半导体功率器件的散热计算(精)

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半导体功率器件的散热计算(精)

半导体功率器件的散热计算(精)

半导体功率器件的散热计算晨怡热管2006-12-31 0:58:06【摘要】本文通过对半导体功率器件发热及传热机理的讨论,导出了半导体功率器件的散热计算方法。

【关键词】半导体功率器件功耗发热热阻散热器强制冷却一、半导体功率器件的类型和功耗特点一般地说,半导体功率器件是指耗散功率在1瓦或以上的半导体器件。

按照半导体功率器件的运用方式,可分为半导体功率放大器件和半导体功率开关器件。

1、半导体功率放大器件半导体功率放大器又因其放大电路的类型分为甲类放大器、乙类推挽放大器、甲乙类推挽放大器和丙类放大器。

甲类放大器的理论效率只有50%,实际运用时则只有30%左右;乙类推挽放大器的理论效率也只有78.5%,实际运用时则只有60%左右;甲乙类推挽放大器和丙类放大器的效率介乎甲类放大器和乙类推挽放大器之间。

也就是说,半导体功率放大器件从电源中取用的功率只有一部分作为有用功率输送到负载上去,其余的功率则消耗在半导体功率放大器件上,半导体功率放大器在工作时消耗在半导体功率放大器件上的功率称为半导体功率放大器件的功耗。

半导体功率放大器件的功耗为其集电极—发射极之间的电压降乘以集电极电流:P D=U ce·I c(式1—1)式中P D为半导体功率放大器件的功耗(单位W)。

U ce为半导体功率放大器件集电极—发射极之间的电压降(单位V)。

I c为半导体功率放大器件的集电极电流(单位A)。

线性调整型直流稳压电源中的调整管是工作在放大状态的半导体功率放大器件,所以其功耗的计算和半导体功率放大器件的功耗计算是相似的。

例如一个集成三端稳压器,其功耗就是:输入端—输出端电压差乘以输出电流。

2、半导体功率开关器件半导体功率开关器件例如晶体闸流管、开关三极管等。

它们的工作状态只有两个:关断(截止)或导通(饱和)。

理想的开关器件在关断(截止)时,其两端的电压较高,但电流为零,所以功耗为零;导通(饱和)时流过它的电流较大,但其两端的电压降为零,所以功耗也为零。

功率器件热设计及散热计算

功率器件热设计及散热计算

功率器件热设计及散热计算2007-03-29 00:18功率器件热设计及散热计算摘要:本文介绍了功率器件的热性能参数,并根据实际工作经验,阐述了功率器件的热设计方法和散热器的合理选择。

关键词:热设计;功率器件;散热计算;散热器选择引言当前,电子设备的主要失效形式就是热失效。

据统计,电子设备的失效有55%是温度超过规定值引起的,随着温度的增加,电子设备的失效率呈指数增长。

所以,功率器件热设计是电子设备结构设计中不可忽略的一个环节,直接决定了产品的成功与否,良好的热设计是保证设备运行稳定可靠的基础。

功率器件热性能的主要参数功率器件受到的热应力可来自器件内部,也可来自器件外部。

若器件的散热能力有限,则功率的耗散就会造成器件内部芯片有源区温度上升及结温升高,使得器件可靠性降低,无法安全工作。

表征功率器件热能力的参数主要有结温和热阻。

器件的有源区可以是结型器件(如晶体管)的PN结区、场效应器件的沟道区,也可以是集成电路的扩散电阻或薄膜电阻等。

当结温Tj高于周围环境温度Ta时,热量通过温差形成扩散热流,由芯片通过管壳向外散发,散发出的热量随着温差(Tj-Ta)的增大而增大。

为了保证器件能够长期正常工作,必须规定一个最高允许结温 Tj max。

Tj max的大小是根据器件的芯片材料、封装材料和可靠性要求确定的。

功率器件的散热能力通常用热阻表征,记为Rt,热阻越大,则散热能力越差。

热阻又分为内热阻和外热阻:内热阻是器件自身固有的热阻,与管芯、外壳材料的导热率、厚度和截面积以及加工工艺等有关;外热阻则与管壳封装的形式有关。

一般来说,管壳面积越大,则外热阻越小。

金属管壳的外热阻明显低于塑封管壳的外热阻。

当功率器件的功率耗散达到一定程度时,器件的结温升高,系统的可靠性降低,为了提高可靠性,应进行功率器件的热设计。

功率器件热设计功率器件热设计主要是防止器件出现过热或温度交变引起的热失效,可分为器件内部芯片的热设计、封装的热设计和管壳的热设计以及功率器件实际使用中的热设计。

MOSFET损耗计算

MOSFET损耗计算

MOSFET损耗计算MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是一种常用的功率开关器件,广泛应用于电力电子领域。

在使用MOSFET进行功率开关时,会产生一定的损耗,包括导通损耗和关断损耗。

正确计算MOSFET的损耗对于设计和选择合适的散热系统非常重要,下面将详细介绍MOSFET的损耗计算方法。

1.导通损耗计算:导通损耗是指MOSFET在导通状态下产生的功耗。

导通损耗可以通过以下公式计算:P_cond = I^2 * Rds(on)其中,P_cond为导通损耗,I为MOSFET的导通电流,Rds(on)为MOSFET的导通电阻。

导通损耗主要由两部分组成:静态导通损耗和动态导通损耗。

静态导通损耗是指MOSFET在导通状态下的稳态功耗,可以通过上述公式计算得到。

动态导通损耗是指由于MOSFET的导通电阻在开关过程中的变化引起的功耗,通常可以通过MOSFET的参数手册或者开关特性曲线来得到。

2.关断损耗计算:关断损耗是指MOSFET在关断状态下产生的功耗。

关断损耗由MOSFET 的关断电流和关断电压引起,可以通过以下公式计算:P_sw = Vds * Id * t_sw其中,P_sw为关断损耗,Vds为MOSFET的关断电压,Id为MOSFET 的关断电流,t_sw为关断时间。

关断损耗由两部分组成:静态关断损耗和动态关断损耗。

静态关断损耗是指MOSFET在关断状态下的稳态功耗,可以通过上述公式计算得到。

动态关断损耗是指由于开关过程中MOSFET的关断电流和关断时间的变化引起的功耗,通常可以通过MOSFET的参数手册或者开关特性曲线来得到。

3.总损耗计算:总损耗是指MOSFET在导通和关断状态下产生的功耗之和。

总损耗可以通过以下公式计算:P_total = P_cond + P_sw4.散热设计:4.1确定MOSFET的最大工作温度,一般来说,MOSFET的最大工作温度应该低于其额定温度。

4.2 计算MOSFET的热阻(Rth):Rth = (Tj - Ta) / P_total其中,Tj为MOSFET的结温,Ta为环境温度,P_total为MOSFET的总损耗。

MOSFET功率开关器件的散热计算

MOSFET功率开关器件的散热计算

MOSFET功率开关器件的散热计算MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是一种常用的功率开关器件,用于调节和控制电子电路中的功率输出。

在工作过程中,MOSFET 会产生一定的功耗,这会导致器件升温,为了保证器件的正常工作,需要进行散热计算。

散热计算的目的是确定器件的热阻和最大工作温度,以便选择适当的散热方式,以及确定散热器的大小和材料。

首先,我们需要了解MOSFET的功耗,计算器件的热阻和最大工作温度。

1.功耗计算:-静态功耗是指器件处于稳态工作时的功耗,主要是由电流引起的导通压降和漏极电流引起的静态功耗。

-动态功耗是指在开关过程中,由于MOSFET开关速度造成的功耗。

静态功耗可以通过电流和导通压降计算得出,动态功耗则需要根据MOSFET的开关速度和应用场景来进行估算。

一般来说,静态功耗较小,可以忽略不计,因此我们主要关注动态功耗。

2.热阻计算:热阻由两个组成部分构成:导热阻(junction-to-case thermal resistance)和散热阻(case-to-ambient thermal resistance)。

-导热阻是指热量从MOSFET结到器件封装外壳的传导阻力。

-散热阻是指热量从器件封装外壳传递到周围环境的散热阻力。

导热阻可以通过器件手册或厂商提供的数据手册来获得,散热阻可以通过热量传导理论和计算公式来估算。

3.最大工作温度:最大工作温度可以通过器件手册或厂商提供的数据手册来获得。

有了以上的基础知识,我们可以按照以下步骤进行MOSFET的散热计算:1.根据应用场景和数据手册提供的参数,计算出MOSFET的功耗。

2.根据功耗计算出MOSFET的热阻(包括导热阻和散热阻)。

3.确定最大工作温度,通常根据数据手册提供的温度参数来确定。

4.根据最大工作温度和热阻,计算出器件离开环境的温度差。

5.根据热耗的温度差和功耗,计算出散热器的尺寸和材料。

需要注意的是,散热计算是一个非常复杂的过程,涉及到多方面的因素,包括器件的封装类型、散热器的设计和材料选择等。

半导体功率器件的散热设计

半导体功率器件的散热设计

半导体功率器件的散热设计摘要:本文主要阐述功率器件的散热原理及加装散热器的必要性,介绍如何正确选用散热器。

关键词:结温;散热器;散热;热阻Abstrct: This papermainly expounds the necessityandprinciple of powerdevices withheatradiator,introduceshow to choose the rightradiator.Keyword: junction temperature radiator coolingthermalresistance引言半导体功率器件是多数电子设备中的关键器件,其工作状态的好坏直接影响整机可靠性。

相关实验已经证明,器件工作温度直接影响其自身的可靠性,但是在功率转换电路中,器件自身会消耗一部分能量,这部分能量会转换为热量,使器件的管芯发热、结温升高,当结温超过器件自身规定的允许值时,电流会急剧增大而使晶体管烧毁。

要保证结温不超过允许值,就必须将产生的热量有效的散发出去。

要解决散热问题可以从如下两方面入手,一是通过优化设计方式来减少发热量,如采用通态压降低的器件;另一方面是利用传导、对流、辐射的传热原理,将热量快速释放到周围环境中去,以减少热积累,使器件工作温度降低,如采用合适的散热器。

本文主要针对上述第二个方面进行探讨,分别从热设计相关概念、散热过程、正确选用散热器方法以上三个方面进行分析,以实例介绍方法的有效性。

散热过程是一个非常复杂的过程,影响因素较多,本文仅针对关键参数进行介绍,所有计算均为理想计算,与实际情况会存在一定的偏差。

一、热设计相关参数1.耗散功率在电路中功率器件自身消耗的功率。

2.热阻热量在热流路径上遇到的阻力,反映介质或介质间的传热能力,即1W的热量所引起的温升大小,单位为℃/W或K/W。

3.元件最高结温元件允许的最高工作温度极限,可参考本文提供的数据手册。

4.散热器用于加速发热体散热,防止元件热积累的装置,一般分为型材散热器和叉指散热器。

功率半导体元件的损耗计算分析方法

功率半导体元件的损耗计算分析方法

功率半导体元件的损耗计算分析方法导通损耗:导通损耗是在功率器件导通状态下消耗的功率,主要由导通电阻和开关元件的导通电压引起。

导通电流越大、导通压降越大,导通损耗也就越大。

关断损耗:关断损耗是在开关管和二极管关断时消耗的功率,主要由开关过程中的存储电荷和关断电压引起。

关断电流越大、关断压降越大,关断损耗也就越大。

2.导通损耗计算方法导通损耗的计算方法主要有两种:基于静态条件的方法和基于动态条件的方法。

基于静态条件的方法:即根据功率半导体元件的静态参数来计算导通损耗。

主要考虑的静态参数有导通电阻和导通电流。

导通损耗可以通过下式计算得到:Pcon = Rcon * Icon^2其中,Pcon为导通损耗,Rcon为导通电阻,Icon为导通电流。

基于动态条件的方法:即根据功率半导体元件的开关特性来计算导通损耗。

主要考虑的动态参数有开关时间和导通电压。

导通损耗可以通过下式计算得到:Pcon = Ucon * Icon * tsw其中,Pcon为导通损耗,Ucon为导通电压,Icon为导通电流,tsw 为开关时间。

3.关断损耗计算方法关断损耗的计算方法主要有两种:基于静态条件的方法和基于动态条件的方法。

基于静态条件的方法:即根据功率半导体元件的静态参数来计算关断损耗。

主要考虑的静态参数有关断电流和关断电压。

关断损耗可以通过下式计算得到:Psw = Isw * Vsw其中,Psw为关断损耗,Isw为关断电流,Vsw为关断电压。

基于动态条件的方法:即根据功率半导体元件的开关特性来计算关断损耗。

主要考虑的动态参数有开关时间和存储电荷。

关断损耗可以通过下式计算得到:Psw = Qrr * Urr * fsw其中,Psw为关断损耗,Qrr为存储电荷,Urr为反向恢复电压,fsw 为开关频率。

4.总损耗计算方法总损耗为导通损耗和关断损耗之和。

根据上述导通损耗和关断损耗的计算方法,可以得到总损耗的计算方法:Ptotal = Pcon + Psw其中,Ptotal为总损耗,Pcon为导通损耗,Psw为关断损耗。

半导体器件的热阻和散热器设计资料

半导体器件的热阻和散热器设计资料

半导体器件的热阻和散热器设计一、半导体器件的热阻:功率半导体器件在工作时要产生热量,器件要正常工作就需要把这些热量散发掉,使器件的工作温度低于其最高结温Tjm 。

器件的散热能力越强,其实际结温就越低,能承受的功耗越大,输出功率也越大。

器件的散热能力取决于热阻,热阻用来表征材料的热传导性能,以单位功耗下材料的温升来表示,单位是℃/W 。

材料的散热能力越强则热阻越小,温升高则表示散热能力差,热阻大。

二、半导体器件热阻的分布:Rt1表示从结到外壳的热阻 Rt2表示外壳到器件表面的热阻Rta 表示从结到器件表面的热阻,即Rta=Rt1+Rt2 Rtd 为散热板到周围空气的热阻设未加散热板时的总热阻为Rt ,加散热板后的总热阻为Rts ,则有:Rts=Rta+Rtd<<Rt设半导体器件的最高允许结温为Tjm ,最高环境结温为Tam ,加散热板后器件的实际功耗为Pd :tdta amjm ts d R R T T R T P −−=Δ=令Pdd 为设计功耗,Pdm 为最大允许功耗,则:Pd ≤Pdd ≤Pdm 可以得到Rtd:ta ddamjm tdR P T T R −−=在确定散热板面积时要用到Rtd 值。

三、常见功率器件封装的热学参数:国外封装 TO-220 TO-3 TO-66 TO-39国内封装S-7 F-2 F-1 B-4 结到外壳的热阻Rt1(℃/W ) 3 3 3 11 最大允许功耗Pdm (W )10 20 10 0.7 不加散热片时结到周围空气的总热阻Rt (℃/W ) 62.5 40 50 210 直接与散热板接触 7 6 6.5 26 涂导热硅脂1 1 1 加散热片后结到器件表面的热阻Rta (℃/W ) 加0.05mm 厚的云母绝缘衬垫1.8 1.8 1.8 常见器件型号780079007800 790078M00 79M0079L00 79L00四、自然冷却下散热板热阻与表面积的关系:图中给出铝板和铁板的曲线,板厚均为2mm ,散热板垂直放置,自然冷却,器件装在散热板中心位置。

半导体功率计算

半导体功率计算

半导体功率器件的散热计算晨怡热管2006-12-31 0:58:06【摘要】本文通过对半导体功率器件发热及传热机理的讨论,导出了半导体功率器件的散热计算方法。

【关键词】半导体功率器件功耗发热热阻散热器强制冷却一、半导体功率器件的类型和功耗特点一般地说,半导体功率器件是指耗散功率在1瓦或以上的半导体器件。

按照半导体功率器件的运用方式,可分为半导体功率放大器件和半导体功率开关器件。

1、半导体功率放大器件半导体功率放大器又因其放大电路的类型分为甲类放大器、乙类推挽放大器、甲乙类推挽放大器和丙类放大器。

甲类放大器的理论效率只有50%,实际运用时则只有30%左右;乙类推挽放大器的理论效率也只有78.5%,实际运用时则只有60%左右;甲乙类推挽放大器和丙类放大器的效率介乎甲类放大器和乙类推挽放大器之间。

也就是说,半导体功率放大器件从电源中取用的功率只有一部分作为有用功率输送到负载上去,其余的功率则消耗在半导体功率放大器件上,半导体功率放大器在工作时消耗在半导体功率放大器件上的功率称为半导体功率放大器件的功耗。

半导体功率放大器件的功耗为其集电极—发射极之间的电压降乘以集电极电流:P D=U ce·I c(式1—1)式中P D为半导体功率放大器件的功耗(单位W)。

U ce为半导体功率放大器件集电极—发射极之间的电压降(单位V)。

I c为半导体功率放大器件的集电极电流(单位A)。

线性调整型直流稳压电源中的调整管是工作在放大状态的半导体功率放大器件,所以其功耗的计算和半导体功率放大器件的功耗计算是相似的。

例如一个集成三端稳压器,其功耗就是:输入端—输出端电压差乘以输出电流。

2、半导体功率开关器件半导体功率开关器件例如晶体闸流管、开关三极管等。

它们的工作状态只有两个:关断(截止)或导通(饱和)。

理想的开关器件在关断(截止)时,其两端的电压较高,但电流为零,所以功耗为零;导通(饱和)时流过它的电流较大,但其两端的电压降为零,所以功耗也为零。

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半导体功率器件的散热计算晨怡热管2006-12-31 0:58:06【摘要】本文通过对半导体功率器件发热及传热机理的讨论,导出了半导体功率器件的散热计算方法。

【关键词】半导体功率器件功耗发热热阻散热器强制冷却一、半导体功率器件的类型和功耗特点一般地说,半导体功率器件是指耗散功率在1瓦或以上的半导体器件。

按照半导体功率器件的运用方式,可分为半导体功率放大器件和半导体功率开关器件。

1、半导体功率放大器件半导体功率放大器又因其放大电路的类型分为甲类放大器、乙类推挽放大器、甲乙类推挽放大器和丙类放大器。

甲类放大器的理论效率只有50%,实际运用时则只有30%左右;乙类推挽放大器的理论效率也只有78.5%,实际运用时则只有60%左右;甲乙类推挽放大器和丙类放大器的效率介乎甲类放大器和乙类推挽放大器之间。

也就是说,半导体功率放大器件从电源中取用的功率只有一部分作为有用功率输送到负载上去,其余的功率则消耗在半导体功率放大器件上,半导体功率放大器在工作时消耗在半导体功率放大器件上的功率称为半导体功率放大器件的功耗。

半导体功率放大器件的功耗为其集电极—发射极之间的电压降乘以集电极电流:P D=U ce·I c(式1—1)式中P D为半导体功率放大器件的功耗(单位W)。

U ce为半导体功率放大器件集电极—发射极之间的电压降(单位V)。

I c为半导体功率放大器件的集电极电流(单位A)。

线性调整型直流稳压电源中的调整管是工作在放大状态的半导体功率放大器件,所以其功耗的计算和半导体功率放大器件的功耗计算是相似的。

例如一个集成三端稳压器,其功耗就是:输入端—输出端电压差乘以输出电流。

2、半导体功率开关器件半导体功率开关器件例如晶体闸流管、开关三极管等。

它们的工作状态只有两个:关断(截止)或导通(饱和)。

理想的开关器件在关断(截止)时,其两端的电压较高,但电流为零,所以功耗为零;导通(饱和)时流过它的电流较大,但其两端的电压降为零,所以功耗也为零。

也就是说,理想的开关器件的理论效率为100%(无损耗)。

但实际的半导体功率开关器件在关断(截止)时,其两端的电压最高,但电流不为零,总有一定的反向穿透电流I O,则其关断(截止)时的功耗为:P OFF= U ce·I O(式1—2)式中:P OFF为半导体功率开关器件在关断时的功耗(单位W)。

U ce为半导体功率开关器件集电极—发射极之间或阳极—阴极之间的的电压(单位V)。

I O为半导体功率开关器件的反向穿透电流(单位A)。

由于目前常用的半导体功率开关器件大多数是使用硅材料制造的,其反向穿透电流一般为微安级,所以半导体功率开关器件在关断时的功耗实际上是很小的,一般为毫瓦级。

实际的半导体功率开关器件在导通(饱和)时,其两端的电压很低,称为导通压降(饱和压降),对于常用的硅器件大约为0.3伏,但由于导通电流一般很大,约为几安到几十安,甚至几百安,所以其导通(饱和)时的功耗一般为几瓦到几十瓦。

实际的半导体功率开关器件在导通(饱和)时,其功耗为:P on= U S·I S(式1—3)式中:P on为半导体功率开关器件在导通(饱和)时的功耗(单位W)。

U S为半导体功率开关器件导通压降或饱和压降(单位V)。

I S为半导体功率开关器件的导通电流或饱和电流(单位A)。

另外,实际的半导体功率开关器件在导通(饱和)和关断(截止)状态之间转换时必然要经过一个中间过程,这个过程的电压和电流均较大,如果开关器件的开关特性良好,则这个过程时间很短,功耗较小;如果开关器件的开关特性较差,则这个过程时间较长,功耗较大。

以上三个过程的功耗之和,就是实际的半导体功率开关器件在一个工作周期内的功耗。

综上所述,无论是半导体功率放大器件还是半导体功率开关器件在工作时都不可避免地产生功率损耗,功耗的能量将以热量的形式散发出来,使半导体器件的温度升高。

二、功耗、热阻和温升如前所述,半导体功率器件的管耗将会使半导体器件的温度升高。

当半导体器件的温度升高到一定值时,其内部结构,即PN结将破坏而使器件失效。

例如,对于锗材料器件,结温度达到约90℃时PN结将会破坏,而对于硅材料器件,这个温度大约是200℃。

为了使半导体功率器件能正常工作,锗材料器件的极限工作温度一般规定为80℃,而硅材料器件的极限工作温度一般规定为150℃。

如果能把半导体功率器件工作时发出的热量及时散发到周围环境中去,则其工作温度就可能维持在极限工作温度以下,器件就可以处于安全的温度环境之中。

对于不同散热条件的器件,消耗同样功率时的温升是不同的。

我们把每单位功耗下器件系统的温升定义为热阻,一般用符号Rθ表示,其单位是W/℃。

器件系统的热阻等于其管芯的热量传递到周围环境的传热途径上所有环节的热阻的总和,即:R jAθ=R jCθ+R CSθ+R SAθ(式2—1)式中:R jAθ—器件外壳的总热阻R jCθ—管芯到外壳的热阻R CSθ—外壳到器件表面的热阻R SAθ—器件表面到周围环境的热阻图2 —1为半导体功率器件安装的示意图图2 — 1 半导体功率器件安装示意图图2 — 2为半导体功率器件的传热途径和热阻示意图图2 — 2 半导体功率器件的传热途径和热阻示意图在热传导过程中,功耗温升与热阻之间有以下关系:P D = ∑∆θR T(式2—2)式中:P D — 半导体器件的功耗,单位:W ΔT — 芯片与环境的温度差,单位:℃∑ Rθ—在ΔT的温差下,传热系统各环节热阻的总和,单位:℃/W下面把(式2—1)中的各项热阻作如下说明:1、R jAθ—器件外壳的总热阻该项热阻主要由整个器件(包括管芯、底板、管壳)的材料、结构所决定。

表2 —1给出了几种不同封装的半导体功率器件的R jAθ值。

θjA2、R jCθ—管芯到外壳的热阻该项热阻主要与器件的底座的材料和尺寸有关,铜底座和厚板结构者热阻较小。

表2 —2给出了几种不同封装的半导体功率器件的R jCθ值。

θjC3、R CSθ—外壳到器件表面的热阻该项热阻主要由器件外壳的材质和厚度和封装方式决定。

铜质厚板的器件热阻最小,铁质薄板的次之,塑料封装的热阻最大。

该项热阻也和是否装有散热板以及管壳与散热板之间的导热介质有关。

表2 —3给出了几种不同封装和不同导热介质的半导体功率器件的R CSθ值。

θCS4、散热器的热阻R Tf该项热阻主要由器件的散热系统的材料和结构有关。

铜质的散热器热阻最小,铝质散热器热阻也较小,铁质散热器的热阻较大,而不外加散热器时热阻最大;采用自然空气冷却时的热阻较大,采用强制风冷时的热阻较小。

散热器的的表面积,即散热器与空气直接接触的面积是决定散热器热阻的主要参数。

此外,散热器的安装位置对热阻也有影响。

例如水平放置的平板散热器的热阻比垂直放置的要大。

铝质平板散热器的热阻可参考表2 — 4散热器表面积(cm2)100 200 300 400 500 600以上热阻R Tf4.5 —6 ℃/W3.5 —4.5 ℃/W3 —3.5℃/W2.5 —3 ℃/W2 —2.5 ℃/W1.5 —2.5 ℃/W 铝质平板散热器的热阻也可参考图2 —3选取图2 — 3 铝质平板散热器的热阻三、计算实例现有一只S —7封装的硅功率半导体器件,查器件手册得知其极限运用温度T jM=150℃,现根据其工作条件决定工作环境温度T A=70℃。

1、求它在不带散热器时的极限功耗。

2、若它在实际工作时的功耗为750mw,极限运用温度T jM为125℃,求它在不带散热器时的极限环境温度。

3、若要求它的实际功耗为5.5W,允许的最高器件工作温度为100℃,允许最高工作环境温度为40℃。

问该器件正常工作时是否需要加装散热器?如果要加装平板散热器,又要求散热器垂直放置,求所需的散热器面积。

解:1、查表表2 —1,得S —7封装的器件的热阻R jC =63 ℃/W代入式2 —2:P D = ∑∆θR T =jAAjM R T T θ-=6370150-=1.27(W) 也就是说,S — 7封装的硅功率半导体器件不带散热器在极限运用温度为T jM =150℃,工作环境温度T A =70℃时的允许功耗不得超过1.27W 。

2、若它在实际工作时的功耗为750mw ,极限运用温度T jM 仍为150℃,据式2 — 2:P D = ∑∆θR T=jAAjM R T T θ-则: T A =T jM — R jA θ·P D =125 — 63×0.75 =77.75℃3、若要求它的实际功耗为5.5W ,这已经超出了它在不带散热器时的极限功耗,所以器件必须加装散热器。

加装了散热器之后,总热阻为管芯到外壳的热阻R jC θ、外壳到器件表面,即到散热器的热阻R CS θ及散热器热阻R Tf 之和,则式2 — 2应改写为:P D =Tf CS jC Aj R R R T T ++-θθ由表2 — 2、表2 — 3、分别查得S —7封装的器件的R jC θ=4 ℃/W 、 R CS θ=3 ℃/W ,把P D =5.5W 、R jC θ=4 ℃/W 、R CS θ=3 ℃/W 代入上式得: 散热器热阻R Tf 应为:R Tf =DAj P T T -— R jC θ— R CS θ=5.540100-— 4 — 3=3.9℃/W查表2 — 4或图2 — 3均可得铝平板散热器的面积S=200cm 2(厚1.5mm )。

四、工艺问题在安装散热器时还应注意以下几点工艺问题::1、散热器与器件的接触面应平整,在整个接触面内测量,平面度误差不大于0.1mm 。

2、在器件与散热器接触面之间最好涂一层硅脂或凡士林,以增加导热性能,减少热阻。

3、一般用M3或M4的螺拴将器件紧固在散热器上,相应的紧固扭矩大约是 3 — 4N ·m 。

扭矩太小会增加热阻,扭矩太大则会使螺拴 — 螺母系统产生非弹性变形,反而减小紧固力,甚至使螺拴 — 螺母系统滑扣而失效。

4、散热器经表面电氧化处理后表面呈黑色,可提高散热效果。

5、大部分的功率半导体器件的金属外壳同时作为一个电极使用,当器件的金属外壳对应的电极要求对散热器有电绝缘要求时,应使用专用的云母或聚脂绝缘垫片和绝缘垫圈紧固器件,并应在安装后检查确保绝缘良好。

6、如果设备的结构紧凑,空间位置不允许安装足够尺寸的散热器,或器件周围的空间较小,不能保证足够的空气对流,则应考虑使用强制冷却的方法,即在设备内安装冷却风扇。

使用体积较小而面积较大的翅式散热器可得到比平板散热器更好的散热效果。

一种内部充有优良导热液体的热管散热器,散热性能更为优良,已经逐步应用在高挡的音频功率放大器上。

—全文完—二00三年五月参考文献:1、清华大学电子工程系、工业自动化系编:《晶体管电路》。

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