纳米材料的表征方法.

D为粒子直径，R为Scherrer常数（0.89）, λ为入射X光波长 （0.15406 nm），θ为衍射角（°），β为衍射峰的半高峰 宽（rad）。
XRD在纳米材料中的应用
物相结构的分析 介孔材料的分析 纳米薄膜的厚度以及界面结构的测定.
Biblioteka Baidu
Raman光谱可获得的信息
拉曼光谱是碳材料分析与表征的最好工具之一 。
STM的优点



它有原子量级的极高分辨率(横向可达0.1nm，纵向可达 0.01nm),即能直接观察到单原子层表面的局部结构 。 比如表 面缺陷、表面吸附体的形态和位置等. STM能够给出表面的三维图像 STM可在不同的环境条件下工作,包括真空、大气、低温,甚至 样品可浸在水中或电解液中,所以适用于研究环境因素对样品表 面的影响. 可研究纳米薄膜的分子结构.
Raman 特征频率
Raman 谱峰的改变 Raman 偏振峰
材料的组成
加压/拉伸状态
晶体的对称性和取向
Raman 峰宽
晶体的质量

SEM的主要功能


三维形貌的观察和分析
观察分析纳米材料的形貌 直接观察大样品的原始表面
扫描隧道显微镜(STM)
扫描隧道显微 镜工作原理示 意图
STM针尖
STM在纳米材料中的应用

测量单分子、单个纳米颗粒、单根纳米线和纳米管 等的电学、力学以及化学特性.

对表面进行纳米加工,构建新一代的纳米电子器件.
纳米材料的表征方法
向利
纳米材料的表征
表征技术是指物质结构与性质及其应用的有关分析、 测试方法，也包括测试、测量工具的研究与制造。 表征的内容包括材料的组成、结构和性质等。 组成：构成材料的化学元素及其相关关系 结构：材料的几何学、相组成和相形态等 性质：指材料的力学、热学、磁学、化学等

纳米材料表征手段
原子力显微镜AFM
AFM的主要应用



纳米材料的 形貌测定 生物材料研 究 黏弹性材料 的表面加工
X射线衍射法（XRD）
XRD是鉴定物质晶相的有效手段。 利用XRD谱图可以推断出纳米材料的结晶度和 层状结构的有序度。 利用XRD图结合Debye-scherrer公式，又衍射 峰的半高宽计算对应晶面方向上的平均粒径 D=Rλ/βcosθ





1.形貌，电子显微镜（TEM、SEM）,普通的是电子枪 发射光电子，还有场发射的，分辨率和适应性更好； 2.结构，一般是需要光电电子显微镜，扫描电子显 微镜不行 3.晶形，单晶衍射仪，XRD，判断纳米粒子的晶形及 结晶度 4.组成，一般是红外，结合四大谱图，判断核壳组 成，只作为佐证 5.性能，光-紫外，荧光；电--原子力显微镜 （AFM），拉曼；磁--原子力显微镜或者专用的仪器
透射电子显微镜（TEM）的主要功能
研究纳米材料的 结晶情况， 观察纳米材料的 形貌， 分散情况 评估纳米粒子的 粒径。
扫描电子显微镜(SEM)
SEM是一种多功能的电子显微镜分析仪器. 1935年卡奴提出了SEM的工作原理 1942年制造出了世界上第一台SEM 现代的SEM是剑桥大学欧特利与学生在19481965年间研究成果. SEM显示各种图象的依据是电子与物体的相互 作用.