手持式粗糙度仪使用说明书

粗糙度轮廓仪操作规程(1修改)

监视测量装置和试验设备操作规程 文件编号：YJZGS11-23 版本：A 页码：第 1页共 1页 1设备名称：粗糙度轮廓仪型号/规格： 2出厂编号：242 本公司编号： 3校准（检定）周期：一年 4使用环境：温度18℃到22℃，湿度60±10% 5操作步骤 5.1 开机将光标移到Programs（程序），再移到Taylor Hobso n。 5.2 点击软件名，根据提示符号输入用户名和口令。 注：输入用户名和口令后即可登录到系统。该软件是多用户系统，每一个用户必须用唯一的口令去登录，进入程序后确认光标位置是否与主轴箱和Z轴相符，如果不符，读出光标现在的刻度值后，输入正确的刻度值按OK即可。 5.3 当主窗口显示后，根据所测产品的要求配置需要的传感器和测针。 6 校正 在选用传感器和测针后，先要进行校正，校正前要对标准球进行擦拭，但必须用丝绸布进行清洁。清洁完后再进行校正。标准球经校正后，必须放回标准球专用盒内，且要求轻拿轻放。 7 测量轮廓度 7.1 准备工作：根据试验委托单中的测量要求，选择传感器和探针规格。点击横臂单元右键 进行配置,选择宽范围传感器和测针后并作校准。 7.2测量方法：依据被测量的部位和实际情况，构建一套完整的测量方案。要求测量方案安全、 可靠、实用。测量时要求要过被测产品的轴心线，要找到最高或最低点，且坡 度不能大于45度。 7.3测量步骤：首先将测针移动至被测部件的位置，用手动操作一次被测产品的行程，得到被 测总长。用总长减去0.6毫米，求出数据长度，然后按测量工具栏GO，便会出现 一个对话框，再进行测量的设置，设置测量名称——数据长度——测量速度最后按 OK即可。 7.4测量分析：得到原始轮廓后用鼠标点击右键，将原始轮廓导出到分析软件，然后从分析软 件中调出进行分析,其分析步骤为：选择调平原始轮廓——手动创建最佳拟合— —选择允许/不允许取点。用鼠标左键选择两个元素，作为一个元素的开始点和 结束点，然后按要拟和的这一段。分析完成后可以关闭原始数据，只显示摸板。 7.5标注尺寸：选择尺寸标注工具栏，根据分析的摸板进行尺寸标注，有X方向尺寸、有Y 方 向尺寸、斜边方向尺寸、半径尺寸、角度尺寸。标注完成后即可打印报告。8测量表面粗糙度: 8.1准备工作：根据试验委托单中的测量要求，选择传感器和探针规格。点击横臂单元右键进 行配置,选择1 mm传感器和测针后并作校准。 8.2测量方法：依据试验委托单粗糙度要求，确定评定长度。根据 8.1测量粗糙度步骤同7.3 , 8.3测量分析：数据选择工具栏上点击分析按钮.从对话框中选择合适形状类型.选择其中的参 数――分析参数表――选择需要的参数按OK即可。 8.4点击已分析的图形按右键，从你需要的版式中打开后打印报告。

SJ-201手册(粗糙度仪操作手册)2

1、电源的开/关开电源：按下 （POWER/DATA）键。 关闭电源：如果使用交流电源或自动睡眠功能没打开按下 （REMOTE）键。如果使用内置电池并且自动睡眠功 能已打开机器会自动关机。 2、SJ-201各功能键的说明图解

仪器校正 说明：1、按下（CAL/STD/RANG）键，屏幕出现CAL字和闪动的参考数值，与所用的标准块上的值对照，如不一样，请使 （REMOTE）键移动光标，使用（CUTOFF）和（mm/inch 键改变数值，使他和标准样板上的数值一样。 2、按下（N/ENT）键 3、按图所示放置好粗糙度仪和标准样板。 4、按下（START/STOP）键进行测量。 5、测量完成后按下（N/ENT）键，完成整个校正过程。

测量 放好工件和仪器，按下（START/STOP）键，就开始测量，并自动获得结果。 转换测量结果显示参数 按下（PARAMETER）键就可实现参数转换。

改变测量状态 1、在测量状态下按下（CUTOFF）键，截取长度可在 0.25---0.85---2.5mm之间变换。 2、改变取样长度 在测量状态下按下（N/ENT）取样长度在X1--X3--X5--L之间转换（如：0.8 X 1、0.8 X 3、0.8 X 5，L是直接输入取样长度。）

， 3、改变测量轮廓 1/在测量状态下按下（CURVE/FILTER/TOL/CUST ）键 进入轮廓设定状态。（显示CRV 和闪动的轮廓代号） 2/按（CUTOFF ）或（mm/inch ）键改变轮廓代号。 每次按动轮廓代号会按照一定顺序改变： SJ-201P ：P--r--d--P SJ-201M ：P--r--CnO--P 3/按下（N/ENT ）键输入新设定。 粗糙度测量方法 1、仪器的正确摆放 如图：驱动器应该与 工件 垂直，并紧贴工件表面。 2、传感器测头需水平于被测 表 面。

荧光光谱分析仪工作原理

X 荧光光谱分析仪工作原理 用x 射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长得荧光x 射线，需要把混合得x 射线 按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能虽:）得X 射线得强度，以进行左性与定疑 分析，为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X 光具有一泄波长，同时又有一立能量, 因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型与能量色散型。下图就是这两类仪器 得原理图. 用X 射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长得荧光X 射线，需要把混合得X 射 线按波长（或能疑）分开，分别测量不同波长（或能量）得X 射线得强度，以进行定性与左疑 分析，为此使用得仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X 光具有一左波长，同时又有一左能量， 因此，X 射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型与能量色散型。下图就是这两类仪器 得原理图。 （a ）波长色散谱仪 （b ）能虽色散谱仪 波长色散型和能量色散型谱仪原理图 现将两种类型X 射线光谱仪得主要部件及工作原理叙述如下: X 射线管 酥高分析器 分光晶体 计算机 再陋电源

丝电源 灯丝 电了悚 X则线 BeiV 輪窗型X射线管结构示意图 两种类型得X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源?上图就是X射线管得结构示意图。灯丝与靶极密封在抽成貞?空得金属罩内，灯丝与靶极之间加高压（一般为4OKV）, 灯丝发射得电子经高压电场加速撞击在靶极上，产生X射线。X射线管产生得一次X射线, 作为激发X射线荧光得辐射源.只有当一次X射线得波长稍短于受激元素吸收限Imi n时，才能有效得激发出X射线荧光?笥？SPAN Ian g =EN-U S >lmin得一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管得靶材与管工作电压决立了能有效激发受激元素得那部分一次X射线得强度。管 工作电压升高，短波长一次X射线比例增加，故产生得荧光X射线得强度也增强。但并不就是说管工作电压越髙越好，因为入射X射线得荧光激发效率与苴波长有关，越靠近被测元素吸收限波长，激发效率越髙。A X射线管产生得X射线透过彼窗入射到样品上, 激发岀样品元素得特征X射线，正常工作时，X射线管所消耗功率得0、2%左右转变为X 射线辐射，其余均变为热能使X射线管升温，因此必须不断得通冷却水冷却靶电极。 2、分光系统 第?准讥器 平面晶体反射X线示意图 分光系统得主要部件就是晶体分光器，它得作用就是通过晶体衍射现彖把不同波长得X射线分开.根据布拉格衍射左律2d S in 0 =n X ,当波长为X得X射线以0角射到晶体，如果晶面间距为d,则在出射角为0得方向，可以观测到波长为X =2dsi n 0得一级衍射及波长为X/2, X /3 ------ ―等髙级衍射。改变（）角，可以观测到另外波长得X

粗糙度仪使用说明书

粗糙度仪使用说明书

简 介 粗糙度仪又称为便携式粗糙度仪、粗糙度表面测量仪、粗糙度仪价格、粗糙度仪厂家、表面粗糙度测量仪、表面粗糙度测试仪、粗糙度检测仪、机加工粗糙度测试仪、粗糙度测试仪厂家、粗糙度测试仪价格、袖珍表面粗糙度仪,数字式粗糙度仪,便携式粗糙度检测仪,表面粗糙度测定仪,数显粗糙度仪,手持式粗糙度检测仪,金属表面粗糙度测量仪,粗糙度测试仪,便捷式粗糙度仪,数字式表面粗糙度仪,数显粗糙度测试仪,便携式粗糙度测试仪,袖珍式表面粗糙度仪价格,袖珍式表面粗糙度仪,便携式粗糙度测量仪,便携式表面粗糙度仪,表面粗糙度检查仪,手持式粗糙度测量仪、手持式粗糙度仪、便携式粗糙度仪、精密粗糙度测试仪、袖珍式粗糙度测量仪、袖珍式粗糙度检测仪、表面粗糙度检验仪、手持粗糙度测量仪、表面粗糙度检查仪、手持粗糙度仪、手持式粗糙度测量仪、高精度粗糙度仪是适合于生产现场环境和移动测量需要的一种手持式仪器，可测量多种机加工零件的表面粗糙度，可根据选定的测量条件计算相应的参数，并在显示器上显示出全部测量参数和轮廓图形。该仪器它操作简便，功能全面，测量快捷，精度稳定，携带方便，能测量最新国际标准的主要参数，本仪器全面严格执行了国际标准。测量参数符合国际标准并兼容美国、德国、日本、英国等国家的标准。适用于车间检定站、实验室、计量室等环境的检测。

一、概述 OU1300型表面粗糙度测量仪是适合于生产现场环境和移动测量需要的一种手持式仪器，可测量多种机加工零件的表面粗糙度，可根据选定的测量条件计算相应的参数，并在显示器上显示出全部测量参数和轮廓图形。该仪器它操作简便，功能全面，测量快捷，精度稳定，携带方便，能测量最新国际标准的主要参数，本仪器全面严格执行了国际标准。测量参数符合国际标准并兼容美国、德国、日本、英国等国家的标准。适用于车间检定站、实验室、计量室等环境的检测。 1.1 主要特点 ●机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便； ●采用 DSP 芯片进行控制和数据处理，速度快，功耗低； ●大量程，多参数 Ra,Rz,Rq,Rt。 ●高端机器增加 Rp,Rv,R3z,R3y,RzJIS,Rsk,Rku,Rsm,Rmr 等参数； ●128×64 OLED 点阵显示器，数字/图形显示；高亮无视角； ●显示信息丰富、直观、可显示全部参数及图形； ●兼容 ISO、DIN、ANSI、JIS 多个国家标准； ●内置锂离子充电电池及充电控制电路，容量高、无记忆效应； ●有剩余电量指示图标，提示用户及时充电； ●可显示充电过程指示，操作者可随时了解充电程度 ●连续工作时间大于 20 小时 ●超大容量数据存储，可存储 100 组原始数据及波形。 ●实时时钟设置及显示，方便数据记录及存储。 ●具有自动休眠、自动关机等节电功能 ●可靠防电机走死电路及软件设计 - 1 -

HORIBAFL-3000FM4荧光光谱仪操作说明解读

设备名称荧光光谱仪 设备型号HORIBA FL-3000/FM4-3000 设备操作规范: 一、开机前准备: 1、实验室温度应保持在15℃~30℃之间,空气湿度应低于75%。 2、确认样品室内无样品后,关上样品室盖。 二、开机 3、打开设备电源开关(氙灯自动点亮,预热20min; 4、打开计算机,双击桌面上的荧光光谱软件,进入工作站,等待光谱仪自检。 三、装样: 5、将样品处理为粉末状,装入样品槽,为防止样品脱落,可加盖载玻片;将样品槽装入样品室,盖好样品室盖子。 四、测试发射光谱: 6、点击菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Emission”。 7、设置单色器(M:设置激发光波长(如460nm、发射波长扫描范围(如470nm-700nm和狭缝宽度(一般可设置1-5nm,荧光强度强,狭缝宽度要调小。 8、设置检测器(Detector:Formulars选择公式S1。 9、点击右下角“RUN”开始测量; 五、测试激发光谱:

10、点击菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Excitation”。 11、设置单色器(M:设置监测波长(如625nm、发射波长扫描范围(如380nm-500nm和狭缝宽度(一般可设置1-5nm,荧光强度强,狭缝宽度要调小。 12、设置检测器(Detector:Formulars选择公式S1/R1。 13、点击右下角“RUN”开始测量。 六、测试量子产率: 14、线缆连接积分球:将积分球有指示箭头的一端连接激发口,另一端连接发射。 15、装样:将样品处理为粉末状,装入标准白板样品槽,并加盖石英片;将样品槽装入积分球样品台,先推上层样品台,卡好后,推入下层样品台。 16、点击软件菜单中的“Menu”按钮,选择“Spectral”项目中的“Emission”。 17、设置单色器(M:设置激发光波长(如460nm、扫描范围(如380nm-700nm和狭缝宽度(一般设置1nm。 18、设置检测器(Detector:选中暗电流选项和Correction S1选项,Formulars选择公式S1c,积分时间设置为1s(时间设置越大,扫描越慢。 19、点击右下角“RUN”开始扫描。 20、测试空白样品。测试方法如16-19,样品台内放置标准白板。 21、计算量子产率:点击“QY”按钮,在出现的对话框中设置如下参数:○1找校正谱(在D盘下“校正谱图”,选择固体校正谱;○2导入将要计算的样品谱图;○3导入空白样品谱图;○4输入需计算的激发与发射光谱起始与终止波长。 22、点击确定开始计算。

稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书

稳态/瞬态荧光光谱仪（FLS 920）操作说明书 中级仪器实验室 一、仪器介绍 1.FLS 920稳态/瞬态荧光光谱仪具有两种功能 稳态测量：激发光谱(荧/磷光强度~激发波长)、发射光谱(荧/磷光强度~发射波长)、同步扫描谱(固定波长差、固定能量差、可变角)。 瞬态测量：荧光(磷光)寿命(100ps—10s)。 适合各类液体和固体样品的测试。 2.主要应用 高分子和天然高分子自然荧光的研究 溶液中大分子分子运动的研究 固体高分子取向的研究 高聚物光降解和光稳定的研究 光敏化过程的研究 3.主要性能指标 光谱仪探测范围：(光电倍增管， 190－870nm；Ge探测器，800－1700nm) 荧光寿命测量范围：100ps－10s 信噪比：6000：1(水峰Raman) 可以配用制冷系统，为样品提供变温环境 液氮系统(77K－320K) 使用Glan棱镜，控制激发光路、发射光路的偏振状态 使用450W氙灯和纳秒、微秒脉冲闪光灯做激发光源 F900系统软件：控制硬件，包括变温系统，数据采集、分析

4. 仪器主要部分结构图

5.仪器光路图 二、仪器测试原理(SPC) 时间相关单光子计数原理是FLS920测量荧光寿命的工作基础。 时间相关单光子计数法(time－correlated single photon counting)简称“单光子计数(SPC)法”，其基本原理是，脉冲光源激发样品后，样品发出荧光光子信号，每次脉冲后只记录某特定波长单个光子出现的时间t，经过多次计数，测得荧光光子出现的几率分布P(t)，此P(t)曲线就相当于激发停止后荧光强度随时间衰减的I(t)曲线。这好比一束光(许多光子)通过一个小孔形成的衍射图与单个光子一个一个地通过小孔长时间的累计可得完全相同的衍射图的原理是一样的。

TR260粗糙度仪使用说明书

1概述 TR260粗糙度仪是时代公司推出的一款便携式高精度仪器，该仪器的便携性即适用于生产现场，其高精度也能满足计量实验室的使用。可测量多种机加工零件的表面粗糙度，根据选定的测量条件计算相应的参数，在液晶显示器上清晰地显示出全部测量参数。 特点： 多参数测量：Ra、Rz、Rp、Rsm、Rt、Rmr(tp)、Rz1max、Rsk、RPc、Rda； 高精度电感传感器； 2RC、GAUSS二种滤波方式； 128×64 点阵液晶，可显示全部参数； 碱性9V电池一个，连续工作时间≥4小时； 机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便； 连接专用打印机，可打印全部参数及轮廓图形； 内置标准RS232接口，可与PC机通讯； 具有自动关机、记忆； 可选配沟槽、小孔、斧型、靴型等九种传感以及测量平台、支架等方便用户对不同形状粗糙度测量的附件、配件。 1.1 测量原理 测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶显示器上读出，也可在打印机上输出，还可以与PC机进行通讯。 1.2 标准配置

1.3 仪器各部分名称 主机部分 电池 显示屏 信号线选择键 电池仓 RS232接口 测量键打印键 翻页键

传感器及连接部分 传感器测头部分传感器信号线驱动轴 信号线接头 感器插入口 升降滑块升降架传感器夹持体 升降架紧固螺栓 升降架转向孔

粗糙度仪操作过程

粗糙度仪操作过程 一、准备 1、准备好待测产品和仪器，待测产品要求表面清洁无脏污，仪器表面无灰尘及异物； 2、粗糙度仪放置在花岗岩平台上并保持水平位置； 3、检测粗糙度仪器探头，要求探头无损伤，表面无异物。 二、操作 1、插上电源，打开粗糙度仪开关； 2、将校准片放置在倾斜工作台的V槽内，调整高度，保证传感器导头及测针与被测面接触良好，点击“样板测量”，传感器在样板表面滑行，样板的粗糙度波形及测量值显示在“实测Ra值”提示框中；观察被测波形，如果与所提供的样板相符合，则在“样板Ra”提示框中输入样板值，选择“校准确认”，则仪器的偏差会自动校准，如果被测波形与之不相符，则检查传感器安装是否正确。（标准传感器用玻璃样板校准，曲面传感器用金属样板校准） 3、测量分三种情况：基本测量，高级测量，曲面测量。 对于测量轨迹为直线的试件用基本测量档或高级测量档，对标准传感器来说，只能用基本测量档。高级测量档与基本测量档的区别在于，高级测量档显示的参数比基本测量档的多，但在常规测量中，不推荐使用高级测量。 4、具体步奏： （1）将零件放置在倾斜工作台的V槽内，调低传感器与零件测量面平行且保证传感器导头及测针与被测面接触良好； （2）根据检测要求，选择截止波长和评定长度； （3）点击“测量开始”，仪器自动进行一次测量； （4）测量完毕，零件表面的粗糙度波形粗糙值显示在相应的提示框中； （5）测量结果（包括零件名称、测量人、测量日期、截止波长、测量长度、测量结果等）自动保存到当前测量日历时间。 三、结束 1、关闭仪器电源，取出检测部分； 2、收拾好实验品，摆放好仪器。 备注： 1、Ra：轮廓算数平均偏差，在取样长度内轮廓偏距的算术平均值。 2、Rz：轮廓不平度十点高度，在取样长度内5各最大的轮廓峰值的平均值与5个最大的轮廓谷深的平均值之和。 3、Ry：轮廓最大高度，在取样长度内轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离。 4、λc：取样长度，0.2 5、0.8、2.5mm(实验中平面取2.5mm),评定长度1-5λc（实验中取4-5λc） 5、tp：轮廓支承长度率：在取样长度内，一平行于中线与轮廓相截所得到的各线段截线长度之和bp与取样长度l之比。

荧光光谱仪操作规范

XXX有限公司 荧光光谱仪操作规范文件编号 :WI-ZL-389 版本/版次: A/2 页次：1/1 1.目的 为保证使用者正确的操作，以达成仪器之正确使用维护。提高仪器的使用寿命，特制定此规范。 参考资料：《Ux220 WorkStation V6.0使用说明书》 2．使用环境： 温度：15℃-25℃ 湿度：30-80%RH 3．仪器说明： 荧光光谱仪由测试仪主机，电脑及测试软件，测试结果输出的打印机组成。 4. 荧光光谱仪的操作方法： 4.1打开仪器电源：测试主机电源、电脑电源； 4.2开启操作程序Ux220 v6.4； 4.3开机预热：打开“设置X光管”窗口，勾选“打开高压电源”及“慢速升管压管流”，确定即可； 4.4用银校正片进行校正，校正不成功重新校正； 4.5输入样品信息、选择合适基材； 4.6将样品放入样品室，确认样品信息、测量次数无误后点击开始测量； 4.7测量完成输出报告并把报告存档。 5．注意事项： 5.1本仪器只允许经过专业培训并有上岗证的人员操作。 5.2本仪器只能检测均匀且颜色单一的物质，如导线，必须把铜丝与绝缘外皮分别进行检测；必须确保样 品厚度在2-3mm以上，若厚度不足可堆叠数个样品至适当厚度；若粒状样品其粒径大于5mm可直接进行测量，若粒径小于5mm则将样品放置样品杯中，尽量不要留下空隙且样品厚度要有2-3mm。 5.3银片校正时银片金属面朝下。 5.4关机时先降管流管压，再关程序，最后关电源； 5.5“Running”指示灯亮时，禁止打开仪器样品室的盖，以免X射线辐射对人体造成危害。 5.6测试大件样品样品室盖无法关闭时，仪器附件人员必须远离仪器三米以外，待延时灯闪烁10秒后 仪器开始测试，待延时灯（也叫做测量指示灯）熄灭后，人员方可靠近。

粗糙度仪操作规程

版本变更历史 文件审批栏

为确保公司之仪器的有效操作，避免因操作方法、操作步骤等失误而造成仪器的损坏、或因仪器的维 护不到位导致测试结果不精准，而产生产品的误测，特追溯至通用使用规程对本仪器制定正确的操作 规则。 2.0 范围适用于公司所生产的磨砂材料表面粗糙度测试。 3.0 引用文献手持式粗糙度仪使用说明书（随机附）。 4.0 仪器概述 4.1 工作原理 测量工件表面粗糙度时，将感应器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表 面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而杂相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进行数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶显示器上读出，可以存储，也可以在打印机上输出。 4.2 仪器主体概述 4.4 显示屏使用界面

5.0 操作步骤 5.1 测量前准备 将传感器插入仪器底部的传感器连结套中 . 提示: 1. 传感器的触针是本仪器的关键零件 ,应给予高度重视。 2. 在进行传感器装卸的过程中 ,应特别注意不要碰及触针 ,以免造成损坏 ,影响测量 3.在安装传感器时 ,应特 别注意连接要可靠 . 5.2 测量步骤 步骤 图片 说明

将标准件（1.68 μm）放置在传感器下，调高机脚，进行校准 按启动键开始测量，传感器在被测表面上滑行，液晶屏的 采样符号“”动态逐级显示，表示当前仪器的传感器正在拾取 信号。当采样符号“ --- ”变为快速变动时，表示采样结束，正在 进行滤波及参数计算，测试完毕，本次测试结果显示在液晶屏上。 在测量状态时，除电源 校准完毕，本次测试结果显示在液晶屏上 键外，按其余键无效。 将被测物放置在传感器下，按启动键进行测试，步骤与校准一致。 测试完毕，按红色键，关闭仪器，卸下传感器保护套和机脚 7

表面粗糙度仪的原理

OU1300 表面粗糙度仪的原理 使用说明书

一、概述 OU1300型表面粗糙度测量仪是适合于生产现场环境和移动测量需要的一种手持式仪器，可测量多种机加工零件的表面粗糙度，可根据选定的测量条件计算相应的参数，并在显示器上显示出全部测量参数和轮廓图形。该仪器它操作简便，功能全面，测量快捷，精度稳定，携带方便，能测量最新国际标准的主要参数，本仪器全面严格执行了国际标准。测量参数符合国际标准并兼容美国、德国、日本、英国等国家的标准。适用于车间检定站、实验室、计量室等环境的检测。 1.1 主要特点 ●机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便； ●采用 DSP 芯片进行控制和数据处理，速度快，功耗低； ●大量程，多参数 Ra,Rz,Rq,Rt。 ●高端机器增加 Rp,Rv,R3z,R3y,RzJIS,Rsk,Rku,Rsm,Rmr 等参数； ●128×64 OLED 点阵显示器，数字/图形显示；高亮无视角； ●显示信息丰富、直观、可显示全部参数及图形； ●兼容 ISO、DIN、ANSI、JIS 多个国家标准； ●内置锂离子充电电池及充电控制电路，容量高、无记忆效应； ●有剩余电量指示图标，提示用户及时充电； ●可显示充电过程指示，操作者可随时了解充电程度 ●连续工作时间大于 20 小时 ●超大容量数据存储，可存储 100 组原始数据及波形。 ●实时时钟设置及显示，方便数据记录及存储。 ●具有自动休眠、自动关机等节电功能 ●可靠防电机走死电路及软件设计 - 1 -

●显示测量信息、菜单提示信息、错误信息及开关机等各种提示说明信息； ●全金属壳体设计，坚固、小巧、便携、可靠性高。 ●中/英文语言选择； ●可连接电脑和打印机； ●可打印全部参数或打印用户设定的任意参数。 ●可选配曲面传感器、小孔传感器、测量平台、传感器护套、 接长杆等附件。 1.2 测量原理 本仪器在测量工件表面粗糙度时，先将传感器搭放在工件被测表面上，然后启动仪器进行测量，由仪器内部的精密驱动机构带动传感器沿被测表面做等速直线滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度会引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏检波器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP 芯片对采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在显示器上给出，也可在打印机上输出，还可以与PC 机进行通讯。 1.3 仪器各部分名称 传感器 - 2 -

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 11-SampleDef-样品定义

SAMPLEDEF 目录 1 启动 1.1 为什么使用SAMPLEDEF 1.1.1 LOADER 和DEF 文件 1.1.2 使用几个DEF文件 1.1.3 在SPECTRA plus数据里样品定义表的互动1.2 启动SAMPLEDEF 2 使用SAMPLEDEF 2.1 列的管理 2.1.1 创建新列 2.1.2 在列表里工作 2.1.3 设置列的选项 2.2 定义列的类型 2.3 选择数据类型 2.3.1 指定列内容的数据类型 2.3.2 设置为数字数据类型的选项 2.3.3 设置为字符数据类型的选项 2.3.4 设置为组合数据类型的选项 2.3.5 设置为字符串数据类型的选项 3 教材：使用SAMPLEDEF 设置标准样品定义表步骤一启动SAMPLEDEF 步骤二创建位置列 步骤三创建样品列 步骤四创建方法列 步骤五创建SSD-文件列 步骤六创建样品颜色 步骤七创建样品尺寸列 步骤八创建Sample-ID-样品编号列 步骤九创建制样方法列 步骤十创建类型列 步骤十一保存和测试样品定义表 步骤十二从LOADER运行样品定义表 索引

1 启动 1.1 为什么使用SAMPLEDEF 1.1.1 LOADER 和DEF 文件 我们可以通过LOADER程序把样品交付到测量程序。为此，需建立样品与进样器位置、测量程序、样品编号之间的联系，以便日后查询数据。还可以增加其他参数（如样品的稀释比、流水号等等）。在SPECTRA plus，这些样品信息都在SampledDef里定义。 输入界面，即：样品定义表里的各个列，是在扩展名为DEF的文件里定义的。这些DEF文件可以在SAMPLEDEF创建。 1.1.2 使用几个DEF文件 如何建立样品与仪器的联系有很多不同的方法，最简便的方法是接近实验室的实际工作，下面举例说明： 1 样品从不同的工厂送来，并且需要区别，测量方法可以在已建立的方法里选，等等； 2 不同班次的工人用相同的分析方法测量同样的样品，只需要让仪器知道需要测量的样品 在进样器的位置。 当然，很多实验室需要进行上述两样的工作，甚至更多。这就是为什么实验室需要多个样品定义表。 特定的样品定义表（DEF 文件）可以保存选项，从而避免输入错误。如：样品类型强制规定为液体，就可以避免在真空光路测量液体样品。 标准的样品定义表是随SPECTRA plus交付的，（Routine.def 在\Libraries\MeasMethods\）。这个表是通用的表，可以在SAMPLEDEF里进行个性化设定。

TR210粗糙度仪操作说明书

TR210手持式粗糙度仪使用说明书

1.概述 (1) 1.1测量原理 (1) 1.2标准配置 (1) 1.3仪器各部分名称 (2) 1.4基本连接方法 (3) 1.4.1传感器装卸 (3) 1.4.2电源适配器及电池充电 (3) 2.测量操作 (5) 2.1测量前的准备 (5) 2.2开机 (5) 2.3修改测量条件 (6) 2.3.1取样长度 (6)

2.4.2液晶背光 (7) 2.5功能选择 (8) 2.5.1测值存储 (8) 2.5.2读取存储值 (8) 2.5.3打印 (9) 2.5.4触针位置 (9) 2.5.5示值校准 (10) 3可选附件及其使用 (10) 3.1可调支脚及传感器护套 (10) 3.2测量平台 (11) 3.3接长杆 (12) 3.4磁性表座连接杆 (12) 3.5传感器 (13)

3.5.2TS110曲面传感器 (13) 3.5.3TS120小孔传感器 (14) 4.技术参数 (14) 4.1传感器 (14) 4.2驱动参数 (14) 4.3示值误差 (14) 4.4示值变动性 (15) 4.5显示内容 (15) 4.5.1符号 (15) 4.5.2参数 (15) 4.5.3提示信息 (15) 4.6轮廓和滤波器 (15) 4.7取样长度 (15) 4.8评定长度 (15) 4.9粗糙度参数和显示范围 (16) 4.10测量范围和分辨力 (16) 4.11电源 (16) 4.12温度/湿度范围 (16) 4.13外形尺寸和重量 (16) 4.14连接打印机 (17) 5.日常维护与保养 (17) 5.1故障处理 (17) 5.2故障信息 (17) 6.电池开关 (18) 7.参考资料 (18) 7.1轮廓和滤波 (18) 7.1.1轮廓 (18) 7.1.2滤波器 (19)

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 3-Getting Started-总体介绍

目录 1 安装SPECTRA plus 2 使用 SPECTRA plus第一步2.1 连接 2.2 无标样测量 2.2.1 预装的测量方法 2.2.2 特殊测量方法 2.2.3 分析结果的重新评估 2.3 绘制校准曲线 2.4 特殊应用 3 登录 3.1 登录的目的 3.2 操作人员管理 3.3 登录和退出 3.4 在不同的Windows 用户中登录

1 安装SPECTRA plus 安装必须在管理员界面里进行。 安装程序需以管理员权限进入，以安装某些动态资料库（DLL 文件），特别是这关系到数据库的管理，和某些注册钥匙，如在.DEFAULT 文件夹。 如果没有进入管理员界面，请询问网络管理员取得此资格。 安装时，请参考”Installation notes”（它是与SPECTRA plus分开的另一文件），和安装光盘里的READMEFIRST.TXT 文件、INSTALLATION.PDF 文件。 安装术语 ? Recalibration data diskette 重校正数据软盘： 是随光谱仪一起交付的软盘，包括与用户光谱仪相对应的特定文件：硬件配置文件和谱线库。在首次安装时必须安装，但不要用于升级：因为在使用了一段时间后，谱线库里会加进用户自己定义的谱线，硬件配置文件也可能进行了修改，如果重新安装时再使用重校正数据软盘里的数据，仪器就回到了出厂时的状态，用户加进去的内容会被删除，。 ? Master diskette 母盘： 是随初始SPECTRA plus软件包一起交付的软盘，内有信用证。在第一次安装时信用证被转移到硬盘。如果您想卸载软件，如，将软件安装至另一台电脑或其他目录，不要忘了把信用证转移回母盘，然后再转安装至其他地方。如果只是软件升级，没有改变目录，建议把信用证留在硬盘以避免误操作。 信用证的管理，见L_WIZARD程序。 快捷键图标程序手册?章 无L_WIZARD.EXE 11 只是在安装或卸载SPECTRA plus软件时才需要转移信用证，在通常情况下不要安装或卸载SPECTRA plus软件，也就不要用L_WIZARD去转移信用证。

布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线

应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录 应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线 简介 建立校准曲线 了解校准曲线工具箱 开始作校准曲线 Si KA1 HS-Min的校准曲线 如何检查计算的浓度是否被接受 P KA1-HS-Min 的校准曲线 S KA1 HR-Min的校准曲线 V KA1-HS-Min的校准曲线 Cr KA1-HS-Min的校准曲线 Mn KA1-HR-Min的校准曲线 V KA1 HS-Min的校准曲线 Ni KA1-HS-Min的校准曲线 Cu-KA1-HS-Min的校准曲线 漂移校正/重校正 低合金未知样品的测量 使用Results Monitor功能 监视分析结果 查询结果 转移结果 再评估测量数据 结论

简介 本教学课程包括下列内容，以便使你熟悉制作校准曲线的过程： l建立校准曲线 l组织材料 l输入标准浓度到数据库 l定义测量方法 l了解校准曲线工具 l校准已测量的低合金样品 l用低合金曲线测量未知样品 l使用结果管理器 按照这一部分的介绍，你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。使用一套BCS低合金标样，SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式，你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过，不需要在你的仪器上进行实际的测量。为了得到所显示的相同结果，必须仔细地按照所有步骤进行。

建立校准曲线 从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。 图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹

移动式X射线荧光光谱仪使用说明

移动式X射线荧光光谱仪使用说明 型号规格：EPX-50 生产厂家：美国Innov-X System公司 购置日期：2010年3月 性能指标：本仪器为低能量色散X射线荧光光谱仪，由X光源（X射线光管，Ta(W)阳极，50KV，10W能量）、滤光片（5个滤光片，3光束连续自动测试）、检测器(电制冷的高分辨率Si-Pin检测器，在5.95KeV Mn Kα<190 eV FWHM, 温度范围：-10℃至50℃)组成。适合大规模样品的筛查分析、现场应急污染初步检测和实验室固体样品的定性半定量分析（含量大于0.01%的重元素可以进行定量分析）。 应用范围：可一次分析土壤、沉积物、矿物、淤泥、固体废弃物等固体粉末及金属、合金样品中15P-92U的25个元素，具体为Cr, Pb, As, Hg, Se, Ag, Cd, Ba，Tl, Cu, Zn, Ni, Sb，V, Mn, Fe, Co, Sn, Rb, Zr, Sr, Mo，P, S, Cl, K, Ca。（Na，Mg，Al，Si等轻元素不能检测）。分析速度快，30~120秒内即可完成样品中以上元素的测试。 -1 操作方法： 1、将仪器自带的变压器一端接到220V 电源上，一端接到仪器上，将220伏电 压转换为18伏后打开仪器。 2、输入用户名称和密码进入操作界面。 3、用仪器自带的316合金将仪器标准化，使仪器处于最佳工作状态。 4、样品测试：将固体粉末样品装入不含氯的透明塑料袋内，打开盖子并将样品 袋轻轻放在测试窗上面，关闭样品仓盖，点击Mode选择测量模式(Soil 3 Beam,Mining,Analytical,Soil)，点击start 开始测量。多个样品依次进行测试，数据自动按照标准样式保存，结果显示在电脑屏幕上。 5、数据导出：用格式化的U 盘将测量数据导出，结果还可以报告形式打印出来。

SJ-201手册(粗糙度仪操作手册)

1、电源的开/关 开电源：按下（POWER/DATA）键。 关闭电源：如果使用交流电源或自动睡眠功能没打开 按下（REMOTE）键。 如果使用内置电池并且自动睡眠功能已打开 机器会自动关机。 2、SJ-201各功能键的说明图解

仪器校正 说明：1、按下（CAL/STD/RANG）键，屏幕出现CAL字和闪动的参考数值，与所用的标准块上的值对照，如不一样，请使用 （REMOTE）键移动光标，使用（CUTOFF）和（mm/inch 键改变数值，使他和标准样板上的数值一样。 2、按下（N/ENT）键 3、按图所示放置好粗糙度仪和标准样板。 4、按下（START/STOP）键进行测量。 5、测量完成后按下（N/ENT）键，完成整个校正过程。

测量 放好工件和仪器，按下（START/STOP）键，就开始测量，并自动获得结果。 转换测量结果显示参数 按下（PARAMETER）键就可实现参数转换。

改变测量状态 1、在测量状态下按下（CUTOFF）键，截取长度可在 0.25---0.85---2.5mm之间变换。 2、改变取样长度 在测量状态下按下（N/ENT）取样长度在X1--X3--X5--L之间转换（如：0.8 X 1、0.8 X 3、0.8 X 5，L是直接输入取样长度。）

3、改变测量轮廓 1/在测量状态下按下（CURVE/FILTER/TOL/CUST）键，进入轮廓设定状态。（显示CRV 和闪动的轮廓代号）2/按（CUTOFF）或（mm/inch）键改变轮廓代号。 每次按动轮廓代号会按照一定顺序改变： SJ-201P：P--r--d--P SJ-201M：P--r--CnO--P 3/按下（N/ENT）键输入新设定。 粗糙度测量方法 1、仪器的正确摆放 如图：驱动器应该与工件 垂直，并紧贴工件表面。 2、传感器测头需水平于被测 表面。

表面粗糙度测量仪操作规范

表面粗糙度测量仪操作规范 1 仪器的用途 SV-3000S4表面粗糙度测量仪可进行多功能表面粗糙度测量。其SURFPAK-SV专用分析软件兼容包括ISO、DIN、ANSI和JIS在内的符合国际标准的57种分析用参数，具有先进的数据处理能力。 2 仪器的使用和操作方法 2.1 工作环境： 温度：15℃～25℃ 湿度：20～80%RH（远离冷凝气） 电源：220V 50Hz 1PHASE 2.2 打开计算机，打开主机电源，待显示灯亮后双击“SURFPAK”进入测量程序。 2.3 设置原点。根据对话框提示确认后仪器将自动完成原点设置。 2.4 根据测量要求选择并安装合适的检测器及探针，同时进行相应的程序设置。 2.5 检测器校正 2.5.1每一种型号的检测器和探针在首次使用或认为探针磨损影响测量精度时应进行校正。校正值注册后自动保存在检测器“补偿”中，需要时可以直接调用。不调用校正值时默认上一次使用状态的校正值。 2.5.2检测器的校正可利用测量仪所配的粗糙度标准样块（OLDMIX）来完成。

2.5.3启动“检测器校正测量”，根据提示输入标准样块的参数并设置测量条件，将样块尽可能调平后再进行校正测量。测量完毕后程序自动给出结果校正值。 2.6 通用测量 2.6.1将被测样件放在工作台上，按测量需要对其进行调平，即调整被测样件的平面或其素线，令其与导轨平行，同时被测量部位的加工痕迹与探针运行方向（X轴）垂直。 2.6.2根据被测工件实际情况及测量要求选择评价标准并进行测量条件设置，包括评价轮廓类别、基准长度、区间数、间距、评价长度、滤波方式、补偿设置等，确定好测量起始位置后进行自动测量。 2.6.3测量完毕后自动显示评价轮廓图，其水平和垂直放大倍率由系统自动设置也可以自行设置。 2.6.4双击“设置参数区”选择所要评定的参数，程序自动给出所选参数的测量结果。 2.6.5双击“分析图表区”选择所要评定的结果分析图，程序自动生成并显示所需图表。 2.7输出报告。将需要打印输出的内容利用“粘贴布局”来完成，并可以按照需要添加注释。设置完毕后打印输出检测报告。 2.8 保存测量数据，以备将来查看。 2.9测量完毕后将检测器升至安全位置后退出测量程序，关上主机电源。 2.10仪器的自校准与核查

EI操作手册稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书

Edinburgh Instrument FLS920 User Manual

目录 一、开机步骤 (2) 二、实验操作 (4) 1、实验前准备 (4) 2、稳态实验 (6) A、发射光谱实验 (6) B、激发光谱实验 (9) C、同步谱 (10) D、Map (11) E、偏振光谱 (12) 3、低温实验 (17) A、液氮冷却系统(Oxford) (17) B、ARS冷却系统 (19) 4、样品衰减操作 (22) A、纳秒、皮秒级衰减 (22) 纳秒灯为光源 (22) 激光器为光源 (27) B、微妙、毫秒级衰减 (29) 三、数据处理 (32) 1、数据一般处理 (32) 2、稳态光谱 (33) 3、瞬态光谱 (33) 四、附录 (36) 1、氢灯清洗方法 (36)

一、开机步骤 1、打开总电源（开之前保证所有仪器开关关闭） 2、开启PH1 3、开启PMT制冷电源CO1 4、开启光谱仪控制电源CD920（控制盒）或样品室下方的控制板电源 此为控制盒 此为控制板 5、根据需要的光源开启氙灯或是其它灯源电源 此为氙灯电源 此为氢灯电源

6、开启电脑，同时将谱仪样品室上方盖子移开。待进入操作系统后进入F900软件。

二、实验操作 1、实验前准备 在做实验前有几点需要注意： A 、 对于红敏PMT （R928），其制冷必须达到一定温度，一般为室温-40℃左右。待C O 1 显示在-17℃左右的时候，在软件的S i g n a l R a t e 窗口里观察E m 1的C P S 读数显示。 若其读数维持在50C P S 以下，则表明读数正常，P M T 制冷达到工作状态，可以用该探测器进行实验。 Fig.2.1 B 、 对于近红PMT （5509），其必须准备以液氮杜瓦罐（约15升左右），将制冷部件的 管子插入罐中，开启制冷电源 Fig.2.2 制冷电源 杜瓦罐 通气管道

TR100袖珍粗糙度仪说明书

时代TR100袖珍式表面粗糙度测量仪 ---使用说明书

目次 1概述 (2) 2工作原理与结构特征 (2) 3主要性能指标 (3) 4使用与操作 (4) 5保养与维修 (7) 附录：推荐选择的取样长度 (8)

1概述 时代TR100 袖珍式表面粗糙度仪是我公司推出的新一代袖珍式表面粗 糙度仪。具有测量精度高、测量范围宽、操作简便、便于携带、工作稳定等 特点，可以广泛应用于各种金属与非金属的加工表面的检测，该仪器是传感 器主机一体化的袖珍式仪器，具有手持式特点，更适宜在生产现场使用。 2工作原理与结构特征 2.1 工作原理 当传感器在驱动器的驱动下沿被测表面作匀速直线运动时，其垂直于工 作表面的触针，随工作表面的微观起伏作上下运动，触针的运动被转换为电 信号，将该信号进行放大，滤波，经A/D转换为数字信号，再经CPU处理，计算出Ra、Rz值并显示。 2.2 结构特征 2.2.1 基本配置：外型见图1 主机 充电器标准样板一台一个一块 (标准样板)(主机)(充电器) （图1） 2.2.2主机结构：（见图2）

? ? ?? ? ? ?? …………启动按钮 …………选择键1 …………电源开关 ?…………测试区域 3 主要性能指标3.1主要技术参数（图2） …………液晶屏幕 …………选择键2 …………充电插口 ?…………测头保护盖 测量参数： 扫描长度（mm）： 6 Ra、Rz 取样长度（mm）：0.25、0.80、2.5 评定长度（mm）： 1.25、4.0、5.0 测量范围（μm ）： Ra：0.05 ~ 10.0 Rz：0.1 ~ 50 示值误差：±15% 示值变动性：＜12% 传感器触针针尖圆弧半径及角度：