晶体生长理论综述
南京大学-晶体生长课件-Chapter 6-晶体生长理论

§6.1. 晶体生长理论简介
1669年丹麦学者斯蒂诺(N.Steno) 发表了《论固体中自然含有的固体》,自此以来,开始了 晶体生长理论探索的篇章。经过各国科学家的精心研究,晶体生长理论已经有了长足的发展, 出现了各种各样的不同理论及模型。如晶体平衡形态理论、界面生长理论、PBC理论和负离子 配位多面体生长基元模型4个阶段,目前又出现了界面相理论模型等新的理论模型。现代晶体 生长技术、晶体生长理论以及晶体生长实践相互影响,使人们越来越接近于揭开晶体生长的神 秘面纱。
从晶体平衡形态理论到负离子配位多面体生长基元模型,晶体生长理论在不断地发展并趋 于完善,主要体现在以下几个方面:从宏观到微观,从经验统计分析到定性预测,从考虑晶体 相到考虑环境相,从考虑单一的晶体相到考虑晶体相和环境相。晶体生长的定量化,并综合考 虑晶体和环境相,以及微观与宏观之间的相互关系是今后晶体生长理论的发展方向。
(1)布拉维法则:法国晶体学家A.Bravais于1850年利用群论推导出具有一定对称性的空间点阵 只有14种,分属于7大晶系;1866年,Bravais又论述了实际晶面与空间格子构造中面网之间的关系, 提出实际晶体的晶面常常平行网面结点密度最大的面网,这就是布拉维法则。布拉维法则阐明了晶 面发育的基本规,但是它只能预测同种晶体的一种形态, 即晶体的理想生长形态, 无法解释同种晶体 在不同生长条件下可具有不同的生长形态的实验事实。布拉维法法则只给出了晶体内部结构与生长 形态之间的关系, 完全忽略了生长条件对生长形态的作用。
该定律给出了晶体生长形态具体求解方法虽然, 运动学理论能够通过定量计算给出晶体的生 长形态但有一个重要的假设, 即某一生长系统中驱动力场是均匀的这实质上忽视了环境相和生长 条件对晶体生长形态的作用另一方面, 应用运动学定律, 通过计算得出晶体的生长形态, 必须首先 得到法向生长速率与晶面取向的关系, 这实际上是十分困难的从而大大限制了理论的实际应用利 用该定律能够定量计算出晶体的生长形态。
3.晶体理论简述

α =β =γ = 900 α =β =γ ≠ 900 α =β =γ = 900 α =β = 900, γ = 1200 α =β =γ = 900 α =γ = 900, β ≠ 900 α ≠ β ≠ γ ≠ 900
晶体实例 NaCl Al2O3 SnO2 AgI HgCl2 KClO3 CuSO4· 5H2O
(1)热缺陷 )
定义: 定义 热缺陷是指由热起伏的原因所产生的 空位或间隙质点(原子或离子)。 空位或间隙质点(原子或离子)。 类型: 类型 弗仑克尔缺陷和肖特基缺陷 热缺陷浓度与温度的关系: 温度升高时, 热缺陷浓度与温度的关系 温度升高时,热 缺陷浓度增加
(a)弗仑克尔缺陷的形成 ) 空位与间隙质点成对出现) (空位与间隙质点成对出现)
(4)
体缺陷
体 缺 陷: 由点缺陷或面缺陷造成在 完整的晶格中可能存在着空洞或夹杂有包 裹物等,使晶体内部的空间晶格结构整体 裹物等 使晶体内部的空间晶格结构整体 上出现了一定形式的缺陷。 上出现了一定形式的缺陷。
2、按缺陷产生的原因分类
1. 热缺陷 2. 杂质缺陷 3. 非化学计量缺陷 4. 其它原因,如电荷缺陷,辐照缺陷等 其它原因,如电荷缺陷,
(1)点缺陷:晶格结点粒子发生局部 点缺陷: 错乱的现象。 错乱的现象。 按引起点缺陷的粒子不同,可分为: 按引起点缺陷的粒子不同,可分为: 错位粒子、间隙粒子、替位粒子和空位。 错位粒子、间隙粒子、替位粒子和空位。 点缺陷与材料的电学性质、光学性质、 点缺陷与材料的电学性质、光学性质、 材料的高温动力学过程等有关。 材料的高温动力学过程等有关。
(b)单质中的肖特基缺陷的形成 ) 只有空位) (只有空位)
热缺陷产生示意图
(2)杂质缺陷 )
2-2.2晶体生长理论部分全解

3.由固相直接转为固相
环境的变化可以引起矿物的成分在固态情况下产生改组, 使原矿物的颗粒变大或生成新的矿物。这种再结晶可有以下 几种情况: 1)同质多象转变 某种晶体在热力学条件改变时,转变为另一种在新条件 下稳定的晶体,它们在转变前后的成分相同,但晶体结构不 同。 2) 原矿物晶粒逐渐变大 如由细粒方解石组成的石灰石与岩浆接触时,受热结晶成 为由粗粒方解石晶体组成的大理岩。 3)固溶体分解 在一定温度下固熔体可以分解成为几种独立的矿物。 如由一定比例的闪锌矿和黄铜矿在高温时组成为均一相的固 熔体,而在低温时就分离为两种独立的矿物。
第一篇 矿物通论
适用专业:矿物加工工程
3)轴角 各晶轴之间有一定的夹角关系,结晶学中规定两个晶 轴正端的夹角称为轴角,分别用α、β、γ表示。
在三晶轴定向中
α=y∧z轴 β= z轴∧ x轴, γ= x轴∧ y轴
在四晶轴定向中
α = β= y轴∧ z轴= z轴∧ x轴= μ轴∧ z轴=90°
γ= x轴∧ y轴= y轴∧ μ轴= μ轴∧ x轴=120 °
工艺矿物学Ⅰ
第一篇 矿物通论
适用专业:矿物加工工程
层生长的特点
1.晶体常生长成面平、棱直的多面体形态。 2.在晶体生长过程中,环境会有变化,不同时刻生成的晶体 在物理性质和成分等方面可能有细微的变化,因而在晶体的 端面上常常可以看到带状构造,晶面是平行向外推移生长的。 3.由于晶面是平行向外推移生长的,所以同种矿物不同晶体 上对应晶面间的夹角不变。 4.晶体由小长大,许多晶面向外平行移动的轨迹形成以晶体 中心为顶点的锥状体,称为生长锥。
理想晶体的生长过程
在晶芽的基础上,落入质点根据引力大小落在相应位
置,长完一条行列再长相邻的行列,长满一层面网再长相 邻的面网,整个面网成层向外平移。 当晶体停止生长时,其最外层的面网就是实际晶面。 每两个相邻面网相交的公共行列就是实际晶棱。 整个晶体被晶面包围,形成占有一定空间的封闭几何多 面体形态,表现出晶体的 自限性。
微电子材料—晶体生长基本理论与技术

天然盐湖卤水蒸发
珍珠岩
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3. 由固相变为固相:
同质多相转变,某种晶体在热力学条件改变的时候, 转变为另一种在新条件下稳定的晶体;
原矿物晶粒逐渐变大,如由细粒方解石组成的石灰 岩与岩浆接触时,受热再结晶成为由粗粒方解石组 成的大理岩;
细粒方解石
大理岩
6
3. 由固相变为固相:
固溶体分解,一定温度下固溶体可以分离成为几 种独立矿物;
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气相中的均匀成核
晶胚有两种发展趋势: 1)继续长大,形成稳定的晶核; 2)重新拆散,分开为单个分子。
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液相中的均匀成核
晶体熔化后的液态结构是长程无序的; 在短程范围内却存在着不稳定的接近于有序
的原子集团; 它们此消彼长,出现结构起伏或叫相起伏。
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液相中的均匀成核
当温度降到结晶温度时,这些原子集团就可 能成为均匀成核的“胚芽”,称为晶胚。
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晶核的形成
非均匀成核:若新相优先在旧相某些区域中 存在的异质处成核,即依附于液相中的杂质 或外来表面成核。
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气相中的均匀成核
在气-固相体系中,气体分子不停的做无规则的 运动;
能量高的气子发生碰撞后再弹开,这种碰撞类似 于弹性碰撞;
某些能量低的分子,可能在碰撞后连接在一起, 形成几个分子(多为2个)组成的“小集团”,称为 “晶胚”。
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经典成核理论
经典成核理论是基于热力学的分析,基本思 想是把成核视为过饱和蒸汽或溶质的凝聚;
设两个分子碰撞形成晶胚,从分子到晶胚的 变化看成一个体系。
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经典成核理论
体系吉布斯自由能的改变包括:
1、气相转变为晶胚(固相),体积减小,体积自由能 减少,设体积自由能改变为△GV。 2、晶胚的生成,会形成一个固-气界面,需要一定 的表面能,其改变为△GS。
晶体生长机理研究综述

晶体生长机理研究综述摘要晶体生长机理是研究金属材料的基础,它本质上就是理解晶体内部结构、缺陷、生长条件和晶体形态之间的关系。
通过改变生长条件来控制晶体内部缺陷的形成从而改善和提高晶体的质量和性能使材料的强度大大增强开发材料的使用潜能。
本文主要介绍了晶体生长的基本过程和生长机理,晶体生长理论研究的技术和手段,控制晶体生长的途径以及控制晶体生长的途径。
关键词:晶体结构晶界晶须扩散成核一、晶体生长基本过程从宏观角度看,晶体生长过程是晶体-环境相、蒸气、溶液、熔体、界面向环境相中不断推移的过程,也就是由包含组成晶体单元的母相从低秩序相向高度有序晶相的转变从微观角度来看,晶体生长过程可以看作一个基元过程,所谓基元是指结晶过程中最基本的结构单元,从广义上说,基元可以是原子、分子,也可以是具有一定几何构型的原子分子聚集体所谓的基元过程包括以下主要步骤:(1)基元的形成:在一定的生长条件下,环境相中物质相互作用,动态地形成不同结构形式的基元,这些基元不停地运动并相互转化,随时产生或消失(2)基元在生长界面的吸附:由于对流~热力学无规则的运动或原子间的吸引力,基元运动到界面上并被吸附(3)基元在界面的运动:基元由于热力学的驱动,在界面上迁移运动(4)基元在界面上结晶或脱附:在界面上依附的基元,经过一定的运动,可能在界面某一适当的位置结晶并长入固相,或者脱附而重新回到环境相中。
晶体内部结构、环境相状态及生长条件都将直接影响晶体生长的基元过程。
环境相及生长条件的影响集中体现于基元的形成过程之中;而不同结构的生长基元在不同晶面族上的吸附、运动、结晶或脱附过程主要与晶体内部结构相关联。
不同结构的晶体具有不同的生长形态。
对于同一晶体,不同的生长条件可能产生不同结构的生长基元,最终形成不同形态的晶体。
同种晶体可能有多种结构的物相,即同质异相体,这也是由于生长条件不同基元过程不同而导致的结果,生长机理如下:1.1扩散控制机理从溶液相中生长出晶体,首要的问题是溶质必须从过饱和溶液中运送到晶体表面,并按照晶体结构重排。
晶体生长方法综述

如称为水在KNO3中的溶液时不符合习惯的叫法。
通常称该体系为熔体,即KNO3“熔化”在少量的水中。
从熔体中生长晶体是制备大单晶和特定形状的单晶 最常用和最重要的一种方法。电子学、光学等现代 技术应用中所需的单晶材料,大部分是用熔体生长 方法制备的。 如:Si、Ge、GaAs、LiNbO3、Nd:YAG、Al2O3等。 硅单晶年产量约1x108Kg(即1万吨,1997年)
适宜于降温法生长的几种材料
优点: • 晶体可在远低于其熔点的温度下生长。有许多晶体不到熔点 就分解或发生不希望有的晶型转变,有的在熔化时有很高的 蒸汽压(高温下某种组分的挥发将使熔体偏离所需要的成 分)。在低温下使晶体生长的热源和生长容器也较易选择。 • 降低粘度。有些晶体在熔化状态时粘度很大,冷却时不能形 成晶体而成为玻璃。溶液法采用低粘度的溶剂可避免这一问 题。 • 容易长成大块的、均匀性良好的晶体,且有较完整的外形。 • 在多数情况下,可直接观察晶体生长过程,便于对晶体生长 动力学的研究。 缺点:组分多,影响晶体生长的因素比较复杂,生长速度慢, 周期长(一般需要数十天乃至一年以上);对控温精度要求高 (经验表明,为培养高质量的晶体,温度波动一般不易超过百 分之几,甚至是千分之几度。
VO2 V2O3
固-固法生长晶体,主要是依靠在固体材料中的扩散,使 多晶或非晶转变为单晶。由于固体中的扩散速率非常小, 用此法难于得到大块晶体。在晶体生长中采用得不多。
• 晶体生长属于材料科学并为其发展前沿 • 一些高新技术的发展,无一不和晶体材 料密切相关。 目前,材料科学发展面临的重要任务之一,就是实现材 料指定性能的设计。 根据使用的技术要求对材料的组成和结构进行设计或重 新组装,以满足各种新技术的要求,这是材料发展的必 由之路。 由于扫描透射显微镜、扫描隧道显微镜和现代大型电子 计算机技术的发展,使人们可以在直接观察下控制原子 的行为,按需要去排布原子。人们所追求的按指定性能 设计材料的愿望将逐步得到实现。
《晶体生长理论》ppt课件

多次区熔的过程
○ 在凝固界面,对于k<1的杂质,由于分凝作用将部分被
排斥到熔区,并向后携带
○ 在熔化界面,锭料的熔化带入新的杂质,并从熔化界面向凝
固界面运动〔杂质倒流〕,其结果是使整个熔区杂质浓度添加
○ 随着区熔次数的添加,尾部杂质越来越多,浓度梯度越来越
陡,杂质倒流越严重
极限分布
○ 经过多次区熔提纯后,杂质分布形状到达一个
如Cu-Ni相图 :
相图分析:2个点、2条线、3个区。
测定方法:热分析法〔最常用〕。
③二元合金相图的建立——热分析法建立相图的过程
▲配制系列成分的铜镍合金
▲测出它们的冷却曲线,得到临
界点
▲把这些点标在T—成分坐标上
▲将具有一样意义的点衔接成线,
标明各区域内所存在的相, 即得到
Cu-Ni合金相图
2、分凝景象与分凝系数
④ l →大,Cs→小,提纯效果好⇒l越大越好
⑤ 极限分布时(K一定):
⑥ l →大,B →小, A →大,Cs(x)→大, 提纯效果差
⑦
⇒l越小越好
⑧ 运用:前几次用宽熔区,后几次用窄熔区。
②熔区的挪动速度
BPS公式:
Keff
K0
f
D
1K0e
K0
f越小,keff越接近k0,提纯效果好, 区熔次数少, 但是过低速
〔资料中的杂质量本来很少〕
由于存在分凝景象,正常凝固后锭条中的杂质分布不再是均匀的,
会出现三种情况:
K<1的杂质,杂质向尾部集中;
K>1的杂质,杂质向头部集中;
K≈1的杂质,根本上坚持原有的均匀分布的方式
正常凝固过程中,Cs沿锭长的分布
1
晶体生长方法简介

05
晶体生长的前沿和挑战
Chapter
晶体生长的前沿和挑战
• 晶体生长是一个复杂的过程,涉及到多个因 素和步骤。为了更好地理解和控制晶体生长 ,需要对其研究前沿和挑战有深入的认识。
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光学晶体:通过固相法可以 制备高质量的光学晶体,如 蓝宝石、石英等,用于光学 器件和激光器等领域。
功能陶瓷:利用固相法晶体 生长技术,可以制备具有特 殊功能(如压电、铁电、热 电等)的陶瓷材料。
这些应用实例体现了固相法 晶体生长在材料科学和工程 技术领域的重要性。通过不 断优化生长条件和技术手段 ,可以进一步拓展固相法晶 体生长的应用范围和提高晶 体质量。
籽晶法
通过提供一个籽晶作为生 长核,在适宜的条件下, 使晶体从籽晶开始逐渐生 长。
熔融法
将原料加热至熔融状态, 然后在控制条件下慢慢冷 却,从而在熔融固体中形 成晶体。
气相沉积法
通过气相反应在固相基底 上沉积晶体材料,进而实 现晶体的生长。
固相法晶体生长应用与实例
半导体材料:固相法晶体生 长在半导体材料制备中具有 广泛应用,如硅、锗等半导 体的单晶生长。
气相法晶体生长应用与实例
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半导体工业
化学气相沉积用于生产大面积、高质量的硅、锗 等半导体材料晶体,满足电子器件的需求。
光学涂层
物理气相沉积用于制备光学薄膜和涂层,如增透 膜、高反膜等,提高光学元件的性能。
3
纳米材料合成
通过控制气相法中的生长条件,可以合成具有特 定形貌和尺寸的纳米晶体,应用于催化、生物医 学等领域。
以上这些方法各有特点,适用于不同类型的晶体 和生长条件。在实际应用中,需要根据具体需求 和条件选择合适的方法来进行晶体生长研究。
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综述晶体生长理论的发展现状1前言晶体生长理论是用以阐明晶体生长这一物理化学过程。
形成晶体的母相可以是气相、液相或固相;母相可以是单一组元的纯材料,也可以是包含其他组元的溶液或化合物。
生长过程可以在自然界中实现,如冰雪的结晶和矿石的形成;也可以在人工控制的条件下实现,如各种技术单晶体的培育和化学工业中的结晶等。
近几十年来,随着基础学科(如物理学、化学)和制备技术的不断进步,晶体生长理论研究无论是研究手段、研究对象,还是研究层次都得到了很快的发展,已经成为一门独立的分支学科。
它从最初的晶体结构和生长形态研究、经典的热力学分析发展到在原子分子层次上研究生长界面和附加区域熔体结构,质、热输运和界面反应问题,形成了许多理论或理论模型。
当然,由于晶体生长技术和方法的多样性和生长过程的复杂性,目前晶体生长理论研究与晶体生长实践仍有相当的距离,人们对晶体生长过程的理解有待于进一步的深化。
可以预言,未来晶体生长理论研究必将有更大的发展[1]。
2晶体生长理论的综述自从1669年丹麦学者斯蒂诺(N.Steno)开始晶体生长理论的启蒙工作以来[2],晶体生长理论研究获得了很大的发展,形成了包括晶体成核理论、输运理论、界面稳定性理论、晶体平衡形态理论、界面结构理论、界面动力学理论和负离子配位多面体模型的体系。
这些理论在某些晶体生长实践中得到了应用,起了一定的指导作用。
本文主要对晶体平衡形态理论、界面生长理论、PBC理论、晶体逆向生长等理论作简要的介绍。
2.1晶体平衡形态理论晶体具有特定的生长习性,即晶体生长外形表现为一定几何形状的凸多面体,为了解释这些现象,晶体生长理论研究者从晶体内部结构和热力学分析出发,先后提出了Bravais法则、Gibbs-Wulff晶体生长定律、Frank运动学理论。
2.1.1Bravais法则早在1866年,A.Bravais首先从晶体的面网密度出发,提出了晶体的最终外形应为面网密度最大的晶面所包围,晶面的法线方向生长速率R反比于面间距,生长速率快的晶面族在晶体最终形态中消失[3]。
1937年,Friedel,Donnay和Harker等人对Bravais法则作了进一步的完善,特别考虑了晶体结构中螺旋轴和滑移面对其最终形态的影响,形成了BFDH法则(或称为Donnay-Harker原理)[4]。
BFDH法则与Bravais法则相比,有了一个较大的改进,但是,它只能预测同种晶体的一种形态,即晶体的理想生长形态,无法解释同种晶体在不同生长条件下可具有不同的生长形态的实验事实。
2.1.2Gibbs-Wulff晶体生长定律1878年,Gibbs[5]从热力学出发,讨论了生长过程中晶体与周围介质的平衡条件,提出了晶体生长最小表面能原理,即晶体在恒温和等容的条件下,如果晶体的总表面能最小,则相应的形态为晶体的平衡形态。
当晶体趋向于平衡态时,它将调整自己的形态,使其总表面自由能最小;反之,就不会形成平衡形态。
Wulff[6]进一步提出了利用界面能极图求出晶体平衡形态的方法。
Gibbs-Wulff晶体生长定律在实际应用中,由于表面自由数据能难以获得,计算十分困难,而且它只适用处于(接近)平衡态时的较小线度的晶体生长形态的预测。
对于较大线度的晶体,由于存在着过饱和度的差异,难以趋向于平衡状态,此外,这一定律同样也不能解释晶体形态多样性。
2.1.3Frank运动学理论Frank[7]运动学理论是应用运动学理论描述晶体生长或溶解过程中不同时刻的晶体外形时,提出了两条基本定律,即所谓的运动学第一定律和运动学第二定律。
该理论有一个重要的假设,即生长系统中驱动力场是均匀的。
这实质上忽视了环境相和生长条件对晶体生长形态的作用。
同时,应用Frank运动学定律,通过计算得出晶体的生长形态,必须首先得到法向生长速率与晶体取向的关系,这实际上是十分困难的,从而大大限制了理论的实际应用。
Cabrerafis[8]进一步发展了运动学理论,提出了台阶运动理论,成功地解释了台阶的并合现象。
在他的理论中,注意到了环境相的影响。
如认为杂质在界面上吸附使得台阶群运动速度减慢,导致台阶并合。
但理论仍不能预测界面上何处将吸附杂质,不能预测环境相的变化对晶体形态的影响,只能根据晶体外形的变化来推测产生的可能原因。
上述三种晶体平衡形态理论,实质上都是从晶体内部结构出发,应用晶体学、热力学的基本原理,导出晶体理想(平衡)生长形态,得到了若干实验结果的证实。
它们共同的局限性是:基本不考虑外部因素(环境相和生长条件)变化对晶体生长的影响,无法解释晶体生长形态的多样性。
2.2界面生长理论德国科学家Lane发现了X射线在晶体中的衍射现象,使得人们有了认识晶体微观结构的重要手段。
基于对晶体结构的认识,研究者们提出各种关于生长界面的微观结构模型。
并从界面微观结构出发,推导出界面动力学规律,这些理论可称为界面生长理论。
界面生长理论的学科基础是X射线晶体学,热力学和统计物理学。
2.2.1界面结构模型及生长动力学所谓界面是指在热力学系统中两相共存的分界面。
晶体生长过程可看作是生长界面不断推移的过程。
研究界面微观结构,对于认识晶体生长过程是十分关键的,经典的四种界面结构模型是:(1)完整光滑突变界面模型(Kossel W.,1927)[9]:模型认为晶体是理想完整的,并且界面在原子层次上没有凹凸不平的现象,固相与流体相之间是突变的。
这显然是一种非常简化的理想界面,与实际晶体生长情况往往有很大差距。
(2)非完整光滑突变界面模型(Frank F.C.1949)[10]:模型认为晶体是理想不完整的,其中必然存在一定数量的位错。
如果一个纯螺型位错和光滑的奇异面相交,在晶面上就会产生一个永不消失的台阶源,在生长过程中,台阶将逐渐变成螺旋状,使晶面不断向前推移。
(3)粗糙突变界面模型(Jackson K.A.1959)[11]:模型认为晶体生长的界面为单原子层,且单原子层中所包含的全部晶相与流体相原子都位于晶格位置上,并遵循统计规律分布。
根据统计热力学的近似计算,可判断固/液界面的平衡结构性质,即是光滑界面(界面层全部为固相原子)还是粗糙界面(界面层固相原子与流体原子各占一半)。
当界面相变熵α﹥2时,界面平衡结构是光滑界面,反之则为粗糙界面。
(4)弥散界面模型(Temkin 1966)[12]:模型认为界面由多层原子构成。
在平衡状态下,可根据界面相变熵大小推算界面宽度,并可根据非平衡状态下界面自由能变化,由界面相变熵及相变驱动力确定界面结构类型。
界面结构模型及生长动力学理论有以下局限性:晶体结构过于简化;不考虑环境相(溶液、熔体或气体)结构;环境相被看作均匀连续的介质,不考虑其浓度起伏和不均匀等因素的影响;在界面上吸附的基元限定为单个原子,无法解释多元体系的生长过程;动力学规律的推导不够严谨,假定条件过多。
2.2.2粗糙化相变理论Burton、Cabrera和Frank[13]指出:存在一个温度TR,在此温度以上,界面由基本光滑转变为粗糙。
1974年,Leamy和Gilmer[14]采用了弥散界面模型,应用Monte-Carlo方法对简单晶体界面进行计算机模拟,得出以下结论:当T>TR时,台阶失去它们的特性,棱面自由能变为零,此时晶体生长没有二维成核势能垒,呈现线性生长规律。
粗糙化相变理论应用的困难在于粗糙化相变温度计算的困难。
粗糙化相变温度定义为:θ=8/a,是无量纲温度(α为界面相变熵),一般情况下,有关的热力学数据是未知的,因此,无法进行计算。
且计算过程非常复杂。
此外,粗糙化相变理论的基础仍然是经典的界面结构模型,因而无法克服前述的局限性。
2.3PBC理论晶体中存在着由一系列强键不间断地连贯成的键链,并呈周期性重复,称为周期性键链(Periodic Bond Chain,PBC)。
PBC的方向由PBC矢量来表征,根据相对于PBC矢量的方位,可将晶体中可能出现的界面分为3种类型:F面,含有2个或2个以上共面的PBC矢量的平面;S面,只含有1个PBC矢量的平面;K 面,不含有PBC矢量的平面。
PBC的确定主要有2种方法,一是直观法,二是计算机方法。
P. Hartman完善了PBC理论,提出现代PBC理论。
现代PBC理论提出了定量计算晶面生长速率的方法,由此可预测晶体的理论生长习性。
无论是PBC理论还是现代PBC理论。
仍然没有把环境相和生长条件对晶体生长形态的影响统一到理论中去,Hartman[15]在现代PBC理论中特别指出,当PBC理论预言与观察不相符时,应考虑外部因素的影响,这些外部因素包括温度、压力、溶液过饱和度、非晶物质(如溶剂、杂质).正是由于没有考虑环境相及生长条件等外部因素的影响,PBC理论无法从本质上揭示晶体生长外部条件影响晶体生长形态的内在机理.此外,PBC理论无法解释极性晶体的生长习性。
2.4负离子配位多面体生长基元模型仲维卓[16]提出了负离子配位多面体生长基元模型(以下称“模型”)。
模型将晶体的生长形态、晶体内部结构和晶体生长条件及缺陷作为统一体加以研究,开辟了晶体生长理论研究的新途径。
模型实际上存在两个基本假设:(1)生长基元存在假设,即溶质与溶剂相互作用形成一定几何结构的聚集体,这些聚集体被称为生长基元。
体系中存在着多种形式的生长基元,它们之间建立起动态平衡,生长过程为生长基元在界面上的叠合。
(2)结构一致性假设,即在界面上叠合的生长基元必须满足晶面取向的要求,生长基元结构单元与相应晶体结构单元一致。
负离子配位多面体生长基元模型有以下特点:(1)晶体内部结构因素对晶体生长的影响有机地体现于生长基元的结构以及界面叠合过程中;(2)利用生长基元的维度以及空间结构形式的不同来体现生长条件对晶体生长的影响;(3)所建立的界面结构便于考虑溶液生长体系中离子吸附、生长基元叠合的难易程度对晶体生长的影响。
负离子配位多面体生长基元模型与其它理论或模型相比,考虑的晶体生长影响因素更为完全,接近于生长实际。
利用这个模型,成功地解释了一些氧化物晶体(如ZnO等)的生长习性,特别是解释了一些极性晶体的生长习性。
但是,该模型目前还处于定性描述阶段,要发展为一个完整的晶体生长理论,还有更多的工作要做,如溶液、熔体结构的研究(从中获得关于生长基元的信息,生长基元结构如何,生长基元如何相互作用)、生长基元在界面的叠合过程研究(叠合难易程度的表征)以及生长形态的定量计算。
2.5晶体逆向生长理论在过去的一百多年期间,晶体生长理论有了一个较大的发展,上述的几种理论具有一定的代表性和研究价值。
但是在晶体早期生长的研究中揭示:在某些晶体生长可能并不是按照我们所熟知的传统路线来生长的,我们称之为非传统路线,即晶体逆向生长路径。
根据早期晶体生长的研究,周午纵曾在一篇论述里讨论了一种非传统晶体生长途径(图1)[17]。