随钻中子测井数据校正分析
随钻中子测井数据校正分析
随钻中子测井数据校正分析
钻井中子测井是一种获取地下岩层核密度信息的重要工具。
这种测井技术利用了中子
在物质中被吸收的现象，通过测量中子的散射和吸收来获取岩层的核密度数据。
然而，由
于地下介质的复杂性和测井过程中的影响因素，采集到的数据往往需要进行校正，以提高
测量精度和准确性。
1. 仪器校正：钻井中子测井仪器需要经过标定和定期维护来保证测量的精度和准确性。
因此，在进行数据处理前，应先进行仪器校正，消除可能存在的仪器漂移和误差。
2. 地质校正：地下地质介质的复杂性决定了中子的散射和吸收过程也很复杂。
因此，需要根据地质情况对测量数据进行校正。
例如，在油气勘探中，常常需要根据岩石的孔隙度、岩性和水含量等因素来进行校正。
3. 温度校正：中子测井测量所得数据受温度的影响较大，因为中子在物质中的散射
和吸收与温度有关。
因此，在进行数据处理前，需要进行温度校正，校正后的数据更加准
确和可靠。
4. 队列校正：在进行随钻中子测井时，测量数据可能会受到下一钻井数据的干扰，
导致数据偏差。
因此，需要进行队列校正，即对相邻测井结果进行比对和校正，以消除干
扰和误差。
5. 躁声校正：由于钻井中的震动和噪声等因素，中子测井数据常常会受到躁声的影响，导致数据误差。
因此，需要进行躁声校正，减少误差和干扰。
随钻中子测井数据校正是提高测量精度和准确性的重要工作。
在进行数据处理时，需
要重点考虑仪器、地质、温度、队列和躁声等因素的影响，并采用合适的校正方法和技术
手段，保证测量数据的可靠和精准。
水平井随钻测井影响因素分析和校正
水平井随钻测井影响因素分析和校正冯湘子;李达【摘要】With China's horizontal well drilling, logging, production application technology development, the horizontal well there has been a great increase in number. But in some ways, there exist some problems in the well-bore , mud invasion, anisotropy of formation and surrounding rock strata, angle between well axle and formation, the instrument itself is how to influence factors as well logging with drilling expansion of research and analysis. Research shows that rock and anisotropy are measured with drilling the biggest influence on these two factors, aiming at establishing correction procedures, logging curves of distortion process, according to rock-electr relation curves of validation processing after correction more reliable.%随着我国水平井钻井、测井、生产、应用等技术的发展,水平井数量有了很大的增加.但在某些方面存在一些问题.就井眼、泥浆侵入、地层各项异性、围岩影响、井眼与地层的相对夹角、仪器本身等影响因素是如何影响随钻测井的展开研究分析.研究表明围岩和地层各向异性对随钻实测值影响最大.针对这两个影响因素建立校正程序,对失真的测井曲线进行处理,根据岩电关系验证处理校正后的曲线更加真实可靠.【期刊名称】《科学技术与工程》【年(卷),期】2011(011)024【总页数】5页(P5921-5925)【关键词】随钻测井;影响因素;校正;围岩影响;地层各项异性【作者】冯湘子;李达【作者单位】东北石油大学地球科学学院,大庆163318;东北石油大学地球科学学院,大庆163318【正文语种】中文【中图分类】TE249表1 直井与水平井测井影响因素对比表直井测井水平井随钻测井影响因素如何影响影响因素如何影响1井眼影响对探测深度较浅的曲线影响较大井眼影响井眼使相差电阻率增加;衰减电阻率减小2泥浆侵入的影响渗透层产生高侵和低侵泥浆侵入的影响影响较小3地层各项异性曲线失真变形4围岩影响高阻临层屏蔽作用围岩影响薄层中的实测电阻率值降低;厚层中围岩影响较小5仪器的影响仪器的误差影响仪器的影响不同探测深度产生影响6井斜和相对倾角曲线出现提前或者延迟随着我国水平井钻井技术、测井技术、生产、应用等各方面的发展，我国水平井数量大幅度增加。
随钻中子测井曲线环境影响自动校正方法研究
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１ 随钻 中子测井的影响 因素与分析
中子测井 是一 种核测 井方 法 。测 井 时 由下 井仪
中的中子源向地层发射快 中子 ， 中子在地层中运 快 动， 并与地层物质 的原子核发生各种作用 。通过测
量地层含氢指数来划分储集层 、 确定地层孔 隙度和 区分地层岩性 ， 在有利条件下还可计算地层泥质含
量。
相对于随钻 电阻率测井而言 ， 随钻核测井（ 中子 测 井） 主要受井 眼 大小 、 浆密 度 、 泥 泥浆矿 化 度 、 层 地
温度 、 地层压力 、 地层水矿化度 、 仪器偏心等 因素的
影响 ，其中受井 眼大小影响最为明显 。Ａ Ｎ和 Ｄ
Ｃ Ｎ的 中子探测器与电缆 中子仪器的设计基本一 Ｄ 样， 都是居 中设置。 随钻中子孔隙度并不 比电缆 中子 孔隙度更易受井眼的影响 ， 的测量值基本相同。 它们 随钻 中子比随钻密度受井眼的影响小 ， 测井质量更
的方法和技术Ⅲ 前 ， 。目 关于随钻 中子测井 曲线环境 影 响校正这方面的文献报道较少 闭 国外主要采用 ， 图版法。本文以 Ｓ Ｂ和 Ｈ Ｂ随钻 中子测井资料 为 Ｌ Ｌ 例 ，分 析总结 了影 响因素并给出了相应 的校正 方 法， 通过对随钻中子测井环境影响校正图版的 回归
稳定 。但受扩径明显影响 ， 在密度值偏低很多的地 方， 中子孔隙度也显示异常值 ， 为此需要对中子测井 值进行井眼等环境影响因素校正 ， 以提高随钻 中子 测井 曲线的质量和可靠性。
水平井随钻测井影响因素分析和校正
（ 与 垂 直 电 阻率 （ 不 一 致 而 引起 的 。地层 Ｒ） Ｒ）
井 眼 的变 化 反 应 了 渗 透 性 储 层 和非 渗 透 性 储
层 ， 眼 的扩 径 、 径 都 会 对 测 井 响应 的 贡 献 发 生 井 缩
存 在各 向异性 时 ， 不等 于 Ｒ 常 规 电缆测井 评价 Ｒ 中使用 的 地 层 真 电 阻 率 常指 地 层 水 平 电 阻 率 Ｒ 。 由于各 向异性 和井 斜 角 或 地层 倾 角 的存 在 ， 常使 电 测 曲线偏 离水 平 电阻 率 ， 离 程度 严 重 时会 导 致 地 偏
示 ） 对测井 曲线错 误 的 响应 校正 处 理 是 必 要 的 ， ， 去
穿 过地层 时 各 种 岩 石 物 理 量 的 响应 称 之 为 随 钻 测
井 （ ＷＤ） Ｌ 。随钻 澳 井 系统 中 随钻 测 井 的井 下 仪 器 ４ 的安装 与 常规 测 井 的仪 器 基 本 相 同 ， 不 同 的是 各 所 仪 器单元 均 安装在 钻 铤 中 ， 些 钻 铤 必 须能 够 适 应 这
１ 水平井随钻测井影响 因素
在 勘 探 、 发 过 程 中钻 井 后 进 行 测 井 ， 是 在 开 但
超过 ６ ５度 的大斜 度井 或钻 井 过 程 中 同 时 进 行 的测 井 ， 器 所 仪
目少等情 况下 。但 是 也存 在一 些 不 足 ， 其 是 随 钻 尤 测井 过程 中 会 产 生 一 系 列 的 影 响 因 素 （ 表 ｌ所 如
正 常的 泥浆循 环 。 主要 的电 阻 率 测 井 是 衰 减 电 阻 率 和 相 位 差 电
违存 真正 确地评 价地 层 。
２１ ０ １年 ４月 ２ １日收 到
阻率 。 由于钻井 过 程 中测井 及 地 层 倾 斜 的 情况 下 ，
随钻中子测井数据影响因素的校正分析
随钻中子测井数据影响因素的校正分析摘要：随钻中子测井仪在测井作业过程中，常会出现一些测井数据异常的现象，文中主要介绍了影响随钻中子测量精度的各种因素，比如受井眼尺寸、泥浆密度、泥浆矿化度等因素影响，从而导致随钻中子孔隙度曲线出现异常，并用实例说明了各种校正因素对随钻中子测井数据的影响，对这些影响因素进行分析校正，有助于随钻中子资料的质量控制。
关键词：随钻中子超声井径校正图版孔隙度随钻测井可在钻开地层的第一时间，实时获取地层信息，此时泥浆侵入较浅，原状地层受泥浆侵入影响很小，测量数据能真实地反映原始地层的特性。
在测量的过程中，难以避免地会出现测井曲线数据异常［1］，若在钻井液密度特别大和水平井中，随钻中子数据经常会出现异常值，与邻井同地层地质特征不符，直接影响着测井解释的准确性［2］。
随钻补偿中子测井仪器在判断地层孔隙度有了很成熟的应用,如何对影响随钻中子测井数据的因子进行校正，需深入地分析和研究。
1随钻中子测井数据的影响因子随钻中子仪器在测井作业过程中,经常会出现一些测井数据异常和难以解释的现象,比如井况复杂,受井眼尺寸、泥浆密度、泥浆矿化度等影响,从而导致随钻中子孔隙度曲线出现异常值,并用实例说明了各种校正因素对随钻中子测井数据的影响,对这些影响因素进行分析,有助于随钻中子资料的质量控制［3］。
随钻中子孔隙度测井在复杂地层条件评价中发挥着重要作用［4］。
随钻中子测井仪通过探测计数可以反映地层的含氢量，包括骨架和空隙中含氢量，骨架中含氢量低到可以忽略，可以认为所测含氢量均为孔隙空间水和石油含氢量，可以利用该值计算后确定地层孔隙度。
随钻中子测井，仪器具有精度高,稳定性好,结构简单等特点［5］。
在钻铤上安装一个强的密封Am-Be中子源，中子源在径向朝井壁的方向留有开口，由长短的两种源距He-3管中子探测器监测采集。
中子打入井壁之后，由于不同孔隙度下含有不同的C和H含量，反射之后被探头探测到的中子计数产生差异。
随钻测井深度跟踪、标定、校正
技术报告关于深度跟踪标定过程一、引言所谓深度跟踪．就是仪器井深数据采集始终要与现场钻进或划眼状态下钻头位置保持一致。
井深跟踪的原理即利用绞车传感器感应滚筒转动、钻机参数参与推算、校正系数参与微调的处理方式来实现深度跟踪。
深度跟踪标定过程的目的就是为了建立BPI （绞车信号）与大钩位置的线性关系，然而由于BPI记录的是滚筒转过的角度对应的脉冲数，即：滚筒每转一圈大绳走过的长度，这一影响是由于大绳的直径与所引起的。
因此，为了建立BPI与大钩位置的线性关系。
这篇技术报告就是本人在工程服务部和科研项目部实习期间，通过学习、操作老版地面软件，并参与新版地面系统软件的分析和调试后，对这一个过程逐渐感兴趣，进而有了更深一步的认识，因此就这一过程提出些认识和分析，并提出一些疑问和改进意见。
二、深度跟踪标定过程原理分析LWD深度跟踪系统标定是通过绞车传感器记录绞车角位移与钩载传感器计重相结合的方式完成的：绞车角位移对应钻柱位移，钩载记录坐卡状态。
图1 绞车传感器安装位置示意图如图1所示，绞车滚筒的转角与绞车传感器转角相同：（1）式中为钢缆长度，r为本圈钢缆半径，为绞车转动角度，因此（2）同时考虑钢缆弹性拉伸变形，及钢缆在滚筒上的缠绕的疏密影响，则有：（3）式中为钢缆在滚筒径向上的投影角，描述其缠绕疏密程度。
（4）可以看出，影响深度跟踪精确度的主要影响有两个方面：缠绕疏密缠绕疏密程度为一随机变量，与绞车制造工艺相关，为减少该误差影响，标定过程中应尽量缩短标定间距，此时可认为为固定值；拉伸变形拉伸变形虽然有规律可循，但由于变形量较小，并且如要消除该影响，需要对钩载传感器准确标定，在目前实际应用中难以满足该要求。
因此深度标定方程可表示为：（5）根据上述分析及绞车滚筒结构特点可得出以下结论：因每层钢缆半径不同，故在标定间距足够短的情况下，可认为绞车标定曲线由分段直线组成，见图2。
图2 绞车标定分段直线示意图三、深度跟踪标定和深度处理方法A.深度跟踪标定在下钻结束，划眼循环时进行标定。
随钻中子测井数据校正分析
随钻中子测井数据校正分析随钻中子测井是一种常用的地质测井方法，它可以获取地层的中子密度信息，并用于地层的物性分析、岩性划分、油气藏评价等领域。
随钻中子测井数据在实际应用中往往会受到多种因素的影响，需要进行数据校正和分析，以确保数据的准确性和可靠性。
本文将针对随钻中子测井数据的校正分析进行详细探讨。
一、随钻中子测井原理随钻中子测井技术是利用中子射线在地层中的散射和吸收特性，测定地层的中子密度，并由此推算地层的孔隙度、含水量和饱和度等信息的方法。
测井工具在井眼中下放至感兴趣地层，通过向地层发射中子射线，并测定地层中子散射和吸收反应的强度，由此得到地层的中子密度信息。
1. 温度校正在实际应用中，井下地面温度和地层温度可能存在一定差异，而中子测井数据会受到温度的影响。
需要对测得的中子密度数据进行温度校正，以消除温度带来的影响。
一般而言，温度校正可以采用测得的地层温度与标定温度的差值进行修正，以得到精确的中子密度数据。
2. 地层参数校正地层参数校正是针对地层岩石成分和孔隙结构的校正分析。
由于地层的岩石成分和孔隙结构可能存在多样性，导致中子密度数据的变化。
在进行中子密度数据解释时，需要对地层参数进行校正，以确保数据的准确性。
地层参数校正可以通过岩心分析、地震资料解释等手段进行，以获取地层的真实物性参数。
3. 仪器响应校正随钻中子测井仪器的不同型号和品牌，其响应特性可能存在一定的差异，需要进行仪器响应的校正分析。
通过对不同型号仪器的标定和比对，可以获得仪器的响应曲线，并校正实际测得的中子密度数据，以消除仪器带来的误差。
地层环境的变化也可能会影响中子测井数据的准确性，例如地层水含量、钻井液性质、孔隙流体等因素都会对中子密度数据造成影响。
需要对地层环境因素进行校正分析，以确保中子密度数据的准确性。
5. 数据融合校正数据融合校正是指将不同测井方法获取的地层信息进行融合校正，以提高数据的可靠性和精度。
可以将中子密度数据与声波测井、电阻率测井等数据进行对比分析，通过数据融合的方式，获得更为准确的地层信息。
随钻D-T中子孔隙度测井低灵敏度和岩性影响校正方法研究
随钻D-T中子孔隙度测井低灵敏度和岩性影响校正方法研究于华伟;杨锦州;张锋【摘要】为了提高随钻氘-氚(D-T)中子孔隙度测井的测量精度,通过研究其在多种岩性、孔隙度地层中的响应,对比与化学源的响应差异,分析所测孔隙度灵敏度及精度偏低的原因,并提出对应的校正方法.结果表明:由于D-T源能量较化学源高,地层密度对含氢指数测量影响增强,使得随钻D-T中子孔隙度测井地层孔隙度灵敏度偏低,且受到泥页岩效应的影响较大;密度校正后,地层孔隙度灵敏度显著提高,且受到岩性的影响降低,尤其是泥页岩效应几乎被完全消除.因此,通过对随钻D-T中子孔隙度测井结果的校正,测量灵敏度和精度都得到大幅提高,可以较好地替代化学源测量地层中子孔隙度.【期刊名称】《中国石油大学学报（自然科学版）》【年(卷),期】2014(038)003【总页数】5页(P45-49)【关键词】随钻中子孔隙度测井;氘-氚中子发生器;孔隙灵敏度;泥页岩效应;密度校正;蒙特卡罗模拟【作者】于华伟;杨锦州;张锋【作者单位】中国石油大学地球科学与技术学院,山东青岛266580;胜利油田钻井工艺研究院,山东东营257000;中石化随钻测控重点实验室,山东东营257000;中国石油大学地球科学与技术学院,山东青岛266580【正文语种】中文【中图分类】P631.817中子孔隙度测井是石油勘探过程中使用的最常规的测井方法之一,用来确定地层的孔隙度、计算地层的产油能力以及识别气层等。
中子孔隙度测井仪器最初使用Am-Be化学中子源,但这对工作人员和周围环境都存在着潜在的危害[1]。
2005年Schlumberger公司开始在随钻过程利用氘-氚(D-T)中子发生器进行补偿热中子孔隙度测井,虽然可以消除化学源的危害,但仪器在高孔隙地层中响应动态范围较Am-Be化学源小[2]。
Ellis等[3](2007)研究了高能D-T源对随钻中子孔隙度测量的影响,认为虽然使用D-T源受环境影响较小,但其对地层的孔隙度灵敏性稍低,且泥页岩效应比化学源大。
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随钻中子测井数据校正分析
随钻中子测井是一种广泛应用于油气勘探和开发中的测井技术，通过测定井内岩层的中子吸收率，可以估算出岩层的物性参数，如含油气饱和度、孔隙度等。
由于测井过程中存在多种干扰因素，因此需要对测得的数据进行校正，以便获得准确的地质参数。
1.密度效应校正
中子流在穿过岩石时会发生散射与吸收，其中散射效应主要与岩石的密度有关。
由于测井仪通常同时测量了岩石的电阻率和自然伽马射线等物理参数，因此可以通过这些参数来校正中子测量中的密度效应。
由于测井仪头与井壁之间存在一定的距离，测量到的中子流强度会受到井眼效应的影响。
为了减小这种影响，在进行测量时，通常会选择离井壁较远的位置来采集数据，并且还可以通过选择不同的测量模式来进行井眼效应校正。
3.含氢校正
由于岩石中的氢原子对中子的吸收作用十分显著，因此含氢的岩石样品与不含氢的岩石样品会产生较大的中子吸收率差别。
但在实际测量中，由于地下水含氢量较高，且地下水在井壁附近通常存在一定厚度的“水带”，因此需要对含水区进行含氢校正。
由于中子在经过岩石时会和岩石中的原子发生相互作用，因此也会受到矩阵效应的影响。
矩阵效应主要与岩石成分和结构有关，通常采用曲线匹配或模型计算的方法进行校正。
在进行随钻中子测井数据校正时，还需要考虑到多种干扰因素的叠加影响。
例如，在含氧化铁的砂岩中，铁原子的吸收效应会与水分子的吸收效应叠加，因此需要进行铁的校正并结合水分子适当调整测量结果。
总之，随钻中子测井数据校正是保证测量结果准确的重要环节。
正确理解和运用各种校正方法，对于油气勘探和开发具有重要的意义。