三维面形测量系统的基本原理
光学三坐标测量仪

光学三坐标测量仪还可以用于检测设备 的校准和认证
• 如检测量具、检测仪器等的精度和稳 定性 • 保证检测设备的质量和性能
04
光学三坐标测量仪的发展趋势
光学三坐标测量仪的技术创新
• 光学三坐标测量仪的技术创新主要表现在光学传感器、机械结构 和控制系统等方面
• 如轮廓测量、曲面测量、反向工程、机器人引导测量等
光学三坐标测量仪的测量精度
光学三坐标测量仪的测量精度主要取决于光学传感 器的精度、机械结构的稳定性和控制系统的精度
• 光学传感器的精度决定了测量数据的 准确性 • 机械结构的稳定性决定了测量过程的 稳定性 • 控制系统的精度决定了测量过程的精 确性
• 光学传感器是光学三坐标测量仪的核心部件 • 负责发射和接收光信号,并将光信号转换为电信号 • 光学传感器的类型包括激光扫描器、光学摄像头、光纤传感器等
• 机械结构是光学三坐标测量仪的支撑和移动部件 • 负责支撑光学传感器,并使光学传感器能够在空间中移动和定位 • 机械结构包括导轨、滑块、支架等部件
• 制造业对光学三坐标测量仪的需求较大,主要用于零部件的尺 寸检测、形状检测和位置检测
• 科研领域对光学三坐标测量仪的需求较小,主要用于实验数据 的采集和分析
• 质量检测领域对光学三坐标测量仪的需求较大,主要用于产品 的尺寸检测、形状检测和位置检测
• 光学三坐标测量仪的市场需求受经济发展、技术进步和行业政策 等因素的影响
• 控制系统和软件系统是光学三坐标测量仪的大脑 • 负责控制光学传感器和机械结构的运动,实现测量过程的控制 • 软件系统负责处理测量数据,计算物体的尺寸、形状和位置信息
光学三坐标测量仪的工作原理
三维形貌仪测量原理

三维形貌仪测量原理
三维形貌仪是一种用于测量物体表面形貌的仪器。
它基于光学原理,通过记录光线在物体表面的反射或散射来获取物体的三维形状信息。
三维形貌仪的测量原理主要包括以下几个步骤:
1. 光源发射:三维形貌仪通过发射光源(如激光或白光)照射在物体表面,光源发射出的光线传播到物体表面。
2. 光线反射/散射:光线照射到物体表面后,根据物体表面的
性质,光线可能会有反射或散射现象。
其中,反射光线的方向与入射光线的方向相对称,散射光线的方向则随机分布。
3. 光线收集:三维形貌仪通过相机或其他光学探测器收集物体表面反射或散射的光线。
收集到的光线会通过光学系统进入成像系统。
4. 成像:收集到的光线经过光学系统的聚焦和成像处理,最终形成物体表面的图像。
成像系统可以利用单一的相机或多个相机进行成像。
5. 图像分析:通过对物体表面图像进行分析处理,可以得到物体表面的三维形貌信息。
常用的分析方法包括三角剖分法、相位测量法、结构光法等。
通过以上测量原理,三维形貌仪可以实现对物体表面的高精度、非接触式的三维形貌测量。
它在工业、制造、科学研究等领域中广泛应用,可用于表面质量检测、产品设计、模具制造、雕刻等方面。
三维面形测量系统的基本原理

三维面形测量系统的基本原理三维面形测量系统是用于测量物体表面形状和几何尺寸的一种技术。
其基本原理是通过光学、激光、摄像等方式将物体表面上的点或曲线形状信息转换为数字信号,然后通过处理和分析这些数字信号,最终得到物体的三维形状和几何尺寸。
在三维面形测量系统中,光学或激光技术是常用的测量原理之一、光学技术利用投影测量和成像原理,通过将光束投射到物体表面并接收反射或散射的光来确定物体表面形状。
光线的投影和接收可以通过使用相机或其他光学装置进行。
光学技术可分为白光投影法、干涉投影法、多光束投射法等。
白光投影法是使用彩色光源投射多个不同颜色的光束到物体表面,并通过相机或其他探测器收集反射光。
通过测量不同颜色光束之间的偏差,可以计算出物体表面上各点的高度差,从而构建出物体的三维形状。
干涉投影法利用干涉原理,在物体表面上投射一束激光和参考光束,并通过光的干涉现象来测量物体表面的形状。
激光通过物体表面后,与参考光束进行干涉,产生干涉带纹理。
通过记录干涉带的图像并进行分析,可以计算出物体表面上各点的高度差,从而得到三维形状。
摄像技术是另一种常用的测量原理,通过相机记录物体表面投影图像,并通过分析图像来推断物体的三维形状。
在摄像技术中,常用的方法有结构光投影和立体视觉。
结构光投影利用光条或光栅对物体表面进行投影,并通过相机记录投影图像。
根据投影图像中的形变信息,可以计算出物体表面上各点的三维坐标。
结构光投影方法通常使用激光扫描或投影仪进行。
立体视觉利用相机组成的立体视觉系统来记录物体表面的多个视角图像,并通过相机之间的视差信息来计算物体表面上各点的三维坐标。
立体视觉方法通常需要对相机进行校准,以获得准确的视差测量结果。
除了光学和摄像技术,还有其他一些三维面形测量方法,如激光雷达、电容测量、激光干涉计等。
这些方法的原理基本上是通过测量物体表面上点或曲线的位置、形变或电容值等来反推物体的三维形状。
总之,三维面形测量系统的基本原理是通过光学、激光、摄像等方式将物体的表面形状信息转换为数字信号,并通过处理和分析这些数字信号,最终得到物体的三维形状和几何尺寸。
三坐标测量仪的原理

三坐标测量仪的原理一、引言三坐标测量仪是一种精密测量仪器,可以用来测量物体的三维几何形状和尺寸。
它在制造业中广泛应用,用于检验产品的精度和质量。
本文将详细介绍三坐标测量仪的原理及其工作过程。
二、原理介绍三坐标测量仪是基于三维坐标系的测量原理。
其主要原理是通过测量物体上的一系列点的坐标值,然后根据这些坐标值计算出物体的几何形状和尺寸。
三坐标测量仪通常由测量传感器、运动系统和数据处理系统三部分组成。
1. 测量传感器测量传感器是三坐标测量仪的核心部件,用于测量物体上各个点的坐标值。
常见的传感器有接触式和非接触式两种。
接触式传感器通过接触物体表面来测量坐标值,其测量精度较高,适用于测量硬质物体,但容易对物体表面造成划伤。
非接触式传感器则无需接触物体表面,可以通过光学或激光等方式来测量坐标值,适用于测量敏感的物体或曲面。
非接触式传感器测量精度相对较低,但操作简便。
2. 运动系统运动系统是三坐标测量仪的机械部分,用于控制传感器在空间中的运动,以获取物体各个点的坐标值。
运动系统通常由导轨、电机和传动装置组成。
导轨用于引导传感器在三维空间中移动,保证测量的精度和稳定性。
电机通过控制传感器在导轨上的移动,实现对物体的全方位测量。
传动装置则将电机的旋转运动转化为传感器的直线运动,使传感器可以在三维空间内精确定位。
3. 数据处理系统数据处理系统负责接收、处理和分析传感器获取的坐标值,最终计算出物体的几何形状和尺寸。
数据处理系统通常由计算机和相关软件组成。
计算机通过与传感器连接,接收传感器传输的坐标值。
相关软件则根据测量原理和算法,对坐标值进行处理和分析,计算出物体的几何参数,如点、线、面和体积等。
三、工作过程三坐标测量仪的工作过程通常包括以下几个步骤:1. 校准在测量之前,需要对三坐标测量仪进行校准,以保证测量的准确性。
校准过程中,需要通过测量标准件来确定测量误差,并进行相应的调整和修正。
2. 定位将待测物体放置在测量仪的工作台上,并进行初始定位。
测绘技术中的立体测量原理和应用

测绘技术中的立体测量原理和应用测绘技术是一门应用科学,涉及到地理空间数据的收集、处理和分析。
其中,立体测量是一项重要的技术,它可以帮助测绘师们获取三维空间中的准确数据,为地理信息系统(GIS)、城市规划、土地评估等领域提供可靠的基础数据。
本文将介绍立体测量的原理和应用。
立体测量是指通过测量物体或地表的三维坐标信息,来获取物体或地表表面的几何形态。
传统的立体测量方法包括影像测量和地面测量。
影像测量是利用航空或卫星获取的影像数据进行测量,通过解算像控点、角点和分辨率等参数,来推导出物体的三维位置。
而地面测量则是通过使用测量仪器,如全站仪或测距仪,直接测量地面上的物体。
在现代测绘技术中,立体测量的方法更加多样化和精确。
激光测距仪是一种常用的立体测量工具,它利用激光束测量物体到仪器的距离,并通过测量仪器的转角来推算物体的三维坐标。
此外,摄影测量和遥感技术也广泛应用于立体测量中。
通过对航空或卫星影像进行解算和处理,可以获得具有高分辨率和精度的三维地表数据。
立体测量在各个领域都有广泛的应用。
在地质勘探中,通过测量地表的立体形态可以推断地下地层的结构,并预测地质灾害的风险。
在建筑设计中,立体测量可以帮助建筑师准确获取建筑物的尺寸和形态,从而进行合理的规划和设计。
在城市规划中,立体测量可以提供城市地貌和地表高程等数据,为城市规划师提供精确的参考。
此外,立体测量还可以应用于土地评估、环境监测、地理信息系统等领域。
然而,立体测量也面临一些挑战和限制。
首先,立体测量需要使用昂贵和复杂的测量设备,使得成本较高。
其次,立体测量需要掌握一定的测量技术和专业知识,对于测绘师的要求较高。
同时,立体测量还受到天气条件的影响,如雨雪、大风等都会影响测量结果的准确性。
为了解决这些问题,立体测量技术不断发展。
近年来,无人机技术的快速发展为立体测量提供了新的解决方案。
通过搭载激光测距仪和相机等设备,无人机可以进行高精度的立体测量,并且具有成本低、操作简单等优势。
三维激光测量技术的原理与使用方法

三维激光测量技术的原理与使用方法激光测量技术是一种高精度、高效率的测量方法,在工业生产、建筑设计以及科学研究中被广泛应用。
其中,三维激光测量技术作为激光测量技术的一种重要形式,具有更高的精确度和全面性。
本文将介绍三维激光测量技术的原理与使用方法。
一、三维激光测量技术的原理三维激光测量技术是通过测量物体与激光束的相互作用来确定物体表面的点坐标,进而建立物体的三维坐标系统。
其基本原理可以概括为以下几点:1. 激光测距原理:三维激光测量技术主要是基于激光测距原理实现的。
激光器发出的激光束照射到物体上,激光束被物体表面反射后再由激光接收器接收。
通过测量激光束的往返时间,并结合光速的知识,可以计算出激光束从发射到接收的时间,从而得到物体表面的点到激光器的距离。
2. 多点定位原理:三维激光测量技术的另一个重要原理是多点定位原理。
通过在物体表面上布置多个接收器,可以同时接收到多个反射激光束,从而确定物体表面的多个点的坐标。
而通过这些点的坐标,可以建立起物体的三维坐标系统。
3. 反射率校正原理:物体表面的反射率对激光测量结果有一定的影响。
在进行激光测量时,常常需要对物体表面的反射率进行校正,以得到更准确的测量结果。
一般来说,物体表面越光滑,其反射率就越高,对激光的反射也就越强。
二、三维激光测量技术的使用方法三维激光测量技术在实际应用中有多种方法和步骤,可以根据具体需求选择不同的使用方式。
1. 扫描法:三维激光测量技术可以通过扫描法获取目标物体表面的三维信息。
首先,在测量区域内设置扫描器和接收器,扫描器会以一定的速度扫描整个区域,同时记录接收到的反射激光束信息。
然后,将接收到的数据进行处理和分析,得到物体表面各个点的三维坐标数据。
2. 三角测量法:三角测量法是三维激光测量技术中常用的一种方法。
在进行测量之前,确定基准点和测量点的坐标,通过测量激光束与基准点和测量点的夹角,以及激光束与基准点之间的距离,可以利用三角函数计算出测量点的三维坐标。
一种多频投影三维面形测量的运动区域检测方法及系统[发明专利]
![一种多频投影三维面形测量的运动区域检测方法及系统[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/997bbae503d8ce2f016623dc.png)
专利名称:一种多频投影三维面形测量的运动区域检测方法及系统
专利类型:发明专利
发明人:张启灿,郭文博,吴周杰
申请号:CN202010842666.7
申请日:20200820
公开号:CN111998799A
公开日:
20201127
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明公开了一种多频投影三维面形测量的运动区域检测方法及系统,包括:采集复杂测量场景的多频相移条纹图,包括n个具有预设频率倍数的相移条纹图;利用所述复杂测量场景的多频相移条纹图的多频对比度信息和/或多频相位信息求解所述复杂测量场景的运动区域;对求解得到的运动区域进行运动误差修正,得到修正后的多频相位信息;利用所述修正后的多频相位信息求解所述复杂测量场景的三维面形信息。
本发明通过复杂测量场景的多频相移条纹图的多频对比度信息和/或多频相位信息求解所述复杂测量场景的运动区域,准确高效地定位到复杂测量场景的运动区域,从而有效消除复杂测量场景的运动误差,提高三维测量重建的计算效率与精度。
申请人:四川大学
地址:610065 四川省成都市一环路南一段24号
国籍:CN
代理机构:四川力久律师事务所
代理人:韩洋
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三维光学轮廓仪的主要工作原理

三维光学轮廓仪的基本原理三维光学轮廓仪是一种常用的非接触式测量设备,可以用来测量物体的三维形状和表面特征。
它通过利用光学原理和图像处理技术,将物体的三维形状转化为数字化的三维模型,从而实现对物体形状和表面特征的测量与分析。
1. 光学投影原理三维光学轮廓仪的工作原理基于光学投影原理。
它通过投射光束到待测物体表面上,然后接收和处理反射回来的光信号,从而测量物体表面的形状和特征。
在三维光学轮廓仪中,通常使用白光或激光作为光源。
光源发出的光经过透镜或光纤束聚光系统进行聚焦,形成一个光斑。
光斑经过投影透镜,被投射到待测物体表面上。
2. 相位移技术在物体表面接收到光斑后,会发生光的反射、散射和吸收等现象。
三维光学轮廓仪利用这些光学特性,通过测量光斑的相位差来获取物体表面的形状信息。
相位差是指光束从光源到物体表面再到相机接收器的光程差。
在三维光学轮廓仪中,通常使用相位移技术来测量光斑的相位差。
相位移技术可以通过改变光源的相位或改变物体表面的相位来实现。
其中一种常用的方法是使用光栅投影技术。
光栅是一种具有周期性结构的光学元件,可以将光束分为多个光斑,从而形成一系列的光条纹。
当光斑经过物体表面时,光斑的相位会发生变化,通过测量光斑的相位差,可以计算出物体表面的形状信息。
3. 相机成像和图像处理在三维光学轮廓仪中,相机是用来接收和记录物体表面反射回来的光信号的关键部件。
相机通常使用CCD或CMOS等成像器件,将光信号转化为数字图像。
当光斑经过物体表面时,相机会接收到反射回来的光信号,并将其转化为二维图像。
这个图像被称为光条纹图像,其中的每个像素点对应着物体表面的一个点。
为了获取物体表面的三维信息,需要对光条纹图像进行处理和分析。
常见的图像处理方法包括:•相位解包:将光条纹图像中的相位信息解包,得到物体表面的相位分布。
•相位提取:从相位分布中提取出物体表面的高度信息。
•滤波处理:对图像进行滤波,去除噪声和干扰,提高测量精度。
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三维面型测量细棒的直径
一、实验目的
(1)了解三维面型测量的基本原理和方法,熟悉傅立叶变换剖面术的方法,
(2)通过对物体的三维面形的重建,掌握三维目标的识别、位置形状分析及origin75的使用方法。
(3)能够根据携带有三维面形信息的观察光场中解调得出三维面形数据。
(4)掌握利用三维传感非接触测量的基本方法。
二、三维面型的测量原理
光学三维传感在机器视觉、自动加工、工业在线检测、实物仿形、生物医学等领域,具
有重要意义和广阔应用前景。
获取物体三维信息的基本方法可以分为两大类:被动三维传感和主动三维传感。
被动三维传感采用非结构照明方式,从一个或多个观察系统获取的二维图像中确定第三维(距离维)信息,形成三维面型数据。
从一个观察系统获取的二维图像中确定距离维时,人们必须依赖对于物体形态、光照条件等的先验知识。
从两个或多个观察系统获取的不同视觉方向的二维图像中,通过相关或匹配等运算可以重建物体的三维面形,但这种方法要求大量的数据运算,而且,当被测物体上各点的反射率没有明显差异时这种计算变得更加困难。
因此,被动三维传感的方法常常用于对三维目标的识别、理解以及位置形状分析。
一种更适合于计算目的的三维传感方法是主动三维传感。
主动三维传感采用结构照明方
式,由于三维面形对结构光场的空间或时间调制,可以从携带有三维面形信息的观察光场中解调得出三维面形数据。
由于这种方法具有较高的测量精度,作为一种三维面貌计量手段已经得到广泛的应用。
三维面形自动测量仪是基于上述研究的计算机辅助三维测量设备,设计新颖,技术先进,
配有丰富的软件,可对各种复杂面形的工业零件、叶轮、叶片,实物模型进行高速度、高精度面形自动测量,广泛用于实物仿形,工业检测,机器视觉,产品质量控制,三维信息存贮,三维数字全息,影视特技,三维动画等众多领域。
系统软件在 Windows 平台上运行,具有中文菜单,操作十分方便。
三维面形测量仪已在国内推广使用,并已出口到美国。
三维面形测量的基本方法主要有:(1)飞行时间法;(2)激光三角测量法;(3)付里叶
变换方法;(4)位相测量方法;(5)空间位相检测法;(6)莫尔轮廓术。
在上述方法中,位相测量方法由于速度较快,精度较高,是一种比较理想的复杂面形测量方法。
三、采用位相测量原理的三维面形测量方法
傅里叶变换轮廓术测量系统的光路原理如图所示。
图中Ep ’Ep 是投射系统的光轴,Ec ’Ec 是成像系统光轴,两光轴相交于参考平面R 上的O 点。
朗奇光栅G 的栅线垂直于EpEcO 平面,光栅像被投影系统投影在待测物体表面。
由于物体面形的调制,观察系统得到变形的光栅
像,S 是就收变形光栅像的面阵检测器。
由成像系统得到的变形光栅像可以记为 g(x.y)= r(x,y) )]},(2[exp{0y x n x nf j Am φπ+∑ (1)
式中,f0是光栅像的基频,r(x,y)是物体表面非均匀的反射率,φ(x,y )是物体高度
分布引起的相应调制,即
BD f y x 02),(πφ= (2)
当h(z,y)=0,即对参考平面R 测量时,变形光栅像为
),(0y x g = )]},(2[exp{00y x n x nf j An φπ+∑ (3)
图2
式中BC f y x 02),(πφ=。
对(1)的变形光栅像进行一维傅里叶变换,对于某一固定的y 坐标,其傅里叶变换谱如图2所示. 再对频谱滤波,取出图中所示的基频分量,然后做傅里叶逆变换,光场分布变为
g(x.y) = )]},(2[exp{),(01y x x f j y x r A φπ+ (4)
对式(3)进行相同的运算,得到
),(0y x g =)]},(2[exp{),(01y x x f j y x r A φπ+ (5)
φ0(x,y)是由于投影系统的出瞳Ep 在有限远所引入的附加相位调制,这时结构光场的照明是发散的。
当投影系统的出瞳位于无穷远时,在参考平面上的相位分布时线性的,
附加相位调制φ0(x,y)等于零。
在这种情况下,图1中入射线Ep A 变为EA ,即与光轴Ep O 平行。
对于发散照明情况,单纯由高度引起的相位调制△),(y x φ为
△),(y x φ = ),(y x φ -φ0(x,y) = CD f 02π (6)
这一相位调制可以从(4)和式(5)通过下列运算得到:
△),(y x φ = )]},(),([Im{*0*y x g y x g In (7)
式中,*表示共轭运算,Im{} 表示取复数的虚部。
利用三角形 △HCD 和 △HEpEc 的相位关系,可以得到所需的三维面形h(x,y)为 h(x,y) = d f 2-y)(x,△ y)(x, △00πφφl (8)
四、测量原理的主要特点
基于位相测量的三维面形测量方法,具有非接触,大数据量(例如:512×512点),测量速度快,精度高等特点,特别是可用于复杂面形的测量,这是任何常规接触式测量工具所无法比拟的。
但是,这种光学非接触测量方法也有一些局限性。
(1)与常规计量工具相比具有较低的精度;(2)物体必须有漫反射表面,表面反射率比较均匀;(3)物体表面的局部起伏不能太大,以免产生阴影,局部起伏较大的区域和阴影区的数据是不可靠的。
由于这种测量方法的特点和局限性,因此该方法常用于测量那些常规计量无法解决的复杂三维漫反射表面。
三维面形自动测量仪主要性能指标:
1.测量范围:200 x 200 mm
2.被测深度:50mm
3.精度: 0.2 mm
4.采样速度:30秒
5.自动校准
6.基本软件:
·自动校准,自动测量,立体图形显示、剖面显示,高度假彩色编码等功能的集成系统软件
基本配置:
1)仪器主体
2)电子控制箱
3)图像板
4)电控平移台
5)软件包
五、实验步骤
1、按图1所示光路图搭建光路。
2、打开OE-3D 软件,选择“文件”下的“单CCD 捕获图像”然后再选择CCD 型号为 “P2V_DEF-CC512*512P ”端口号为“Port 6”调节CCD 镜头的焦距,使参考平面上的光栅
条纹在计算机上清晰可见。
并依次点击“获取图像”、“停止捕获”、“抓图”、“保存”。
最终得到参考平面的图像。
如图2所示:
图2 参考平面光栅条纹
3、将细金属棒放在参考平面上,重复第二步,得到物平面的图像,如图3所示:
图3 物平面光栅条纹
4、获得两幅图像后再进行图像处理,点击菜单栏的“条文处理”,点击“傅氏变换”得到傅里叶变换的级图,我们选择正一级,再进行“滤波处理”得到下图:
图4
调整X将正一级条纹的有用信息的选择在红色线条内,然后调节Y使红色线条处于适当位置。
5、再对图片依次进行“逆傅氏变换”,“设置模板”我们适当设置“调制度阙值”通常在32-36左右。
接着进行几点连接,除去一些不可靠的点。
最后进行“相位展开”即得到细棒
的相位图,如下图所示:
图五
6、接下来我们OriginPro7.5对其进行相位分析。
点击“F ile文件”,到“Open”,将已经保存
的图像调入显示。
再选择“Plot”工具中的“profiles/Image”。
适当移动坐标轴就可以得到下
图。
图6
7、再在菜单栏选择“Edit”下的“Conver to worksheet”得到光阑的灰度矩阵。
读数时,对于某一固定y,读出一系列x值,数据将是一矩阵,第三维则是灰度。
在参考平面内选取
一行数据,再在棒的顶端选取一行数据。
然后我们可以得到灰度曲线图如下:
8
由上表可得平均像素点之差为6,参考平面上的一个周期的像素点之差为28.7。
六、数据处理
由螺旋测微器测得细棒的直径为6.22mm 。
物距0l =97.5cm ,CCD 镜头与光栅前的镜头距离d=13.6cm
由表1可知光栅的一个周期所间隔的像素点个数为28.7,那么单位像素所对应的相位为:
2π/28.7=0.21892632
由此可得加上细棒后光栅条纹相位变化为:
△),(y x φ=2*6π/28.7=1.31355792
空间频为:20=f .4
将以上数据代入(8)式,即可得到细棒的三维面型的高度h (x ,y ),即细棒直径。
如下所示: h(x,y) = d f 2-y)(x,△ y)(x, △00πφφl
=97.5×1.31355792/|(1.31355792-2×3.1415926×2.4×13.6)|
=0.628513cm=6.28513mm
由上述计算可知实验测得的结果与用螺旋测微器测得的结果基本一致。
七、实验总结
1、在光路的调节过程中要注意光源的光,不要让他不通过光栅直接照射到参考平面上,因为这样会导致参考平面的灰度不统一,从而在傅里叶变换时得到的相位图效果不好。
2、在调节光路时通常以在计算机屏幕上得到清晰条纹为目标。
3、在图像处理过程中也要注意选择适当的参数值,这样才能得到最好的相位灰度图。