实验七 光具组基点的测定

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光具组基点的测定及数据处理

光具组基点的测定及数据处理

光具组基点的测定及数据处理光学仪器的使用需要进行精密的测量和校准,其中基点的测定是非常关键的一个环节。

本篇文章将阐述基点的测定方法以及数据处理过程。

一、基点的定义基点是指平面、球面或非球面透镜等镜面内部的一个确定点,用来确定这个镜面的位置和方向。

基点的测定有助于保证光学系统的精度和稳定性。

基点的测定需求专门的设备和技术。

通常需要使用干涉仪或等曲面仪等测量装置,并采取以下步骤进行测定:1. 拍摄干涉图或等曲面图:将需要测定基点的镜面放置在测量装置的平台上,通过干涉仪或等曲面仪等装置拍摄出对应的干涉图或等曲面图。

2. 分析干涉图或等曲面图:利用专业软件对拍摄的干涉图或等曲面图进行分析,可以得出关于测量装置和被测品的相关信息,包括镜面的曲率半径、球心位置、基点坐标等。

3. 精确测量基点位置:根据干涉图或等曲面图给出的粗略坐标位置,使用高精度的探针或测量仪器对基点位置进行进一步精确测量。

三、基点数据处理过程对于测定得到的基点数据,需要通过一系列的数据处理过程进行分析和计算,以确定其精确的位置和方向。

具体步骤如下:1. 基点分布分析:通过分析多个基点的坐标和权重,确定基点的分布情况,从而保证基点数据的准确性和可靠性。

2. 基点修正处理:遇到基点坐标不准确或基点间距不合理等问题,需要进行基点修正处理,以保证基点数据的精度和合理性。

3. 基点参数计算:基于测得的基点数据,计算出包括球心位置、曲率半径、基点的坐标等参数,从而确定光学系统的精度和优化方案。

综上所述,基点的测定及数据处理是光学仪器使用中非常关键的步骤之一,能够有效提升仪器性能和应用效果,因此需要重视和加强相应的技术和管理。

横向放大率法测定光具组的基点

横向放大率法测定光具组的基点
表 1 光具组基点测定数据表
次数 1 2 3 4 5
Δs/ cm - 11128 - 10180 - 5150 - 8179 - 5107
Δs′/ cm - 2116 - 10160 - 19152 - 10164 - 1123
β1
β2
f / cm f ′/ cm
- 01564 - 01345 - 10101 9186
L IU Zhu2qin
(College of Physics and Electronic Information , Yanan University , Yanan 716000 ,China)
Abstract :The t heory and met hod of using lateral magnification to determine t he cardinal point of compound optical system are int roduced. Since CCD is used ,t he high measurement precision is obtained.
第 25 卷第 8 期 2006 年 8 月
大 学 物 理 COLL EGE PH YSICS
Vol. 25 No. 8 Aug. 2006
横向放大率法测定光具组的基点
刘竹琴
(延安大学 物理与电子信息学院 ,陕西 延安 716000)
摘要 :介绍了用横向放大率法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法 ,该方法采用线阵光电耦合器件 (CCD) 测量 物经光学系统成像的横向放大率 ,进一步提高了测量精度.
- 11652 - 01596 - 10106 10103
- 31125 - 11156 - 10109 9191

光具组基点的测定

光具组基点的测定

光具组的基点摘要:本文主要介绍了如何利用光学参数测定仪的测节装置,测定透镜组的基点,加深对透镜组基点的理解和认识。

关键词:光具组主点主平面焦点焦平面节点节面引言:任意实际光学系统都是由多个透镜组合而成。

日常生活所用的光学仪器,如照相机镜头、显微镜物镜、目镜等,并非是单一薄镜头,而是由多个具有一定厚度的透镜组成的光组。

光组的作用和透镜相同,但成像质量更好。

为了使成像问题变得更为简单,可以求出实际光学系统的三对基点,利用这些基点,就可以用一个等效的光具组代替整个实际光学系统,不必去考虑光在该系统中的实际路径,从而确定像的大小和位置,使成像问题大大简化。

坐标原点如何更改,使高斯公式和横向放大率公式也适用于光组和薄透镜,是本实验的首要问题。

在光学中,由中心在同一直线上的两个或两个以上的球面组成的系统,称为共轴光组。

共轴光组是最简单的一种球面组合系统,也是一般复杂光学系统的基本单元。

若物方有一点、一直线或一平面,像方只有一点、一直线或一平面与之对应,则该系统称为理想共轴光组。

当把共轴系统作为一个整体,而不逐一的研究每一个面的成像时,则可用系统的几个特别的点来表征系统的成像上的性质,这几个特别的点就是系统的主焦点、主点和节点,它们统称为系统的基点。

无论共轴球面系统的具体布置如何,只要得知系统的这几个点,便可用非常简单的高斯公式或牛顿公式,计算共轭点的位置和成像的放大率等等。

实验中采用测节器来测定光具组的基点。

原理:测节器基本原理:如图1,设M、M’为光组二主平面,因光组在同一媒质中,光组的二主点主面与光轴之交点H、H’分别与N、N’相重合,F’为第二焦点。

设平行光如图射至光组后会聚与Q点,光束中通过第一节点N的光线PN,按节点角放大率K=±1的性质,透射光中必有光线N’Q与其共轭,且N’Q//PN,N’即为第二节点。

现假定光组绕N’点转过θ(图中虚线示)。

引入射光束方向未变,原先通过第一节点N之光线现变为P1N1,它与主光轴的夹角为α1,过N1点作辅助平行线原光轴后不难证明α’+θ=α1,说明P1N1//N’Q,成像光线N’Q并未因光组的旋转而改变方向和位置,即像点Q不因光组可以整组前、后移动,同时还可以绕垂直于它的主光轴的轴而转动。

透镜组基点的测定实验报告

透镜组基点的测定实验报告

透镜组基点的测定实验报告
实验报告(透镜组基点测定)
一、实验原理
透镜组基点测定是一种用来测定光的偏折或折射密度的实验方法,它是利用光的折射特性测定透镜组基点的结果。

当光线经过透镜时,其偏折量结果将决定透镜组基点的壁面壁高度,这种壁面壁高度即为透镜组基点。

透镜组基点测定的步骤如下:
1、将光源以垂直的形式照射到透镜组,使光源经过透镜,并得到偏折结果;
2、测量这个偏折结果,然后使用透镜组基点的数学公式来计算得到透镜组基点的壁面壁高;
3、校核透镜组基点壁面壁高的结果,如果结果不符合要求,可以调整光源的位置或者更换透镜,以获得更准确的结果。

二、实验过程
1、准备实验设备:实验室内均有光源、透镜、检测仪、微光探头等设备。

2、安装光源和透镜:将光源调节至垂直照射于指定位置的透镜上,并将透镜安装在指定位置的支撑上,以确保光源的正确位置和测量结果的准确性。

3、测量偏折结果:调节检测仪的参数,使其可以正确的测量出光源穿过透镜所产生的偏折结果。

4、计算透镜组基点:根据测量所得的偏折结果,使用透镜组基
点的数学公式计算所得透镜组基点的壁面壁高度。

5、校核结果:校核透镜组基点的壁面壁高,确保其符合要求。

三、实验结果
根据测量所得的偏折结果,计算得到透镜组基点的壁面壁高度为:46.32mm。

校核结果:透镜组基点的壁面壁高符合要求,实验结果有效。

四、结论
本次实验使用光的折射特性测定透镜组基点,经过测量校核,结果符合要求,实验达到预期效果。

光具组基点的测定

光具组基点的测定
H
F
F′
H′
y′
像方主点:H′;像方主平面:B′
两主点H、H′共轭
两主平面B、B′共轭
HF的距离: -f,物方焦距
-f
f′
H′F′的距离: f′,像方焦距
垂轴放大率
=


=
′ ′
=+1

问题讨论
n:Ʃ1前方介质折射率
Ʃ1 L Ʃ2
n′:Ʃ2后方介质折射率
n′
n
H
-u
K
H′
K′
-u′
≠ ′
光具组基点的测定
对应教材实验二,题目为:光具组基点的测定
目 录
01
问题讨论
04
实验目的
02
03
概念、原理与方法
05
实验内容
实验仪器
06
注意事项&拓展讨论
1.问题讨论
东北师范大学 物理学国家级实验教学示范中心
问题讨论
National Demonstration Center for Experimental Physics Education
以水为镜的物像倒影
非平面镜成像
问题讨论
光具组的成像过程


问题讨论
共轴光具组:由球心在同一直线上的一系列反射或折射球面
组成的光学系统。
理想成像:要求空间每一点都能严格成像,即物方的每个同
心光束都能转化为像方的一个同心光束。
理想光具组:满足理想成像要求的光具组称为理想光具组。
问题讨论
高斯(Carl Friedrich Gauss1777–1855)
点的左侧,反之。

= −

光具组的基点测定

光具组的基点测定

光具组的基点测定【实验目的】(1)了解测节器的构造及工作原理。

(2)加深对光具组基点的理解和认识。

(3)学会利用测节器测定光具组的主点及焦距。

【实验仪器】光学平台或光具座,测节器,薄透镜,物屏,光源,准直透镜(焦距大一些),平面反射镜,光具组,白屏,毫米尺,测微目镜。

【实验方法和步骤】(1)将光源、物屏S P 、准直物镜L 、测节器R 及白屏P '沿米尺置于光学平台或光具座上,调节其共轴。

(2)用自准方法调节物屏P 位于准直物镜L 的物方焦面上,调好后记录P 的位置,用毫米尺替换物屏P ,并保持毫米尺和L 的位置均不要再移动。

(3)测量准直物镜及透镜L 1L 、的焦距12L f '、2f '。

(4)将透镜1L 和按2L (21f f d )'+'〈组成光具组,置于测节器架上,调其共轴。

(5)照亮毫米尺,沿测节器架导轨前后移动透镜组,同时相应地前后移动白屏P '得到清晰的毫米尺像;轻轻小角度转动测节器,直至白屏上毫米尺像无横向移动为止,此时像方节点即在测节器架的转轴N 'Q Q '上;可用测微目镜观察毫米尺像。

(6)如步骤(5)中用测微目镜观察毫米尺像,此时改用白屏接收毫米尺像。

分别记录轴和焦点在米尺导轨上的位置,并从测节器导轨上记下的位置。

重复几次。

Q Q 'F '2L (7)将光具组转180度,此时原来的节点成为N N ',同上进行测量。

(8)绘图表示光具组主面及焦点的位置,计算焦距f '之值。

(9)取(21f f d )'+'〉,重复上述测量。

【思考题】1、第一主面靠近第一个透镜,第二个主面靠近第二个透镜,在什么条件下才是对的?(光具组由二薄透镜组成)。

2、由一凸透镜和一凹透镜组成的光具组,如何测量其基点(距离d 可自己设定)?。

【精选】光具组基点的测定

【精选】光具组基点的测定

【精选】光具组基点的测定光具组是指由一束光线通过多个光学元件组成的光路系统。

在实际光学设计和制造中,精确地确定光具组的基点是非常重要的。

本文将介绍光具组基点的测定方法。

一、测定基点的目的在光学元件的加工和组装过程中,需要确定光学元件的位置和方向,以保证光路的精确性和稳定性。

而光学元件的位置和方向则是由光具组基点决定的。

因此,测定光具组基点是非常重要的。

1. 光桥法光桥法是一种简单而有效的测量光具组基点的方法。

它的原理是利用光桥法测量光具组两端的光程差,然后根据光程差计算出光具组基点的位置。

具体操作步骤如下:(1)利用光源照明光具组的两端,并通过衰减器调节光源强度。

利用两个光电池检测光路,其中一个光电池放置在光具组的一端,另一个光电池放置在光具组的另一端。

(2)利用微调平移台,调整光电池的位置,使其所接收到的光强尽可能相等。

(3)测量光电池所接收到的光强,然后计算出光程差。

根据光程差和光速的知识,可以计算出光具组基点的位置。

2. 共面法(1)利用光源照明光具组的一端,并通过调节器调节光源强度和光位于成像平面的位置。

(2)调节另一个光学元件(如屈光度)在光路中停留,使其成像平面与前一个光学元件的成像平面重叠。

(3)用标尺量取两个成像平面的位置,然后计算出光具组基点的位置。

三、测定基点的注意事项1.测量环境:当进行光桥法测量时,为了保证测量的准确性,应将测量仪器放置在光学实验室或无风环境中。

2.精密仪器:测定光具组基点需要使用一些精密仪器,如光学平台、微调平移台、光电池等。

这些仪器必须具有精确的测量性能。

3. 测量精度:测定光具组基点的精度直接影响光路的精正确位,因此需要在测量过程中严格控制误差。

测量时最好使用数值计算方法来提高测量的精确度。

4. 稳定性:测量光具组基点的时候,需要保证光路的稳定性,最好是将光路固定住,保证其在测量过程中不发生移动。

五、总结测定光具组基点是非常重要的,可以有效保证光路系统的精确性和稳定性。

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定
P
A S1
M
S
L
S2
B
P1
△x
x
P2
D
图 10-2
棱 脊
端面
棱角
图 10-3
将一块平玻璃板的上表面加工成两楔形板,端面与棱脊垂直,楔角 A 较小(一 般小于 1°)。从单色光源 M 发出的光波经透镜 L 会聚于狭缝 S,使 S 成为具有较 大亮度的线状光源。当狭缝 S 发出的光波投射到双棱镜 B 上时,经折射后,其波 前便分割成两部分,形成沿不同方向传播的两束干柱波。通过双棱镜观察这两束 光,就好象它们是由虚光源 S1 和 S 2 发出的一样,故在两束光源相互交叠区 P1 P2 内 产生干涉。如果双棱镜的棱脊和光源狭缝平行,且狭缝的宽度较小,便可在白屏 P 上观察到平行于狭缝的等间距干涉条纹。
7:三维平移底座 (SZ-01) 8:升降调整座(SZ-03) 9:二维平移底座 (SZ-02) 10:升降调整座(SZ-03) 11:普通底座(SZ-04)
1
2
S
3
4
Lo
56
7
Le
12
11
10
9
8
图 8-1
实验原理 开普勒望远镜所成的像是倒立的,对观察物体不习惯,如观察正像,一是可 以使用伽利略望远镜,二是可以借助直角棱镜(保罗棱镜、正像棱镜) 直角棱镜原理图如图 8-2,正立的像转换为倒立的像。
将随各组合透镜或折射面的焦距和系统的空间特性而异。下面以两个薄透镜的组
合为例进行讨论。设两薄透镜的象方焦距分别为 f1′ 和 f2′ ,两透镜之间距离为 d,
则透镜组的象方焦距 f ′ 可由下式求出
f′=
f1′f2′ , f = − f ′ .
( f1′ + f2′) − d
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②由理论公式计算透镜组的基点
f '= − f = f1' f2 ' = ( f1 '+ f 2 ') − d
=,
l'= − f2'd = ( f1 '+ f2 ') − d
=,
l=
f1 ' d
=
( f1 '+ f2 ') − d
=,
③实验与理论公式计算的结果进行比较及评价
(2)1 号镜与 5 号镜配合
=,
l=
f1 #43; f5 ') − d
=,
③实验与理论公式计算的结果进行比较及评价
4
个与物体同样大小的正立像位于第二主点 H’处,即主点是横向放大率β=+1 的 一对共轭点。过主点垂直于光轴的平面,分别称为第一、第二主面(如图<一> 中的 MH,M’H’)。
②节点和节面:节点是角放大率γ=+1 的一对共轭点。入射光线(或其延长 线)通过第一节点 N 时,出射光线(或其延长线)必通过第二节点 N’,并与 N 的入 射光线平行。过节点垂直于光轴的平面分别称为第一、第二节面。当共轴球面系 统处于同一媒介时,两主点分别与两节点重合。
若旋转轴不通过节点,则透镜组转动时,两个节点 N、N’均随着转动,过 N’ 的光线必会发生移动。因此,只有当转动轴正好在 N’点时,像点的位置才不会 因透镜组的旋转而改变。
测节器就是利用上述节点的性质做成的。如图(三)所示,图中 AB 为光学 参数测定仪中的主导轨,它上面放一个可以绕轴 O 转动的小导轨 C,C 上面放置 两个薄透镜 L1 与 L2 组成的透镜组。P 为像屏,它可以在 AB 主导轨上移动。实
置和聚焦点位置,两者之差即为凸透镜的焦距。
2、测定透镜组基点 (1)将 1 号镜与 2 号镜按 d<(f’1+f’2)配合,可将两透镜靠近,使 d 最小, 组成透镜组。移动透镜组找到一个位置,使上导轨稍转动时像点不动,此转轴 O 即节点 N’,记下 L1、L2、N’与 F’的位置刻度,重复测量 3 次,求得 l' 与 f’。与

L5 位置
N’位置
F’位置
L1 位置
1800
l'=
N 位置 F位置 L5N’
l=
L1N
f’= f= N’F’ NF
1
2
3


[数据处理及分析]
3
1、计算凸透镜的焦距
f1 ' =
, f2'= , f4'= , f5'=
,
2、计算透镜组基点 (1)1 号镜与 2 号镜配合
①在坐标纸上作图表示光具组、主面及焦点的位置 d= , l' =L2N’= , l =L1N= ,f’=N’F’= ,f=NF= ;
f ' = f1 ' f2 ' , f = − f ' ………………………② ( f1 '+ f2 ') − d
1
两主点位置
l' = − f 2 ' d ………………………③ ( f1 '+ f2 ') − d
l=
f1 ' d …………………………④
( f1 '+ f2 ') − d
注意:l’是从第二透镜光心量起,H’在第二透镜 O2 左为负,l 是从第一透镜 光心量起,H 在第一透镜 O1 左为负。
①在坐标纸上作图表示光具组、主面及焦点的位置 d= , l' =L5N’= , l =L1N= ,f’=N’F’= ,f=NF= ;
②由理论公式计算透镜组的基点
f '= − f = f1' f5 ' = ( f1 '+ f5 ') − d
=,
l'= − f5'd = ( f1 '+ f5 ') − d
2
验时,保持两透镜的间距 d 不变,移动透镜组在 C 上的位置,可以找到一个位 置,使 C 旋转时,P 上的像点不变,此时转轴位置 O 必为透镜的第二节点 N’(也 就是 H’)。 [实验内容及步骤]
1、测出凸透镜的焦距(1 号,2 号,4 号,5 号镜)。
调节平行光通过透镜中心,移动像屏获得一清晰的像点,由标尺读出透镜位
L 位置
F’位置
f’
表二:测透镜组基点(1 号镜与 2 号镜配合)(单位:mm)
旋转 次 L1 位置

L2 位置
N’位置
F’位置
L1 位置
1800
l'=
N 位置 F位置 L2N’
l=
L1N
f’= f= N’F’ NF
1
2
3


表三:测透镜组基点(1 号镜与 5 号镜配合)(单位:mm)
旋转 次 L1 位置
式中 f’为系统的像方焦距,p’为像距,p 为物距。其中 p 为第一主点至物的距离。 P’为第二主点至像的距离,各量的符号从各相应主点沿光线进行方向测量为正, 反向为负。
2.两薄透镜组成一个透镜组的基点公式 设两薄透镜的像方焦距分别为 f1’和 f2’;两透镜之间距离为 d,则透镜组的 像方焦距 f’可由下式求出:
实验七 光具组基点的测定
[实验目的] 1.加强对光具组基点的认识 2.学习测定光具组基点和焦距的方法
[实验器材] 光学参数测定仪(YJC)<包括平行光管,凸透镜 4 块,凹透镜 1 块,像屏等>
[实验原理] 1.实际共轴球面系统三对基点的性质 ①主点和主面:若将物体垂直于系统的光轴放置在第一主点 H 处,必有一
3.利用测节装置确定透镜组的节点 假定一束平行光射入透镜组,光线经透镜组后会聚于第二主焦点 F’。若保 持入射平行光束方向不变,使透镜组绕着通过的转轴 N’旋转某一小角度。如图< 二>所示。实线位置变为虚线。此时通过第一节点 N 的光线由 SN 变为 S’N。
入射光线 S’N 的出射光线必通过第二节点 N’,且与 S’N 平行,所以出射方 向仍为 N’F’,又因入射光线为平行光束,经透镜组折射后的像点必仍然位于 F’ 处。这时像屏如放置在 F’上,旋转透镜组时,屏上像的清晰度虽稍有改变,但 像点不会发生横向移动。
③焦点:平行光束经系统折射后与光轴的交点 F’为第二焦点。第二主点 H’ 至第二焦点 F’的距离为系统的第二焦距 f’,F’在 H’右时 f’为正。同样 f 为第一 主点至第一焦点 F 的距离,F 在 H 右时 f 为正。过焦点垂直于光轴的平面分别称 为第一、第二焦面。
对于由薄透镜组合成的共轴球面系统,其物和像的位置可由高斯公式: 1 = 1 − 1 ………………………………① f ' p' p
理论公式②与③比较 (2)将上导轨旋转 1800,测出 l 与 f,与理论公式比较。
(3)在坐标纸上作图表示光具组、主面及焦点的位置。
(4)将 1 号镜与 5 号镜配合,重复上述(1)—(3)的内容。
[数据记录]
表一:测凸透镜的焦距(单位:mm)
凸透镜号数
1
2
4
5
测量次数 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3
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