膜厚仪说明书
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、背景介绍膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工业等领域。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的使用方法和操作步骤，以匡助操作人员正确、高效地使用膜厚仪。
二、设备准备1. 膜厚仪：确保膜厚仪处于正常工作状态，电源连接正常。
2. 标准样品：准备一系列已知厚度的标准样品，以进行校准和验证。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，待其启动完成后，进入待机状态。
2. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保其表面平整、干净。
3. 确认膜厚仪的测量参数设置，包括测量范围、测量模式等，根据实际需要进行调整。
4. 进行校准：使用标准样品进行校准，校准过程中需要按照膜厚仪的操作说明进行操作，确保校准结果准确可靠。
5. 开始测量：按下膜厚仪上的测量按钮，仪器开始进行测量，测量过程中需保持样品和仪器的相对位置稳定不变。
6. 测量结果记录：测量完成后，将测量结果记录下来，包括样品的厚度、测量时间等信息。
7. 数据处理：根据实际需要，对测量结果进行统计、分析和处理，生成相应的报告或者图表。
四、注意事项1. 在使用膜厚仪之前，应先阅读并熟悉仪器的操作说明书，确保正确操作。
2. 在进行测量之前，应确保待测样品表面干净、平整，以避免测量误差。
3. 在进行校准和测量过程中，应保持环境稳定，避免因温度、湿度等因素对测量结果产生影响。
4. 校准是确保测量结果准确可靠的重要步骤，应定期进行校准，并记录校准结果。
5. 在测量过程中，应尽量避免外界干扰，如震动、电磁场等，以保证测量结果的准确性。
6. 定期对膜厚仪进行维护和保养，保持仪器的正常工作状态。
五、常见问题及解决方法1. 问题：测量结果不稳定。
解决方法：检查样品表面是否干净、平整，确保样品与仪器接触良好；检查仪器是否处于稳定状态，如有异常应进行维修。
2. 问题：测量结果与标准值偏差较大。
解决方法：检查仪器的校准情况，如有需要重新校准；检查样品的表面是否有污染或者损伤，如有需要进行清洁或者更换样品。
β膜厚仪说明书
一引言1.1用途本仪器为多用途完整涂层测厚仪。
它能精确测量不同基底上的各种涂层和覆盖层的厚度。
1.2工作原理本仪器是利用从放射源中射出的高速电子（β粒子）与靶材原子的相互作用进行测量工作的。
当β粒子与靶材原子相互碰撞时，β粒子的一部分将被反射或散射。
反射粒子数随靶材原子序数的增加而增加。
背散射粒子的总数也会随靶材厚度的增加而增加，直至特征厚度。
此特征厚度被称做饱和厚度或极限厚度。
对于特定的同位素而言，当达到饱和厚度以后，背散射粒子的总数将不再增加。
因此，一束β粒子轰击到涂层/基材复合物后，其背散射辐射的强度（通过每分钟的计数值来测量）与涂层厚度的关系如下：A．基材厚度未改变（实际应用中，基材厚度通常比饱和厚度大得多）。
B．对于所用的同位素而言，涂层材料的厚度小于它的极限或饱和厚度。
C．基材的原子序数与涂层材料原子序数最少差5。
前述为利用β粒子背散射规律测量涂层厚度的原理。
实际上，涂层厚度与测量的背散射强度，或每分钟计数值之间的关系不是线性的。
必须在测量之前进行四点或多点校准，以使仪器能够将每分钟的测量计数转化成相应的厚度。
有一个例外情况，当合金成分和背散射强度之间为线性关系时，测量合金成分不需要四点校准，两点校准就足够了。
1.3仪器的安放虽然本仪器是实验室高精度的仪器，其环境耐受性及稳定性设计保证它可以在商店环境下使用。
应把它安放在尺寸大小足够，水平度理想且牢固的桌面上，并给待测物资预留充分的空间。
1.4配电要求需要115/230V，50/60Hz的单相交流电源。
显示单元有电压补偿，可在105-125/210-250V范围内工作。
电压或频率超过此限度会导致仪器工作不正常。
1.5设备组装1.5.1开箱仔细打开和检查所有箱子。
将所有物件移放到大而稳定的平台上以便组装。
如果发现损坏，请立即通知CMI国际公司或运输公司。
1.5.2电缆连接为了防止错误的连接，BMX系统所有部件的电缆线都是唯一的。
除了显示单元的电源线必须最后连接之外，其他（在单元背部）的电缆连接顺序可以随意安排。
TM106膜厚监控仪使用说明书V1.0
qnix4200 4500涂镀层测厚仪使用说明书
目录一、概述 (1)二、产品特点 (1)三、选型指南 (2)四、技术参数 (3)五、操作步骤 (3)六、显示说明 (6)七、维护和维修 (6)八、注意事项和觉见问题 (7)一、概述德国尼克斯QNIX 涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
注：磁性金属元素有铁、钴、镍及镧系元素。
二、产品特点零位稳定：所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
无需校准：多数涂层测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。
测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。
主要是不能满足全范围内的线性精度。
不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。
尼克斯涂层测厚仪可以满足全量程范围内数值准确温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。
同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。
所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头：探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。
普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
独特的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。
单探头量程大：0－5mmQ N i x®4200（含Q N i x4200、Q N i x4200/5、Q N i x4200P、QNix4200P5）可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度。
（Fe）QNix4500（含QNix4500、QNix4500/5、QNix4500P、QNix4500P5 可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度及非磁性金属表面非导电涂层厚度。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书1. 简介膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的正确使用方法，以确保准确测量和数据记录。
2. 仪器准备2.1 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中，远离振动和干扰源。
2.2 检查仪器的电源和连接线是否正常，确保仪器处于正常工作状态。
2.3 检查测量探头的清洁程度，如有污垢应及时清洁，以免影响测量结果。
3. 校准3.1 打开膜厚仪的电源，并等待仪器的初始化完成。
3.2 使用已知厚度的标准样品进行校准。
将标准样品放置在测量台上，并按照仪器说明书的指引进行校准操作。
3.3 校准完成后，检查校准结果是否符合要求，如有误差应重新进行校准。
4. 测量操作4.1 将待测样品放置在测量台上，并确保样品与测量台接触良好。
4.2 打开膜厚仪的测量程序，并根据需要选择合适的测量参数，如测量范围和测量速度等。
4.3 将探头轻轻贴近样品表面，确保与样品接触良好，并启动测量程序。
4.4 等待测量结果稳定后，记录测量数值，并进行必要的数据处理。
5. 数据记录与分析5.1 将测量结果记录在指定的数据表格或文件中，包括样品编号、测量日期、测量参数和测量数值等。
5.2 对测量结果进行必要的数据分析，如计算平均值、标准偏差等统计量，并根据需要绘制相应的图表。
6. 仪器维护6.1 每次使用结束后，及时清洁仪器和探头，避免污垢积累影响测量精度。
6.2 定期检查仪器的电源和连接线，确保其正常工作。
6.3 根据仪器说明书的要求，进行定期的校准和维护操作，以保证仪器的准确性和稳定性。
7. 安全注意事项7.1 在使用膜厚仪时，应注意避免直接接触探头和样品，以免造成伤害。
7.2 使用过程中应注意避免碰撞和摔落，以免损坏仪器。
7.3 在清洁仪器时，应使用柔软的清洁布或棉签，避免使用有腐蚀性的溶剂。
7.4 如发现仪器存在异常情况或故障，应及时停止使用并联系维修人员进行检修。
以上为膜厚仪的作业指导书，通过正确的操作和维护，可以确保膜厚仪的准确测量和可靠性。
X-RAY膜厚仪操作标准书
许多频谱文件的” 没有进行基准测量
进行基准测量
打开”窗口,没有显 X-RAY与WinFTM®联线中断
X-RAY与WinFTM®进行联线
示测量数据
X-RAY与计算机的联线中断
X-RAY与WinFTM®进行联线
在频谱子程序中， X-RAY没有正确连到计算机上 关掉仪器,检查接线后再打开仪
测量开始后没有显
保险丝
测量数据错误
选择的产品程式与样品不符
选择或设定样品的正确产品程式
文件名称 X-RAY膜厚仪操作标准书 文件编号 Q/MS-012 版本 A/0 页：6/7
故障
可能原因
分析方法
归一化或调校错误
正确归一化或调校
菜单或菜单条没有 处于短目录状态
选择菜单”一般-全目录”，切
在菜单栏中出现
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述：膜厚仪是一种常用于测量薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本文将详细介绍膜厚仪的操作方法和注意事项，以帮助用户正确使用膜厚仪进行测量。
一、准备工作1.1 仪器准备在使用膜厚仪之前，首先需要确保仪器处于正常工作状态。
检查仪器的电源线是否连接稳固，仪器表面是否有损坏。
同时，还需要确认仪器内部的测量探头是否清洁，以保证测量结果的准确性。
1.2 校准膜厚仪的准确性需要通过校准来保证。
在进行测量之前，应先进行校准操作。
校准过程中，需要使用标准样品进行比对，根据标准样品的厚度值来调整仪器的测量参数，确保测量结果的准确性和可靠性。
1.3 样品准备在进行测量之前，需要准备好待测样品。
样品应具备一定的平整度，表面应清洁无杂质，以免影响测量结果。
对于柔性样品，需要将其固定在测量台上，确保测量过程中的稳定性。
二、操作方法2.1 打开仪器将膜厚仪接通电源，并按照仪器说明书的要求打开仪器。
在仪器开机后，需要等待一段时间，使其进入工作状态。
2.2 设置测量参数根据待测样品的特性，设置合适的测量参数。
一般来说，需要设置测量模式（如单点测量、扫描测量）、测量范围、测量速度等参数。
这些参数的选择应根据实际需求和样品特性来确定。
2.3 进行测量将待测样品放置在测量台上，并调整仪器的焦距，使其与样品表面保持一定的距离。
按下测量按钮，仪器将开始进行测量。
在测量过程中，需要保持样品的稳定，并确保测量探头与样品表面的接触良好。
三、注意事项3.1 避免干扰源在进行测量时，应尽量避免外部干扰源的影响。
例如，避免在有强磁场或强电场的环境中进行测量，以免影响测量结果的准确性。
3.2 防止污染膜厚仪的测量探头非常敏感，容易受到污染物的影响。
在使用过程中，应注意避免手指直接接触探头，以免留下指纹或其他污染物。
3.3 定期维护为了保证膜厚仪的正常工作和准确测量，应定期对仪器进行维护。
包括清洁测量探头、检查电源线和连接线的连接状态、更新仪器软件等。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供详细的操作步骤和注意事项，以确保正确使用膜厚仪并获得准确的测量结果。
二、设备准备1. 确保膜厚仪已经正确连接到电源，并处于待机状态。
2. 检查膜厚仪的探头是否清洁，如有污垢应使用专用清洁剂进行清洗。
3. 准备待测样品，并确保其表面干净、光滑。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪的电源开关，并等待仪器启动。
2. 选择合适的测量模式，通常有单点测量和连续测量两种模式可供选择。
3. 将膜厚仪的探头轻轻放置在待测样品的表面上，确保探头与样品表面接触紧密。
4. 按下测量按钮，开始进行膜厚测量。
在连续测量模式下，仪器将自动进行连续测量。
5. 等待测量结果显示在膜厚仪的屏幕上。
通常，测量结果以膜厚值（单位为纳米或微米）的形式呈现。
6. 如需记录测量结果，可使用膜厚仪上的保存功能或将结果手动记录在纸质或电子表格中。
7. 完成测量后，关闭膜厚仪的电源开关，并将探头清洁干净。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，应先阅读并理解膜厚仪的用户手册，以熟悉仪器的功能和操作流程。
2. 在测量之前，确保待测样品的表面干净、光滑，以避免测量误差。
3. 在测量过程中，保持膜厚仪的探头与样品表面的接触紧密，避免晃动或施加过大的压力。
4. 如发现膜厚仪的测量结果异常或不稳定，应检查探头是否清洁，或者进行校准和调试。
5. 避免将膜厚仪暴露在潮湿、高温或强磁场等环境中，以免影响仪器的性能和测量结果的准确性。
6. 定期对膜厚仪进行维护和校准，以确保其长期稳定的工作性能。
五、常见问题与解决方法1. 问：测量结果显示异常，与预期值相差较大，怎么办？答：首先检查待测样品的表面是否干净，如有污垢应清洁后重新测量。
如果问题仍然存在，可以尝试进行膜厚仪的校准和调试。
2. 问：膜厚仪的探头如何清洁？答：使用专用清洁剂或纯净的酒精棉球轻轻擦拭探头表面，避免使用有腐蚀性的溶剂。
3. 问：膜厚仪的测量结果不稳定，如何解决？答：可以尝试将探头重新校准，并确保在测量过程中保持稳定的操作环境，如避免震动和温度变化等。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、背景介绍膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器，广泛应用于电子、光学、涂料等行业。
为了确保膜厚仪的正确使用和操作，本作业指导书旨在提供详细的操作步骤和注意事项，以确保用户能够准确测量膜层厚度并获得可靠的结果。
二、设备准备1. 膜厚仪：确保膜厚仪处于正常工作状态，并进行必要的校准。
2. 校准样品：根据需要选择适当的校准样品，确保其表面膜层厚度已知准确并符合要求。
3. 清洁布：用于清洁膜厚仪的探头和样品表面。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，并等待其启动完成。
2. 校准膜厚仪：将校准样品放置在膜厚仪的测量台上，按照仪器说明书的指导进行校准操作。
校准完成后，记录校准结果并确保其准确性。
3. 清洁样品表面：使用清洁布轻轻擦拭待测样品表面，确保其干净无尘。
4. 放置样品：将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保其与测量台接触良好。
5. 测量膜层厚度：按下膜厚仪上的测量按钮，仪器将自动测量样品表面的膜层厚度。
待测量完成后，记录测量结果。
6. 重复测量：如有需要，可对同一样品进行多次测量，以确保结果的准确性和可靠性。
7. 结束操作：完成测量后，关闭膜厚仪电源，并将设备归位。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，确保已经阅读并理解了膜厚仪的使用说明书，并按照说明书的要求进行操作。
2. 在校准膜厚仪之前，务必检查校准样品的膜层厚度是否符合要求，并确保校准过程准确无误。
3. 在清洁样品表面时，使用干净的清洁布，避免使用有损伤或杂质的布料，以免影响测量结果。
4. 在放置样品时，确保样品与测量台接触良好，避免产生误差。
5. 在测量膜层厚度时，尽量避免外界干扰，如电磁场、震动等，以确保测量结果的准确性。
6. 如有需要，可对同一样品进行多次测量，以获得更加可靠的结果。
7. 在操作完成后，及时关闭膜厚仪电源，并将设备归位，以确保设备的安全和延长其使用寿命。
五、常见问题及解决方法1. 问题：测量结果与预期不符。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本作业指导书旨在帮助操作人员正确使用膜厚仪，以确保测量结果的准确性和可靠性。
二、仪器概述膜厚仪由以下主要部分组成：1. 主机：包含显示屏、控制面板和测量通道。
2. 探头：用于接触被测材料，并测量薄膜厚度。
3. 电源：提供电力供应给膜厚仪。
4. 数据处理单元：用于处理测量数据并输出结果。
三、操作流程1. 准备工作a. 将膜厚仪放置在稳定的工作台上，确保其平稳且不易受到外部干扰。
b. 检查电源线是否连接稳固，并插入电源插座。
c. 按下电源开关，等待仪器启动完成。
2. 校准膜厚仪a. 打开膜厚仪的校准程序。
b. 将已知厚度的标准样品放置在探头下方，并调整探头位置，使其与样品接触。
c. 在校准程序中选择标准样品的厚度，并开始校准。
d. 校准完成后，确认校准结果无误。
3. 测量薄膜厚度a. 将待测样品放置在探头下方，并调整探头位置，使其与样品接触。
b. 在膜厚仪的测量程序中选择合适的测量参数，如测量速度、测量范围等。
c. 开始测量，并等待测量结果显示在屏幕上。
d. 根据需要，可以进行多次测量以提高测量结果的准确性。
4. 结果处理a. 将测量结果记录在实验记录表中，并标明测量时间、样品名称等相关信息。
b. 分析测量结果，如计算平均值、标准偏差等统计参数。
c. 根据测量结果，评估样品的薄膜厚度是否符合要求。
四、注意事项1. 在使用膜厚仪之前，务必阅读并理解本操作指南。
2. 操作人员应穿戴适当的防护装备，如手套、护目镜等。
3. 在操作过程中，应注意避免膜厚仪受到外部冲击或振动。
4. 使用膜厚仪时，应确保工作环境干燥、清洁，避免灰尘等杂质对测量结果的影响。
5. 在校准和测量过程中，应按照仪器的要求进行操作，避免误操作导致测量结果的不准确性。
6. 定期对膜厚仪进行维护和保养，如清洁探头、检查电源线等。
五、故障排除1. 如果膜厚仪无法启动，请检查电源线是否连接稳固，电源插座是否正常。
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1.测定原理和特长 （测定原理） ● 电磁式 ● 涡电
流式 （磁性金属上的非磁性外膜测定） （非磁性金属上的绝缘外膜的测定） 交流电磁铁接近铁（磁性金属）时，根据接近距离， 有一定的高频率电流通过的线圈在接近金属时，金属表面会 贯穿线圈的磁束数会产生变化，于是，线圈两端的 产生涡电流。此涡电流根据线圈和金属面的距离的不同而 电压就发生变化。此电压的变化是根据电流读取， 变化，于是，在线圈两端的电压就发生变化。 并换算成膜厚的。 此电压的变化是根据电流读取， 并换算成膜厚的。 （特长） ● 双重性类型 ● 采用应
用程序储存（检量线）功能 是具备电磁式和涡电流式的两个测定功能的袋状的膜厚仪。 可以记忆电磁式，涡电流式各50种，共计100种已调整的应用 ● 膜厚仪具备充分的功能 程序
储存（检量线），如果有同一测定，在第二次测定时则无需 具备自动电源ON/OFF功能，上下限设定，统计计算等16种各种设定。 复杂的调整即可进行测定。这种记忆在切断电源时就会消失。 测定对象的使用 机种 LZ-370
测定外油漆 塑料 喷漆 树脂 橡胶 合成皮内衬 锌 铬 锡 铜 铝 其他 油漆 耐酸铝橡胶 塑料 合成皮喷漆 树脂 其他
电磁线铁 非磁性外电流低频率厚感应线绝缘外非铁金
电流
高
频率膜 革 〈阳极氧化外膜〉 革
质地 铁 铜 铝 铜 黄铜等 2.各个部件名称
本体 数据输出指针连接端防尘盖 （本体上（探头） 连接端
测定部 Fe探头（电缆颜色：黑色电磁式（）
显示部 按键 本体背电池连接端
测定部 NFe 探头（电缆颜色：灰色）
涡电流式（）
3. 表示部和本体键的说明
* 各个模式的功能和意思请参照（P）所对应的页码。 操作键 功能 操作键 功能 电源键 使用于电源的ON/OFF. 回车键 目的项或数值确定时使用。 移动键 向目的项移动时使用。 数字键 删除键 数值输入时使用。 输入的数值需要删除时使用。
■ 2008/05/31
10:23 Fe 356 μm
铁质地铝质地（NFE-370） 标准板（6张套） 电池(单3碱性)×4 移动箱 操作说明书 （可选）
标准板（除附件测定标准 打印机VZ-330 电脑电缆VZC-53 RS-232C-USB
电池警报（） 测定方（电磁式Fe/涡电流调整（） 日期时间或者批次，测定值
测定值单位（）
设定（）
1 9 ， 4. 规格 测定方式 电磁感应式 涡电流式 探头型号 LEP-J (Fe) LEP-J (NFe) 测定对象 磁性金属（铁，铜）上的非磁性外膜 非磁性（非铁）金属上的绝缘外膜 测定范围 0-2500μm或 0-1500μm或 测定精度 50μm以下：±1μm，50μm以上1000μm以下：±2%，1000μm以上：±3%。 分解能 100μm以下：μm，100μm以上1μm。 数据储存数 约3000点 应用软件储存 检量线储存电磁式，涡电流式各50根，共计100根。
表示方法 数码（逆光照明LCD，表示最小位μm） 外部输出 PC(USB或RS-2320),打印机（RS-2320） 电源 电池（单3碱性）×4 消费电力 80mW（逆光照明不开灯时） 电池寿命 100小时（逆光照明不开灯时，连续使用） 动作环境温度 0—40℃
附加功能 各种设定16种 尺寸 重量 本体：75（W）×145（D）×31(H)mm， 附件 铁质地（FE-370）,铝质地（NFE-370）,标准板组件，探头适配器，移动盒。 电池（单3碱性）×4，操作说明书 可选 标准板（除附件以外的厚度），测定标准LW-990，打印机VZ-330(附件电缆VZC-25) 电脑电缆VZC-53，RS-232C-USB变换器，数据管理软件（数据记录软件LDL-02） ● 由于产品改良，规格或外观会发生部分变更，恕不另行通知。 5.测定准备 （1）电池的设定 滑动本体背面的电池箱使其打开。 确保电池（单3碱性）4根的正负极方向正确无误后设定。 （2）探头的选择和设定 在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。 对准测定对象，在本体上进行设定。 * 探头的设定，请在电源OFF的状态下进行。 电磁式：磁性金属上的非磁性外膜的测定 使用电缆颜色为黑色的探头（LEP-J）. 涡电流式：非磁性金属上的绝缘外膜的测定 使用电缆颜色为黑色的探头（LEP-J） （探头的安装方法和拆卸方法） ● 安装方法：轻压和转动探头连接端子环。插入 与本体的导向槽一致的位置并固定即可。 ● 拆卸方法：将探头连接端子环顺着取出方向轻轻滑动拔出。
探头的安装和拆卸 滑动使其打开
本体电池的设定 6.测定方法 （1）探头的选择和安装方法 确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。 （2）电源ON 按下键。 （3）调整 确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整，并登陆检量线（应用软件）。 （参照） （4）测定 在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。如右图所示，抓住与 测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定，每次都 要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。 ◆ 使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地 进行测定。
探头的使用方与测定面垂直快速表示例（电磁式测定
可测定的状7.各种测定 ● 本机器的模式可以选择以下16种功能，可进行各种设定。 ① ② ③ ④ ⑤ ⑥ ⑦ ⑧ ⑨ ⑩ 应 用 软 件 选 择 （） 质 地 补 充 数 据 删 除 数 据 储 存 上 下 限 设 定 统 计 计 算 表 示 选 择 日 期 ， 时 间 自 动 OFF 时 间 逆 光 照 明 度 逆 光 时 间 单 位 数 据 输 出 自 动 批 次 区 分 测 定 方 法 维 修 模 式 返 回
* 关于各个模式的功能和意思，请参照（P.）相对应的页次。 ● 设定方法 （1） 进行各种设定操作时，在操作画面按键，将光标移动到
上。按键 可显示各种设定项目。 （2） 按下或者键，移动到要设定的目的项，按下键。如
有图所示，可使 用应用软件来选择。 * 如有图所示，可以表示的是4个项目，按照[①―]的顺序来设定进行表示。 * 各种设定有16个项目（不包含返回功能）。 * 每设定一次，到下一次变更时，即使切断电源，也能够记忆储存。 □ 应用软
质地补数据删① 应用软件选择
② 质地补充 可在应用软件编号0—49上，来设定电磁式，在50---99上设定涡电流式， 质地补充在一次登陆后，以后每次登陆时无需补充。但是，变更 共计100根应用软件（检量线）。 测定对象后，在更换新的探头时，要再次进行补充。 （1） 按照(1),(2)的操作程序进行。
* 质地指表面没有镀金或油漆的外膜，与测定对象相同材质和形状。
（2） 按下键，删除显示的应用软件后，
（1）按照（1），（2）的操作程序进行。 利用小键盘，输入 目标应用软件。按下确定，返回 测定画面。 * 每设定一次，到下一次变更时，即使切断电源，也能够记忆储存。 * 可按照Fe的0-49和NFe的50-99的范围 （2）探头指向空中，按下键，自动进行7次测定。
□ 空中
测定
□ 应用软件选择 Fe 25
□ 应用软件选择 Frr 55 来选择，超出范围外时显示error。 （3） 在应用程序不变化时，按下键， 移动到位置，再按下键确 定。可以不经过变更直接返回测定 画面。
□ 空中
测定
□ 空中
测定
□ 应用软件选择 Fe 25 （3） 按下键。 ③ 数据删除
可以删除在数据储存器内的测定数据。
（1）按照(1),(2)的操作程序进行。
（2）按下键，删除显示的数
据号码后，利用数字键输入
想要删除的数据号码。按下 （4）再次对质地进行7次测定。 则删除该项，返回测定画面。
（3）删除储存器内全部数据时，按下
□ 空中测定 N=0 测定
□ 空中测定 N=1 测定 36495
键，移动到，再按下
键全部删除，并返回测定画面。
(4) 如果不需要删除数据时，按下或
键，移动到位置。再按下
键，则不删除，直接返回测定画面。 （5）按下键进行补充，返回测定画面。
□ 空中测定 N=7 测定 36495