外径千分尺内部校准规程
外径千分尺内部校准规程
对外径千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2、范围：适用于普通外径千分尺的内部校准。
3、校准用其标准设备
外校合格的标准块规（量块）。
4、环境条件
室温。
5、校准步骤
5．1校准前
5．1．1检查外径千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，检查外径千分尺的刻度线及数值是否清晰可见；
5．1．2检查是否有影响测量精度的外观缺陷；
5．1．3微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳，无卡住现象；
5．1．4锁紧装置的作用是否有效；
5．1．5测钻及测微螺杆端面是否有严重磨损或损坏。
5．2校准中
5．2．1选择适当的标准量块（外校合格的标准件）对千分尺进行校正；
5．2．4将量测读数值减去标准量块值，即为误差值。
5．3校准后
5．3．1外径千分尺遇外观不良或需调整，转校验单位判定是否暂停使用，并安排校验；5．3．2标准量块使用完毕后，须镲拭干净，并喷上防锈油，放回固定位置保存。
6、判定标准
示值误差不超过±0.02mm，即为合格。
7、记录保存
7．1校验合格后，贴上校验标签；
7．2校验不合格时，依实际情况定为暂停使用或降级使用，严重者作报废处理；
7．3将校验结果登录在《内校记录表》上。
编制：审核：批准：。
检具外径千分尺内校规程
尺，贴合格标签，做好校验记录，才能用于产品检测；不符合 重新校验仍不符合的将其报废，并在《监视和测量装置管理一 放置，有用之零件在后续维修卡尺时使用；
1 外观 目测 2 各部分相互作业 目测及手感 3 两测量面的平面度和平行度 CMM 4 示值误差 4等量块组 注：“+”标示应校验。 4.2.校验室内温度应为20±5°C，校验前，被检验外径千分尺和其他工具一同放置于校验室内的 工作台上，其平衡温度、时间不小于2小时。
5、校验要求及方法：
5.1外观 5.1.1.外径千分尺外观不应有锈蚀、碰伤或其他缺陷，刻线或数字清晰、均匀，不应有脱色 现象； 5.1.2.外径千分尺应有制造厂商、分度值和出厂编号； 5.1.3.使用中的和维修后的外径千分尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷。 5.1.4.检验方法：目测。 5.2.各部分的相互作用： 5.2.1.微分筒在工作行程内往返转动时应灵活、平稳，无卡滞和摩擦现象，无手感觉到的径 向摆动和轴向窜动； 5.2.2.测微螺杆伸出尺架的光滑部分与轴套之间的配合良好，不应出项明显的摆动； 5.2.3.校验方法：目测及手感。 5.3.两测量面的平面度和平行度： 5.3.1.两测量面的平面度和平行度:应符合下表规定： 两测量面的平行度/um 量程/mm 两测量面的平面度/um 0~25 0.6 2 25~50 50~75 0.6 3 75~100 5.4.2.校验方法：用CMM测试两测量平面得出两测量平面的平面度，在CMM中找此两个测量平 面的平行关系，得出两测量平面的平行度； 5.4.3.在据测量平面边缘0.4mm内的平行度忽略不计，0.2mm处允许有塌边； 5.4.示值误差： 5.6.1.示值误差校验结果应：（0-50）mm范围内：不大于±0.003mm、（50-100）mm范围内： 不大于±0.004mm； 5.6.2.示值误差以该点读数与量块尺寸之差确定；
外径千分尺自校规程
外径千分尺自校规程
1、概述
适用于本公司外径千分尺的定期校准和在用带表卡尺精确度的不定期校验。
2、技术要求：
2.1温度20±5OC,R.H.: 60O/O±20O/O
2.2选经过有资质部门（计量所）进行校准检验合格的外径千分尺或标准量块，储存在恒温、干燥、清洁的橱柜中，以做校准“标样”用，并做好记录。
3、校准规程
3.1 校验前：检查需要校检的外径千分尺的外形
3.2校准场所应符合标准——恒温、恒湿、清洁卫生。
3.3首先使用“标样”外径千分尺测量工件或标准量块，分别取外径千分尺量程的三个不同检点进行测量，并标明测量位置，读取数据并记录。
然后使用待校准的外径千分尺量取工件或标准量块的相同位置，读取数据并记录。
最后将数据进行比较，如果数据相同，证明在用带表卡尺合格；若不相同，证明在用带表卡尺失准，需要修校或更新。
测量范围（mm）受校点尺寸（mm）
3.4 测量数据与标准值之差，均在允许误差范围之内（±0.02mm），判校准合格。
4 记录标识
4.1校准合格后，贴校准标签
校准不合格时：依实际情况，判定为：限制使用，禁止使用，维修，报废处理
4.2将周检计划内规定到期的带表卡尺进行按时校验，将校验数据及时记录在《检测器具内校记录表》内。
量具内部校准规程-外径千分尺
量具内部校准规程-外径千分尺
千分尺内部校验规程 1目的
对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围
适用于千分尺的内部校准。
3校验基准
外校合格的标准量块。
4环境条件
室温
5校验步骤
5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。
5.2扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。
5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3,4块，(可对标准量块进行组合测量)。
每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内。
允许误差范围为?0.01mm。
5.4外径千分尺的校验:任意取5-6块标准量块，取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型，扭动螺栓使外径千分尺的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内。
将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内，允许误差范围为?0.01mm。
5.5历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。
6校准周期
每年1次。
7相关记录
《检测设备校验记录表》。
外径千分尺校准规程
1、目的：通过对外径千分尺进行校准，执行量值传递工作，保证产品质量。
2、适用范围：适用于厂内0-300㎜范围、分度值为0.01㎜的外径千分尺的校准指导。
3、环境要求：室内温度要求控制在20±5℃，湿度控制在60±15 RH%。
4、校准方法/步骤：4.1、外观：4.1.1、要求：千分尺表面应无锈蚀、碰伤或其它缺陷，刻线和数字应清晰、均匀，不应有脱色现象，千分尺上应标有分度值、制造厂名、工厂标志及出厂编号，使用中及修理后的千分尺允许有不影响使用准确度的外观缺陷。
4.1.2、方法：目视4.2、各部份相互作用：4.2.1、要求：微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象，可换或可调测砧的装卸或调整应顺畅，其作用可靠，锁紧装置应切实有效，测微螺杆无明显的轴向窜动与径向摆动。
4.2.2、方法：手感4.3、微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的距离：4.3.1、要求：对准零位时，微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切，允许压线不大于0.05㎜，离线不大于0.10㎜。
4.3.2、方法：调整好千分尺的零位，转动微分筒使微分筒的端面与固定套管横刻线相切，并按微分筒读出零刻线相对于固定套管纵刻线的偏移量，该数值即为离线、压线的数值。
4.4、示值误差：4.4.1、要求：千分尺的示值误差不超过下表一的规定：4.4.2、方法：以5等或2级或相应等级量块，依下表一规定之受检点进行校准。
4.5、校对量杆的尺寸误差4.5.1、要求：校对量杆尺寸误差不超过下表一的规定：4.5.2、方法：校对量杆尺寸误差在三座标上进行校准。
5、校准周期预定为一年编制/日期：审核：批准：。
千分尺校准规程
编制千分尺校准规程批准生效日期文件编号版次A0 页次第 1 页共 2 页1.适用范围适用于广东骏汇公司内部所使用的最大量程在500mm以下的外测千分尺、内测千分尺和深度千分尺均可按本标准进行校准。
2.校准条件校准室内温度（20）℃校准室内相对湿度＜70%校准前，应将被校准的千分尺及校准用的量杆等置于大理石平台或木桌上，平衡温度时间见下表：区分测量范围上限/mm 室内温度20℃允许偏差/℃平衡温度时间/h 千分尺校准用量杆非数显千分尺0～100 ±5±3 2 ＞100～500 ±4±2 3数显千分尺0～100 ±3±1 3 ＞100～200 ±2±1 4 ＞200～500 ±1±1 53.校准方法项目校准方法说明图测定点千分尺清洁用酒精及无尘布将千分尺的各测定部位及本尺进行清洁。
外观①千分尺及其校准用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁、严重划伤或其他缺陷。
②标尺刻印应清晰、均匀，数显千分尺的数字显示应清晰、完整。
各部分相互作动①微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。
②各工作按钮应灵活可靠，调零和锁紧装置的作用应切实有效。
外径千分尺①测定面的清洁取一张干净的打印纸置于测量面，拧动测量旋扭使其夹紧，然后缓慢抽出打印纸．②将两测量面缓慢接触，然后转动测量旋扭3～5圈，确认读取数是否归零．在没有归零时则调至归零．③最小测量值大于零的场合则选用校准用量杆（归零块）进行归零。
④再用千分尺进行受检点的测量，千分尺的受检点参照附表1《各种千分尺受检点一览表》,测2次，取最大测量值记录。
最大测量值4. 示值的最大允许误差附表1（各种千分尺受检点一览表）外径千分尺内部校准报告书表单编号：外径千分尺内部校准报告书表单编号：外径千分尺内部校准报告书表单编号外径千分尺内部校准报告书表单编号：。
外径千分尺内部校准规程
外径千分尺内部校准规程外径千分尺内部校准规程一、外径千分尺校准规范1、范围本规范适用于分度值为0.01mm测量范围至300mm外径千分尺的校准、引用文献 2本规范引用下列文献:JJF 1001-1998 《通用计量术语及定义》JJF 1059-1999 《测量不确定度评定与表示》GB/T 1216-2004 《外径千分尺》JJG 34-2008 指示表(指针式，数显式)检定规程JJG 21-2008 《千分尺检定规程》使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3、概述外径千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种通用长度计量器具，主要用于测量各种外尺寸。
4、计量特性4.1 测微螺旋杆的轴向窜动和径向摆动测微螺旋杆的轴向窜动和径向摆动均不大于0.01mm。
4.2 测钻工作面与测微螺旋杆工作面的相对偏移量，该偏移量见表1表1 测钻工作面与测微螺旋杆工作面的相对偏移量mm测量范围偏移量0.05 0,250.08 25,500.13 50,750.15 75,1000.2-0.3 100,2000.3-0.4 200,3004.3测力外径千分尺工作面与球面接触时所作用的力为(5,10)N 4.4刻线宽度及宽度差外径千分尺内部校准规程固定套管上的纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.08,0.20)mm,刻线宽度差应不大于0.03mm。
4.5微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。
4.6微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。
若不相切时，允许压线应不大于0.05mm，离线应不大于0.1mm。
4.7工作面的表面粗糙度外径千分尺和校对用量杆工作面的表面粗糙度应不大于Ra0.05μm。
4.8工作面的平面度工作面的平面度应不大于0.6μm。
外径千分尺校验规程
外径千分尺校验规程1.0目的规范外径千分尺校验的操作，确保外径千分尺的测量精度处于受控状态，检验结果真实、可靠，以确保产品品质。
2.0范围本规程适用于分度值为0.01mm,测量上限至100mm外径千分尺；测量上限至25mm 的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001mm，测量上限至50mm的数显外径千分尺的内部校验。
3.0校验设备外校合格的标准量块。
4.0环境条件室内温度和被检千分尺在室内平衡温度时间，应符合表1的规定。
室内湿度不大于70%RH。
表1 室内平衡温度时间千分尺的测量范围室内温度对20℃的允许偏差（℃）平衡温度时间（h) 千分尺校对用的量杆0-100mm ±5 ±3 25.0通用技术要求与校验方法5.1外观要求5.1.1千分尺及其校对用的量杆不应碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。
5.1.2千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。
千分尺应具有测力装置，隔热装置和锁紧装置。
校对量杆应用隔热装置。
5.1.3千分尺应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。
后续校准和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。
5.2各部分的相互作用要求5.2.1微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。
5.2.2可调或可换测砧的调整或拆卸应顺畅，作用要可靠，调零和锁紧装置的作用应切实有效。
5.2.3数显外径千分尺，各工作按钮应灵活可靠。
5.3计量性能要求与校准方法5.3.1示值误差5.3.1.1外径千分尺示值的最大允许误差不应超出表2的规定，数显外径千分尺示值的最大允许误差不应超出表3的规定。
表2 外径千分尺示值的最大允许误差及两端面的平行度测量范围（mm）最大允许误差/μm 量测量面的平行度/μm0~25，25~50 ±4 250~75，75~100 ±4 3表3 数显外径千分尺示值的最大允许误差及两端面的平行度测量范围（mm）最大允许误差/μm 量测量面的平行度/μm0~25，25~50 ±2 1.550~75，75~100 ±3 2.05.3.1.2外径、壁厚、板厚千分尺示值误差用5等或3级专用量块校准，数显千分尺用4等或2级专用量块校准。
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一、外径千分尺校准规范
1、范围
本规范适用于分度值为0.01mm测量范围至300mm外径千分尺的校准
2、引用文献
本规范引用下列文献：
JJF 1001-1998 《通用计量术语及定义》
JJF 1059-1999 《测量不确定度评定与表示》
GB/T 1216-2004 《外径千分尺》
JJG 34-2008 指示表（指针式，数显式）检定规程
JJG 21-2008 《千分尺检定规程》
使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3、概述
外径千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种通用长度计量器具，主要用于测量各种外尺寸。
4、计量特性
4.1测微螺旋杆的轴向窜动和径向摆动
测微螺旋杆的轴向窜动和径向摆动均不大于0.01mm。
4.2 测钻工作面与测微螺旋杆工作面的相对偏移量，该偏移量见表1
表1 测钻工作面与测微螺旋杆工作面的相对偏移量mm
测量范围偏移量
0～25 0.05
25～50 0.08
50～75 0.13
75～100 0.15
100～200 0.2-0.3
200～300 0.3-0.4
4.3测力
外径千分尺工作面与球面接触时所作用的力为（5～10）N
4.4刻线宽度及宽度差
固定套管上的纵刻线和微分筒上的刻线宽度为（0.08～0.20）mm,刻线宽度差应不大于0.03mm。
4.5微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。
4.6微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置
当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。
若不相切时，允许压线应不大于0.05mm，离线应不大于0.1mm。
4.7工作面的表面粗糙度
外径千分尺和校对用量杆工作面的表面粗糙度应不大于Ra0.05μm。
4.8工作面的平面度
工作面的平面度应不大于0.6μm。
4.9两工作面的平行度
两工作面的平行度应在表2规定范围内。
表2外径千分尺两工作面的平行度
测量范围/mm 平行度/μm
0～25 25～50 50～75 75～100 100～200 200～300
2 2
3
4
5 6～7
4.10外径千分尺的示值误差，应在表3的规定范围内
表3外径千分尺的示值误差
测量范围/mm 平行度/μm
0～100 100～150 150～200 200～300 ±4～±5
±6
±7
±8～±9
4.11校对用的量杆
校对用的量杆尺寸偏差和变动量在表4规定的范围内。
表4校对用的量杆尺寸偏差和两工作面的平行度
标杆尺寸/mm 尺寸偏差/μm
变动量/μm
25 50 75 100～125 125～175 200～225 250～300
±2 ±2 ±3 ±4 ±4 ±5 ±6
1 1 1.5
2 2.5 3.5 3.5
5、校准条件 5.1环境条件
校准外径千分尺的室内温度在表5的规定范围内，在室内平衡温度的时间不少于表5的要求，室内湿度不大于70%RH
表5校准外径千分尺的室内温度和室内平衡温度时间
5.2校准用标准器及相应的设备
校准用标准器及相应设备的计量性能见表6
表6校准用标准器及相应设备的计量性能
6、 校准项目和校准方法
测量范围/mm 室内温度对20℃的允许偏差/℃ 平衡温度的时间/h
外径千分尺 校对用的量杆
～100 ±5 ±3 2
>100～>300
±4 ±2
3
名称
计量特性
杠杆千分表 平板 指示表 测力仪
读数显微镜或工具显微镜
塞尺
表面粗糙度比较样块
平面平晶 刀口尺 平行平晶 量块 测长机
分度值为0.002mm （1级）
3级
分度值0.01mm （1级） 分度值为0.1N （2.5级）
准确度≤10μm
2级
误差+12%～-17%
2级 1级 5等
±（0.5+L/100）μm
首先检查外观，确定没有影响计量特性因素后再进行校准。
6.1 测微螺杆的轴向窜动和径向窜动
采用手感法校准。
当有异议时，采取杠杆指示表与测微螺杆测量面接触。
沿测微螺杆轴向方向分别往返加力（3-5）N，杠杆千分表示值的变化量，即为轴向窜动量。
径向摆动的校准，将测微螺杆伸出距尺架内端10mm，用杠杆指示表接触测微螺杆径向顶部，分贝沿杠杆指示表测力方向和反向方向加力（2-3）N（要求在相互垂直的两方向测量）杠杆指示表示值的最大变化量，即为径向摆动量。
6.2 测砧与测微螺杆工作面相对偏移量
在平板上用指示表校准。
将外径千分尺平放在平板上的3个可调支架上，在测微螺杆示值处于测量下限时，调整支撑使其测微螺杆轴线与平板工作面平行，然后用指示表测出测砧与测微螺杆在同一方位上至平板间的距离差△x，再用可调V形支撑把外径千分尺尺架转动90°后竖立固定于平板上，按上述方法测出△y，测砧工作面与测微螺杆工作面相对偏移量△，按下列求的：△= △x²+△y²。
6.3 测力
用量仪测力仪的球工作面与外径千分尺工作面相接触后，进行校准。
6.4 刻线宽度及宽度差
用读数显微镜或工具显微镜校准。
微分筒和固定套管的刻线应至少任意各抽查3条进行测量。
6.5 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
用0.4的塞尺至于固定套管刻线面上用比较法校准，微分筒锥面的端面棱边上边缘硬不高塞尺表面。
测量应在微分筒任意一周内不少于3个位置，也可用读数显微镜或工具显微镜校准。
6.6 微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置
首先将外径千分尺测量下限调整正确，然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时读取微分筒的零刻度线与固定套管纵刻度线的偏移量即为离、压线数值
6.7 工作面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块校准。
6.8工作面的平面度
用2级平面平晶以技术光波干涉法校准。
使用中核修理后的外径千分尺也可以用1级刀口尺以光隙法校准。
工作面直径为6.5mm的，距离边缘0.2mm范围内不计；工作面直径为8mm的距边缘0.5mm范围内不计。
6.9两工作面的平行度
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度用平行平晶校准，也可用两块校准，量块精度不低于5等量块。
6.10外径千分尺的示值误差
外径千分尺示值误差校准用5等量块或相应等级的专用量块校准，受检点应均匀分布于测量范围的5点上，也可根据对测量不确定度的要求，在适当的环境条件下，采用不同等级的量块进行校准。
其分布点为：L=A+B
式中： A –测量下限mm；
B –测微头示值误差的被测点尺寸mm。
示值误差的校准应在外径千分尺尺身处于水平位置状态下进行。
6.11校对用的量杆
校对用的量杆的尺寸及变动量在光学计或测长机上采用相应等级的量块以比较法进行校准。
7、校准结果表达
经校准的外径千分尺发给校准证书。
8、复核时间间隔
可根据被校外径千分尺的使用情况，复核时间间隔由用户自行决定。