材料测试分析方法答案

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材料分析方法答案及题型

材料分析方法答案及题型

材料分析方法答案及题型1.题目:根据样品的波谱图进行材料分析,属于什么材料?答案:根据波谱图可判定为有机化合物。

题型:判断题2.题目:以下哪种试验方法可用于材料的腐蚀性分析?A.火焰伸缩试验B.电化学腐蚀试验C.熔点测定D.红外光谱分析答案:B.电化学腐蚀试验题型:选择题3.题目:材料的断裂强度可以通过以下哪种方法分析?A.电化学腐蚀试验B.硬度测试C.热分析D.X射线衍射答案:B.硬度测试题型:选择题4.题目:下列哪种方法可以用于材料的晶体结构分析?A.红外光谱分析B.熔点测定C.X射线衍射D.电化学腐蚀试验答案:C.X射线衍射题型:选择题5.题目:根据样品的密度测定结果,可以初步判断材料的?A.晶体结构B.机械性能C.导电性D.成分答案:D.成分题型:选择题6.题目:以下哪种方法可用于材料的表面形貌及粗糙度分析?A.红外光谱分析B.扫描电子显微镜分析C.热分析D.硬度测试答案:B.扫描电子显微镜分析题型:选择题7.题目:材料的热稳定性可以通过以下哪种方法进行分析?A.电化学腐蚀试验B.熔点测定C.X射线衍射D.红外光谱分析答案:B.熔点测定题型:选择题8.题目:根据样品的断口形貌观察结果,可以初步判断材料的?A.密度B.成分C.机械性能D.晶体结构答案:C.机械性能题型:选择题9.题目:以下哪种方法可用于材料的热分解性分析?A.等离子体质谱法B.红外光谱分析C.热重分析D.电化学腐蚀试验答案:C.热重分析题型:选择题10.题目:材料的导电性质可以通过以下哪种方法分析?A.热分析B.X射线衍射C.红外光谱分析D.电导率测试答案:D.电导率测试。

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案【篇一:2012年材料分析测试方法复习题及解答】lass=txt>一、单项选择题(每题 3 分,共 15 分)1.成分和价键分析手段包括【 b 】(a)wds、能谱仪(eds)和 xrd (b)wds、eds 和 xps(c)tem、wds 和 xps (d)xrd、ftir 和 raman2.分子结构分析手段包括【 a】(a)拉曼光谱(raman)、核磁共振(nmr)和傅立叶变换红外光谱(ftir)(b) nmr、ftir 和 wds(c)sem、tem 和 stem(扫描透射电镜)(d) xrd、ftir 和raman3.表面形貌分析的手段包括【 d】(a)x 射线衍射(xrd)和扫描电镜(sem) (b) sem 和透射电镜(tem)(c) 波谱仪(wds)和 x 射线光电子谱仪(xps) (d) 扫描隧道显微镜(stm)和sem4.透射电镜的两种主要功能:【 b】(a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构(c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【c 】(a)–c-h、–oh 和–nh2 (b) –c-h、和–nh2,(c) –c-h、和-c=c- (d) –c-h、和 co2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。

(√)5.在样品台转动的工作模式下,x射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

(√ )三、简答题(每题 5 分,共 25 分)1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么?和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。

束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。

2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的?范德华力和毛细力。

以上两种力可以作用在探针上,致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时,探测器可实时地检测悬臂的状态,并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案一、选择题(每题2分,共20分)1. 下列哪一项不是材料现代测试分析方法?A. 扫描电子显微镜(SEM)B. 光学显微镜(OM)C. 质谱仪(MS)D. 能谱仪(EDS)2. 在材料现代测试分析中,哪种技术可以用于测量材料的晶体结构?A. X射线衍射(XRD)B. 原子力显微镜(AFM)C. 扫描隧道显微镜(STM)D. 透射电子显微镜(TEM)3. 下列哪种测试方法主要用于分析材料的表面形貌?A. 扫描电子显微镜(SEM)B. 透射电子显微镜(TEM)C. 原子力显微镜(AFM)D. 光学显微镜(OM)4. 在材料现代测试分析中,哪种技术可以用于测量材料的磁性?A. 振动样品磁强计(VSM)B. 核磁共振(NMR)C. 红外光谱(IR)D. 紫外可见光谱(UV-Vis)5. 下列哪种测试方法可以同时提供材料表面形貌和成分信息?A. 扫描电子显微镜(SEM)B. 原子力显微镜(AFM)C. 能谱仪(EDS)D. 质谱仪(MS)二、填空题(每题2分,共20分)1. 扫描电子显微镜(SEM)是一种利用_____________来扫描样品表面,并通过_____________来获取样品信息的测试方法。

2. 透射电子显微镜(TEM)是一种利用_____________穿过样品,并通过_____________来观察样品内部结构的测试方法。

3. 原子力显微镜(AFM)是一种利用_____________与样品表面相互作用,并通过_____________来获取表面形貌和力学性质的测试方法。

4. 能谱仪(EDS)是一种利用_____________与样品相互作用,并通过_____________来分析样品成分的测试方法。

5. 振动样品磁强计(VSM)是一种利用_____________来测量样品磁性的测试方法。

三、简答题(每题10分,共30分)1. 请简要介绍扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及其在材料测试中的应用。

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案
第一章 1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么? 2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用 CuKαX 射线激发 CuKα荧光辐射; (2)用 CuKβX 射线激发 CuKα荧光辐射; (3)用 CuKαX 射线激发 CuLα荧光辐射。 3. 什么叫“相干散射” 、 “非相干散射” 、 “荧光辐射” 、 “吸收限” 、 “俄歇效应” 、 “发射谱” 、 “吸收谱”? 4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描 述它? 5. 产生 X 射线需具备什么条件? 6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 7. 计算当管电压为 50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波 限和光子的最大动能。 8. 特征 X 射线与荧光 X 射线的产生机理有何异同?某物质的 K 系荧光 X 射线波长是否等于 它的 K 系特征 X 射线波长? 9. 连续谱是怎样产生的?其短波限 0 限 k
hc 1.24 10 3 与某物质的吸收 eV V
hc 1.24 ห้องสมุดไป่ตู้0 3 有何不同(V 和 VK 以 kv 为单位)? eVk Vk
10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对 x 射线分析有何影响?反冲电子、光电子 和俄歇电子有何不同? 11. 试计算当管压为 50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱 的短波限和光子的最大能量是多少? 12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而 L 吸收限有三个?当激发 X 系荧光Ⅹ 射线时,能否伴生 L 系?当 L 系激发时能否伴生 K 系? 13. 已知钼的λKα=0.71Å,铁的λKα=1.93Å 及钴的λKα=1.79Å,试求光子的频率和能量。 试计算钼的 K 激发电压,已知钼的λK=0.619Å。已知钴的 K 激发电压 VK=7.71kv,试求 其λK。 14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为 lmm,试计算这种铅屏对 CuKα、MoKα辐射的 透射系数各为多少? 15. 如果用 1mm 厚的铅作防护屏,试求 CrKα和 MoKα的穿透系数。 16. 厚度为 1mm 的铝片能把某单色Ⅹ射线束的强度降低为原来的 23.9%, 试求这种Ⅹ射线的 波长。 试计算含 Wc=0.8%,Wcr=4%,Ww=18%的高速钢对 MoKα辐射的质量吸收系数。 17. 欲使钼靶Ⅹ射线管发射的Ⅹ射线能激发放置在光束中的铜样品发射 K 系荧光辐射,问需 加的最低的管压值是多少?所发射的荧光辐射波长是多少? 18. 什么厚度的镍滤波片可将 CuKα辐射的强度降低至入射时的 70%?如果入射 X 射线束中 K 2 2 1, 滤波后的强度比是多少?已知μmα=49.03cm /g, μmβ=290cm α和 Kβ强度之比是 5: /g。 2 19. 如果 Co 的 Kα、Kβ辐射的强度比为 5:1,当通过涂有 15mg/cm 的 Fe2O3 滤波片后,强度 3 2 比是多少?已知 Fe2O3 的ρ=5.24g/cm ,铁对 CoKα的μm=371cm /g,氧对 CoKβ的μm

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案第一部分:选择题1. 在材料现代测试分析方法中,下列哪种方法可以用来确定材料的成分?- A. 热分析法- B. 机械测试法- C. 磁性测试法- D. 光谱分析法- 答案:D2. 材料现代测试分析方法的主要目的是什么?- A. 确定材料的力学性能- B. 分析材料的热性能- C. 评估材料的化学稳定性- D. 确定材料的组成和结构- 答案:D3. 以下哪种测试方法可以用来评估材料的耐腐蚀性能?- A. 硬度测试- B. 疲劳测试- C. 电化学测试- D. 热膨胀测试- 答案:C4. 材料的断裂韧性可以通过下列哪种测试方法进行评估?- A. 硬度测试- B. 拉伸测试- C. 冲击测试- D. 磁性测试- 答案:C5. 下列哪种测试方法可以用来评估材料的疲劳寿命?- A. 硬度测试- B. 拉伸测试- C. 冲击测试- D. 疲劳测试- 答案:D第二部分:简答题1. 简要解释材料现代测试分析方法的定义和作用。

答案:材料现代测试分析方法是一种使用现代科学技术手段对材料进行分析和测试的方法。

它的作用是确定材料的组成、结构和性能,以便评估材料的适用性和可靠性。

2. 举例说明材料现代测试分析方法在工程领域中的应用。

答案:材料现代测试分析方法在工程领域中有广泛的应用。

例如,在航空航天工程中,可以使用材料现代测试分析方法来评估航天器的耐热性能和抗腐蚀性能,以确保航天器在极端环境下的安全运行。

在建筑工程中,可以使用材料现代测试分析方法来评估建筑材料的力学性能和耐久性,以确保建筑物的结构安全可靠。

3. 请简要描述一种材料现代测试分析方法,并说明其适用性。

答案:一种材料现代测试分析方法是扫描电子显微镜(SEM)分析。

它通过扫描材料表面并记录电子显微图像,可以对材料的形貌、结构和成分进行分析。

SEM分析适用于对材料的微观结构和成分进行研究,可以用于材料的质量控制、故障分析和新材料的研发。

材料分析方法课后习题答案

材料分析方法课后习题答案

材料分析测试方法复习题第一部分简答题:1. X射线产生的基本条件答:①产生自由电子;②使电子做定向高速运动;③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。

2. 连续X射线产生实质答:假设管电流为10mA,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv(i)的光子序列,这样就形成了连续X射线。

3. 特征X射线产生的物理机制答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。

当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X射线。

4. 短波限、吸收限答:短波限:X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。

吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。

5. X射线相干散射与非相干散射现象答: 相干散射:当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。

非相干散射:当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。

6. 光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。

荧光X射线:由X射线激发所产生的特征X射线。

俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。

7. X射线吸收规律、线吸收系数答:X射线吸收规律:强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例,即-dI/I=μdx 。

现代材料分析测试方法:期末考试卷和答案

现代材料分析测试方法:期末考试卷和答案

现代材料分析测试方法:期末考试卷和答案第一部分:选择题1. 以下哪项不是常用的材料分析测试方法?- A. 扫描电子显微镜(SEM)- B. 红外光谱(IR)- C. 傅里叶变换红外光谱(FTIR)- D. 核磁共振(NMR)答案:D2. 扫描电子显微镜(SEM)主要用于:- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 力学性能测试答案:A3. X射线衍射(XRD)常用于:- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 晶体结构分析答案:D4. 热重分析(TGA)主要用于:- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 热稳定性分析答案:D5. 扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)的区别在于:- A. SEM可以观察表面形貌,TEM可以观察内部结构- B. SEM可以观察内部结构,TEM可以观察表面形貌- C. SEM只能观察金属材料,TEM只能观察非金属材料- D. SEM只能观察非金属材料,TEM只能观察金属材料答案:A第二部分:简答题1. 简述红外光谱(IR)的原理和应用领域。

红外光谱是一种基于物质吸收、散射和透射红外光的测试方法。

它利用物质分子的特定振动模式与入射红外光发生相互作用,从而获得物质的结构信息和化学成分。

红外光谱广泛应用于有机物的鉴定、无机物的分析、聚合物材料的检测以及药物和食品的质量控制等领域。

2. 简述傅里叶变换红外光谱(FTIR)的原理和优势。

傅里叶变换红外光谱是一种红外光谱的分析技术,它通过对红外光信号进行傅里叶变换,将时域信号转换为频域信号,从而获得高分辨率和高灵敏度的红外光谱图谱。

相比传统的红外光谱,FTIR 具有快速测量速度、高信噪比、宽波数范围和高分辨率等优势。

它广泛应用于材料分析、有机合成、生物医学和环境监测等领域。

3. 简述热重分析(TGA)的原理和应用领域。

热重分析是一种测量物质在升温过程中质量变化的测试方法。

材料分析和测试方法课后练习答案部分.doc

材料分析和测试方法课后练习答案部分.doc

材料分析和测试方法课后练习答案部分第一章x光物理基础2。

如果x光管的额定功率是1.5千瓦,当管电压是35KV时,最大允许电流是多少?回答:1.5KW/35KV=0.043A。

4.为了使铜靶的Kβ线性透射系数为Kα线性透射系数的1/6,计算滤波器的厚度。

回答:由于x光管是铜靶,所以选择镍作为过滤材料。

查找表:μ mα=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,公式为,因此:,t=8.35um t6.用钼靶X射线管激发铜的荧光X射线辐射所需的最低管电压是多少?激发的荧光辐射的波长是多少?回答:EVk=hc/λVk=6.626×10-2。

如果x光管的额定功率是1.5千瓦,当管电压是35KV时,最大允许电流是多少?回答:1.5KW/35KV=0.043A。

4.为了使铜靶的Kβ线性透射系数为Kα线性透射系数的1/6,计算滤波器的厚度。

回答:由于x光管是铜靶,所以选择镍作为过滤材料。

查找表:μ mα=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,公式为,因此:,t=8.35um t6.用钼靶X射线管激发铜的荧光X射线辐射所需的最低管电压是多少?激发的荧光辐射的波长是多少?回答:EVk=hc/λVk=6.626×10:相干散射、非相干散射、荧光辐射、吸收极限、俄歇效应A: ⑴当x射线穿过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下会产生受迫振动,受迫振动会产生与入射光频率相同的交变电磁场。

这种散射被称为相干散射,因为散射线的波长和频率与入射光线的波长和频率相同,相位固定,并且相同方向的散射波满足相干条件。

⑵当χ射线被电子或结合力小的自由电子散射时,可以得到比入射χ射线波长更长的χ射线,且波长随散射方向的不同而变化。

这种散射现象被称为非相干散射。

⑶具有足够能量的χ射线光子从原子内部发射出一个K电子。

当外层电子填满K空位时,K射线将向外辐射。

这种辐射过程是由χ射线光子激发原子引起的,称为荧光辐射。

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6、试计算( 11)及( 2)的共同晶带轴。
7、铝为面心立方点阵,a=0.409nm。今用CrKa( =0.209nm)摄照周转晶体相,X射线垂直于[001]。试用厄瓦尔德图解法原理判断下列晶面有无可能参与衍射:(111),(200),(220),(311),(331),(420)。
8、画出六方点阵(001)*倒易点,并标出a*,b*,若一单色X射线垂直于b轴入射,试用厄尔德作图法求出(120)面衍射线的方向。
(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;
(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?
4.X射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?
5.产生X射线需具备什么条件?
2.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该满足条件,能产生。
3.影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有,,,。
4.考虑所有因素后的衍射强度公式为,对于粉末多晶的相对强度为。
5.结构振幅用表示,结构因素用表示,结构因素=0时没有衍射我们称或。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现。
四、名词解释
1.倒易点阵——
13、计算钠原子在顶角和面心,氯原子在棱边中心和体心的立方点阵的结构因数,并讨论。
14、今有一张用CuKa辐射摄得的钨(体心立方)的粉末图样,试计算出头四根线条的相对积分强度[不计e-2M和A( )]。若以最强的一根强度归一化为100,其他线强度各为多少?这些线条的 值如下,按下表计算。
线条
/(*)
24.试计算Cu的K系激发电压。(答案:8980Ⅴ)
25.试计算Cu的Kαl射线的波长。(答案:0.1541 nm).
第二章
一、选择题
1.有一倒易矢量为 ,与它对应的正空间晶面是()。
A.(210);B.(220);C.(221);D.(110);。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生()衍射线。
2.X射线与物质相互作用可以产生、、、、
、、、。
3.经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4.X射线的本质既是也是,具有性。
5.短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称
,常用于。
习题
1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?
2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?
(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;
3、当波长为 的X射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的程差是多少?相邻两个(HKL)反射线的程差又是多少?
4、画出Fe2B在平行于(010)上的部分倒易点。Fe2B属正方晶系,点阵参数a=b=0.510nm,c=0.424nm。
5、判别下列哪些晶面属于[ 11]晶带:( 0),(1 3),(1 2),( 2),(0 1),(212)。
15.如果用1mm厚的铅作防护屏,试求CrKα和MoKα的穿透系数。
16.厚度为1mm的铝片能把某单色Ⅹ射线束的强度降低为原来的23.9%,试求这种Ⅹ射线的波长。
试计算含Wc=0.8%,Wcr=4%,Ww=18%的高速钢对MoKα辐射的质量吸收系数。
17.欲使钼靶Ⅹ射线管发射的Ⅹ射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光辐射,问需加的最低的管压值是多少?所发射的荧光辐射波长是多少?
6.Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?
7.计算当管电压为50 kv时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
8.特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长?
9.连续谱是怎样产生的?其短波限 与某物质的吸收限 有何不同(V和VK以kv为单位)?
2.X射线衍射与光的反射一样,只要满足入射角等于反射角就行。()
3.干涉晶面与实际晶面的区别在于:干涉晶面是虚拟的,指数间存在公约数n。()
4.布拉格方程只涉及X射线衍射方向,不能反映衍射强度。()
5.结构因子F与形状因子G都是晶体结构对衍射强度的影响因素。()
三、填空题
1.倒易矢量的方向是对应正空间晶面的;倒易矢量的长度等于对应。
9.试用厄瓦尔德图解来说明德拜衍射花样的形成。
10.同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其θ较高还是较低?相应的d较大还是较小?既然多晶粉末的晶体取向是混乱的,为何有此必然的规律
4.试从入射光束、样品形状、成相原理(厄瓦尔德图解)、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度(公式)、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法的异同点。
5.衍射仪与聚焦相机相比,聚焦几何有何异同?
6.从一张简单立方点阵物的德拜相上,已求出四根高角度线条的θ角(系由CuKα所产生)及对应的干涉指数,试用“a-cos2θ”的图解外推法求出四位有效数字的点阵参数。
10.Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x射线分析有何影响?反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同?
11.试计算当管压为50kv时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?
12.为什么会出现吸收限?K吸收限为什么只有一个而L吸收限有三个?当激发X系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L系?当L系激发时能否伴生K系?
2.系统消光——
3.衍射矢量——
4.形状因子——
5.相对强度——
1、试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111]。[121],[21 ],(0 0)(110),(123)(21 )。
2、下面是某立方晶系物质的几个晶面间距,试将它们从大到小按次序重新排列。(12 )(100)(200)( 11)(121)(111)( 10)(220)(030)(2 1)(110)
20.计算0.071 nm(MoKα)和0.154 nm(CuKα)的Ⅹ射线的振动频率和能量。(答案:4.23×1018s-l,2.80×10-l5J,1.95×1018s-1,l.29×10-15J)
21.以铅为吸收体,利用MoKα、RhKα、AgKαX射线画图,用图解法证明式(1-16)的正确性。(铅对于上述Ⅹ射线的质量吸收系数分别为122.8,84.13,66.14 cm2/g)。再由曲线求出铅对应于管电压为30 kv条件下所发出的最短波长时质量吸收系数。
1.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()
2.激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()
3.经滤波后的X射线是相对的单色光。()
4.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()
5.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()
三、填空题
1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
9、试简要总结由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度的整个思路和要点。
10、试述原子散射因数f和结构因数 的物理意义。结构因数与哪些因素有关系?
11、计算结构因数时,基点的选择原则是什么?如计算面心立方点阵,选择(0,0,0)(1,1,0)、(0,1,0)与(1,0,0)四个原子是否可以,为什么?
12、当体心立方点阵的体心原子和顶点原子种类不相同时,关于H+K+L=偶数时,衍射存在,H+K+L=奇数时,衍射相消的结论是否仍成立?
HKL
P
f
F2
Φ
PF2Φ
强度归一化1Fra bibliotek23
4
20.3
29.2
36.4
43.6
第三章
五、选择题
1.最常用的X射线衍射方法是()。
A.劳厄法;B.粉末多法;C.周转晶体法;D.德拜法。
2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是()。
A.正装法;B.反装法;C.偏装法;D. A+B。
3.德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为()。
HKL 532 620 443 541
611 540
621
θ.角72.08 77.93 81.11 87.44
7.根据上题所给数据用柯亨法计算点阵参数至四位有效数字。
8.用背射平板相机测定某种钨粉的点阵参数。从底片上量得钨的400衍射环直径2Lw=51.20毫米,用氮化钠为标准样,其640衍射环直径2LNaCl=36.40毫米。若此二衍射环均系由CuKαl辐射引起,试求精确到四位数字的钨粉的点阵参数值。
第一章
一、选择题
1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( )
A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它
2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3.当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
5.正比计数器——
6.光电倍增管——
习题:
1.CuKα辐射(λ=0.154 nm)照射Ag(f.c.c)样品,测得第一衍射峰位置2θ=38°,试求Ag的点阵常数。
2.试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
3.粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何?为什么?板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何?
18.什么厚度的镍滤波片可将CuKα辐射的强度降低至入射时的70%?如果入射X射线束中Kα和Kβ强度之比是5:1,滤波后的强度比是多少?已知μmα=49.03cm2/g,μmβ=290cm2/g。
19.如果Co的Kα、Kβ辐射的强度比为5:1,当通过涂有15mg/cm2的Fe2O3滤波片后,强度比是多少?已知Fe2O3的ρ=5.24g/cm3,铁对CoKα的μm=371cm2/g,氧对CoKβ的μm=15cm2/g。
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