亚像素定位方法的研究
基于空间矩的圆标记中心亚像素定位算法

E[
π/2 , π/2J 。令 f(x , y) 为图像灰度函数。
M' lO =
JJ
x f' (x ,
y) 削 y二
ud均二
si 口。
j L:L~二 川ydz+ j 呻日
l-xJ
-snψR 卜吁才
k[ (1- 2R2 - 2Rl- f
)sinψ+
(R+ l) (R" arcsin
立~ + ~~
S1 口。
参阅文献 [7J ,假设模板直径为 n , 则式 (9) 的亚像
3
3. 1
仿真实验
理想测试图像的生成
根据文献 [8J 的理想边缘生成方法,可获得图 3 所示的理想圆测试图像,测试图像的半径为 20
素边缘检测公式分别变为
ZF 二 z士手 lcos8; y' 二 y士 fl白
综上所述,圆标记边缘检测步骤如下:
然后通过式(3)求参数 k , 最后通过式 (2) 得到参
数 h 。如果 h 大于阔值 T ,且 l< 12忧,用对应的
公式 (0) 计算亚像素边缘点。
图 3
理想圆测试图像
Fig.3
Ideal test image for circle
Step4 :返回 Stepl 取下一个像素点,直到检
测完所有的边缘像素。
测量的一种重要手段。为了实现亚像素测量精 度,常在被测对象上制作圆标记,并通过亚像素技
术定位标记中心。灰度重心法 [3J 是圆标记中心定
位中得到较多应用的亚像素技术,该算法计算量
小但精度不高。圆曲线拟合算法 [4J 也常被用于圆
线由率增加时边缘的定位精度变差,导致圆标记 中心的定位误差变大。为了提高圆标记中心的定
亚像素精度的行星中心定位算法

亚像素精度的行星中心定位算法陈阔;冯华君;徐之海;李奇;陈跃庭【摘要】为实现深空探测中对行星目标的光学自主导航,提出了亚像素精度的行星中心定位方法.首先,建立了导航相机和目标行星的坐标变换关系,结合光学成像理论分析了行星成像的边缘特性;提出使用行星图像有且仅有的一段半圆形边缘,通过圆拟合法实现行星的中心定位.然后,根据行星图像的边缘分布特征,改进了Canny算法以快速提取行星的真实边缘,并利用最大距离法提取半圆形边缘.最后,分析了传统高斯函数亚像素边缘检测算法的理论依据,基于成像理论提出了改进型高斯函数亚像素边缘检测算法,并通过圆拟合求得行星的亚像素中心.仿真和月亮实拍实验显示,改进型定位算法的精度达到了0.02和0.68 pixel,比传统插值算法约高0.03和0.21 pixel,在可靠性、定位精度、抗噪声等方面均满足深空探测的需要.%To realize the autonomous optical navigation of planets in deep space exploration,a planetary center measurement method with sub-pixel accuracy was presented,Firstly,the coordinate transformation between a navigation camera and a target planet was established.According to optical imaging theory,the edge characteristics of a planetary image were ing the only one semi-circle edge of the planetaryimage,planetary center was measured through circle fitting.Then,according to the edge distribution characteristics of the planetary image,the real semi-circle edge of planet was extracted by modified Canny algorithm and the longest distance method.Finally,the theory basis of traditional sub-pixel edge detection algorithm was analyzed based on Gaussfitting,improved subpixel edge detection algorithm based on Gauss fittingwas presented according to imaging theory and the sub-pixel center of planet was obtained through circular curve fitting.In simulation experiment and moon testing experiment,the accuracies of modified algorithm are 0.02 and 0.68 pixels,which are higher about 0.03 and 0.21 pixels than that of traditional algorithm.It can satisfy the requirement of deep space exploration for reliability,positioning accuracy and noise immunity.【期刊名称】《光学精密工程》【年(卷),期】2013(021)007【总页数】10页(P1881-1890)【关键词】深空探测;行星中心;边缘检测;亚像素;圆拟合【作者】陈阔;冯华君;徐之海;李奇;陈跃庭【作者单位】浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027;浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027;浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027;浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027;浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027【正文语种】中文【中图分类】TP751.11 引言近年来,人类在卫星应用和载人航天领域取得了重大成就,并在此基础上展开了深空探测方面的研究。
光学测量精度中图像亚像素定位研究

光学测量精度中图像亚像素定位研究打开文本图片集【摘要】测量的高精度是测量的难点和重点。
利用光测进行各种精密测量时,主要有三个环节对测量精度起到关键影响:①摄像系统的物面分辨率;②摄影系统的标定(如光心、光轴和焦距等内外系统参数)和误差修正精度;③图象中目标的定位精度。
在光测数字图像处理领域,可以利用软件处理的方法来解决图像中目标的高精度定位问题。
如果能用软件将图像上的特征目标定位在亚像素级别,就相当于提高了测量系统精度。
例如,当算法的精度为0。
1个像素,则相当于测量系统的硬件分辨率提高了10倍。
因此,对图像中目标进行高精度的定位成为提高光学测量系统的重要环节,本文对光测中的亚像素定位进行了研究。
【关键词】高精度精密测量亚像素定位亚像素算法一、亚像素定位背景在测量视场一定的条件下,提高光学测量系统精度最直接的方法就是提高CCD摄像机分辨率,即增加像素点阵数。
然而这种提高硬件分辨率的代价是相当昂贵的。
并且在图像传输速度和图像存储容量方面大大增加了对系统的要求。
因此,通过提高硬件分辨率的方法来提高测量精度是受到限制并且是不经济的。
对图像中目标进行定位是基于图像的精密测量和运动测量中最基本和最重要的任务之一。
对目标进行定位通常要经过两个步骤:目标识别和目标定位,也可称为目标粗定位和目标精定位。
目标识别或初定位是指在其中一特定的图像区域内确认是否有待测目标存在,或者确认待测目标在其中一特定的区域内。
现已有大量目标识别方面的算法,特别是在计算机视觉和模式识别领域有大量相关的工作,因此在测量粗定位应用中可以直接参考借鉴这些算法。
我们将重点放在精定位,即亚像素定位技术上。
采集到的图像在计算机里是由表示像素灰度值的一个矩阵来表示的,所以如果将计算建立在像素的级别上,那么从理论上来讲图像的位置精度也不可能超过像素级别,也就不能达到高精度的要求,亚像素法是为了提高图像的识别的精度而提出的一种超过图像分辨率的定位方法。
基于二次曲线拟合的图像亚像素边缘定位算法

普通图像的灰度值分布如图 1a 所示 ,图中灰度 值的渐变部分为边缘引起的灰度值变化 . 图像灰度 值的变化 ,即差分值的分布如图 1b 所示 , 灰度差分 值相等的部分分别为背景和物体 . 由于光学元器件 的采样 、 光学衍射作用以及光学系统的像差 ,导致物 空间剧变的灰度值经光学成像成为渐变的形式 . 成 像物体在边缘处的差分值最大 , 这是经典边缘提取 的原理 . 根据中心极限定理 ,最后得到的边缘灰度值 变化应当是高斯分布 , 如图 1b 和图 2 所示 . 在图 2 中 ,曲线的顶点对应边缘点的精确位置 .
∫(A x
- 3 /2
- 1 /2
2
+ B x + C ) dx =
1 - 2 3 - 2
1 3 1 2 A x + B x + Cx 3 2 26 A - B +C 24
= ( 3)
同样可6 A +B + C 24
( 4) ( 5)
联合式 ( 3 ) ~ ( 5 ) , 可解出 A、 B、 C 的表达式为 1 ( f 1 + f- 1 - 2 f 0 ) A = 2 1 ( f 1 - f- 1 ) B = 2 1 ( 26 f0 - f- 1 - f 1 ) C = 24 抛物线顶点的横坐标值为 x = - B / 2A, 将上面 值代入可得 : 考虑到计算的效率 , 使用二次曲线来代替高斯 曲线 . 由于二次曲线是高斯曲线的高次逼近 ,由此引 起的计算误差将远小于其他因素引起的误差 .
[8] [9] [ 10 ]
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数字图像相关中亚像素位移测量算法的研究

数字图像相关中亚像素位移测量算法的研究一、本文概述随着数字图像处理技术的不断发展,亚像素位移测量在众多领域如工程监测、医学影像分析、机器视觉等方面扮演着日益重要的角色。
亚像素位移测量是指对图像中物体微小移动距离的精确计算,其精度往往高于像素级别,对于提高测量精度、优化系统性能具有重要意义。
本文旨在探讨数字图像相关中亚像素位移测量算法的研究现状与发展趋势,分析不同算法的原理、特点及应用场景,以期为推动相关领域的技术进步提供理论支持和实践指导。
本文首先将对亚像素位移测量算法的基本概念进行阐述,明确研究范围和目标。
接着,将详细介绍几种经典的亚像素位移测量算法,包括基于灰度梯度的方法、基于插值的方法、基于频域分析的方法等,并分析它们的优缺点及适用范围。
在此基础上,本文还将探讨新兴算法如深度学习在亚像素位移测量中的应用,展望未来的发展方向。
本文旨在通过深入研究和对比分析,为数字图像相关中亚像素位移测量算法的优化和创新提供理论支撑和实践指导,推动相关领域的技术进步和应用拓展。
二、亚像素位移测量算法原理亚像素位移测量算法是数字图像相关领域中一种重要的技术,其主要目标是在像素级别以下的精度上测量和分析物体的位移。
这种技术在很多领域都有广泛的应用,如材料科学、生物医学工程、机器视觉等。
传统的像素级位移测量算法通常只能提供整数像素级别的精度,这对于许多需要高精度位移测量的应用来说是不够的。
因此,亚像素位移测量算法应运而生,它可以通过插值、拟合或者其他优化技术,将位移测量精度提高到像素级别以下,从而提高测量精度和可靠性。
亚像素位移测量算法的原理主要基于灰度相关法。
灰度相关法是一种通过比较两幅图像之间的灰度分布来计算物体位移的方法。
在亚像素级别上,这种方法需要对像素灰度值进行插值,以获取更精细的灰度分布信息。
常见的插值方法包括线性插值、双线性插值、双三次插值等。
在亚像素位移测量算法中,通常会使用迭代优化技术来寻找最佳的位移参数。
亚像素定位的方法

亚像素定位的方法亚像素定位(sub-pixel positioning)是一种用于精确测量和定位像素图像中物体位置的方法。
传统的像素定位方法只能得到物体相对于像素边界的位置,而亚像素定位可以更准确地测量物体的位置,提高像素级别测量的精确性。
1.亚像素插值法:亚像素插值法是一种基于图像插值的方法,通过对像素值进行插值,来得到亚像素级别的物体位置。
最常用的插值方法是双线性插值法和双三次插值法。
双线性插值法是一种基于二次多项式插值的方法。
它假设图像的物体是光滑的,并通过在物体周围构建一个二次多项式来估计物体位置。
通过计算该二次多项式的最大值来确定亚像素级别的物体位置。
双三次插值法是一种基于三次多项式插值的方法。
它比双线性插值法更精确,但计算复杂度也更高。
它通过构建一个三次多项式来估计物体位置,并通过计算该三次多项式的最大值来确定亚像素级别的物体位置。
2.亚像素势能法:亚像素势能法基于图像的灰度变化,将物体位置的测量问题转化为一个最小化能量函数的问题。
它通过迭代的方式,调整物体位置的估计,直到能量函数达到最小值。
亚像素势能法通常包括两个步骤:能量函数计算和优化算法。
能量函数计算是根据图像灰度的变化率来计算物体的位置。
优化算法是用于能量函数的最小值,常用的算法包括梯度下降法和估计最大值法。
3.亚像素相关法:亚像素相关法是一种基于相关性匹配的方法,通过计算物体在不同位置的图像块之间的相似度,来确定物体的亚像素级别位置。
亚像素相关法可以通过计算相关系数、互相关函数、相位相关等方式进行测量。
亚像素相关法通常包括两个步骤:特征提取和相关性计算。
特征提取是用于提取图像中物体的特征,如边缘、颜色、纹理等。
相关性计算是用于计算物体在不同位置的图像块之间的相似度,通过最大化相关性来确定物体的亚像素级别位置。
总结起来,亚像素定位是一种通过图像插值、势能优化和相关性匹配等方式,来提高像素级别测量精度的方法。
不同的方法适用于不同的应用场景,选择适合的亚像素定位方法可以提高测量的准确性和精确度。
基于亚像素边缘检测的圆定位技术的研究与应用

基于亚像素边缘检测的圆定位技术的研究与应用张璐;孔凡国【摘要】In the process of visual positioning of the automatic plug-in machine, in view of the requirement of fast and high precision positioning requirement for the circular location hole in the printed circuit board (PCB), the rough location of the target area is first made by the template matching method, and the target area of the coarse positioning is set as the region of interest (ROI), and then through image preprocessing technology, the edge profile of location holes is obtained.Subsequently, the edge detection based on Zernike moment is used to extract sub-pixel edges. Finally, a robust and high accuracy least square fitting circle method is adopted to obtain the central coordinate of the reference point. The experimental results show that the total time spent by the automatic plug-in machine vision positioning system is about 120 ms, and the average positioning error is about 0.1 pixel,which meet the requirements of the rapid plugging-in of the automatic plug-in machine.%在自动插件机视觉定位过程当中,针对印刷电路板(PCB)圆形定位孔需要快速高精度定位的要求,首先利用模板匹配法进行目标区域的粗定位,将粗定位的目标区域设置为感兴趣区域(ROI),然后通过图像预处理技术获取定位孔的轮廓边缘.在此基础上,采用Zernike矩亚像素边缘检测技术进一步提取边缘的亚像素点,最后采用一种稳健高精度最小二乘拟合圆方法来计算基准圆中心坐标.实验结果表明,自动插件机视觉定位系统总体所耗时间大约120 ms,定位误差均值为0.1像素,满足自动插件机快速精密插件的要求.【期刊名称】《五邑大学学报(自然科学版)》【年(卷),期】2018(032)002【总页数】7页(P60-66)【关键词】自动插件机;模板匹配;Zernike矩;亚像素边缘;稳健最小二乘法【作者】张璐;孔凡国【作者单位】五邑大学机电工程学院,广东江门 529020;五邑大学机电工程学院,广东江门 529020【正文语种】中文【中图分类】TH161;TP29插件机就是将一些规则的电子元器件自动标准地插装在印制电路板导电通孔内的机械设备. 其中工位点定位算法对中心坐标的获取是最关键的一步,直接影响插件工作的正常运行[1]. 识别定位工位点的算法主要有圆变换法[2]、灰度重心法、曲线拟合法等. 也有一些只针对标准制作的圆形基准点定位的方法,如文献[3]利用探针法粗定位圆形基准点的目标区域,然后利用权重几何距离法圆拟合进行精确定位. 但该方法对一些无标准基准点却只有定位通孔的PCB不适用. 文献[4]利用图像的不变矩判断基准点的存在,并用点模式匹配法计算其位置偏差,但该方法难以辨别出复杂污损图片真正的基准点. 文献[5]提出的圆心亚像素定位算法利用基于随机抽样一致的最小二乘法来抑制边缘突变点,采用基于高斯拟合的亚像素边缘检测算法来提高算法精度,使其达到0.1个像素,但该算法不能从复杂背景中提取出圆心区域,且算法耗时较多,无法实时应用. 灰度重心法简单易实现、速度快,但容易受噪声、光照不均的影响. 曲线拟合法当中,最小二乘法最简单通用、误差小、计算速度快,广泛应用于各个领域,但图像采集过程复杂的背景、变化大的光照条件等,会对圆形边缘的提取产生严重的干扰. 当存在边缘噪声点或者伪边缘时,直接利用最小二乘法拟合圆形边缘轮廓会出现较大偏差,并导致插件失败. 基于此,本文研究了如何快速、鲁棒、高精度地定位到非标准的PCB定位孔的系统算法,即将粗定位技术与精密定位技术实时结合,以保证插件过程的准确性和高效性.虽然自动插件机所要生产的PCB种类繁多、视场背景复杂,但其视场区域大小不会改变,故传送带上PCB所在的位置变化不大. 利用模板匹配法对基准圆区域进行粗定位,以获取含有圆形孔的感兴趣区域. 首先需要创建待插件PCB的标准模板,一般而言,模板越小其响应速度越快,综合考虑算法的运行时间与定位效果,当目标区域占模板大小的30%~50%时,定位效果最佳. 常用的模板匹配算法有:归一化平方差匹配法、归一化相关匹配法、归一化相关系数匹配法[6].归一化平方差匹配法利用平方差来进行匹配,值越接近于0匹配越好:归一化相关匹配法采用乘法操作,数值越大表明匹配程度越好:归一化相关系数匹配法中1表示完美匹配;-1表示最差匹配:对上述3种算法进行PCB样本图片的测试验证发现,归一化相关系数匹配法的效果最佳. 本文采用此算法对目标区域进行提取,获得如图1所示的定位孔位置(右上角矩形方框表示). 本PCB定位孔并不是标准的基准点,且位置靠近PCB边缘处,定位孔特征如下:1)其外圈有白色实线圆;2)中间白色区域为通孔,可透射下方亮板的光线.粗定位采集到的图像边缘模糊且包含了许多无用的背景,这会对后期的高精度定位造成影响,因此滤除不必要的背景是非常必要的.高斯滤波能够很好地抑制噪声,其运算速度和平滑效果能够达到自动插件机图像预处理的要求. 本文采用模板大小为9×9的高斯滤波器进行图像平滑处理,其公式为:式中,为高斯函数分布系数,分别为行坐标与列坐标. 滤波过程可以用卷积表示:形态学中的开运算在图像处理中有一个特性就是当使用一个圆形或矩形的结构元时,它能够去除图像中那些比结构元小的区域,而保留比结构元大的区域. 图2-a为从图1中提取出来的感兴趣区域(ROI),通孔所透射的光线在图像上所呈现的形态是一个光亮圆形区域;根据图像定位孔区域的大小本文采用的圆形结构元,利用自适应阈值处理技术对图像进行分割得到二值图像(图2-b);对二值图像进行开运算处理得到图2-c. 比较可见,开运算处理的图像能够准确地将定位孔区域提取出来.为了后续的亚像素边缘轮廓提取,需要先提取像素级别的定位孔轮廓边缘,以便运用稳健最小二乘算法来拟合圆心坐标、求取半径. 经典边缘检测算子有:算子、算子、算子、算子. 本文选择最优检测算子算子,其算法步骤如下:1)利用二维高斯滤波器对灰度图像进行滤波平滑;2)运用算子计算梯度大小和方向;3)对图像梯度幅值进行非极大值抑制;4)用双阈值算法检测和连接边缘[7-8].亚像素边缘提取算法主要有矩方法、拟合法和插值法[9-10]. 综合各亚像素边缘检测算法的特点,基于精度优先、效率次之的原则,本文选择基于矩的亚像素边缘检测算法. 矩算子利用图像的各阶正交矩获取每个像素点的4个有关参数,以此判断其是否为亚像素边缘点.阶跃边缘模型如图3所示,4个有关参数:表示阶跃边缘灰度差,表示边缘一侧背景灰度值,表示原点到边缘的最小距离,表示与轴的夹角[11-14].对于表示的灰度图像,像素点的4个参数计算公式如下:式中,和分别为各阶矩,其中为复数矩,、分别为其虚部和实部,而为边缘顺时针旋转后的矩.若某确定为边缘点,则可计算对应的亚像素坐标:式中,为模板尺寸. 根据自动插件机控制系统的总体要求,采用的矩模板算子来获取定位孔亚像素边缘.亚像素边缘提取之后,仍然不可避免地会残留一些干扰边缘及伪边缘点. 在高精度拟合过程中必须去除这些干扰,以得到最佳的圆形边缘轮廓. 本文以一般最小二乘拟合圆为基础,利用一种稳健最小二乘拟合圆算法[15]来实现精密定位. 算法通过计算拟合数据点的正交距离残差来去除离群点,具体步骤如下:1)最小二乘法初步拟合亚像素边缘点,以获得圆心坐标及半径的初始值.2)计算亚像素边缘数据样本点与1)所获得的圆心坐标之间的距离,再减去1)得到的半径值,得残差距离,然后计算残差距离的标准差.3)遍历各亚像素样本数据点,若则删除此离群点,否则保留.4)将去除离群点之后的数据重新进行最小二乘圆拟合,更新圆心坐标及半径值. 5)重复步骤2-4),直到所有的,迭代终止.为检验本文算法的有效性,利用计算机生成不同程度缺陷的图像,圆心坐标为(275.5,274.5). 由于篇幅所限,仅列出如图5所示的4组图,图中十字形标记为拟合圆圆心所在的位置,圆圈为所拟合的圆,可以看出,本文算法拟合效果良好. 表1显示了定位算法的实验结果(仅列10组数据). 由表1数据可知:1)算法对噪声以及干扰点具有高效的鲁棒性;2)图像质量的好坏会影响定位精度,当缺陷不大或噪声很少时,定位误差在0.05个像素以下;当图像质量严重不好时,定位误差达0.2个像素,误差均值为0.1个像素.在亚像素边缘提取过程中还是会出现一些干扰及边缘缺陷,直接利用这些数据拟合圆心坐标难免会造成偏差,所以就需要通过稳健最小二乘拟合圆算法来剔除干扰点以便进行最后的拟合定位.用圆变换算法、无亚像素边缘检测的最小二乘算法以及本文算法对PCB图像进行定位实验,所得圆心坐标见表2. 图6为3种方法的定位效果图:图6-a为圆变换定位图,其定位检测的圆为同心圆的外圆,圆心坐标有些偏离中心;图6-b圆心坐标稍微偏左;图6-c拟合效果更好.自动插件机的运行不仅对精度有要求,对插件效率也有一定的要求. 我们对系统算法性能进行总体测试,实验条件如下:计算机处理器为Intel core i5-6200U CPU @,内存,软件平台为Visual Studio 2013、Opencv 2.4.9. 自动插件机视觉定位系统的运行时间大约在,平均定位精度在0.1个像素以内.本文研究的针对PCB定位孔的算法具有速度快、鲁棒性强、定位精度高的特点,其良好性能体现在:1)针对背景复杂、PCB种类繁多的问题,模板匹配算法能够快速地找到目标区域,对PCB图像上光照强度均匀变化以及旋转角度较小的情况,其适应性较强.2)在提取定位孔区域的过程中,针对感兴趣区域中的噪声及小物体采用开运算去除这些干扰.3)在轮廓边缘检测中,利用基于矩的亚像素边缘检测算法来提高算法精度;采用稳健最小二乘法对虚假边缘点和噪声点进行抑制.本文算法具有较好的定位效果,并能较好地抑制噪声等干扰问题,对电子元器件组装行业提高生产效率、降低工人劳动强度有着实际的应用价值. 但本算法对PCB旋转角度较大的情况以及图像缩放并不具备鲁棒性,后续将会对旋转缩放的图像匹配算法进行研究.【相关文献】[1] 黄震,顾启民.高精度机器视觉插件系统的研究与应用[J]. 组合机床与自动化加工技术,2014(10): 105-108.[2] 曾友,高健,岑誉. 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亚像素定位方法的研究

亚像素定位方法的研究基于插值的亚像素定位是最常见和简单的方法之一、该方法通过对图像进行插值处理来提高定位精度。
最常用的插值方法是双线性插值和双立方插值。
在这些方法中,首先通过对像素值进行加权平均来计算亚像素级别的像素值,然后再进行物体位置估计。
这种方法的优点是简单快速,但在处理图像边缘和细节时可能会出现模糊和误差较大的问题。
基于优化算法的亚像素定位是一种更为精确的方法。
该方法通过在图像中物体位置来减小误差,并通过优化算法来获得更精确的定位结果。
常用的优化算法包括最大似然估计、卡尔曼滤波和粒子滤波等。
通过这些算法的迭代优化,可以达到亚像素级别的定位精度。
这种方法的优点是适用性强,精度高,但计算复杂度较高,耗时较长。
亚像素定位方法的研究涉及到很多关键技术。
首先是图像预处理技术,包括去噪、增强和尺度归一化等。
这些技术可以提高图像质量,减小误差,并为后续的亚像素定位提供更准确的输入。
其次是亚像素插值技术,这是基于插值的亚像素定位的核心技术,可以通过对像素值进行加权平均来得到亚像素级别的像素值。
还有最优化算法的选择和设计,这是基于优化算法的亚像素定位的关键技术,需要根据具体的问题来选择合适的算法,并进行算法参数的调整和优化。
亚像素定位方法在很多领域都有广泛的应用,比如机器视觉、图像测量和目标跟踪等。
在机器视觉领域,亚像素定位可以用于实现物体的准确定位和跟踪,从而实现自动识别和分析。
在图像测量领域,亚像素定位可以用于测量物体的尺寸和形状等参数,提高测量精度。
在目标跟踪领域,亚像素定位可以用于实时跟踪物体的位置和速度,实现目标跟踪和预警。
总结起来,亚像素定位方法是一种提高图像定位精度的重要技术。
通过亚像素插值和优化算法的研究和应用,可以实现更精确的物体位置测量和跟踪。
随着计算能力的提高和算法的不断优化,亚像素定位方法的研究和应用将会越来越受到关注,并有望在更多的领域发挥重要作用。
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亚像素检测方法的研究
摘 要
精确的确定数字图像位置,对于图像测量非常的重要。
同时,图像的获取过程中受到各种噪声的影响,传统的提取方法的精度有限,且易受参数的影响,必然会引起图像的模糊,因此对图像的定位技术的研究一直是一个热门。
对于几种代表性的亚像素边缘提取技术进行了原理分析和性能比较。
关键词:亚像素边缘提取 图像定位
1.引言
关于图像中点与线的定位人们研究并提出了多种定位方法,每种方法都有其特定的应用条件和精度要求,应该根据不同的处理对象选择合适的提取方法 。
在对图像进行定位之前,必须进行图像的预处理。
2.图像预处理
在拍照过程中常常因为光照或曝光等因素使得照片产生局部模糊 、 噪声等干扰,严重时会直接影响到亚像素定位的精度及实现,所以在进行定位前先要对所处理的图像进行必要的预处理,一方面可以剔除噪声等干扰,另一方面也是为了提取出含有亚像素的定位信息。
为实现以上目的,图像的预处理需要进行图像增强,二值化,边缘 跟踪Hough 变换。
2.1图像增强
这个功能主要是处理照片在拍摄和采集的过程中,因曝光不均而导致的图像的灰度分布集中在较窄的区域,引起图像细节不够清晰。
采用直方图修整后可使图像的灰度间距拉开,或者使灰度分布均匀,从而增大反差,使图像的细节清晰,达到增强的目的。
2.2二值化
利用灰度图像直方图选取适当的阈值实现灰度图像的二值化,图像的二值化的阈值方法处理如下:
2.3边缘跟踪 边缘跟踪就是把位于标志内部的所有像素全部移除,仅仅留下在边缘线上的t j i f j i f t
j i f j i f >==<=),(;1),(),(;0),({
那些像素,取得标志点的轮廓线。
实现方法是对标志区域的每一个像素进行4-邻域或8-邻域的判断,当某个像素4-邻域过8-邻域内所有像素值都是0(黑)时,说明这个像素是区域内部点,则去掉该点,最后仅剩余的即是标准的轮廓线。
2.4 Hough变换提取直线
Hough变化的核心思想是点-线的对偶性,通过变换将图像从空间转换到参数空间。
对于直线Y=px+q,在图像空间中为一条过点(x,y)的直线,满足参数方程р=xcosθ+ysinθ,直线方程的极坐标如下图所示。
图1 直线方程的极坐标表示
Hough变换检测直线的算法步骤如下:
(1)在р,θ的极值范围内对其分别进行m,n等分,设一个二位数组的下标与(рi,νi)的取值对应;
(2)对图像的边缘点作Hough变换,求每一个点在νi(j=0,1,2,......n)变化后рi,判断(рi,νi)与哪个数组元素对应,则让该数组元素值加1;
(3)比较数组元素值的大小,最大值所对应的(рi,νi)就是这些共线点对应的直线方程的参数。
(4)Hough变换的抗噪性能强,能将断开的边缘连接起来。
很明显,由Hough 变换后(рi,νi)数组最大的两个值对应的(рi,νi)就是标志两条垂直线所对应的参数。
图像预处理如图2所示,其中图(a)为原始图像,(b)为二值化图像,(c)为边缘跟踪图像,(d)为Hough变换后的图像。
图2 图像预处理
3.亚像素边缘检测技术的研究
采用机器视觉技术对工业生产线上的零部件进行尺寸检测,具有完全非接触
点性的优点,是保证成品质量的关键手段之一。
然而由于各种物理条件(如摄像机,存储器等)的限制,所获取图像分析的关键步骤,边缘的定位精度直接影响到尺寸检测的精度。
3.1基于曲面拟合的亚像素边缘检测方法
根据二阶导数过零点确定边缘,在得到像素级精度(误差±1像素)的目标边缘 后,用一个参数多项式方程将每一边缘点所对应的平滑滤波图像的8邻域,拟合成一个空间曲面;再按所需分辨率重采样这一曲面得到了更高分辨率的图像,然 后对此图像再用一遍LOG 算子进行过零点检测,即实现了原始图像目标的亚像 素级边缘提取。
3.2基于灰度矩的亚像素边缘检测算法
一个理想的边缘可以认为是由一系列具有灰度h 1的像素与一系列具有灰度 h 2的像素相接而构成的,如图2中虚线为理想边缘,实心点为实际边缘。
下面我们定义一个算子,当把它用于实际的边缘数据时能产生一个理想边缘,而且这2个(边缘的)像素序列的前3阶矩相等。
先考虑1一D 时的情况,一 个信号f(x)的P 阶矩( p=1,2,3) 定义为:
图3 1—D 灰度和梯度图
(2) 其中P 1=k/n ; ;h i ,h 2,p 1未知,利用下列几个公式可以算出边缘亚像素位置k ;
(3)
(4) (5)
1np k = (6)
上述方法可推广到对2-D 边缘检测的情况。
2122321313
32m m m m m m s -=-+=σσ]411[2121s s P ++=1211P P m h σ-=2112P P m h σ+=12
1=∑=j j p i j
j j i h p m ∑==21
3.3利用一阶微分期望值的亚像素边缘检测算法
首先假设一维理想阶跃边缘模型如图3所示:
图4 阶跃边缘函数u 和由成像系统获取的理想图像f
其中,u( x)是阶跃函数,代表图像真实边缘的灰度函数,G( x )表示成像系统的点扩展函数,通常可用高斯函数近似表示,则成像系统获取的无噪声理想图像 为 :
(7) 设g ( x)表示f ( x )的一阶导数,P ( x)表示g ( x )的概率,令E 表示阶跃边缘位置 x 的期望,则有:
(8) 可以证明,由此推导出一阶微分期望E 即是阶跃边缘的准确位置。
为了充分利用采样模型中的h ,h+△k ,h+ k 表示的信息,微分g ( x ) =f’(x)可近似用g i =|f i+1—f i+1|表示。
概率及期望E 用下式表示:
k=1,2,...,n (9)
(10)
对于阶跃边缘n 一般取3。
算法的实现步骤
①对图像函数f (x),计算它的一阶微分g ( x ) =|f’(x)|。
在离散图像中,一阶微分 可用差分来近似 。
②根据g(x)的值确定包含边缘的区间,也就是对一个给定的阈值T 确定满足g ( x) > T 的取值区间[x i ,x j ],1≤ i ,J ≤ n
计算g(x)概率函数P ( x),在离散图像中,如式子(9)所示。
④计算 p( x) 的期望值E ,并将边缘定在E 处。
在离散图像中,如式子(10)所示。
这种方法与灰度矩算法相比,由于使用了基于统计特性的期望值,所以可较好地 消除由于图像噪声而造成的多响应问题(即误检测出多个边缘)。
⎰⎰⎰+∞∞-+∞∞-+∞∞
-==dx
dx x g x g x dx x xp E ])(/)([)(⎰⎰⎰-∞-+∞+∞∞-∂∂+=∂∂-=∂∂-∂==x
x d x G d x G d x G u x x x )()()()()(G *)(u )(f ∑∑∑=====n k n i i
k n k k g kg kp E 111]/)[(∑==n i i k k g g P 1/
3.4三种边缘检测技术的性能比较
①基于曲面拟合的亚像素边缘检测方法的特点是抗扰性强,所检出的边缘点位置较准确。
但是,这种方法的检测结果并未达到理想的程度,在抗干扰和检测出复杂形状的边缘之间仍存在较尖锐的矛盾,这反映在平滑窗大小的选择上存在矛盾:窗大,抗干扰能力强,但边缘细节丢失多,而且当窗口太大,窗内有几条边时,边缘检测的精度将受到影响,所以窗的大小选择是十分重要的,应视具体情况认真选择。
②灰度矩亚像素级边缘位置不受图像平移或尺度变化的影响。
由于一阶微分期望值仅适用于阶跃边缘,因此它的局限性极其明显。
当目标边缘为阶跃形状且方向处于水平或垂直状态,或当目标形状对称时,该算法能给出较精确的估计。
④表1给出一些输入序列和对它们分别用灰度矩和一阶微分期望法算得的亚像素边缘位置。
由表1可见,一阶微分期望法算得的亚像素边缘位置比较稳定,特别是受输入序列长度的影响较小。
表1 一些输入序列和算得的亚像素边缘位置
序号输入序号灰度矩法一阶微分期望值
1 2 3 4
0 000.511 111
0 000.251 111 11
0 000.251 111 111 111 1
00.10.20.30.40.60.811
3.506
3.860
3.861
4.997
3.500
3.750
3.750
4.600
参考文献:
[1]章毓晋编著.图像工程(下册).北京:清华大学出版社,2000.
[2]R M Haralick.Digital Step Edge from Zero Crossing of Second Directional Derivatives.IEEE Trans.PAMI.1984,6(1):58—68.
[3]A J Tabatabai,O R Mitchel1.Edge Location to Subpixel Values in Digital Imagery.IEEE Trans.PAMI.1984,6(2):88—201.。