03-电子显微分析-基础知识与TEM(1-电子显微镜光学基础)
电子显微镜-TEM

目录
一、电子显微镜简介
二、基础知识 三、透射电镜原理和结构 四、透射电镜的成像原理
一、电子显微镜简介
电子显微镜是利用电子束对样品放大成像的一种显微镜,包括扫
描电镜(Scanning Electron Microscopy, SEM)和透射电镜 (Transmission Electron Microscopy,TEM)两大类型,其分辨率 最高达到0.01nm,放大倍率 高达1500 000倍,借助这种 显微镜我们能直接观察到物 质的超微结构。
二、基础知识
基础知识
三、透射电镜原理和结构
3.1 透射电镜的基本原理
透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简 称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品
中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、 厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件 (如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。 具有一定能量的电子束与样 品发生作用,产生反映样品 微区厚度、平均原子序数、 晶体结构或位向差别的多种 信息。
将上式展成级数,并略去二级及其以后的各项,得:
02 2t 2 01 1t1 G NA M M 2 1
将 t 称为质量厚度。
透射电镜的成像原理
4.2.3.质厚衬度表达式
对于大多数复型来说,因其是用同一种材料做的,上式可写为
N A 0 t2 t1 G M
1、把畸变晶体看成是局部倒易点阵矢量、或局部晶面 间距发生变化:g g g
2、把畸变晶体看成是完整晶体的晶胞位置矢量发生变
TEM(透射电子显微镜)

细胞结构解析
细胞膜结构
透射电镜图像可以清晰地展示细胞膜的精细结构,如细胞膜的厚度、 细胞器的分布等。
细胞器结构
透射电镜能够观察到细胞内的各种细胞器,如线粒体、内质网、高 尔基体等,有助于了解细胞器的形态和功能。
细胞骨架结构
透射电镜能够观察到细胞骨架的超微结构,如微管、微丝和中间纤维 等,有助于了解细胞骨架在细胞运动、分裂和分化中的作用。
TEM应用领域
01
02
03
04
生物学
研究细胞、组织和器官的超微 结构,如细胞器、细胞膜、染
色体等。
医学
用于诊断疾病,如癌症、传染 病等,以及药物研发和疫苗制
备过程中的结构分析。
地质学
观察岩石、矿物和矿物的微观 结构,研究地球科学中的各种
地质现象。
材料科学
研究金属、陶瓷、高分子等材 料的微观结构和性能,以及材
控制切片的厚度,通常在50~70纳米之间,以确 保电子束能够穿透并观察到样品的内部结构。
切片收集与处理
将切好的超薄切片收集到支持膜上,并进行染色、 染色脱水和空气干燥等处理。
染色
染色剂选择
选择适当的染色剂,如铅、铀或 铜盐,以增强样品的电子密度并
突出其结构特征。
染色时间与温度
控制染色时间和温度,以确保染色 剂与样品充分反应并达到最佳染色 效果。
清洁样品室
定期清洁样品室,保持清洁度 。
检查电子束系统
定期检查电子束系统,确保聚 焦和稳定性。
更新软件和驱动程序
及时更新TEM相关软件和驱动 程序,确保兼容性和稳定性。
定期校准
按照厂家建议,定期对TEM进 行校准,确保观察结果的准确
性。
06 TEM未来发展
电子显微分析基础知识系列培训讲座

电子显微镜作为观察微观世界的“眼睛”,在现代科学技术的发展中发挥着极为重要的 作用。在运用电子显微分析方法研究材料微观结构的过程中,对研究者的理论知识和实验 技能均有较高要求。在我们的实际工作中,发现来电镜室进行样品测试的绝大多数的研究 生和其他用户并没有系统的学习过电子显微分析方法,这在一定程度上影响了研发工作的 顺利开展。基于此,中科院苏州纳米所人力资源处、研究生部和测试平台决定于 11 月中旬 开始举办针对电子显微分析基础知识的系列讲座,主讲人为在电子显微分析和晶体材料研 究领域有着多年研究经验的四位博士:曾雄辉、牛牧童、苏旭军、黄俊。
行
除、成像
实验 2Βιβλιοθήκη 样品倾转与电子衍射 苏旭军博士
谱的获得
拟在第 6 讲后进 行
实验 3
薄晶与非晶的高分辨 苏旭军博士
电子显微像
拟在第 7 讲后进 行
实验 4 实验 5
扫描透射模式成像、 Z-衬度、STEM/EDS 扫描 晶体缺陷的电子衍衬 成像
牛牧童 博士 苏旭军博士
拟在第 8 讲后进 行
拟在第 9 讲后进 行
晶体学基 础
讲座内容
第 1 讲:晶体学基础 I:点阵、对称元素、点群、空间群的 基本概念
第 2 讲:晶体学基础 II:晶体中的缺陷种类:点缺陷、位 错、层错、晶界等的基本概念和主要表征手段。
电子光 学、电镜 基本结构
第 3 讲:电子光学基础 第 4 讲:透射电镜的基本结构和样品制备方法
电子衍射 基础
系列讲座均为免费参加,欢迎广大同学和研发人员积极报名参加。报名方式:填写 “姓名+课题组/公司+Email+联系电话”发送至以下邮箱:xmdong2012@
电子显微镜原理教学课件

样品吸收电子,导致不同区域 呈现不同亮度。
透射
部分电子穿过样品,形成透射 图像。
扫描电镜成像
逐点扫描样品表面,形成高分 辨率图像。
电子显微镜的分辨率
01
02
03
理论分辨率
受电子波长和物镜的NA 值影响。
实际分辨率
受到多种因素影响,如样 品厚度、结晶度和电子束 能量等。
提高分辨率的方法
采用更高能量的电子束、 提高物镜的NA值和使用 更短的波长。
电子显微镜原理教学课 件
目 录
• 电子显微镜简介 • 电子显微镜工作原理 • 电子显微镜样品制备技术 • 电子显微镜图像分析 • 电子显微镜操作与维护 • 电子显微镜未来发展趋势
01
电子显微镜简介
电子显微镜的发展历程
1926年
德国物理学家Max Knoll和Ernst Ruska发 明了第一台电子显微镜
放置样品
将需要观察的样品放置在载物 台上,并调整样品的位置和角 度。
观察
观察并记录样品的形态、结构 等特征。
电子显微镜的常见故障及排除方法
图像模糊
可能是由于焦距调节不当或样品表面 不平整导致,需要重新调整焦距或处 理样品表面。
图像扭曲或变形
可能是由于电子束倾斜或样品放置不 正确引起,需要检查电子束的路径和 样品放置情况。
无法聚焦
可能是由于样品太厚或焦距调节不当 导致,需要减小样品厚度或重新调整 焦距。
光源异常
可能是由于灯泡损坏或电源故障导致 ,需要更换灯泡或检查电源连接。
电子显微镜的日常维护与保养
清洁镜头
定期用干燥的镜头纸或镜头布擦拭镜头表面 ,保持镜头清洁。
定期校准
根据需要,定期对电子显微镜进行校准,以 确保观察结果的准确性。
TEM电子显微镜工作原理详解

TEM电子显微镜工作原理详解TEM电子显微镜是一种高分辨率的分析仪器,能够在纳米尺度下观察材料的微观结构和成分,对于研究材料的性质和特性具有重要意义。
本文将详细介绍TEM电子显微镜的工作原理,包括透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜。
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)工作原理:透射电子显微镜主要由电子光源、透镜和探测器组成。
首先,电子光源发射高能电子束,这些电子从阴极发射出来,经过加速器获得较高的能量。
然后,电子束通过一系列的电磁透镜进行聚焦,使电子束变得更加细致和密集。
接着,电子束通过物质样本,部分电子被样本吸收或散射,形成透射电子。
这些透射电子被接收器捕获和放大成像,形成TEM图像。
透射电子显微镜的工作原理是基于电子的波粒二象性。
电子是一种粒子同时也是一种波动,其波动性质使得它具备非常短的波长,远远小于可见光的波长。
这使得TEM能够观察到比传统光学显微镜更小的尺度。
另外,透射电子显微镜在工作中还需要考虑电子束的束流强度、对样本的破坏性和控制样本与探测器之间的距离等因素。
TEM电子显微镜通过透射电子成像方式观察样本,因此对样本的制备要求非常高。
样品需要制备成非常薄的切片,通常厚度在几十纳米到几百纳米之间,以保证电子可以穿透。
对于一些无法制备成切片的样品,可以利用离子切割或焦离子技术获得透明的样品。
此外,在观察样本时需要避免污染和氧化等现象。
扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscope,STEM)工作原理:扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种变种,它在透射成像的基础上加入了扫描功能。
STEM可以实现高分辨率的成像,同时也可以进行能谱分析和电子衍射。
STEM电子显微镜工作原理类似于透射电子显微镜,但需要注意的是,STEM使用的电子束并不需要通过所有的样本区域。
电子束只需通过样本中的一个小区域,然后扫描整个样本,因此样本制备要求和透射电子显微镜相比较低。
03-电子显微分析-基础知识与TEM(3-TEM)

二、透射电子显微像的质厚衬度及透射电镜样品
使用透射电镜观察分析材料的形貌、组织、结构,需具备以 下两个前提: 一是制备适合TEM观察的试样,厚度100-200nm,甚至更薄;
TEM试样大致有三种类型: 粉末颗粒 材料薄膜 复型膜
二是建立电子图像的衬度理论
24
二、像衬度及复型像
(一)电子像衬度(像衬度)——质厚衬度
一般都采用双聚光镜系统。
②成象放大系统
主要组成:
➢ 物镜
成
➢ 中间镜(1-2个)
像
放
➢ 投影镜(1-2个)
大 系
统
11
物镜
①形成显微像
将来自试样同一点的不同方向的弹性散射束会聚于其像
作用:平面上,构成与试样组织结构相对应的显微像。 ②形成衍射花样
将来自试样不同点的同方向、同相位的弹性散射束会聚 于其后焦面上,构成含有试样晶体结构信息的衍射花样
22
(2)放大倍数
透射电镜的放大倍数是指电子图象对于所观察试样区的 线性放大率。
最高放大倍数表示电镜的放大极限。实际工作中,一般 都是在低于最高放大倍数下观察,以得到清晰的图像。
(3)加速电压
电镜的加速电压指电子枪的阳极相对于阴极的电压 决定电子枪发射的电子束的波长和能量 200kV电镜是一种比较理想的电镜(0.00251nm )
三、电子衍射
四、透射电子 显微像
电子衍射和X-ray衍射异同点 电子衍射基本公式 电子衍射花样 阿贝显微镜成像原理 透射电子显微镜中选区电子衍射 电子衍射花样的标定
像衬度:质厚衬度、衍射衬度、相位衬度 选择衍射成像原理 双光束条件 电子衍射分析的特点
一、透射电子显微镜
结构组成与工作原理 ➢ 光学成像系统 ➢ 真空系统 ➢ 电气系统
电子显微镜基础

电子显微分析 电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。
包括:用透射电子显微镜TEM 进行的透射电子显微分析用扫描电子显微镜SEM 进行的扫描电子显微分析用电子探针仪EPMS 进行的X 射线显微分析电子显微分析是材料科学的重要分析方法之一,与其它的形貌、结构和化学组成分析方法相比具有以下特点:1)具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分。
2) 为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm (TEM ),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析。
一、电子光学基础磁场中运动,特别是在电场和磁场中偏转、聚焦和成像规律的一门科学。
它与几何光学有很多相似之处:(1)几何光学是利用透镜使光线聚焦成像,而电子光学则利用电、磁场使电子束聚焦成像,电、磁场起着透镜的作用。
(2)几何光学中,利用旋转对称面作为折射面,而电子光学系统中,是利用旋转对称的电、磁场产生的等位面作为折射面。
因此涉及的电子光学主要是研究电子在旋转对称电、磁场中的运动规律。
(3)电子光学可仿照几何光学把电子运动轨迹看成射线,并由此引入一系列的集合光学参数来表征电子透镜对于电子射线的聚焦成像作用。
电镜中,用静电透镜作电子枪,发射电子束;用磁透镜做会聚透镜,起成像和放大作用。
静电透镜和磁透镜统称电子透镜1. 电子在静电场中的运动电子在静电场中受到电场力的作用将产生加速度。
初速度为0的自由电子从零电位到达V 电位时,电子的运动速度v 为:(10) 2m eV v当电子的初速度不为零、运动方向与电场力方向不一致时,电场力不仅改变电子运动的能量,而且也改变电子的运动方向。
2、静电透镜与玻璃的凸透镜可以使光线聚焦成像相似,一定形状的等电位曲面簇 也可以使电子束聚焦成像。
产生这种旋转对称等三电位曲面簇的电极装置即为静电透镜。
它有二极式和三极式之分。
电子显微分析知识点总结大全

电子显微分析知识点总结(粗字体为重点)
第一讲电子光学基础
1、电子显微分析特点
2、Airy斑概念
3、Rayleigh准则
4、光学显微镜极限分辨率大小:半波长,200nm
5、电子波的速度、波长推导公式
6、光学显微镜和电子显微镜的不同之处:光源不同、透镜不同、环境不同
7、电磁透镜的像差产生原因,如何消除和减少像差。
8、影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素,如何提高电磁透镜的分辨率
9、电子波的特征,与可见光的异同
第二讲TEM
1、TEM的基本构造
2、TEM中实现电子显微成像模式与电子衍射模式操作
第三讲电子衍射
1、电子衍射的基本公式推导过程
2、衍射花样的分类:斑点花样、菊池线花样、会聚束花样
3、透射电子显微镜图像衬度,各自的成像原理。
第四讲TEM制样
1、粉末样品制备步骤
2、块状样品制备减薄的方法
3、块状脆性样品制备减薄——离子减薄
4、塑料样品制备——离子减薄
5、复型的概念、分类
第五讲SEM
1、电子束入射固体样品表面会激发的信号、特点和用途
2、SEM工作原理
3、SEM的组成
4、SEM的成像衬度:二次电子表面形貌衬度、背散射电子原子序数衬度、吸收电子像的
衬度、X射线图像的衬度
第六讲EDS和WDS
1、EDS探测系统——锂漂移硅固体探测器
2、EDS与WDS的优缺点
第七讲EBSD
1、EBSD的应用
第八讲其它电子显微分析方法
1、各种设备的缩写形式。
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综上所述: ① 提高加速电压,缩短电子波长(当加速电压为100kV时,电子波长与
可见光相比,相差105量级),提高电镜分辨率; ② 加速电压越高,对试样的穿透能力越大,可放宽对样品的减薄要求; ③ 如用更厚样品,更接近样品实际情况。
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目前电子显微镜常用的加速电压在100KV-1000KV之间,对应 的电子波波长范围是0.00371nm-0.00087nm,这样的波长比最短 可见光波长短了约5-6个数量级。
螺旋半径 R msin
qB
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磁透镜对电子束的聚焦原理
通电的短线圈就是一个简单的磁透镜,它能产生一种 轴对称不均匀分布的磁场。
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电子作圆锥螺旋 近轴运动
电子束通过磁透 镜的聚焦示意图
光学玻璃凸透镜 对平行于轴线入 射的平行光的聚 焦原理示意图
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几点说明
电子在电磁透镜中的运动 轨迹是螺旋线,但为了简 单起见,在所有的电子光 路图中都将电子运动的轨 迹用折线表示。
思考问题:电子波波长很短,按照由衍射理论导出的透镜分 辨本领公式计算的极限分辨率,电子显微镜的分辨率应该比可 见光高至少5个数量级,但目前电子显微镜的最高分辨率约为 0.1nm,仅比可见光波长短了3个数量级,为什么???
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三、电子在电磁场中的运动和电子透镜
可见光用玻璃透镜聚焦。 旋转对称的静电场或磁场也可对电子束起到聚焦
的作用。 电子透镜:电子束的聚焦装置 电子透镜分为:静电透镜和磁透镜
29
1. 电子在静电场中的运动
电子在静电场中受到电场力的作用将产生加速度。
初速度为0的自由电子从零电位到达V电位时,电
子的运动速度v为:
v 2eV m
E 1 m 2 eV
2
(10)
即加速电压的大小决定了电子运动的速度。
承上
1
承上
2
材料性能分析方法
分析方法所涉及的基础知识 分析方法基本原理 仪器主要结构及工作原理 实验技术及结果分析和应用
根据第一章的学习体会总结该门课程知识点的学习规律
3
启下
4
电子显微分析
电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互 作用后产生的各种物理信号,分析试样物质的微 区形貌、晶体结构和化学组成
增大数值 孔径困难
且有限
增大数值孔径困难且有限, 当nsina做到最大时, r≈λ/2
若用波长最短的可见光作照明源,则r≈200nm
200nm是光学 显微镜分辨本 领的极限
肉眼的分 辨本领约 为0.2mm
光学显微镜来可以观察到比肉眼所能看到的更小粒子的组织结构
染色后的洋葱表皮细胞
血液涂片(嗜碱性粒细 胞——在血液中的含量最
材料在原子、分子尺度的微观信息
22
如何提高分辨率???
寻找比可见光波长更短且能聚焦的光波
1)紫外线 —会被物体强烈的吸收; 2) X射线、γ射线 —很难使其会聚 ;
3)电子波 — 在电磁场中可改变运动方向
具有更高分辨率的电子显微镜: 照明源—电子束
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电子显微镜来可以观察到比光学显微镜所能观察到的更细微的组织结构
包括: TEM 透射电子显微分析(包括电子衍射) SEM 扫描电子显微分析 EPMA 电子探针X射线显微分析
5
电子显微分析是材料科学的重要分析方法之一,它 与其它的形貌、结构、成分分析方法相比具有如下 特点:
在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、结构、选 择分析区域;
是一种微区分析方法,具有高的分辨率,一般成像 分辨率达到0.2-0.3nm;
类似于光学透镜,将通过电磁透镜中心的对称轴称为电 磁透镜的光轴。
通过电磁透镜中心并垂直于对称轴的平面定义为主平面。 在电子光路图中,将电磁透镜都画为薄凸透镜或用透镜
主平面来表示
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磁透镜与光学透镜的比较
磁透镜:产生旋转对称非均匀磁场的线圈装置
磁透镜产生的旋转对称的磁场对电子束有聚焦作用, 能使电子束聚焦成像
2、静电透镜
与玻璃的凸透镜可以使光线聚焦成像相似,旋转对称等电位 曲面簇也可以使电子束聚焦成像。
产生这种旋转对称等电位曲面簇的电极装置称为静电透镜。
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3. 磁透镜 带电粒子在磁场中的运动
电荷在磁场中运动时会受到洛仑兹力的作用,其表达
式为:
F
q
B
洛伦兹力方向:垂直于电荷运动速度和磁感应强度 所决定的平面
几何像差:由于透镜磁场几何形状上的缺陷而 造成的像差。(球差、轴上像散、畸变)
色差:由于电子波的波长或能量发生一定幅度 的改变而造成的像差。
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1、球差
球差:由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束 的会聚能力不同而造成的。一般远轴区对电子束的汇 聚能力大于近轴区(正球差)。
P
轴
球差是限制电子透镜分辨本领最主要的因素
磁透镜的光学性质
11 1 f L1 L2
f-焦距;
L1-物距; L2-像距 ; M-放大倍数
M L2 f L2 f
L1 L1 f
f
相 似
43
相似 与光学透镜相似,电磁透镜也有3种重要的平面
➢ 物平面:包含有物点并与光轴垂直的平面 ➢ 像平面:………像点……………………… ➢ 焦面: ………焦点………………………
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四、电磁透镜的像差和理论分辨本领
要得到清晰而又与实物的几何形状相似的图像,必 须有以下3个前提条件:
a、磁场分布是严格轴对称的; b、满足旁轴条件:sinθ≈θ,cosθ≈1 c、电子波的波长相同。 实际的电磁透镜不能完全满足以上3个条件。
47
电磁透镜在成像时会产生像差。
像差:所得像有不同程度的模糊不清,或者与原物的 几何形状不完全相似的现象。 像差分类:几何像差和色差两类。
具有更高分辨率的电子显微镜 照明源—电子束
人类血细胞 SEM照片
比可见光波长更短的有: 1)紫外线 —会被物体强烈 的吸收; 2)X 射线 —无法使其会聚; 3)电子波
夜蛾复眼的扫描电子显微照片
各种常见植物的花粉
24
二、电子的波性及波长
电子显微镜的照明光源是电子束。与可见光相似, 运动的电子也具有波、粒二象性。
30
当电子的初速度不为0、运动方向与电场力方向不一致时,电 场力不仅改变电子运动的能量,也改变电子的运动方向。
➢ 一般可以把电场看成 由一系列等电位面分
N
割的等电位区构成。
AB为等电位面
N为等电位面的法线
➢ 电子在通过V1、V2电 位区分界面AB时,电 子的运动方向发生改 变,电子运动速度从
v1变为v2。
旋转半径随: 带电粒子速度增加而增 加 磁感应强度增加而减小, 因而可望实现“聚焦”
36
③ v与B成θ角,带电粒子在磁场内作螺旋运动;
v与B成θ角时
带电粒子在B方向 上不受力,做匀 速匀速运动;
带电粒子在垂直
于B方向上由于洛
伦磁力作用而做
圆周运动。
带电粒子电子在磁 场内作螺旋运动
螺旋半径 R msin
图(e)两个Airy斑 分辨不出。
18
分辨率:显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离。 以物镜的分辨本领来定义显微镜的分辨本领。
根据衍射理论导出 光学透镜分辨本领:
r 0.61 0.61 nsin N A
α:物镜收纳的光线锥的半角,
即边缘光线和光轴的夹角。
r 0.61 0.61 nsin N A
E hv
二象性公式: P h /
(德布罗意公式)
P=mv
De Broglie 波: h / mvv
加速电子的动能与
v2
电场加速电压的关系为:
与V的关系式
25
➢ 加速电压较低时
h 12.25 (埃)
2m0eV
V
➢ 加速电压较高时
12.25
(埃)
V(1 0.9785 10 6 V)
同时进行形貌、物相、晶体结构和化学组成的综合 分析
SEM
S 4800FE
7
形貌(SEM)
8
形貌(TEM)
9
晶体结构分析
HRTEM
SAED
10
晶体缺陷(TEM)
C C
P S
C
B A
11
综合分析(SEM+EDS)
12
综合分析(TEM+SAED+EDS)
13
电子显微分析
电子显微镜光学基础
洛伦兹力大小: qvBsin(vB)
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带电粒子在匀强磁场中的运动
① v // B:F=0;带电粒子按照原来的方向匀速运动。 ② v ┴ B: F=q v B(最大值),带电粒子在与磁场垂直
的平面内作匀速圆周运动;此时洛伦磁力起着向心力
(F=mv2/R)的作用。
v┴B
半径R m p
qB qB
qB
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磁聚焦原理
A’
在匀强磁场中某点A A
处有一束带电粒子
当带电粒子的速度大致相同时,这些粒子具有相同的螺距。 经一个回转周期后,他们各自重新会聚到A‘点。
发散粒子依靠磁场作用会聚于一点的现象称为磁聚焦。
实际应用中,更多利用的是非匀强磁场对电子束进行聚焦。
38
带电粒子在非均匀磁场也作螺旋线运动,但:R≠常数
➢ 电子受到等电位面法 线方向的电场力,而 在切线方向不受力。
电子在AB方向不受力, 因而在等电位面方向 上的速度分量不发生 变化。
v-电子运动速度 V-加速电压
v1 sin v2 sin 或
sin v2 sin v1
(11)
又因为:
v1
2 eV1 m
v2
2 eV2 m
则:
sin v2 V2 1