数字电子技术实验指导书2013
《数字电子技术》 实验指导书
安阳工学院 电子信息与电气工程学院 实验要求 一、实验前必须充分预习，完成指定的预习任务。 二、用仪器和实验箱前必须了解其性能、操作方法及注意事项，在操作时应严格遵守。 三、实验时接线要认真，相互仔细检查，确定无误才能接通电源。 四、实验时应注意观察，若发现有破坏性异常现象，例如元件冒烟、发烫或有异味等，应立即关断电源，保持现场，报告指导老师。找出原因、排除故障，经指导老师同意后再继续做实验。 五、实验过程中需要改接线时，应关断电源后才能拆、接线，使用自锁紧插头时，严禁用力拉线，拆线时，应手捏线端并旋转轻微向上用力拔起，以防线被拉断。 六、实验过程中要仔细观察实验现象，记录实验结果（数据、波形、现象）。所记录的实验结果经指导老师审阅签字后再拆除实验线路。 七、实验结束后，必须关断电源、拔出电源插头，并将仪器、设备、工具、导线等按规定整理。 八、实验后每个学生必须按要求独立完成实验报告。 数字电路实验箱使用说明 本实验箱可以完成数字电路课程实验，由实验板和保护箱组成。该实验箱的实验板采用独特的两用板工艺，正面贴膜，印有原理图及符号，反面为印制导线并焊有相应元器件，需要测量及观察的部分装有自锁紧式接插件，使用直观、可靠。 一、技术性能及配置 1、电源 输入 : AC220V 士 10 ％。 输出 : DC 5V/1A 、 DC 1、25V ～ 15V/0、2A (两路) 有过载保护及自动恢复功能。 2、信号源 单脉冲:为消抖动脉冲，可同时输出正负两个脉冲，前后沿 ≤20ns ，脉冲宽度 ≤0、2μs ，脉冲幅值为 TTL 电平。 连续脉冲：两组，一组为 4 路固定频率的方波。其频率分别为 200KHZ 、 100KHz、50KHz、25KHz 。另一组为: 1Hz～5KHz 连续可调方波，分二档由开关切换，两路输出均为 TTL 电平。 3、八组逻辑电平开关:可输出 “O”、“1” 电平。置于H时输出为+5V，置于L时输出为0。 4、八位电平显示:由红色 LED 及驱动电路组成。当政逻辑“1”电平送入时LED亮，反之不亮。 5、 数码显示:由二位7段LED数码管及二一十进制译码器组成。 6、 元件库:由开关、电位器、扬声器、二极管、阻容元件构成 , 其参数均在面扳上标明。 7、 圆孔型双列直插式集成电路插座: 14脚10只，16只脚3只，20 脚 1 只。 二、电路原理 本实验箱有电源、信号源、电平指示、电平开关、数码管等部分组成。相应电路及器件在面板背面的印制电路板上。 三、使用方法 1、将标有220V的电源插入市电插座，接通开关，面板指示灯亮，表示实验箱电源正常工作。 2、连接线：实验箱面板上的插孔应使用专用的连接线，该连接线插头可叠插使用，顺时针向下旋转即锁紧，逆时针向下旋转即可松开。拔出时不要直接拉导线。 3、面板上IC插座均未接电源，实验时应按插入IC的引脚接好相应的电源线才能正常工作。 4、IC插入插座前应调整好双列引线间距，仔细对准插座后均匀压入，拔出时需用螺丝刀从旁边轻轻翘起。 5、实验时应先阅读实验指导书，在断开电源开关的状态下按实验线路接好连接线（实验中用到可调直流电源时，应在该电源调到实验值在接到实验电路中），检查无误后接通电源。 6、实验时要更改接线或元器件，应先关断电源开关，插错或多余的线要拔去，不能一端插在电路上，另一端悬空，防止碰到电路其他部分。 为保证实验顺利进行，要注意所有集成电路的使用规则，特别是对输入空端和多余电路单元要按规定接相应电平。 目 录 实验一 门电路逻辑功能测试………………………………………………………1 实验二 组合逻辑电路………………………………………………………………5 实验三 译码器和数据选择器………………………………………………………8 实验四 触发器……………………………………………………………………11 实验五 时序逻辑电路……………………………………………………………14 实验六 集成计数器的应用………………………………………………………16 实验七 多谐振荡器………………………………………………………………18 实验八 555定时器的应用 ………………………………………………………20 附 录 ……………………………………………………………………………22 1
实验一 门电路逻辑功能及测试 一、实验目的 1．掌握集成门电路的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2．熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。 3．学会如何使用集成门电路。 二、实验仪器及材料 1．双踪示波器 2．器件 74LS00 二输入端四与非门 2片 74LS20 四输入端双与非门 1片 74HC86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六反相器 1片 三、预习要求 1. 复习门电路的工作原理及相应逻辑表达式。 2．熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 3. 了解双踪示波器使用方法。 四、实验内容 实验前按学习机使用说明先检查学习机电源是否正常。然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。 1. 测试门电路逻辑功能 （1）选用双四输入与非门74LS20一只，插入面包板，按图1.1接线：输入端（第1、2、4、5管脚）接电平开关，输出端（第6管脚）接电平显示发光二极管（注意：74LS20第7管脚接地，第14管脚接电源）。 （2）将电平开关按表1.l置位，分别测输出电压及逻辑状态。 2
表1.1 输入 输出 1 2 4 5 6 电压（V）
H H H H L H H H L L H H L L L H L L L L 12
45
6
图1.1 74LS20功能测试图 2. 异或门逻辑功能测试 (1) 选二输入四异或门电路74HC86, 按图1.2接线，输入端1、2、4、5接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二级管。 U1A1
23
U1B4
56
U1C9
108
接电平开关
图1.2 74HC86连接图 (2) 将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。 表1.2 输入 输出 1 2 4 5 A B Y Y电压(V) L L L L H L L L H H L L 3
H H H L H H H H L H L H
3．逻辑电路的逻辑关系 (1) 用74LS00，按图1.3接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.3中。 (2) 写出电路逻辑表达式。
ABY
123
456
9108
121311
123
U1A
U1BU1C
U1DU2A 图1.3 74LS00连接图 表 1.3 输入 输出 A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1
4．用与非门组成其它门电路 (1) 用一片二输入端四与非门74LS00组成或非门 ()'YAB。 (2) 画出电路图，测试其功能并填表1.4。 表1.4 输入 输出 A B Y 0 0 4
0 1 1 0 1 1 5．平均传输延迟时间tpd的测试（选做） 用六反相器74LS04按图1.4接线，观察电路输出波形，并测量反相器的平均传输延迟时间。设各个门电路的平均传输延迟时间为tpd，用奇数个非门环形连在一起，电路会产生一定频率的自激振荡。如果用示波器测出输出波形的周期T，就可以间接地计算出门电路的平均传输延迟时间：tpd=T/(2n)，式中n是连接成环形的门的个数。
123456981110U1AU1BU1CU1DU1E
图1.4 奇数个非门连成振荡器 五、实验报告 1．按各步聚要求记录实验测得的数据、写表达式、画电路图。 2．回答问题： (1) 怎样判断门电路逻辑功能是否正常? (2) 与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？ (3) 异或门又称可控反相门，为什么？ 5
实验二 组合逻辑电路 一、实验目的 1．掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 2．验证半加器和全加器的逻辑功能。 3．掌握组合逻辑电路的设计方法。 4．加深理解典型组合逻辑电路的工作原理。 二、实验仪器及材料 器件 74LS00 二输入端四与非门 3片 74HC86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三、预习要求 1．预习组合逻辑电路的分析方法和设计方法。 2．预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3．预习二进制数的运算。 四、实验内容 1．组合逻辑功能测试 （1）用两片74LS00组成图2.1所示的逻辑电路。 （2）A、B、C接开关电平，Y1、Y2接发光二极管电平显示。 （3）按表2.1要求，改变A、B、C的状态并填表，写出Y1、Y2表达式。
A
BY2
123
456
9108
121311
123
U1AU1B
U1C
U1DU2A
456
U2B
9108
U2CC
Y1
图2.1 74LS00组成的组合逻辑电路
数字电子技术综合实训指导书
数字电子技术综合实训指导书目录第一节课程设计的目的及要求---------------------------------- 3 第二节数字电子电路的设计方法 --------------------------------4 第三节数字电路的安装、调试方法-------------------------------9 第四节数字电路设计容及原理简介-----------------------------14 第五节设计说明书的要求---------------------------------------19第一节综合实训的目的及要求一、目的主要目的，是提高学生在数字集成电路应用方面的实践技能，培养学生综合运用理论知识解决实际问题的能力，树立严谨的科学作风，。
学生通过电路设计、安装、调试、整理资料等环节，初步掌握工程设计思想与方法，训练组织电路开发工作的基本技能，学会编写设计文件，逐步了解开展科学实践的程序。
二、基本要求通过课程设计各环节的实践，同学们应达到如下要求：1．掌握数字电路分析和设计的基本方法；2．掌握数字电路的安装、调试以及故障分析的专业技能；3．具备查阅资料，应用资料分析和解决问题的能力。
三、课程设计的任务：1．完成一规定电路的安装与调试2．完成一任选电路的设计、安装和调试四、课程设计完成的容：1．数字电路设计书2．符合设计功能的电路第二节数字电子电路的设计方法数字电路系统一般由输入电路、控制电路、输出电路、时钟电路、脉冲产生电路和电源等部分组成。
输入电路主要作用是将被信号加工变换成数字信号、其形式包括各输入接口电路。
比如用正弦波振荡器产生信号，要经过放大器对微弱信号进行放大与整形后，才能得到数字信号，有些模拟信号要经过模数转换电路转换成数字信号后再进行处理。
在设计输入电路时，必须首先了解输入信号的性质及接口条件，以满足设计要求。
控制电路的功能是将信息进行加工处理，并为系统各部分提供所需的各种控制。
数字电子技术综合实训指导书
数字电子技术综合实训指导书实训指导书目录第一节课程设计的目的及要求---------------------------------- 3 第二节数字电子电路的设计方法 --------------------------------4 第三节数字电路的安装、调试方法-------------------------------9 第四节数字电路设计内容及原理简介-----------------------------14 第五节设计说明书的要求---------------------------------------19第一节综合实训的目的及要求一、目的要紧目的，是提高学生在数字集成电路应用方面的实践技能，培养学生综合运用理论知识解决实际问题的能力，树立严谨的科学作风，。
学生通过电路设计、安装、调试、整理资料等环节，初步把握工程设计思想与方法，训练组织电路开发工作的差不多技能，学会编写设计文件，逐步了解开展科学实践的程序。
二、差不多要求通过课程设计各环节的实践，同学们应达到如下要求：1．把握数字电路分析和设计的差不多方法；2．把握数字电路的安装、调试以及故障分析的专业技能；3．具备查阅资料，应用资料分析和解决问题的能力。
三、课程设计的任务：1．完成一规定电路的安装与调试2．完成一任选电路的设计、安装和调试四、课程设计完成的内容：1．数字电路设计书2．符合设计功能的电路第二节数字电子电路的设计方法数字电路系统一样由输入电路、操纵电路、输出电路、时钟电路、脉冲产生电路和电源等部分组成。
输入电路要紧作用是将被信号加工变换成数字信号、其形式包括各输入接口电路。
比如用正弦波振荡器产生信号，要通过放大器对柔弱信号进行放大与整形后，才能得到数字信号，有些模拟信号要通过模数转换电路转换成数字信号后再进行处理。
在设计输入电路时，必须第一了解输入信号的性质及接口条件，以满足设计要求。
操纵电路的功能是将信息进行加工处理，并为系统各部分提供所需的各种操纵。
电子设计自动化实验指导书2013
目录实验一 EDA环境基本操作 (2)实验二 Multisim环境下的信号放大电路仿真实验(一) . 5 实验三 Multisim环境下的信号放大电路仿真实验(二) . 9 实验四 PROTEUS环境下模拟电路仿真实验 (11)实验五 PROTEUS环境下单片机控制LED仿真实验 (14)实验六 QuartusII环境下数控分频器的设计 (16)实验七 QuartusII环境下数控分频器的仿真 (20)实验八 System view系统仿真实验 (25)实验一 EDA 环境基本操作一、实验目的l 、认识并熟悉电子设计自动化的软件环境。
2、了解常用EDA 软件的运行方法及界面菜单窗口等内容。
二．实验原理电子设计已经倾向于使用基于电子计算机的自动化设计工具。
三．实验内容认识和实际操作各种电子设计自动化软件。
四．实验步骤1、进入windows 操作系统，找到Electronics Workbench 程序组并打开Multisim7。
（1）依次点击“开始”—>“程序”—>“Electronics Workbench ”—>“Multisim7”；或直接点击桌面上“Multisim7”图标，可打开Multisim7。
（2）打开Multisim7后可以看到如下界面，熟悉图中标示的各要素。
（3）尝试将课本第10页图2.3原理图输入。
2、进入windows 操作系统，找到Labcenter Electronics 程序组并打开Proteus7.2。
电原理图输入窗口虚拟工具栏 元件工具栏图形注释工具栏菜单栏 标准工具栏 仿真开关仪器工具栏（1）依次点击“开始”—>“程序”—>“Labcenter Electronics”—>“Proteus7.5”；或直接点击桌面上“Proteus7”图标，或直接运行“D:\ Proteus 7.5\BIN\ISIS.exe”可打开Proteus7.5。
数字逻辑与数字电路试验指导书
数字逻辑与数字电路实验指导书（2013-2014下第四版）主编：张婧婧计算机与信息工程学院数字电路使用手册1. 信号源：、100KHz 、2. 指示灯：L0—L11十二个指示灯可作为 输出指示，当输出为高电平时红灯亮，当输出为低电平时绿 灯亮。
3. 数码管：板上共有数码管六个，其对应的输入为 8421码的数据线，分别为Dx 、Cx 、Bx 、 Ax 下标分别对应六个数码管，数码管为 共阴极，对应的公共端为LEDx ，将LEDx 接地对应的数码管点亮，用Dx 、Cx 、Bx 、 Ax 进行编码，得到从“0——F ”的显示 4. 单脉冲：板上有单脉冲输出端分别为P+、P-,当按下相 应按键时P+由低变高，P-由高变低。
(见第1 图左右两侧)5. 电源：除+5v 电源外，在箱子的正上方有两个 可调电源输出端口。
分别在+5~+15及-5~-15范围 内可调。
6. 开关：在箱子的右下方有k0—k11十二个拨动开关。
拨下输出低电平，拨上输出高电平。
(ELL-3数字逻辑实验箱面板图见下页)RGRRRRRRRGGGGGGGRGRGRGRGLED5LED5LED5LED5LED5LED5..................实验一简易的数码管电路一、实验目的1、通过数码管显示电路了解数码管的显示原理；2、熟悉数字电路的仿真环境；3、学习在实验箱上铺设简单的数码管显示电路。
二、实验原理字形3、实验的仿真电路4、在试验箱中搭建数码管显示电路实验二组合逻辑电路的设计与测试一、实验目的掌握组合逻辑电路的设计与测试方法二、实验原理1．使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。
设计组合电路的一般步骤是：(1)根据设计任务的要求，列出真值表。
(2)用卡诺图或代数化简法求出最简的逻辑表达式。
(3)根据逻辑表达式，画出逻辑图，用标准器件构成电路。
(4)最后，用实验来验证设计的正确性。
2．组合逻辑电路设计举例用“与非”门设计一个四人表决电路。
学生数字电子技术—实验指导书-新实验箱.
数字电子技术实验指导书天津农学院机电工程系目录实验一门电路逻辑功能的测试 (1)实验二组合逻辑电路实验 (4)实验三组合逻辑电路的设计 (6)实验四译码器功能的测试 (8)实验五计数器测试与设计 (11)实验六四位双向移位寄存器的功能测试 (13)实验七555定时器及其应用 (15)常用TTL集成电路引出端功能图 (18)实验一门电路逻辑功能的测试1．实验的目的和要求1) 了解与熟悉基本门电路逻辑功能；2) 掌握门电路逻辑功能的测试方法，验证与加深对门电路逻辑功能的认识；3) 熟悉门电路的外形和管脚排列，以及其使用方法。
2．实验仪器、设备、元器件1）数字逻辑电路实验仪1台2）四2输入与门74LS08芯片1片3) 反向器74LS04芯片1片4) 四2输入与非门74LS00芯片1片5) 四2输入或非门74LS02芯片1片6) 四2输入异或门74LS86芯片1片7) 示波器或万用表8) 导线若干3．实验内容与步骤实验前按实验仪使用说明检查实验仪是否正常。
然后选择实验用的IC，按设计的实验接线图接好线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后仔细检查无误后方可通电实验。
实验中需要改动接线时，必须先断开电源，接好后再通电实验。
1）测试非门的逻辑功能(1)任意选择其中一个非门进行实验。
用逻辑开关给门输入端输入信号，当开关拨向二进制“1”时，输入高电平，即“H”；当开关拨向二进制“0”时，输入低电平，即“L”。
(2)用发光二极管(即LED)显示门的输出状态。
当LED亮时，门输出状态为“1”，或称高电平，用“H”表示；当LED暗时，门输出状态为“0”，或称低电平，用“L”表示。
门的输出状态也可用电压表或逻辑笔测试。
(3) 按图1-1所示要求连接电路，输入端接逻辑开关A，输出端接指示器。
改变输入状态的高低电平，将A输入端依次接成0，1状态，进行电路仿真，观察输出端电平指示器的显示状态（亮为“1”，灭为“0”），并填写实验结果。
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{推荐}数字电⼦技术基础实验指导书数字电⼦技术基础实验指导书数字电⼦技术基础实验指导书实验⼀、认识实验⼀、实验⽬的：1、熟悉⾯包板的结构2、进⼀步掌握与⾮门、或⾮门、异或门的功能3、初步尝试在⾯包板上连接逻辑电路⼆、实验⽤仪器：⾯包板⼀块74LS00⼀块74LS20⼀块74LS02（四⼆输⼊或⾮门）⼀块、74LS86（四⼆输⼊异或门）⼀块万⽤表⼀块导线若⼲稳压电源⼀台三、⾯包板和4LS00、74LS20、74LS02、74LS86的介绍：1、⾯包板内部结构⽰意图：2VCC3A3B3Y4A4B4YVCC2A2BNC2C2D4Y1A1B1Y2A2B2YGND1A1BNC1C1D1YGND74LS0074LS20VCC3Y3B3A4Y4B4AVCC3B3A3Y4B4A4Y1Y1A1B2Y2A2BGND1A1B1Y2A2B2YGND 四、实验内容与步骤：1、测试⾯包板的内部结构情况：⽤两根导线插⼊⼩孔，⽤万⽤表的电阻挡分别测试⼩孔组与组之间的导通情况，并记录下来。
2、验证与⾮门的逻辑功能：1）将4LS00插⼊⾯包板，并接通电源和地。
2）选择其中的⼀个与⾮门，进⾏功能验证。
3）、将验证结果填⼊表1：表1其中，A 、B 是与⾮门的两个输⼊端，为“0”时，输⼊端接地，为“1”时，输⼊端接电源；Y 是输出端，⽤万⽤表（或发光⼆极管）测得在不同输⼊取值组合情况下的输出，并将结果填⼊表中。
5）分析测得的结果是否符合“与⾮”的关系。
*3、以同样的⽅法验证四输⼊“与⾮门”、“或⾮”门、“异或”门的功能。
4、⽤TTL 与⾮门实现“或”逻辑Y=A+B1）将Y=A+B变成与⾮表达式2）利⽤“与⾮”门实现逻辑电路，并验证逻辑功能是否正确，将验证结果填⼊表2。
表23）分析结果是否满⾜逻辑关系。
注意：带*号的为选做内容。
五、实验总结报告的写法：实验题⽬：⼀、实验⽬的：⼆、实验⽤仪器：三、实验内容及步骤：将实验中出现的问题、现象、及结果随时记录下来。
数字电子技术(数电) 门电路逻辑功能测试实验要求指导书
实验一 门电路逻辑功能测试一、实验目的1．掌握CMOS 、TTL 集成与非门的逻辑功能测试方法。
2．掌握CMOS 、TTL 器件的使用规则。
3．熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 二、实验内容1．验证CMOS （TTL ）集成与非门74HC00（74LS00）的逻辑功能。
2．74HC00（74LS00）电压传输特性测试。
三、实验设备及器件数字电路实验台、74HC00（74LS00）、万用表 四、实验原理1．芯片介绍本实验采用二输入四与非门74HC00（74LS00），在一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端，其引脚排列如图1所示。
图1 74LS00（74HC00）引脚图 与非门的逻辑功能实：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有0得1，全1得0）。
2.74HC00（74LS00）电压传输特性门的输出电压V O 随输入电压V I 而变化的曲线，称为门的电压传输特性，通过它可以读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V OH 、输出低电平V OL 、阈值电压V TH 、及抗干扰容限等值。
测试电路如图2所示。
采用逐点测试法，及调节滑动变阻器，逐点测得V I和V O，然后绘制曲线。
图2 74HC00（74LS00）电压传输特性测试电路五、实验步骤1. 测试74HC00（74LS00）的逻辑功能门的输入端接逻辑电平开关输出插口，以提供0与1电平信号，开关向上，输出为逻辑1，向下为逻辑0。
门的输出端接由LED发光二极管组成的逻辑电平显示器（又称0-1指示器）的显示插口，LED亮为逻辑1，不亮为逻辑0。
按表1逐个测试集成块中与非门的逻辑功能，判断芯片逻辑功能是否正常。
表1 74HC00（74LS00）逻辑功能2. 测试相关数据，并绘制电压传输特性曲线图。
按图2接线，调节电位器RW，使VI 从0V向高电平变化，逐点测得VI和VO的对应值，记入表2中（芯片采用TTL门电路74LS00时，记入表3中）。
数字电子技术实验指导书(B5)
第一章 数字电子技术基础实验1.1 实验设备认识及门电路功能测试一、实验目的1. 熟悉万用表及电子技术综合实验平台的使用方法；2. 掌握门电路逻辑功能测试方法；3. 了解TTL 器件和CMOS 器件的使用注意事项。
二、实验原理门电路的逻辑功能。
三、实验设备与器件1. 电子技术综合实验平台 一台2. 万用表 一块3. 器件(1) 74LS02 一片（四二输入或非门） (2) 74HC86 一片（四二输入异或门）(3) 74LS03 一片（四二输入与非门(OC)） (4) 74LS00 一片（四二输入与非门）四、实验内容和步骤1. 测试74LS02和74HC86的逻辑功能。
注意CMOS 电路的多余输入端不得悬空，应按需要接成相应的高低电平。
表中V O 为不加负载时的电压，即开路输出电压。
2.OC 门上拉电阻计算及逻辑功能测试 2.1 OC 门上拉电阻的计算OC 门输出端可以并联连接，即OC 门可以实现“线与”逻辑，但必须接一个合适的上拉电阻R L ，计算方法如下：式中：m — 负载门总输入端数 n — OC 门并联的个数 m ' — 负载门个数 I OH — OC 门输出管截止时的漏电流(对于74LS03按I OH =50μA 计算)I LM — OC 门输出管导通时允许的最大灌电流(按V OL ≤0.3V，I LM ≤7.8mA 估算)CC OHL(max)OH IHV V R nI mI -=+CC OL L(min)LM IL V V R I m I -='-I IH — 负载门每个输入端的高电平输入电流(对于74LS00按I IH =0.01 A) I IL — 每个负载门的低电平输入电流(对于74LS00按I IL =-0.25mA 估算) V CC — 电源电压(5V) V OH — 输出高电平(按3V 估算) V OL — 输出低电平(按0.3V 估算)图1.1-12.2 OC 门“线与”应用将各OC 门输入端A 、B 和C 分别接逻辑开关；Z 、Y 1和Y 2分别接LED 指示灯，连接电路图如图1.1-1所示。
(电子行业企业管理)数字电子技术基础实验指导书
『数字电子技术基础实验指导书』实验一实验设备认识及门电路一、目的：1、掌握门电路逻辑功能测试方法；2、熟悉示波器及数字电路学习机的使用方法；3、了解TTL器件和CMOS器件的使用特点。
二、实验原理门电路的静态特性。
三、实验设备与器件设备1、电路学习机一台2、万用表两快器件1、74LS00 一片（四2输入与非门）2、74LS04 一片（六反向器）3、CD4001 一片（四2输入或非门）四、实验内容和步骤1、测试74LS04的电压传输特性。
按图1—1连好线路。
调节电位器，使VI在0~+3V间变化，记录相应的输入电压V1和输入电压V的值。
至少记录五组数据，画出电压传输特性。
2、测试四二输入与非门74LS00的输入负载特性。
测试电路如图1—2所示。
请用万用表测试，将VI 和VO随RI变化的值填入表1—1中,画出曲线。
表1－13、测试与非门的逻辑功能。
测量74LS00二输入与非门的真值表：将测量结果填入表1—2中。
表1—24、测量CD4001二输入或非门的真值表，将测量结果填入表1-2中。
注意CMOS 电路的使用特点：应先加入电源电压，再接入输入信号；断电时则相反，应先测输入信号，再断电源电压。
另外，CMOS 电路的多余输入端不得悬空。
五、预习要求1、阅读实验指导书，了解学习机的结构；2、了解所有器件（74LS00，74LS04，CD4001）的引脚结构；3、TTL 电路和CMOS 电路的使用注意事项。
图1－1 图1－2300V O一、实验目的1、学习并掌握小规模芯片（SSI）实现各种组合逻辑电路的方法；2、学习用仪器检测故障，排除故障。
二、实验原理用门电路设计组合逻辑电路的方法。
三、实验内容及要求1、用TTL与非门和反向器实现“用三个开关控制一个灯的电路。
”要求改变任一开关状态都能控制灯由亮到灭或由灭到亮。
试用双四输入与非门74LS20和六反向器74LS04和开关实现。
测试其功能。
2、用CMOS与非门实现“判断输入者与受血者的血型符合规定的电路”，测试其功能。
数字电子技术实验指导书(学生版)
《数字电子技术》实验指导书一、实验目的数字逻辑是一门实践性、工程性很强的技术基础课。
因此，不仅要重视理论教学，更要注重实践技能的培养和训练。
实验是本课程的重要组成部分，通过实验，使学生学会查阅产品手册、拟定实验方案、选择与配置实验设备、查明与排除故障和分析实验现象等。
从而巩固、加深和拓宽学生对课程内容的理解，培养分析、设计和调试数字系统的能力。
二、实验程序通过逻辑设计实验，可验证设计思想，测试和调整电路的输入、输出关系，进一步完善电路的逻辑功能。
实验的一般程序是：1．实验准备实践证明，实验前的准备工作做得越充分，则实验成功的可能性就越大。
因此，不可忽视实验前的准备，实验前应做好如下工作。
①实验者应根据实验目的、要求及内容，认真复习有关的理论知识，并写出满足实验内容要求的逻辑函数表达式。
②根据实验所提供的集成电路组件，将输出函数表达式转换成适当的形式。
③写实验预习报告。
实验预习报告是实验操作的依据，要求报告尽可能写得简洁，思路清楚，一目了然。
实验预习报告以实验逻辑图为主，附以简要的文字说明，并拟定好实验步骤以及记录实验结果的有关表格。
2．布线实验准备工作完毕后，就要动手将逻辑电路图变为实际电路。
在布线前，必须校准集成电路组件两排引脚的距离，使之与实验台的通用逻辑测试板上的插孔行距相等。
将集成电路组件插入测试板时，用力要轻、均匀，开始不要插得太紧，待确定集成电路组件的引脚和插孔位置一致后，再用力将其插牢。
这样可避免集成电路组件引脚弯曲或折断。
布线所用导线最好选用不同颜色，以便区别不同用途。
例如，接地导线用黑色，电源线用红色，输入信号线统一用黄色，输出信号线统一用白色等。
布线最好有顺序地进行，不要随意接线，以免漏接。
布线时应首先将电源、地线及实验过程中始终不改变电平的输入端接好，然后按信号流向顺序依次布线。
布线用的导线不宜太长，并且应尽量避免导线相互重叠、跨越集成电路组件的上空及无规则的交错连接在空中搭成网状等现象。