介电材料性能测试
材料的电学性能与测试方法
材料的电学性能与测试方法引言：材料的电学性能是指材料在电场或电流作用下的响应和性质。
了解材料的电学性能对于材料的研究和应用具有重要意义。
本文将介绍几种常用的测试材料电学性能的方法。
一、电导率测试方法电导率是衡量材料导电性能的重要指标，其测试方法如下：1. 电导率测量仪器：使用四探针测试仪或电导率仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料切割成适当的样品尺寸，保持样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将四个电极按照规定的间距连接到材料上，并确保电极与材料之间的良好接触。
最后，通过测试仪器施加电流并测量电压，根据欧姆定律计算得出材料的电导率。
二、介电常数测试方法介电常数是材料在电场中对电场强度的响应能力，测试方法如下：1. 介电常数测量仪器：使用恒流恒压法或绝缘材料测试仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料加工成平板状或柱形状样品，保证样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将测试仪器中的电极引线与样品连接，确保电极与材料的良好接触。
接下来，在测试仪器中施加电流和电压，测量得到材料的介电常数。
三、热释电测试方法热释电是指材料在电场作用下产生的热能释放，其测试方法如下：1. 热释电测量仪器：使用热释电测试仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料切割成适当的样品尺寸，保持样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将样品放置在测试仪器中，施加电场。
测试仪器会测量样品在电场下产生的温升，根据温升和已知的电场强度计算得出材料的热释电性能。
四、电阻温度系数测试方法电阻温度系数是指材料电阻随温度变化的程度，其测试方法如下：1. 电阻温度系数测量仪器：使用四探针测试仪或电阻测量仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料切割成细丝或片状样品，保持样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将四个电极按照规定的间距连接到样品上，并确保电极与材料之间的良好接触。
接下来，在测试仪器中施加电流并测量电阻，随后在不同温度下重复测量电阻值。
最后，根据电阻值和温度变化计算得出材料的电阻温度系数。
介电测试的原理及应用
介电测试的原理及应用1. 简介介电测试是一种用于研究固体、液体以及气体等材料电介质性质的测试方法。
通过对材料进行电场作用，测量其对电场的响应，以获得材料的介电性能参数。
本文将介绍介电测试的基本原理，并介绍其在电子、通信、能源等领域的应用。
2. 介电测试原理介电测试基于介电材料在外加电场中的行为，通过测量材料的电容和电阻等参数来研究其介电性质。
下面是介电测试的基本原理：2.1 电介质极化当介电材料处于外加电场中时，其分子或原子会受到电场的极化作用。
这种极化可以是定向排列或者是异向排列的。
定向极化是指介电材料内的分子或原子在电场作用下由于定向排列而导致的极化，而异向极化是指介电材料内的分子或原子在电场作用下由于非定向排列而导致的极化。
2.2 介电常数和介质损耗介电常数是一个反映介电材料导电性能的重要参数。
在外加交变电场中，介电材料会发生介质损耗，即电能消耗和转化为热能的过程。
介质损耗可以通过介电材料的复电容和复介电常数来描述，其中复电容和复介电常数是实部和虚部的复数。
2.3 介电弛豫和极化机制介电测试还可以研究介电材料的弛豫现象和极化机制。
弛豫是介电材料在电场作用下，分子或原子由于外加电场的改变而产生的瞬时性极化，并且随着时间的推移逐渐恢复到原来的状态。
极化机制是指介电材料内部极化过程的具体机理，比如电子极化、离子极化和空穴极化等。
3. 介电测试的应用介电测试在许多领域都有着重要的应用，以下是几个典型的应用场景：3.1 电子行业在电子行业中，介电测试被广泛应用于电子元器件的研发和生产过程中。
通过测量电容、介电常数和介质损耗等参数，可以评估电子元器件的性能和可靠性，并优化设计和制造工艺。
3.2 通信行业在通信行业中，介电测试常用于光纤通信系统中的光缆和光纤材料的质量检测。
通过测量光缆材料的介电常数和介质损耗，可以判断光缆的传输性能和损耗情况，并确保光纤通信系统的正常运行。
3.3 能源行业在能源行业中，介电测试被广泛应用于电池和储能设备的研发和生产中。
材料的电学性能测试实验报告
材料的电学性能测试,实验报告实验报告：材料的电学性能测试一、引言材料的电学性能是决定其在不同应用中的关键因素。
本实验报告主要介绍几种基本的电学性能测试方法，包括电阻率测试、绝缘电阻测试和介电常数测试，并通过具体实验示例对这些方法进行详细阐述。
二、实验材料与方法1.电阻率测试电阻率是衡量材料导电性能的参数，可通过四探针法进行测量。
四探针法的基本原理是：当四个探针在材料上施加一定的电流时，通过测量两对探针之间的电压降，可以计算出材料的电阻率。
2.绝缘电阻测试绝缘电阻是衡量材料绝缘性能的重要参数，可采用直流电压源和电流表进行测量。
基本原理是：在材料两端施加一定的直流电压，然后测量流过材料的电流大小，通过计算可得材料的绝缘电阻值。
3.介电常数测试介电常数是衡量材料介电性能的参数，可采用LCR数字电桥进行测量。
LCR数字电桥具有测量精度高、读数稳定等优点。
基本原理是：在材料上施加一定频率的交流电压，测量通过材料的电流及相位差，通过计算可得材料的介电常数值。
三、实验结果与分析1.电阻率测试结果与分析在本次实验中，我们选取了铜、镍和铝三种材料进行电阻率测试。
实验结果表明，铜的电阻率最低，具有良好的导电性能；而铝和镍的电阻率较高，相对而言导电性能较弱。
2.绝缘电阻测试结果与分析在本次实验中，我们选取了聚乙烯、聚氯乙烯和橡胶三种材料进行绝缘电阻测试。
实验结果表明，橡胶的绝缘电阻最高，具有最好的绝缘性能；而聚乙烯和聚氯乙烯的绝缘电阻相对较低，相对而言绝缘性能较弱。
3.介电常数测试结果与分析在本次实验中，我们选取了聚酰亚胺、聚碳酸酯和聚酯三种材料进行介电常数测试。
实验结果表明，聚酰亚胺的介电常数最高，具有较好的介电性能；而聚酯的介电常数相对较低，相对而言介电性能较弱。
四、结论本次实验通过电阻率测试、绝缘电阻测试和介电常数测试三种方法对不同材料的电学性能进行了评估。
实验结果表明：在导电性能方面，铜具有最好的导电性能，而铝和镍相对较弱；在绝缘性能方面，橡胶具有最好的绝缘性能，而聚乙烯和聚氯乙烯相对较弱；在介电性能方面，聚酰亚胺具有较好的介电性能，而聚酯相对较弱。
电介质陶瓷材料的介电性能测试及性能优化
电介质陶瓷材料的介电性能测试及性能优化介电性能是电介质陶瓷材料的关键物理特性之一。
它衡量了材料在电场作用下的响应能力和电介质材料在电场中存储电能的能力。
了解和优化电介质材料的介电性能对于研发高性能电子器件，如电容器和电子陶瓷元件，具有重要意义。
本文将讨论电介质陶瓷材料的介电性能测试以及性能优化方法。
首先，介电性能测试是评估电介质陶瓷材料性能的关键步骤。
常用的测试方法包括介电常数（εr）和介电损耗（tanδ）的测量。
介电常数是材料在电场中存储电能的能力的衡量，它指示了材料对电场的响应程度。
介电损耗则表示了材料在电场中能量损失的程度。
这两个参数通常使用电桥或矢量网络分析仪进行测量。
通过测试介电常数和介电损耗，我们可以了解电介质陶瓷材料的电性能及其适用性。
其次，性能优化是提高电介质陶瓷材料应用效果的关键。
以下是一些优化方法：1. 材料组成与配比优化：通过调整陶瓷材料的成分和配比，可以改变其晶体结构和微观结构，从而影响材料的介电性能。
例如，添加掺杂剂或调整烧结工艺可以减小晶粒尺寸，提高晶界阻抗，从而降低介电损耗。
2. 烧结工艺优化：烧结过程对材料的微观结构和性能有重要影响。
通过优化烧结工艺参数，如温度、时间和压力等，可以改善材料的致密性、晶粒尺寸和晶界结构，从而改善介电性能。
3. 表面处理与界面设计：材料的表面和界面特性可以影响其介电性能。
通过表面处理、涂覆或界面调控等方法，可以改善材料的界面特性，提高其界面状态和界面粘结能力，从而提高介电性能。
4. 成品后处理：部分材料在制备过程中，存在一些缺陷，如氧化物含氧量不足等。
在成品后处理阶段，可以使用氧化、还原或烧结再处理等方法来优化电介质陶瓷材料的性能。
5. 添加纳米颗粒：添加纳米颗粒可以改变电介质陶瓷材料的晶体结构和微观结构，从而改善其介电性能。
纳米颗粒的添加可以增加晶界数量，减小晶界宽度，从而增加晶界阻抗，提高材料的介电常数和降低介电损耗。
此外，纳米颗粒的表面效应还可以增强材料的界面特性，提高电介质材料的性能。
介电性能的测量原理.ppt
d D12
管状试样
r2110Cx lnrL2r10.0181012C Lxlnrr1 2
介质损耗角正切（tanδ)的测定
通过测量试样的等效参数经计算求得，也 可在仪器上直接读取。
工频、音频下一般都采用电桥法测量，高 电压时采用西林电桥法。
西林电桥法
电桥平衡时
tanC4R4
CxCNR R4 3 1tan2CNR R4 3
C N ——标准电容 C 4 ——可调电容 R 4 ——固定电阻 R 3 ——可调电阻
当频率为几十千赫到几百兆赫范围时，可用 集总参数的谐振法进行测量，如图所示
击穿电场强度测定
绝缘材料的击穿电场强度以平均击穿电场强
度
E
表示
B
EB
uB d
u B ——击穿电压
d ——试样的平均厚度
击穿电压可用静电电压表、电压互感器、放电球隙 等仪器并联于试样两端直接测出。
击穿电压很高时，需采用电容分压器。
冲击电压下的击穿电场强度测试，一般用冲击电压发 生器产生的标准冲击电压施加于试样，逐渐升高冲击电 压的峰值直至击穿。
冲击电压可用50%球隙放电法，也可用阻容分压器加 上脉冲示波器或峰值电压表测量。
9、春去春又回，新桃换旧符。在那桃花盛开的地方，在这醉人芬芳的季节，愿你生活像春天一样阳光，心情像桃花一样美丽，日子像桃子一样甜蜜。 2020/12/102020/12/10Thursday, December 10, 2020
谐振回路法
测量范围：40KHZ～200MHZ
测量原理： 依据谐振回路的谐振特性进行测量的。根 据谐振时角频率ω与回路的电感、电容之间 的特定关系式，求得Cx和tanδX。
阻抗矢量法
电介质材料的介电性能测试
电介质材料的介电性能测试电介质材料在电子器件和电力系统中具有重要的应用，其介电性能是评价材料质量和可靠性的重要指标。
介电性能测试是通过一系列测试方法和仪器来评估电介质材料在电场作用下的性能，包括介电常数、介质损耗、绝缘电阻等参数。
本文将简要介绍电介质材料的介电性能测试方法及其应用。
一、介电性能测试方法1. 介电常数测试介电常数是描述电介质材料在电场作用下储存和传输电能能力的重要参数。
常用的测试方法有：（1）并行板法：该方法通过测量电容器的电容值来计算电介质材料的介电常数。
具体步骤是将待测介质固定在两块平行金属板之间，然后测量电容器的电容值。
（2）回波法：该方法基于微波信号在电介质中传播的速度，通过测量信号的传输时间来计算介电常数。
测试时需要利用衰减器和定频放大器等设备，以确保测试结果的准确性。
2. 介质损耗测试介质损耗是指电介质材料在电场作用下吸收和转化电能为热能的能力。
常用的测试方法有：（1）三角法：该方法通过测量电介质材料在高频电场下的导体损耗和介质损耗之比来计算介质损耗的值。
具体步骤是将待测介质固定在电容器之间, 通过改变电容器的频率来测量两种损耗的值。
（2）传输线法：该方法利用特制的传输线测量电介质材料在特定频率下的损耗。
测试时需使用网络分析仪等仪器，通过测量信号的功率损耗来计算介质损耗的值。
3. 绝缘电阻测试绝缘电阻是指电介质材料在电场作用下抵抗漏电流流动的能力。
常用的测试方法有：（1）绝缘电阻表法：该方法通过将待测电介质样品与电极相连，用绝缘电阻表测量电介质材料的绝缘电阻值。
测试需在规定的电压和温度条件下进行。
（2）恒压法：该方法通过给待测电介质样品施加较高的电压来测量绝缘电阻值。
测试时需使用电压源和电流表等设备，以实现电介质样品上常态电流的测量。
二、介电性能测试的应用1. 电子器件领域介电性能测试在电子器件领域中具有重要应用。
例如，在电容器的制造过程中，通过测试介质材料的介电常数和介质损耗，可以评估电容器的质量和性能稳定性。
超导材料的介电特性测试与分析方法
超导材料的介电特性测试与分析方法引言：超导材料是一类具有极低电阻和完全抗磁性的材料，具有广泛的应用前景。
了解超导材料的介电特性对于研究其物理性质和开发新型超导器件至关重要。
本文将介绍超导材料的介电特性测试与分析方法，包括介电常数、介电损耗和介电强度等方面的测试技术。
一、介电常数测试方法介电常数是衡量材料对电场响应的能力的物理量，对于超导材料的电性能研究非常重要。
常见的介电常数测试方法包括静电法、交流电桥法和微波法等。
1. 静电法静电法是一种简单且常用的介电常数测试方法。
该方法通过测量材料在外加电场下的电荷分布情况来确定介电常数。
实验中，可以使用电容测量仪测量材料在不同电场强度下的电容值，然后根据电容和电场强度的关系计算出介电常数。
2. 交流电桥法交流电桥法是一种精确测量介电常数的方法。
该方法利用电桥平衡原理，通过调节电桥的参数使得电桥两侧电压相等，从而测量出材料的介电常数。
这种方法适用于高频范围内的介电常数测试。
3. 微波法微波法是一种用于测量高频范围内介电常数的方法。
该方法利用微波传输线的特性，通过测量材料对微波的传输和反射来确定介电常数。
微波法具有高精度和宽频带的特点，适用于研究超导材料的介电特性。
二、介电损耗测试方法介电损耗是材料在电场作用下能量损耗的量度，对于超导材料的电性能评估和应用具有重要意义。
常见的介电损耗测试方法包括电桥法、谐振法和热解法等。
1. 电桥法电桥法是一种常用的介电损耗测试方法。
该方法通过测量材料在交流电场下的电阻和电容值，从而计算出介电损耗。
实验中，可以使用电桥测量仪测量材料的电阻和电容，然后根据电阻和电容的关系计算出介电损耗。
2. 谐振法谐振法是一种用于测量介电损耗的方法。
该方法利用谐振电路的特性，通过测量谐振电路的频率和带宽来确定材料的介电损耗。
谐振法适用于高频范围内的介电损耗测试。
3. 热解法热解法是一种测量介电损耗的非接触方法。
该方法利用材料在交变电场下的热解现象，通过测量材料的温度变化来确定介电损耗。
介电性能的测量原理
电导时tan与频率ω的关系
介电损耗的形式
电介质在电场作用下，内部通过的电流包括：
（1）电容电流：由样品的几何电容充电引起电流（位 移电流）；
（2）吸收电流：由松弛极化引起，是介质在交变电压 作用下引起介质损耗的主要来源； （3）漏电电流：由介质电导引起，与自由电荷有关， 使介质产生电导损耗。
电介质在电场作用下具体损耗的能量主要包括：
电桥平衡时
tan C4 R4
R4 Cx CN R3 R4 1 tan CN R 3
2
CN
C4
——标准电容 ——可调电容
西林电桥法
R4
R3
——固定电阻
——可调电阻
当频率为几十千赫到几百兆赫范围时，可用 集总参数的谐振法进行测量，如图所示
击穿电场强度测定
绝缘材料的击穿电场强度以平均击穿电场强 度 EB 表示 uB EB d
2
s
u 2 I S ln D2 D1
管状试样
u2 L g v = r I v ln 2 r 1
u 2 r2 s IS g
电极材料可用粘贴铝箔、导电橡皮、真空镀铝、胶体石墨等
相对介电常数（εｒ）测试
相对介电常数通常是通过测量试样与电极组成 的电容、试样厚度和电极尺寸求得。
场强度E之比ε= D/E ，其单位为F/m 。
介电常数小的电介质，其分子为非极性或弱极性结构， 介电常数大的电介质，其分子为极性或强极性结构。
介电常数是表征电介质的最基本的参量，是衡量电介 质在电场下的极化行为或储存电荷能力的参数。
电介质电容、介电常数 真空电容 C0=Q0/V=0s/d 电介质电容 C=Q/V=ros/d 相对介电常数 εr = C/C0
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
分数：
评卷人：
研究生《电子技术综合实验》课程报
告
题目：
学号
姓名
专业
指导教师
院（系、所）
年月日
电子材料的体电阻与表面电阻测量
一、实验目的
使用三电极系统测量介电材料的绝缘电阻（体电阻率与表面电阻率）；了解受潮对材料表面电阻的影响。
二、实验原理
绝缘电阻是施加于绝缘体上两个导体之间的直流电压于流过绝缘体的泄漏电流之比，即：
R=U/I
R------绝缘电阻（Ω）
U------直流电压（V）
I-------泄漏电流（A）
在某一绝缘试样上加一恒定电压V，则无论在该材料的体内和表面都有电流流过，这时流过材料的电流I由流过材料体内的体电流IV和流过材料表面的表面电流IS两部分组成。
加在试样上的电压V与通过它的漏电流I的比值称为该材料的的绝缘电阻，以R表示。
恒定电压V与体电流之比称为该试样的体电阻以RV表示，恒定电压V与表面电流之比称为该试样的表面电阻以RS表示。
绝缘电阻
影响绝缘电阻的诸因素
（1）温度：温度升高时体积电阻率呈指数式下降。
（2）湿度：绝缘体吸潮以后，电阻率要明显下降。
（3）电场强度：电场强度很高时，绝缘电阻下降。
（4）辐照的影响：在光照条件下，绝缘电阻率明显下降。
三、实验内容
1.测量环氧树脂板（干）的体电阻及表面电阻
2.测量2.205mm厚云母片。
四、实验步骤
1、接好电源线和测试线
2、确保电源为220V/50Hz，将测试线（红线为高压线接红线柱，屏蔽线接电流输入端）与测试器件连接好，根据不同的测量可使用不同得电极；连接测试样品时要关电源，以防测试电压电人。
3、量程置于104档
4、选择合适的测量电压
5、接通电源
6、调零
在Rx开路的情况下，调零是电流表的显示为0000，注意：在“Rx”
两端不开路，如接在电阻箱或被测物体上时调零后测量会产生很大的误差。
一般
一次调零后测试过程中不需要再调零。
（1）将被测试样品置于三电极箱中，并按下图接线
（2）测量体电阻是，三电极箱如图2-3（a）接线，高阻及高压输出（红）接圆
盘电极，高阻计电流输入端（芯线）接圆柱电极，高阻计地（黑，屏蔽线）接圆
环电极。
盖上屏蔽盒，将屏蔽盒前面板上的Rv与Rs开关拨向RV
测量体电阻Rv和表面电阻Rs的接线示意图
（3）将测试电压选择开关置于所需要的测试电压档（本次实验不超过100V）
（4）测量时从低档位逐渐拨向高档位，每拨一次稍停留1~2秒钟，以便观察所
显示的数字。
当被测电阻大于仪器量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器
拨到量程更高的位置。
当测量仪器有显示时应停下，当前的数字表读数乘以量程
档次即为被测电阻值
（5）测试完毕将量程开关拨至“104”档后关闭电源。
（6）测量表面电阻时，三电极按图1（b）接线，高阻计高压输入（红）接圆环
电极，高阻计电流输入端（芯线）接圆柱电极，高阻计地（黑,屏蔽线）接圆盘
电极。
盖上屏蔽盒，将屏蔽盒前面板上的Rv与RS开关拨向RV。
重复步骤（4）～
（5）。
(7) 测量试样的总电阻。
将RV、RS开关拨向RV处，只用上、下电极而不用
保护电极（圆环电极）。
这样就成为二电极系统，其他操作与测RV相同。
五、数据记录
样品名称厚度Rv（V）RS（V）Iv（A）IS（A）
云母片 2.205mm0.557×10¹³0.997×10¹²19.48×10¹³11.12×10¹²
每一试样所测得的RV、RS按下述公式计算出ρv、ρS
其中：t：试样厚度（cm）；D1：圆柱电极直径5.0（cm）；D2：圆环电极内径5.4（cm）,2dm=D1+D2。
六、数据处理
样品名
称
Rv Rsρv ρs ζv ζs R计
云母片0.557×
10¹³0.997×
10¹²
53.62
×10¹³
165.9×
10¹²
0.1864
×10ˉ¹⁴
6.0277
×10ˉ¹⁵
0.846×
10¹²
由上数据结果知道此云母片的电阻很大，由于只是对这个试验了解，所以做了一组实验没有作对比试验所以不知道干湿度对电阻率的影响。
介电常数及损耗与频率的关系
一、实验目的
了解几种介质材料的介电系数(ε)和介质损耗角正切(tagδ) 的频率特性；了解电容介质材料在各种频率范围内的测量方法和熟悉Q表的使用；了解接线的长短对介电系数和损耗角正切测量准确度的影响。
二、实验原理
1、Q表简介及其工作原理
Q表是利用谐振效应来测量电路参数的多用途测量仪器。
它能测量电感或谐振回路的Q值、电感器的电感量及其分布电容量、电容器的电容量和损耗角、电工材料的高频介质损耗、高频回路的有效并联及串联电阻、传铜线的特征阻抗等。
2、用谐振法来测量试品的电容Cp是根据谐振回路的谐振条件来求得的。
测量时要调谐两次，先是不接试样，谐振条件为:
然后接入试品，调节可调电容使回路出现谐振，即C的两端电压达到最大，这时谐振条件为：
试品的电容Cp可从接和不接试品两次谐振时，调谐电容C的变化量ΔC来求得。
三、实验内容
选择合适频率一定厚度一定的电感测量它在不同接线下的电容变化、电感变化。
四、实验步骤
①选一个适当的谐振电感接到仪器上方的接线柱“LX”的两端；
②利用仪器左上角偏下的频率增减按钮和仪器中部偏左下方的频率调谐数码开关（细调）调节信号源的频率（本实验频率与谐振电感一一对应）
③将仪器右上角左边的微调电容旋钮调至零，右边的主调电容器旋钮调到最大值附近。
调节主调电容器旋钮，缓慢减小电容值，使测试回路谐振（此时仪器中部
的Q值调谐指示指针读数最大），令此时的电容值为C1（读数见主调谐旋钮上方的C、L指示表），令谐振器Q的读数为Q1（读数见仪器中上方的Q值数码管）；如果被测电容是小数值的，C1应该调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的分辨率；
④将被测电容器接在仪器顶端的接线柱“CX”两端，调节主调电容器旋钮，使测试回路再次谐振。
令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。
⑤将第④步的接线改变为两根，调节主调电容器旋钮，使测试回路再次谐振。
令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。
反复此步骤将接线接到四根为止。
⑥将第⑤步的电感型号换一下继续按照第⑤步测量一组数据作为对比。
五、数据记录及处理
计算公式：
1、被测电容器的电容值：
2、圆形介质的介电系数：
其中h为电极厚度，D为电极直径3、损耗角正切：
D=50mm h=2.205mm
电感型号频率线
数
L C1 Q1 C2 Q2 CX tgδε
LK-2 9MHZ 1 1.079MH 305.6P 253.6 289.8P 228.6 15.8 0.0083 1.003uf/mm
2 1.102MH 283.7P 159.9 21.9 0.0322 1.39uf/mm
3 1.124MH 278.2p 107.3 27.
4 0.0599 1.74uf/mm
4 1.164MH 268.6P 74.6 37 0.0781 2.349uf/mm LK-9 900khz 1 105.2MH 313.3P 230.2 297.5P 203.6 15.8 0.0112 1.003uf/mm
2 107.1MH 291.8P 192.8 21.5 0.0122 1.365uf/mm
3 108.7MH 287.5P 189.0 25.8 0.011
4 1.638uf/mm
4 113.1MH 276.3P 163.0 37 0.0152 2.349uf/mm
六、实验结果总结
由以上数据处理可以看到当导线条数的增加对测量结果影响显著，首先它的介电损耗随着导线数增加而增加，测量的电感量也增大，同时它的介电系数也增加。
从而导线长短对测量结果显著影响，从而应该适当减小导线长度来减少实验误差。