纳米材料的表征
纳米材料的光谱表征方法

纳米材料的光谱表征方法纳米材料是一种具有尺寸在纳米尺度范围内的物质,其具有独特的电子、光学、磁性等性质。
了解和掌握纳米材料的结构和性质对于研究和应用具有重要意义。
光谱表征方法是一种常用的手段,可以提供关于纳米材料的化学成分、晶体结构、光学性质等信息。
本文将重点介绍几种常见的纳米材料光谱表征方法。
一、紫外-可见吸收光谱(UV-Vis)紫外-可见吸收光谱是一种常用的方法,用于研究纳米材料在紫外-可见波段的吸收和反射特性。
利用UV-Vis光谱,可以推断纳米材料的能带结构、导电性、色散等信息。
此外,通过对比纳米材料样品的吸收光谱与标准物质的光谱进行比较,还可以定量分析纳米材料的成分。
二、拉曼光谱拉曼光谱是纳米材料表征中常用的非破坏性光谱技术之一。
拉曼散射现象产生的光谱可提供关于纳米材料的晶格振动、分子构型和化学键信息。
拉曼光谱的优点在于非常灵敏,能够检测到纳米材料的微小结构变化。
通过拉曼光谱分析,可以评估纳米材料的晶体质量、结晶度和应力等性质。
三、荧光光谱荧光光谱是通过激发纳米材料产生的荧光现象来研究其光学性质。
纳米材料荧光光谱的形状、位置和强度等信息能够揭示材料的发射能级、能带结构和激子自由性能。
同时,荧光光谱还可以用于检测纳米材料的缺陷及杂质。
四、X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种常用的确定纳米材料晶体结构的方法。
通过测量纳米材料的衍射图样,可以推断晶体的晶格结构和晶格参数。
此外,X射线衍射还能提供纳米材料的物相、晶粒尺寸及其分布等信息。
对于纳米材料的结构研究来说,X射线衍射是一种重要的工具。
五、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种常用的纳米材料表征工具,能够提供高分辨率的显微图像。
通过TEM观察,可以获得纳米材料的形貌、尺寸、晶体结构等信息。
此外,TEM还可以进行选区电子衍射,从而获取纳米材料的晶格结构、晶格定向等信息。
总结起来,纳米材料的光谱表征方法包括紫外-可见吸收光谱、拉曼光谱、荧光光谱、X射线衍射和透射电子显微镜。
纳米材料的合成与表征

纳米材料的合成与表征纳米材料是指粒径在1-100纳米(nm)的材料,这种尺度下材料的物理、化学、光学、电子等性质有着独特的变化。
纳米材料的合成和表征是纳米学、材料科学和化学领域中的重要课题之一。
一、纳米材料的合成1. 物理方法物理合成法主要是通过物理手段改变物质形态实现的,比如电子束光刻、激光蒸发和溅射等方法。
其中较为常见的是物理气相沉积技术(PVD)和物理液相沉积技术。
PVD方法简单易行,通常适用于稳定化合物和非氧化物材料的制备。
其优点是可控性好,反应过程无污染,缺点是生产效率低,成本较高。
2. 化学方法化学合成法是通过化学反应实现的,分为溶胶-凝胶法、电化学法、双逆法、热分解法等。
其中,溶胶-凝胶法是近年来应用最广泛的一种纳米材料化学制备方法,其特点是原料易得、反应条件温和、纳米粒子尺寸可控。
但是,该方法的缺点是不能制备规模化的纳米材料。
3. 生物方法生物合成法是利用浸润在微生物体内的金属离子还原成金属纳米颗粒。
这种方法具有生物降解性和生物相容性的优点,可以降低对环境的污染和对生物体的伤害。
二、纳米材料的表征1. 扫描电镜(SEM)SEM可以对样品表面形貌进行高分辨率的观察。
通过SEM观察纳米材料的形貌、粒径分布情况等,得到纳米材料的形貌信息,对纳米材料的结构和性质具有较好的表征作用。
2. 透射电镜(TEM)TEM可以对样品内部结构进行高分辨率的观察。
通过TEM观察纳米材料的晶体结构、晶格常数、晶粒大小等,可以了解纳米材料的晶体结构信息。
3. 稳态荧光光谱法稳态荧光光谱法可以用来表征纳米材料的结构、表面修饰或化学反应的结果、吸附反应的结果等。
通过判断荧光光谱发射峰位置的变化和强度的变化,可以了解纳米材料表面上发生的化学反应或物理吸附的结果。
4. 热重分析法热重分析法使用精确的权衡系统,破坏并排除样品中的物质,通常以热解或热脱附为主要手段。
可以通过测试样品的热重曲线,了解纳米材料的热稳定性、氧化稳定性、吸附性能、结晶状态等信息。
纳米材料的表征方法

纳米材料的表征方法随着科技的快速发展,纳米材料逐渐成为各个领域的研究热点。
纳米材料的特殊性质和应用潜力使得其表征方法变得至关重要。
纳米材料的表征涉及到其形貌、尺寸、结构、成分以及物理和化学特性等方面的分析。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征方法。
1. 扫描电子显微镜(SEM)SEM是一种基于电子束与材料相互作用的表征技术。
通过SEM可以获得纳米材料的形貌和表面特征。
它可以提供高分辨率的图像,从而使我们能够观察到纳米级别的细节。
同时,SEM还可以通过能谱分析技术(EDX)获得纳米材料的元素成分信息。
2. 透射电子显微镜(TEM)TEM是一种利用电子束通过纳米材料薄片进行投射和散射的方法来观察样品的结构和形貌的技术。
相比于SEM,TEM能够提供更高的分辨率,能够观察到更细微的细节。
利用TEM还可以确定纳米材料的晶体结构、晶格参数和晶面取向等信息。
3. X射线衍射(XRD)XRD是一种利用X射线与晶体相互作用的分析技术,对于纳米材料的晶体结构和成分分析十分重要。
通过测量样品散射的X射线的特征衍射图案,可以推断出纳米材料的晶体结构、晶格常数和相对晶体的定向度。
4. 傅里叶变换红外光谱(FTIR)FTIR是一种用来分析纳米材料的化学组成和结构的技术。
它基于红外辐射与材料吸收光谱的原理,通过测量纳米材料吸收不同波长的红外光线的强度变化,从而得到样品的化学信息。
利用FTIR还可以检测纳米材料中的官能团和键的类型。
5. 激光粒度仪激光粒度仪是一种常用的用于测量纳米材料粒径分布的仪器。
它通过测量光散射的强度来确定样品中颗粒的尺寸分布。
激光粒度仪不仅可以提供纳米材料的平均粒径,还可以分析其尺寸分布的均匀性,从而对纳米材料的制备工艺进行优化。
除了以上介绍的几种常用的纳米材料表征方法,还有许多其他的技术可供选择,如原子力显微镜(AFM)、拉曼光谱、热重分析(TGA)等。
选择适合的表征方法需要根据具体的研究目的和所要分析的属性来确定。
纳米材料的制备与表征

纳米材料的制备与表征纳米材料是指颗粒尺寸在纳米尺度(1 nm = 10^-9 m)范围内的物质,具有独特的物理、化学和生物学性质。
纳米材料的制备与表征是纳米科学与技术的关键环节,它们决定了纳米材料的性能和应用。
一、纳米材料的制备技术纳米材料的制备技术包括物理法、化学法和生物法等多种方法。
物理法利用物理原理来制备纳米材料,如凝固法、气相法等。
凝固法通过快速凝固来制备纳米材料,其中最常见的方式是溶液凝胶法。
气相法则通过在高温条件下使气体变为固体来制备纳米材料。
化学法则是利用化学反应来制备纳米材料,如溶胶凝胶法和溶剂热法等。
溶胶凝胶法是将溶胶中的成分进行聚集形成凝胶,再通过热处理使凝胶形成纳米材料。
溶剂热法则是将溶剂中溶解的物质通过热分解或沉淀来制备纳米材料。
生物法是利用生物体或生物大分子来合成纳米材料,如生物合成法、基因工程法等。
生物合成法通过细菌、酵母、植物等生物体产生的代谢产物合成纳米材料,基因工程法则是通过基因技术改造生物合成纳米材料。
二、纳米材料的表征技术纳米材料的表征技术是研究纳米材料中结构、形态和物性的关键手段。
常用的纳米材料表征技术包括透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)和拉曼光谱等。
透射电子显微镜是一种观察纳米材料内部结构的高分辨率显微镜。
它利用电子束通过样品,可以观察到纳米尺度下的原子排布、晶体结构等信息。
扫描电子显微镜则是用来观察纳米材料表面形貌的显微镜,它通过扫描样品表面的电子束反射信号来形成显微图像。
X射线衍射则是一种用来研究纳米材料晶体结构的方法,通过测量材料对入射X射线进行衍射的角度和强度信息,可以得到材料的晶体结构和晶胞参数等信息。
拉曼光谱是一种分析纳米材料分子振动和晶格振动的方法,通过测量样品在激发光照射下产生的散射光谱,可以获得纳米材料的分子结构和晶格结构等信息。
三、纳米材料的应用纳米材料的独特性质使其在多个领域具有广泛的应用前景。
纳米材料的光学性质与表征

纳米材料的光学性质与表征纳米材料是目前材料科学中的热门研究领域,其独特的物理、化学性质使其具备广泛的应用潜力。
其中,纳米材料的光学性质与表征是一个备受关注的话题。
本文将从纳米材料的基本原理入手,探讨纳米材料的光学性质以及常用的表征方法。
一、纳米材料的基本原理在了解纳米材料的光学性质之前,先来了解一下纳米材料的基本原理。
纳米材料是指尺寸在纳米尺度范围内的材料,其尺寸通常在1到100纳米之间。
由于尺寸效应和表面效应的存在,与宏观材料相比,纳米材料在光学性质上表现出许多独特的现象。
二、纳米材料的光学性质1. 光学吸收与发射纳米材料在可见光谱和红外光谱范围内会出现明显的吸收峰和发射峰,这是由于纳米尺度下电子与光的相互作用而引起的。
纳米材料的吸收和发射峰位与其尺寸、形貌以及物理、化学性质等密切相关。
2. 表面增强拉曼散射纳米材料具有表面增强拉曼散射(SERS)效应,即在金属或碳基纳米结构表面发生的拉曼散射现象。
这一效应的产生主要是由于纳米结构表面的等离子激元共振导致电场增强效应,从而使信号增强数千倍甚至更高,极大提高了拉曼光谱的灵敏度。
3. 光子晶体与荧光共振能量转移纳米材料的光子晶体结构具有光子带隙,能够选择性地控制和引导光波的传播。
此外,纳米材料之间还存在着荧光共振能量转移现象。
这种共振能量转移能够将一个纳米材料的激发态能量转移到附近的纳米材料中,实现光能的有效转化和利用。
三、纳米材料的表征方法1. 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种常用的纳米材料表征方法,它通过透射电子束对纳米材料进行成像。
利用TEM可以观察到纳米尺度下的材料形貌、晶格结构以及单纳米颗粒的粒径等信息。
2. 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种通过扫描电子束进行成像的方法。
相比TEM,SEM更适用于观察纳米材料的表面形貌。
利用SEM可以获得纳米材料的表面形貌、粒径分布以及结晶状态等信息。
3. 紫外可见吸收光谱(UV-Vis)紫外可见吸收光谱是一种常用的光谱分析方法,能够测量纳米材料在紫外可见光区域的吸收光谱。
纳米材料的机械性能表征方法

纳米材料的机械性能表征方法纳米材料是以纳米尺度为特征尺度的新型材料,其在材料科学和工程领域中具有广泛的应用前景。
然而,由于其特殊的尺度效应和表面效应等因素,纳米材料的机械性能表征变得更加困难和重要。
本文将介绍一些常见的纳米材料的机械性能表征方法。
1. 纳米压痕测试纳米压痕测试是一种常见的纳米力学实验测试方法,可以用于测量纳米材料的硬度、弹性模量、塑性变形等机械性能。
在该测试中,一种称为压头的纳米尺度探针被压入样品表面,通过记录探针在样品表面上的位移和力的关系,可以计算出样品的力位移曲线,并由此得到材料的硬度和弹性模量等性能参数。
2. 纳米拉伸测试纳米拉伸测试是用于测量纳米材料的拉伸性能的一种方法。
在该测试中,纳米材料的一端固定,另一端受力施加,通过拉伸过程中的应力和应变的测量,可以得到纳米材料的拉伸强度、断裂应变等性能参数。
这种方法通常需要高分辨率的力学测试仪器和纳米尺度的夹持装置。
3. 纳米压缩测试纳米压缩测试是一种用于测量纳米材料在压缩加载下的性能的方法。
在该测试中,纳米材料被夹持在两个探头之间,并施加压缩力。
通过测量压缩过程中的力和位移,可以计算出纳米材料的压缩强度、压缩应变等性能参数。
该方法也需要高分辨率的力学测试仪器和精确的夹持装置。
4. 纳米划痕测试纳米划痕测试是一种用于测量纳米材料硬度和耐磨性的方法。
在该测试中,一种称为纳米划痕仪的仪器通过在样品表面上施加载荷并移动探针来进行测试。
通过测量探针表面的位移和力的关系,可以得到纳米材料的硬度和耐磨性等性能参数。
5. 纳米压痕显微镜纳米压痕显微镜是一种结合显微镜和压痕测试的技术,可以对纳米材料的机械性能进行实时观察和表征。
通过纳米压痕显微镜,可以实时观察纳米材料在压痕测试中的力位移曲线、位移分布等信息,以及材料的表面形貌变化,从而进一步分析材料的机械性能。
总的来说,纳米材料的机械性能表征是一个复杂而重要的课题,需要结合多种表征方法来进行。
纳米材料的表征方法和工具介绍

纳米材料的表征方法和工具介绍随着纳米科技的迅速发展,纳米材料的研究和应用越来越重要。
然而,纳米材料的特殊性质决定了常规材料表征方法的局限性,因此需要采用专门的方法和工具来对纳米材料进行表征。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征方法和工具,帮助读者更好地了解纳米材料的特性。
在纳米材料的表征中,最常用的方法之一是透射电子显微镜(TEM)。
TEM利用电子束替代了可见光,可以提供比光学显微镜更高的分辨率。
通过将样品置于电子束中,可以观察纳米材料的形貌、尺寸和结构等。
此外,TEM还常常结合能量散射谱(EDS)分析,用于确定纳米材料的元素成分和组成。
TEM是一种非常强大的工具,可以提供关于纳米材料的详细微观结构信息。
扫描电子显微镜(SEM)是另一种常用的纳米材料表征工具。
不同于TEM,SEM可以提供更大的视野,并且可以用于观察表面形貌和表面组成。
SEM使用电子束扫描样品表面,通过测量电子的反射和散射来生成显微图像。
此外,SEM还可以通过探针激发技术(EDS)分析表面的元素成分。
与TEM相比,SEM更适用于纳米材料的表面形貌和排列的研究。
除了电子显微镜,纳米材料的结构表征也可以借助X射线衍射(XRD)来实现。
XRD是一种基于材料对X射线的散射规律进行分析的技术。
通过测量样品对X射线的散射强度和角度,可以确定纳米材料的结晶结构、晶粒大小和晶格参数等信息。
XRD常用于研究纳米材料的晶体结构和相变行为,对于纳米化材料的结构调控非常有价值。
此外,拉曼光谱也是一种常用的纳米材料表征方法。
拉曼光谱通过测量光的散射来获得样品的振动信息,可以得到纳米材料的分子结构、纳米颗粒的大小以及纳米结构的应变等信息。
相较于其他表征方法,拉曼光谱具有非侵入性、无需样品处理等优点,适用于对纳米材料进行原位、非破坏性的表征。
特别是在研究碳纳米管、纳米颗粒和纳米二维材料时,拉曼光谱被广泛应用。
另外,热重分析(TGA)也是表征纳米材料性质的重要方法之一。
纳米材料的表征方法与技巧

纳米材料的表征方法与技巧纳米材料是一种具有特殊尺寸和结构的材料,其尺寸在纳米级别(10^-9米)范围内。
由于纳米材料具有独特的物理、化学和力学特性,因此对其进行准确的表征是非常重要的。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征方法与技巧,以帮助读者更好地了解和研究纳米材料。
1. 扫描电镜(SEM)扫描电镜(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一种常用的表征纳米材料形貌和表面形态的方法。
SEM利用电子束照射样品,然后测量样品放出的次级电子、反射电子或散射电子,通过扫描样品的表面,获得高分辨率的表面形貌信息。
SEM能够对纳米材料进行直接观察和分析,可以得到材料的形貌、尺寸、结构以及表面粗糙度等信息。
2. 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy,TEM)是一种用于观察纳米材料内部结构的高分辨率技术。
TEM利用电子束通过样品的方式,然后测量透射电子的强度,从而获得材料的原子级别结构和晶格信息。
TEM对于研究纳米材料的晶体结构、晶粒尺寸和界面特性等方面具有很高的分辨率和灵敏度。
3. X射线衍射(XRD)X射线衍射(X-ray Diffraction,XRD)是一种用于分析纳米材料结晶性质的重要手段。
通过照射样品表面的X射线,通过分析和测量样品对X射线的衍射图样,可以确定样品的晶体结构、晶体相对应的晶格参数以及晶粒尺寸等信息。
XRD对于研究纳米材料的晶体结构和晶体相变等方面具有很高的准确性和可靠性。
4. 傅里叶变换红外光谱(FTIR)傅里叶变换红外光谱(Fourier Transform Infrared Spectroscopy,FTIR)是一种用于表征纳米材料的化学组成和官能团的方法。
通过测量样品在红外区域的吸收和散射光谱,可以确定样品中存在的化学键和官能团类型,并帮助研究者了解纳米材料的结构和表面性质。
FTIR对于研究纳米材料的化学组成、官能团修饰以及材料与其他物质之间的相互作用具有重要意义。
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光散射法
§1 前言
光子相干光谱法(动态光散射法)
适合范围:适合测量亚微米、纳米的颗 粒,测量范围在1nm~5m, 优点:测量准确度高、动态范围宽, 缺点:测量结果为平均粒径,难以得到 粒径分布参数。
§1 前言
电超声粒度分析法
测量范围5nm~100 m。
原理:当声波在样品内部传导时,仪器能在一 个宽范围超声波频率内分析声波的衰减值,通 过测得的声波衰减谱可以计算出衰减值与粒度 的关系。 条件:需颗粒和液体的密度、液体的粘度、颗 粒的质量分数等参数,对乳液或胶体中的柔性 粒子,还需要颗粒的热膨胀参数。
§1 前言
光散射法(light scattering)
夫朗和费衍射理论、菲涅耳衍射理论、米 散射理论和瑞利散射理论 静态法(时间平均散射):测量散射光 的空间分布规律 动态法:研究散射光在某种固定空间位 置的强度随时间变化的规律
光散射法
§1 前言
针对粒度范围:
激光衍射式:适用>5m 激光动态光散射式: 使用< 5m
二次粒度 高速离心沉降法、激光粒度分析 法和电超声分析法
概念介绍
纳米晶体示意图:一次粒子与二次粒子
§1 前言
纳米材料粒度的分析特点:分析方法多、获 得的是等效粒度、相互之间不能横向比较。每
种分析方法具有一定的使用范围以及样品条件,
应该根据实际情况选用适合的分析方法。
总结
显微镜法(microscopy)
§2 激光粒度分析法
发展史
Fraunhofer和Mie等人早在19世纪就已描 述了粒子与光的相互作用。 20世纪70年代发展起来。(电子技术的发 展,激光源的使用) 目前它在粒度测试设备中占绝对性的统治 地位。
优势:不受颗粒材料光学和电学特性参 数的影响。 表2.1是各种激光粒度分析法相应的原理 和优势。
其他颗粒浓度测量方法
§1 前言
电泳法(electrophoresis) 原理:在电场力作用下,带电颗粒 在悬浮体系中定向迁移,颗粒迁移 率的大小与颗粒粒度有关。通过测 量其迁移率可以计算颗粒粒度。
测量范围:可测<1m的颗粒粒径, 但只是平均粒度。不能得到粒度分 布。
其他颗粒浓度测量方法
§1 前言
§1 前言
• 选择合适的测量方法
针对性
各种分析方法和仪器的设计对被分析体系有一定的针对性, 采用的分析原理和方法各异,因此,选择合适的分析方法和 仪器十分重要。
物理意义 适用范围
不同的分析方法适用范围不同。如对分析仪器及被测体系没
不同的测量方法得到的粒径的物理意义甚至粒径大小也不同。
有准确的了解与把握,分析所得到的结果往往与实际结果有
沉降法
§1 前言
沉降法的分类
重力沉降法 适用于2~100 m
离心沉降法 适用于10nm~20 m(适合纳 米材料)
消光沉降法 根据测量光束通过悬浮体系的 光密度变化得到颗粒粒度分布 优点:代表性强、对比性好、便宜
缺点:速度慢、重复性差、对于非球形粒子误差
大、不适合混合物料、动态范围比激光衍射法窄
4
2V 4 2 I I 0 4 2 (nr 1) 2 (1 cos2 ) P( ) 2 r
d »λ( d >10λ)时,属于Fraunhofer范围。 θ 为衍射角, b为微粒直径。
sin / b
激光光散射粒度分析法
仪器的基本组成
图2-3
基本原理:光 照射到粒子上, 在粒子的边缘部 分发生光散射。 被粒子散射的光 都聚焦在检测器 的非中心区,粒 子越小,其产生 的散射角越大。
原理:测定颗粒动能和所带电荷比率
mU2/(2Ze),颗粒速度U和电荷数Z, 从而获得颗粒质量m,结合颗粒形状 和密度求颗粒粒度。
用于测量气溶胶中微小颗粒粒度,范 围1~50nm。
§1 前言
• 纳米材料粒度分析
一次粒度 电镜法(SEM、TEM、STM、 AFM)
优点:直径观测颗粒的原始粒径和形貌 缺点:代表性差、对于一些样品很难测量。如 生物颗粒、不稳定的纳米微粒等
颗粒的形状、分布影响测量结果 (模型建立在颗粒为球形、单分 散条件上,实际上被测颗粒多为 不规则形状并呈多分散性)
量少、自动化程度高、快 速、重复性好、可在线分析 缺点:颗粒的形状和粒径分布影响测量 结果;不能分析高浓度体系的粒度及其 分布,分析中需要稀释,从而带来一定 的误差。 要求:测前必须对被分析体系的粒度范 围事先有所了解,否则分析结果不会准 确。
§2 激光粒度分析法
激光衍射光谱粒度分析法
原理:激光与颗粒(为球体)之间的相互 作用。 主要理论:Fraunhofer衍射理论,该理论 认为衍射的光能分布与粒度分布有关。衍 射光的强度I(θ)与颗粒粒径有如下关系:
I ( )
0
1
R2 n( R) J12 (RK L )dR
其中θ为散射角,R为颗粒半径, I(θ)为以θ 为散射角的光强度,n(R)是颗粒的粒径 分布函数,k=2π/λ, λ为激光的波长,J1为 第一型贝叶斯函数。 假设:所测颗粒为球体。
电超声粒度分析法
§1 前言
优点:可测高浓度分散体系和乳液 的特征参数(粒径、ξ 电位势等)、 精度高、粒度分析范围更宽。
§1 前言
其他颗粒浓度测量方法
基于颗粒布朗运动的粒度测量方法
布朗运动有某些统计规律,即在一 定条件下和一定时间内,颗粒所移动 的平均位移具有一定的数值,并且平 均位移的平方和颗粒粒径成反比。
纳米颗粒
材料性能
§1 前言 颗粒形状的复杂性,粒度大小的表述用等效粒度的概念。 不同的仪器测量结果不能进行横向对比。
• 测量结果的相对性
沉降式粒度仪是依据颗粒的沉降速度进行等效对 比,所测的粒径为等效沉速径,即用与被测颗粒 具有相同沉降速度的同质球形颗粒的直径来代表 实际颗粒的大小。 激光粒度仪则是利用颗粒对经过的衍射和散射特 性作等效对比,所测出的等效粒径为等效散射粒 径,即用与实际被测颗粒具有相同散射效果的球 形颗粒的直径来代表这个颗粒的实际大小。 由于颗粒的形状不可能都是均匀的球形,大多数情况 下粒度分析仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径, 和实际的颗粒大小分布会有一定的差异。
纳米材料的表征
第二章 纳米材料的粒度分析
§1 前言
• 粒度表征的概念
纳米颗粒表征
• 案例:
– 大块纯铁的矫顽力约为80A/m,而颗粒为20nm一下 的铁矫顽力增加了1000倍。 – 所有的金属在超微颗粒状态都呈现为黑色。尺寸越 小,颜色愈黑,银白色的铂(白金)变成铂黑,金 属铬变成铬黑。由此可见,金属超微颗粒对光的反 射率很低,通常可低于l%,大约几微米的厚度就能 完全消光。利用这个特性可以作为高效率的光热、 光电等转换材料,可以高效率地将太阳能转变为热 能、电能。此外又有可能应用于红外敏感元件、红 外隐身技术等。
光散射法
§1 前言
选择合适的测量仪器
衍射式粒度仪:一般对于大于5m颗粒分析较为 准确,而小于5m的颗粒测量结果有一定的误差。 散射式粒度仪:能准确测量亚微米、纳米级颗 粒,而对于大于5m的颗粒无法测量。 优点:测量准确、速度快、代表性强、重复性 好、适合混合物料 缺点:检测器的要求高,各仪器测量结果对比 差
§1 前言
粒度分析的种类和适用范围(200多种)
传统:筛分法、显微镜法、沉降法、电感 应法 近年发展:激光衍射法、激光散射法、光 子相干光谱法、电子显微镜图像法、基于 颗粒布朗运动的粒度测重法、质谱法
其中激光散射法和光子相干光谱法具
有速度快、测量范围广、数据可靠、重 复性好、自动化程度高、便于在线测量 等优点。
• 费氏法(fisher method)
在恒定压力下,空气先透过被测颗粒堆 积体,然后通过可调节针形阀流向大气, 根据空气透过颗粒堆积体时所产生的阻 力和流量可以求得颗粒的比表面积及平 均粒度。
测的是平均粒度,仅用于控制工艺工程 和产品质量
其他颗粒浓度测量方法
§1 前言
• 质谱法(mass spectrometry)
§1 前言
粒度分析意义
☺颗粒粒度的分析技术受到人们的普遍重
视,已经逐渐发展成为测量学中的一个重 要分支。
塑料的添加剂 直接影响塑料的机械强度、 密闭性、阻燃性等性能 粒度(大小、 形状、分布等) 陶瓷材料 致密度、韧性 涂料 着色能力、成膜强度、耐磨性能 电子材料 荧光粉的粒度决定显示器 亮度和清晰度 催化剂 催化活性
激光衍射光谱粒度分析法
优点:操作简单,测样时间短
缺点:代表性不强,用不同的理论测出的 结果不同。
激光衍射光谱粒度分析法
仪器组成:激光器、扩束镜、聚焦透镜、
光电子探测器和计算机
如图2-2
激光衍射光谱粒度分析法
Fraunhofer衍射法
优点:速度快、范围广、精度高、重复性好、 适用对象广、不受被测颗粒折射率的影响、适 于在线测量等优点。 注意:只有被测颗粒粒径大于激光光波波长才 能处理成Fraunhofer衍射。
§1 前言
显微镜法(microscopy)
光学显微镜法 0.8~150 m 电子显微镜法 <0.8m
扫描电镜和透射电镜1nm~5m
优点:直接观察颗粒形状、是否团聚、可 绘出特定表面的粒度分布图,而不是平均 粒度分布图。 缺点:代表性差、重复性差、测量速度慢 注意:需要加分散剂或适当的操作方法对 颗粒进行分散。(颗粒易团聚)
光学显微镜法 电子显微镜法
沉降法(sedimentation size analysis)
重力沉降法 离心沉降法(适合纳米材料)
消光沉降法
光散射法(light scattering) 静态法(时间平均散射):静态光散射法 动态法:光子相干光谱法(动态光散射法) 电超声粒度分析法 基于颗粒布朗运动的粒度测量方法 电泳法 费氏法(fisher method) 质谱法(mass spectrometry)