万用表测量晶振
晶振频率测量方法
晶振频率测量方法嘿，咱今儿就来聊聊晶振频率测量方法这档子事儿。
你知道不，晶振就好比电子设备的心跳，那频率可重要啦！要是这频率出了岔子，那整个设备都可能乱了套。
要说测量晶振频率啊，有好几种办法呢。
就像咱挑水果，得看看它红不红、甜不甜。
比如说，可以用计数器来测。
这就好像是个细心的记数员，一下一下地数着晶振发出的脉冲，然后算出频率来。
你想想，是不是挺形象的？还有示波器也能派上用场。
它就像个超级眼睛，能把晶振的信号看得清清楚楚，通过观察波形的变化，也能知道频率是多少。
那这些方法容易不？嘿嘿，其实也没那么难。
就跟你学骑自行车似的，一开始可能会晃悠几下，但多练几次不就会啦？测量晶振频率的时候可得细心点，不能马马虎虎的。
这可不是闹着玩的，要是测错了，那后面的事儿可就麻烦啦！咱再打个比方，晶振频率就像是一首歌的节奏，你得准确抓住那个节拍，才能跟着一起摇摆。
要是节奏都错了，那还怎么摇摆得起来呢？而且不同的晶振可能需要不同的测量方法哦，就像不同的人有不同的性格，得用不同的方法去对待。
你说，要是咱不把晶振频率搞清楚，那电子设备会不会发脾气罢工呀？在实际操作中，还得注意一些小细节呢。
比如说环境要稳定，不能有太多干扰，不然测出来的结果能准吗？总之呢，测量晶振频率可不是一件随随便便的事儿，得认真对待，选对方法，注意细节。
这样才能准确地知道晶振的频率，让电子设备好好地工作。
咱普通人可能觉得晶振频率挺神秘的，但只要咱去了解，去尝试，就会发现也没那么难理解嘛。
就像解开一道谜题，刚开始觉得摸不着头脑，等找到了线索，不就豁然开朗啦？所以啊，别害怕晶振频率测量，大胆去尝试吧！你难道不想知道那些小小的晶振里藏着怎样的秘密频率吗？。
万用表测晶振起振的方法
万用表测晶振起振的方法万用表是电工中常用的工具，其功能和使用范围非常广泛。
其中，测量晶振的起振频率也是日常工作中经常需要用到的一项技能。
今天我们就来探讨一下万用表测晶振起振的方法。
1. 确定测量方案晶振起振是指晶体振荡器在正常工作时，输出一定的稳定频率。
而测量起振频率常常需要将晶振与外部电路连接起来。
因此，在测量之前，需要思考测量方案。
一般来说，如果晶振输出为正弦波，则可以将晶振输出端连接到万用表上进行测量。
如果输出为方波或矩形波，则需要使用频率计进行测量。
2. 连接晶振与万用表在连接晶振与万用表时，需要先将万用表设置到交流电压档位，并选择量程。
将晶振的输出端连接到万用表的电压钳子上，注意连接的稳定性，避免测量间隙、测量器具损坏或读数不稳定。
同时，若晶振有多个输出端，需要选择合适的输出端，以确保正常测量。
3. 设置万用表显示万用表的电压档位设置影响测量的灵敏度，选择较高的电压档位则对测量精度影响较大。
选择较低的档位对测量但读数影响较大。
因此，在连接晶振与万用表时，需要根据晶振输出的电压范围和万用表的电压档位设置合适的电压档位，以保证测量结果的准确性。
4. 开始测量连接好万用表和晶振之后，就可以开始测量了。
打开电源，观察万用表指针或显示屏的读数，可以获得晶振的起振频率。
如果显示屏显示的数值不稳定，可以将量程调整到较低档位，再进行测量。
此外，如果发现测量结果异常，可以进行多次测量，并将结果取平均值，以提高测量精度。
总之，测量晶振起振频率是电工中不可避免的一项技能。
合理的测量方案、稳定的连接和合适的仪器操作都是保证测量结果准确的前提条件。
希望本文能为大家提供一些有用的参考呢！。
用万用表测量晶体振荡器是否工作的方法
用万用表测量晶体振荡器是否工作的方法：测量两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是51单片机的+5V则是否是2.5V左右。
另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的。
这只是证明晶振是在工作的，另外晶振的频率及频差等参数就要专业的仪器测量了。
在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量，特别是负载电容(CL)很低的时候。
晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度，一般来说这样的要求不切实际，成本太高，因此技术人员又开发了几种负载谐振频率测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。
我们下面先对各种方法作一比较。
负载谐振频率测量法1. 计算法根据IEC 444规定，被测器件(DUT)在约±45°对其动态参数进行测量，负载谐振频率根据±45°数据“计算”得到。
该方法的优点在于被测器件在相对较低阻抗即接近25Ω处进行测量，因此测试对寄生分量的软件补偿要求相对简单。
它的缺点在于被测器件不是在最终使用条件下进行测试，即不在相移等于规定的CL/FL处进行测试，如果晶振性能严格遵循四器件模型(图1)，那么这个方法也是可以接受的，但当晶振是非线性时(即不符合四器件模型)，FL的测量就不够精确(图2)。
如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。
那么晶振的线性度究竟有什么影响呢？从电路应用观点来看，只要晶振有一稳定(可重复)明确的阻抗-频率曲线，并且在振荡器中功能正常，它就是一个好晶振，是不是线性没有关系，非线性晶振并不意味着是一个坏晶振。
晶振好坏的判定方法
晶振好坏的判定方法晶振是现代电子设备中常用的一种元器件，它具有稳定输出频率的特点，因此在数字电路、计算机、通信等领域得到广泛应用。
那么如何判定一个晶振的好坏呢？下面就介绍几种晶振好坏的判定方法。
1. 观察晶振外观和标识晶振一般有明显的型号、频率等标识，这些标识应清晰可见，没有模糊或掉色现象。
此外，晶振的体积、形状、引脚排列等方面也应符合规格要求。
如果外观和标识存在问题，那么很可能是质量不好的产品。
2. 用万用表测试参数用万用表测试晶振的参数如频率、阻抗、寄生电容等，这些参数的测量值应该在规定范围内。
如果测量值过大或过小，就说明晶振质量有问题。
特别注意的是，万用表测试时应选择合适的档位防止烧毁。
3. 应用软件测试在实际应用中，可以使用适当的测试软件对晶振进行测试。
例如，可以用示波器观察晶振产生的波形是否稳定、周期是否准确；也可以使用频率计测量晶振输出的频率是否稳定等。
如果测试结果不符合要求，说明晶振有问题。
4. 参考经验在行业内，有一些经验可以用来判断晶振的好坏。
例如，看晶振品牌是否有口碑，看晶振的产地和生产厂家是否有认证等。
这些信息可以从官方网站、相关论坛等渠道获取。
总之，判断晶振是否好坏需要综合考虑多方面因素，同时需要具备一定的专业知识和实践经验。
如果不确定自己的判断结果，可以向专业人士咨询。
晶振的好坏直接影响到整个电路的稳定性，因此在使用晶振时需要对其质量进行判断。
以下详细介绍几种判断方法：1. 观察晶振外观和标识在购买晶振时，首先要仔细观察晶振的外观和标识。
晶振一般有明显的型号、频率等标识，这些标识应清晰可见，没有模糊或掉色现象。
此外，晶振的体积、形状、引脚排列等方面也应符合规格要求。
如果外观和标识存在问题，那么很可能是质量不好的产品。
2. 用万用表测试参数用万用表测试晶振的参数也是一种常见的判断方法。
万用表测试时可以选择阻抗档、电容档或者电压档进行测试。
测试晶振的频率、阻抗、寄生电容等，这些参数的测量值应该在规定范围内。
如何判断晶振好坏
如何判断晶振好坏1 用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电；再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的；若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
(引自网上,请注意安全,未经证实)2.用数字电容表（或数字万用表的电容档）测量其电容，一般损坏的晶振容量明显减小（不同的晶振其正常容量具有一定的范围，可测量好的得到，一般在几十到几百PF3 贴近耳朵轻摇，有声音就一定是坏的（内部的晶体已经碎了，还能用的话频率也变了）4 测试输出脚电压。
一般正常情况下，大约是电源电压的一半。
因为输出的是正弦波（峰峰值接近源电压），用万用表测试时，就差不多是一半啦。
5 用代换法或示波器测量。
晶振在应用具体起到什么作用微控制器的时钟源可以分为两类：基于机械谐振器件的时钟源，如晶振、陶瓷谐振槽路；RC（电阻、电容）振荡器。
一种是皮尔斯振荡器配置，适用于晶振和陶瓷谐振槽路。
另一种为简单的分立RC振荡器。
基于晶振与陶瓷谐振槽路的振荡器通常能提供非常高的初始精度和较低的温度系数。
RC振荡器能够快速启动，成本也比较低，但通常在整个温度和工作电源电压范围内精度较差，会在标称输出频率的5%至50%范围内变化。
但其性能受环境条件和电路元件选择的影响。
需认真对待振荡器电路的元件选择和线路板布局。
在使用时，陶瓷谐振槽路和相应的负载电容必须根据特定的逻辑系列进行优化。
具有高Q 值的晶振对放大器的选择并不敏感，但在过驱动时很容易产生频率漂移（甚至可能损坏）。
影响振荡器工作的环境因素有：电磁干扰（EMI）、机械震动与冲击、湿度和温度。
这些因素会增大输出频率的变化，增加不稳定性，并且在有些情况下，还会造成振荡器停振。
上述大部分问题都可以通过使用振荡器模块避免。
这些模块自带振荡器、提供低阻方波输出，并且能够在一定条件下保证运行。
最常用的两种类型是晶振模块和集成RC振荡器（硅振荡器）。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是一种电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如电子钟、计算机、通信设备等。
为了确保晶振的质量和性能符合要求，需要进行晶振的检验工作。
本文将介绍晶振检验的作业指导，包括检验的目的、检验的方法和步骤，以及检验结果的判定标准。
二、检验目的晶振检验的目的是验证晶振的质量和性能是否符合产品要求，以确保晶振在实际使用中的稳定性和可靠性。
通过检验，可以排除不合格产品，提高产品质量，减少故障率，提升用户满意度。
三、检验方法和步骤1. 外观检验1.1 检查晶振的外观是否完整，无明显损伤或变形。
1.2 检查晶振的焊接是否牢固，无焊接异常或焊点断裂。
1.3 检查晶振的引脚是否正常，无弯曲或断裂。
1.4 检查晶振的标识是否清晰可见，无模糊或脱落。
2. 电性能检验2.1 使用万用表测量晶振的静态电阻，应符合产品规格要求。
2.2 使用示波器测量晶振的振荡频率，应符合产品规格要求。
2.3 使用频谱仪测量晶振的谐波失真和杂散频率，应符合产品规格要求。
3. 温度特性检验3.1 将晶振置于温度控制箱中，逐渐升高或降低温度。
3.2 在每个温度点上，使用示波器测量晶振的振荡频率。
3.3 将测得的振荡频率与产品规格要求进行比较，判断晶振的温度特性是否符合要求。
4. 震动和冲击检验4.1 将晶振固定在振动台上，进行不同频率和幅度的振动测试。
4.2 将晶振固定在冲击试验机上，进行不同冲击强度的冲击测试。
4.3 检查晶振在振动和冲击测试过程中是否出现异常，如频率偏移、断裂等。
四、检验结果的判定标准根据产品的规格要求，对晶振的检验结果进行评判。
一般来说，晶振的外观应完整无损，焊接牢固，引脚正常；电性能应符合规格要求，如静态电阻、振荡频率等；温度特性应在规定的温度范围内稳定；震动和冲击测试应无异常。
若晶振在任何一个方面不符合规格要求，则判定为不合格产品。
五、注意事项1. 检验过程中要保证操作人员的安全，避免电击、烫伤等事故。
万用表检测电子元件经验技巧
8.电位器的好坏判别
先测电位器的标称阻值。用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点)，其读数应为电位器的标称值，如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏。再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，此时电阻应越小越好，再徐徐顺时钟旋转轴柄，电阻应逐渐增大，旋至极端位置时，阻值应接近电位器的标称值。如在电位器的轴柄转动过程中万用表指针有跳动瑚象，描踢活动触』点接触不良。
电解电容器极性的判断方法：指针万用表测量电解电容器的漏电电阻，并记下这个阻值的大小，然后将表笔对调，在测电容器的漏电电阻，将两次所测的阻值对比，漏电电阻小的一次黑表笔所接触的就是正极。
10.判别红外接收头引脚
万用表置R×1k挡，先假设接收头的某脚为接地端，将其与黑表笔相接，用红表笔分别测量另两脚电阻，对比两次所测阻值(一般在4～7k Q范围)，电阻较小的一次其红表笔所接为+5V电源引脚，另一阻值较大的则为信号引脚。反之，若用红表笔接已知地脚，黑表笔分别测已知电源脚及信号脚，则阻值都在15kΩ以上，阻值小的引脚为+5V端，阻值偏大的引脚为信号端。如果测量结果符合上述阻值则可判断该接收头完好。
万用表检测常见电子元器件经验技巧
1.测整流电桥各脚的极性
万用表置R×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10kΩ，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。
2.判断晶振的好坏
取一个容量大于100“F的电解电容器(容量越大，现象越明显)，先用万用表R×100挡对其充电，黑表笔接电容正极，红表笔接负极，充电完毕后，黑表笔改接电容负极，将被测发光二极管接于红表笔和电容正极之间。如果发光二极管亮后逐渐熄灭，表明它是好的。此时红表笔接的是发光二极管的负极，电容正极接的是发光二极管的正极。如果发光二极管不亮，将其两端对调重新接上测试，还不亮，表明发光二极管已损坏。
晶振简介
晶振的类型
怎样判断晶振是好的?
1.用万用表直接测量晶振阻值,阻值为零或 者比较小,肯定坏了. 2.接入工作电路.如果晶振两引脚间的电压 为工作电压的一半,说明晶振起振了,但它是 实际频率是否正常,是无法确定的. 3.用示波器测量.同步得到其振荡曲线,从而 得到晶振频率的粗略数值,大致可以确定晶 振是否正常工作.
晶振简介
报告人
2019/5/31
晶振全称晶体整荡器.以下是其实物图:
晶振结构图
当晶体的切割 面受到应力时 ,两个相对面 会产生电势差 ,这就是压电 效应.
同样,当给晶体两个面加上电压是,也会引起晶 体的机械形变. 不妨看做晶体是一个储能器,可以实现机械能 与电能的相互转换.
晶振的等效电路
晶振等效于一个LC与电容的并联,其中电阻R用 于代替晶体振动因摩擦而引发的损耗. 晶振与LC电路类似, 当外加交变电压的频率为某 一特定值时,振幅明显加大,比其他频率下的振幅 大得多,这种现象称为压电谐振.这个频率也就是 晶体的谐振频率. 基于这一特性,晶振可用于提供稳定的时钟信号.
Any more information please give some questions
晶振应用到哪些地方?
晶振实际中如何工作?
石英表的动力源是电池,时间频率由石英振荡器提供, 一类是控制步进马达,再由齿轮机构传递到指针机构 指示时间;一类是直接控制电子线路,由显示器显示数 字指示时间.
晶振最重要的应用
CPU主频:即CPU内核工作的时钟频率. 举个例子,某个CPU的主频为1MHz,表示其时钟周 期为10-6 s(T=1/f),此CPU最短可在10-6 s执行一 条指令,理论上,此CPU可以在1s内执行106 指令. 因此不要求太精确的话,可用CPU主频来衡量 CPU的性能. 有人可能会问:为啥需要个时钟周期 来限定指令 执行呢?一条接一条地执行指令效率不是更高吗?
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万用表测量晶振
2009-07-20 22:00
小技巧：没有示波器情况下如何测量晶振是否起振?
可以用万用表测量晶振两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是5V则测出的是否是2.5V左右。
另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的. 小窍门：就是弄一节1.5V的电池接在晶振的两端把晶振放到耳边仔细的听，当听到哒哒的声音那就说明它起振了，就是好的嘛！
1.电阻法
把万用表拨在R×10K挡，测量石英晶体两引脚间的电阻值应为无穷大。
如果测量出的电阻值不是无穷大甚至接近于零，则说明被测晶体漏电或击穿。
这种办法只能测晶体是否漏电，如果晶体内部出现断路，电阻法就无能为力了，此时必须采用下面介绍的方法
2 .自制测试器
按图所示电路，焊接一个简易石英晶体测试器，就可以准确地测试出晶体的好坏。
图中XS1、XS2两个测试插口可用小七脚或小九脚电子管管座中拆下来的插口。
LED发光管选择高亮度的较好。
检测石英晶体时，把石英晶体的两个管脚插入到XS1和XS2两个插口中，按下开关SB，如果石英晶体是好的则由三极管VT1、C1、C2等元器件构成的震荡电路产生震荡，震荡信号经C3耦合至VD2检波，检波后的直流信号电压使VT2导通，于是接在VT2集电极回路中的LED发光，指示被测石英晶体是好的，如果LED不亮，则说明被测石英晶体是坏的.本测试器测试石英晶体的频率很宽，但最佳工作频率为几百千赫至几十兆赫。
晶振原理（转载）
2008-08-19 18:08
振原理作者 louguofa 日期 2006-11-28 23:00:00
今天调电路碰到了一些关于晶振的问题，又重新翻了一遍晶振的相关知识：
无源晶体与有源晶振的区别、应用范围及用法：
1、无源晶体——无源晶体需要用DSP片内的振荡器，在datasheet上有建议的连接方法。
无源晶体没有电压的问题，信号电平是可变的，也就是说是根据起振电路来决定的，同样的晶体可以适用于多种电压，可用于多种不同时钟信号电压要求的 DSP，而且价格通常也较低，因此对于一般的应用如果条件许可建议用晶体，这尤其适合于产品线丰富批量大的生产者。
无源晶体相对于晶振而言其缺陷是信号质量较差，通常需要精确匹配外围电路（用于信号匹配的电容、电感、电阻等），更换不同频率的晶体时周边配置电路需要做相应的调整。
建议采用精度较高的石英晶体，尽可能不要采用精度低的陶瓷警惕。
2、有源晶振——有源晶振不需要DSP的内部振荡器，信号质量好，比较稳定，而且连接方式相对简单（主要是做好电源滤波，通常使用一个电容和电感构成的PI型滤波网络，输出端用一个小阻值的电阻过滤信号即可），不需要复杂的配置电路。
有源晶振通常的用法：一脚悬空，二脚接地，三脚接输出，四脚接电压。
相对于无源晶体，有源晶振的缺陷是其信号电平是固定的，需要选择好合适输出电平，灵活性较差，而且价格高。
对于时序要求敏感的应用，个人认为还是有源的晶振好，因为可以选用比较精密的晶振，甚至是高档的温度补偿晶振。
有些DSP内部没有起振电路，只能使用有源的晶振，如TI 的6000系列等。
有源晶振相比于无源晶体通常体积较大，但现在许多有源晶振是表贴的，体积和晶体相当，有的甚至比许多晶体还要小。
几点注意事项：
1、需要倍频的DSP需要配置好PLL周边配置电路，主要是隔离和滤波；
2、20MHz以下的晶体晶振基本上都是基频的器件，稳定度好，20MHz以上的大多是谐波的（如3次谐波、5次谐波等等），稳定度差，因此强烈建议使用低频的器件，毕竟倍频用的PLL电路需要的周边配置主要是电容、电阻、电感，其稳定度和价格方面远远好于晶体晶振器件；
3、时钟信号走线长度尽可能短，线宽尽可能大，与其它印制线间距尽可能大，紧靠器件布局布线，必要时可以走内层，以及用地线包围；
4、通过背板从外部引入时钟信号时有特殊的设计要求，需要详细参考相关的资料。
此外还要做一些说明：
总体来说晶振的稳定度等方面好于晶体，尤其是精密测量等领域，绝大多数用的都是高档的晶振，这样就可以把各种补偿技术集成在一起，减少了设计的复杂性。
试想，如果采用晶体，然后自己设计波形整形、抗干扰、温度补偿，那样的话设计的复杂性将是什么样的呢？我们这里设计射频电路等对时钟要求高的场合，就是采用高精度温补晶振的，工业级的要好几百元一个。
特殊领域的应用如果找不到合适的晶振，也就是说设计的复杂性超出了市场上成品晶振水平，就必须自己设计了，这种情况下就要选用晶体了，不过这些晶体肯定不是市场上的普通晶体，而是特殊的高端晶体，如红宝石晶体等等。
更高要求的领域情况更特殊，我们这里在高精度测试时采用的时钟甚至是原子钟、铷钟等设备提供的，通过专用的射频接插件连接，是个大型设备，相当笨重。
、晶振：即所谓石英晶体谐振器和石英晶体时钟振荡器的统称。
不过由于在消费类电子产品中，谐振器用的更多，所以一般的概念中把晶振就等同于谐振器理解了。
后者就是通常所指钟振。
2、分类。
首先说一下谐振器。
谐振器一般分为插件（Dip）和贴片（SMD）。
插件中又分为HC-49U、HC-49U/S、音叉型（圆柱）。
HC-49U一般称49U，有些采购俗称“高型”，而HC-49U/S一般称49S，俗称“矮型”。
音叉型按照体积分可分为3*8，2*6，1*5，1*4等等。
贴片型是按大小和脚位来分类。
例如7*5（0705）、6*3.5（0603），5*3.2（5032）等等。
脚位有4pin和2pin之分。
而振荡器也是可以分为插件和贴片。
插件的可以按大小和脚位来分。
例如所谓全尺寸的，又称长方形或者14pin，半尺寸的又称为正方形或者8pin。
不过要注意的是，这里的14pin和 8pin都是指振荡器内部核心IC的脚位数，振荡器本身是4pin。
而从不同的应用层面来分，又可分为OSC(普通钟振)， TCXO（温度补偿），VCXO（压控），OCXO（恒温）等等。
3、基本术语。
我想这也是很多采购同学比较模糊的地方。
这里我选了一些常用的谐振器术语拿来做一下解释。
Frequency Tolerance（调整频差）：在规定条件下，在基准温度（25±2℃）与标称频率允许的偏差。
一般用PPm（百万分之）表示。
Frequency Stability(温度频差)：指在规定的工作温度范围内，与标称频率允许的偏差。
用PPm 表示。
Aging（年老化率）：在规定条件下，晶体工作频率随时间而允许的相对变化。
以年为时间单位衡量时称为年老化率。
Shunt Capacitance（静电容）：等效电路中与串联臂并接的电容，也叫并电容，通常用C0表示。
Load Capacitance（负载电容）：与晶体一起决定负载谐振频率fL的有效外界电容，通常用CL
表示。
晶振的负载电容=[(Cd*Cg)/(Cd+Cg)]+Cic+△C式中Cd,Cg为分别接在晶振的两个脚上和对地的电容,Cic（集成电路内部电容）+△C（PCB上电容）经验值为3至5pf。
一般最关注的参数有2个，即调整频差，负载电容。
有一部分对温度频差有要求。
如果工作温度范围比较广，则会对工作温度范围有所要求，即所谓宽温。
4、选用。
主要讲讲谐振器。
理论上来说，只要参数确定，选任何一种型号都是可以正常使用的。
例如49U和49S替换，49S和圆柱以及和贴片替换，都是没有问题的。
但在实际选择中会根据电路特点，成本以及便利性来考量和选择。
一般来说，简单的应用中主要都是从成本在考虑。
但是有些产品或者电路会对晶振的等效电阻，激励功率等等提出要求，所以就会在不同的型号中加以选择。
另外，贴片则主要是为了适应产品日益小型化和提高生产效率的要求。
听到有些采购朋友说，只能选49S而不能用49U或者反之，这是一个小误区。
呵呵。
而钟振的选择则主要决定产品电路的特性的要求，一般来说钟振在精密性以及需要达到相关应用的要求会更好。
例如手机，通信机站，卫星等等。
晚上才回来看到你的问题。
先回答一个，呵呵
1谐振器和钟振他们的却别在于谐振器是最简单的没有任何补偿的振荡器，而我们通常说的钟振是由一个谐振器加上ic组成一个回路而实现其自身的功能。
以 vcxo为例：压控晶体振荡器（VCXO）是通过红外加控制电压使振荡效率可变或是可以调制的石英晶体振荡器。
VCXO主要由石英谐振器、变容二极管和振荡电路组成，其工作原理是通过控制电压来改变变容二极管的电容，从而“牵引”石英谐振器的频率，以达到频率调制的目的。
VCXO大多用于锁相技术、频率负反馈调制的目的。
而决定如何选用也应该很清楚了吧？。