材料的介电常数和磁导率的测量
材料电磁参数
材料电磁参数材料的电磁参数是指材料具有的与电磁场相互作用的特性参数。
电磁参数是评价材料在电磁场中的性能和使用价值的重要指标，对于电子、通信、能源等领域的发展具有重要影响。
本文将从介电常数、磁导率和电阻率三个方面探讨材料的电磁参数。
一、介电常数介电常数（Dielectric Constant）是材料在电场作用下电极化程度的度量，一般用εr表示。
对于绝缘体材料来说，介电常数越大，其抗电击穿能力越好。
常见的绝缘材料如聚乙烯、聚氯乙烯等，其介电常数较高，适用于电气绝缘材料。
二、磁导率磁导率（Magnetic Permeability）是材料对磁场的响应程度的度量，一般用μr表示。
磁导率与材料中自由磁荷的运动有关，材料具有磁性时，磁导率不为1，而为其他数值。
磁导率高的材料，如铁磁材料，具有较好的导磁性能，可以用于制造电感器、变压器等电磁元件。
三、电阻率电阻率（Electrical Resistivity）是材料抵抗电流通过的能力的度量，一般用ρ表示。
材料的电阻率与材料导电性能密切相关，电阻率越高，导电能力越差。
金属材料具有较低的电阻率，适用于传导电流较大的场合；而绝缘材料具有较高的电阻率，适用于绝缘电流的场合。
总结材料的电磁参数是衡量材料电磁响应能力的重要指标，包括介电常数、磁导率和电阻率。
不同材料的电磁参数决定了它们在不同电磁场环境下的性能和使用特性。
在工程应用中，人们在选择材料时会根据需要的电磁特性来进行选择，以实现最佳的电磁效果。
随着电子技术的不断发展，对材料电磁参数的要求也越来越高。
人们对于材料的电阻率的要求更加苛刻，以满足高速、高频率、小尺寸等特殊场合的需求。
同时，对于介电常数和磁导率的研究也在不断深入，以扩展材料在电磁波、无线通信、雷达等领域的应用。
未来，随着科技的不断进步和工程需求的不断更新，研究人员将继续探索材料的电磁参数，并开发出更具优异性能的新材料。
这将为电子通信、能源存储、传感器等领域的发展提供更广阔的空间，推动技术的进步和社会的发展。
介电常数的测量
University of Science and Technology of China96 Jinzhai Road, Hefei Anhui 230026,The People ’s Republic of China固体与液体介电常数的测量(以及液体中光速的计算)一、实验目的:(1) 运用比较法粗测固体电介质的介电常数; (2) 运用比较法法测量固体的介电常数;(3) 谐振法测量固体与液体的介电常数(以及液体的磁导率); (4) 学习其测量方法及其物理意义，练习示波器的使用，(并由此推算出光在不同液体中的传播速度。
)二、实验原理：介质材料的介电常数一般采用相对介电常数εr 来表示，通常采用测量样品的电容量，经过计算求出εr ，它们满足如下关系：SCdr 00εεεε==式中ε为绝对介电常数，ε0为真空介电常数，m F /1085.8120-⨯=ε，S 为样品的有效面积，d 为样品的厚度，C 为被测样品的电容量，通常取频率为1kHz 时的电容量C 。
比较法：比较法的电路图如右图图一所示。
此时电路引入的参量少，测量精度与标准电容箱的精度密切相关。
实际测量时，我们用双踪示波器观察信号变化情况，调节电容箱和电阻箱的输出大小,使两路信号相位相同，并且12X V V =，此时标准电容箱的输出电容值即为待测电容的电容大小。
谐振法：1、交流谐振电路：在由电容和电感组成的LC 电路中，若给电容器充电，就可在电路中产生简谐形式的自由电振荡。
若电路中存在交变信号源，不断地给电路补充能量，使振荡得以持续进行，形成受迫振动，则回路中将出现一种新的现象——交流谐振现象。
RL 串联谐振电路如下图图二所示其中电源和电阻两端接双踪示波器。
电阻R、电容C 和电感串联电路中的电流与电阻两端的电压是同相位的，但超前于电容C 两端的电压2π ，落后于电感两端的电压2π，如图三所示。
电路总阻抗：Z回路电流：V I Z==电流与信号源电压之间的位相差：1arctan i L C R ωωϕ⎛⎫- ⎪=- ⎪⎪⎝⎭找到RLC 串联电路的谐振频率，如果已知L 的值，就可以得出C 的大小。
南京大学-矢网分析实验报告
矢量网络分析仪测量微波材料的介电常数和磁导率摘要：矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量，它既可测量网络的幅频特性，又可测量网络的相频特性和群延迟特性。
本实验用矢量网络分析仪测量装有微波材料样品的二端口网络散射系数（s 参量），反推出待测样品的介电常数和磁导率。
关键词：矢量网络分析仪；s 参量；介电常数；磁导率一、实验目的1. 了解矢量网络分析仪额操作和使用。
2. 掌握矢量网络分析仪测量s 参量的原理和方法。
3. 掌握由s 参量计算介电常数的计算过程和方法。
二、实验原理矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量，它既可测量网络的幅频特性，又可测量网络的相频特性和群延迟特性。
可广泛应用于天线和雷达散射截面RCS 测量，发射/接收（T/R ）模块测量，介质材料特性测量，微波脉冲特性测量，光电特性测量和低温电子测量等领域，是相控阵雷达、精密制导、电子对抗、隐身和反隐身技术、微波通信和卫星等电子系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。
矢量网络分析仪的工作原理：矢量网络分析仪的信号源产生测试信号输入到被测件，当测试信号通过被测件时，一部分信号被反射，另一部分信号则被传输，那么反射和传输信号就携带了被测件的一些特性。
矢量网络分析仪A V3629用于测量器件和网络的反射和传输特性。
整机主要包括45MHz —40GHz 合成信号源、53MHz —24GHz 本振源、ｓ参数测试装置模块、幅相接收模块、数字信号处理与嵌入式计算机模块和液晶显示模块。
合成信号源产生45MHz —40GHz 的测试激励信号，此信号通过整机锁相电路与本振源同步扫描。
ｓ参数测试装置模块用于分离被测件的入射信号、反射信号和传输信号。
当源在端口１时，产生入射信号Ｒ１、反射信号Ａ和传输信号Ｂ；当源在端口２时，产生入射信号Ｒ２、反射信号Ｂ和传输信号Ａ。
幅相接收模块将射频信号转换成固定频率的中频信号，由于采用系统锁相技术，本振源和信号源锁相在同一个参考时基上，保证在频率变换过程中，被测件的幅度和相位信息不丢失。
吸波材料的介电常数和磁导率
吸波材料的介电常数和磁导率引言吸波材料是一种能够吸收电磁波的材料，广泛应用于电磁波隔离、电磁波吸收和电磁波衍射等领域。
吸波材料的性能主要由其介电常数和磁导率决定。
本文将详细介绍吸波材料的介电常数和磁导率的概念、性质、测量方法以及对吸波性能的影响。
介电常数概念介电常数是描述介质对电场响应的物理量，表示了介质中电场强度与电极板间电压的比例关系。
介电常数可以分为静态介电常数和频率相关的复介电常数。
物理性质介电常数是一个复数，其实部表示介质对电场的吸收和储存能力，虚部表示介质中电荷的损耗。
介电常数的大小决定了电磁波在介质中传播的速度和方向。
测量方法常见的测量介电常数的方法有静电法、射频法和微波法等。
静电法是通过测量电容器中的电容来确定介电常数；射频法是利用射频电桥测量介质中的电容和电感来计算介电常数；微波法是利用微波谐振腔或传输线的特性来测量介质的介电常数。
对吸波性能的影响介电常数的大小和频率特性直接影响吸波材料对电磁波的吸收能力。
一般来说，介电常数越大，吸波材料对电磁波的吸收能力越强。
此外，介电常数的频率特性也会影响吸波材料的吸收能力，不同频率下的介电常数不同，吸波材料在不同频段的吸收能力也不同。
磁导率概念磁导率是描述介质对磁场响应的物理量，表示了介质中磁感应强度与磁场强度的比例关系。
磁导率可以分为静态磁导率和频率相关的复磁导率。
物理性质磁导率是一个复数，其实部表示介质对磁场的吸收和储存能力，虚部表示介质中磁荷的损耗。
磁导率的大小决定了电磁波在介质中传播的速度和方向。
测量方法常见的测量磁导率的方法有磁力法、霍尔效应法和磁化率法等。
磁力法是通过测量磁场中的力来计算磁导率；霍尔效应法是利用磁场中电荷运动的特性来测量磁导率；磁化率法是通过测量材料的磁化特性来计算磁导率。
对吸波性能的影响磁导率的大小和频率特性直接影响吸波材料对电磁波的吸收能力。
一般来说，磁导率越大，吸波材料对电磁波的吸收能力越强。
此外，磁导率的频率特性也会影响吸波材料的吸收能力，不同频率下的磁导率不同，吸波材料在不同频段的吸收能力也不同。
材料介电常数和磁导率测试
材料介电常数和磁导率测试材料的介电常数和磁导率是材料的重要物理性质，对于电磁波的传播和材料的电磁性能有着重要影响。
本文将介绍介电常数和磁导率的定义、测量方法以及其在材料科学与工程中的应用。
一、介电常数的定义和测量方法介电常数是描述材料对电场响应的物理量，通常用ε来表示。
介电常数可以分为静态介电常数和复介电常数两种。
静态介电常数（ε0）是指在频率为零的情况下材料对电场的响应。
它是介电常数在低频时的极限值，通常用εr来表示。
静态介电常数可以通过测量材料在直流电场下的电容来得到。
实验中，通过将材料制成平行板电容器，测量电容C，再根据电容与介电常数之间的关系C=ε0S/d（其中S为电容板的面积，d为电容板间的距离），计算出静态介电常数。
复介电常数（ε*）是介电常数随频率变化的情况。
它可以分为实部ε'和虚部ε''两部分，分别表示介质的电容和电阻。
复介电常数可以通过测量材料在不同频率下的电容和介电损耗角正切（tanδ）来得到。
实验中，通过在交流电场下测量电容C和材料中的电导率σ，再根据复介电常数与电容、电导率之间的关系ε* = ε0(ε' - jε'') = ε0(1 + jσ/ωε0)（其中j为虚数单位，ω为角频率），计算出复介电常数。
二、磁导率的定义和测量方法磁导率是描述材料对磁场响应的物理量，通常用μ来表示。
磁导率可以分为静态磁导率和复磁导率两种。
静态磁导率（μ0）是指在频率为零的情况下材料对磁场的响应。
它是磁导率在低频时的极限值，通常用μr来表示。
静态磁导率可以通过测量材料在直流磁场下的磁感应强度和磁场强度之间的关系来得到。
实验中，通过将材料制成螺线管，测量磁感应强度B和电流I，再根据磁感应强度和磁场强度之间的关系 B = μ0μrI，计算出静态磁导率。
复磁导率（μ*）是磁导率随频率变化的情况。
它可以分为实部μ'和虚部μ''两部分，分别表示材料的磁感应强度和磁阻。
物理实验技术中的材料磁导率测量与分析方法
物理实验技术中的材料磁导率测量与分析方法在物理学和材料科学领域，了解材料磁导率的测量与分析方法对于深入研究材料特性以及开发相关技术具有重要意义。
本文将介绍主要的材料磁导率测量方法，并探讨分析磁导率数据的常用技术。
一、恒定磁场法恒定磁场法是一种常见的测量材料磁导率的方法。
该方法使用一个稳定的恒定磁场作用在待测样品上，并测量样品感应的磁场强度。
根据安培定律，由磁感应强度与电流的关系，可以计算得到材料的磁导率。
在实验中，可以使用电磁铁或永磁铁产生恒定磁场，将待测样品放置在磁场中，并使用磁场感应仪等设备测量样品感应的磁场强度。
通过改变磁场强度、样品形状和大小等条件，可以获得不同条件下的磁导率数据，从而进一步分析材料的磁性特性。
二、交变磁场法交变磁场法是另一种测量材料磁导率的重要方法。
该方法利用交变磁场对材料分子的磁矩产生作用，进而导致材料内部电流的变化。
通过测量电流的相位差和振幅变化，可以得到材料的磁导率数据。
实验中使用的交变磁场源可以是交变电流、脉冲磁场或旋转磁场。
将待测样品放置在交变磁场中，利用电流计、霍尔效应传感器等设备测量样品内部电流的变化。
通过改变交变磁场的频率和振幅，可以获取不同频率下的磁导率数据，进一步分析材料的磁性特性。
三、振荡法振荡法是一种常用的测量高频范围内材料磁导率的方法。
该方法通过将待测样品放置在谐振电路中，测量谐振频率或电路的品质因数变化，进而得到材料的磁导率数据。
实验中使用的谐振电路可以是LC谐振电路、RC谐振电路或LCR谐振电路等。
通过改变电路参数，如电容值、电感值或外部磁场等，可以获取不同条件下的磁导率数据。
此外，振荡法还可以用于测量磁导率的温度依赖性，从而更全面地分析材料的磁性特性。
四、分析方法在获取材料磁导率数据后，常常需要进行进一步的分析处理，以获得更多有关材料电磁性质的信息。
以下是几种常见的分析方法：1. 背景磁导率修正：由于实验系统本身或附加器件等原因，可能存在背景磁导率影响。
(完整word版)材料物理性能 实验五材料介电常数测定
材料介电常数的测定一、目的意义介电特性是电介质材料极其重要的性质。
在实际应用中，电介质材料的介电系数和介电损耗是非常重要的参数。
例如，制造电容器的材料要求介电系数尽量大而介电损耗尽量小。
相反地，制造仪表绝缘机构和其他绝缘器件的材料则要求介电系数和介电损耗都尽量小。
而在某些特殊情况下，则要求材料的介质损耗较大。
所以，研究材料的介电性质具有重要的实际意义。
本实验的目的：①探讨介质极化与介电系数、介电损耗的关系； ②了解高频Q 表的工作原理;③掌握室温下用高频Q 表测定材料的介电系数和介电损耗角正切值。
二、基本原理2。
1材料的介电系数按照物质电结构的观点，任何物质都是由不同性的电荷构成，而在电介质中存在原子、分子和离子等。
当固体电介质置于电场中后,固有偶极子和感应偶极子会沿电场方向排列,结果使电介质表面产生等量异号的电荷，即整个介质显示出一定的极性,这个过程称为极化。
极化过程可分为位移极化、转向极化、空间电荷极化以及热离子极化.对于不同的材料、温度和频率，各种极化过程的影响不同。
（1）材料的相对介电系数ε 介电系数是电介质的一个重要性能指标。
在绝缘技术中，特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时，都需要考虑电介质的介电系数。
此外,由于介电系数取决于极化，而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式.所以，通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究还可以推断绝缘材料的分子结构。
介电系数的一般定义为:电容器两极板间充满均匀绝缘介质后的电容，与不存在介质时(即真空)的电容相比所增加的倍数。
其数学表达式为 0a x C C ε= （1) 式中 x C ——两极板充满介质时的电容； 0a C —-两极板为真空时的电容；ε——电容量增加的倍数，即相对介电常数.从电容等于极板间提高单位电压所需的电量这一概念出发,相对介电常数可理解为表征电容器储能能力程度的物理量。
从极化的观点来看，相对介电常数也是表征介质在外电场作用下极化程度的物理量。
材料微波介电常数和磁导率测量
材料微波介电常数和磁导率测量材料的微波介电常数和磁导率是描述材料对微波信号的响应的重要参数。
测量这些参数可以帮助我们了解材料的电磁特性，并为微波技术的应用提供依据。
本文将介绍材料微波介电常数和磁导率的测量方法和原理，并讨论一些常见的测量技术和仪器。
首先，我们来简单介绍一下微波介电常数和磁导率的概念。
微波介电常数是材料在微波频率下的相对介电常数，它描述了材料对电磁波的响应能力。
而微波磁导率则描述了材料对磁场的响应能力。
这两个参数的大小和频率有关，通常在频率范围内都会有变化。
下面我们将介绍一些常见的测量方法和技术。
1.微波谐振腔法：这是一种常用的测量微波介电常数和磁导率的方法。
它基于材料在谐振腔中的反射和透射特性来测量参数。
通过调整腔体的尺寸，可以使谐振频率与待测样品的特性参数相吻合，从而测量其介电常数和磁导率。
2.微波光纤法：这是一种用光纤作为传输介质的测量方法。
通过将光纤与待测材料接触，测量光纤中微波信号的传输特性，可以得到材料的介电常数和磁导率。
3.微波传输线法：这种方法是通过测量待测样品中微波信号传输的衰减和相位变化来获得所需参数。
通过测量微波信号在传输线上的传播特性，可以得到材料的介电常数和磁导率。
4.谐振法：这是一种通过测量材料的谐振特性来获得微波介电常数和磁导率的方法。
通过测量材料在谐振频率附近的谐振响应，可以计算材料的参数。
以上只是一些常见的测量方法和技术，随着科研和技术的发展，新的测量方法和技术也在不断涌现。
当然，不同的测量方法和技术适用于不同的材料和频率范围，需要根据具体的应用需求进行选择。
目前，商业化的仪器和设备也可用于材料微波介电常数和磁导率的测量。
这些设备通常具有较高的测量精度和可靠性，并可适用于不同的材料和频率范围。
一些常见的商业化设备包括矢量网络分析仪、磁场扫描仪、研磨杆和衰减杆等。
总之，材料微波介电常数和磁导率的测量是研究材料电磁特性和应用微波技术的重要手段。
通过合适的测量方法和技术，可以获得准确的参数值，并提供科学研究和工程应用的数据支持。
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无机材料的介电常数及磁导率的测定一、实验目的1. 掌握无机材料介电常数及磁导率的测试原理及测试方法。
2. 学会使用Agilent4991A 射频阻抗分析仪的各种功能及操作方法。
3. 分析影响介电常数和磁导率的的因素。
二、实验原理1.介电性能介电材料（又称电介质）是一类具有电极化能力的功能材料，它是以正负电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。
极化指在外加电场作用下，构成电介质材料的内部微观粒子，如原子，离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离，并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动，从而形成偶极子的过程。
极化现象和频率密切相关，在特定的的频率范围主要有四种极化机制：电子极化 (electronic polarization ，1015Hz)，离子极化 (ionicpolarization ，1012～1013Hz)，转向极化 (orientation polarization ，1011～1012Hz)和空间电荷极化 (space charge polarization ，103Hz)。
这些极化的基本形式又分为位移极化和松弛极化，位移极化是弹性的，不需要消耗时间，也无能量消耗，如电子位移极化和离子位移极化。
而松弛极化与质点的热运动密切相关，极化的建立需要消耗一定的时间，也通常伴随有能量的消耗，如电子松弛极化和离子松弛极化。
相对介电常数（ε），简称为介电常数，是表征电介质材料介电性能的最重要的基本参数，它反映了电介质材料在电场作用下的极化程度。
ε的数值等于以该材料为介质所作的电容器的电容量与以真空为介质所作的同样形状的电容器的电容量之比值。
表达式如下：ACd C C ⨯==001εε （1） 式中C 为含有电介质材料的电容器的电容量；C 0为相同情况下真空电容器的电容量；A 为电极极板面积；d 为电极间距离；ε0为真空介电常数，等于8.85×10-12 F/m 。
另外一个表征材料的介电性能的重要参数是介电损耗，一般用损耗角的正切（tanδ）表示。
它是指材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应而引起的能量损耗。
材料的介电常数和介电损耗取决于材料结构和极化机理。
除此之外，还与工作频率、环境温度、湿度有关。
在交变电场作用下，材料的介电常数常用复介电常数表达：εεε''-'=i （2）式中ε'和ε''都是与频率相关的量，二者的比值为tanδωεσεεδ='''=tan （3） 则介质电导率δωεσtan = （4）式中ω为交变电压的角频率。
δεtan 仅与介质有关，称为介质损耗因子，其大小可以作为绝缘材料的判据。
此外，还有一个表征介电材料耐压性能的物理量——介电强度。
当外加电场强度逐渐增大，超过电介质材料所能承受的临界值时，电介质材料从介电状态向导电状态转变，这一临界电场强度即为介电强度。
2. 磁导率（Magnetic Permeability ）任何介质处于磁场中，均会使其所在空间的磁场发生变化，这种现象称为磁化。
在磁场强度为H 0的外加磁场中，介质被磁化后会反过来影响所在的磁场，使其发生变化，即产生一个附加磁场H′，此时介质所处磁场的总磁场强度H 总为H'H H 0+=总 （5）单位为安/米（A/m ）。
无外加磁场时，材料中原子固有磁矩的矢量总和为零，宏观上不呈现磁性。
外加磁场时，物质被磁化，但是不改变其固有磁矩大小，只改变其取向。
因此物质的磁化程度可以用单位体积的磁矩大小来表示，即磁化强度M ，其单位为A/mVP M m ∑= （6） 式中m P ∑表示体积为V 磁介质中磁矩矢量和。
M 即上述的附加磁场，它与磁场强度的关系为H M χ= （7）式中χ为单位体积的磁化率，量纲为1。
通过垂直磁场方向单位面积的磁力线束称为磁感应强度，用B 表示，其单位为T （特斯拉），它与磁场强度H 的关系为)(0M H B +=μ （8）式中0μ=4π×10-7，单位为H/m(亨/米)，称为真空磁导率。
将式(7)代入式(5)代入可得：H H H B r μμμμ==+=00)1(χ （9）式中r μ为相对磁导率；μ为物质磁导率，它反映磁感应强度B 随外磁场强度H 变化的速率。
通常使用的是磁介质的相对磁导率，其定义为物质磁导率μ与真空磁导率0μ的比值，即：μμμ=r （10） 类似的，在交变磁场中，相对磁导率是一个复数，即'''r r r i μμμ+= （11）'r μ表示在磁场作用下产生的磁化程度，反映材料对电磁波能量的存储能力；''r μ表示外加磁场作用下材料磁偶矩重排引起的损耗，反映材料对电磁波产生损耗的能力。
磁性损耗介质对电磁波的衰减能力通常用损耗正切'''tan μμδ=来表示，其值越大，衰减能力越强。
3. 阻抗分析仪测量介电常数和磁导率的原理本实验中使用的仪器是Agilent Technologies 公司的生产的E4991A 型射频阻抗分析仪。
它采用射频电流-电压（RF-IV ）测量技术，依据被测件终端电流和电压来直接测量1MHz ～3GHz 频率范围内的阻抗。
通过测定的高精度的阻抗值，自动计算试样的介电常数或磁导率，可直接在显示器上读取结果。
测量介电常数时需将E4991A 与夹具16453A 配套使用，测量磁导率时需将E4991A 与夹具16454A 配套使用。
三. 实验仪器及试样制备1.实验仪器仪器：Agilent4991A 射频阻抗分析仪、16453A 夹具、16454A 夹具，见图1。
规格：内置等效电路分析能对被测件的多元件模型进行计算，在扫描频率范围1MHz-3GHz 内方便的获取测试数据，彩色LCD/CRT 可以同时显示多组测量曲线；先进的校正和补偿方法降低了测量误差。
测量频率范围：1MHz ～3GHz ，分辨率：1mHz ；震荡器水平：40dBm ～1dBm ，分辨率：0.1dBm ；输出阻抗：50?；直流偏压：0～±40 V，分辨率：1 mV；直流偏流：100μA～50mA, –100μA～–50mA，分辨率：0.01mA。
图1 Agilent4991A射频阻抗分析仪2.试样制备①环状试样：外环直径φ外≤20.0mm，内环直径φ内≥3.1mm，厚度h≤8.5 mm；②圆柱或块状试样：最大外径φ大≥15mm，0.3mm≤厚度h≤3mm。
四. 实验步骤1.测试前准备：连接主机各种组件，包括电源线，键盘，鼠标，测试端头等，然后开机，预热0.5h以上。
2. 选择测试模式：① E4991A状态初始化：“system”→“preset”②设置测量模式：“Utility”→“Utility”→“Material Option Menu”→“Mater ial Type”→“选择测试参数：Permittivity（介电常数）/Permeability（磁导率）”3. 设置测试条件：①设置显示方式：“Display”→“Display” →“Num of Traces：3 Scalar”②设置测试参数：“Meas/Format”→“Meas/Format”→“MeasParameter”→“Format:Lin Y-Axis”③设置扫描参数：“Stimulus”→“Sweep Setup/Parameter”→设置扫描点数(201)及方式(Log)④设置振荡水平：“Stimulus”→“Source”→“Osc Unit” 选择电流(磁导率)或电压(介电常数)⑤设置扫描幅度：“Stimulus”→“Start/Stop”→ “Start”或“Stop”设置相应的频率范围4. 校正测试端头（7mm端）：①校正准备：“Stimulus”→“Cal/Comp” →“Cal Meun[Uncal]” →“CalType：Fixed Freq&Pwr”②开路校正：“连接0S到7mm端”→“Meas Open”→“√Meas Open”→“逆时针卸载0S ”③短路校正：“连接0Ω到7mm端”→“Meas Short”→“√Meas Short”→“逆时针卸载0Ω ”④负载校正：“连接50Ω到7mm端”→“Meas Load”→“√Meas Loadt”→“逆时针卸载50Ω ”⑤低损耗电容校正：“连接‘低损耗电容’到7mm端”→“Meas Low Loss C”→“√Meas L-L”→“逆时针卸载低损耗电容”→“Done”→屏幕底端状态Uncal 显示为Cal Fix，校正完毕。
5. 补偿测试夹具：16453A的补偿：①将16453A连接到7mm端，输入标准负载厚度0.78mm：“Stimulus”→ “Cal/Comp”→“Cal Kit Meun”→“Thickness”②选择夹具模式：“Stimulus”→“Cal/Comp”→ “Fixture Type” → “16453A”③选择校正的测试点类型：“Cal Meun[Uncal]”→“Cal Type: Fixed Freq&Pwr”④短路校正：调节释放/提升按钮，使夹具上下电极接触，Meas Short”→“√MeasShort”⑤开路校正：调节释放/提升按钮，使夹具上下电极分开，Meas Open”→“√MeasOpent”⑥负载校正：将标准负载置于上下电极之间，“Meas Load”→“√MeasLoad”→“Done”确认→屏幕底端状态栏中Uncal变为Cal Fix，校正完毕。
16454A的补偿：①将16453A/16454A连接到7mm端②选择夹具模式：“Stimulus”→“Cal/Comp”→“Fixture Type” →选择“16454S或16454L”③补偿：“Stimulus”→“Cal/Comp”→“Comp Meun”→将样品托置于测量夹具上→Meas Open”→ “√MeasOpent”；“Meas Short”→“√Meas Short”；“MeasLoad”→“√Meas Load” →“Done”→确认屏幕底端状态中Uncal变为Cal Fix，补偿完毕。
6. 测试与保存：①测试准备：“Utility”→“Utility”→“Material Option Menu”→“输入样品实际尺寸”②测试：安装试验试样，然后“Scale”→“Autoscale all”，开始自动测试。
③保存数据：“Save/Recall”→“Save Data”→“AscⅡ”→“File name”→“OK”④关机：“开始菜单”→“Shut down”→关机并卸载测试夹具及测试端头等。