第一篇__组织形貌分析(终版)

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答案1材料特性表征第1篇组织形貌分析

答案1材料特性表征第1篇组织形貌分析

答案1材料特性表征第1篇组织形貌分析材料特性表征第⼀篇组织形貌分析作业题1. 光学显微镜的分辨本领和数值孔径?光学显微镜的分辨率:样品上相应的两个物点间距离?r 。

定义为透镜能分辨的最⼩距离,也就是透镜的分辨本领。

提⾼分辨率的⽅法:使⽤低波长光源,提⾼对⽐度。

光学显微镜数值孔径NA= nsin α(n )和半孔径⾓(α)的正弦之乘积2. 什么是电⼦显微分析?电⼦显微分析的特点是什么?电⼦显微分析是利⽤聚焦电⼦束与试样物质相互作⽤产⽣的各种物理信号分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。

电⼦显微分析的特点:(1) 可以在极⾼放⼤倍率下直接观察试样的形貌、结构,选择分析区域。

分辨率⾼:0.2~0.3nm; 放⼤倍数⾼:20~30 万倍 (2) 是⼀种微区分析⽅法,具有⾼度分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3mm,可直接分辨原⼦,能进⾏nm 尺度的晶体结构及化学组成分析。

(3) 各种电⼦显微镜分析仪器⽇益向多功能、综合性⽅向发展,可以进⾏形貌、物相、晶体结构和化学组成等的综合分析3. 电⼦波长由什么决定?电⼦波波长与电⼦运动速度的关系:mvh =λ所以电⼦波长由电⼦运动速度决定。

4. 什么是静电透镜和磁透镜?各有什么特点?静电透镜:能使电⼦波折射聚焦的具有旋转对称等电位曲⾯簇的电极装置。

磁透镜:能使电⼦波聚焦的具有旋转对称⾮均匀的磁极装置。

5. 电磁透镜的像差有哪⼏种?电磁透镜的像差分成两类:第⼀是因为透镜磁场⼏何上的缺陷造成的,叫做⼏何像差,包括球⾯像差、像散和像畸变。

第⼆是由于电⼦波长或者能量⾮单⼀性⽽引起的,与多⾊光相似,叫做⾊差。

6. 电磁透镜的场深?电磁透镜的场深或景深:在保持象清晰的前提下,试样在物平⾯上下沿镜轴可移动的距离,或者说试样超越物平⾯所允许的厚度。

7. 电⼦的弹性散射有什么特点?⽤于什么分析?如果在散射过程中⼊射电⼦只改变⽅向,但其总动能基本上⽆变化,则这种散射称为弹性散射。

11.光学显微镜

11.光学显微镜
Lateral - chromatic difference of magnification: the blue image of a detail was slightly larger than the green image or the red image in white light, thus causing color ringing of specimen details at the outer regions of the field of view
L F
O
S+1
A B
S0
C
S-1
1
I’ C’
B’
A’
2
阿贝成像原理:衍射系统的屏函数
能使波前的复振幅发 生改变的物,统称为 衍射屏。
衍射屏将波的空间分 为前场和后场两部分。 前场为照明空间,后 场为衍射空间。
波在衍射屏的前后表 面处的复振幅分别称 为入射场、透射场, 接收屏上的复振幅为 接收场。
▪ (The eye is more sensitive to blue than violet) ▪?
像差
降低了显微镜分辨率 非理想透镜导致的主要像差:
(单色光)近轴物宽光束引起的球面像差和彗形像差; (单色光)远轴物窄光束引起的像散、像面弯曲和像形畸变;
复色光形成色差.
像差来源
(1)参与成像的光是非近轴光; (2)参与成像的光是非单色光; (3)系统中各光学元件的表面是非球面; (4)系统中各光学元件的主光轴不重合.
当眼睛调焦在无穷远时,完全松弛,i.e. o = f, i =
;0 h/25 and h/f
m 25 0 f
f in cm
单个透镜的局限

材料现代研究方法 第二章 组织形貌分析概论

材料现代研究方法 第二章 组织形貌分析概论

第 1 :1首
四、扫描隧道显微镜
• 19 8 1 年 , IBM 公司的 Gerd Binnig 和 Heinrich
Rohrer发明了扫描隧道显微镜 CSTM)
检视'1)针尖垂豆位置 的方法
控制 针尖位 置 的反馈系统
驱动 样品 (或针尖 )
做光栅式扫 描的压 电扫 描器
也闭路针尖
与4芋 ,霄‘ 1词
第 1 :1首
Gerd Binnig Heinrich Rohrer
第 1 章组织形貌芳析概论
第 1 :1首
Gerd Binnig Heinrich Rohrer
隙的粗 i周 定位系统
!J1i1笃由司亘在吕 t义, 切J 量t 被茹苦沂转换成图像 数据的 计算 机系统
I~I
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第 1 :1首
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第 1 :1首
"18M" 是由单个原子构成的
第 1 章组织形貌芳析概论
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第 1 :1首
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第 1 :1曾
三、扫描电子显微镜
1952年 , 英国奥特利发明扫描电 子显 微镜
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第 1 :1首
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第 1 :1首
· 最高分辨率为 0.2μm , 比人眼的分辨率 C O.lmm ) 提 高 了 500倍。
分辨率

拉伸,压缩,冲击试样组织形貌分析

拉伸,压缩,冲击试样组织形貌分析

玻璃微球/环氧树脂复合材料的组织形貌分析复合材料试样SEM组织形貌分析:本实验分别观察了三种试样平行于断口和垂直于断口的微观形貌,如下:图一:冲击试样平行于断口处的SEM照片如图一所示,分别为冲击试样平行于断口处的500倍、1000倍、2000倍的微观组织形貌。

从图中可以看出,在平行于断口处,部分玻璃微球被破坏,这可能是由于冲击时的压力所造成的。

从500倍的照片中可以看出,微球的排列比较规则,但微球周围的树脂包覆的并不多。

从2000倍的照片中可以看出,微球与树脂的结合会有裂缝,这种微观结构会影响到试样的力学性能。

图二:冲击试样垂直于断口处的SEM照片如图二所示,分别为冲击试样垂直于断口处的1000倍、2000倍、3000倍的微观组织形貌。

从图中可以看出,在垂直于断口处,并没有发现玻璃微球的明显变形,但是发现了微球的碎片,这可能是由于冲击时的压力所造成的。

从2000倍的照片中可以看出,微球周围包覆的树脂比较多。

从3000倍的照片中可以看出,基体的结合是靠树脂将微球包覆起来,从而形成一种增强机制,微球与树脂的结合情况直接影响到试样的整体力学性能。

图三:拉伸试样平行于断口处的SEM照片如图三所示,分别为拉伸试样平行于断口处的300倍、1000倍、1500倍的微观组织形貌。

从图中可以看出,在平行于断口处,玻璃微球排列紧密,而且微球的尺寸并不均匀。

从300倍的照片中可以看出,微球的排列比较规则,但微球周围的树脂包覆的并不多。

从1000倍的照片中可以看出,微球与微球之间是靠树脂相结合的,而这种微观结构会影响到试样的力学性能。

从1500倍的照片中,可以看到基体中一个完整的微球形貌,微球表面并不光滑,可以看到树脂包覆的现象。

并且可以看到,树脂脱落的迹象。

图四:拉伸试样垂直于断口处的SEM照片如图四所示,分别为拉伸试样垂直于断口处的300倍、1000倍、1500倍的微观组织形貌。

从图中可以看出,在垂直于断口处,玻璃微球与树脂基体之间有裂缝。

形貌分析(1)

形貌分析(1)

纳米发光二极管。
将碳纳米管悬浮在表面氧化的硅薄片上,这 使得碳纳米管和硅薄片之间的电场极强,激发 形成强光。这种碳纳米管光源比普通的发光二 极管每秒多产生10万倍的光子,效能比以前制 造的碳纳米管高1000倍。 另外碳纳米管有非常好的特性,其电导率, 刚性,热导率都大大优于传统的金属。很多科 研人员正在利用碳纳米管研制各种电子器件。
TOP值: 干系物镜(0.95),水浸物镜(1.2),油浸物镜(1.4),特制物镜(1.6)



介质折射 率越大, NA值越高 开口角α 越大,NA 值越高 n=物镜与 被检物体 之间介质 的折射率
物镜数值孔径(N.A)
数值孔径与显微镜其他参数的关系




物镜的数值孔径是显微镜中最重要的参数.决定和影 响着其他参数 数值孔径与分辨率成正比 数值孔径与放大倍率成正比 数值孔径的平方与图象亮度成正比 数值孔径和视场直径成反向关系 数值孔径与工作距离成反向的关系
分辨率
根据“瑞利”判据,当A、B两点靠近到使像斑 的重叠部分达到各自的一半时,则认为此两点的 距离即是透镜的分辨本领;由此得出显微镜的分 辨本领公式(阿贝公式)为:d=0.61/(Nsin), 其中, N A 其最大值为1.3。因此,上式可近似 化简为:d=0.5 光镜采用的可见光的波长为400~760nm,决定了 光学显微镜的分辨本领只能达到200nm
基础知识
提高分辨率的有效办法
1.降低光源波长
2.增大介质系数或提
高物镜NA值 3.增大物镜的口径 4.增加明暗反差
Resolution (r) = 0.61λ/ NA
( λ=光源波长,一般选550nm)
基础知识
光学显微镜基础知识

材料组织形貌分析

材料组织形貌分析

材料的形貌是材料分析的重要组成部分,材料的很多物理化学性能是由其形貌特征所决定的。

材料性能不仅与材料颗粒大小还与材料的形貌有重要关系。

因此,微观结构的观察和分析对于理解材料的本质至关重要。

材料形貌分析的常用方法主要有:光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、扫描隧道显微镜(STM)。

光学显微镜(OM)主要是根据阿贝成像原理成像,利用许多光源的干涉以及衍射最终成一个清晰的像,分辨率可达0.2μm。

显微镜的分辨本领,可以用d=0.61λ/(nsinα)公式来表达,由此可见显微镜的分辨本领与光的波长成正比。

当光的波长越长,其分辨率越低只有采用比较短的波长的光线,才能获得较高的放大倍数。

比可见光波长更短的波有紫外线、X射线和电子波。

利用电子束作为提高显微镜分辨率的新光源,即电子显微镜。

目前,电子显微镜的放大倍数已达到150万倍,这样电子显微镜应用起来会更方便一些。

扫描电子显微镜(SEM)是一种常见的广泛使用的表面形貌分析仪器。

材料的表面的微观形貌的高倍数照片是通过能量高度集中的电子扫描材料表面而产生的。

扫描电子显微镜的原理与光学成像原理相近。

主要利用电子束切换可见光,利用电磁透镜代替光学透镜的一种成像方式。

扫描电镜提供的信息主要有材料的几何形貌、粉体的分散状态、纳米颗粒的大小、分布、特定形貌区域的元素组成和物相结构。

扫描电镜的优点是:有较高的放大倍数,20倍—20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体咸,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。

扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像,观察视角大,其分辨率一般为6nm,对于场发射扫描电子显微镜,其空间分辨率可以达到0.5nm量级。

分辨率大小由入射电子束直径和调节信号类型共同决定。

电子束直径越小,分辨率越高。

但由于成像信号不同,例如二次电子和背反射电子,在样品表面的发射范围也不同,从而影响其分辨率。

共晶组织的形貌特征及形成机理探究

共晶组织的形貌特征及形成机理探究

共晶组织的形貌特征及形成机理探究摘要:目前我们所熟悉的,无非主要是关于二元合金,共晶组织是由液相同时结晶出两个固相得到的,这便是共晶组织形成的最简便定义。

当然,共晶组织形貌众多,为此以下便是主要对不同共晶组织的分类、对不同共晶组织形貌和它们主要形成机理的探索以及影响共晶组织的因素进行了阐述。

关键词:共晶组织;形态;特征;合金To Investigate the Morphology of Eutectic Structureand Formation MechanismAbstract:Currently, we are mainly familiar with something of binary alloy eutectic crystallization from the liquid phase to get out of both solid phase at the same time, which is the most convenient definitions eutectic formation. Of course, many eutectic morphology, for which the following is the main classification of different eutectic, the search for different eutectic morphology and their formation mechanism and the main factors affecting the eutectic structure are described.Key Words: eutectic; form; feature; alloy___________________________________________________________引言历经百年,人们对科研的不断努力和探索,目前已经发现了多种多样、丰富多彩的共晶组织,共晶组织的基本特征是两相交替排列,但两相的形态却是多种多样,总体大致我们可以将其分为以下几类:层片状、棒状(纤维状)、球状、针状、以及螺旋状等[1],这些都是典型的共晶组织形态。

金相显微组织分析(清晰)

金相显微组织分析(清晰)
图 3-1 Ni-Cu 相图
型二元合金的显微组织可分为以下几类: 一、固溶体合金的显微组织 具有匀晶转变的合金, 如图 3—1 所示,在平衡冷却条件下,其室温组织均为单相固溶体。 其显微组织形态表现为一个个的晶粒及晶界。但在非平衡冷却时,固相成分来
图 3-2 固溶体合金不平衡凝固时固相成分的变化
不及扩散均匀,在凝固过程中各温度的固相平均成分将偏离原平衡相图上固相线的位置, 如图 3 一 2 所示。在合金完全凝固后,先 结晶出的枝干(包括一次轴和二次轴)含 高熔点的组元多,后结晶的枝间含低熔点 组元多。由于二者抗蚀性不同,浸蚀后呈 现出树枝状组织特征,在显微镜下可观察 到明暗的差异。 图 3-3 为 Cu—Sn 合金相图。 含 5%Sn 的铜锡合金显微组织中富集高熔 点组元铜的枝干部分呈亮白色,而富集低 熔点组元锡的枝晶间隙则呈暗黑色,即出 现晶内偏析,如图 3—4a 所示。通过对不 平衡结晶的合金进行扩散退火(均匀化) 处理,即将合金加热到低于固相线温度, 保温一定时间,缓冷,从而可消除或减轻 偏析,得到接近平衡结晶的组织。图 3-4b 为 Cu—Sn5%合金的树枝晶消除后的固溶 液体晶粒。
图 3-17 Pt — Ag 合 金 相 图
图右方,如 Al—Si 相图(见图 3-13) ,此时 只有过共晶成份合金,才可能得到全部共晶组织。 三、二元包晶系合金的组织 由相图可知, 具有包晶成分的合金, 在平衡冷却条件下, 其初生相应在转变中全部耗尽, 成为均匀的单相固溶体。但在实际情况下,由于冷却较快,包晶反应常常不能充分进行。以 至于合金的显微组织达不到平衡状态,例如图 3—17 所示的 P 点以及 P 点以右的 Pt—Ag 合 金。 在平衡凝固完成之后,便不存在α相。但如果是不平衡结晶则在β相中心仍保留一些 残留的α相,且β相本身的成分也是不均匀的,呈枝晶偏析。又如图 3—3 所示的 Cu—65% Sn 的合金冷却到 415℃时要发生 L + ε → η 的包晶转变,剩余的液相 L 到 227℃又会发 生共晶转变,所以在平衡凝固时最终组织应由η相和共晶体(η+θ)组成。而实际的不平 衡组织却保留相当数量的ε相(灰色) ,包围它的是η相(白色) ,在外面的则是黑色的共晶 组织, 如图 3—18 所示。 这种由于包晶转变的不完全性而产生的组织变化与成分偏析的现象, 称为包晶偏析。 包晶偏析易于在一些包晶温度较低的合金中出现。 包晶偏析一般采用扩散退 火方法予以改善和消除。
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2. 由于光的折射,物镜接收衍射光线 的能力也强烈的依赖于在样品与 镜头之间的介质。因此,数值孔 径的概念更加能够有效的描述物 镜的成像能力。
油浸物镜
4.2.1 瑞利判据
R0
分辨两埃利斑的判据——瑞利判据:两埃利斑中心间距等于第一暗 环半径R0。此时, 两中央峰之间叠加强度比中央峰最大强度低19%,
2.2 光学显微镜的分辨率
分辨率是可分辨的两点间的最小距离,制约光学显 微镜分辨率的因素是光的衍射。衍射使物体上的一 个点在成像的时候不会是一个点,而是一个衍射光 斑。如果两个衍射光斑靠得太近,它们将无法被区 分开来。
分辨率与照明源的波长直接相关,若要提高显微镜 的分辨率,关键是要有短波长的照明源。
孔径角是物镜光轴上的物点与物镜前透镜的有效 直径所形成的角度。孔径角与物镜的有效直径成 正比,与物镜的焦距成反比。
物点
物镜
F
4.1 数值孔径
物镜的数值孔径和分辨率成正比:
1. 如果全部接收一级衍射光线,则 图像基本不会失去细节。细节越 微小,形成各级衍射斑点的衍射 角越大。因此,物镜口径越大, 能接受的衍射线角度越大,则分 辨率就越高。
6~9 m 红血球 ~10 m 白血球
4.1 扫描探针显微镜简介
1981年,IBM公司的两位科学家Gerd Binnig和Heinrich Rohrer发明了所谓的扫描隧道显微镜,完全失去了传统显 微镜的概念。
扫描隧道显微镜依靠所谓的“隧道效应”工作,它没有镜 头,使用一根金属探针,在探针和物体之间加上一定偏压 (几十mV),当探针距离物体表面很近(纳米级)隧道效 应就会起作用。电子会穿过物体与探针之间的空隙,形成 一股微弱的电流。如果探针与物体的距离发生变化,电流 会呈指数级改变。这样,通过测量电流可以探测物体表面 的形状,分辨率可以达到原子的级别(埃,10-10m)。
目前扫描电子显微镜的分辨率已经达到了1.0 nm左右。
扫描电镜与X射线能谱仪配合使用,使得我们在看到样品 的微观结构的同时,还能分析样品的元素成分及在相应 视野内的元素分布。
金纳米线
1018号钢的断口——塑性断裂
钛靶局部被单脉冲激光烧蚀
高分子聚合物薄膜断口
~100 m 头发分叉处
~100 m 脑神经元
显微组织
加工
结构缺陷
1. 1 组织形貌分析的含义
表面和内部组织形貌,包括材料的外观 形貌、晶粒大小与形态、界面(表面、 相界、晶界)。
微观结构的观察和分析对于理解材料的 本质至关重要。
下一标题页
金纳米线
1018号钢的断口——塑性断裂
钛靶局部被单脉冲激光烧蚀
韧窝状形貌 和夹杂物
高分子聚合物薄膜断口
径。埃利斑半径与照明光源波长成正比,与射形成的埃利斑
埃利斑光强分布图
2.2.1 阿贝成像原理(重点)
透射光显微镜的成像过程。光源:准平行
相干光,物体:具有周期性结构。 直射光
光通过细小的网孔时发生衍射,同一方向 的衍射光成为平行光束,在后焦面上汇聚。
凡是光程差满足 =k, k = 0,1,2,…的,互
1926年布施提出用轴对称的电场和磁场聚焦电子束(。电磁透镜)
在这两个理论基础上,1931~1933年鲁斯卡等设计并制造 了世界第一台透射电子显微镜,用于组织分析和物相分析, 目前分辨率可达0.2 nm。(利用电子的波动性)
用于组织形貌分析的扫描电子显微镜是在1952年由英国工 程师Charles Oatley发明的,分辨率达1.0 nm。(利用电子
材料现代研究方法
Modern Methods of Materials Analysis
杨 静 副教授
课程内容
第一篇 组织形貌分析 (6学时,第1~2周)
第二篇 晶体物相分析 (14学时,第3~6周)
期中PPT展示答辩(第6~7周)
第三篇 成分和价键(电子)结构分析 第四篇 分子结构分析
期末PPT展示答辩
相加强,形成0级、1级、2级衍射斑点。
某个衍射斑点是由不同物点的同级衍射光 相干加强形成的;同一物点上的光由于衍 射分解,对许多衍射斑点有贡献。
样品 物镜
1 0 1 后焦面
从同一物点发出的各级衍射光,在产生相 应的衍射斑点后继续传播,在像平面上又 相互干涉,形成物像。
像面
2.2.1 阿贝成像原理(重点)
X射线波长在10~0.05nm范围,γ射线的波长更短, 但是由于它们具有很强的穿透能力,不能直接被聚焦, 不适用于显微镜的照明源。
波长短,又能聚焦成像的新型照明源成为迫切需要。
3.1 电子显微镜发展历程
1924年,德布罗意提出,运动的实物粒子(电子、质子、 中子等)都具有波动性质,后来被电子衍射实验所证实。 物质波的波长与其动量关系=h/p,200-300 kV加速电压 下,电子束波长为0.025 nm。(波长短)
4.3.2 光学显微镜的有效放大率
有效放大倍数由下式确定:
M有效 = ∆r / ∆r0
4.3.1 放大率和有效放大率
显微镜总的放大率Γ应该是物镜放大率β和目镜 放大率1的乘积: = 1
无效放大倍率:当选用的物镜数值孔径不够大, 即分辨率不够高时,显微镜不能分清物体的微细 结构,此时即使过度地增大放大倍率,得到的也 只能是一个轮廓虽大但细节不清的图像。
有效放大倍率:光学显微镜提供足够的放大倍数, 把它能分辨的最小距离放大到人眼能分辨的程度。
第 1 篇 组织形貌分析
第一章 组织形貌分析概论
第一章 组织形貌分析概论
1. 组织形貌分析的含义和发展阶段 2. 光学显微镜简介 3. 电子显微镜简介
扫描电子显微镜 透射电子显微镜
4. 扫描探针显微镜简介
1. 1 组织形貌分析的含义
原子结构
成分
什么是 原子排列
性能
材与料工科程学组织形结构貌分析?相结构
的粒子性)
3.2 扫描电子显微镜简介
扫描电子显微镜是将电子枪发射出来的电子聚焦成很细 的电子束,用此电子束在样品表面进行逐行扫描,电子 束激发样品表面发射二次电子,二次电子被收集并转换 成电信号,在荧光屏上同步扫描成像。由于样品表面形 貌各异,发射二次电子强度不同。对应在屏幕上亮度不 同,得到表面形貌像。
1.2 恩斯特·阿贝
在显微镜的发展史中,贡献最为卓著的是德国的 物理学家、数学家和光学大师恩斯特·阿贝(Ernst Abbe)。
他提出了显微镜的完善理论,阐明了成像原理、 数值孔径等问题,在1870年发表了有关放大理论 的重要文章。
两年后.又发明了油浸物镜,并在光学玻璃、显 微镜的设计和改进等方向取得了光辉的业绩。
2. 光学显微镜的成像原理
2.1 衍射的形成 2.2 阿贝成像原理 (重点)
2.1.1 什么是波的衍射?
光即电磁波,具有波动性质。光波在遇到尺寸可 与光波波长相比或更小的障碍物或孔时,将偏离 直线传播,这种现象叫做波的衍射。
水波的衍射
障碍物线度越小,衍射现象越明显。 衍射现象可以用“子波相干叠加”的原理来解释。
肉眼刚刚能分辨是两个物点的像 。
4.2.2 透镜的分辨率
两埃利斑中心间距等于第一暗环半径R0时 , 样品上相应 的两个物点间距离∆r0 定义为透镜能分辨的最小距离,
也就是透镜的分辨本领,或分辨率。
0.61 r0 R0/Mnsin
透镜的分辨率由数值孔径和照明光源的波长两个因素决 定。数值孔径越大,照明光线波长越短,分辨率就越高。
阿贝成像原理可以简单地描述 为两次干涉作用。
当平行光束通过有周期性结构 的物体时,
1. 不同物点的同级衍射波在后焦面 的干涉 ——形成衍射谱;
2. 同一物点的各级衍射波在像面的 干涉——形成反 映物的特征的 物像。
2.2.2 物与像之间的相似性
物像是由直射光和衍射光互相干涉形成的。不让 衍射光通过就不能成像,参与成像的衍射斑点愈多, 则物像与物体的相似性愈好。
2.1.2 狭缝衍射实验
狭缝中间连线b上每一点可以看成一个“点光源”,向四面八方 发射子波,子波之间相互干涉(叠加),在屏幕上形成衍射花 样。
整中从增央强狭个亮区缝狭的斑上缝中。缘内心在和发,P下出1处称缘的发为发光生第出波相一的在干级光P抵0衍波点消射的的,极波波形大程程成值差差光。1½为强零个的,波低相长谷干,。增P在2强成P2,为点形处相,成干
1610年,意大利物理学家伽利略(Galileo)制造了具有物镜、 目镜及镜筒的复式显微镜(左图)。
1665年,英国物理学家罗伯特·胡克(Robert Hooke)用这台复 式显微镜观察软木塞时发现了小的蜂房状结构,称为“细 胞”,由此引起了细胞研究的热潮。
1684年,荷兰物理学家惠更斯(Huygens) 设计并制造出双透镜目镜-惠更斯目镜, 是现代多种目镜的原型。这时的光学显 微镜已初具现代显微镜的基本结构(右图)。
接观测到原子的图像。
1. 2 组织形貌显微技术的 三个发展阶段
扫描探针显微镜 放大倍率
电子显微镜
×10,000,000 ×1,000,000
×100,000
光学显微镜
×10,000 ×1,000
×100
分辨率
1000 100
10-6 10-7
×10
10
1
0.1 0.01 0.001 nm
10-8 10-9 10-10 10-11
像 面
后 焦 面
3. 光学显微镜的构造和光路图
光学显微镜包括光学系统和机械装置两大部分:
目镜 物镜
聚光镜和光阑 反光镜
4. 显微镜的重要光学技术参数
4.1 数值孔径 4.2 分辨率(重点) 4.3 放大率和有效放大率 4.4 光学透镜的像差
4.1 数值孔径
数值孔径(NA)是物镜前透镜与被检物体之间介 质的折射率(n)和半孔径角(α)的正弦之乘积, NA= nsinα。表示物镜分辨细节的能力。
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