三极管检验标准OK
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2.3.3参数特性
三极管电参数用晶体管特性图示仪或三极管电性能测试仪。
抽验项目：三极管的β值、Ts值、VBE值、VCE值。
以120±2℃加温2小时，在置于常温下0.5小时，其电性能应在格内。
3. 检验方法
3.1 外观
目测实物。
人眼与被测物体保持≤20cm的距离。
检测外形和封装是否符合图纸要求。
晶体管引脚是否错误（如B C E三个极有乱排现象）。
晶体管引脚长短 ，是否影响元器件安装。
晶体管引脚直径粗细，导致引脚无法顺利插入印刷板。
3.2 尺寸要求
外型尺寸参见图纸要求。
3.3 性能要求。
3.3.1电性能
用晶体管特性图示仪或三极管电性能测试仪。
检测三极管的电性能是否超出精度范围。
（如耐压）。
3.3.2 管脚排列
用晶体管特性图示仪或三极管电性能测试仪。
检测三极管脚位排列是否一致。
4 检验规则
4.1 为了检验提交的三极管质量是否符合本标准的要求，品质部、生产部应对三极管进行交收试验。
4.2 交收试验应从提交批次的三极管同一规格中均匀抽取，同时提交验收的同一规格三极管应为同一批。
5 抽样方案
交收试验按GB/T 2828-2003正常检验一次抽样方案执行，其检验项目、抽样方案、检验水平及合格质量水平应符合下表的规定。
验收条款
序号 检验项目
技术要求 试验方法
抽样方案 缺陷分类 检查水平 AQL/%
1 外观
2.1
3.1 Ⅲ类
2 外形尺寸
2.2
3.2 Ⅱ类
Ⅱ 4.0
3 性能要求
2.3
3.3 Ⅰ类 S-1 1.0
4 脚位排列
2.3
3.3
一次
Ⅰ类 S-1 0
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开关三极管的检验方法
开关三极管的检验方法
开关三极管是电子电路中常用的元器件之一，其作用是控制电路的通断。
由于其工作效率高、控制精度高等优点，越来越成为各类电子设备中重要的部分。
但是，当开关三极管出现问题时，将给电子设备带来严重的影响。
因此，开关三极管的检验方法尤其重要，下面介绍几种具体的方法。
一、视觉检查法
采用肉眼观察开关三极管的外部特征，包括措施尺寸、芯片的质地、引脚的形状等，来判断其是否符合规定。
二、静态测量法
静态测量法又称直流测试法，通过同方向两个点测量开关三极管的电压和电流，主要包括开路电压、漏电流等。
这种方法操作简单，确定结果准确。
三、动态测试法
动态测试法通过检查开关三极管的输入、输出、开关特性曲线的变化，来判断其是否正常工作。
检测方法包括：输入信号法、直流自极法、输出特征法、悬空法、输入输出匹配法等。
这种方法可以更准确地判断开关三极管的工作状态，但需要专业的测量仪器。
四、使用代替元件法
使用代替元件法即将一个外部一致的开关三极管作为测试开关三极管的替代品，来判断测试元件是否正常工作。
这种方法可以避免一些条件不好的检测，但代替元件的手段要比测试元件高一些。
总之，在检验开关三极管时，要根据具体情况选择合适的检验方法，同时对仪器仪表的选择也应谨慎。
采用科学、准确的检验方法，不仅可以保证开关三极管的正常运行，还能提高检验效率和准确性。
三极管检验规范
拟制
审核
批准
第 1 页
第
文 件 编 号
号
三极管检验规范
版
本
号 年 第 页 月 共 日 页
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附表
序号
检验项目
缺陷内容 表面破损，规格、型号、标识错、漏，引脚严重氧化， 混料 表面脏污，标识不清晰，引线脚轻微氧化 外形尺寸及引脚尺寸严重超差且影响装配
判定 B
1
外观
C B C B B B B B B C
2
结构尺寸 外形尺寸及引脚尺寸严重偏差且不影响或断裂 Vbes参数超出规格范围
4
电气性能
Vces参数超出规格范围 BVceo参数超出规格范围 hFE参数超出规格范围 可焊性后,上锡面<80%
5
可焊性 可焊性后,上锡面80%~98%
检验项目 抽样方案 GB2828-03正常 检查一次抽样 GB2829-03一次 抽样 检查 水平 II II 判别 水平 AQL B=0.04 C=0.4 B=15 C=30 n=10，Ac=0，Re=1 n=10，Ac=1，Re=2 RQL 判定数组
5.1，5.4 5.2，5.3，5.5
8
处理方法:按《电子类元件检验标准总则》执行
拟制
审核
批准
第 2 页
第
号
第
3
页
第
文 件 编 号
号
三极管检验规范
1 2 3 4 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 5 5.1 5.2 5.3 5.4 5.5 6 7
版
本
号 年 第 页 月 共 日 页
生 效 日 期 页 次
目的：掌握三极管的检验标准，使来料质量更好的符合我公司的品质要求。 适用范围：讯歌科技所使用的三极管。 检验仪器和设备：半导体管特性图示仪、万用表、游标卡尺、锡炉。 检验项目及技术要求 外观:表面无破损，规格、型号标识清楚，无混料，引脚无氧化现象。 结构尺寸：各结构尺寸应符合装配或样品要求。 插件三极管引线脚抗折性：经抗折后，引脚无松动断裂现象。 电气性能：参见附表一。 可焊性：经焊接后，上锡面要求大于 98%。 检验方法 外观:目测法。 结构尺寸:试装或用游标卡尺测量。 插件三极管引脚抗折性:从引脚根部折引脚 900,来回折五次。 电气性能：电气性能测试参见《半导体管特性图示仪操作指导》 。 可焊性:将引脚在锡炉中浸锡 3-5S 后取出（锡炉温度为 245±5℃） 。 缺陷分类（见附表二） 抽样方案
MOS管和三极管检验标准与规范
锡炉
静电环
续表一:
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016-5-23
原材料名称：三极管
页码
4/4
4.特殊项目检验标准及检验方法
4.1三极管材质保证：同一材质物料,供应商须向我司提供原材料出厂材质证明书；每年核查一次，无材质证明书按MA判定处理。
4.2三极管例行检验,老化试验、耐温试验及以上带“★”项目供应商每半年提供一次检测报告于我司；
≤０.５欧合格
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
跨导
gm(s)
一般抽样
用ＵＩ9610ＭＯＳ管分选仪测试
1～4Ｖ合格
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
耐压
Ｖ（ＢＲ）ＤＳＲ（Ｖ）
一般抽样
用ＵＩ9610ＭＯＳ管分选仪测试
体积大的：≥600Ｖ
体积小的：≥70Ｖ
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
可焊性
1-2PCS
√
1.0以上
视力
静电环
引脚
一般抽样
正常光线下检查引脚表面
引脚光亮无氧化现象，无弯曲
现象
引脚灰暗氧化，有弯曲现象
√
1.0以上视力
静电环
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016
原材料名称：三极管
页码
Hale Waihona Puke 3/4检验项目抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
三极管的检测方法
三极管的检测方法1、中、小功率三极管的检测A、已知型号和管脚排列的三极管，可按下述方法来判断其性能好坏(a)、测量极间电阻。
将万用表置于R×100或R×1k挡，按照红、黑表笔的六种不同接法进行测试。
其中，发射结和集电结的正向电阻值比较低，其他四种接法测得的电阻值都很高，约为几百千欧至无穷大。
但不管是低阻还是高阻，硅材料三极管的极间电阻要比锗材料三极管的极间电阻大得多。
(b)、三极管的穿透电流ICEO的数值近似等于管子的倍数β和集电结的反向电流ICBO的乘积。
ICBO随着环境温度的升高而增长很快，ICBO的增加必然造成ICEO的增大。
而ICEO的增大将直接影响管子工作的稳定性，所以在使用中应尽量选用ICEO小的管子。
通过用万用表电阻直接测量三极管e－c极之间的电阻方法，可间接估计ICEO的大小，具体方法如下：万用表电阻的量程一般选用R×100或R×1k挡，对于PNP管，黑表管接e极，红表笔接c极，对于NPN型三极管，黑表笔接c极，红表笔接e极。
要求测得的电阻越大越好。
e－c间的阻值越大，说明管子的ICEO越小；反之，所测阻值越小，说明被测管的ICEO越大。
一般说来，中、小功率硅管、锗材料低频管，其阻值应分别在几百千欧、几十千欧及十几千欧以上，如果阻值很小或测试时万用表指针来回晃动，则表明ICEO很大，管子的性能不稳定。
(c)、测量放大能力(β)。
目前有些型号的万用表具有测量三极管hFE的刻度线及其测试插座，可以很方便地测量三极管的放大倍数。
先将万用表功能开关拨至 挡，量程开关拨到ADJ位置，把红、黑表笔短接，调整调零旋钮，使万用表指针指示为零，然后将量程开关拨到hFE位置，并使两短接的表笔分开，把被测三极管插入测试插座，即可从hFE刻度线上读出管子的放大倍数。
另外：有此型号的中、小功率三极管，生产厂家直接在其管壳顶部标示出不同色点来表明管子的放大倍数β值，其颜色和β值的对应关系如表所示，但要注意，各厂家所用色标并不一定完全相同。
三极管来料检验标准
三极管来料检验标准
三极管是一种常见的半导体器件，广泛应用于电子设备中的放大、开关、稳压等功能。
为了确保生产出质量稳定的三极管产品，对来料进行严格的检验是非常重要的。
本文将介绍三极管来料检验的标准和方法，以帮助文档创作者更好地了解和掌握这一过程。
首先，对于三极管来料检验，我们需要关注以下几个方面：
1.外观检查。
外观检查是最基本的检验步骤之一。
我们需要检查三极管的外壳是否完整，有无损坏或变形，引脚是否齐全，焊接是否良好等。
同时，还需要检查产品标识是否清晰可见，以确保产品的可追溯性。
2.封装参数检查。
三极管的封装参数对其性能有着重要的影响，因此需要对封装参数进行检查。
这包括对封装材料、尺寸、引脚布局等进行检验，以确保符合相关标准要求。
3.电性能检查。
电性能是三极管最重要的指标之一。
在来料检验中，需要对三极管的电参数进行检查，包括静态特性和动态特性。
静态特性包括漏极电流、饱和电压等参数，而动态特性包括开关特性、频率响应等参数。
4.可靠性检查。
可靠性是三极管产品质量的重要保证。
在来料检验中，需要对三极管的可靠性进行检查，包括对温度、湿度、振动等环境条件下的性能进行测试，以确保产品在各种条件下都能正常工作。
综上所述，三极管来料检验标准涉及外观检查、封装参数检查、电性能检查和可靠性检查等多个方面。
只有严格按照相关标准进行检验，才能保证生产出质量稳定的三极管产品。
希望本文能够帮助文档创作者更好地了解和掌握三极管来料检验的标准和方法，以提高产品质量和生产效率。
三极管检验规范
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR 测试仪 数字万用表
检验时，必 须佩带静电
带。
二极管类型
检 测方法
LED 其它二极管
备注
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED 需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极 管不合格。 注：有标记的一端为负极。
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于 1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准（AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 MA
b. 测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位 和数字频率
计
电性检测方法
晶体
检 测方法
32.768KHz 16.934MHz 25.000MHz
判别三极管的好坏三个必须要掌握的“判别方法”
判别三极管的好坏三个必须要掌握的“判别方法”
一、外观检查法
1、检查外观颜色：三极管的外观颜色一般为三种：红色、绿色、黑色，三种颜色分别代表不同的类型，如：红色代表信号管，绿色代表功率管，黑色代表电源管。
2、检查外观龙骨：如果三极管外观的龙骨有拆开、变形、变色、烧焦、损坏等现象，说明三极管已经损坏。
3、检查管壳整体情况：如果三极管管壳有破损、漏电、变形、沾污
等情况，说明三极管可能已经损坏。
二、电性检查
1、管芯横向接触检查：即通过管芯的横向接触点，测量管芯的电性，来判断三极管是否OK。
2、管芯接线端子检查：在检查三极管的有关参数时，要把三极管的
管芯接线端子的电阻及导通电压等参数测量准确，以判断 three legged transistor 的好坏。
3、管芯有关参数检查：通过测量三极管的有关参数，如饱和电压、
开启电压、截止电压、漏电流、集电极放电极关断电压、以及各种电性指标，判断三极管是否OK。
三、功能检查
1、对三极管的功能进行实验测试：使用依据电路图原理和产品功能
设计的测试电路，对三极管的功能进行实验测试，由测试结果来判断三极
管是否OK。
2、测量三极管工作输出参数：测量三极管工作的输出参。
三极管检验标准
文件名称
三极管检验标准
生效日期
贞偶
1 of 1
使用状态
文件编号
版本
A / 0
审核
拟定
目 的
确保本公司电子兀器件---三极管品质符合客户要求。
范 围
适应于电子兀器件---三极管进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次H级正常检验；CR=0 ; MA=1.0 ; Ml=2.5。
检验环境
在正常光源条件下，距离30cm远检验，以及适宜的角度检验广品。
参照标准
1、GB / T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。
序号
检验项目
接收标准
检验方法
及
工具
缺陷才田述
缺陷等级
致命(CR)
严重
(MA )
轻微(MI)
1
放大倍数
3
符合技术要求。
晶体管特 性图示仪
不符合技术要求。
V
2
耐压
VCEO
天作规定时、可』、作，佥验要求。
V
Pin脚残缺、断裂现象。
V
Pin脚无氧化、吃锡良好。
Pin脚有氧化、吃锡不良。
V
Pin脚不能后弯曲成螺旋状、折痕 现 象。
Pin脚后弯曲成螺旋状、折痕 现象。
V
本体丝印
V
尚可辨识。
V
6
尺寸及封 装
符合设计要求。
卡尺
与设计要求不符。
V
7
可焊性
温度在260土10C，时间2S,锡点圆
符合技术要求。
不符合技术要求。
V
3
标识
标识完备、准确，无错误。
目视
三极管检验规范
1.0目的
规范三极管检验标准及检验方法，确保来料符合要求。
2.0范围
适用于小功率三极管的来料品质验证。
3.0定义
Na
4.0责任
4.1IQC负责来料检验；
4.2MRB负责异常物料的处置。
5.0参考：
QP－B－002品质管制程序
6.0程序
6.1抽样方案
依据MIL—STD—105E按LEVELⅡ级标准抽样，样品必须是随机从不同的最好
包装单元中抽取规定数量的样品，不允许只在一个包装单元中抽取样品，除非只
有一个包装单元。
特殊要求另有说明除外。
6.2检验项目及检验标准：
检验目
检验标准
AQL
检验方法
外
观
1、包装内（外）均须有正规标签，且标识一致；
2、表面平整光滑，无破损现象，封装牢固；
3、丝印标识清晰且与外标鉴一致，符合BOM要求；
4、引脚光洁平直，无弯曲、断痕、氧化脱皮现象。
1.0
20cm处目视检测
尺
寸
1、管身尺寸与样品相符，厚度允差±0.05mm;
2、引脚尺寸与样品相符，长度允差±0.1mm，
直径允差±0.05mm，间距允差±0.5mm
0.4
游标卡尺检测
特
性
1、电流放大系数β符合订单要求；
※2、极间反向电流，符合分供方技术资料（Icbo、Iceo）；
※3、极限参数符合分供方技术资料
（pcm）集电极最大耗散功率
（Icm）集电极允许过最大电流
U（br）ceo C-E极击穿电压
4、管脚可焊性良好。
0.4
△精确万用表测量β
△可焊性试验用锡炉检测
带※号表示此项暂不检测
晶体三极管检验标准
晶体三极管
1、适用范围：适用于我公司生产电子镇流器及同类型产品中采用晶体三极管的基本要求、
检验方法、检查水平(IL)、可接收质量水平（AQL）、检验规则。
并按相应规定将各种规格三极管进行选择。
3．主要技术参数测试
3.1晶体三极管的主要技术参数是在环境温度为25±2℃下测试，若环境温度有变化，应根据温度差异相应改变电参数的测试结果。
3．3三极管相关额定值与电参数特性表3
4．检验方法
4.1外观用目测检验,应有正常视力。
4.2晶体三极管芯片面积检验需要破开塑料封装，在基板找到一块正方形硅晶片，与原
样板对比判定。
4.3电特性与最大额定值测试，用QT2晶体管特性图示仪或UI9600A晶体管热敏参数筛
选仪检验，不同的晶体三极管按3.2的要求设置仪器的测试条件，测试结果按3.3的要求进行判定。
4.4结温测试 Tj（℃）,用QT2晶体管特性图示仪抽查检验.
5．验收规则
5.1对元器件用游标卡尺或电参数测量部分，每批次记录20-100个数据，合格与不合格
数据必须如实记录，以便于查证。
5.2凡经检验不合格的批材料，有必要时可重复检验一次，合格可接收。
依然不合格，具体。