聚合物研究方法射线衍射法
聚合物螺旋链结构判断
聚合物螺旋链结构判断全文共四篇示例，供读者参考第一篇示例：聚合物是由大量重复单元结构组成的高分子化合物，而其中的螺旋链结构在聚合物中具有非常重要的作用。
螺旋链结构是指聚合物链以螺旋状排列形式展现出来的一种空间结构，具有一定的周期性和规则性，常见于许多聚合物中，例如蛋白质、DNA、淀粉等。
判断一个聚合物是否具有螺旋链结构，通常需要考虑以下几个方面：一、分子结构特征：螺旋链结构的聚合物通常具有一定的对称性和周期性。
具有螺旋结构的聚合物链会呈现出一种螺旋状的形态，具有明显的旋转周期。
蛋白质通常具有α-螺旋和β-折叠等特征性的螺旋结构。
二、X射线衍射分析：X射线衍射是一种常用的手段，可以用于确定材料的晶体结构。
对于具有螺旋链结构的聚合物，通过X射线衍射分析可以发现其中螺旋排列的空间周期性结构。
通过对衍射图样的分析，可以进一步确认聚合物的螺旋链结构。
三、物理性质测试：螺旋链结构的聚合物通常具有一些典型的物理性质，如弹性、光学性质等。
通过测试这些性质，可以初步判断聚合物是否具有螺旋链结构。
α-螺旋的蛋白质通常具有很好的拉伸强度和弹性，这可以作为判断其螺旋链结构的一个依据。
四、红外光谱分析：红外光谱是一种常用的手段，可以用于分析材料的化学成分和结构。
对于聚合物而言，红外光谱可以通过分析其中的特征性吸收峰来确定其分子结构。
对于螺旋链结构的聚合物，通常具有一些特定的红外吸收峰，如α-螺旋的蛋白质通常在1650 cm-1左右有特征性的羧基吸收峰。
判断聚合物是否具有螺旋链结构是一个复杂的过程，需要综合考虑多种手段和因素。
通过对聚合物的分子结构特征、X射线衍射、物理性质测试和红外光谱等方面的综合分析，可以初步确定其是否具有螺旋链结构。
这对于进一步研究聚合物的性质和应用具有重要意义，也有助于深入理解聚合物的结构和功能。
【文章达到上限，如需继续请提出新问题】第二篇示例：聚合物是由重复单元组成的大分子化合物，是一种由单体分子通过化学键结合形成的高分子化合物。
研究聚合物结晶形态的主要方法
研究聚合物结晶形态的主要方法：电子显微镜法、偏光显微镜法、小角光散射法等，其中偏光显微镜法是常用的方法。
球晶中聚合物分子链的取向排列引起了光学的各向异性，在分子链轴平行于起偏器或检偏器的偏振面的位置将发生消光现象。
在球晶生长过程中晶片以径向发射状生长，导致分子链轴向方向总是与径向垂直，因此在显微镜的视场中有四个区域分子链轴的方向与起偏器或检偏器的偏振面平行，形成十字形消光图像。
所以在正交偏光显微镜下，球晶呈现特有的黑十字消光图案，有时在球晶的偏光显微镜照片上，还可以清晰地看到黑十字消光图像上重叠有一系列明暗相间的同心圆环，那是由于球晶中径向发射堆砌的条状晶片按一定周期规则地扭转的结果。
因此利用偏光显微镜可以观察出球晶的形态、大小等。
表征方法及原理（1）结晶度Wc的表征表示质量分率结晶度，下标c为结晶度，另一下国际应用化学联合会（IUPAC）1988粘推荐用W c，a标字母a代表用不同方法测得的质量分率结晶度，方法不同下标a将分别是其他字母。
①广角X射线衍射（WAXS）测聚合物结晶度W c，x用广角X射线衍射仪，对样品做出不同2θ角的衍射曲线，将衍射曲线的峰分解为结晶峰面积和非晶区（下标x代表X射线衍射方法）面积，结晶峰面积与总衍射面积之比，即为W c，x②密度测量法计算聚合物的结晶度W e，d在密度梯度管中配置自上而下密度连续变化的密度梯度液体，并用标准密度的玻璃小球标定密度梯度管不同位置高度的密度值，将待测聚合物样品投入标定后的密度梯度管中，测出聚合物样品的密度，其倒数即为聚合物样品的比容。
再用X射线衍射测得的该聚合物的晶胞参数，计算得到该聚合物“纯晶体“的比容；由膨胀计法测定不同温度下该聚合物熔体的密度，外推到聚合物样品测密度时温度下该聚合物非晶区的比容，按下式计算结晶度：（有时聚合物的，值可从专业手册中查到）③量热法计算聚合物的结晶度的Wc,h用示差扫描量热仪（DSC），测定聚合物样品的熔融热焓（熔融峰的面积）ΔH m，从手册中查找该聚合物100％结晶时的熔融热焓值ΔHm标准，则ΔH m标准也可采用下述方法求得，即用其他方法（如广角X光衍射法WAXD，密度法等）已测得结晶度的该类聚合物的不同样品，分别用DSC法测不同样品的熔融热焓，以测得的熔融焓ΔH m值对结晶度作图，外推到100％结晶度时的熔融热焓值即为ΔH m标准。
小角X射线散射及聚合物表征分析
组员：
2018/6/13
一、小角X射线散射概述：
1.1 简介：
小角X射线散射（SAXS）是指当X射线透过试样时，在靠近原 光束2o～5o的小角度范围内发生的散射现象。小角X射线散射是一
种区别于大角X射线（2θ从5o～165o）衍射（ Wide Angle X-ray
Diffraction ，WAXD）的结构分析方法。利用X射线照射样品，相
流检测可用于表面或近表面缺陷的无损检测，也可用于材料分选、厚度 测量以及电导率测定等。
5.渗透检测
由于毛细作用，渗透液渗入到细小的表面开口缺陷中，清除工件表面
的多余渗透液，干燥后施加显像剂，缺陷中的渗透液在毛细现象的作用
下被重新吸附到零件表面上，就形成放大了的缺陷显示。渗透检测主要 用于检测非疏孔性的金属或非金属零部件的表面开口缺陷。
计数管接收散射X射线强度。第一二狭缝宽度固定。 第三狭缝宽度可调，可挡住前两个狭缝产生的寄生散射
较高的角度分辨率，扩展了粒度的研究范围。可获得小角度 的散射强度数据，使得外推的零角散射强度值精确，提高积分不 变量的计算精度。
其一般多用于定量测定。
胶体分散体系（溶胶、凝胶、表面活性剂等） 生物大分子（蛋白质、核酸） 聚合物溶液，结晶取向聚合物（工业纤维、薄膜），嵌段 聚合物
（5）散射体的自相似性（是否有分形特征）
II.定量分析：
散射体尺寸分布、平均尺度、回转半径、相关距离、 平均壁厚、散射体体积分数、比表面、平均界面层厚度、 分形维数等。
不均一体系SAXS散射 强度实验曲线是凹面如右 图（a） 在稠密体系中，考虑粒 子间相互干涉对散射的影 响，实验曲线产生极大部 分，如右图（b）和（c）。 有长期结构存在的纤维， 其小角散射强度曲线常数 属于此类型。
pmma凝胶态聚合物电解质 xrd
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聚合物贫相
聚合物贫相什么是聚合物贫相聚合物贫相是指聚合物在固态中存在的结构缺陷和无序性。
聚合物是由重复单元组成的高分子化合物，其分子链可以在固态中呈现不同的排列方式，包括有序排列和无序排列。
有序排列的结构称为相，而无序排列的结构称为贫相。
聚合物贫相的存在对于聚合物的性质和应用具有重要影响。
贫相结构会导致聚合物的物理性质、力学性能、热稳定性等方面发生变化，因此研究和控制聚合物贫相对于聚合物材料的开发和应用具有重要意义。
聚合物贫相的形成原因聚合物贫相的形成原因主要包括以下几个方面：1.聚合物分子的构型：聚合物分子的构型决定了其在固态中的排列方式。
不同的构型会导致不同的相结构，从而影响聚合物的贫相性质。
2.聚合度：聚合物分子的聚合度越高，分子链越长，相互之间的排列方式就越复杂，贫相结构的形成可能性就越大。
3.熔融冷却速率：聚合物在熔融状态下冷却时，冷却速率的快慢会影响聚合物分子的有序排列程度。
快速冷却会导致聚合物分子无法充分有序排列，形成贫相结构。
4.添加剂的影响：聚合物中添加适量的添加剂，如塑化剂、填料等，可以改变聚合物分子的排列方式，从而影响聚合物的贫相性质。
聚合物贫相的表征方法为了研究和表征聚合物的贫相结构，科学家们开发了多种方法和技术。
下面介绍几种常用的表征方法：1.X射线衍射：X射线衍射是一种常用的表征聚合物贫相结构的方法。
通过测量聚合物样品对X射线的散射模式，可以得到聚合物分子的排列方式和结构特征。
2.拉曼光谱：拉曼光谱是一种非侵入性的表征方法，可以通过测量聚合物样品对激光光源的散射光谱，获得聚合物的分子振动信息，从而揭示其贫相结构。
3.热分析：热分析是一种通过测量聚合物样品在升温或降温过程中的热性能变化来表征其贫相结构的方法。
常用的热分析技术包括差示扫描量热法（DSC）和热重分析法（TGA）等。
4.电子显微镜：电子显微镜是一种高分辨率的表征方法，可以观察和研究聚合物样品的微观结构。
通过电子显微镜的观察，可以揭示聚合物贫相结构的形貌和分布情况。
聚合物材料取向度的测试方法简述
聚合物材料取向度的测试方法简述聚合物材料是一类具有长链结构的高分子材料，广泛应用于塑料、橡胶、纺织品、涂料等各个领域。
在这些应用中，聚合物材料的取向度对其性能和应用效果具有重要影响。
测试聚合物材料的取向度对于研究其性能和优化应用具有重要意义。
以下将简要介绍一种常用的聚合物材料取向度测试方法。
一、简述聚合物材料的取向度是指分子链在材料中的排列方向或者聚合物分子在材料中的一定方向上的分布程度。
取向度的大小可以影响材料的力学性能、光学性能、热学性能等。
对聚合物材料的取向度进行测试是非常必要的。
二、测试方法1. X射线衍射法X射线衍射法是测试聚合物材料取向度最常用的方法之一。
通过测定材料中分子链或分子团在各个方向上的衍射强度，可以得到材料分子链或分子团在各个方向上的分布情况，从而进一步计算得到取向度。
这种方法准确性高，可靠性好，适用于不同种类的聚合物材料。
2. 红外光谱法3. 核磁共振法4. 拉伸试验法在没有专门测试设备的情况下，也可以通过拉伸试验来大致估测聚合物材料的取向度。
在拉伸试验中，材料的拉伸方向将使得分子链或分子团趋向于排列，从而在测试过程中观察材料的变形情况可以初步推测其取向度。
这种方法虽然简单，但是准确性和可靠性较低，只能作为初步了解材料取向度的参考。
三、总结以上介绍了几种常用的测试聚合物材料取向度的方法，每种方法都有其适用范围和优缺点。
在实际测试中，要根据具体的材料性质和研究目的选择合适的方法来进行测试。
通过对聚合物材料取向度的测试，可以更好地了解其性能特点，为进一步研究和应用提供重要的参考依据。
希望本文能够对相关研究人员提供一些帮助，促进聚合物材料取向度测试方法的进一步应用和发展。
聚合物研究方法考试整理
聚合物研究⽅法考试整理⼀、红外光谱1、红外应⽤：对聚合物的化学性质、⽴体结构、构象、序态、取向等提供定性和定量的信息。
在鉴定聚合物的主链结构、取代基位置、双键位置、侧链结构以及⽼化和降解机理的研究中已得到⼴泛的应⽤。
对⾼分⼦材料、黏合剂及涂料等组分的定性定量分析，红外光谱也是⼀种⼗分有效的⼿段。
2、红外光谱的特点：（1）除少数同核双原⼦分⼦如O2，N2，Cl2等⽆红外吸收外，⼤多数分⼦都有红外活性，有机化合物的红外光谱能提供丰富的结构信息。
（2）任何⽓态、液态和固态样品均可进⾏红外光谱测定，这是其它仪器分析⽅法难以做到的。
（3）常规红外光谱仪器结构简单，价格不贵，样品⽤量少，可达微克量级。
3、红外光谱的表⽰⽅法（1）透光度T%=I/I0×100%（I0-⼊射光强度；I-⼊射光被样品吸收后透过的光强度）（2）、吸光度 A=lg（1/T）=lgI0/I（横坐标：表⽰波长或波数；波数是波长的倒数）4、红外光谱的原理（1）、能量在4,000 ~ 400cm-1的红外光不⾜以使样品产⽣分⼦电⼦能级的跃迁，⽽只是振动能级与转动能级的跃迁。
（2）、由于每个振动能级的变化都伴随许多转动能级的变化，因此红外光谱也是带状光谱。
（3）、分⼦在振动和转动过程中只有伴随净的偶极矩变化的键才有红外活性。
因为分⼦振动伴随偶极矩改变时，分⼦内电荷分布变化会产⽣交变电场，当其频率与⼊射辐射电磁波频率相等时才会产⽣红外吸收。
（4）、因此，除少数同核双原⼦分⼦如O2，N2，Cl2等⽆红外吸收外，⼤多数分⼦都有红外活性。
5、红外基团特征频率4000~3000：O-H,N-H伸缩振动3300~2700：C-H伸缩振动2500~1900：-C≡C-、-C≡N、-C=C=C-、C=C=O、-N=C=O伸缩振动1900~1650：C=O伸缩振动及芳烃中C-H弯曲振动的倍频和合频1675~1500：芳环、C=C、C=N-伸缩振动1500~1300：C-H⾯内弯曲振动1300~1000：C-O、C-F、Si-O伸缩振动，C-C⾻架振动1000~650：C-H⾯外弯曲振动、C-Cl伸缩振动6、.红外光谱仪基本结构：（光源、单⾊器、吸收池、检测器）（1）、红外光谱仪与紫外可见分光光度计的⽐较（2）、傅⽴叶变换红外光谱仪的优点：a⼤⼤提⾼了谱图的信噪⽐；bFT-IR仪器所⽤的光学元件少，⽆狭缝和光栅分光器，因此到达检测器的辐射强度⼤，信噪⽐⼤；c波长(数)精度⾼(±0.01cm-1)，重现性好；d分辨率⾼；e扫描速度快。
高分子材料结构分析
高分子材料结构分析引言高分子材料是一种由大分子聚合物组成的材料，具有重要的工业应用和科学研究价值。
了解高分子材料的结构对于研究其性质和应用具有重要意义。
本文将介绍高分子材料结构分析的方法和技术。
一、传统结构分析方法传统的高分子材料结构分析方法包括X射线衍射、核磁共振和红外光谱等。
1. X射线衍射X射线衍射是研究高分子材料结构最常用的方法之一。
通过将X射线束照射到高分子材料上，利用晶体衍射原理，在探测器上得到衍射图样。
通过解析衍射图样，可以确定高分子材料的晶体结构和晶格参数。
2. 核磁共振核磁共振是利用核磁共振现象研究高分子材料结构的方法。
通过将高分子材料置于强磁场中，利用核磁共振现象来获得高分子材料的特征谱图。
核磁共振谱图可以提供高分子材料内部原子的相对位置和化学环境的信息。
3. 红外光谱红外光谱是研究高分子材料结构的另一种重要方法。
通过将红外光照射到高分子材料上，观察材料对红外光的吸收情况。
不同的官能团对应着不同的红外光谱峰，通过对红外光谱的分析，可以确定高分子材料的结构。
二、现代结构分析方法随着科学技术的发展，现代结构分析方法在高分子材料研究中得到了广泛应用。
下面介绍几种常用的现代结构分析方法。
1. 激光拉曼光谱激光拉曼光谱是利用拉曼散射现象进行结构分析的方法。
通过将激光照射到高分子材料上，观察材料散射的拉曼光谱。
拉曼光谱提供了高分子材料的分子振动信息，可以揭示其结构和构型。
2. 原子力显微镜原子力显微镜是一种能够在原子尺度上进行观察的仪器。
利用探针扫描样品表面，根据探针和样品之间的相互作用力，得到样品表面的形貌和结构信息。
原子力显微镜可以用于观察高分子材料的微观结构和表面形态。
3. 激光光散射激光光散射是一种用于研究高分子材料结构和动力学行为的方法。
通过照射高分子材料样品，观察散射光子的散射情况，可以得到高分子材料的分子量、分子尺寸和分子链排列等信息。
三、计算模拟方法计算模拟方法是一种通过计算机建立高分子材料的模型，模拟其结构和性质的方法。
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θ
B2q
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
K L cosq
高分子近代测试
衍射强度（峰面积）：
高分子近代测试
影响衍射谱线的主要因素：
衍射积分强度公式
1. 晶体组成(Kα双线、原子散射因子)与结构(完整程度）
2 2
I I0
V e 2 2 Phkl Fhkl L p A e 2 M 2 32R 4 0 m c Vc
样品台转到θ角时，计数器则恰好转到2θ角位置。这 样，相对于样品表面，计数器总位于入射线的反射方向 上。使2dsinθ=nλ时，计数器便会接收到该族晶面产 生的布拉格反射（衍射）。
高分子近代测试
X射线 发射器
w q 2q
高分子近代测试
信号侦测器
XRD仪器构成示意图
衍射仪记录下扫描的衍射角2θ和相应位置接收到的衍射信 号，得到以衍射角2θ为横坐标，衍射强度I为纵坐标的衍射图。 X射线衍射学上规定：衍射图各衍射峰对应的d值由n=1时计算。
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2013/3/29
高分子近代测试 •制样：平板式，长宽10-15mm, 高聚物厚度0.5-1mm
高分子近代测试 X衍射分析方法的应用
分析方法 基本分析项目 物相定性分析 点阵常数测定 取向结构测定 单晶定向 1. 2. 3. 4. 应用举例 产物的X射线研究 相变过程中产物结构变化 工艺参数对相变的影响 新生相与母相的取向关系 塑性形变的X射线分析 孪晶面与滑移面指数测定 形变与再结晶织构测定 应力分析
晶面间距
入射角
衍射级数
NaCl结晶体的001（左）和 011（右）晶面
晶体产生 X射线衍射（布拉格反射）的条件
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2013/3/29
高分子近代测试 XRD的产生：
Intensity (cps)
高分子近代测试
1000 500 0 10 20 30 40 50 Polar angle (degree)
单晶
高分子近代测试
高分子近代测试 1. 应用分析原理
1）任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构，在一定波 长的X射线照射下，每种晶体物质都给出自己特有的衍射 花样---- “指纹花样” ； 2）晶态试样的衍射花样在谱图上表现为一系列衍射峰。 各峰的位置2θ（衍射角）和I/I0 （衍射线相对强度）是 确定的； 3）通常用d（晶面间距表征衍射线位置）和 I/I0（ I0 为 最强线的强度）的数据代表衍射花样。用d---- I/I0数 据作为识别物相的基本判据； 4）混合物相的谱图是各组分相分别产生衍射或散射的简 单机械叠加。
高分子近代测试
I
纳米级别的异质颗粒或孔隙 微区不均匀性
2θ <5o 漫散射谱线即小角散射现象
衍射：从晶体原子中散射的电磁波发生互相干涉和叠 加，从而在某些方向电磁波信号得到加强或抵消的现 象
X射线小角散射SAXS： 入射角< 5° 2~20nm尺寸范围内电子密度起伏造成的X射线散射现象 测量微颗/微孔的形状、大小及分布、样品长周期衍射现象； 大分子化合物的分子量、取向排列；并通过衍射强度分布， 进行有关的结构分析
粉末样品 右 薄片或薄膜样品 约Φ10mm1mm
10~100mg，粒度在5μm左
照相法
约10mm10mm1mm
样品要充分干燥，粉末样品要尽量细，薄膜 样品表面要平整。
物相定性定量分析 点阵常数测定 织态结构测定 衍射仪法 单晶定向 宏观应力测定 晶粒度测定 非晶态结构分析
1. 2. 3. 4.
单斜：
三斜：
布拉格点阵(14个) P—— 简单点阵 I —— 体心点阵 F——面心点阵 C——底心点阵
高分子近代测试
高分子近代测试
• 晶面指数：用来标记某个晶面的一组参数(3个数字)
晶面：结格内的质点全部集中在相互平行的等间距的 平面群上，这些平面都叫晶面
z B M3 A M2 M1 x y
例如：晶体空间点阵的一个平面切割 三坐标于 M1、M2、M3 三个点。 OM1＝3a，OM2＝2b，OM3＝c 取倒数 3 , 2 , 1 ，通分 6 , 6 , 6 ，弃去公分母 A：晶面指数（2，3，6） B： （M1，M2， ） ，截距 3a，2b， ， 则晶面指数（2，3，0）
由于晶体缺陷或变态等因素 破坏晶体完整性
峰强降低，峰形变宽。 I
破坏了晶体结构的完整性，故称为不完整晶体 2θ
高分子近代测试
高分子近代测试
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高分子近代测试
高分子近代测试
面积不变 峰形变宽 峰值降低
A B C A B C
抽出型层错/插入型层错
A B C B C A
衍射峰形分析：通过分析X射线衍射峰形状变化 ，来定 量揭示不完整晶体中的一些结构信息。
光程差等于波长的整数倍互相叠加
强度大，可以检测 到信号
高分子近代测试 晶面
为便于确定X射线衍射的方向，Bragg借用了晶体学中 的晶面概念。 • 晶体可视为由相互平行的晶面族构成。 晶面指数: 描写晶面方位的一组数称为晶面指数 晶面间距：两相邻平行晶面间的垂直距离 (1)平行的晶面组成晶面族，晶面族包含所有格点； (2)晶面上格点分布具有周期性； (3)同一晶面族中的每一晶面上，格点分布(情况)相同； (4)同一晶面族中相邻晶面间距相等
X射线衍射花样 优点：不损伤样品、无污染， 快捷、测量精度高， 得到的晶体结构信息量大且完整 等
X射线衍射曲线
粉末
高分子近代测试
高分子近代测试
7.2 多晶X射线衍射实验方法
多晶X射线衍射：指以多晶材料或者多晶聚集体为试 样的衍射实验。
测试中每个被照射到的小晶粒，在其某族晶面与入射X射线夹 角满足Bragg方程时，会产生Bragg反射-----衍射，实验所产生 的衍射是大量（百万个以上）小晶粒发生衍射的总效果。 高聚物主要呈现晶态和非晶态，多采用多晶X射线衍射法。 根据记录方式不同分为：多晶照相法、多晶衍射法
• 平面点阵——分布在同一平面上的点阵
• 空间点阵——分布在三维空间的点阵
晶胞
高分子近代测试
晶胞：晶体三维空间中具有周期性排列的最小单位 基本重复单元 晶胞参数( 6个)： 平行六面体的三边的长度：a、b、c 平行六面体的三边的夹角：α、β、γ
高分子近代测试
立方：
晶系 (7个 )：
四方(正方)：
斜方(正交)： 六方： 三方(菱形)：
思考： 半结晶高聚物？
半结晶聚合物形态 无定形聚合物形态
高分子近代测试
X射线衍射平板照片所代表的聚合物的物相特征: 无规取向聚合物
高分子近代测试 2. 多晶衍射仪法
具有一个或两个弥散环，为非 晶聚合物衍射图，如α-聚苯乙 烯、聚氨基甲酸酯橡胶、聚甲 基丙酸甲酯等属此类型
具有一个或两个清晰圆环， 为结晶性较差的高聚物衍 射图，如聚丙烯腈、聚氯 乙烯等
1 1 1
2 3 6
NaCl结晶体的001（左）和011（右）晶面
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高分子近代测试
高分子近代测试 2.X射线的产生及性质
X射线：由高能电子减速运动或原子内层轨道电子 跃迁所产生的短波电磁辐射 波长范围：10-11~10-9 m
高分子近代测试 2.X射线的产生及性质
由X射线管产生， 是一种波长很短（0.05-0.25nm)的电磁波
7.2 多晶X射线衍射实验方法
1. 多晶照相法 •制样：长10mm, 宽2-3mm, 厚0.5-1mm细窄片条
采用胶片对于X射线的感光度记录衍射方向和强度的不同
高分子近代测试 • 典型聚集态的照相底片特征：
部分择优取向多 晶试样 对称衍射弧 a b c 非晶态试样 弥漫散射环 d
高分子近代测试
无择优取向多晶试样 同心衍射圆环
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高分子近代测试
高分子近代测试
7 X射线衍射法
高分子近代测试
高分子近代测试
7.1 基本原理
1.晶体学基础
7.1 基本原理 7.2 多晶X射线衍射实验方法 7.3 多晶X射线衍射在高聚物中的应用
晶体:内部质点在三维空间呈 周期性重复排列的固体(长程有 序)。 (1) 较规整的几何外形 (2) 固定的熔点 (3) 各向异性
核形成
链段扩散
空间点阵：把组成晶体的质点抽象成为几何点，由这 些等同的几何点的集合所形成的格子。 晶体结构单元：点阵结构中每个几何点代表的具体内 容
全同聚丙烯(iPP)的结晶示意图
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高分子近代测试
• 直线点阵——分布在同一直线上的点阵
高分子近代测试 晶体结构 = 空间点阵 + 结构单元
相干散射：当入射线与散射线波长相同时，相 位滞后恒定，散射线之间能相互干涉，称为相 干散射。 非相干散射：当散射线波长与入射线波长不同 时，散射线之间不相干，则称之为非相干散射。 而康普顿散射即为非相干散射。
在小角度上测定，则称为小角X射线散 射（ Small Angle X-ray Scattering， SAXS）。
Vc——晶胞体积 Phkl——多重因子 ∣Fhkl∣2 ——结构因子 Lp——角因子 A——吸收因子 e-2M——温度因子。
3
2. 择优取向(织态结构) 3. 实验条件(温度、样品量、角因子等)
I0和λ——入射线强度及波长 R——样品距离 e和m—— 电子电荷及质量 C——光速 ε0——真空介电常数 V——照射样品体积