原材料和元器件定期确认检验规范
关键原材料和元器件定期确认检验规程
1、目的：
验证关键件的质量特性，确保持续满足关键件的技术要求。
2、范围：
适用于CCC强制性产品认证所有产品。
3、权责：
3.1 IQC负责关键件及材料CCC/CQC证书有效性查询并记录，确认其证书状态为有效方可放行。
3.2 测试中心负责关键原材料和元器件确认检验或送检，及结果通报。
4、内容：
4.1对没有获得相关证书的关键件（随机测试），进料检验时需抽样进行确认检验，抽样频次/周期如下，来验证零件是否满足关键件技术要求。
4.2检验项目，依据标准，检验方法或要求如下：
注1：不同生产者、不同材质的非金属材料应分别进行确认检验，确认检验要求如下：
1.提供有效的非金属材料认证证书；或
2.材质一致性判定结论
材质一致性判定结论是指：认证产品实际所用非金属材料的材质检测报告与材质基准报告是否保持一致的判定结论，此结论由认证机构出具。
材质基准检测报告是指：型式试验时经检测合格的非金属材料的红外光谱（GB/T6040）、差示扫描热量（GB/T 19466.1，GB/T 19466.2，GB/T 19466.3）和热重分析（ISO 11358）检测报告，此报告由认证机构或其授权的第三方实验室出具。
材质检测报告是指：非金属材料和红外光谱（GB/T6040）、差示扫描量热（GB/T 19466.1，
GB/T 19466.2，GB/T 19466.3）和热重分析（ISO 11358）的检测报告，此报告可由认证机构、认证机构授权的第三方实验室或工厂实验室出具。
1）当有认证机构或认证机构授权的第三方实验室出具材质检测报告（一次/半年）时，认证机构向工厂出具材质一致性判定结论（一次/半年）。
2）当材质检测报告由工厂实验室出具时：
工厂实验室可选择由自有检测资源完成红外光谱、差示扫描量热、热重分析中的一项、两项或三项（一次/半年），工厂实验室不能完成完成的项目由认证机构或其授权的第三方实验室完成（一次/半年）。
认证机构到工厂抽取材质检测报告，进行材质一致性判定，并向工厂出具材料一致性判定结论（至少一次/年）。认证机构定期对材质检测报告进行核查。工厂和认证机构对材质检测报告存在分歧时，以认证机构为准。若出现以下情况，则不认可工厂的材质检测报告，并判定材质不一致，暂停相关的整机认证证书：
（a）对非金属材料材质检测不正确；
（b）在各种抽查中，非金属材料不合格；
（c）认证机构有足够理由对材质检测报告的有效性和真实性提出质疑。
工厂实验室具备：（a）必要的检测设备；（b）承检人员应了解检测标准，具备
有一定的检测经验；（c）工厂应建立检测结果档案；（d）认证机构的其他相关
要求。
制定：Trust 冬审核：日期：
电子元件来料检验标准(doc 32页)
电子元件来料检验标准(doc 32页)
上海零线电气有限公司 文件编号：Q/LSD3401.1-2010 编制： QA规范来料检验版本号： A 页码:1 本页修改序号：00
1．目的 对本公司的进货原材料按规定进行检验和试验，确保产品的最终质量。 2．范围 适用于本公司对原材料的入库检验。 3．职责 检验员按检验手册对原材料进行检验与判定，并对检验结果的正确性负责。 4．检验 4.1检验方式：抽样检验。 4.2抽样方案：元器件类:按照GB 2828-87 正常检查一次抽样方案一般检查水 平Ⅱ进行。 非元器件类:按照GB 2828-87 正常检查一次抽样方案特殊检查 水平Ⅲ进行。 盘带包装物料按每盘取3只进行测试。 替代法检验的物料其替代数量依据本公司产品用量的2～３倍进 行替代测试。 4.3合格质量水平：A类不合格 AQL=0.4 B类不合格 AQL=1.5 替代法测试的 物料必须全部满足指标要求。 4.4 定义： A类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目。 B类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目。 5．检验仪器、仪表、量具的要求 所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量期内。 6. 检验结果记录在“IQC来料检验报告”中。 文件编号：Q/LSD3401.2-2010 上海零线电气有限公司 编制： QA规范来料检验版本号：页码:2
本页修改序号：00 目录 材料名称材料类型页数电阻器元器件类 3 电容器（无极性）元器件类 4 电容器（有极性）元器件类 5 电感器元器件类 6 集成电路元器件类7,8 线路板元器件类9 二极管元器件类10 三极管元器件类11 塑料件非元器件类12 场效应管/IGBT 元器件类13 插针、插座元器件类14 线材非元器件类15 高频变压器元器件类16 螺钉、铜螺柱、8字扣、万向转非元器件类17 三端稳压器（78L05）元器件类18 控制变压器非元器件类19 数显表元器件类20 扎带非元器件类21 说明书、包装箱等印刷品非元器件类22 海绵胶条、贴片非元器件类23 热缩套管非元器件类24 跳线非元器件类25 蜂鸣片元器件类26 蜂鸣器元器件类27 晶体、陶振、滤波器元器件类28 继电器元器件类29 自恢复保险丝元器件类30 送丝机构元器件类31 辅料非元器件类32
最新电子元器件来料检验规范标准
IQC 来料检验指导书
检验说明： 一、目的： 对本公司的进货原材料按规定进行核对总和试验，确保产品的最终品质。 二、围: 1、适用于IQC 对通用产品的来料检验。 2、适用对元件检验方法和围的指导。 3、适用于IPQC、QA 对产品在制程和终检时，对元件进行覆核查证。 三、责任: 1、IQC 在检验过程中按照检验指导书所示检验专案，参照供应商器件确认书对来料进行检验。 2、检验标准参照我司制定的IQC《进料检验规》执行。 3、本检验指导书由品管部QE 负责编制和维护，品管部主管负责审核批准执行。 四、检验 4.1 检验方式：抽样检验 4.2 抽样方案：元器件类：按照GB 2828-87 正常检查一次抽样方案，一般检查水准Ⅱ进行。非元器 件类：按照GN 2828-87 正常检查一次抽样方案，特殊检查水准Ⅲ进行。盘带包装物料 按每盘取3 只进行测试替代法检验的物料其替代数量根据本公司产品用量的2～3 倍进 行替代测试 4.3 合格品质水准：AQL 为acceptable quality level 验收合格标准的缩写。A 类不合格AQL=0.4 B 类不合格 AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求 4.4 定义： A 类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目 B 类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目 4.5 检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量器 4.6 检验结果记录在“IQC来料检验报告”中
目录
检验指导书机型适用于通用产品 工序时间无 工序名称晶振检验工序编号无 测试工具/仪器：频率计、万用表检验员IQC 图示：频率计频率计PPM 值的计算：如27MHZ晶振，+/-30PPM 检验步骤及容 转化为百分比为百万分之： 1、对单、抽样： 30 =30/10 X（27X10 ） . 根据货仓开出的IQC 品检报告单或上料单，核对上料供方是否为合格供方,再查找相应订单和产品 =0.00081MHZ=810MHZ 制造标准书，核实相应机型和数量。 晶振即27MHZ+/-30PPM . 取待检物料准备检验工具/仪器，对照相应产品制造标准书，参照样板或规格承认书，以IQC 检验 晶振测试示意图=26.99919/27.00081 MHZ 标准为依据，按AQL：0.4/1.0 均匀抽样。 2、包装/外观检查： 检查包装应合理，有无按常规或指定材料包装（以不伤物料本体为原则），标示容是否与确认书 一致，本体有无破损、外壳、引脚有无氧化发黑、中振极性标识位置与样板是否相同等。 3、规格测量： 试装观察各部位大小形状与样板（或确认书）有无不同，封装形式有无不同（如：U 和S 封装）用 相应测量工具再进行测量，需要试装才能确认的应进行相应试装。 4、材质验证： 参照样板对来料材质进行相关验证是否与样板不符，如：外壳分铜质金属外壳和瓷等。注意事项 5、性能测试： 1、物料送检时要及时检验。 按正确方式连接频率计和晶振测试架（如右图所示），打开电源开关按被测晶振所配负载电容大小， 将晶振引脚插入相应的插座位置，根据测试点电压、频率围不同将频率计进行正确设置：2、测试架第一次测试前由领班或技术员校正后才能进行测试。 . 试点电压在3～42V 围将VOLTAGE 键按入。3、所照参样板必须为合格样板。 . 测试点电压在50mV～5V 围将VOLTAGE 键按出。4、晶振应根据所用机型的负载电容和等效电阻的大小对应插座孔插入进行. 测试点在80MHZ～1.3GHZ 频率围时将F UNC 设置键设置到F REQ B 位LED 灯亮.测试。 . 测试点在1HZ ～`100MHZ 频率围时将FUNC 设置键设置到FREQ A 位 LED 灯5、当引脚表面有氧化发黑时需做耐温/可焊性试验进行进一步确认。 亮.(10MHZ100MHZ 频率围时将PRESCALE 键按入, 1HZ～`10MHZ 频率围时将PRESCALE 键6、测试前应将晶振由50-70CM 高处自由跌落木版上面，在进行电性能测试。 按出. . 为了读出精确的测试频率将GATE 键按入进行倍数设置,可分别设置为XI、X10、X1000。设置正 修订记录 确后，LED 将显示频率计所测试到的正确频率（如须长时间保留测试资料，将HOLD 键按入）。 6、判定/标识将： 修改次数日期容参考文件不良品标识清楚并及时隔离，以物料检验报告单的形式交由上级处理。将 PASS 好的物料做好标 识放入指定区域，并做好相关记录。供应商器件确认书、检验规 文件编号编制：日期： 版本审核：日期： 页脚
电子元器件检验标准
《电子元器件进货检验标准》 一、芯片 1）目视检查，来料包装应完好无破损，标识清晰。 2）封装正确，引脚完整，无断裂，无明显歪斜。 3）表面不可有油污，水渍及其它脏物。由运输材料引起而且能够被空气吹走的灰尘是可被接收的。 4）抽取该批次的2到3块芯片使用，确保功能正常。 二、电阻 1）目视检查，来料包装应完好无破损，标识清晰； 2）色环颜色清晰易于辨认，色环颜色与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑；数字标注正确。 3）阻值与色环标识一致。 4）电阻无断裂，涂覆层脱落； 5）表面不可有油污、水渍及其它脏物。由运输材料引起而且能够被空气吹走的灰尘是可被接收的。 6）用万用表测量阻值。 7）用30W 或40W 的电烙铁对电阻器的引脚加锡，焊锡应能完全包裹住引脚为合格。 三、电容 1）目视检查，来料包装应完好无破损，标识清晰； 2）印字清晰，容量标识与标称容值相符短引脚端的PVC 封膜上应有“-” 标记，为电容负极，长引脚为正极；引脚无氧化、发黑； 3）电容无断裂无破裂，无涂覆层脱落，（电解电容）电解液无漏出。 4）表面不可有油污、水渍及其它脏物。由运输材料引起而且能够被空气吹走的灰尘是可被接收的。 5）用万用表测量容值。 6）用30W或40W 的电烙铁对电容的引脚加锡，焊锡应能完全包裹住引脚为合格。 四、电感 1) 目视检查，来料包装应完好无破损，标识清晰； 2) 电感无断裂，涂覆层脱落； 3) 表面不可有油污、水渍及其它脏物。由运输材料引起而且能够被空气吹走的 灰尘是可被接收的。 4) 抽取该批次的2 到3 块芯片使用，确保功能正常。 五、电桥 1) 目视检查，来料包装应完好无破损，标识清晰； 2) 封装要光洁，无缺陷，无批锋；引脚无氧化，无机械损伤等现象。 3) 表面不可有油污、水渍及其它脏物。由运输材料引起而且能够被空气吹走的 灰尘是可被接收的。 4) 抽取该批次的2到3块芯片使用，确保功能正常。 六、二极管 1) 目视检查，来料包装应完好无破损，标识清晰； 2) 印字清晰，引脚无氧化、发黑；
电子元器件检验标准
一、适用范围及检验方案 1、适用范围 本检验标准中所指电子元器件仅为 PCBA 上的贴片件或接插件，具体下表清单所示： 序号 物料名称 页码 序号 物料名称 页码 序号 物料名称 页码 1 电阻类 13 晶振 25 MOS 管 2 电容类 P2 14 端子(排)插/座 P4 26 防雷管 P6 3 发光LED 类 15 软排线/卡扣 27 IGBT 4 电感类 16 变压器 28 RJ45插座 / 5 PCB 板 17 电压/电流互感器 29 半/双排插针 / 6 二极管类 P3 18 霍尔电流传感器 30 支撑柱/隔离柱 / 7 IC 类 19 LCD 显示屏 31 光纤收发模块 / 8 数码管 20 保险片/管 P5 32 电源模块 / 9 蜂鸣器 21 散热片 33 保险座/卡扣 / 10 开关按键 22 稳压管 34 插片端子 / 11 继电器 P4 23 温度保险丝 35 12 三极管 24 光耦 P6 36 2、检验方案 2.1 每批来料的抽检量（ n ）为5只，接收质量限（ AQL ）为：CR 与MA=0，MI=（1，2），当来料少于 5只时 则 全检，且接收质量 限 CR 、MA 与MI=0。 2.2 来料检验项目=通用检验项目+差异检验项目，差异检验项目清单中未列出部件，按通用检验项目执行。 二、通用检验项目 序号 检验项目 标准要求 检验方法 判定 水准 1 规格型号 检查型号规格是否符合要求（送货单、实 物、 BOM 表三者上的信息 目视 MI 必须一致） 2 检查包装是否符合要求（有防静电要求的必须有 防静电袋 /盒等包 目视 MI 装，易碎易损的必须用专用包装或气泡棉包装等） 3 包装 外包装必须有清晰、准确的标识，明确标明产品 名称、规格 /型号、 目视 MI 数量等。或内有分包装则其上必须有型号与数量等标识。 4 盘料或带盘包装时，不应有少料、翻面、 反向等。 目视 MI 5 外观 产品表面应该完好；产品引脚无氧化、锈蚀、变形；本体应无破损、 目视 MI 无裂纹； 6 贴片件 其长/宽/高/直径等应符合部品技术规格书要求，若没有标明 的公 卡尺 MA
电子元器件焊接质量检验标准
焊接质量检验标准 焊接在电子产品装配过程中是一项很重要的技术，也是制造电子产品的重要环节之一。它在电子产品实验、调试、生产中应用非常广泛，而且工作量相当大，焊接质量的好坏，将直接影响到产品的质量。 电子产品的故障除元器件的原因外，大多数是由于焊接质量不佳而造成的。因此，掌握熟练的焊接操作技能对产品质量是非常有必要的。 （一）焊点的质量要求： 对焊点的质量要求，应该包括电气接触良好、机械接触牢固和外表美观三个方面，保证焊点质量最关键的一点，就是必须避免虚焊。 1．可靠的电气连接 焊接是电子线路从物理上实现电气连接的主要手段。锡焊连接不是靠压力而是靠焊接过程形成牢固连接的合金层达到电气连接的目的。如果焊锡仅仅是堆在焊件的表面或只有少部分形成合金层，也许在最初的测试和工作中不易发现焊点存在的问题，这种焊点在短期内也能通过电流，但随着条件的改变和时间的推移，接触层氧化，脱离出现了，电路产生时通时断或者干脆不工作，而这时观察焊点外表，依然连接良好，这是电子仪器使用中最头疼的问题，也是产品制造中必须十分重视的问题。 2．足够机械强度 焊接不仅起到电气连接的作用，同时也是固定元器件，保证机械连接的手段。为保证被焊件在受振动或冲击时不至脱落、松动，因此，要求焊点有足够的机械强度。一般可采用把被焊元器件的引线端子打弯后再焊接的方法。作为焊锡材料的铅锡合金，本身强度是比较低的，常用铅锡焊料抗拉强度约为3-4.7kg/cm2，只有普通钢材的10%。要想增加强度，就要有足够的连接面积。如果是虚焊点，焊料仅仅堆在焊盘上，那就更谈不上强度了。 3．光洁整齐的外观 良好的焊点要求焊料用量恰到好处，外表有金属光泽，无拉尖、桥接等现象，并且不伤及导线的绝缘层及相邻元件良好的外表是焊接质量的反映，注意：表面有金属光泽是焊接温度合适、生成合金层的标志，这不仅仅是外表美观的要求。 典型焊点的外观如图1所示，其共同特点是： ①外形以焊接导线为中心，匀称成裙形拉开。 ②焊料的连接呈半弓形凹面，焊料与焊件交界处平 滑，接触角尽可能小。 ③表面有光泽且平滑。 ④无裂纹、针孔、夹渣。 焊点的外观检查除用目测（或借助放大镜、显微镜观测）焊点是否合乎上述标准以外，还包括以下几个方面焊接质量的检查：漏焊；焊料拉尖；焊料引起导线间短路（即“桥接”）；导线及元器件绝缘的损伤；布线整形；焊料飞溅。检查时，除目测外，还要用指触、镊子点拨动、拉线等办法检查有无导线断线、焊盘剥离等缺陷。 （二）焊接质量的检验方法： ⑴目视检查 目视检查就是从外观上检查焊接质量是否合格，也就是从外观上评价焊点有什么缺陷。 目视检查的主要内容有： ①是否有漏焊，即应该焊接的焊点没有焊上； ②焊点的光泽好不好； ③焊点的焊料足不足； ④焊点的周围是否有残留的焊剂； 图2正确焊点剖面图 凹形曲线 主焊体 焊接薄的边缘 图1 (a)(b)
常见电子元器件检验标准
QA 规范来料检验版本号： A页码:1 本页修改序号：00 1．目的对本公司的进货原材料按规定进行检验和试验，确保产品的最终质量。 2．范围适用于本公司对原材料的入库检 验。 3．职责检验员按检验手册对原材料进行检验与判定，并对检验结果的正确性负责。 4．检验 4.1 检验方式：抽样检验。 4.2 抽样方案：元器件类:按照G B 2828-87 正常检查一次抽样方案一般检查水 平Ⅱ进行。 非元器件类:按照G B 2828-87 正常检查一次抽样方案特殊检查水 平Ⅲ进行。 盘带包装物料按每盘取3只进行测试。 替代法检验的物料其替代数量依据本公司产品用量的2～３倍进行 替代测试。 4.3 合格质量水平：A 类不合格 AQL=0.4 B 类不合格 AQL=1.5 替代法测试的物 料必须全部满足指标要求。 4.4 定义： A 类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目。 B 类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目。 5．检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、 量具必须在校正计量期内。 6. 检验结果记录在“IQC 来料检验报告”中。
QA 规范来料检验版本号： A页码:2 本页修改序号：00 目录 材料名称材料类型页数电阻器元器件类4电容器（无极性）元器件类5电容器（有极性）元器件类6电感器元器件类7集成电路元器件类8线路板元器件类9、10二极管元器件类11、12三极管元器件类13、14塑料件非元器件类15按键、开关非元器件类16天线座、插针、插座非元器件类17线材非元器件类18电池正、负极、天线弹簧非元器件类19螺钉、铜螺柱、8 字扣、万向转非元器件类20三端稳压器（78L05）元器件类21包装材料非元器件类22液晶屏元器件类23扎带非元器件类24说明书、圆贴等印刷品非元器件类25海绵胶条、贴片、镜面非元器件类26热缩套管非元器件类27跳线非元器件类28蜂鸣片元器件类29蜂鸣器元器件类30晶体、陶振、滤波器元器件类31继电器元器件类32警号元器件类33自恢复保险丝元器件类34马达元器件类35天线非元器件类 辅料非元器件类36
新人培训电子元器件插件工艺检验标准
元件插件工艺及检测标准 一、目的： 使ＬＥD电源PCＢ板组装(ＰCBＡ)工作人员掌握基本的电子元件操作工艺;规范电子元件在PCBA上的插件/焊锡等操作要求，并为PCＢA检验提供检查标准 二、范围： 适用于本公司ＰCBＡ（LED电源PＣB的插件/焊锡)的工艺操作和检查. 三、参考文件： 工艺要求参照： IＰC—A—6１0B (Clａss Ⅱ） 四、定义: ＰCBA: Ｐrｉｎteｄ Circｕit Ｂoard Ａssｅmbly （印刷线路板组装） AX：（轴向） RD: Ｒａｄiａl （径向） HT: Ｈｏrizontal (卧式） VT：Verｔｉcal （立式） SＭT： Suｒｆacｅ Moｕnt Teｃhｎology （表面安装技术) SMD：Ｓｕｒface Ｍouｎt Dｅvice (表面安装元件) SMＣ：Ｓurｆａce MouｎｔｉnｇCompoｎents（表面安装零件) ＳIP：Siｍpｌe in—lｉｎｅpacｋagｅ单列直插式封装 SOJ：Small OutｌｉｎｅJ—lead pａｃkage （具有Ｊ型引线的小外形封装）SOP：Small Oｕｔlｉne packaｇe （小外形封装) SOＴ：Smaｌl Ｏｕtlｉｎe Tｒanｓｉstor (小外形晶体管) IC：IntｅgｒatedＣirｃuｉt (集成电路） PR：Prｅfｅrreｄ(最佳） AC: Acceｐtablｅ（可接受的） RＥ: Ｒeｊeｃt (拒收） 五、元件类别: 电阻，电容，电感，二极管, 三极管， IC, ＩC Socket，晶体, 整流器，蜂鸣器, 插头, 插针， PＣB，磁珠等，在此文件中, 根据本公司情况暂时定义电阻，电容, 电感，二极管, 三极管，MＯS管工艺标准 六、元件插件工艺及检测标准 1. 卧式（HＴ)插元件 卧式插元件主要是小功率，低容量,低电压的电阻，电容，电感, Jump ｅｒ（跳线)，二极管，IC等，PCBA上的组装工艺要求和接收标准如下: １.1元件在基板上的高度和斜度 1．1．1轴向（AX）元件
原材料元器件检验规范
1. 目的: 1-1.便于开发部零件承认原则之增列、删除、查询及修正之作业有所依据. 1-2.便于管理所有新增材料, ,以利生产及采购作业之实施. 2. 范围:本规范适用于华容电子股份有限公司Switching Power Supply 零件承认检验标准用. 3. 权责:电源厂工程中心承认零件数据,零件承认工程师负责依据规范 作业 4. 名词定义:无 5. 相关档:零件承认流程
零件承認流程圖 權責單位申請單位設計組支援組支援組 品保 R &D 採購 大陸 ) 資料中心 廠商(1) (2) (3) (4) 6. 内容:零件料号编码索引如下:
6-1.电容承认检验规范 a. 固定型电容器: (a).电解电容器(Electrolytic Capacitor) (b).钽质电解电容器(Tantalum Electrolytic Capacitors) (c).铝质电解电容器(Aluminum Electrolytic Capacitors) (d).塑料膜电容器(Plastic Film Capacitors) (e).瓷介电容器(Ceramic Capacitors) (f).积层电容器 b. 使用设备: (a).诠华1062A LCR METER (b).DC SOURCE (c).焊锡炉 (d).拉力试验机 (e).恒温箱 (f).恒温,恒湿试验机
(g).游标卡尺 c. 检验项目: (a).外观与尺寸检验 (b).耐电压试验 (c).绝缘电阻试验 (d).静电容量检验 (e).损失因子检验 (f).焊锡性试验 (g).端子强度试验 (h).高温试验 (i).BURN-IN老化试验 d. 检验程序: (a). 外观与尺寸检验 (1). 目视检查:引出脚表面氧化或有严重锈斑点. 因制程方面所造成之变形,如零件不对称及电容器表面 有处 理不良之情形,标示之记号是否清楚,参照各规格之要 求. (2). 尺寸量测:依照华容BOM要求对各尺寸进行量测.注意 脚距线径,铝壳直径,高度 使用仪器: 游标卡尺:(精度0.01mm) (3). MARKING检验:应清晰可读出,不得有脱落或读字不完
元器件焊接检验规范
美的家用空调国内事业部企业标准 元器件焊接质量检验规范 1适用范围 本规定采用电烙铁手工锡焊的焊接质量检验规范和基本要求，适用于电子整机生产和检验。不适合于机械五金结构件和电器的特种焊接。 本规范适用于美的家用空调国内事业部。 3.2连焊：两个或以上的不同电位的相互独立的焊点，被连接在一起的现象； 2009-04-07发布2009-04-10实施美的集团家用空调国内事业部发布
3.3空焊：元件的铜箔焊盘无锡沾连； 3.4冷焊：因温度不够造成的表面焊接现象，无金属光泽； 3.5虚焊：表面形成完整的焊盘但实质因元件脚氧化等原因造成的焊接不良； 3.6包焊：过多焊锡导致无法看见元件脚，甚至连元件脚的棱角都看不到； 3.7锡珠，锡渣：未融合在焊点的焊锡残渣。 3.8锡尖：指在组装板经过波峰焊后，板子焊锡面上或元件引脚端部所出现的尖锥状的焊锡。 3.9脱焊：由于受外力等因素导致已焊接好的焊点端部焊锡与焊盘部分或完全脱离。 4合格性判断： 4.1本标准执行中，分为三种判断状态：“最佳”、“合格”和“不合格”。 4.1.1最佳——它是一种理想化状态，并非总能达到，也不要求必须达到。但它是工艺部门追求的目标。 4.1.2合格——它不一定是最佳的，但在其使用环境下能保持PCBA的完整性和可靠性。（为允许工艺上的某些更改，合格要求要比最终产品的最低要求稍高些） 4.1.3不合格——它不足以保证PCBA在最终使用环境下的形状、配合及功能要求。应根据工艺要求对其进行处置（返工、修理或报废）。 4.2焊接可接受性要求：所有焊点应当有光亮的，大致光滑的外观，并且呈润湿状态；润湿体现在被焊件之间的焊料呈凹的弯月面，对焊点的执锡（返工）应小心，以避免引起更多的
最新电子元器件来料检验规范
. IQC 来料检验指导书
检验说明： 一、目的： 对本公司的进货原材料按规定进行核对总和试验，确保产品的最终品质。 二、范围: 1、适用于IQC 对通用产品的来料检验。 2、适用对元件检验方法和范围的指导。 3、适用于IPQC、QA 对产品在制程和终检时，对元件进行覆核查证。 三、责任: 1、IQC 在检验过程中按照检验指导书所示检验专案，参照供应商器件确认书对来料进行检验。 2、检验标准参照我司制定的IQC《进料检验规范》执行。 3、本检验指导书由品管部QE 负责编制和维护，品管部主管负责审核批准执行。 四、检验 4.1 检验方式：抽样检验 4.2 抽样方案：元器件类：按照GB 2828-87 正常检查一次抽样方案，一般检查水准Ⅱ进行。非元器 件类：按照GN 2828-87 正常检查一次抽样方案，特殊检查水准Ⅲ进行。盘带包装物料 按每盘取3 只进行测试替代法检验的物料其替代数量根据本公司产品用量的2～3 倍进 行替代测试 4.3 合格品质水准：AQL 为acceptable quality level 验收合格标准的缩写。A 类不合格AQL=0.4 B 类不合格 AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求 4.4 定义： A 类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目 B 类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目 4.5 检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量器 内 4.6 检验结果记录在“IQC来料检验报告”中
目录
检验指导书机型适用于通用产品 工序时间无 工序名称晶振检验工序编号无 测试工具/仪器：频率计、万用表检验员IQC 图示：频率计频率计PPM 值的计算：如27MHZ晶振，+/-30PPM 检验步骤及内容 转化为百分比为百万分之： 1、对单、抽样： 30 =30/10 X（27X10 ） . 根据货仓开出的IQC 品检报告单或上料单，核对上料供方是否为合格供方,再查找相应订单和产品 =0.00081MHZ=810MHZ 制造标准书，核实相应机型和数量。 晶振即27MHZ+/-30PPM . 取待检物料准备检验工具/仪器，对照相应产品制造标准书，参照样板或规格承认书，以IQC 检验 晶振测试示意图=26.99919/27.00081 MHZ 标准为依据，按AQL：0.4/1.0 均匀抽样。 2、包装/外观检查： 检查包装应合理，有无按常规或指定材料包装（以不伤物料本体为原则），标示内容是否与确认书 一致，本体有无破损、外壳、引脚有无氧化发黑、中振极性标识位置与样板是否相同等。 3、规格测量： 试装观察各部位大小形状与样板（或确认书）有无不同，封装形式有无不同（如：U 和S 封装）用 相应测量工具再进行测量，需要试装才能确认的应进行相应试装。 4、材质验证： 参照样板对来料材质进行相关验证是否与样板不符，如：外壳分铜质金属外壳和陶瓷等。注意事项 5、性能测试： 1、物料送检时要及时检验。 按正确方式连接频率计和晶振测试架（如右图所示），打开电源开关按被测晶振所配负载电容大小， 将晶振引脚插入相应的插座位置，根据测试点电压、频率范围不同将频率计进行正确设置：2、测试架第一次测试前由领班或技术员校正后才能进行测试。 . 试点电压在3～42V 范围将VOLTAGE 键按入。3、所照参样板必须为合格样板。 . 测试点电压在50mV～5V 范围将VOLTAGE 键按出。4、晶振应根据所用机型的负载电容和等效电阻的大小对应插座孔插入进行. 测试点在80MHZ～1.3GHZ 频率范围时将F UNC 设置键设置到F REQ B 位LED 灯亮.测试。 . 测试点在1HZ ～`100MHZ 频率范围时将FUNC 设置键设置到FREQ A 位LED 灯5、当引脚表面有氧化发黑时需做耐温/可焊性试验进行进一步确认。 亮.(10MHZ100MHZ 频率范围时将PRESCALE 键按入, 1HZ～`10MHZ 频率范围时将PRESCALE 键6、测试前应将晶振由50-70CM 高处自由跌落木版上面，在进行电性能测试。 按出. . 为了读出精确的测试频率将GATE 键按入进行倍数设置,可分别设置为XI、X10、X1000。设置正修订记录 确后，LED 将显示频率计所测试到的正确频率（如须长时间保留测试资料，将HOLD 键按入）。 6、判定/标识将： 修改次数日期内容参考文件不良品标识清楚并及时隔离，以物料检验报告单的形式交由上级处理。将PASS 好的物料做好标 识放入指定区域，并做好相关记录。供应商器件确认书、检验规范 .
电子元器件检验规范标准书.doc
电子元器件检验规范标准书 修订修订 修订内容摘要页次版次修订审核批准日期单号 2011/03/30 / 系统文件新制定4A/0 / / / 批准：审核：编制：
部分电子元器件检验规范标准书 IC 类检验规范 ( 包括 BGA) 1.目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。 2.适用范 适用于本公司所有IC （包括 BGA）之检验。 围 3. 抽样计 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。划 依 MIL-STD-105E ，LEVEL II 4. 严重缺点 (CR): 0; 允收水准 主要缺点 (MA): ; （ AQL） 次要缺点 (MI): . 5.参考文 无 件 检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注 a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的 P/N 及实物是否 包装检验MA 都正确 , 任何有误 , 均不可接受。目检 b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 a. 实际包装数量与Label 上的数量是否相同, 若不同不可接目检 受；点数 数量检验MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合, 若不吻合不可 接 受。 a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受； b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；目检或 检验时，必须佩外观检验MA d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超10 倍以上 带静电带。 过, 且未露出基质 , 可接受；否则不可接受；的放大镜 e. Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； f.元件脚弯曲，偏位 , 缺损或少脚，均不可接受； 备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC ，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC 仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC 在 SMT上拉前 IQC 须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。 （三）贴片元件检验规范(电容,电阻,电感)
原材料(电子件)抽样检验规范
密级 版本 2.0 分发号 质量体系文件 BN-WI-QU-02 原材料（电子件）抽样检验规范 拟制日期 审核日期 标准化日期 批准：生效日期： 北京市博纳电气股份有限公司
1 目的 为了保证原材料检验车间检验人员在原材料检验的过程在受控状态下正确、有序的进行，同时为了规范原材料抽样检验整个作业流程及抽样人员的作业方法，使得更有效地发现原材料来料质量问题，杜绝不良品流入厂内。 2适用范围 本公司批量合同采购的原材料；生产剩余的退库料；库存超过检验期限的超期料及其它相应需要进行正常检验的物料； 注：上述原材料特制电子类物料，不包含结构类物料。 3定义 I QC：来料质量控制 AQL：接收质量限（以不合格品百分数或每百单位产品不合格数表示） AC：接收数；RE：拒收数； 4 参考文件 《不合格批处理流程》 《标识管理规定》 《GB2828-2003抽样标准》 5职责 5.1、采购部：在原材料到货后进行自检，自检完成后进行报检；负责对IQC检验不合格的物料在24小时内进行处理，并给出相应的处理意见，执行“不合格批处理流程”。 5.2、库房：负责对IQC检验合格后的合格品进行接收，不合格品进行隔离，执行“标识管理规定”。 5.3、研发部：协助分析在IQC检验过程中出现的异常处理；在样品测试完成后8小时内提供相应的样品、测试报告及规格书给元检车间。 5.4、品管部：IQC负责物料到货后的检验、判定、转序等工作；质量工程师负责对物料的异常进行复核、监督、处理及后续跟进工作。 5.5、生产部：负责对不合格特采物料进行相应处理，统计相关处理费用报质检部；同时对不合格物料进行质量数据统计及质量跟踪。
电子元器件检验标准
一、适用范围及检验方案 1、适用范围 本检验标准中所指电子元器件仅为PCBA上的贴片件或接插件，具体下表清单所示： 2、检验方案 每批来料的抽检量（n）为5只，接收质量限（AQL）为：CR与MA=0，MI=（1，2），当来料少于5只时则全检，1
且接收质量限CR、 MA与 MI=0。 来料检验项目=通用检验项目+差异检验项目，差异检验项目清单中未列出部件，按通用检验项目执行。 二、通用检验项目 2
三、差异检验项目 序号物料类别物料图示标准要求检验方法 判定 水准 1电阻类 标识 标称数字或色环应清晰、正确、易辨； 排电阻若有共公端，则应有标识。 目视MI 性能 测量电阻值其应在规定范围内，若无 允许误差标志的，则允许误差控制在 ±5%范围内。 万用表CR 标 识 电 阻 值 读 法 色环 电阻 数字：黑0、棕1、红2、橙3、黄4、绿5、蓝6、紫7、灰8、 白9； 倍率：黑1、棕10、红100、橙1K、黄10K； 误差：棕1%、金5%、银10%。 四环读法：前2环读数×第3环倍率＋第4环误差； 五环读法：前3环读数×第4环倍率＋第5环误差。 贴片 电阻 三位数读法：前2位读数×第3位倍率（10的几次幂）； 四位数读法：前3位读数×第4位倍率（10的几次幂）； 注：若电阻＜10Ω时，用R代表单位为欧姆的电阻小数点，用m 代表毫欧姆的电阻小数点） 水泥 电阻 前数字+W：表示额字功率； 中间数字或数字+字母：表示阻值（读法同上贴片电阻）； 最后字母：表示误差：G=±2％、F=±1％、J=±5％、K=±10%。 排阻 若有首字母：A表示多个电阻公用一端，公用端左端引出；B表 洋每个电阻各自引出，且彼此没有相连； 3
最新电子元器件来料检验规范
IQC 来料检验指导书产品名称： 电子元器件 版本： 编制日期： 生效日期： 编制人： 审核人： 批准人： 受控印章：
检验说明： 一、目的： 对本公司的进货原材料按规定进行核对总和试验，确保产品的最终品质。 二、范围: 1、适用于IQC 对通用产品的来料检验。 2、适用对元件检验方法和范围的指导。 3、适用于IPQC、QA 对产品在制程和终检时，对元件进行覆核查证。 三、责任: 1、IQC 在检验过程中按照检验指导书所示检验专案，参照供应商器件确认书对来料进行检验。 2、检验标准参照我司制定的IQC《进料检验规范》执行。 3、本检验指导书由品管部QE 负责编制和维护，品管部主管负责审核批准执行。 四、检验 4.1 检验方式：抽样检验 4.2 抽样方案：元器件类：按照GB 2828-87 正常检查一次抽样方案，一般检查水准Ⅱ进行。非元器 件类：按照GN 2828-87 正常检查一次抽样方案，特殊检查水准Ⅲ进行。盘带包装物料 按每盘取3 只进行测试替代法检验的物料其替代数量根据本公司产品用量的2～3 倍进 行替代测试 4.3 合格品质水准：AQL 为acceptable quality level 验收合格标准的缩写。A 类不合格AQL=0.4 B 类不合格 AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求 4.4 定义： A 类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目 B 类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目 4.5 检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量器 内 4.6 检验结果记录在“IQC来料检验报告”中
元件检验规范
1范围 电子元器件、器件和组件，在本规范中，均统称为电子元器件。 本规范主要针对汽车系统中所使用的电子元器件。 电子元器件的种类繁多。就安装方式而言，目前可分为传统安装（又称通孔装即DIP）和表面安装两大类（即又称SMT或SMD）。 2目的 确定了对设计、生产中所使用的电子元器件进行检验的一般方法和指导。由于器件的种类繁多，应用目的不同，适用的试验方法上也有区别，具体可查阅相关标准。 3参考文件 适合于微电子器件组件的试验检测标准： MIL-STD-883E美国国防部-微电子器件试验方法标准试验、检测方法及标准适用于军用及宇航用的，单片、多片、厚膜薄膜混合微电路、微电路阵列，以及构成微电路和阵列的各类元器件。对于恶劣环境下的应用，也可以参考本标准对所用器件进行试验和检测。 适合于汽车电子器件的试验标准： VW80101：2005大众-汽车中的电气和电子组件通用试验条件。GMW3172：2006通用工程标准-汽车电子器件的环境、可靠性、及性能要求符合性分析、开发及验证总规范。
MES PW67600：1995马自达工程标准-汽车器件试验标准。 主要检验标准有： GB/T5729—94《电子设备固定电阻器第一部分：总规范》； GB/T2693-2001《电子设备用固定电容器第1部分：总规范》； GB/T8554—1998《变压器和电感器测量方法及试验程序》； GB/T4023－1997《半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二级管》； GB/T6571－1995《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》； GB/T4587－94《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》； GB/T4586－94《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》； GB/T15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》； GB/T15291－94《半导体器件第6部分晶闸管》； GB3442－86《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》； GB/T6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》； GB/T4377－1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》；
PZGLI007-品质管理-最新电子元器件来料检验规范
IQC 來料檢驗指導書 電子物料 產品名稱： 版本： 制定日期： 生效日期： 制作人： 審核人： 批准人： 受控印章：
檢驗說明： 一、目的： 對本公司的進貨原材料按規定進行核對總和試驗，確保產品的最終品質。 二、範圍: 1、適用於IQC 對通用產品的來料檢驗。 2、適用對元件檢驗方法和範圍的指導。 3、適用於IPQC、QA 對產品在制程和終檢時，對元件進行覆核查證。 三、責任: 1、IQC 在檢驗過程中按照檢驗指導書所示檢驗專案，參照供應商器件確認書對來料進行檢驗。 2、檢驗標準參照我司制定的IQC《進料檢驗規範》執行。 3、本檢驗指導書由品管部QE 負責編制和維護，品管部主管負責審核批准執行。 四、檢驗 4.1 檢驗方式：抽樣檢驗 4.2 抽樣方案：元器件類：按照GB 2828-87 正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水準Ⅱ進行。非元器 件類：按照GN 2828-87 正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水準Ⅲ進行。盤帶包裝物料 按每盤取3 只進行測試替代法檢驗的物料其替代數量根據本公司產品用量的2～3 倍進 行替代測試 4.3 合格品質水準：AQL 為acceptable quality level 驗收合格標準的縮寫。A 類不合格AQL=0.4 B 類不合格 AQL=1.5 替代法測試的物料必須全部滿足指標要求 4.4 定義： A 類不合格：指對本公司產品性能、安全、利益有嚴重影響不合格項目 B 類不合格：指對本公司產品性能影響輕微可限度接受的不合格項目 4.5 檢驗儀器、儀錶、量具的要求所有的檢驗儀器、儀錶、量具必須在校正計量器 內 4.6 檢驗結果記錄在“IQC來料檢驗報告”中
电子元器件检验规范
电子元器件检验规 1.目的 对采购电子元器件的质量进行有效控制，为生产、科研提供质量稳定可靠的电子产品，以满足生产和科研的质量需求。 2.适用围 适用于对公司常规采购用于公司生产、科研的各种电子元器件的检验。 3.依据 公司开发部制定的相关技术文件 GB2828-87《逐批检查计数抽样程序及抽样表》 4. 检验装备 ●直尺 ●游标卡尺 ●放大镜 ●万用表 ●电容测量仪 ●电感测量仪 ●直流稳压电源 ●频率计 ●电子负载 ●示波器 5. 环境要求 在常温检验室里 6.主要容 6.1抽样方案 6.1.1 对新供方产品或老供方提供的新产品（不包括先期提供的样品），前三批采用GB2828-87《逐批检查计数抽样程序及抽样表》中，检查水平IL=Ⅱ， AQL=0.4DE 的加严一次抽样方案。 6.1.2 连续三批加严检查合格后才可采用IL=Ⅱ的正常检查一次抽样方案；对于长期合格的产品，再按照GB2828-87要行转移规则。 6.1.3 对于采用以上抽样方案检验不合格的批次，但遇到特殊情况，如生产急需，暂时采用以下两种方法处理：1.针对有关键项目不合格的产品，可采用拣用的处理方法；2.而对于重要项目或一般项目
由使用部门填写《紧急（例外）放行产品申请单》（HX/QER/8.3-4），并经批准后实施。 6.2 检验项目 6.2.1 外形检验，属于关键项目。 6.2.2 电气性能检验，属于重要项目。 6.2.3 参数性能检验，属于重要项目。 检验项目中涉及到的具体指标见相关技术资料。 6.3检验方法 6.3.1 外形检验 外观检查是最简单易行的检验，可以先期发现某些元器件的缺陷和采购包装、运输过程中的某些失误。一般常用元器件外观检查的容和标准如下： （1）型号、规格、厂商、产地应与设计要求符合，外包装应完整无损。 （2）元器件外观应完好无损，表面无凹陷、划伤、裂纹等缺陷；外部有涂层的元器件应无脱落和擦伤。 （3）电极引线应无压折和弯曲，镀层完好光洁，无氧化锈蚀。 （4）元器件上的型号、规格标记应该清晰、完整，色标位置、颜色应符合标准，特别是集成电路上的字符要认真检查。 （5）有机械结构的元器件要求尺寸合格、螺纹灵活、转动手感合适；开关类元件操作灵活，手感好；接插件松紧适宜，接触良好等。 6.3.2 电气性能检验 使用万用表对元器件的连通性能进行检测。 6.3.3 参数性能检验 通过多种通用或专门的测试仪器对不同的元器件进行各种参数性能的测试。 6.3.3.1电抗元件的检验，包括电阻器、电位器、电容器、电感器、变压器等； 电阻器： （1）负荷功率； （2）温度系数； （3）非线性； （4）噪声； （5）极限电压。 电位器：
电子元器件检验员考试考核大纲
深圳市职业技能鉴定（电子元器件检验员）考核大纲 1.职业概况 1.1、职业名称：电子元器件检验员 1.2、职业定义：使用相关仪器和测试装置对半导体器件、光电子器件、电真空器件、机电 元件、通用元件及特种元件进行质量检验的人员 1.3、本大纲职业等级：初级（国家职业资格五级）、中级（国家职业资格四级）、高级（国 家职业资格三级） 1.4、基本文化程度：高中毕业（或同等学历）及以上 1.5、培训期限要求：初级不少于180标准学时；中级不少于150标准学时；高级不少于120 标准学时 1.6、申报条件： -------初级（具备以下条件者之一）： （1）经本职业初级正规培训达规定标准学时数，并取得结业证书。 （2）从事本职业或相关职业工作2年（含2年）以上。 （3）取得经教育或劳动保障行政部门审核认定的职业学校本职业或相关专业毕业证书。-------中级（具备以下条件者之一）： （1）连续从事本职业工作4年（含4年）以上，经本职业中级正规培训达规定标准学时数，并取得结业证书。 （2）取得经教育或劳动保障行政部门审核认定的、以中级技能为培养目标的中等以上职业学校本职业（专业）毕业证书。 （3）大专以上本专业或相关专业毕业生,连续从事本职业工作1年（含1年）以上。（4）连续从事本职业工作6年（含6年）以上。 --------高级（具备以下条件者之一）： （1）取得本职业中级职业等级证书后，连续从事本职业工作4年（含4年）以上，经本职业高级正规培训达规定标准学时数，并取得结业证书。 （2）取得经教育或劳动保障行政部门审核认定的、以高级技能为培养目标的高 等职业学校(含高级技工学校)本职业（专业）毕业证书。 （3）取得本职业中级职业等级证书后，连续从事本职业工作7年（含7年）以上。 （4）取得本职业中级职业资格证书的大专以上本专业或相关专业毕业生，连续从事本职业工作2年（含2年）以上。 1.7、鉴定方式：分为理论考试和技能操作考核。理论知识考试采用闭卷笔试方式，技能操作考核采用现场实际操作方式。理论知识考试和技能操作考核均实行百分制，成绩皆达60分者为合格。 鉴定时间：理论知识考试时间为120分钟；技能操作考核时间为120~150分钟。 1.8、考评人员与考生配比：理论知识考试考评人员与考生配比为1：20，每个标准教室不少于2名考评人员；技能操作考核考评员与考生配比为1：5~10，且不少于3名考评员，综合评审委员不少于5人。 2.基本要求 2.1、职业道德基本知识、职业守则要求