候,与超导体一道被列为19世纪80年代凝聚态物理两大重要进展的“准晶”只是一句话带过:“以色列科学家达尼埃尔·谢赫特曼于1982年4月8日首次在透射电子显微镜中观察到一种“反常理”的现象——他们当时所观察的铝合金中的原子,是以一种不重复的非周期性对称有序方式排列的,而按照当时的理论,具有此种原子排列方式的固体物质是不存在的,最终,人们认识到这是一种新的固体,命名为“准晶”,从而带来了传统晶体学的一场革命”。
但是,2011年10月5日,瑞典皇家科学院宣布,以色列科学家达尼埃尔·谢赫特曼因发现准晶体独享2011年诺贝尔化学奖,举世轰动。
全世界的目光又重新回到“透射电镜”,回到“准晶”上面来。
我在2012年上半年的“现代分析测试教学”中,就利用谢赫特曼发现“准晶”而独享2011年诺贝尔化学奖的契机,结合我所知道的“准晶”发现过程的一些故事以及我个人的一些体会,全部都加到教学中去,有关“准晶”的内容整整讲了一节课,同学们听的很入神,起到了非常好的教学效果。
材料现代分析测试技术-光谱分析

弧层边缘的温度较低,因而这里处于基态的同类原子较多。 这些低能态的同类原子能吸收高能态原子发射出来的光而 产生吸收光谱。原子在高温时被激发,发射某一波长的谱 线,而处于低温状态的同类原子又能吸收这一波长的辐射, 这种现象称为自吸现象。
光电直读光谱仪
在原子发射光谱法中, 一般多采用摄谱法(spectrography)。
摄谱法是用感光板记录光谱。将光谱感光板置于摄谱仪 焦面上,接受被分析试样的光谱作用而感光,再经过 显影、定影等过程后,制得光谱底片,其上有许多黑 度不同的光谱线。然后用影谱仪观察谱线位置及大致 强度,进行光谱定性及半定量分析。
(6)谱线的自吸与自蚀
三、谱线的自吸与自蚀(self-absorption and selfreversal of spectral lines)
在实际工作中,发射光谱是通过物质的蒸发、激发、 迁移和射出弧层而得到的。首先,物质在光源中蒸发形成 气体,由于运动粒子发生相互碰撞和激发,使气体中产生
大量的分子、原子、离子、电子等粒子,这种电离的气 体在宏观上是中性的,称为等离子体。在一般光源中, 是在弧焰中产生的,弧焰具有一定的厚度,如下图:
4. Atomic fluorimetry
气态自由原子吸收特征波长的辐射后,原子的外层 电子 从基态或低能态跃迁到较高能态,约经10-8 s,又跃
迁至基态或低能态,同时发射出与原激发波长相同(共 振荧光)或不同的辐射(非共振荧光—直跃线荧光、阶 跃线荧光、阶跃激发荧光、敏化荧光等),称为原子荧 光。波长在紫外和可见光区。在与激发光源成一定角度 (通常为90)的方向测量荧光的强度,可以进行定量分 析。