电子产品老化时间的简便计算方法及程序
元器件的寿命一般是多长时间 如何计算元器件的寿命
元器件的寿命一般是多长时间如何计算元器件的寿
命
电子元器件在被用于组装成各类电子设备而实际应用于市场时，需要面对外部各种应激反应。
例如，电子设备掉落时引起的物理应变，冷热温差引起的热应变，通电时的电应变等。
以这些外部应变为诱因，在产品使用时，有电子元器件发生故障的案例。
因此，村田从各电子元器件的设计阶段开始，研究外部应变与故障发生的机理，并反馈至电子元器件的可靠性设计中。
同时，通过把握外部应变的强度与故障发生的时间•概率之间的关系，确立”外部应变与故障发生的加速模型”，以便在更短的试验时间内可对电子元器件的耐用年数进行评价。
作为加速模型的具体案例，针对多层陶瓷电容器的耐用年数的温度•电压加速性进行说明。
一般情况下，多层陶瓷电容器由电绝缘体（电介质）构成，对于连续通电，具有高度可靠性。
例如，安装在汽车发动机附近的控制模块，在使用时，周围环境的温度会随之升高。
图1所示即为在这样的高温环境下通电时，电容器使用的陶瓷材料内部状态。
在陶瓷材料内部含量极少的原子等级的电荷缺陷会从+极（正极）向-极（负极）移动。
以钛酸钡为代表的电陶瓷，在进行烧制工艺时，结晶构造内部包含了极少量的原子级缺陷（称为氧空位），其可通过外部施加的电压缓慢移动，不久便会累积在-极附近，最终可能会破坏陶瓷绝缘性。
芯片寿命老化计算公式表 excel
芯片寿命老化计算公式表 Excel一、概述在电子产品开发和生产过程中，芯片的寿命老化是一个重要的技术指标。
为了更好地预测芯片的寿命老化，需要建立相应的计算公式表，利用Excel等工具进行计算和分析。
本文将介绍芯片寿命老化计算公式表的建立及在Excel中的应用。
二、芯片寿命老化计算公式表的建立1. 确定影响芯片寿命老化的关键因素在建立芯片寿命老化计算公式表时，首先需要确定影响芯片寿命老化的关键因素。
这些因素可能包括温度、电压、频率等。
2. 收集相关数据收集与这些关键因素相关的芯片老化寿命数据，包括不同操作条件下的寿命测试数据。
3. 建立计算公式表利用收集到的数据，可以通过统计分析和数学建模等方法，建立芯片寿命老化的计算公式表。
这个计算公式表可以包括各种操作条件下的寿命老化数据及相关的公式计算方法。
三、 Excel中的应用1. 数据录入将收集到的芯片老化寿命数据录入Excel中的工作表中，按照不同的操作条件进行分类和整理。
2. 公式计算利用Excel的函数和公式功能，可以很方便地对录入的数据进行计算。
根据建立的芯片寿命老化计算公式表，可以在Excel中应用相应的公式，计算各种操作条件下的芯片寿命老化数据。
3. 数据分析利用Excel的图表和数据分析功能，可以对计算得到的芯片老化数据进行可视化和分析。
可以绘制折线图、柱状图等形式的图表，直观地展示芯片寿命老化数据随操作条件的变化趋势。
四、实际案例分析以某型号芯片为例，利用以上的方法建立了芯片寿命老化计算公式表，并在Excel中进行了相应的应用和分析。
通过具体的实际案例分析，可以进一步说明芯片寿命老化计算公式表的建立及在Excel中的应用方法和效果。
五、总结芯片寿命老化计算公式表的建立及在Excel中的应用，对于芯片寿命预测和产品设计具有重要的意义。
通过建立合理的计算公式表，可以更准确地预测芯片在不同操作条件下的寿命老化情况，为产品的设计和使用提供更为科学的依据。
史上最全的电子产品寿命评估公式
Af = ( [RHt /RHu] p ) × e(Ea/K)× (1/Tu - 1/Tt)MTBF=(N *T*Af)/RRHt——试验湿度*注:R为泊松分布期望值；N为试验样品数；T 为试验时间，单位为小时；Af为试验加速系数RHu——使用湿度Tu——使用温度（K）Tt——试验温度（K）p ——指数，典型的数值为2.66；2~3Ea ——活化能，对电子设0.67K ——Boltzman 波尔兹曼常数 =8.617×10-*注:推算年份与对应失效率含义为，产品使用t 年后的失效率已知加速系数求按使用环境条件25℃/60%RH 来算的话，加速系数大概是200，就是试验一小时对应实际使用200小时。
不过评估的时候参考的是转化出来已知累计失效率和统计年份，倒推实验数量和试验时间，*试验失效数设置为0，置信度水指数分布时的可靠度t=2.302*(lg （1/r）)/λ可靠度r=0.9失效率λ0.09年失效率t= 1.17037t时产品的可靠度为90%失效率t为失效率推算时间，与MTBF 单位相同123456784.7439 6.29587.75399.153610.513311.842413.148114.43463.88985.32236.68087.99369.274910.532211.770912.9947加速系数失效数R系数90%R系数95%200.222.30262.9958MTBF=小时1470326.05小时年167.85年推算年份失效率失效率105.78%t为失效率推算时间，与MTBF单位相加速系数失效数R系数90%R系数95%200.222.30262.9958期望值R（泊松分布）MTBF计算（95%置信度）MTBF(h）=已知平均年化失效率，倒推实验数量和试验时间，*试验失效数设置为0，置信度水。
2023年电子产品老化安全操作规程
2023年电子产品老化安全操作规程第一章总则第一条根据2023年电子产品老化安全管理法规，为了保障电子产品老化过程中的安全和顺利进行，制定本规程。
第二条本规程适用于所有涉及电子产品老化的企事业单位，包括生产、销售、使用电子产品的各个环节。
第三条本规程的目的是通过规范操作流程，确保电子产品在老化过程中的安全性和可靠性，减少事故和损失的发生。
第二章安全操作要求第四条安全操作要求包括以下几个方面：（一）人员安全: 所有从事电子产品老化的人员必须经过专门的培训和资质认证，熟悉本规程的要求和操作流程。
必须穿戴防护装备，如防静电衣物、护目镜等。
严禁在老化过程中穿戴金属饰品，禁止吸烟、食物和饮料进入老化区域。
（二）设备安全: 所有电子产品老化设备必须符合国家有关标准和规范，定期进行检查和维护。
使用过程中要定期清理设备周围的堆积物和灰尘，保持设备正常运行。
（三）环境安全: 电子产品老化区域必须保持干燥、通风良好，温度和湿度要控制在规定的范围内。
禁止在老化区域使用可燃物品和易燃气体，禁止存在明火和电子产品老化区域附近禁止存放易燃液体。
（四）电源安全: 所有老化设备的电源必须符合国家安全标准，使用过程中要定期检查电源线和插头是否正常，防止漏电和火灾风险。
（五）应急措施: 每个电子产品老化区域要配备火灾报警器、灭火器等消防设备，并定期进行演练和检查。
遇到突发情况，人员应立即按照应急计划行动，保障人员安全并通知有关部门。
第三章电子产品老化过程管理第五条电子产品老化过程必须有合理的计划和流程，包括以下几个方面：（一）老化时间: 根据不同电子产品的特性和要求，制定合理的老化时间和周期，确保老化效果和可靠性评估的准确性。
（二）老化温度与湿度: 根据电子产品的规格和要求，设定合适的老化温度和湿度范围，以确保老化过程中的可靠性和稳定性。
（三）老化负荷与电源: 根据电子产品的功率和负荷要求，配置合适的老化负荷设备和电源，确保老化过程中的电能稳定供应。
寿命老化补偿算法
寿命老化补偿算法
寿命老化补偿算法是一种用于预测和补偿设备或系统寿命老化的算法。
这种算法通常基于对设备或系统的历史数据和性能退化模式的分析，以预测未来的性能退化趋势，并采取适当的措施来补偿或缓解老化效应。
以下是寿命老化补偿算法的一般步骤：
1. 数据收集：收集设备或系统的历史数据，包括使用情况、运行时间、故障记录等。
这些数据可以帮助了解设备的性能退化模式和老化速率。
2. 性能退化分析：分析历史数据，了解设备或系统的性能退化趋势。
这可以通过绘制性能退化曲线、计算性能退化速率等方式实现。
3. 预测未来性能：基于性能退化分析的结果，使用适当的预测模型（如回归分析、时间序列分析等）预测设备或系统未来的性能。
4. 制定补偿措施：根据预测结果，制定适当的补偿措施来缓解或减缓性能退化。
这些措施可能包括调整设备参数、更换磨损部件、加强维护等。
5. 实施补偿措施：将制定的补偿措施应用于设备或系统，以实现寿命老化补偿。
6. 监测和调整：在实施补偿措施后，持续监测设备或系统的性能，并根据实际结果进行调整。
这有助于确保算法的有效性和准确性。
寿命老化补偿算法的应用范围广泛，可以用于各种设备和系统，如机械、电子、航空航天等。
通过有效地预测和补偿寿命老化，可以提高设备的可靠性和使用寿命，降低维护成本，提高生产效率。
高温老化的时间计算
60 30
24
16.43
1.33
A=0.＝0.5*9.49
将60pcs产品在85°C下进行连续30天工作状态下测试，如果失效次数小于或等于
一次，即认为此产品的MTBF达到了要求。
据此，为做交叉比对各安排60pcs产品分48h温循、24h温循和未温循三种状态做测试
。
序号
事项
开始时间 完成时间 责任人
1
物料准备
5月22日 5月25日 段 洁
2
治具准备
5月25日 6月3日 胡立明
3
产品生产（含退应力 、温循时间）
5月25日
6月5日
胡立明
4
产品测试
高温老化的时间计算
阿列纽斯加速模型（Arrhenius Model）的加速因子计算方法： 公式为：AF=exp{(Ea/k)*(1/Tu-1/Ts)+RHs2-RHu2)}
若以产品使用寿命200000h为限，使用温度40°计算如下
计算如下 加速倍数为
Ea
k
1/Tu
1/Ts
0.6
0.000086 0.0031934 0.002792
6月6日 7月5日 申名淑
备注 每周四测试一次
可信度系数 4.74 系数表
2.80
16.43
要求在室温下的测试时间为 需测试产品个数 天数
948000 H 小时
加速倍数 鉴别率
可信度系数和加速因子计算
1.可信度系数A 测试时间＝A×MTBF, 根据给定的MTBF值,确定出可信度系数A,就可算出需测试 的时间了.
LED寿命推算
大功率LED 寿命推算我们通常以光通量衰减作为LED 失效的判据，目前LED 行业内，大家基本上是以光通量衰减到初始值的70%时的工作时间作为LED 的平均工作寿命。
LED 的寿命是由其结温决定的，而结温又受LED 工作条件的影响。
所以通常我们说LED 的寿命是指某一工作条件下的工作寿命，可以通过如下公式计算：)exp(0t P P t β−=（1）式中P 0为初始光通量，P t 是LED 工作时间t 之后的光通量，β是某一工作条件下的衰退系数。
实际操作时，我们是通过老化测试来推算LED 产品的寿命的，假设在某个老化条件下老化时间t 后，LED 的光通量下降到P t ，则根据式（1）经过一些数学推导，我们可以得到该老化条件下（工作条件下）LED 的寿命L 70%：tP P L t •=)/ln(7.0ln 0%70（2）式中初始光通量P 0可由仪器测得，P t 和t 可由实验数据获得。
这样只要已知某一老化条件下的老化数据，就可以推算出该条件下LED 的寿命。
要得到LED 不同结温下的寿命，我们首先要了解衰退系数β与LED 结温T j 的关系：)/exp(0j a F kT E I −=ββ（3）式中β0为常数，E a 为激活能，k 为波耳兹曼常数(8.62×10-5ev )，I F 为工作电流，T j 为结温。
现在如果已知工作条件1（结温T j1）下的老化实验数据：老化时间t 1后光通量为P t1，以及工作条件2（结温T j2）下的老化数据：老化时间t 2后光通量为P t2，根据（2）式可以得到结温T j1下的寿命L 1和结温T j2下的寿命L 2：10111)/ln(7.0ln t P P L t •=20222)/ln(7.0ln t P P L t •=（4）然后结合（2）、（3）、（4）式，经过一系列数学推导可以得到该LED 产品的寿命L 70%与其结温T j 的关系式：111211221%70)}/1/1(/1/1)]/()ln[(exp{L T T T T I L I L I I L j j j j F F F F •−−•=（5）式中1F I 、2F I 、F I 分别为对应工作条件下LED 的工作电流，对（5）式做一些简化可得：（6）其中（7）当各个工作条件下的工作电流相同时，（7）式可简化为：（8）综上所述，已知一个工作条件（一个结温）下的老化数据，我们可以得到LED在该工作条件下的寿命（（2）式），已知两个工作条件（两个结温）下的老化数据，我们可以得到LED 任何结温下的工作寿命（（6）、（7）式）。
电子产品老化作业规范
1.0目的为提高产品可靠度，消除残余应力和参与溶剂等物质，模拟环境，以鉴别和剔除产品工艺和元器件引起的早期故障，确保整机质量和期望寿命。
同时为了防止质量、安全事故的发生，特制定本规范。
2.0 范围适用于公司自行设计开发生产的成品、半成品及主要模块的老化过程和操作规则。
以下情况需进行老化作业：新产品试产、主要部件更换、所有出货产品。
3.0 职责老化专员负责老化产品的放入与取出，老化过程监控以及产品老化的记录。
4.0作业内容4.1 老化操作规范4.1.1 老化职责负责老化产品的放入与取出，老化过程监控以及产品老化的记录。
4.1.2 老化要求高温老化：环境温度为45℃±5℃，老化时间暂定为48小时；若因客观原因需减少老化时间，必须提交老化时间更改申请表，注明原因并提交上级部门同意后方可。
凡是经过更换器件重新焊接的都需要重新老化48小时；若只是更换器件但不需要重新焊接的，只需要重新老化2小时即可。
常温老化：在常温的环境中，对机子做100%的老化，一般老化时间在4-8小时，老化过程中要做充放电、录像等操作。
老化过程中，一点要记录好老化报表，有不良品，要及时向产线负责人或PE汇报情况，让其分析原因。
4.2操作步骤4.2.1、将初次调测合格的产品使用周转车或其它工具推入老化房放入指定区域内。
4.2.2、连接前确认老化房相关电源开关均处于开启状态，依据产品供电要求连接电源线以及负载。
4.2.3、逐一开启老化产品的电源开关，观看电源指示灯及运行信号灯是否正常，有误则查找原因并解决故障。
4.2.4、老化作业人员应在产品开始老化后登记老化开始时间，每间隔2小时左右巡视一次老化房，检查产品是否存在异常，老化房的环境温度是否异常。
若有产品在老化中损坏，需及时断电送修。
4.2.5、产品老化时间达到后，老化人员逐一观察本老化产品的电源指示灯及运行信号灯是否正常，关闭老化产品供电电源。
将产品运出老化房并登记产品结束老化时间，进入产品复测。