X射线衍射题目

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XRD考试题库及答案

XRD考试题库及答案

XRD考试题库及答案1. 什么是X射线衍射(XRD)?A. 一种用于测量材料硬度的技术B. 一种用于分析材料微观结构的技术C. 一种用于测量材料密度的技术D. 一种用于测量材料导电性的方法答案:B2. XRD技术中,布拉格定律的公式是什么?A. \( n\lambda = 2d\sin\theta \)B. \( n\lambda = d\sin\theta \)C. \( n\lambda = d\cos\theta \)D. \( n\lambda = 2d\cos\theta \)答案:A3. 在XRD分析中,衍射峰的强度与哪些因素有关?A. 晶粒大小B. 晶体的取向C. 样品的厚度D. 所有以上因素答案:D4. 什么是XRD图谱中的2θ角?A. 入射X射线与样品表面的角度B. 衍射X射线与样品表面的角度C. 入射X射线与衍射X射线之间的角度D. 样品旋转的角度答案:C5. XRD图谱中,衍射峰的宽度与哪些因素有关?A. 晶粒大小B. 应力C. 样品的纯度D. 所有以上因素答案:D6. 如何通过XRD图谱确定晶体的晶格类型?A. 通过衍射峰的位置B. 通过衍射峰的强度C. 通过衍射峰的形状D. 通过衍射峰的宽度答案:A7. XRD分析中,如果样品是非晶态的,会观察到什么现象?A. 没有衍射峰B. 出现宽的漫反射峰C. 出现尖锐的衍射峰D. 衍射峰的位置会移动答案:B8. 在XRD分析中,如果样品中存在多种晶体结构,图谱中会如何显示?A. 出现多个尖锐的衍射峰B. 出现多个宽的漫反射峰C. 衍射峰的位置会重叠D. 衍射峰的强度会减弱答案:A9. XRD分析中,样品的制备对分析结果有何影响?A. 样品的表面粗糙度会影响衍射峰的强度B. 样品的厚度会影响衍射峰的强度C. 样品的取向会影响衍射峰的位置D. 所有以上因素都会影响分析结果答案:D10. XRD分析中,如何校准仪器以确保分析结果的准确性?A. 使用已知晶体结构的标准样品进行校准B. 调整仪器的电压和电流C. 更换X射线管D. 清洁仪器的表面答案:A结束语:通过以上题目及答案,可以对XRD技术有一个基本的了解和掌握。

X射线衍射分析习题

X射线衍射分析习题

X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线 (×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1旳长 (√)3、管电压越高则特征X射线波长越短 (×)4、X射线强度总是与管电流成正比 (√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线旳吸收系数愈小 (×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射 (×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度旳叠加 (√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致 (√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关 (√)10、倒易矢量代表对应正空间中旳晶面 (√)11、大直径德拜相机旳衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠旳 (×)13、定性物相分析中旳主要依据是d值和I值 (√)14、定量物相分析可以确定样品中旳元素含量 (×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 (√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 (√)18、丝织构对称轴总是沿着试样旳法线方向 (×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定旳对称性 (√)21、材料中织构不会影响到各晶面旳衍射强度 (×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 (×)23、常规衍射仪X射线穿透金属旳深度通常在微米数量级 (√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 (√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 (×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸 (×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 (√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 (√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 (×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形旳代数叠加 (×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射旳波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线旳总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用旳X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面旳(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位旳测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度旳测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时旳X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪旳主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管旳最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪旳测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化旳器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射旳(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析旳主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用旳扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构旳方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵旳消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面旳多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶旳临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶旳K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形旳关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关旳是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次 Mo 、 Cu 和 Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质旳相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系旳低指数衍射晶面为 (110) 、(200) 和 (211)9、面心立方晶系旳低指数衍射晶面为 (111) 、(200) 和 (220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪旳主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度旳因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪旳主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数旳方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料旳弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。

x射线衍射考试题及答案

x射线衍射考试题及答案

x射线衍射考试题及答案一、单项选择题(每题2分,共20分)1. X射线衍射的发现者是:A. 伦琴B. 贝克勒尔C. 布拉格父子D. 居里夫人答案:C2. 布拉格定律中,n代表:A. 衍射级数B. 晶面指数C. 入射角D. 反射角答案:A3. 下列哪种晶体结构不属于单晶体:A. 立方体B. 多面体C. 长方体D. 球体答案:D4. X射线衍射仪中,用于产生X射线的部件是:A. 样品台B. 探测器C. X射线管D. 滤波器答案:C5. 布拉格方程中,λ代表:A. 晶面间距B. X射线波长C. 衍射角D. 晶格常数答案:B6. X射线衍射中,衍射峰的强度与下列哪个因素无关:A. 晶体的取向B. 晶体的尺寸C. 晶体的纯度D. 样品的温度答案:D7. 布拉格定律的数学表达式为:A. nλ = 2d\sinθB. nλ = 2d\cosθC. nλ = d\sinθD. nλ = d\cosθ答案:A8. X射线衍射中,布拉格角θ与衍射峰的位置关系是:A. 正比关系B. 反比关系C. 无关D. 非线性关系答案:B9. 下列哪种晶体结构不属于多晶体:A. 粉末状晶体B. 纤维状晶体C. 单晶硅D. 多晶硅答案:C10. X射线衍射中,衍射峰的宽度与下列哪个因素有关:A. 晶体的尺寸B. 晶体的纯度C. 晶体的取向D. 样品的温度答案:A二、填空题(每空1分,共20分)1. X射线衍射的基本原理是晶体的______与X射线的______相互作用产生的衍射现象。

答案:晶格结构;波长2. 布拉格定律中,d代表______,λ代表______,θ代表______。

答案:晶面间距;X射线波长;衍射角3. 在X射线衍射中,晶体的取向会影响衍射峰的______,而晶体的尺寸会影响衍射峰的______。

答案:位置;宽度4. X射线衍射仪的主要部件包括X射线管、样品台、______和______。

答案:探测器;控制单元5. 布拉格方程的数学表达式为nλ = 2d\sinθ,其中n代表______,d代表______,λ代表______,θ代表______。

X衍射测试题及答案

X衍射测试题及答案

X衍射测试题及答案一、选择题1. X射线衍射的发现者是:A. 爱因斯坦B. 普朗克C. 劳厄D. 布拉格2. 下列关于X射线衍射的描述,错误的是:A. X射线衍射可用于晶体结构分析B. X射线衍射现象是X射线与物质相互作用的结果C. X射线衍射只发生在晶体上D. X射线衍射可用于非晶体材料的分析3. 布拉格定律的数学表达式是:A. nλ = 2d sinθB. nλ = d sinθC. λ = 2d sinθD. λ = d sinθ二、填空题4. X射线衍射实验中,晶体平面间距为d,入射X射线的波长为λ,衍射角为2θ,当满足______时,会发生衍射现象。

5. 布拉格定律是X射线衍射研究中的一个重要定律,它描述了衍射条件与晶体结构的关系,其表达式为2d sinθ = ______。

三、简答题6. 简述X射线衍射在材料科学中的应用。

7. 解释什么是布拉格定律,并说明其在X射线衍射分析中的重要性。

四、计算题8. 已知某晶体的晶面间距为0.34纳米,入射X射线的波长为1.54埃,试计算衍射角2θ。

五、分析题9. 根据给定的X射线衍射图谱,分析晶体的晶面间距和晶格类型。

六、论述题10. 论述X射线衍射技术在现代科学研究中的重要性及其应用前景。

答案:一、选择题1. C2. D3. C二、填空题4. nλ = 2d sinθ5. nλ三、简答题6. X射线衍射在材料科学中的应用包括但不限于晶体结构分析、材料相变研究、缺陷分析等。

7. 布拉格定律是描述X射线在晶体中发生衍射的条件,其表达式为2d sinθ = nλ,其中n为衍射级数,λ为入射X射线的波长,d为晶体平面间距,θ为衍射角。

这一定律对于确定晶体结构和分析晶体缺陷具有重要意义。

四、计算题8. 根据布拉格定律,2d sinθ = nλ,可得sinθ = (nλ) / (2d)。

将给定的数值代入,得sinθ = (1.54埃) / (2 * 0.34纳米)。

X射线衍射习题

X射线衍射习题

X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线(×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1的长(√)3、管电压越高则特征X射线波长越短(×)4、X射线强度总是与管电流成正比(√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线的吸收系数愈小(×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射(×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度的叠加(√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致(√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关(√)10、倒易矢量代表对应正空间中的晶面(√)11、大直径德拜相机的衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠的(×)13、定性物相分析中的主要依据是d值和I值(√)14、定量物相分析可以确定样品中的元素含量(×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品(√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度(√)18、丝织构对称轴总是沿着试样的法线方向(×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定的对称性(√)21、材料中织构不会影响到各晶面的衍射强度(×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题(×)23、常规衍射仪X射线穿透金属的深度通常在微米数量级(√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量(√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效(×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸(×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动(√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动(√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关(×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形的代数叠加(×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射的波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线的总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用的X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面的(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位的测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度的测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时的X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪的主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管的最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪的测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化的器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射的(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析的主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用的扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构的方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵的消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面的多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶的临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶的K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形的关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关的是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大,(C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大,(C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大,(C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次Mo 、Cu 和Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质的相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系的低指数衍射晶面为(110) 、(200) 和(211)9、面心立方晶系的低指数衍射晶面为(111) 、(200) 和(220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪的主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度的因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪的主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数的方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料的弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。

X射线衍射复习题

X射线衍射复习题

X射线衍射复习题(总3页)--本页仅作为文档封面,使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--连续X射线谱:具有连续波长的X射线,其强度与波长的关系曲线即为连续X 射线谱。

标识X射线谱:当管电压增加到某一临界值以上时,在连续谱的背景上叠加一些强度突增的分立谱线,这些分立谱线称为标识X射线谱。

相干散射:X射线使物质中的电子在其电场的作用下产生强迫振动,每个受迫振动的电子便成为新的电磁波源向空间各个方向辐射与入射X射线频率相同的电磁波,这些新的散射波中间可以发生干涉作用,我们称这种散射为相干散射。

非相干散射:X射线与外层电子(受核束缚小)或自由电子碰撞时,电子获得一部分动能成为反冲电子,碰撞后的光子能力减少并偏离原来的传播方向,由于散射波波长随散射方向改变,与入射X射线不存在固定的位相关系,散射线之间不能发生干涉作用,我们称这种散射为非相干散射。

短波限:连续X射线谱的强度是随波长的变化而连续变化的,每条曲线都有一个强度最大值,并在短波长方向有一个波长极限,称为短波限。

吸收限:对于一种元素其质量吸收系数Um随着波长的变化有若干突变,发生突变的波长称为吸收限。

俄歇效应:物质受入射X射线作用,原子发生K系激发,若该过程中所释放出来的能量用来产生二次电离,使另一个核外电子脱离原子变为二次电子的现象称为俄歇效应。

产生的二次电子的能量具有固定值,这种具有特征能量的电子称为俄歇电子。

质量吸收系数:表示单位重量物质对X射线强度的衰减程度,当物质状态发生改变时,它保持不变。

线吸收系数:表示单位体积物质对X射线强度的衰减程度,与物质的密度成正比。

荧光辐射、光电效应:当一个具有足够能量的光子从原子内部击出一个K层电子时,同样会发生象电子激发原子时类似的辐射过程,即产生标识X射线,这种以光子激发原子所产生的激发和辐射过程称为光电效应,被击出的电子称为光电子,所辐射出的次级标识X射线称为荧光X射线。

倒易矢量的基本性质:倒易矢量r*垂直于正点阵中的HKL晶面。

X射线衍射部分—习题(王利民教授)

X射线衍射部分—习题(王利民教授)

X射线衍射部分—习题(王利民教授)X 射线衍射部分—习题1. X 射线的本质是什么?与可见光有何区别?2. 解释(1)X 射线谱、 X 射线强度、 K 系激发;(2)相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应。

3. 在 X 射线多晶体衍射中,为什么常利用Kα 谱线作辐射源?4. 特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的 K 系特征 X 射线波长?5. 衍射和镜面反射区别?产生衍射的条件是什么?6. 什么是反射级数与干涉指数?7. 厄瓦尔德图解原理是什么?8. 当波长为λ的X 射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的波程差是多少?相邻两个(HKL)反射线的波程差又上多少?9. α-Fe 属立方晶系,点阵参数 a=0.2866nm。

如用CrKαX 射线(λ=0.2291nm)照射,试求(110)、(200)及(211)可发生衍射的掠射角。

10. 结合厄瓦尔德图解,论述衍射斑点与倒易点的关系。

11. 一晶体中晶面间距为2.252×10-10 m 对某单色X 射线的布喇格一级反射的掠射角为20°,求(1)入射 X射线的波长,(2)二级反射的掠射角。

12. 一简单立方晶胞参数分为 0.3165 nm, 使用 CuK a(l=1.54?),衍射线中最高晶面指数(最高衍射指数是指H2+K2+L2有最大值的衍射指数)是能到多少?13. 一面心立方晶体(Al),a=0.405nm,用Cu-K a(l=1.54?)X 射线照射,问晶面(111)能产生几条衍射线(即几级反射)?能否使(440)晶面产生衍射?14. 要使某个晶体的衍射数量增加,你选长波的X射线还是短波的?15. 今有一张用 Cu-K a 辐射(l=1.54?)得到的粉末图样,其中前四个线条,对应的 2q 角度分别为40.658.773.887.8求这一晶胞的(1)晶胞参数,(2)衍射线对应的晶面的结构因数。

射线衍射习题

射线衍射习题

X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线 (×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1的长 (√)3、管电压越高则特征X射线波长越短 (×)4、X射线强度总是与管电流成正比 (√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线的吸收系数愈小 (×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射 (×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度的叠加 (√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致 (√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关 (√)10、倒易矢量代表对应正空间中的晶面 (√)11、大直径德拜相机的衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠的 (×)13、定性物相分析中的主要依据是d值和I值 (√)14、定量物相分析可以确定样品中的元素含量 (×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 (√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 (√)18、丝织构对称轴总是沿着试样的法线方向 (×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定的对称性 (√)21、材料中织构不会影响到各晶面的衍射强度 (×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 (×)23、常规衍射仪X射线穿透金属的深度通常在微米数量级 (√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 (√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 (×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸 (×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 (√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 (√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 (×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形的代数叠加 (×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射的波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线的总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用的X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面的(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位的测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度的测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时的X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪的主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管的最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪的测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化的器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射的(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析的主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用的扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构的方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵的消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面的多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶的临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶的K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形的关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关的是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次 Mo 、 Cu 和 Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质的相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系的低指数衍射晶面为 (110) 、(200) 和 (211)9、面心立方晶系的低指数衍射晶面为 (111) 、(200) 和 (220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪的主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度的因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪的主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数的方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料的弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。

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格方程进行一下变换:
2������ℎ������������ ������������������������
=
������������

2������������������������
������ℎ������������ ������
= ������

������������ℎ������������������������
通过公式2������������������������������ = ������,已知晶面间距������,计算������。将探测器事先位于2������0处固 定,将晶体绕垂直平面的轴转动,改变入射光与样品的夹角,使晶面倒易点位于 反射球上,探测器中测到的衍射光强度随转动角度的变化便得到摇摆曲线:
吸收边产生机理:
原子核内电子是分层(������、������、������等等)定位的,不同层的电子具有不同的能
量级。当射入的������射线随着波长变短,其光量子能量增加,增加到刚好能激发������层
(������、������等等)电子时,即发生光电效应,该波长的大量的������射线离子转化为光子,
+
������
2
[������������������2������(0)
+
������������������2������
1 (2

+
1 2
������
+
1 2
2
������)]
当ℎ + ������ + ������ = 偶数时,|������ℎ������������|2 = 4������2
(������������������)称为衍射面的衍射指数或干涉指数。把(ℎ������������)晶面的������级反射看成 为与(ℎ������������)晶面平行、面间距为(������ℎ, ������������, ������������) 的晶面的一级反射。面间距为������������������������的 晶面并不一定是晶体中的原子面,而是为了简化布拉格方程所引入的反射面,把
具体理论依据。
答:
体心立方晶体与面心立方晶体的 X 射线衍射的消光规律存在着明显差异;解
析其 X 射线谱图,并且对谱线进行指标化,可以依据消光规律明确区分体心立方
与面心立方晶体。
体心立方:
������
������ℎ������������
=

������=1
������������
������2������������(ℎ������������+������������������+������������������)
中国科学技术大学
2013 级 国家同步辐射实验室 杨川
6.(15 分)在重复考虑各种影响因素的条件下,试简要给出粉末������射线衍射强度 的表达式,并说明其中各项的物理意义,并回答为什么说明衍射强度������值与原子 (或离子)的种类及位置有关?
答: 理论证明:对粉末样品中晶体某h������������反射的累积强度表达式为:
������层跃迁,所释放的能量(������������ − ������������)有两种转换方式,一种是转换为������系荧光辐
射;另一种是被其他������层电子吸收,吸收后的电子逃逸出原子形成俄歇电子,这 实际上是一个������层空位被两个������层空位取代的过程,称为俄歇效应。
������
2
[������������������2������(0)
+
������������������2������
(1

+
1
������)
+
������������������2������
(1

+
1
������)
+
������������������2������
(1
������
+
1
2
������)]
格关系的单色������射线得到反射,选择单晶的晶面图正好对准������������的衍射,消除������������的
辐射,也能消除由连续������射线和荧光������射线产生的背底。
中国科学技术大学
2013 级 国家同步辐射实验室 杨川
5.(15 分)简述如何利用 X 射线衍射法区分面心立方和体心立方结构,并给出
+
1
2
������)]
2
2
2
2
2
2
当ℎ������������为全奇数或全偶数时,|������ℎ������������|2 = 16������2;
当ℎ������������为奇偶混合时,|������ℎ������������|2 = 0 当ℎ������������全为奇数或全偶数时才会出席那衍射现象,否则即消光。
似乎是������射线大量衰减了,宏观的表观即为质量衰减系数大增。这就是为什么突 变的原因。突变点我们分别称为������吸收边、������吸收边。������吸收边上又有三个小吸收 边,这是因为核内������层的电子分布又有三个级阶的缘故。
滤波片: ������射线谱在吸收谱线以上的部分被吸收,选择合适的滤波材料,把������射线谱 中绝大部分波长的射线滤掉,只剩λ = ������������波长的������射线。 单色器: 根据布拉格公式,当一束白光������射线以������角入射到晶面,仅有波长满足布拉
射。 主要区别:面指数为互质整数,定可以找到实际晶面对应;
衍射指数存在公倍数,只是形式上的表示。 使用注意:面指数包含多级衍射:衍射指数只有一级衍射。
中国科学技术大学
2013 级 国家同步辐射实验室 杨川
3.(10 分)简述厄瓦尔德图解法,并用反射球和倒易点阵的关系说明测量单晶 摇摆曲线的工作原理和可能用途。
当ℎ + ������ + ������ = 基数时,|������ℎ������������|2 = 0
只有晶面指数之和为偶数才会出现衍射现象,否则即消光。 面心立方:
晶胞中原子个数n = 4,坐标为(000),(1 1 0),(1 0 1),(0 1 1),可计算出:
22
22
22
|������ℎ������������|2 =
=
dhkl n
⟹ 2������������������������������������ℎ������������������������ = ������

������ = ������ℎ, ������ = ������������, ������ = ������������
⟹ 2������������������������������������������������ = ������ 这一形式表示,晶面(ℎ������������)的任何一级衍射均可看作是(������������������)衍射面的一级衍
晶胞中原子个数n = 2,坐标为(000)和(1 1 1),可以计算出:
222
|������ℎ������������ |2
=
������2
[������������������2������(0)
+
������������������2������
1 (2

+
1 2
������
��)]
摇摆曲线是用来描述某一特征定晶面(衍射角的确定)在样品中角发散大小 的测试方法,落在反射球上的倒易点严格满足布拉格公式,其对应的晶面发生衍 射,反之不发生衍射,在入射方向上取一点������为球心,以入射线波长的倒数为半 径的球为反射球,以单一波长 X 射线入射线与反射球的交点上,当倒易点阵在反 射球面上时,对应的点阵面满足布拉格条件,测试发生衍射,并且衍射强度最大 衍射线方向为反射球心射向球面上其倒易点阵的方向。 应用:多晶薄膜的取向度测定,基片表面缺陷分析,切偏角的测定等。
中国科学技术大学
2013 级 国家同步辐射实验室 杨川
4.(10 分)图示说明物质对������射线的基本吸收规律,产生吸收边的物理机制,并 分别说明滤波片与单色器的工作原理。
答: ������射线与物质的相互作用形式,可以分为散射和真吸收,真吸收又包括光电 效应、荧光辐射、俄歇效应和热效应。 光电效应与荧光辐射: 当入射������射线能量足够大时,可将原子内层电子击出,产生光电效应,被击 出的电子为光电子。原子被激发后,外层电子想内层跃迁,辐射出一定波长的 X 射线,称为二次特征辐射,本质上属于光致发光的荧光现象,故也称为荧光辐射。 俄歇效应: 入射������射线将原子的������层电子击出后发生光电效应,产生光电子。������层电子向
这样的反射面称为干涉面。干涉面的面指数称为干涉指数。
在布拉格方程2������������������������������ = ������������中,������取正整数,������ = 1为一级衍射,������ = 2为二级
衍射……,但这样处理问题不够方便,为简单起见,常将问题这样处理,将布拉
+
2
2
2
2
2
2
������2
[������������������2������(0)
+
������������������2������
(1

+
1
������)
+
������������������2������
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