第3章 工业射线检测中的射线
射线三级强老师第三章问答题 (2)

射线检测第三章思考题问题1:射线照相灵敏度定义?问题2:射线照相灵敏度与超声波检测灵敏度有什么差异?两者属不同的概念——射线照相灵敏度对应于提高图像信噪比,灵敏度越高越有利于缺陷识别和检出;超声波检测灵敏度是指回波信号的放大倍数,与信噪比无关,灵敏度高并不意味缺陷检出率高。
问题3:什么是绝对灵敏度?问题4:什么是相对灵敏度?问题5:JB/T4730.2采用的是绝对灵敏度还是相对灵敏度?问题6:什么是像质计灵敏度?问题7:像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度的关系如何?问题8:为什么射线照相灵敏度≠缺陷检出率?问题9:为什么“即使底片上像质计灵敏度很高,黑度、不清晰度符合要求,也会出现裂纹难于检出甚至完全不能检出的情况?”问题10:除了裂纹以外,还有哪些缺陷的检出灵敏度与像质计灵敏度不符?问题11:射线照相对比度、不清晰度、颗粒度是如何定义的?问题12:射线照相灵敏度影响因素是如何归纳的?问题13:底片对比度增大有哪些有利和不利影响?问题14:如果缺陷中不是充满空气,公式是什么样?ΔI / I =(μ-μ’)ΔT/ ( 1 + n )问题15:②③条假设有何区别?②是指IS不变,③是指n不变,因为n=Is/Ip,所以公式中Ip 要用没有缺陷存在的透射线值。
问题16:怎样理解“在大多数情况下,以上假设引起的误差极小,因此公式是可以成立的。
只有缺陷尺寸较小时,讨论对比度才有意义。
问题17:公式由哪些参数构成?问题18:公式的意义和用途是什么?问题19:主因对比度和胶片对比度的关系?问题20:放大系数为3-8是从哪儿得来的?见第二章表2-13 胶片的分类;几种胶片的梯度。
问题21:ΔT与缺陷尺寸和透照方向关系?问题22:其他影响透照厚度差ΔT的因素?问题23:衰减系数μ与射线能量关系?问题24:材质的哪些特性影响衰减系数μ问题25:散射比有哪些影响因素?问题26:使用高梯度胶片有哪些有利和不利影响?问题27:提高黑度有哪些有利和不利影响?问题28:改变显影条件变化有哪些有利和不利影响?问题28:怎样理解“本影消失,对比度显著下降现象”?问题29:射线照相不清晰度U是如何定义的?问题30:什么叫黑度过渡区的趾部和肩部?问题31:黑度过渡区的趾部和肩部是如何产生的?问题32:几何不清晰度是如何定义的?问题33:固有不清晰度是如何定义的?问题34:U、Ug和Ui的关系?问题35:公式(3-3)和(3-4)有什么不同?问题36:JB/T4730怎样规定L1与Ug值的?问题37:通过哪些方法可以减小Ug值?问题38:在减小Ug值的同时会带来哪些不利影响?问题39:焊缝上不同位置的Ug值受哪两大因素影响?焦点投影,工件形状。
工业射线知识点总结

工业射线知识点总结工业射线是一种应用广泛的工业检测技术,它利用射线对物体进行检测和成像,从而得到物体的内部结构和组成信息。
工业射线技术在汽车制造、航空航天、建筑结构、电子元件等领域中得到广泛应用,为工业生产和质量控制提供了重要的支持和帮助。
本文将从工业射线的基本原理、常见应用、安全管理等方面展开综述,希望能够为从事工业射线相关工作的人员提供一些有益的参考。
一、工业射线的基本原理1. 射线的发现与分类射线是指一种能够穿透物质并在物质内部产生影像的电磁辐射,常见的射线有X射线和γ射线两种。
X射线是由X射线管产生的,其波长较短,能够穿透很厚的物质,并在物体内部产生清晰的影像。
γ射线是一种离子化能力强的射线,主要来自放射性核素衰变,能够穿透很厚的物质,因此在检测和成像中也得到了广泛应用。
2. 工业射线的产生和探测工业射线主要是通过X射线管或放射性同位素产生的射线进行检测和成像。
X射线管是通过电子束撞击靶材,在靶材内部产生X射线,通过窗口射出。
放射性同位素则是通过核衰变释放γ射线。
在检测过程中,射线经过物体后,会产生衰减和散射,通过探测器接收到的射线信号,可以得到物体的内部结构和组成信息。
3. 工业射线成像技术工业射线成像技术主要有透射成像和投影成像两种。
透射成像是指射线穿透物体后形成的影像,可以直接观察到物体的内部结构。
投影成像是指通过对物体进行多个角度的射线照射,得到多个透射影像后,通过叠加处理得到最终的三维结构图像。
二、工业射线的常见应用1. 金属材料的缺陷检测工业射线在金属材料的检测中得到了广泛应用,可以对金属材料的缺陷进行检测和定位,如焊接缺陷、裂纹、夹杂等。
通过工业射线检测,可以帮助生产厂家及时发现和解决金属材料的质量问题,提高产品的质量和安全性。
2. 汽车零部件的检测在汽车制造过程中,工业射线技术可以对汽车零部件进行缺陷检测,如发动机零部件、制动系统、悬挂系统等,确保汽车零部件的质量和安全性。
第3章 射线探伤PPT课件

γ射线是由放射性物质(60Co、192Ir等)内部原子核的衰 变而来,射线源为γ射线机,射线能量不能改变,衰变 几率也不能控制。
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X射线和γ射线均具有的性质: (1)不可见,以光速直线传播。 (2)不带电,不受电场和磁场的影响。 (3)具有可穿透物质和在物质中有衰减的特性。 (4)可使物质电离,能使胶片感光,亦能使某些物质 产生荧光。 (5)能对生物细胞起作用(生物效应)。
按其显示缺陷的方法不同,又可分为射线电离法探 伤、射线荧光屏观察法探伤、射线照相法探伤、射线 实时图象法探伤和射线计算机断层扫描技术等。
射线探伤又称为射线检验。
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主要内容:
1、射线探伤基本原理 2、射线探伤设备 3、射线照相法探伤 4、射线实时图像法探伤 5、射线计算机断层扫描技术 6、射线探伤中的安全防护
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(2) 工作原理
当灯丝接低压交流电源(约2~l0V)通电(2~30mA) 加热至白炽时,其阴极周围形成电子云,聚焦罩的凹面 形状使其聚焦。
当在阳极与阴极间施以高压(管电压50~500kV)时, 电子为阴极排斥而为阳极所吸引,加速穿过真空空间, 高速运动的电子成束状集中轰击靶子的一个小面积(几 个mm2,称实际焦点),电子被阻挡、减速和吸收,其 部分动能(约1%)转换为X射线。
➢ 移动式X射线机能在车间或实验室内移动。适用中、厚板焊件; ➢ 固定式X射线机则固定在确定的工作环境中,靠移动焊件来探伤。
X射线机通常由X射线管、 高压发生器、控制装置、 冷却器、机械装置和高 压电缆等部件组成。
01.08.2020Fra bibliotek11X射线机按射线束的辐射方向分为:定向辐射和周向辐射。 其中周向X射线机特别适用于管道、锅炉和压力容器的环形焊缝
第3讲 第三章 射线检测.

第三章 射线检测
h.滤板 滤板的材料通常是铜、黄铜和铅,其厚度应合适。例如, 透照钢时所用铜滤板的厚度不得大于工件最大厚度的20%, 而铅滤板则不得大于3%。滤板的作用主要是吸收掉X射线中 那些波长较大的谱线,这些谱线对底片上影象形成作用不大, 却往往引起散射线。 i.暗盒 暗盒是由对射线吸收不明显,对影象无影响的柔软塑料 带制成,能很好的弯曲和贴紧工件。 j.标记带 标记带可使每张射线底片与工件被检部位能始终对照。 其上的铅质标记有:定位标记(中心标记,搭接标记)、识 别标记(工件编号,焊缝编号,部位编号,返修标记)、B标 记”等。
第三章 射线检测
第三章 射线检测
初步选择射线探伤设备时主要应考虑以下因素: 射线能穿透的材料厚度、显像质量、曝光时间、装置 对位及移动的难易程度等。其中主要是工件厚度。
第三章 射线检测
直线加速器的原理 电子从含灯丝的电子枪发射后进入直线加速的波导管
中,由磁控管或调速管产生的射频电压加到不同距离的多 级漂移加速管上,使漂移管间电子的飞行速度与其电压相 位变化周期同步,以保持正波相位驻波加速。加速并聚焦 后的脉冲电子流撞击到末端靶上产生X射线辐射。除直线加 速器外,还有小型电子回旋加速器。
(1)焊缝表面质量检查 探伤前,应将在底片上易形成与 焊缝内部缺陷影像相混淆的形状缺陷(如咬边)等予以清 除;选择9级成像质量时,焊缝余高要磨平。
(2)委托单项目 射线探伤委托单由焊接检验员填写, 主要内容有工件编号、厚度、简图(焊缝位置及数量)、 焊缝分段号(透照区段号俗称探伤线)等。核对程序由射 线检验员完成。
(6)存档 将一套完整无缺的射线底片(含返修缺陷片) 和文字资料(射线照相检验委托单、原始透照检验记录、 底片评定记录、射线照相检验报告)一起存档备查,保 存期为5~8年。
第三章 射线探伤

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第三章 射线探伤
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X射线机原理简图
焊接检验 第三章 射线探伤 28
2. x射线机分类及用途 x射线机即x射线探伤机,按其结构形式分为携带 式、移动式和固定式三种。 携带式因其体积小、重量轻,而适用于施工现场 和野外作业的探伤工作 移动式x射线机能在车间或实验室内移动,适用于 中、厚板焊件的探伤 固定式x射线机则固定在确定的工作环境中,靠移 动焊件来完成探伤工作 同时,x射线机亦可按射线束的辐射方向分为定向 辐射和周向辐射二种。
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第三章 射线探伤
五、探伤基本原理
射线探伤的实质是根据被检工件及其内部 缺陷介质对射线能量衰减程度不同,而引起 射线透过工件后的强度差异,使缺陷能在射 线底片或X光电视屏幕上显示出来。
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第三章 射线探伤
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第三章 射线探伤
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完好部分透射射线强度 Ix=I0e-μx 穿过缺陷部分透射射线强度 I´=I0e-μ(x-x) e-μ´x= I0e-μx e-(μ´-μ) x
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第三章 射线探伤
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Zdep
3. 汤姆逊效应 当射线光子与物质原子碰撞时,原子中的 电子受入射电磁波作用产生强迫振动成为 辐射源,向四周辐射出的x射线光子频率、 波长同入射光子,这种现象称为汤姆逊效 应或汤姆逊散射。 相干散射 弹性散射 一般强度很低,对探伤影响不大。
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4.能杀死生物细胞 应注意安全防护,控制照射剂量。 5.能使空气电离 电离的正负离子数随射线的强度增加而增 加——测定射线剂量。 6.不受电磁场的影响 7.不可见、按直线传播
射线检测复习题(第3章含答案)

射线检测复习题(含参考答案)第3章是非题1.射线照相时,若千伏值提高,将会使胶片对比度降低。
(×)?2.一般说来,对厚度较大的工件,应使用较高能量射线透照,其目的是降低对比度,增大宽容度。
(×)3.用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。
(×)4.减小几何不清晰度的途径之一,就是使胶片尽可能地靠近工件。
(√)5.增加源到胶片的距离可以减小几何不清晰度,但同时会引起固有不清晰度增大。
(×)6.使用较低能量的射线可提高主因对比度,但同时会降低胶片对比度。
(×)7.胶片的粒度越大,固有不清晰度也就越大。
(×)?8.如果信噪比不够,即使增大胶片衬度,也不可能识别更小的细节影像。
(√)9.散射线只影响主因对比度,不影响胶片对比度。
(√)10.底片黑度只影响胶片对比度,与主因对比度无关。
(√)11.射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。
(√)12.底片黑度只影响对比度,不影响清晰度。
(√)13.固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。
(√) 选择题1.射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做( B )A.主因对比度B.底片对比度C.清晰度D.胶片反差2.影响主因对比度的是( D )A.射线的波长B.散射线C.工件的厚度差D.以上都是3.射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做( C )A.主因对比度B.颗粒度C.清晰度D.胶片对比度4.几何不清晰度也称为( D )A.固有不清晰度B.几何放大C.照相失真D.半影5.决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是( D )A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是6.固有不清晰度与下列哪一因素有关( D )A.源尺寸B.胶片感光度C.胶片粒度D.射线能量7.下列哪一因素对胶片感光度、梯度、粒度均产生影响( D )?A.改变KV 值B.改变焦距C.改变mA 值D.底片的黑度6.工件中靠近射源一侧的缺陷图象,在下列哪种情况下清晰度最差?( C )A.焦距增大B.焦点尺寸减小C.工件厚度增大D.胶片与工件距离减小10.决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是( A )?A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是11.胶片与增感屏贴合不紧,会明显影响射线照相的( B )A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是12.以下哪一种措施不能提高射线照相的信噪比( D )?A.使用速度更慢的胶片B.增加曝光量C.提高底片黑度D.提高射线能量问答题1. 影响射线质量的三个要素有哪些?如何定义的?答:影响射线质量的三个要素是:⑴射线照相对比度,定义为底片影像中相邻区域的黑度差;⑵射线照相清晰度,泛指底片图像的明晰程度,采用“不清晰度(胶片影像黑度过渡区的宽度)”来定量描述清晰度,。
第三章_射线检测
一. 射线的种类和频谱 波长较短的电磁波叫射线,速度高、能量大的粒子流也叫 射线。
(10-9 m)
第第三3章章射射线线检检测测
在射线检测中应用的射线主要是X射线、γ 射线和中子射
线。X射线和γ 射线属于电磁辐射,中子射线是中子束流。 由 于他们属电中性,不会受到库伦场的影响而发生偏转,且贯穿 物质的本领较强,被广泛应用于无损检测。
第第三3章章射射线线检检测测
X射线照相原理示意图
第第三3章章射射线线检检测测 2、电离检测法
当射线通过气体时与气体分子撞击,有的气体分子失去电子成为
正离子,有的气体分子得到电子成为负离子,此即气体的电离效 应。电离效应将会产生电离电流,电离电流的大小与射线的强 度有关。如果将透过试件的X射线通过电离室测量射线强度,就 可以根据电离室内电离电流的大小来判断试件的完整性。
I I0ed
由于射线束是锥形 ,修正后为
I
I0
(
H H
d
)2
ed
H——物体表面至射线源的距离。
宽束射线的衰减曲线
第第三3章章射射线线检检测测
第二节 Χ射线检测的基本原理和方法
一、Χ射线检测的基本原理
Χ射线检测是利用Χ射线通过物质衰减程度与被通过部位 的材质、厚度和缺陷的性质有关的特性,使胶片感光成黑度不 同的图像来实现的,检测原理:当射线通过被检物体时,有缺 陷部位与无缺陷部位对射线的吸收能力不同,一般情况是通过 有缺陷部位的射线强度高于无缺陷部位的射线强度,因此可以 通过检测透过被检物体后射线强度的差异来判断被检物体中是 否有缺陷存在。
第第三3章章射射线线检检测测 二、检测方法
目前工业上主要有照相法、电离检测法、荧光屏直接观察法、电 视观察法等。
射线检测专业知识点
射线检测专业知识点射线检测专业知识点射线检测作为一种非破坏性检测技术,在工业领域发挥着重要的作用。
它通过使用射线(主要是X射线和γ射线)来探测物体内部的缺陷和结构信息,从而判断物体是否符合要求。
在本文中,我们将深入探讨射线检测的相关知识点,涵盖从基础概念到应用技术的全面内容。
一、射线检测的基本原理1. 射线的生成和探测:射线源是射线检测的核心组成部分,其中X射线机和γ射线机是常见的两种射线源。
它们能够产生高能射线,并将其照射到被测物体上。
当射线穿过被测物体时,会与物体内部的缺陷或结构发生相互作用。
这些作用会导致射线的吸收、散射或透射,从而形成一幅射线图像。
2. 影像形成和解读:通过检测射线的吸收和透射情况,可以获得被测物体的影像。
影像中的亮暗程度和体素的分布信息反映了物体内部的结构和缺陷。
射线图像的解读需要专业知识和经验,包括对常见缺陷的认识、图像处理和评估方法等。
二、射线检测的应用领域1. 工业制造:射线检测在工业制造领域得到广泛应用。
它可以用于质量控制、产品检测和设备维护等方面。
通过射线检测可以发现金属件内部的裂纹、气孔和夹杂物等缺陷,从而确保产品质量和使用安全。
2. 航空航天:航空航天领域对材料的要求非常严格,射线检测可以在组装前对零部件进行全面检测。
它可以帮助发现零部件中微小的缺陷,如微裂纹和非金属夹杂物,以确保航空器或火箭的安全和可靠性。
3. 医学领域:医学影像学中的X射线片和CT扫描就是应用了射线检测技术。
射线可以穿透人体,形成关于内部骨骼和组织结构的影像。
医生可以通过这些影像来诊断病情,并制定相应的治疗方案。
三、射线检测的挑战和发展趋势1. 安全问题:射线检测使用的是高能射线,对人体和环境有一定的辐射风险。
在射线检测过程中需要采取相应的安全措施,包括防护设备和操作规范等。
研发更安全的检测技术也是射线检测的一个发展方向。
2. 自动化和数字化:射线检测在工业生产中的应用趋势是自动化和数字化。
工业射线知识点总结大全
工业射线知识点总结大全引言工业射线是指一种利用射线技术,通过放射性同位素或X射线设备对物体进行成像、检测、杀菌、辐照等工业应用的技术。
工业射线技术已广泛应用于医学、材料科学、电子工业、化学工业、食品卫生和环境保护等领域。
本文将从工业射线的基本原理、应用范围、操作规范、安全防护等方面,总结工业射线的相关知识点,以供工程技术人员参考和学习。
一、工业射线的基本原理1. 射线的产生工业射线主要包括X射线和γ射线两种,它们都是电磁波的一种,具有高能量和穿透力强的特点。
X射线是通过X射线管产生的,它是由阴极、阳极和真空容器组成,当高压加到X射线管上,阴极发射出的电子经过阳极的高速冲击,产生X射线。
γ射线则是通过放射性同位素产生的,常见的放射性同位素有钴60、铯137等。
2. 射线的特性射线具有穿透力强、能量高、能够透射多种物质等特性。
X射线的穿透能力随能量的增加而增强,适用于检测密度较大的材料,如金属、陶瓷等;γ射线则具有更高的穿透能力,适用于检测更密度较小的材料、如混凝土、土壤等。
3. 射线的应用工业射线技术主要应用于成像、检测、辐照等方面。
成像主要是通过射线对物体内部的成像,用于医学影像学、材料成像、食品成像等。
检测主要是通过射线对物体进行探测,用于材料检测、无损检测、安全检查等。
辐照则是指利用射线对物体进行辐照杀菌、灭菌、辐照改性等,用于医疗卫生、食品物流、材料改性等。
二、工业射线的应用范围1. 医学应用工业射线技术在医学影像学中具有重要应用,主要用于X射线摄影、CT扫描、核医学影像等方面。
X射线摄影广泛应用于骨科、胸科、牙科等,通过X射线成像技术对患者进行诊断。
CT扫描则是通过X射线对患者进行立体成像,能够更清晰地展现人体的内部结构。
核医学影像是通过放射性同位素的显影作用,对患者进行核医学检查和治疗。
2. 材料科学应用工业射线技术在材料科学领域具有广泛应用,主要用于材料成像、无损检测、材料改性等方面。
射线检测复习题(第3章含答案)
射线检测复习题(含参考答案)第3章是非题1.射线照相时,若千伏值提高,将会使胶片对比度降低。
(×)?2.一般说来,对厚度较大的工件,应使用较高能量射线透照,其目的是降低对比度,增大宽容度。
(×)3.用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。
(×)4.减小几何不清晰度的途径之一,就是使胶片尽可能地靠近工件。
(√)5.增加源到胶片的距离可以减小几何不清晰度,但同时会引起固有不清晰度增大。
(×)6.使用较低能量的射线可提高主因对比度,但同时会降低胶片对比度。
(×)7.胶片的粒度越大,固有不清晰度也就越大。
(×)?8.如果信噪比不够,即使增大胶片衬度,也不可能识别更小的细节影像。
(√)9.散射线只影响主因对比度,不影响胶片对比度。
(√)10.底片黑度只影响胶片对比度,与主因对比度无关。
(√)11.射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。
(√)12.底片黑度只影响对比度,不影响清晰度。
(√)13.固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。
(√) 选择题1.射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做( B )A.主因对比度B.底片对比度C.清晰度D.胶片反差2.影响主因对比度的是( D )A.射线的波长B.散射线C.工件的厚度差D.以上都是3.射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做( C )A.主因对比度B.颗粒度C.清晰度D.胶片对比度4.几何不清晰度也称为( D )A.固有不清晰度B.几何放大C.照相失真D.半影5.决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是( D )A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是6.固有不清晰度与下列哪一因素有关( D )A.源尺寸B.胶片感光度C.胶片粒度D.射线能量7.下列哪一因素对胶片感光度、梯度、粒度均产生影响( D )?A.改变KV 值B.改变焦距C.改变mA 值D.底片的黑度6.工件中靠近射源一侧的缺陷图象,在下列哪种情况下清晰度最差?( C )A.焦距增大B.焦点尺寸减小C.工件厚度增大D.胶片与工件距离减小10.决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是( A )?A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是11.胶片与增感屏贴合不紧,会明显影响射线照相的( B )A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是12.以下哪一种措施不能提高射线照相的信噪比( D )?A.使用速度更慢的胶片B.增加曝光量C.提高底片黑度D.提高射线能量问答题1. 影响射线质量的三个要素有哪些?如何定义的?答:影响射线质量的三个要素是:⑴射线照相对比度,定义为底片影像中相邻区域的黑度差;⑵射线照相清晰度,泛指底片图像的明晰程度,采用“不清晰度(胶片影像黑度过渡区的宽度)”来定量描述清晰度,。
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量子极限
假设高速电子撞击靶时,电子能量中有p部 分消耗于阳极各种不同过程的激发作用。
1 2 eV mv h p 2 c eV hvmax h
min
min
hc 12.4 1.24 8 10 cm nm (量子极限) VkV 1e V VkV
射线强度平方反比定律
平方反比定律:
I1 L2 2 2 I 2 L1
结论:空间任意一点的射线强度与该点到射线源的 距离平方成反比。 空间距离射线源F处的射线强度为
KiZV I连 2 F
2
实测剂量与管电流关系
24 22 20 18
剂 量 (cGy)
16 14 12 10 8 6 4 2 0 0
特征谱的产生机理解释
原子的电子按泡利不相容原理和能量最低 原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的 过程中,当某个具有足够能量的电子将阳 极靶原子的内层电子击出时,于是在低能 级上出现空位,系统能量升高,处于不稳 定激发态。较高能级上的电子向低能级上 的空位跃迁,并以光子的形式辐射出标识 X射线谱。
激发电压
如果K层电子被击出K层,称K激发,L层电子被击 出L层,称L激发,其余各层依此类推。 产生K激发的能量为WK=hυ K,阴极电子的能量必 须满足eV≥WK=hυ K,才能产生K激发。其临界值 为eVK=WK,VK称之临界激发电压。 当管电压(大于临界激发电压)增加时,连续谱和 特征谱强度都增加,而特征谱对应的波长保持不 变。
特征谱的作用
注意:在工业射线检测中,标识谱不起作 用。 用途: 特征X射线可用来作为元素的标识,材料成 分分析,如X射线荧光光谱分析。
3.2.5 莫色莱定律
强度与管电压、管电流和靶物质原子序数关系
X射线管的转换效率
X射线管的效率η ,是指电子流能量中用于产 生X射线的百分数, 即
连续X射线总强度 K i iZV 2 K i ZV X射线管功率 iV
随着原子序数Z的增加,X射线管的效率提高 ,但即使用原子序数大的钨靶,在管电压高 达100kv的情况下,X射线管的效率也仅有1﹪ 左右,99%的能量都转变为热能。
特征谱的波长
按量子理论所释放的能量以光量子(X射线 或可见光)的形式辐射出去。若有一N轨道 电子跃迁到K轨道,则辐射波长
NK
ch EN EK
若 E N E K 比较小 辐射可见光(原子外层电子跃迁时发生)
E N E K 较大
辐射X射线(原子内层电子跃迁时发生)
不同系射线和谱线
不同系射线
K系X射线:任何电子跳到K层时产生的X射线。 L系X射线:任何电子(外层)跳到L层时产生的X射 线。 …
在每一系(如K系)X射线里 谱线(即K 线):凡从相邻层(L到K层)跳来的。
谱线(即K 线):凡从隔层(M到K层)跳来的。 … 原子轨道能级不连续,产生的特征X射线也是不连 续。
剂 量 (cGy)
2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 100 120 140 160 180
0.5mA 1.0mA 1.5mA 2.0mA 2.5mA 3.0mA 3.5mA 4.0mA 4.5mA 5.0mA
管电压(kV)
提高总强度方法
提高管电流-单位时间撞击靶的电子数增多 提高管电压-电子加速后能量增大,碰撞时 能量转换过程增多 靶材料原子序数越高-核库仑场越强,韧致 辐射作用越强
无透 照 工件 累 计 时间 :1min
剂 量 (cGy)
14 12 10 8 6 4 2 0 100 120 140 160 180
0.5mA 1.0mA 2.0mA 3.0mA 4.0mA 5.0mA
管电压(kV)
实测剂量与管电压关系
4.5 4.0 3.5 3.0
设备 :CT射线 机
TL3000A 工件 :5mm钢 累 计 时间 :1min
100kV 120kV 130kV 140kV 150kV 160kV 170kV 180kV
设备 :TL3000A CT射 线 机 无工件 累 计 时间 :1min
1
2
3
4
5
曝 光量 (mA.min)
实测剂量与管电流关系
5.0 4.5 4.0 3.5
设备 :TL3000A CT射线 机 材料:5mm厚钢 累 计 时间 :1min
意义:解决了经典理论无法解释最短波长的困难。 上式可用来精确测定普朗克常数h。
连续X射线谱的总强度
X射线的强度是指垂直于X射线传播方向的单位面 积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。 总强度的计算
I
经验公式
min
I d
IT Ki ZiV 2
其中 i-管电流,mA Z-靶物质的原子序数 V-管电压,kV Ki-系数 (1.1~1.4)×10-6
射线分类
按带电性质:射线可分为带电粒子和中性辐射。 带电粒子又可分为快电子(包括核衰变中发射的 正或负β粒子,以及其他过程中产生的具有相当能 量的电子)和重带电粒子(如质子、核衰变中产 生的α粒子以及其他重带电离子,他们都具有一个 或多个原子质量单位并具有一定能量)。 中性辐射又可分为电磁辐射(包括韧致辐射,原 子的壳层电子跃迁过程中发射的特征X射线和核 能级跃迁中发生的γ射线)和中子辐射(通常在自 发裂变和核反应中产生)。
剂 量 (cGy)
3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 0 1 2 3 4
100kV 120kV 130kV 140kV 150kV 160kV 170kV 180kV
5
曝 光 量 (mA.min)
实测剂量与管电压关系
24 22 20 18 16
设备 :CT射 线机
TL3000A
3.2.4.2 特征谱及特征X射线
在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波 长的强度很大的线状谱线。 特征X射线谱的产生只依赖于阳极靶材料, 确切的说与靶的原子结构有关,波长位置 与管电压、管电流无关。
特征X射线的产生机理
原子壳层按称。 但当管电压达到或超过某一临界值时,则 阴极发出的电子在电场加速下,可以将靶 物质原子深层的电子击到能量较高的外部 壳层或击出原子外,使原子电离。
当管电压小于K系激发电压而大于L系激发 电压时,不产生K系X射线而产生L系X射线 ,同时伴随M系、N系等系X射线。
特征X射线的强度
特征X射线的强度随管电流和管电压变化, K系X射线强度为
I 标 iV - V激
n
n取值在1.5-2内,管电压不超过激发电压3-4倍。
谱线强度在某一电压下达到最大,然后下 降。当管电压高于激发电压10-20倍时,电 子深入阳极内部,产生的射线被阳极大量 吸收,特征谱强度下降。
能量转换,电子的运动受阻失去动能,其
中一小部分(1%左右)能量转变为X射线,
而绝大部分(99%左右)能量转变成热能使
物体温度升高。
产生条件
灯丝 产生自由电子
高压 加速电子,使电子作定向的高速运动
靶 在其运动的路径上设置一个障碍物
使电子突然减速或停止,产生X-射线
X射线的产生过程
X射线管的阴极灯丝通过电流,被加热到2000 C 以上后发射电子,这些电子聚集在灯丝附近。当 通过X射线管的阳极和阴极之间的空间后撞击到 阳极靶上。通过韧致辐射,电子的一部分动能转 化为X射线,从X射线窗口辐射出来。电子的大部 分动能传给了阳极靶,使它迅速升温。
连续X射线强度的空间分布
薄靶周围X射线强度的角分布 当管电压升高时,X射线最大强度方向逐渐 趋向电子束的入射方向,X射线的强度分布 趋于集中。
连续X射线强度的空间分布
厚靶的X射线空间分布
―足跟”效应(阳极效应):愈靠近阳极,沿管长轴 分布的X射线强度下降得愈多。 如射线B比阴极侧的射线A在阳极靶内穿越远,能 量与强度衰减更多。
E h h c
能量 动量
p
h
光子与一般基本粒子的本质区别:光子的静止质 量为0,运动时才有质量,速度越大质量越大。
3.2.3 X射线产生
韧致辐射
韧致辐射:带电粒子与原子(原子核库仑场)
相碰撞,发生骤然减速,伴随产生的辐射
。或称刹车辐射。
X射线的产生原理
高速运动的电子与金属靶材碰撞时,发生
X射线谱--特征X射线谱
钼靶X射线管当管电压等于或高于20KV时,则除连 续X射线谱外,位于一定波长处还叠加有少数强谱 线,它们即特征X射线谱。 钼靶X射线管在35KV电压下的谱线,其特征x射线 分别位于0.63Å和0.71Å处,后者的强度约为前者 强度的五倍。这两条谱线称钼的K系。
特征谱的特点
典型光谱图
(钨靶) (钼靶) 钨靶与钼靶射线管的射线谱
3.2.4.1 对连续X射线谱的解释
根据经典电动力学的理论,带电粒子在加
速(或减速)时必伴随着辐射。
电子到达靶材时,在靶核库仑场的作用下
电子的速度是连续变化的,因此辐射的X射
线具有连续谱的性质。 但经典电动力学无法解释最短波长现象。
连续谱的特点
连续谱线的强度随波长变化而变化,在某波长上 有一强度极大值。
存在短波波长极限,它与靶物质种类无关,仅与 加速电压有关。(量子力学)
当电压增大时各种波长的强度随之增大,曲线的 极大值向短波方向移动。(碰撞次数和辐射光子能 量增高)
管电压相同时,不同材料金属靶的连续谱线的强 度随其原子序数的增加而增强。
。
3.2.4 X射线光谱
X射线谱 描述X射线强度与波长的关系曲线 X射线光谱由二部分构成: 连续谱——是由波长连续变化的谱线构成。连续 谱所构成的X射线称为白色X射线(与电压有关), 是由电子的动能直接转化而来。 线状谱(标识谱、特征谱)——是由谱线分立的线 状谱线构成。分立谱所构成的X射线称为特征X射 线(与靶金属材料有关)是由电子的动能间接转化 而来。