多光束干涉光谱成像技术_杜述松
《多光束干涉原理》课件

干涉光谱技术
光谱技术原理
01
多光束干涉原理在光谱技术中应用广泛,如傅里叶变换光谱仪
和干涉滤光器等。
光谱技术应用
02
干涉光谱技术可用于气体分析、化学反应动力学研究、天文学
和医学诊断等领域。
光谱技术优势
03
干涉光谱技术具有高分辨率、高灵敏度和高精度等优点,能够
提供更准确的光谱信息。
量子干涉
量子干涉原理
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多光束干涉的分类
多光束干涉是指多个光束在空间相遇并相互叠加的现象。根据干涉的形成方式,多 光束干涉可以分为分波面干涉和分振幅干涉两种类型。
分波面干涉是指多个光束通过不同的反射或折射路径,在空间某一点相遇并形成干 涉的现象。常见的分波面干涉实验有薄膜干涉、牛顿环等。
分振幅干涉是指多个光束经过不同的光学元件处理后,在空间某一点相遇并形成干 涉的现象。常见的分振幅干涉实验有双缝干涉、多缝干涉等。
多光束干涉原理
contents
目录
• 引言 • 多光束干涉的基本概念 • 杨氏双缝干涉实验 • 多光束干涉的应用 • 多光束干涉的实验演示 • 多光束干涉的未来发展
01
引言
干涉现象简介
干涉现象
当两个或多个波源的波发生叠加时,在某些区域波峰与波峰相遇,产生振幅增 强,即干涉加强;在某些区域波峰与波谷相遇,产生振幅相消,即干涉相消。
总结词
随着新材料技术的不断发展,多光束干涉有望在新型光学材料中得到更广泛的应用,为干涉现象提供更多的可能 性和灵活性。
详细描述
近年来,新型光学材料如拓扑绝缘体、超材料和光子晶体等不断涌现,这些材料具有独特的光学性质,能够实现 传统材料无法达到的光学行为。通过将这些新材料应用于多光束干涉中,有望创造出更复杂、更精确的干涉图案 ,进一步拓展干涉现象的应用领域。
多光束干涉技术与全息成像

多光束干涉技术与全息成像近年来,随着科技的不断发展,多光束干涉技术和全息成像成为了研究热点。
这两项技术的发展不仅在科学研究领域有着重要的应用,同时也在工业、医学等领域发挥着重要的作用。
本文将分别介绍多光束干涉技术和全息成像的原理和应用。
多光束干涉技术是一种利用多束光波相互干涉的技术。
它的原理是通过将多束光波进行叠加,形成干涉图样,从而得到目标物体的信息。
多光束干涉技术的应用十分广泛,其中最重要的应用之一是光学显微镜。
传统的显微镜只能观察到目标物体的表面形态,而多光束干涉技术可以通过干涉图样获取到目标物体的三维形态信息。
这种技术的发展使得科学家们能够更加深入地研究微观世界。
除了在科学研究领域的应用外,多光束干涉技术还在工业领域有着广泛的应用。
例如,在半导体制造过程中,多光束干涉技术可以用于检测芯片表面的缺陷。
传统的检测方法往往需要将芯片放大数百倍才能观察到缺陷,而多光束干涉技术可以通过干涉图样直接检测到缺陷的存在,大大提高了检测效率。
全息成像是一种利用光的干涉原理来记录和再现物体的全息图像的技术。
全息成像的原理是将物体的信息记录在光的干涉图样中,然后通过光的再次干涉来恢复出物体的图像。
与传统的摄影技术相比,全息成像可以记录下物体的全部信息,包括形状、大小、颜色等,而不仅仅是表面形态。
这使得全息成像在三维显示、虚拟现实等领域有着广泛的应用。
全息成像的应用不仅局限于科学研究领域,还在医学领域有着重要的应用。
例如,全息成像技术可以用于医学影像的重建。
传统的医学影像技术往往只能提供二维的图像信息,而全息成像技术可以提供三维的图像信息,这对于医生们来说是非常重要的。
通过全息成像技术,医生们可以更加准确地判断病变的位置和形态,从而为患者提供更好的治疗方案。
总之,多光束干涉技术和全息成像是两项在科学研究、工业和医学等领域有着重要应用的技术。
它们的发展不仅丰富了人们对于光学现象的认识,同时也为各个领域的发展带来了新的机遇和挑战。
多光束干涉技术在光学检测中的应用

多光束干涉技术在光学检测中的应用光学检测是一种利用光的性质进行物体检测和测量的技术。
随着科技的发展,多光束干涉技术逐渐成为光学检测中的重要手段。
本文将探讨多光束干涉技术在光学检测中的应用,包括干涉仪的原理、多光束干涉技术在表面形貌检测、薄膜厚度测量和光学相位成像等方面的应用。
干涉仪是多光束干涉技术的核心设备之一。
它通过将光束分为两束,使它们在空间中相互干涉,从而实现对物体的检测和测量。
干涉仪的原理是基于光的波动性,当两束光在空间中相遇时,它们会产生干涉现象。
干涉仪可以通过测量干涉光的强度、相位等参数,来获取物体的信息。
多光束干涉技术通过引入更多的光束,可以增加测量的信息量,提高检测的精度和灵敏度。
在表面形貌检测方面,多光束干涉技术可以用于测量物体的表面形状、粗糙度等参数。
通过引入多个光束,可以同时获取物体不同位置的信息,从而实现对整个表面的快速扫描。
这种技术在制造业中的应用非常广泛,可以用于检测零件的平整度、平行度等参数,提高产品的质量和一致性。
薄膜厚度测量是多光束干涉技术的另一个重要应用领域。
在光学薄膜的制备过程中,薄膜的厚度是一个关键参数。
通过利用干涉仪的原理,可以测量薄膜的厚度,并实现对薄膜制备过程的控制。
多光束干涉技术可以同时测量多个位置的薄膜厚度,提高测量的效率和精度。
这对于光学器件的制造和应用具有重要意义。
光学相位成像是多光束干涉技术的一种高级应用。
传统的光学显微镜只能观察样品的表面形貌,无法获取样品内部的信息。
而光学相位成像技术可以通过测量光的相位差,实现对样品内部结构的观测。
多光束干涉技术可以引入多个光束,提高成像的分辨率和深度。
这种技术在生物医学领域的应用非常广泛,可以用于细胞观测、组织成像等方面。
总之,多光束干涉技术在光学检测中具有广泛的应用前景。
它可以通过引入多个光束,提高检测的精度和灵敏度,实现对物体表面形貌、薄膜厚度和光学相位等参数的测量。
随着科技的进步,多光束干涉技术将在更多领域发挥重要作用,推动光学检测技术的发展。
多光谱成像原理

多光谱成像原理基于光物理学和光谱学的基本原理,它采用了多波段成像的方法。
多光谱成像技术通过使用多个离散波段的光谱传感器或光谱仪,可以同时获取目标在不同波段下的光谱信息。
这些光谱信息反映了目标物体在不同波长下的反射、发射或吸收特性,从而提供了比单一波段成像更丰富的数据。
多光谱成像系统的基本组成包括光学会聚单元、分光单元、探测器等。
光学会聚单元负责将入射光聚焦到分光单元,分光单元将光分成多个不同的波段,每个波段的光随后被探测器接收并转换成电信号,最终形成多光谱图像。
在实际应用中,多光谱成像可以提供具有3至20个非连续波段的图像,这些波段可以根据需要选择,以适应不同的应用场景。
例如,在农业领域,多光谱成像可以用来评估作物的健康状况,通过分析植物反射光谱中的特定波段,可以得到关于植物生理状态的详细信息。
多光谱成像技术与高光谱成像技术相比,其光谱分辨率较低,通常在Δλ/λ的数量级上,而高光谱成像技术的光谱分辨率可以达到Δλ/λ的数量级。
多光谱成像技术的主要优势在于其相对较低的成本和较快的成像速度,这使得它在一些不需要非常高光谱分辨率的应用中非常有用。
多光束干涉的实验验证与应用

多光束干涉的实验验证与应用多光束干涉是一种光学现象,它是指当两个或多个光束相互交叠时产生的干涉现象。
这种干涉现象广泛应用于实验验证和科学研究中,例如测量光的波长、验证光的干涉性质以及研究光的传播特性等。
下面将介绍一种多光束干涉的实验验证与应用。
实验方法:实验需要的器材有一个激光器、一块分束板、展光透镜、空物投影仪和一块屏幕。
首先将激光器放置在适当的位置,使其发出的光束通过半反射的分束板。
分束板上的一部分光经过反射板后通过透镜展宽,形成一束展宽光束;另一部分光经过透镜展宽后形成另一束展宽光束。
这两束光经过一定的路径延迟后重新相遇,最后在屏幕上产生干涉条纹。
实验结果与分析:在实验中,我们可以观察到屏幕上出现了一系列明暗相间的干涉条纹。
这些条纹是由于两束光的相位差引起的,相位差的大小决定着干涉条纹的亮暗程度。
当两束光的相位差为整数倍的波长时,会出现明条纹;而当相位差为半整数倍的波长时,会出现暗条纹。
在实验中,我们可以通过改变透镜与分束板之间的距离,控制两束光的光程差,从而改变干涉条纹的条数或密度。
当透镜与分束板的距离增加时,光程差也随之增加,条纹的条数或密度也会相应增加。
这样可以验证光的干涉性质,即干涉条纹的条数或密度与光程差有关。
应用:多光束干涉实验有着广泛的应用。
首先,多光束干涉可以用于测量光的波长。
通过改变两束光的光程差,我们可以观察到干涉条纹的变化,进而计算出光的波长。
这在光学研究中有着重要的意义。
另外,多光束干涉还可以用于研究光的传播特性。
通过观察干涉条纹的形态和变化,我们可以了解到光的传播路径和传播速度等信息。
这对于研究光的性质和光传输技术的发展具有重要的意义。
此外,多光束干涉还可以应用于光学测量和显微领域。
通过干涉条纹的变化,我们可以测量物体的形状和表面的偏差等参数。
这在工业生产和科学研究中都有广泛的应用。
总结:多光束干涉是一种重要的光学现象,通过实验验证和应用可以帮助我们深入了解光的性质、传播特性和测量方法。
多光束干涉实验报告

多光束干涉实验报告
多光束干涉实验是实验物理学中一种重要的实验方法,可用于测量短激光束的快速变化,
进行光栅和光学检测等,在实际应用范围较广。
近几年,随着技术发展速度的加快,多光
束干涉实验得到了广泛应用,各种传感器、微电脑控制系统的发展使得这种实验技术更加
便捷和准确,取得了良好的效果。
多光束干涉实验由一种反射介质在精确的尺度制成,以能够按照一定的角度反射被检测的
电磁光信号,常用的介质有玻璃和金属。
经过反射,多条电磁光束经过尺寸标准的介质以
固定的角度到达接收介质,最终形成多条成角度偏振状态的光束,然后接收介质将所接收
到的信号转发给数据处理器,由数据处理器来计算多光束干涉特征值,为实验结果分析提
供依据。
多光束干涉实验可以测量短激光束的变化。
实验中反射光束经过固定路径反射到接收介质,经过数据的处理可以准确测量出激光能量、脉冲宽度等各种参数,从而达到验证短激光束
的特性参数等求解的目的。
多光束干涉实验在光栅研究及现场成像如何共振和结构对各个材料也有重要的意义,由于
多光束干涉可以形成非常方便、高精度和高灵敏度的信号,因此广泛应用于高分辨率的光
学检测和测距传感器领域。
多光束干涉实验也可以实现里程计、动力学特性分析等多种实验。
从而可以更宽泛的应用于工业领域。
多光束干涉实验的优势在于对于各种电磁光信号的高精度测量及其快速反应,使得它在实
验物理和材料物理等领域获得广泛应用,在未来,多光束干涉实验将会发挥出更大的作用。
多光束干涉技术在光学制造中的应用

多光束干涉技术在光学制造中的应用光学制造是一门非常重要的科学技术,它在现代工业生产中扮演着至关重要的角色。
而多光束干涉技术作为一种先进的光学制造技术,正逐渐被广泛应用于光学器件的制造和加工过程中。
本文将探讨多光束干涉技术在光学制造中的应用,并讨论其优势和发展前景。
多光束干涉技术是一种利用多束光的干涉效应来实现高精度加工的技术。
它可以通过调整光束的相位和幅度,控制光的干涉图样,从而实现对光学器件的加工和制造。
与传统的单光束加工技术相比,多光束干涉技术具有以下几个优势。
首先,多光束干涉技术可以实现高精度的加工。
通过合理设计和控制多个光束的干涉图样,可以实现对光学器件的微米甚至亚微米级加工。
这对于一些高精度的光学器件,如光学透镜、光纤等的制造非常重要。
其次,多光束干涉技术具有高效率的特点。
由于多个光束可以同时进行加工,因此可以大大提高加工效率。
这对于工业生产中的大批量生产非常有利,可以大幅度缩短加工周期,提高生产效率。
另外,多光束干涉技术还可以实现多功能加工。
通过调整光束的相位和幅度,可以实现不同的加工效果。
例如,可以实现光学器件的表面形貌调控、表面纹理加工等。
这为光学器件的多功能应用提供了可能。
多光束干涉技术在光学制造中的应用非常广泛。
首先,在光学透镜的制造中,多光束干涉技术可以实现透镜的表面形貌调控,从而提高透镜的光学性能。
其次,在光纤的制造中,多光束干涉技术可以实现光纤的纹理加工,从而提高光纤的传输效率。
此外,多光束干涉技术还可以应用于光学薄膜的制备、光学元件的加工等领域。
虽然多光束干涉技术在光学制造中具有广泛的应用前景,但目前仍面临一些技术挑战和难题。
首先,多光束干涉技术的加工精度和稳定性需要进一步提高。
其次,多光束干涉技术的设备和工艺还需要不断创新和改进,以满足不同光学器件的制造需求。
此外,多光束干涉技术在大规模工业化生产中的应用还需要进一步研究和探索。
综上所述,多光束干涉技术作为一种先进的光学制造技术,具有高精度、高效率和多功能加工的优势。
干涉型光谱成像技术

干涉型光谱成像技术是一种利用干涉图和复原光谱之间的傅立叶变换关系的成像技术。
这种技术可以同时获取被测对象的空间信息和光谱信息。
具体来说,它首先利用干涉图和复原光谱之间的傅立叶变换关系,通过对干涉图进行傅里叶积分变换计算得到被测对象的光谱信息。
在干涉型光谱成像技术中,目标场景中的点的光谱由干涉仪分光后采集的干涉曲线经傅里叶变换后还原得到。
这种技术可以根据调制方式分为时间调制型、空间调制型和时间空间联合调制型。
在获取目标的二维信息方面,干涉型成像光谱技术与色散型技术类似,通过摆扫或推扫得到目标上的像元。
但每个像元的光谱分布不是由色散元件形成,而是利用像光辐射的干涉图与其光谱图之间的傅立叶变换关系,通过探测像元辐射的干涉图和利用计算机技术对干涉图进行傅立叶变换,来获得每个像元的光谱分布。
基于迈克尔逊干涉方法、双折射干涉方法和三角共路(Sagnac)干涉方法等三种干涉方法,形成了三种典型的干涉成像光谱仪,包括迈克尔逊型干涉成像光谱仪、双折射型干涉成像光谱仪和三角共路(Sagnac)型干涉成像光谱仪。
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0830003-1
光 学 学 报
光 谱 成 像 仪 ,由 于 具 有 外 差 特 性 ,可 获 取 高 的 光 谱 分 辨 率 ,且 能 有 效 减 少 数 据 量 ,在 大 气 成 分 探 测 领 域 得 到 了 较 好 的 应 用[4-5];结 合 时 间 调 制 与 空 间 调 制 的 特点,时空联合调制 干 涉 成 像 光 谱 仪 在 获 取 图 像 的 同 时 能 获 取 目 标 的 光 谱 信 息 ,具 有 高 通 量 、高 稳 定 性 等优点[6],并在航天领域得到了实际应用。同 时,近 场像面干涉等新型高光谱干涉仪也被广泛研究 。 [7]
有更加紧凑的结构,且也无运动部件,F-P 干涉还 在 光纤光学、激光学中有着广泛的应用[9],例如采 用 光
光学成像概念可知由一点所发出的光线经过光学系 统 后 重 新 会 聚 于 一 点 ,会 聚 点 即 其 像 点 ,当 探 测 器 为
纤 F-P 可调谐滤波器 来 获 取 光 谱,是 白 光 干 涉 仪 获 取光谱的重要手段之一 。 [10]
多,得到的干涉环亮条纹的宽度将会越窄,其光谱分 经过 F-P 标准具后形 成 多 光 束 干 涉,并 经 过 成 像 透
辨率也将越高。另外,F-P 干涉仪结构十分简 单,相 镜重新会聚到一点上而得到了包含了干涉信息的目
比较于迈克耳 孙 或 萨 格 奈 克 干 涉 仪,F-P 干 涉 仪 具 标像点。F-P 干 涉 成 像 光 谱 仪 原 理 如 图 2 所 示,由
二维探测器,则可以 获 取 目 标 包 含 干 涉 信 息 的 空 间 图像。
在图1(a)中,如果进 入 标 准 具 之 前 的 光 线 经 过
0830003-2
杜 述 松 等 : 多 光 束 干 涉 光 谱 成 像 技 术
图2 F-P干涉成像光谱仪原理
Fig.2 Principle of the F-P interferential imaging spectrometer
法布里-珀 罗 (F-P)干 涉 仪 是 一 种 多 光 束 干 涉 仪,与双光 束 干 涉 仪 相 比 较,具 有 极 高 的 光 谱 分 辨 率,可被用于中高层 大 气 风 场 探 测 以 及 物 质 成 分 精 细分析等领域 。 [8] 传统的 F-P 干涉仪其光谱分辨率 由 标 准 具 的 间 距 来 决 定 ,间 距 越 大 分 辨 率 越 高 ,但 是 另一方面 F-P 干 涉 仪 的 光 谱 范 围 受 限 于 其 自 由 光 谱 范 围 ,如 果 谱 段 范 围 超 出 其 自 由 光 谱 区 ,则 会 出 现 光 谱 混 叠 ,无 法 获 取 目 标 的 光 谱 信 息 。
第 33 卷 第 8 期 2013 年 8 月
光 学 学 报 ACTA OPTICA SINICA
Vol.33,No.8 August,2013
多光束干涉光谱成像技术
杜述松1,2 王咏梅3 陶 然1
( ) 1 中国科学院光电研究院,北京 100094;2 中国科学院大学,北京 100049 3 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京 100190
传统的 F-P 干涉 仪 只 能 用 于 极 窄 的 光 谱 范 围, 这是由于 其 数 据 处 理 采 用 的 是 直 观 的 几 何 处 理 方 法,只有当两种谱线 的 干 涉 环 在 探 测 器 上 被 完 全 分 开 ,才 能 被 分 辨 。 但 是 ,如 果 不 直 接 从 干 涉 曲 线 当 中 获取光谱信息,而是 采 用 类 似 于 傅 里 叶 变 换 的 方 法
Abstract Fabry-Perot (F-P)interferometer is a kind of multiple beam interferometer.It has very high spectral resolution,and can be used to research fine structure of the matter.The application of F-P interferometer is limited by
1 引 言
光 谱 成 像 技 术 是 20 世 纪 80 年 代 出 现 的 一 种 遥 感 技 术 ,由 于 可 以 获 取 目 标 的 图 谱 信 息 ,该 技 术 近 年 来获得了快速的发展。首先进入应用领域的光谱成 像 技 术 是 基 于 棱 镜 或 光 栅 的 色 散 型 光 谱 成 像 仪 , [1] 后来以迈克耳孙为代表的时间调制干涉光谱成像仪 由于具有高通量的 优 势,在 大 气 风 场 等 领 域 得 到 了
图1 (a)F-P干涉仪原理;(b)干涉环
Fig.1 (a)Principle of the F-P interferometer;(b)interference fri数 越 一准直系统而变成 一 系 列 平 行 光 线,这 些 平 行 光 线
对干涉环曲线进行 处 理,则 可 以 获 取 目 标 宽 谱 段 范 围的光谱信息,使 F-P 干 涉 仪 可 应 用 于 光 谱 成 像 领 域。这种多光束干 涉 光 谱 成 像 仪 具 有 结 构 简 单、光 谱 分 辨 率 高 等 优 点 ,可 以 用 于 航 空 航 天 等 遥 感 领 域 , 也可用于小型化的光谱成像设备。
收 稿 日 期 :2013-04-01;收 到 修 改 稿 日 期 :2013-04-15 作 者 简 介 :杜 述 松 (1980— ),男 ,助 理 研 究 员 ,主 要 从 事 航 空 航 天 领 域 光 谱 成 像 技 术 以 及 新 型 计 算 成 像 等 方 面 的 研 究 。
E-mail:dushusong@aoe.ac.cn
摘 要 法 布 里 -珀 罗 (F-P)干 涉 仪 是 一 种 多 光 束 干 涉 仪 ,具 有 极 高 的 光 谱 分 辨 率 ,一 般 用 于 研 究 光 谱 的 精 细 结 构 。F- P 干涉仪的应用受限于自由光谱范围,如 果 波 长 超 过 自 由 光 谱 范 围,将 无 法 得 到 光 谱 的 精 细 结 构。 基 于 F-P 干 涉 仪,采用方程组来描述干涉图与光谱曲线之间的关系,并通过奇异值分解方法来 解 方 程 组,求 出 宽 谱 段 范 围 的 光 谱 曲线,使 F-P干涉仪成为一种多光束干涉光谱成像仪,可 用 于 遥 感 等 领 域;但 奇 异 值 分 解 法 求 解 光 谱 曲 线,对 图 像 噪 声 较 为 敏 感 ,通 过 仿 真 结 果 可 以 看 出 ,干 涉 图 噪 声 需 控 制 在 0.2% 以 内 才 能 较 好 地 复 原 出 光 谱 曲 线 。 关 键 词 光 谱 学 ;法 布 里 -珀 罗 干 涉 仪 ;光 谱 复 原 ;自 由 光 谱 区 ;奇 异 值 分 解 ;谱 分 辨 率 中 图 分 类 号 O433.1 文 献 标 识 码 A doi:10.3788/AOS201333.0830003
2 F-P 干涉仪简介
2.1 F-P 干涉仪基本原理 1899 年 ,法 国 物 理 学 家 和 数 学 家 共 同 发 现 了F-P
干涉现 象。F-P 干 涉 仪 结 构 十 分 简 单,如 图 1(a)所 示,核 心 部 分 是 两 块 相 互 平 行 的 玻 璃 板 ,在 两 块 平 板 的外表面镀增透膜,而 在 两 块 平 板 相 对 的 内 表 面 均 镀反射膜。 当 一 条 光 线 进 入 两 块 相 互 平 行 的 平 板 时 ,在 平 板 内 部 将 产 生 多 次 反 射 ,从 而 形 成 多 束 相 互 平行的光线 E1,E2,E3,…,Et,而且这t束光线每两 束相邻的光线 之 间 具 有 相 同 的 光 程 差,因 此 当 这 n 束光线经过一成像镜后将在探测器上得到物点的干 涉 图 ,而 当 对 物 点 以 不 同 的 入 射 角 进 行 扫 描 时 ,在 探 测器 上 将 得 到 干 涉 环,理 论 的 干 涉 环 如 图1(b) 所示。
2.2 F-P 干涉仪基本公式
F-P 的透射光光线在探测器上的强度表达式为[11]
I(t) =I(i)
(1-R)2
=I(i)
1
=I(i)
1
,
( ) (1-R)2 +4Rsin2
δ 2
( ) 1+ (14-RR)2sin2
δ 2
( ) 1+Fsin2
δ 2
(1)
式 中 R =r2 =r′2,r,r′ 分别为上下两块玻璃板的反 射率,I(i) 为入射光的强 度,一 般 情 况 下 入 射 光 为 单
广泛应用 。 [2] 但是,时 间 调 制 的 干 涉 成 像 光 谱 仪 具 有 运 动 部 件 ,仪 器 的 可 靠 性 较 低 ,因 此 空 间 调 制 和 时 空联合调制的干涉成像光谱技术逐渐成为新的研究 热点。典型的空间调制干涉成像光谱仪有萨格奈克 干涉成像光谱仪,与 迈 克 耳 孙 等 时 间 调 制 干 涉 成 像 光谱仪相比,萨 格 奈 克 无 运 动 部 件,可 靠 性 更 高 ; [3] 另一类空间调制干涉成像光谱仪是空间外差式干涉
Multiple Beam Interferential Spectral ImagingTechnology
Du Shusong1,2 Wang Yongmei 3 Tao Ran1
烄
1 Academy of Opto-Electronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100094,China
烌
2 University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China
烆3 Center for Space Science and Applied Research,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100190,China烎
the free spectral range.The fine structure of the matter will not be got when the bandwidth of the light surpass the free spectral range.Based on the F-P interferometer,we describe the relationship between the interference pattern and the spectral curve as equation sequence.The equation sequence is solved by the singular value decomposition,and the wide bandwidth spectral curve will be got.By this way F-P interferometer can be used as a spectral imaging instrument.But the algorithm is sensitivity to the noise of the interference pattern.After some simulation work,we find the noise of the interference pattern should be less than 0.2% . Key words spectroscopy;Fabry-Perot interferometer;retrieve of the spectrum;free spectral range;singular value decomposition;spectral resolution OCIS codes 120.2230;120.3180;120.6200;070.4790