混频器的相位特性测试
混频器测试建议书
混频器测试建议书背景介绍混频器在音频领域扮演着重要的角色，用于调配不同音频信号，实现混合效果。
在使用混频器过程中，我们常常遇到一些问题，例如音频失真、信号干扰等。
我们有必要进行混频器的测试和优化，以确保其正常运行和良好的音频效果。
测试目的本次测试旨在评估混频器的性能和稳定性，并提出相应的改进建议。
通过测试，我们希望能够解决以下问题：1. 音频失真问题：在高音量下，是否出现音频失真现象？2. 信号干扰问题：在混频器工作时，是否有其他设备的信号干扰？测试内容1. 音频失真测试：通过输入不同频率和音量的音频信号，测试混频器在不同工作状态下的音频质量。
记录音频质量是否出现失真现象，并在测试报告中进行说明。
2. 信号干扰测试：在混频器工作时，接入其他设备并输出信号，观察是否有干扰现象出现。
记录干扰程度，并在测试报告中提出相应的解决方案。
测试步骤1. 准备测试环境：搭建一个适当的实验室环境，包括混频器、音频信号源、音箱等设备。
2. 连接测试设备：将音频信号源通过线缆连接到混频器的输入端口，并将混频器的输出端口连接到音箱。
确保连接正确、稳定。
3. 进行音频失真测试：将音频信号源输出不同频率和音量的音频信号，通过混频器进行混合，并通过音箱进行播放。
用听觉感受音频质量，并记录测试结果。
4. 进行信号干扰测试：在混频器工作时，接入其他设备（如方式或电脑）并输出信号。
观察混频器工作是否受到干扰，并记录干扰状况。
5. 数据分析与报告撰写：整理测试数据，并分析测试结果。
根据测试结果撰写测试报告，包括存在的问题及改进建议。
改进建议基于测试结果，我们提出以下改进建议，以解决已发现的问题：1. 音频失真问题：提升混频器的功率，以增加其工作容量，避免音频失真；优化混频器的设计，提高其音频处理效果，以降低音频失真的发生概率。
2. 信号干扰问题：加强混频器的隔离和屏蔽措施，降低其他设备信号对混频器的干扰；在混频器使用过程中，减少其他设备靠近混频器的距离，以避免干扰。
混频器特性分析
微波混频器技术指标与特性分析一、噪声系数和等效噪声温度比噪声系数的基本定义已在第四章低噪声放大器中有过介绍。
但是混频器中存在多个频率，是多频率多端口网络。
为适应多频多端口网络噪声分析，噪声系数定义改为式（9-1），其理论基础仍是式（6-1）的原始定义，但此处的表示方式不仅适用于单频线性网络，也可适用于多频响应的外差电路系统，即（9-1）式中 Pno ——-当系统输入端噪声温度在所有频率上都是标准温度T0 = 290K 时，系统传输到输出端的总噪声资用功率；Pns ——仅由有用信号输入所产生的那一部分输出的噪声资用功率。
根据混频器具体用途不同，噪声系数有两种。
一、噪声系数和等效噪声温度比1、单边带噪声系数在混频器输出端的中频噪声功率主要包括三部分：（1）信号频率f s 端口的信源热噪声是kT 0∆f ，它经过混频器变换成中频噪声由中频端口输出。
这部分输出噪声功率是 m fkT α∆0式中 ∆f ——中频放大器频带宽度；αm ——混频器变频损耗；T 0——环境温度，T 0 = 293K 。
（2）由于热噪声是均匀白色频谱，因此在镜频f i 附近∆f 内的热噪声与本振频率f p 之差为中频，也将变换成中频噪声输出，如图9-1所示。
这部分噪声功率也是kT 0∆f ／αm 。
（3）混频器内部损耗电阻热噪声以及混频器电流的散弹噪声，还有本机振荡器所携带相位噪声都将变换成输出噪声。
这部分噪声可用P nd 表示。
这三部分噪声功率在混频器输出端相互叠加构成混频器输出端总噪声功率P nond m m no P f kT f kT P +∆+∆=αα//00 把P no 等效为混频器输出电阻在温度为T m 时产生的热噪声功率，即P no = kT m ∆f ，T m 称混频器等效噪声温度。
kT m ∆f 和理想电阻热噪声功率之比定义为混频器噪声温度比，即 00T T f kT P t m no m =∆= 按照定义公式（9-1）规定，可得混频器单边带工作时的噪声系数为 ns m ns no SSB P f kT P P F ∆==在混频器技术手册中常用F SSB 表示单边带噪声系数，其中SSB 是Singal Side Band 的缩写。
混频器测试建议书
混频器测试建议书1.1 编写目的1.2 背景介绍1.3 适用范围二、混频器测试概述2.1 混频器基本概念2.2 混频器测试重要性2.3 测试标准与要求三、混频器测试方案3.1 测试环境与设备3.2 测试项目与方法3.2.1 频率测试3.2.2 相位测试3.2.3 线性度测试3.2.4 谐波测试3.2.5 杂散辐射测试3.3 测试数据记录与分析3.4 测试结果判定四、混频器测试流程4.1 测试准备4.2 设备调试4.3 测试实施4.4 数据记录与报告4.5 测试结束后工作五、混频器测试注意事项5.1 测试人员要求5.2 设备维护与保养5.3 安全与环保5.4 测试过程中的问题处理六、混频器测试改进建议6.1 测试技术更新与发展6.2 设备升级与维护6.3 人员培训与技能提升6.4 优化测试流程与方法7.1 测试表格7.2 测试报告模板7.3 相关技术资料八、参考文献1.1 编写目的为确保混频器测试工作的顺利进行，提高测试质量和效率，特制定本测试建议书。
1.2 背景介绍随着通信技术的快速发展，混频器在无线通信系统中扮演着重要的角色。
为了保证混频器的性能达标，需进行一系列的测试。
1.3 适用范围本建议书适用于混频器制造商、测试机构及相关技术人员。
二、混频器测试概述2.1 混频器基本概念混频器是一种电子设备，用于将两个不同频率的信号混合在一起。
2.2 混频器测试重要性测试混频器性能，以确保其在实际应用中的可靠性及稳定性。
2.3 测试标准与要求根据相关国家标准及行业规定，对混频器进行测试。
三、混频器测试方案3.1 测试环境与设备•测试环境：恒温、恒湿、无干扰的实验室•测试设备：频谱分析仪、信号源、示波器等3.2 测试项目与方法3.2.1 频率测试使用信号源和频谱分析仪，测试混频器的输出频率。
3.2.2 相位测试通过示波器，测试混频器的相位特性。
3.2.3 线性度测试利用信号源和频谱分析仪，测试混频器的线性度。
混频器测试建议书
混频器测试建议书混频器测试建议书背景介绍混频器是音频信号处理中常用的设备，用于将多个音频信号混合成一个输出信号。
混频器的功能和性能对音频设备的表现和性能有着重要影响。
为了保证音频设备的质量和性能，进行混频器的测试是必不可少的。
测试目的本次混频器测试的目的是评估混频器的性能，并根据测试结果提出相关建议，以优化混频器的性能和功能，为用户提供更好的音频效果。
测试内容1. 混频器输入信号测试：测试混频器对于不同频率、幅度和相位的输入信号的响应能力，以评估混频器的输入信号处理性能。
2. 混频器输出信号测试：测试混频器输出信号的频率响应、失真程度和信噪比等指标，以评估混频器的输出信号质量。
3. 混频器通道间隔离度测试：测试不同通道输入的信号间的隔离度，以评估混频器通道间的干扰程度。
4. 混频器控制功能测试：测试混频器控制功能的可靠性和灵活性，包括各个控制参数的调节范围和精度等。
测试方法1. 使用标准信号源产生不同频率、幅度和相位的输入信号，并输入到混频器。
2. 使用频谱分析仪、失真分析仪等设备对混频器的输出信号进行测试和分析。
3. 使用多通道示波器对混频器各个通道的输入信号和输出信号进行测试，以评估通道间的隔离度。
4. 对混频器的不同控制参数进行测试调节，观察其对输出信号的影响。
测试结果与建议根据以上测试内容和方法，我们可以得到混频器的性能评估结果，并提出以下建议：1. 提高混频器的输入信号响应能力，使其能够更好地处理各种频率、幅度和相位的输入信号。
2. 优化混频器的输出信号质量，降低失真程度和提高信噪比，以提供更清晰、更真实的音频效果。
3. 提高混频器通道间的隔离度，减少通道间的干扰，以保证不同通道音频信号的纯净和准确。
4. 优化混频器的控制功能，提高其可靠性和灵活性，使用户能够更方便地调节和控制混频器的各项参数。
通过本次混频器测试，我们对混频器的性能和功能进行了全面评估，并提出了相关建议。
希望这些建议能够帮助混频器制造商改进产品，提供更好的音频设备和音频效果，满足用户的需求和期望。
混频器测试建议书
混频器测试建议书混频器是一种常见的电子信号处理设备，广泛应用于通信、娱乐、医疗等领域。
混频器的主要作用是将多个不同频率的信号混合在一起，从而形成一个新的复合信号。
为了确保混频器的性能和稳定性，需要进行混频器测试。
本文将提出混频器测试建议书，包括测试原则、测试方法和测试流程等方面，以帮助测试人员制定科学的测试计划和保证测试结果的准确性。
一、测试原则1.准确性。
混频器测试需要保证测试结果的准确性，确保混频器的输出信号质量符合规定标准。
2.完整性。
混频器测试需要覆盖混频器的主要性能指标，包括工作频率范围、输出功率、相邻信道抑制比、杂散抑制比等。
3.可重复性。
混频器测试需要确保测试过程和结果的可重复性，即在相同的测试条件下，测试结果能够得到相同的结果。
4.及时性。
混频器测试需要在混频器设计完成后及时进行，确保混频器的性能指标符合设计要求，避免后期修改带来的成本和时间浪费。
二、测试方法1.频谱分析测试法。
频谱分析法是一种比较常用的混频器测试方法，能够测量到混频器的频率响应和输出杂散。
测试时需要使用频谱仪连接混频器的输出端口，将不同频率的信号输入混频器进行测试。
2.矢量网络分析测试法。
矢量网络分析法是一种比较精密的混频器测试方法，可以测量混频器的S参数和阻抗匹配情况，并可以得到混频器的传输函数。
测试时需要使用矢量网络分析仪连接混频器的输入和输出端口进行测试。
3.功率测试法。
功率测试法主要用于测试混频器的输出功率和稳定性，可以使用功率计来测量输出端口的功率和频率。
测试时需要将不同频率的信号输入混频器并测量输出功率和频率，用于测试混频器的输出功率和稳定性。
三、测试流程1.准备测试设备。
根据测试方法选择相应的测试设备，包括频谱分析仪、矢量网络分析仪、功率计等，并按照说明书连接好测试设备。
2.制定测试计划。
根据混频器的设计要求和性能指标制定相应的测试计划，包括测试频率范围、输出功率、杂散抑制比、相邻信道抑制比等。
3.测试混频器的频率响应和杂散抑制比。
混频器测试建议书
混频器测试建议书混频器测试建议书1. 引言本文档旨在提供混频器测试的建议和注意事项，以确保混频器的正常运行和产品质量。
2. 测试准备在进行混频器测试之前，需要做好一些准备工作：- 确保测试环境符合要求，包括供电稳定、地线连接良好等；- 准备好测试仪器，例如频谱分析仪、信号发生器等；- 验证测试仪器的准确性和可靠性；- 根据混频器的技术规格书，了解其功能和性能指标。
3. 测试内容混频器的测试应该主要包括以下内容：3.1 输入输出特性测试- 测试混频器的输入和输出端口的阻抗特性，包括阻抗匹配、反射损耗等；- 测试混频器的输入和输出端口的频率响应特性，包括增益和相移等。
3.2 频率转换带宽测试- 测试混频器的频率转换带宽，即输入信号频率和输出信号频率之间的差值；- 确保混频器在转换过程中不会引入过多的功率损耗和相位失真。
3.3 动态范围测试- 测试混频器在不同输入信号功率水平下的输出功率范围；- 确保混频器在各种输入信号条件下都能保持稳定的增益和线性度。
3.4 杂散和杂波测试- 测试混频器在转换过程中是否会产生不必要的杂散和杂波；- 通过频谱分析仪等仪器来检测混频器的输出信号中的杂散和杂波成分。
4. 测试方法进行混频器测试时，可以采用以下方法：- 使用信号发生器产生需要测试的输入信号；- 将输入信号连接到混频器的输入端口，并将混频器的输出端口连接到频谱分析仪等仪器上；- 使用仪器记录并分析混频器的输出信号数据；- 根据测试结果，评估混频器的性能和质量等。
5. 注意事项在进行混频器测试时，需要注意以下事项：- 遵循相关的操作规范和安全要求，确保测试过程安全可靠；- 在测试环境中尽量减少干扰源，以确保测试结果的准确性；- 根据混频器的技术规格书，选择合适的测试参数和仪器；- 在测试过程中及时记录数据和观察现象，以便后续分析和评估。
6. 结论通过本文档的指导，可以帮助测试人员进行混频器的全面测试，确保混频器的功能和性能指标符合要求。
混频器测试建议书简版
混频器测试建议书混频器测试建议书摘要本文档旨在提供关于混频器测试的建议。
首先，对混频器的基本概念进行介绍，然后根据测试要求，提供测试方案及具体操作步骤，最后总结并提出改进建议。
1. 简介混频器是一种电子设备，用于将多个信号进行混合并输出。
它在无线通信系统、音频处理等领域起到重要作用。
混频器的性能测试对于保证设备质量和性能至关重要。
2. 测试要求在进行混频器测试之前，首先需要明确测试的目的和要求。
下面是一些典型的混频器测试要求：2.1 频率响应测试混频器的频率响应特性，包括幅频特性和相频特性。
幅频特性测试需要确定混频器在不同频率下的增益变化情况。
相频特性测试需要确定混频器在不同频率下的相位变化情况。
2.2 动态范围测试混频器的动态范围，即信号输入范围内能够输出的最大可靠信号幅度和最小可靠信号幅度。
动态范围测试需要确定混频器的最大输入功率和最小可识别功率。
2.3 噪声系数测试混频器的噪声系数，即在混频器输入端引入的额外噪声对输出信号质量的影响。
噪声系数测试需要确定混频器的噪声功率。
2.4 隔离度测试混频器的隔离度，即测量混频器不同输入端之间的信号隔离情况。
隔离度测试需要确定混频器在不同输入端之间隔离信号的功率衰减情况。
3. 测试方案基于测试要求，下面提供一个测试方案供参考：3.1 仪器准备在进行混频器测试之前，需要准备以下仪器：- 频谱分析仪- 功率计- 频率信号源- 可编程电源- 信号发生器- 示波器3.2 操作步骤以下是混频器测试的基本操作步骤：1. 搭建测试环境，确保仪器连接正确，并进行校准。
2. 使用信号发生器和频率信号源产生不同频率的输入信号，记录并测量混频器的输出信号。
3. 使用频谱分析仪测量混频器的幅频特性，记录并绘制混频器的增益变化曲线。
4. 使用相位测量仪测量混频器的相频特性，记录并绘制混频器的相位变化曲线。
5. 使用功率计测量混频器的最大输入功率和最小可识别功率。
6. 使用噪声源测量混频器的噪声功率。
解决普通混频器测量的技术难题
解决普通混频器测量的技术难题一、多端口测试系统可以同时实现高速度和高精度A, multi-port test system can achieve high speed and high precision at the same time传统vna使用一个作为激励的rf信号源，并采用多路测量接收机来测量正反两个方向上的入射、反射和传输信号；传统vna有两个测试端口，因为早期的大多数器件只有一个或两个端口。
为了对多端口器件进行测量，就需要在被测器件(dut)的各个端口之间多次变换测试电缆和端接负载，直到完成对所有端口的测量。
现在，rf系统所使用的许多器件都有三、四个端口，多至七、八个端口的器件也变得越来越常见。
导致器件端口数量提高的原因有两个：一个是平衡元器件的广泛使用，另一个是子组件的集成程度不断提高，如当前手机中使用的前端模块。
为此，可以考虑增加测试系统的测试端口数量进行放大器和混频器的测量。
多端口测试系统与使用传统的两端口vna 相比，大大地提高了测试速度。
因为它有四大改进：Traditional vna using a a rf signal source ofmotivation, and USES the multi-channel measurement receiver to measure the positive and negative two direction of incidence, reflection and transmission signal; Traditional port vna have two tests, because most of the early device with only one or two ports. In order to measure the multiport components, you need the device under test (dut) of each port test cable and terminal load between multiple transformation, until the complete measurement of all ports. Now, many devices used by the rf system have three or four ports, up to seven or eight port devices are becoming more common. Increased device port number by two reasons: one is the equilibrium components of widely used, the other one is a child component integration degree unceasing enhancement, such as front-end module used in the current mobile phone. To do this, you can consider increasing the number of test port test system for measuring amplifier and mixer. Multi-port test system compared with using the traditional two port vna, greatly improve the speed test. Because it has four big improvements:（一）两个信号源(a) two signal source第二个内部信号源与第一个信号源的频率和功率电平设臵是相互独立的。
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如果混频器的本振是扫描的，那么本振在不同频点处的相位变化将会影响到混频器相位特性曲线的斜率，进而影响到混频器的时延。
然而当混频器本振处于扫描状态时，其输入或者输出必定有一个是固定的。
假设输入信号和本振同步扫描，输出固定，那么在输出端增加的延迟（比如增加一段传输线）只能表现为一定的相移而无法呈现出相位相对频率的函数，因此在测试时体现在混频器相位特性曲线上的也仅仅是一个相移而不是斜率的变化，这对于我们关注的混频器从输入到输出的时延特性是相悖的。
因此，当混频器的本振处于扫描状态时，通常会改变测试的思路，由于器件在输出频率处都会有一定的带宽，可以将输入信号扫频的范围分成若干个小段，而本振变成步进的状态，在每个分段中采用固定本振的测试方法得到每个带宽范围内器件的时延，将所有分段中心频点处的时延连起来，就能够拼接成本振扫描状态下的器件时延。
现有的混频器时延或相位非线性测试方法主要有向下/向上变换（三混频器）法，调制信号法（包括双音法），矢量混频器测试法（VMC）和相位相参接收机测试法（SMC+Phase）等。
3.1.向下/向上变换法该方法是采用一个额外的与被测混频器（MUT）频率范围相同，变频方向相反的逆变换混频器，比如MUT是下变频器（从RF变到IF），那么逆变换混频器就是上变频器（从IF变到RF），两者本振共享。
将两个变频器串联后形成的链路，输入和输出信号则是同频的，可以直接用网络分析仪进行幅度和相位测试，得到串联后链路的传输特性，即为MUT和逆变换混频器传输特性的乘积。
如果再找到一个与MUT频率范围相同的互易混频器（可以上变频也可以下变频，两个变频方向的传输特性一致，即SC21=SC12），将该混频器作为上变频器与MUT串联，同样可以得到串联后的传输特性，即为MUT和互易混频器传输特性的乘积。
然后将该互易混频器作为下变频器与第一步中的逆变换混频器串联，则能够得到互易混频器和逆变换混频器传输特性的乘积。
考虑到混频器的工作特点，为了防止镜像信号也被逆变换混频器或者互易混频器转换到输出频段，在下变频器的输出端需要采用一个带通滤波器。
假定互易混频器为A，逆变换混频器为B，MUT为C，测试原理图如下：∙步骤较多，而且需要两个额外的混频器，其中一个还要是互易的。
当测试频率提高到微波或毫米波频段时，很难找到合适的互易混频器。
∙所有的混频器必须共用同一个本振源，因此当被测混频器的本振无法由外部提供时，该方法将无法完成测试。
∙忽略了混频器和IF滤波器之间端口失配的影响，测试结果误差较大。
测试中使用的是宽带检波器/鉴频器，灵敏度较差，且假定其特性在混频器的输入到输出频段是平坦的，实际的频响特性对测试精度以及动态范围都存在不利的影响∙为了提高示波器的测试精度，调制信号的频率要越高越好（具有更陡的边沿），相应的混频器时延分辨率会变得很差∙无法修正端口失配带来的误差∙互易混频器，SC21_Cal=SC12_Cal∙带镜像抑制滤波器∙单程损耗不超过10dB，SC21_Cal≤-10dB∙在矢量网络仪端口1和端口2间进行双端口校准，修正仪表的方向性误差，端口失配以及反射跟踪误差。
频率包括输入和输出频段，此处为同频测试，开关打在内部位置，参考信号不经过参考混频器∙将校准混频器接到矢网端口1，在校准混频器末端连接校准件进行单端口校准，提取校准混频器的散射参数。
此时开关依然打在内部位置，参考信号不经过参考混频器∙将校准混频器接到矢网端口1和端口2之间进行直通校准，此时开关切到外部，将参考混频器接入参考路径，修正矢网的正向传输跟踪误差。
VMC只在正向采用了参考混频器，因此无法测试反向变频特性。
与前两个测试方法相比，VMC有如下优势：∙测试过程中只需要将被测混频器接入即可，减少了多次连接引入的误差∙矢量网络仪是窄带的接收机，具有更高的测试灵敏度和动态范围∙被测混频器的输入输出是直接连到矢量网络仪的测试端口上的，可以通过校准去除被测件和仪表之间端口失配的影响∙矢量网络仪能够自行选取被测混频器的输出信号，不需要额外的镜像抑制滤波器∙不要求被测混频器与参考混频器共本振，对于本振内嵌的混频器，可以采用算法估计出其内嵌本振的漂移（具体过程将在4.1中介绍）基于以上几点，VMC已经被广泛的应用于高精度的变频器测试并作为相位测量的标准，不过它还存在一个问题，当LO频率发生变化时，需要重新提取校准混频器的参数，如果需要测试多个LO频率下的混频器特性，校准步骤会大大增加。
上式中，很容易获得，如果再测到。
aLO∙将梳状波发生器输出口连接到矢网的端口2，提取B接收机在不同频段上的相位响应，为了提高信噪比，通常会把端口2的定向耦合器反接（Port2通过定耦的直通臂接入B 接收机）。
∙将功率计接到矢网的端口1，校准矢网的输出功率以及R1接收机的幅度响应。
∙保持端口2定耦反接的状态，在矢网的端口1和端口2之间做全双端口的校准，获取此时的系统误差，并通过系统误差项将B接收机的相位响应以及R1接收机的幅度响应传递到其他接收机进行幅度和相位校准。
∙正常情况下矢网端口2的定耦不是反接的，此时需要把定耦恢复到正常状态，在矢网的端口1和端口2之间再做一次全双端口校准，与上一步获取到的校准数据结合起来，获取正常状态下矢网端口1和端口2之间的系统误差以及各个接收机的幅度/相位响应。
由于矢网的硬件非常稳定，这部分校准数据的有效性可以维持几个月，这段时间内不需要重复校准，只要在使用时调用保存好的校准数据（Calset）即可。
实际测试时，矢网和被测件之间通常需要根据实际情况选择合适的测试电缆和连接器，它们的影响通过第二部分的校准进行修正：∙调用第一步保存好的校准数据，然后在实际的测试端口上做一个覆盖输入和输出频段的普通全双端口校准。
∙PNA/PNA-X可以提取出测试电缆和连接器的S参数，并将它们与第一步的校准数据相结合，将第一部分的校准端面外延到与被测件连接的端口。
∙因此，SMC+Phase的实际测试过程非常简单，在VMC的基础上又增加了以下的优点：∙连接简单，只需要将输入，输出和本振连到矢网上，不需要额外的参考/校准混频器。
∙所有的校准件都是标准的，容易获取，且都可以回溯到NIST。
∙第一步的校准可以覆盖矢网的全频段，改变LO的频率最多只需在变化后的输入/输出频段上再做一次双端口校准即可。
∙倍频器，本振内嵌的混频器同样适用。
SMC+Phase也有一定的局限性，为了保证稳定的相位响应，每次扫描得到的变频相位曲线都是对轨迹上的某个固定频点做归一化之后的结果，如果要测试的变频器件内部有移相器（比如TR组件），与移相相关的测试无法通过SMC+Phase完成。
因为移相器是在工作频段内整体变化一个固定的相位，这个固定的相位偏移在测试过程中会被测试仪表归一化处理掉。
3.5.测试实例下面我们用一个实例来对比一下向上/向下变换法，VMC和SMC+Phase的测试结果。
被测混频器是Mini-circuits ZFM-4212，测试设备为PNA-X，测试频段如下：RF：3.6GHz~4GHzLO：3GHzIF：0.6GHz~1GHz本振由PNA-X的源2提供，三种方法测得的混频器延迟如下图所示（测试结果包含混频器和一个低通滤波器），S21为向上/向下变换法将上变频器去嵌入后的结果，VC21对应的是VMC测试法，SC21是SMC+Phase测试法。
试来说，1Hz的频偏会导致相位在一秒内偏移360°，如果不能估计出混频器的真实输出频率，相位测试是无法实现的。
为了解决这个问题，Keysight公司的PNA/PNA-X采用了一种软件算法来确保一定时间内对内嵌本振的准确跟踪。
以VMC为例，具体过程如下：∙将参考混频器接到矢网端口1的参考通道，参考混频器的本振受控于矢网（矢网的第二个源或者与矢网共时基的外部信号源）。
被测混频器输入和输出端口分别连接到矢网的端口1和端口2，在扫频范围内选定一个点，比如中心频点，作为软件跟踪点。
∙先将软件跟踪点的设定输入频率值作为被测混频器的激励信号，让端口2的测试接收机（B接收机）以设定输出频率为中心扫描一定的范围，可以得到被测混频器的当前输出频点，借此可估计出本振频率。
受限于接收机的中频滤波器带宽（IFBW），此处测到的频率值可能和真实值还有微小的偏差。
∙调节参考混频器的本振，将R1和B接收机调谐至上一步测到的输出频率，观察此时两接收机的相位差随时间变化的曲线。
该曲线的斜率体现了R1与B接收机收到的信号间的频率差。
使用此频率差进一步调整参考接收机的本振，重复测试R1与B接收机的相位差随时间变化的斜率，直到两者间频率差满足预设的容限（比如小于1Hz）。
∙至此，矢网已准确的估计出被测混频器的本振频率，后续的测试可以照常进行。
接下来的每次扫描前矢网都会重复一遍上述的过程以保证对嵌入式本振的持续跟踪。
∙将功分器接到上图中被测件的位置，关闭矢网频偏模式∙将矢网的频段设置到被测件的输出频段∙以功分器为基准，对B/A，C/A，D/A的相位做归一化（功分器自身的相位不平衡可以通过测试其S参数后计算得出）System Vector Error Correction",Microwave Symposium Digest,2002IEEE MTT-S International,2002,Page(s)1833-1836vol.3.4.Dunsmore,Joel“A new calibration method for mixer delay measurements that requires no calibration mixer”,Microwave Conference(EuMC),2011,Page(s) 480-4835.Agilent Technologies,“Measuring Group Delay of Frequency Converters with Embedded Local Oscillators”,AN1408-18,Sep.2007。