对于液晶显示器缺陷自动识别系统研究
液晶显示器斑痕缺陷高质量背景建模
液晶显示器斑痕缺陷高质量背景建模谢瑞;李钢;张仁斌【摘要】针对目前液晶显示器斑痕(LCD-Mura)缺陷背景抑制检测中重建的背景存在引入性噪声干扰和目标缺损的问题,提出一种基于奇异值分解(SVD)和最大熵的缺陷图像背景建模方法:通过SVD图像像素矩阵,求得奇异值序列;借助矩阵范式推导出图像分量与奇异值的对应关系,进而以图像各分量奇异值所占比率计算各分量的熵值,以此利用最大熵确定重建背景的有效奇异值;再由矩阵重构得到背景,并进一步提出关于背景重建效果评价的一般方法.相比双三次B样条曲线拟合方法,该方法将区域Mura的对比度最少提升0.59倍,提升线Mura对比度最多达到7.71倍;相比离散余弦变换(DCT)方法,该方法将点Mura的噪声最少降低33.8％,将线Mura噪声降低76.76％.仿真结果表明,该模型具有低噪、低损和高亮的优点,能够更为准确地构建出缺陷图像的背景信息.【期刊名称】《计算机应用》【年(卷),期】2016(036)004【总页数】6页(P1151-1155,1162)【关键词】液晶显示器斑痕缺陷;背景抑制;奇异值分解;最大熵;背景建模【作者】谢瑞;李钢;张仁斌【作者单位】合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009;合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009;合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009【正文语种】中文【中图分类】TP391.4液晶显示器斑痕缺陷(Liquid Crystal Display Mura, LCD-Mura)是一种非常特殊的面缺陷,具有对比度低、形状多样、面积不定、亮度不均[1]等不同于其他常规缺陷的特征,因此Mura缺陷是LCD缺陷检测中的难点和重点,针对Mura缺陷检测技术的研究已成为生产者和研究人员关注的焦点[2]。
Mura缺陷检测的方法有很多,最常用的有基于图像特征[3-5]、频率域[6-8]和背景抑制三大类:基于图像特征的方法由于提取的特征参数固定,灵活性差,使得这种方法虽然处理速度快但检测精度不高;基于频率域方法的优点是变换放大了图像中人眼难以界定的微小差异,但其难以平衡消噪和保留目标两者之间的关系,容易导致缺陷漏检和过检情况的发生;基于背景抑制的Mura缺陷检测采用了原图像与背景差分以分离目标的思想,由于实现简单且检测效果优于其他两类方法,现已被广泛使用,目前,针对这种方法的研究主要集中在背景模型的研究。
电子信息工程专业毕业设计--基于51单片机的12864液晶显示器的设计和研究
目录设计总说明 (I)INTRODUCTION (II)1 绪论 (1)1.1课题背景及研究意义 (1)1.2课题研究的主要内容 (1)1.3国内外发展状况与存在问题 (1)2 总体方案设计与论述 (2)2.1 系统需求分析 (2)2.2 系统总体方案设计 (2)2.2.1 设计方案论证 (2)2.2.2总体结构框图 (3)3系统单元模块设计 (3)3.1系统硬件示意图 (3)3.2主控芯片（STC89C52模块）[5] (4)3.3 时钟控制模块［13］ (6)3.3.1 DS1302简介 (6)3.3.2引脚及功能表 (7)3.3.3工作原理 (7)3.3.4 DS1302电路设计图［9］ (8)3.4 温度控制模块 (8)3.5 12864接口电路模块 (9)3.6 按键电路模块 (9)3.7 电源电路模块 (10)3.8 印制电路板[9] (10)4系统整体调试与结果分析 (11)4.1 系统总体程序流程介绍 (11)4.2 按键程序设计 (13)4.3 12864驱动程序设计[15] (14)4.3.1 ST7920芯片介绍[14] (14)4.3.2 ST7920驱动程序设计 (17)4.4 12864应用程序设计 (20)4.4.1 文字显示程序设计 (20)4.4.2 点、线显示程序设计 (22)4.4.3 图形、图片显示程序设计 (23)4.5 菜单程序设计 (26)5设计调试及进一步研究 (28)5.1 系统测试 (28)5.1.1 软件调试 (28)5.1.2 硬件调试 (29)5.2 进一步研究的工作 (30)6总结 (30)鸣谢................................................................................................................................ 错误!未定义书签。
研究液晶显示的偏振态变化实验
研究液晶显示的偏振态变化实验液晶是一种特殊的物质，具有介于固体和液体之间的特性。
液晶显示是一种常见的显示技术，广泛应用于电子设备中。
在液晶显示中，液晶分子的偏振态变化对于显示效果至关重要。
本文将详细解读液晶显示的偏振态变化实验。
1. 定律概述在进行液晶显示的偏振态变化实验之前，我们先了解一些相关的物理定律。
首先是浸透定律，它描述了光在介质中的传播规律。
根据浸透定律，当入射光遇到液晶分子时，光线会被分解成两个方向的振动。
接下来是马吕斯定律，它描述了光线在介质中的折射规律。
根据马吕斯定律，光线在介质中传播时会发生折射，其折射角与入射角之间满足一定的数学关系。
最后是马吕斯-詹森定律，它描述了平行光束通过两片平行偏振器组成的偏振光偏振变化规律。
根据马吕斯-詹森定律，光线在通过第一个偏振器后，只有与第一个偏振器的偏振方向平行的振动方向才能通过第二个偏振器。
2. 实验准备在进行液晶显示的偏振态变化实验之前，我们需要准备以下实验装置和材料：- 两片偏振器：偏振器可以筛选特定方向的偏振光。
将两片偏振器放置在平行位置，它们之间的角度可以调整。
- 液晶样品：选择一种合适的液晶样品，如液晶电视或液晶显示器上使用的液晶材料。
- 光源：使用一种稳定的光源，如激光光源或白炽灯。
- 极性片：极性片可以改变入射光的偏振方向。
3. 实验过程下面是进行液晶显示的偏振态变化实验的步骤：步骤1: 将两片偏振器放在平行位置，并调整它们之间的角度，使得两个偏振器的偏振方向垂直。
步骤2: 将液晶样品放置在第一个偏振器前并旋转，观察样品的偏振态变化。
步骤3: 改变第一个偏振器的偏振方向，继续观察样品的偏振态变化。
步骤4: 使用极性片改变入射光的偏振方向，再次观察样品的偏振态变化。
4. 实验应用液晶显示的偏振态变化实验在实际应用中具有广泛的意义。
以下是一些实际应用的例子：- 电子设备：液晶显示器广泛应用于电视、计算机显示器、智能手机和平板电脑等电子设备中。
LCD液晶显示屏不良现象的原因具体分析
LCD液晶显示屏不良现象的原因分析电性不良：1. 短路：客户称为开机长鸣、鸣叫、交短、漏光。
它是因为LCD 中不该连在一起的拉线却连在一起，伴随大电流无穷大（电测扫描会叫），在模组中显示字节某些比较淡或缺划。
2. 大电流：在模组上的表现为显示淡，模糊或电池损耗快，如果电源供电则可视为正常，电测时电流较大。
3. 断路：客户称这之为少划、缺划、断字，实际上是ITO 被刮伤断开，模组上看到的也是缺划。
4. 蚀刻不足：客户称之为黑点、多点，模组或电测机上表现为多了一块图案。
5. 蚀刻过渡：客户称之为字细、字变形，模组或电测机上显示的为某个字节的一部分缺掉。
6. 字淡：指Voff 电压较高.客户一般叫字淡、色淡；分为两种( 1＠局部字淡：由大电流引起的； 2＠整体字淡：与液晶配比或制程条件有关。
)判定方法：厂内为电测时在同样频率下，同样的视向与样品对比样品字体黑度，在黑度同时，电压差异大於一定范围时，厂内判NG。
模组上则是显示模糊才能说字淡。
7. 鬼影：即字深在同样的电压下，同样的视向与样品比对字估较样品深一些，在模组上显示就是不该出现的字节在不点亮时也隐隐约约看见，影响了对比度。
8. 漏光：显示字节有的较其它字节要淡。
不显示的字节鬼影程度不一致，也就是字节不均。
9. 导电不良:客户称之为闪烁、字节闪烁、字节模糊不清、接触不良、晃动、显示不全、半显、缺划……原因是导电性不好，电测时正常电压下显示为苛个字节或某一部份字节显示不稳定，在点模糊或不显示。
但将电测机测试，电压调高时，又可以正常显示，这是与“断路＂的区别。
10. 表面不均：客户一般称灰度不均、显示不均、字节不均、白点、黑点、污点……电测时显示显示某个字了节上会有白色或黑色的小点点，而且这些小点点一般会随着电测机频率的高低和电压的大小而缩小或扩大，模组显示亦是如此，故判断表面不均是模组的频率输出电压对工厂来说很重要。
11. 图白：客户称之为字缺、字节缺少一部分。
液晶屏检验报告
液晶屏检验报告1. 概述本文档提供了液晶屏检验报告，旨在评估液晶屏在制造过程中的质量和性能。
液晶屏广泛应用于各种电子设备中，包括电视、电脑显示器、手机等。
本文档将介绍液晶屏检验的目的、方法和结果，并提供了对液晶屏质量评估的建议。
2. 检验目的液晶屏检验的目的是保证液晶屏产品的质量和可靠性。
通过定期检验，可以确保液晶屏制造商能够及时发现和解决生产中的问题，并提供高质量的产品给客户。
液晶屏检验涵盖了多个方面，包括外观检查、亮度和对比度测试、色彩准确性、响应速度等。
3. 检验方法3.1 外观检查外观检查是液晶屏检验的重要一环。
在外观检查中，我们需要检查液晶屏表面是否有划痕、污渍、坏点等问题。
坏点可以分为亮点和暗点，它们分别表示像素亮度过高或过低。
通过使用专业的检查工具，如放大镜和检查图案，我们可以迅速检查液晶屏表面的缺陷。
3.2 亮度和对比度测试亮度和对比度是液晶屏性能的关键指标。
在亮度测试中，我们使用光度计来测量液晶屏的亮度，并与制造商提供的规格进行比较。
对于对比度测试，我们使用像素网格图案并调整液晶屏的对比度设置，以确保图案中的细节能够清晰可见。
3.3 色彩准确性测试色彩准确性是液晶屏的重要指标之一。
为了测试液晶屏的色彩准确性，我们使用光谱仪来测量液晶屏的色彩输出，并与标准色彩空间进行比较。
我们还检查颜色平衡和色差等参数，以确保液晶屏能够准确重现不同颜色的图像。
3.4 响应速度测试响应速度是液晶屏在切换像素颜色时所需的时间。
较低的响应速度可以减少运动模糊，并提高图像的清晰度。
为了测试液晶屏的响应速度，我们使用专业的测试设备来生成快速变化的图像，并记录液晶屏的响应时间。
测试结果将与制造商提供的规格进行比较。
4. 检验结果经过以上的检验方法，我们得到了液晶屏的检验结果。
根据检验结果，我们可以评估液晶屏的质量和性能并提供相应的建议。
检验结果应包括液晶屏的外观检查结果、亮度和对比度测试结果、色彩准确性测试结果以及响应速度测试结果。
显示屏检验规范及缺陷判定标准
一、目的：规定LCD液晶显示屏的检验项目、检验方法及判定规格，为IQC、OQC、IPQC、QA检验人员提供判定依据。
二、适用范围：适用本公司各供应商及无特殊要求顾客提供的液晶屏的检验判定。
三、抽样水准：进行全检四、使用工具：1、VGA信号发生器2、测屏治具3、静电环、静电手套4、卷尺、放大镜、游标卡尺;五、检验条件：1、照明条件：日光灯600～800LUX；2、目光与被测物距离：30～45CM；3、常温条件下六、PANEL等级：6.1像素缺陷6.1.1定义液晶屏由正方形的像素组成，每一组像素有R/G/B三个子像素组成，如图1或图2所示6.1.2暗点：由于MOS管失效，造成一个子像素点一直不发光，称为暗点暗点的判定：当不发光的子像素面积大于像素面积的1/2时，判定为一个暗点，反之则不计。
如图3，图46.1.3亮点：由于MOS管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点亮点的判定；当发光的子像素面积大于子像素面积的1/2时，判定为一个亮点如图5，图6所示6.1.4微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮，符合下面条件时判为微亮点如图76.1.5杂质不良：杂质不良是液晶屏内背光模组部分或偏光片两面等部位侵入杂质引起的不良，杂质不良形状不规则，与像素没有必然的联系，分为圆形和线形，如下图6.1.6偏光片缺陷：液晶屏表面有划伤，凹痕，起泡，气泡等从外表可以看到的不良现象；6.1.7漏光：在黑场，或者蓝场的界面下（有专用测试LCD的颜色软件）能看到有泛白的区域，如图14对于漏光可以根据自己以及客户的接受界限来判定，像上图的大面积漏光且于周围有明显的分别是不允许接受的，如漏光区面积小且与正常区过渡平缓，无明显的分界（如图15）可以适量的接受。
七、屏幕划区：A/B区：八、检验项目及判定标准：1、外包装检查:检查外包装是否完好无损.（全检/批）2、规格型号、等级检查:按入库单号及采购定单，核对每批来料的规格型号、等级是否与实物一致（5PCS/批）.3、外形尺寸检测:检测其长度、宽度、厚度与及灯管线的长度，以工程研发提供相应的规格书为标准，确保所有检测的数据符合要求.（5PCS/批）4、显示画面缺陷判定:通电，用专用检测设备对各个画面进行检九、液晶屏等级判定：9.1 A+ 级等级判定规格备注A＋级亮点N=0所有缺陷不可同时存在微亮点N≤3 Windows桌面不可见暗点N≤3 暗点间距≥5cm连点不允许微暗点忽略污点A区不允许；B区≤1；C区≤2；A区+B区+C区N≤3；且Φ≤0.3mm或W≤0.3，L≤1.0mm；间距≥5cm Windows桌面显示为暗点白点（团）不可见.暗斑无9.2 A级9.3 B 级9.4 C 级十.相关记录:QR-H-02 A/0 --- IQC检验记录表。
合肥京东方array检测科工作内容
合肥京东方array检测科工作内容一、概述合肥京东方array检测科是京东方公司在合肥设立的一个科研团队，致力于研究和开发液晶显示器的array检测技术。
本文将详细介绍合肥京东方array检测科的工作内容。
二、array检测技术简介2.1 液晶显示器array结构液晶显示器是由一系列排列成矩阵的像素组成的，每个像素由一个液晶单元和一个驱动电路组成。
这些像素按照一定的规律排列在显示面板上，形成一个称为array 的结构。
2.2 array检测的重要性array检测是液晶显示器生产过程中的一项关键技术，它能够对显示面板上的每个像素进行检测和修正，确保显示效果的一致性和稳定性。
同时，array检测还可以提高液晶显示器的生产效率和降低不良品率。
三、array检测科的工作内容3.1 array检测算法研究为了实现对液晶显示器array的检测，合肥京东方array检测科的研究人员致力于开发高效准确的array检测算法。
他们研究和探索各种图像处理和模式识别技术，通过对array图像的处理和分析，提取出关键的检测特征，从而实现对array的自动检测和修正。
3.2 array检测系统开发合肥京东方array检测科的工作还包括开发array检测系统。
他们设计和实现了一套完整的array检测系统，包括硬件设备和软件平台。
该系统能够自动采集array 图像，并通过前面提到的array检测算法进行图像处理和分析，最终得出array的检测结果。
3.3 array检测技术应用合肥京东方array检测科的工作不仅仅停留在研究和开发阶段，他们还将array检测技术应用到实际生产中。
通过与液晶显示器生产线的对接，他们将array检测系统整合到生产流程中，实现对每个液晶显示器array的自动检测和修正。
四、array检测科的成果与影响4.1 科研成果合肥京东方array检测科的研究人员在array检测技术方面取得了一系列的科研成果。
液晶屏低灰阶下显示不均的改善与研究
液晶屏低灰阶下显示不均的改善与研究摘要液晶屏低灰阶下显示不均是当前常见问题之一，因此，不少研究人员就此问题的改善进行不断研究与探讨。
基于此，本文主要就液晶屏低灰阶下显示不均的改善和研究进行详细研讨。
研究结果显示，通过采集系统能够一次完成对所有像素亮度信息的采集，并有效分辨各像素点亮度，进而保证液晶屏显示信息的真实性。
关键词液晶屏；低灰阶；显示不均；改善随着客户体验要求的不断提升，在显示质量上也慢慢提升更高要求。
据了解，在液晶屏显示质量中的Mura类问题，已经逐渐受到广大用户关注。
在这其中，低灰阶下显示不均是Mura显著表现之一。
而针对低灰阶下显示不均的问题，主要是从商用以及车载显示终端发展便被用户所重点关注，再到后来，低灰阶下显示不均的问题逐渐被民航以及防务所重点关注，由此可见，低灰阶下显示不均问题是影响用户使用感的重点问题之一。
1 研究对象在本次研究中，关注重点在于液晶屏低灰阶下显示均匀性指标。
另外，在白态或高灰阶下的亮度在实际显示中同样存在一定差异性，只是通过人眼是无法辨别高亮度的均匀性，因此，在当前并不被人们多重点关注[1]。
2 采集系统设计液晶屏低灰阶下显示不均是当前人们关注的重点问题，因此，在当前的研究中，对液晶屏低灰阶下显示不均进行改善是许多研究人员所研究的重点问题。
采集系统设计是当前改善液晶屏低灰阶下显示不均的主要措施之一。
基于此，本文笔者主要就采集系统设计进行详细分析，具体如下：2.1 亮度采集传感器与工业相机相比，系统采用CMOS传感器，采用CCD传感器确保采集的线性度，即被测光源的变化与CCD的输出值呈线性关系。
同时，为解决CMOS非线性随环境温度和使用时间而变化的问题，一般认为当温度降低5℃时，热噪声能够显著减少。
因此，该系统增加了低温半导体制冷恒温装置，进而有效消除测量热噪声误差，最终恒定数据采集。
据了解，CCD传感器每个像素尺寸均较大，并且可以容纳很多光子数量，能够测量亮度的范围也非常宽广。
液晶显示器的色品质测量系统
液晶显示器的色品质测量系统液晶显示器（LCD）已经成为现代显示技术的重要组成部分，广泛应用于各种领域，如计算机、电视、手机等。
随着液晶显示技术的发展，消费者对显示器色彩质量的要求也越来越高。
因此，液晶显示器的色品质测量系统显得尤为重要。
1. 液晶显示器色彩品质的重要性液晶显示器的色彩品质直接影响到图像的视觉效果，高质量的色彩表现能够满足消费者对真实、细腻画面的需求。
色彩品质的优劣还关系到显示器的分辨率和刷新率等性能指标。
因此，建立一套科学、完整的色品质测量系统对于液晶显示器产业的发展具有重要意义。
2. 色品质测量系统的基本组成液晶显示器的色品质测量系统主要包括硬件设备和软件算法两部分。
硬件设备负责采集显示器发出的光线，将光信号转换为电信号，然后传输给计算机进行处理。
常见的硬件设备有分光光度计、色彩分析仪等。
软件算法则负责对采集到的数据进行分析、计算，得出液晶显示器的色品质指标。
常用的软件算法有CIE颜色空间转换、色彩一致性分析等。
3. 色品质测量系统的关键指标色品质测量系统的主要任务是评估液晶显示器的色品质，关键指标包括以下几个方面：1.色彩准确性：色彩准确性是指显示器显示的颜色是否与真实颜色相符。
评估色彩准确性的指标有CIE 1931色彩空间中的x、y坐标，以及RGB分量的值。
2.色彩稳定性：色彩稳定性是指显示器在不同亮度、温度等环境条件下色彩表现的一致性。
评估色彩稳定性的指标有色彩变异系数（CV）等。
3.色彩均匀性：色彩均匀性是指显示器屏幕上各区域色彩的一致性。
评估色彩均匀性的指标有色彩均方根误差（RMSE）等。
4.色彩响应时间：色彩响应时间是指液晶显示器从接收信号到显示颜色变化所需的时间。
色彩响应时间越短，显示器显示动态图像的效果越好。
4. 色品质测量系统的实际应用在实际应用中，色品质测量系统主要用于生产环节的质量控制和消费者购买时的参考。
液晶显示器生产企业可以通过色品质测量系统对产品进行严格的质量把关，确保产品色彩品质达到预期标准。
偏振光在液晶显示器中的应用研究
偏振光在液晶显示器中的应用研究在当今科技高速发展的时代，液晶显示器（LCD）已经成为我们日常生活中不可或缺的一部分，从手机、电脑到电视，几乎随处可见其身影。
而在液晶显示器的工作原理中，偏振光扮演着至关重要的角色。
要理解偏振光在液晶显示器中的应用，首先需要了解什么是偏振光。
光其实是一种电磁波，其振动方向是四面八方的。
而偏振光则是指其振动方向在某个特定平面内的光。
这就好比一群无序奔跑的人变成了整齐朝一个方向前进的队伍。
液晶显示器的核心部件是液晶层。
液晶是一种具有特殊性质的物质，其分子在一定条件下可以有序排列。
当没有外加电场时，液晶分子会呈现出一种特定的排列方式；而当施加电场后，液晶分子的排列会发生改变。
那么偏振光与液晶层是如何相互作用的呢？我们通常会在液晶显示器的前后分别放置两块偏振片，它们的偏振方向是相互垂直的。
当自然光通过第一块偏振片时，就变成了偏振光。
这束偏振光进入液晶层后，其偏振方向会根据液晶分子的排列情况发生改变。
如果液晶分子的排列使得偏振光的偏振方向能够顺利通过第二块偏振片，那么我们就能看到光亮；反之，如果液晶分子的排列导致偏振光的偏振方向无法通过第二块偏振片，那么我们看到的就是黑暗。
通过精确控制施加在液晶层上的电场，我们就能够实现对每个像素点的明暗控制，从而显示出各种图像和文字。
这种控制方式使得液晶显示器具有高清晰度、低能耗和轻薄便携等优点。
然而，偏振光在液晶显示器中的应用也并非完美无缺。
其中一个问题就是视角依赖性。
由于液晶分子的排列和偏振光的相互作用会随着视角的变化而改变，所以在不同的角度观看液晶显示器时，可能会出现色彩失真、亮度变化等问题。
为了解决这个问题，研究人员不断努力改进液晶显示器的结构和材料，例如采用多畴垂直排列技术、广视角补偿膜等。
另一个问题是响应时间。
液晶分子在电场作用下重新排列需要一定的时间，这就导致了液晶显示器在显示快速运动的图像时可能会出现拖影现象。
为了缩短响应时间，研究人员尝试使用更快响应的液晶材料，以及优化驱动电路和控制算法。
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对于液品显示器缺陷自动识别系统研究
赵丽娜
(江苏省苏州市苏州工业园区，江苏苏州215021)
应用科技
喃要]液晶显示器在人们的生活中应用越来越广泛，对于生产液晶显示器的企业，液晶显示器的缺陷检查成为了非常重要的改善项目。
此论文针对液晶显示器缺陷自动识别系统进行研究，同时建立一套硬件系统，并应用在实际的生产线上。充分的改善了生产液晶显示器企业
的生产效率。
哄键词]液晶显示器；AoI一自动光学检验；生产效能；缺陷识别系统；缺陷采集系统
1课题背景
近年来液晶显示行业已经逐渐取代了CRT显示行业，在人们的日常生活cp，几乎电视，电脑等显示的大部分显示器件都逐渐被液晶显示屏幕所取代。目前液晶显示行业成本竞争激烈，而对于液晶显示器制造商模组段制造来讲，人力的使用，直接决定着生产成本，人力成本约占25％。而人力50％是用在检验液晶显示器的显示品质的。可以采用自动检验的方式来提升液晶显示制造行业的生产竞争力。2课题研究的现状自动光学检测(Automated0pticalInspec百on口A01)设备是近年来相当具有市场潜力的检测设备，自动光学检测设备被定义为完全自动化的光学系统，依技术可分为：1一D一维条码检测、位移检测：2一D图像识别、瑕疵分类、二维条码检测、形状两侧、热影像检测、色泽检测：3一D形象量测、高度瑕疵检测：自动光学检测技术应用非常广泛，包括工业生产品质检测、宇宙探测、生物医学；成像检测、军警指纹比对及字形辨识、机械视觉、多媒体技术应用等。对于液晶显示器缺陷的检查，AOI是一项非常成熟与稳定的技术。3缺陷自动识别系统在液晶显示行业应用的优点缺陷自动识别系统是使用以上所提及的AOI技术，应用在检测液晶显示器品质的方法，此方法可有效的提升生产力。推展液晶显示器缺陷自动识别系统在液晶显示行业的优点总结如下：1)画面的大型化的推展。液晶面板应用于电视的市场正在不断地扩大。从以前的26“，37”逐步扩大到现在的37“，42”。人们对于视觉的享受不断的提升。而人员在检测部分受于高度的限制，在未来的发展基础上渐渐会出现瓶颈。从而导入自动光学检测对于液晶显示汗液是迫不及待的需求。2)显示品质的提升。在现有的检测技术，几乎都是由人员来操作，难免出现因为人员视觉疲劳或疏失造成不良品流入到市场中。而对于广大的消费者来讲，一生之中基本购买的数量微乎极微，而对于不良品的认知是极不能接受的。这样也会大大的影响公司的品质信誉。从而导入自动光学俭测技术会避免出现这样的问题，对于显示品质的提升可以做好充分的把关动作。3)生产效能的提升。从目前的业界来看，基本人工检测技术被大幅度应用，从生产力成本E计算非常不合算。并且目前从生产线上观察，几乎这些作业点都是生产流程中的瓶颈站点。从而导入自动光学检测对业界的生产力提升会有大大的帮助。从而会让企业在如此激烈的竞争下，让企业能够独占鳌头。4液晶显示器的基本构造TFT—LCD是薄膜电晶体液晶显示器(Thin刚mTransistorLiquIdCrystaIDispIay)的缩写。这种显示器面板主要由玻璃基板、背光板和偏光板组成。TFT—LCD是由两片光刻透明导电电极的基板，夹持一个液晶层，封接成—个扁平盒，将两片光亥0好透明导电图形的平板玻璃相对放置在一起，使其间距为6—7um。四周用环氧胶密封，但在一侧封接边上留有—个开口，该开口称为液晶注入口。液晶材科即是通过该注入口在真空条件下注入的。注^后，用树脂将开口封堵好，再在此液晶盒前后表面呈正交地贴上前后偏振片即完成了一个完整的液晶器件。当然，作为扭曲向列型液晶显示器件，在液晶盒内表面还应制作上一层定向层。该定向层经过定向处理后，可使液晶分子在液晶盒内，在前后玻璃基板表面都呈现沿凹面平行排列，而在前后玻璃基板之间液晶分子又呈90度扭曲排列。液晶显示器存在的显示不良缺陷主要来自于Cel|、CF、Po—
Iarizer、B儿等，这些配件的损坏会造成不同现象的现实缺陷。
5缺陷识别系统组成介绍
液晶显示器缺陷自动识别系统组成如下，由Chroma2913给出驱
动信号，将信号传入液晶显示器中，从而驱动液晶显示器显示。
液晶显示器缺陷自动识别系统具体工作的流程如下：
第一步打出白画面，用CCD量测系统量测，可得知灰度及均匀
度。
第二步用Spectrummeter量测(x，y)。
第三步打出内白外黑之画面，用CCD面量测系统量测，可得知对
比度。
第四步依序打出红、绿、蓝画面，用Spectrummeter量测色坐
标，从而得知色浓度。
第五步依序打出灰、内黑、外灰之画面，用CCD量测系统量测，
可得知CrossTaIk的程度。
第六步打出灰画面，量测FIickero
第七部打出白画面及黑画面，用LinearScanSystem来检测出亮
点及暗点。
这样系统就做完了基本数据的收集，并将模拟成像放入系统中与标
准模式对比，形成对缺陷的判断，从而形成—个缺陷自动识别系统
将此系统应用开发出来并试运行，得到的数据是：
1
J准备液晶显示器缺陷试验品430台：2)人员检出率398，430=
92．56％：3)机器检出率370／430=86D5％：4)人员检测不到，机台
可以检测到的比例为27，430=628％；5)人员可以检测到，机台检测
不到的比例为41／430=953％
6总结
从所以上数据可以看出，此液晶显示器缺陷自动识别系统时可以满
足我们的需求的。在点类与功能性缺陷的检出率可达到100％。但是对
于Mura类的不良因为需要有判定的角度，检出率相对较差。
但是此系统还有些缺陷。测试的时间较长，对于生产的产能将会是
—个问题，那将面临着成本与产能的平衡。另外对于检测的背光源的设
计需要寻找亮度较高的配件，建议使用LED背光源，相对亮度高很多。
以上液晶显示器缺陷自动识别系统可以被广泛的应用与液晶显示检测行
业，可为现有的液晶显示器企业生产力的提升起到非常大的帮助。
掺考文献】
【1】【4—534一02852．01菊地正典，半导体的入门'日本实业出皈社．2f)02．
12】李明．f957—2卜3567—8】矽元件与积雏电路制程．全华科技图书股份有限
公司．2【m．