材料分析测试方法名词解释
材料性能的测试和分析方法
材料性能的测试和分析方法材料是指人类在生产、生活、科技研发中所使用的原材料，包括金属、合金、非金属、复合材料等。
材料性能是指材料在使用过程中，表现出来的物理、化学、力学等方面的性质和特征，包括强度、硬度、耐腐蚀性、导电性等等。
了解和掌握材料的性能是进行科研和生产的必要前提，而测试和分析材料性能则是了解和掌握材料性能的必要手段。
本文将介绍针对材料性能的测试方法和分析方法。
一、力学性能的测试和分析方法力学性能是指材料所表现出来的强度、韧性、硬度等表面的物理力学特性。
力学性能的测试方法主要有拉伸试验、压缩试验、弯曲试验、硬度试验等。
其中针对不同类型材料，需要选择不同的测试方法和测试设备。
例如钢材的硬度测试必须采用布氏硬度计，而塑料的硬度测试则需要用洛氏硬度计。
而不同的测试方法也会得出不同的测试结果，例如在同样的试验条件下，拉伸试验得出的拉伸强度值和压缩试验得出的屈服强度值是不同的。
力学性能的分析方法主要有断口分析、金相分析和扫描电镜分析等。
断口分析是指通过观察材料在拉伸或压缩试验中断裂的断口形态和特点，来判断材料的性能和失败原因。
金相分析是指将材料进行钢切件制备，并通过光学方法来观察材料断口、晶粒结构和组织性质，从而了解材料的组织结构和性质。
扫描电镜分析则是利用电子束照射材料表面，通过观察反射电子和离子的图像来了解材料的表面形貌和微观结构。
三种分析方法方便快捷地评估和分析材料的性能。
二、热学性能的测试和分析方法热学性能是指材料在加热或冷却过程中所表现的吸热、放热、导热、热膨胀等热学性质。
热学性能的测试方法主要有热膨胀测试、热导测试、热量测试等。
其中热膨胀测试会测量材料在不同温度下的膨胀系数，从而评估材料的热稳定性。
而热导测试则可以测量材料在不同温度下的热导率，从而了解材料的导热性质。
热量测试可测量材料在吸热或放热过程中的温度变化，从而了解材料的热量性质。
热学性能的分析方法主要有热失重分析和热分解分析。
材料分析测试方法
材料分析测试方法材料分析测试方法是一种用于确定材料的组成成分、结构特征和性能特性的实验方法。
通过对材料进行分析测试，可以提供有关材料的关键信息，为科学研究、工程设计和质量控制等提供数据支持。
以下是几种常用的材料分析测试方法。
1.光学显微镜分析：光学显微镜是一种使用可见光进行观察的显微镜。
通过使用透射或反射光学系统，可以对材料进行观察，并研究其表面形貌、晶体结构和材料中的微小缺陷等信息。
2.扫描电子显微镜分析：扫描电子显微镜（SEM）是一种通过扫描电子束来观察材料的表面形貌和微观结构的显微镜。
SEM可以提供高分辨率的图像，并能够进行化学成分分析、能谱分析和逆向散射电子显微镜等特殊分析。
3.X射线衍射分析：X射线衍射（XRD）是一种通过用高能X射线照射材料，根据材料中晶格原子的间距和位置来分析材料结构的方法。
XRD可以用来确定晶体结构、晶体取向和晶体缺陷等信息。
4.能谱分析：能谱分析是一种通过测量材料在不同能量范围内的辐射或吸收来分析其化学成分的方法。
常见的能谱分析方法包括X射线能谱分析（XPS）、能量色散X射线能谱分析（EDX）、傅里叶变换红外光谱分析（FTIR）等。
5.热分析：热分析是一种通过对材料在加热或冷却过程中的物理和化学变化进行分析的方法。
常见的热分析方法包括差示扫描量热法（DSC）、热重分析（TGA）和热解吸法（TPD）等。
6.压力测试：压力测试是一种通过使用压力传感器和脉冲测定器等设备来测量材料的力学性能和材料的变形特性的方法。
常见的压力测试包括硬度测试、拉伸测试、压缩测试和扭曲测试等。
7.化学分析：化学分析是一种通过对材料进行化学试剂处理和测量来确定其化学成分和化学特性的方法。
常用的化学分析方法包括气相色谱（GC）、液相色谱（HPLC）和质谱分析等。
8.磁性测试：磁性测试是一种通过测量材料在外加磁场下的响应来分析材料磁性的方法。
常见的磁性测试方法包括霍尔效应测量、磁滞回线测量和磁力显微镜测量等。
材料分析测试方法名词解释（2）
材料分析测试方法名词解释（2）材料分析测试方法名词解释36、超点阵斑点：当晶体内部的原子或离子发生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时，使得原来消光的斑点重新出现，这种额外的斑点称为超点阵斑点。
37、二次衍射斑点：电子受原子散射作用强，致使衍射束强度可与透射束强度相当，一次衍射束作为新的入射束产生“二次衍射”。
“二次衍射”使得一些|FHKL|=0的消光又出现强度，这种斑点称为“二次衍射斑点”。
38、菊池花样：当电子束穿透较厚单晶样品时，除了衍射斑点外还会出现一些平行的亮暗线对，此即为菊池花样或菊池线——是非弹性散射的电子又被弹性散射的结果。
39、电子显微图像：物镜背焦面上各衍射斑点的球面波在物镜像平面上干涉所成图像，具有黑白衬度，且与样品的微观组织相对应。
40、像衬度：图像上不同区域间明暗程度的差别。
是在物镜背焦面上通过物镜光阑选择透射斑或衍射斑成像的结果。
41、质厚衬度：由于样品上不同微区质量（原子序数Z）或厚度差异而形成的衬度，是解释非晶体样品电子显微图像衬度的理论依据。
42、非弹性散射：入射电子与核外电子相互作用，除了方向的改变还有能量的变化。
43、衍衬衬度：由于晶体样品中各处衍射束强度差异而形成的衬度。
对于没有成分差异的单相材料，衍衬衬度是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。
44、中心暗场成像：将入射束反向倾斜一个相应角度，使散射电子沿光轴传播。
45、双光束条件：对于晶体样品，在明场像条件下只有(HKL)面满足衍射条件（衍射强度IHKL），其余晶面均与衍射条件存在较大偏差（衍射强度视为零），此时除直射束外只有一个强衍射束即(HKL)衍射束，构成“双光束条件”。
46、相位衬度：由于入射电子束相位改变而引起的衬度。
47、消光距离：强烈的动力学相互作用的结果，使得I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡。
振荡的深度周期即为“消光距离”——ξg48、扫描电子显微镜：继透射电子显微镜后发展起来的一种电子显微镜。
材料测试方法
材料测试方法材料测试方法是指对材料进行性能测试的方法，通过测试可以了解材料的力学性能、物理性能、化学性能等各项指标，为材料的选用、设计和生产提供依据。
材料测试方法的选择对于材料的研究和开发具有重要意义，下面将介绍几种常见的材料测试方法。
首先，力学性能测试是材料测试的重要内容之一。
在材料的设计和使用过程中，了解材料的力学性能对于确定材料的使用范围、设计结构和预测材料的寿命具有重要意义。
常见的力学性能测试包括拉伸试验、压缩试验、弯曲试验等。
通过这些测试可以得到材料的强度、韧性、硬度等指标，为材料的选用和设计提供依据。
其次，物理性能测试也是材料测试的重要内容之一。
物理性能测试包括材料的密度、导热系数、热膨胀系数等指标的测试。
这些指标对于材料的热学性能和物理性能具有重要意义，可以帮助工程师选择合适的材料，设计合理的结构。
另外，化学性能测试也是材料测试的重要内容之一。
化学性能测试包括材料的化学成分、腐蚀性能、耐热性能等指标的测试。
这些指标对于材料的耐腐蚀性能、耐高温性能等具有重要意义，可以帮助工程师选择合适的材料，设计耐腐蚀、耐高温的产品。
此外，表面性能测试也是材料测试的重要内容之一。
表面性能测试包括材料的表面粗糙度、表面硬度、表面清洁度等指标的测试。
这些指标对于材料的表面质量具有重要意义，可以帮助工程师选择合适的材料，设计表面质量良好的产品。
综上所述，材料测试方法是对材料进行性能测试的方法，通过测试可以了解材料的力学性能、物理性能、化学性能和表面性能等各项指标，为材料的选用、设计和生产提供依据。
选择合适的材料测试方法对于材料的研究和开发具有重要意义，可以帮助工程师选择合适的材料，设计合理的产品结构。
高分子材料分析与测试方法
重点整理高分子材料分析与测试方法第一章 NMR一、名词解释1.同位素：质子数相同而中子数不同的同一元素的不同核素。
2.弛豫：原子核通过无辐射的途径，由高能级回复到低能级的过程； 弛豫时间：原子核从高能态回复到低能态所需时间； 纵向（自旋-晶格）弛豫：体系与环境交换能量。
处于高能级的核将其能转移给周围分子骨架中的其它核，从而使自己返回到低能态的现象；横向（自旋-自旋）弛豫：核磁矩之间的相互作用。
两个相邻的核处于不同能级，进动频率相同，高能级核与低能级核通过自旋状态而实现能量转移所发生的弛豫现象。
3.核磁共振：在静磁场中，具有磁矩的原子核存在不同能级，用某一特定频率的电磁波照射样品，若电磁波满足一定条件，原子核发生能级跃迁的现象。
4.屏蔽效应：电子在外磁场作用下，产生了相对于外磁场方向的感应磁场，使核实际受到的外磁场作用减弱的现象；远磁屏蔽效应：除了核自身的核外电子云外，远处各类原子或基团的成键电子云也将产生感应磁场，使核所受磁场强度变化的现象；去屏蔽效应：核外电子产生的感应磁场与外加磁场方向相同，核所感受到的实际磁场强度增大的现象。
5.化学位移：由于不同环境下原子核共振频率或磁场强度发生变化，在谱图上反映出的出峰位置的移动。
6.诱导效应：由于电负性差异导致的基团对所连原子电子云密度的影响；共轭效应：由于共轭多重键π电子或p 电子转移，导致原子的电子云密度变化的现象。
7.耦合常数：发生自旋-自旋耦合裂分时，分裂峰之间的距离。
8.化学等价质子：在同一分子中，位于相同化学环境的，化学位移相同的质子；磁等价质子：一组化学等价质子，当它们与组外任一磁核耦合时，耦合常数若相等，则磁等价。
二、基本原理及仪器1.原子核的自旋运动 （1）核自旋运动条件自旋量子数I 可以是整数/半整数。
I ≠0时，原子核有自旋运动。
I ＝12：1H 1、13C 6、15N 7、31P 15； I ＝2：11B 5； I ＝1：2H 1、14N 7（2）核磁矩与磁量子数①P μγ=⋅ μ：核磁矩； γ：磁旋比，核的特征常数，原子核的重要属性； P ：自旋角动量。
材料分析检测
材料分析检测材料分析检测是指通过一系列的实验手段和仪器设备，对各种材料的成分、结构、性能等进行分析和检测的过程。
这一过程在工业生产、科研开发、质量控制等领域都具有重要的意义。
下面将从材料分析检测的方法、应用和发展趋势三个方面进行介绍。
首先，材料分析检测的方法主要包括物理分析方法、化学分析方法和表征分析方法。
物理分析方法包括X射线衍射、电子显微镜、原子力显微镜等，通过对材料的形貌、结构、物理性能等进行分析。
化学分析方法则是通过化学反应来确定材料的成分和含量，如色谱法、光谱法、质谱法等。
表征分析方法则是通过对材料的表面、界面、微观结构等进行表征，如红外光谱、拉曼光谱、核磁共振等。
这些方法各有特点，可以相互补充，从不同角度全面地分析和检测材料。
其次，材料分析检测在各个领域都有着广泛的应用。
在材料科学领域，材料分析检测可以帮助科研人员了解材料的结构和性能，指导新材料的设计和合成。
在工业生产中，材料分析检测可以用于质量控制，确保产品符合相关标准和要求。
在环境保护领域，材料分析检测可以用于监测大气、水体、土壤中的污染物，保护环境和人类健康。
在医学领域，材料分析检测可以用于药物研发、医疗器械的安全性检测等方面。
可以说，材料分析检测在现代社会的方方面面都发挥着重要的作用。
最后，随着科学技术的不断发展，材料分析检测也在不断创新和完善。
传统的分析方法正在向更高精度、更快速、更便捷的方向发展，新的分析技术不断涌现，如纳米技术、超快光谱技术等，为材料分析检测提供了更多的选择。
同时，数据处理和分析的方法也在不断完善，大数据、人工智能等技术的应用使得材料分析检测更加智能化、自动化。
可以预见，材料分析检测将会在未来发展出更多的新技术、新方法，为人类社会的发展进步提供更好的支持。
综上所述，材料分析检测是一个不断发展和完善的领域，它对于科学研究、工业生产、环境保护、医学健康等方面都具有重要的意义。
我们应该关注材料分析检测领域的最新进展，不断学习和掌握新的分析技术和方法，为推动社会的科学发展和经济进步做出自己的贡献。
材料现代分析测试方法
材料现代分析测试方法材料的现代分析测试方法是为了研究材料的组成、结构、性质以及相应的测试手段。
通过分析测试方法，我们可以深入了解材料的特点，进而为材料的研发、优化和应用提供有效的数据支持。
下面将介绍几种常用的材料现代分析测试方法。
一、质谱分析法质谱分析法是一种通过测量样品中不同质荷比（m/z）的离子的相对丰度来确定样品组成和结构的分析方法。
质谱分析法适用于分析有机物和无机物。
其优点是能快速分析出物质组成，提供准确的质量数据，对于结构复杂的样品仍能有效分析。
二、核磁共振（NMR）谱学核磁共振谱学是一种通过测量样品中核自旋与磁场相互作用的现象来分析样品结构和组成的方法。
不同核的共振频率和强度可以提供关于样品分子结构和组成的信息。
核磁共振谱学适用于有机物和无机物的分析。
由于从核磁共振谱图中可以获得丰富的结构信息，所以核磁共振谱学被广泛应用于有机化学、药物研发和材料科学等领域。
三、红外光谱学红外光谱学是一种通过测量样品对不同波长的红外辐射的吸收情况来分析样品结构和组成的方法。
不同官能团在红外区域会有特定的吸收峰位，因此红外光谱能提供有关样品中化学键和官能团的信息。
红外光谱学适用于有机物和无机物的分析。
它具有非破坏性、快速、易于操作等特点，在化学、生物和材料科学领域得到了广泛应用。
四、X射线衍射（XRD）X射线衍射是一种通过测量样品对入射X射线的衍射现象来研究样品结构和晶体结构的方法。
不同物质的晶格结构具有不同的衍射图样，通过分析衍射图样可以获得样品的晶体结构信息。
X射线衍射适用于分析有晶体结构的材料，如金属、陶瓷、单晶等。
它能提供关于晶体结构、晶粒尺寸和应力等信息，被广泛应用于材料科学、地质学和能源领域。
五、扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）扫描电子显微镜和透射电子显微镜是一种通过聚焦电子束对材料进行观察和分析的方法。
扫描电子显微镜主要用于获得材料的表面形貌、颗粒分布和成分分析。
透射电子显微镜则能提供材料的内部结构和界面微观结构的信息。
材料分析测试技术
材料分析测试技术材料分析测试技术材料分析测试技术是指对材料进行分析和测试，以得到关于材料性质和组成的信息的一种技术。
在材料科学与工程领域，材料分析测试技术起着重要的作用，它不仅能够帮助工程师和科学家了解材料的性能和特性，还能指导材料的研发和应用。
材料分析测试技术主要包括材料成分分析、材料结构表征、材料性能测试等方面。
下面将就这些方面逐一进行介绍。
首先是材料成分分析。
材料成分分析是指对材料中各组分含量和比例进行测定的过程。
常用的材料成分分析方法有化学分析方法和物理分析方法。
化学分析方法包括光谱分析、电化学分析、热分析等，通过对样品进行化学反应和测量，可以得到各组分的含量和比例。
物理分析方法包括X射线衍射、电子显微镜等，通过测量材料的物理性质，可以获得材料成分的信息。
其次是材料结构表征。
材料结构表征是对材料的内部结构进行分析和描述的过程。
常用的材料结构表征方法有扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射等。
这些方法可以通过观察材料的表面形貌、内部晶体结构等来揭示材料的微观结构和形态特征。
最后是材料性能测试。
材料性能测试是指对材料的各项性能进行测定和评估的过程。
材料的性能有机械性能、热性能、电学性能等多个方面。
常用的材料性能测试方法有拉伸试验、硬度测试、热重分析等。
这些测试方法可以帮助人们了解材料的强度、硬度、热稳定性等性能指标，从而指导材料的设计和应用。
材料分析测试技术在科学研究和工程实践中具有广泛的应用。
首先，它可以帮助科学家们进一步认识材料的本质，揭示材料的内在规律，为材料科学的发展做出贡献。
其次，材料分析测试技术可以指导材料的研发和制备。
通过对材料成分和性能的测试，可以为材料的合理设计和应用提供依据。
最后，材料分析测试技术也可以为产品质量控制和故障分析提供支持。
通过对材料进行分析和测试，可以确保产品的质量和可靠性，同时也可以对产品故障进行分析和修复。
总之，材料分析测试技术是材料科学与工程领域中一项重要的技术。
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名词解释1、连续X射线谱：由波长连续变化的X射线构成，也称白色X 射线或多色X射线。
2、短波限：连续X射线谱在短波方向的最短波长，即光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X光子的波长，称为短波限λ0。
3、吸收限：指X射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须大于或等于将K电子从无穷远移至K层时所做的功W，称此时的光子波长λ为K系的吸收限。
4、X射线强度：垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。
5、特征X射线谱：由一定波长的若干X射线叠加在连续谱上构成，也称单色X射线和标识X射线。
6、特征X射线：原子内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF7、光电效应：光与物质相互作用产生电子的现象。
X射线与物质的相互作用可以看成是X光子与物质中原子的相互碰撞。
当X光子具有足够能量时，可以将原子内层电子击出，该电子称为光电子。
原子处于激发态，外层电子向内层空位跃迁，多余能量以辐射方式释放，即二次特征X射线或荧光X射线。
这一过程即为X射线的光电效应。
++-MMυh→+e8、倒易点阵：在晶体点阵（正点阵）基础上按一定对应关系构建的一个空间点阵。
方向—倒易基矢垂直于正点阵中异名基矢构成的平面长度—倒易基矢与正点阵矢量间是倒数关系9、倒易矢量：由倒易原点指向任意倒易阵点的方向矢量。
10、布拉格方程：d-衍射晶面间距；θ-掠射角；λ-入射线波长；n-反射级数11、反射球：以波矢量大小的倒数（1/λ）为半径,作一AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF个球面,从球心向球面与倒易点阵的交点的射线为波的衍射线,这个球面称为反射球，也称厄瓦尔德球。
12、倒易球：多晶体由很多小晶粒（亚晶粒）构成，这些晶粒在空间的取向各不相同。
这些取向不同的晶粒中同名的（HKL）晶面对应的倒易矢量的长度都为1/dHKL，对应的倒易点在空间构成一个半径为1/dHKL的球，即倒易球。
13、劳厄法：用连续X射线照射单晶体的衍射方法。
14、周转晶体法：用单色X射线照射转动的单晶体的衍射方法。
15、粉末衍射法（多晶法）：用单色X射线照射粉末多晶体的衍射方法。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAFAHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF16、f ：原子散射因子。
17、F ：以一个散射波振幅为单位的晶胞散射波合成振幅。
()∑∑=++=====n j Lz Ky Hx i j n j i j e b HKL j j j j e f ef A A F 121πφ一个电子散射波振幅成振幅晶胞内各原子散射波合18、系统消光：由于|F|2=0引起的衍射线消失的现象称为系统消光。
分为两类：点阵消光和结构消光。
19、点阵消光：只决定于晶胞中原子位置的消光现象。
20、结构消光：在点阵消光的基础上因结构基元内原子位置不同而产生的附加消光（如金刚石结构）。
21、|G|2称为干涉函数，又称形状因子。
22、晶带：在晶体结构或空间点阵中， 与某一取向平行的所有晶面均属于同一个晶带。
23、聚焦圆：X 射线衍射仪法中，样、光源和光阑必须位于同一圆周上才能获得足够高的衍射强度和分辨率。
此圆周一个电子散射波振幅一个原子散射波振幅==e a A A f称为聚焦圆。
24、辐射探测器：接收样品发射的X射线（X光子），并将光子信号转变为电脉冲信号（瞬时脉冲）的装置。
25、闪烁计数器：利用X射线作用在某些物质（磷光体）上产生可见荧光，并通过光电倍增管来接收的探测器。
26、物相分析：确定物质的相组成和各组成相的相对含量，前者称物相定性分析，后者称物相定量分析。
27、透射电子显微镜（TEM）：以波长很短的电子束作为照明源，用电磁透镜成像的一种具有高分辨本领、高放大倍数的电子光学仪器。
28、分辨率：把两个Airy斑中心距离等于Airy斑半径时物平面上相应两个物点间的距离定义为透镜能分辨的最小间距，即透镜分辨率。
29、球差：由于电磁透镜近轴区域和远轴区域磁场对电子折射能力不同而产生的一种像差。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF30、像散：由于透镜磁场的非旋转对称引起的像差。
31、色差：由于成像电子的能量不同或变化，从而在透镜磁场中运动轨迹不同，不能在一点聚焦而形成的像差。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF32、景深：成像时，像平面不动（像距不变），在满足成像清晰的前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离。
33、焦长：成像时物点固定不动（物距不变），在满足成像清晰的前提下，像平面沿轴线前后可移动的距离。
34、消像散器：对电磁透镜磁场椭圆度进行补偿矫正的仪器。
35、高阶劳厄斑点：高阶劳厄区倒易杆与反射球相交形成的斑点。
过倒易原点的倒易面——零层倒易面，也叫作零阶劳厄区。
36、超点阵斑点：当晶体内部的原子或离子发生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时，使得原来消光的斑点重新出现，这种额外的斑点称为超点阵斑点。
37、二次衍射斑点：电子受原子散射作用强，致使衍射束强度可与透射束强度相当，一次衍射束作为新的入射束产生“二次衍射”。
“二次衍射”使得一些|FHKL|=0的消光又出现强度，这种斑点称为“二次衍射斑点”。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF38、菊池花样：当电子束穿透较厚单晶样品时，除了衍射斑点外还会出现一些平行的亮暗线对，此即为菊池花样或菊池线——是非弹性散射的电子又被弹性散射的结果。
39、电子显微图像：物镜背焦面上各衍射斑点的球面波在物镜像平面上干涉所成图像，具有黑白衬度，且与样品的微观组织相对应。
40、像衬度：图像上不同区域间明暗程度的差别。
是在物镜背焦面上通过物镜光阑选择透射斑或衍射斑成像的结果。
41、质厚衬度：由于样品上不同微区质量（原子序数Z）或厚度差异而形成的衬度，是解释非晶体样品电子显微图像衬度的理论依据。
42、非弹性散射：入射电子与核外电子相互作用，除了方向的改变还有能量的变化。
43、衍衬衬度：由于晶体样品中各处衍射束强度差异而形成的衬度。
对于没有成分差异的单相材料，衍衬衬度是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF44、中心暗场成像：将入射束反向倾斜一个相应角度，使散射电子沿光轴传播。
45、双光束条件：对于晶体样品，在明场像条件下只有(HKL)面满足衍射条件（衍射强度IHKL），其余晶面均与衍射条件存在较大偏差（衍射强度视为零），此时除直射束外只有一个强衍射束即(HKL)衍射束，构成“双光束条件”。
46、相位衬度：由于入射电子束相位改变而引起的衬度。
47、消光距离：强烈的动力学相互作用的结果，使得I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡。
振荡的深度周期即为“消光距离”——ξg48、扫描电子显微镜：继透射电子显微镜后发展起来的一种电子显微镜。
用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过对电子与样品相互作用产生的各种信息进行收集、处理，从而获得微观形貌放大像。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF49、背散射电子：被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
50、二次电子：被入射电子轰击出来的核外电子，通常为外层电子。
51、吸收电子：经样品多次非弹性散射，能量损失殆尽，最后被样品吸收的那部分入射电子。
52、透射电子：当样品厚度小于电子有效穿透深度时，穿过样品而出的那些入射电子。
53、俄歇电子：原子内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中释放出来的能量ΔE使得核外另一个电子电离并逸出样品表面，称为俄歇电子。
54、表面形貌衬度：由于试样表面形貌差别而形成的衬度。
55、原子序数衬度：由于样品表面物质原子序数或化学成分差异而形成的衬度。
AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF56、电子探针X射线显微分析：EPMA是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析，特别适用于分析样品中微小区域的化学成分。
57、分光晶体：用来对X射线起色散作用的晶体。
58、定点定性分析：对试样某一选定点（区域）进行定性成分分，以确定该点区域内存在的元素。
59、线扫描分析：使聚焦电子束在样品观察区内沿一选定直线（穿越粒子或界面）进行慢扫描，X射线谱仪处于探测某一元素特征X射线状态。
60、XPS：利用特征X-ray激发样品光电效应产生光电子，收集检测光电子能量来确定样品元素组成和状态。
61、化学位移：同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能变化在谱线上造成的位移。
62、物理位移：由于固体的热效应与电荷电效应等物理因素引起电子结合能改变，从而导致光电子谱峰位移，即物理AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF位移。
63、如有侵权请联系告知删除，感谢你们的配合！64、65、66、32649 7F89 羉e 26482 6772 杲y25058 61E2 懢23357 5B3D 嬽36752 8F90 辐H22910 597E 奾20678 50C6 僆21486 53EE 叮27460 6B44 歄67、AHA12GAGGAGAGGAFFFFAFAF。