飞针测试机原理应用
测试设备评估
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针床测试机
• 1.针床测试机与测试治具。 • 2.不同产品使用不同治具，成本高制作周期长。
6Leabharlann 针测试机• 1. 飞针测试机与测试针 • 2. 适合不同产品需求，一般3-6个月更换一次测 试针。
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ICT与人工测试之优点
• 1.缩短测试时间：一般组装电路板如约300个零件ICT 的大约是3-4秒钟。 • 2.测试结果的一致性：ICT的质量设定功能，能够透 过电脑控制，严格控制质量。 • 3.容易检修出不良的产品：ICT有多种测试技术，高 度的可靠性，检测不良品种、且准确。 • 4.测试员及技术员水平需求降低：只要普通操作员， 即可操作与维修。 • 5.减省库存、备频、维修库存压力、大大提高生产成 品率。 • 6.大大提升品质。减少产品的不良率，提高企 业形 8 象。
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ICT的范围及特点
• 1.检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情 况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量 ，对二极管 三极管 光藕 变压器 继电器 运算放大器、电源 模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试 ，如所有74系列、Memory类常用驱动类交换类等IC。 • 2.它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的 缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效 或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短 路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断 线等故障。 • 3.测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上 ，故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程 序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测 3 试时间一般在几秒至几十秒。
飞针测试
1.首先先打开PC开关
2.做电测时，必须先做开关
卡自检，确保机器是否能正
常工作。
3.在做开关卡自检时，黄线
代表OK，红线代表NG，如果
出现红线时应及时通知当班
组长联系设备部维修，恢复
正常工作。
上锁）
4.将所要用的测试夹具放在测试机的中央，然后自检下夹具是否有破损现象，针盘是否少针或者有弯针断针现象。
以便在测试中不会出现很少假点的现象。
5.在装排线的时候，首先要确认排线的根数，然后从从最外面的牛角开始往里装。
在装的时候必须要用双手去压。
卡口一定要对好牛角的槽口。
6.装好排线后，必须要做测试架全开路自检，检测夹具是不是在测试之前是否能正常使用。
7.用锁锁住夹具底板，确保夹具在工作时不能移位。
8.装上磨夹具时，打开红色开关，用上手按下上机床，将上下模结合（中间必要要用吊针或白色支撑柱），然后用上磨锁将上磨固定。
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9.根据夹具盖板上的料号
（如Lx2oxxxx0)将软盘插入
软驱中在电脑的工程资料盘中找到夹具测试资料将
Lx20xxx0.mxa文件发送到软盘中
图1-6所指的是将软盘所拷贝资料的导入步骤。
Seica卧式飞针测试机的测试技术探讨
触 速 度最 快 、Ｓａ ｄ ｒ方 式探 针 与 印 制 板 的 接触 速 度 ｔｎ ａｄ
介 于Ｆ ｓ和Ｓ ｆ 问 、Ｓ ｆ ａ ｔ ｏｔ 之 ｏｔ 方式 探 针 与 印制 板 的 接触 速
度 最 小 、Ｓ ｒ 式 则根 据在 线 测试 板 上盘 的 直径 尺寸 ｍａ ｔ 方 由软 件 自动地 设 为Ｆ ｓ或 Ｓ ｆ 式 。一 般带 有 表贴 盘 的 ａ ｔ ｏｔ 模 印制板 我 们使 用Ｓ ｆ 式 ，这 样 可 以使探 针扎 向 表贴 盘 ｏｔ 模 的速度 最小 ，测试 状 态更稳 定一 点 ，使测 试痕迹 达到 最
况。所 以在 印 制板装 夹前应 先看 看哪 个 方向 的图形 距边 距离 大 ，避 免压 条压 到 线路 图形 。￥ ４ Ｔ ２ ＢＢ 的ＶＶ 软 件 ＩＡ
有 Ｒ ｔ ｔ ｏ ｒ 功 能 ，可 以 将 印 制 板 旋 转 到 任 意 一 个 想 ｏ ａｅＢ ａ ｄ 要 的方 向。
２３ 定义参 考点 。
印制电路
Ｉ — — ●— ■ 一
Ｃ 『 Ｃ １ Ｉ蓑 尸 １ 电 ４ 电 路与 ；
一 ｅ ｎ ￣ ｉ ｉ Ｔ ｔ ｏ ｉ ｔｏ ｆ ＾ ・ ｅ Ｔｓ Ｃｎｉ ｒｔ ｈ ｝ Ｐｏ ｓＣ￣ ｎ 打 ｎ ｄ ｅ ｏｆ ｑ・ ｃ ｔ Ｅ ｌ ｏ ｒ 蛳 ｓｔ ｅｌ ｔ 日
二 、测试 编程 时应 考虑 的 因素
由于 该 设备 为卧 式 测 试机 ， 因此 在 一些 测 试 参 数 的设置上 有着 与通 常的立 式测试 机不 同的考 虑 ：
测 试 机在 测试 编程 时应 考 虑的 因素 、常 见 问题 的原 因分
析 及排 除和一 些测试 技巧 。 【 关键 词】Ｚ 轴设 置 （ ｉ Ｓｅ ｔｎ ｓ）、 通孔 补偿 Ｚ Ａｘｓ ｔｉ ｇ
浅谈飞针测试文件的制作方法
值等参数。
四线测试是使 用飞针测试机对线路、 通路孔 的四线低阻进行测试 ， 从而判断出线路的镀铜厚 度， 孔内残渣及盲埋孔的破裂等。 Ｌ Ａ测试 即潜在性缺陷测试 ， 它可 以检测 出线 路缺铜、 线路裂纹等缺陷， 通常这些缺陷不能被普 通通断测试检测 出来 ， 或者不易被四线测试检测
转换生成 Ｇ ｅ ｒ ｂ ｅ ｒ 或者 Ｏ Ｄ Ｂ＋ ＋ 文件 ， 再利用 Ａ Ｄ Ａ Ｍ软件编译制作 Ｉ Ｐ Ｃ格 式文件 ， 以便在飞针测试机上
使用。
关键 词 ： 飞针 测试 ；文件转换 ；多层基 板
１ 引 言
飞针测试机是针对元件布置高密度、 层数多 、 布线密度大、 测点距离小的 Ｐ Ｃ Ｂ板（ 印刷电路板） 进行测试的一种仪器 ， 主要测试线路板 的绝缘 和 导通值 。测试仪一般采用“ 真值 比较定位法 ” ， 能 对测试过程和故 障点进行实时监控， 保证测试 的 准确性 。飞针测试机能够满足具有精细节距基板 测试 的要求 ， 不受网络节 点数量 的限制 ， 测试灵 活， 速度快等特点 。 飞针测试机使用四到八个独立控制的测试探
电容 。随着 探针定 位精 度 和可重 复性 能 的不 断提
高， 探针的定位Байду номын сангаас度达到 ５ ～１ ５ 微米的范围 ， 飞针
测试机可精密 的探测 Ｕ Ｕ Ｔ 。在制作飞针测试文
件时针对 Ｕ Ｕ Ｔ的单个元件进行编译 ， 输 出单个元 件 的测试文件并定义测试对准点及电阻、 电容等 器件的位置 ， 飞针测试机上的相机会根据文件定 义 的位置来对准及测试 ， 增加通断测试的可靠性 。
（ ｖ ｉ ａ ） 从而测试在测基板 的单个元件。测试探针
通过多路传输 （ ｍ ｕ ｌ ｔ ｉ ｐ ｌ ｅ ｘ ｉ ｎ ｇ ） 系统连 接到驱动器
飞针测试工艺研究及Z轴结构设计
飞针测试工艺研究及Z轴结构设计吕磊;谭立杰;赵立华【摘要】以双面飞针测试系统为例,介绍了飞针测试的主要工艺技术,并详细介绍了Z轴机构的设计改进过程。
%Taking the Double Side Flying Probe Test System for example, the article introduces the process of flying probe simply, and introduces the improve design of Z axes in detail.【期刊名称】《电子工业专用设备》【年(卷),期】2012(041)005【总页数】5页(P14-18)【关键词】飞针测试;测试工艺;Z轴结构【作者】吕磊;谭立杰;赵立华【作者单位】中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京100176;中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京100176;中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京100176【正文语种】中文【中图分类】TN606电路组件的故障主要来自于3个方面：元器件故障、PCB（Printed Circuit Board,印刷电路板）基板故障和组装故障，其中由于PCB基板制造和焊接缺陷引起的故障占了全部故障的一半。
PCB基板故障一般是在制造过程中形成的，最为常见的故障表现为：不同网络导体间的短路和相同网络导体内的开路等。
在元件组装时或组装后发现这些故障都将无法修复，而只能把组装好的电路板报废，造成经济损失，因此，必须在组装元件前进行裸板测试。
测试的方式有针床（bed-of-nails）方式和飞针方式，两者相比，飞针测试的整体性能要优于针床测试方式，它可以完成某些不能使用针床测试的PCB测试，是对传统针床在线测试设备的一种改进。
目前，飞针测试已经成为电气测试一些主要问题的最新解决办法，而这种设备最初就是为裸板测试而设计的。
1 飞针测试根据飞针测试时固定被测基板的方式，飞针测试机的结构可分为竖立式和水平式。
平面电机飞针测试系统研究
科技经济前沿科技经济导刊 2016.27期平面电机飞针测试系统研究李晓飞（山西国营大众机械厂第三研究所 山西 太原 030024）由于PCB板元器件故障，制造故障，组装和焊接缺陷等引起的故障占了全部故障的多一半，在组装完后发现某些故障无法修复，只好把组装好的电路板报废，造成经济损失，影响生产效率。
飞针测试机是用来测试PCB板性能的设备，它对各种复杂回路中的元器件均能达到准确的测试，可以测试元器件制造工艺的缺陷和元器件焊接的不良。
元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，工艺类可检测出如焊锡短路，元件插错、插反、漏装、管脚翘起、虚焊、PCB短路、断线等故障。
本文所介绍的平面电机飞针测试机是对传统飞针测试机的一种改进，每个测试探针均采用独特的平面电机气浮结构，避免了探针运动的交叉干涉，可以快速稳定的到达测试点，确保了测试的快速性和精确性。
1平面电机飞针测试系统的结构、原理、方法1.1 结构平面电机飞针测试机采用的机械结构为水平式结构，有利于PCB机械稳定。
本文所述平面电机由两个装有位置传感器的动子，一个齿状结构的定子组成，如图1所示。
平面电机飞针测试机的机械结构如图2所示。
线性电机固定于平面电机的动子上，探针固定于线性电机上，且探针的垂直角度为最理想的测试角度—6°。
消除了测试时的“点错”、“滑针”等现象，确保了测试的迅捷和精确度。
待测PCB板水平固定于机械框架的内侧凹槽。
采用线性电机作为Z轴运动系统的执行部件，是因为线性电机具有更为灵活的柔韧性，容易控制诸如下落速度等主要参数，从而避免探针以过大的速度冲击电路板焊盘，造成电路板损坏。
图1 平面电机实物图图2 平面电机飞针测试机结构1.2 工作原理测试前，把所要测试的PCB板所使用的CAD文件转化为系统可识别的带电气联接关系的测试数据，这些文件包含了PCB板每个焊点的坐标（X,Y）及焊点在PCB中的网络值NV，将其导入到计算机。
测试时，平面电机控制飞针在X、Y方向的移动，线性电机控制飞针在Z方向的移动，从而准确的定位到PCB板上的焊点，进行电气测量，通过分析和处理反馈的信号判断故障所在。
三代飞针麻将工作原理
三代飞针麻将工作原理一、飞针构造与运动三代飞针麻将采用了精密的机械结构和独特的运动方式。
飞针主要由针杆、针尖和驱动机构组成。
针杆通常由高精度不锈钢或合金材料制成，具有良好的耐腐蚀性和强度。
针尖采用耐磨材料，以减少对麻将牌的磨损。
驱动机构采用电机或气动方式，通过精密的传动机构实现飞针的快速、准确运动。
二、麻将牌的识别飞针麻将具有高效的麻将牌识别功能。
识别系统通过图像处理技术，实时捕获麻将牌的图像，并进行快速处理和比对。
识别算法基于深度学习技术，能够准确识别不同种类的麻将牌，包括花色、点数等信息。
同时，识别系统还具备抗干扰能力，能够在复杂的游戏环境中准确识别麻将牌。
三、机械手抓取与放置飞针麻将通过机械手实现麻将牌的抓取和放置。
机械手由多个关节组成，具有高度的灵活性和准确性。
在抓取麻将牌时，机械手首先通过识别系统确定目标牌的位置，然后通过电机驱动关节运动，使机械手快速、准确地到达目标位置。
抓取完成后，机械手将麻将牌放置到指定的位置，为后续的打牌过程做好准备。
四、控制系统飞针麻将的控制系统是整个设备的核心部分。
控制系统采用先进的微处理器和传感器技术，实现了对飞针、机械手、识别系统等各个部分的精确控制。
控制系统根据预设的程序和规则，协调各个部分的工作，确保整个设备的正常运行和准确响应。
同时，控制系统还具备故障诊断和报警功能，能够在出现故障时及时提醒操作人员进行处理。
五、麻将桌与辅助设备飞针麻将通常配备专门的麻将桌和辅助设备。
麻将桌采用高强度材料制成，具有良好的稳定性和耐久性。
桌面采用防滑设计，确保麻将牌在打牌过程中不会滑动或移位。
辅助设备包括电源、散热系统等，为整个设备提供稳定的电力和良好的工作环境。
六、人机交互与游戏规则飞针麻将的人机交互界面友好直观，方便玩家操作。
界面通常包括菜单、设置、游戏状态等选项，玩家可以通过触摸屏或按钮进行操作。
同时，游戏规则明确且易于理解，保证了游戏的公平性和趣味性。
在游戏中，玩家需要按照规定的规则进行操作，例如确定位置、选择目标牌等。
飞针测试机说明书
第一章飞针机测试资料制作本公司的飞针测试机是利用客户所给的GerBer文件通过一系列简单地处理后，由专门的测试软件转换形成的测试文件测试的，而我们处理文件所用的就是CAM，为了能使大家更好地了解如何生成测试文件，如何用CAM来操作，现就详细介绍如下：我们需要的原文件有：1、GerBer文件（包括线路层、阻焊层、内层）2、Dcode文件（或自带光圈表也可用）3、Drl文件（钻孔文件及记录孔径大小的TXT文件）（检查上述文件，是否齐全）一、利用CAM350处理文件1.打开CAM，找到主动菜单File目录下的Import中的AuToImport（此功能为自动导入）确认以后，客户的GerBer文件就会自动导入。
2.将各层排序，（A为顶层，B为内层，C为底层，D为阻焊层，E为钻孔层）3.CAM350在自动导入时，全部文件都会导入在CAM里，可能客户的原始文件并没有一层层叠好，这时我们就需要利用主菜单目录下的Edit命令里Layers→Align对齐，（注意一点的是，哪层为不动层，哪层为被动层，一定要搞清楚，如定义了钻孔为不动层的话，那么其它层就应该与它对齐。
选择命令后用mouse在不动层的某一个点上点击一下左键，按右键确认，在被动的一层上找到与不动层上相对应的点，用同样的方法用mouse的左键点击（这时你会看见此点是会变成白色）按2下右键后会出现一个对话框，确认后，被动层就会与不动层叠合在一起，剩下的层数也一样利用上述做法对齐。
4、将所有层对齐后就要进行定原点。
板的左下角坐标一定不能为负）因飞针测试机四针的原始坐标在x=10mm、y=10mm的方位。
所以在pcb的左下角点击一下,输入10mm点击ok5.转线性焊盘 , 做测试点时一定要利用阻焊层，因我们做测试点是利用阻焊层的。
检查一下阻焊里有没有Pad是线划的，如果有，那么先将线划的Pad变成Flash，利用主菜单里的Utilities下Draws Flash Automatic6.检查在阻焊里的线是否全变成了Flash，然后将所有的Flash的D码变小（利用主动菜单的Edit Change Dcode命令操作，最好变成10mil、5mil 以上的圆形焊盘）7.转NC钻孔为gerber8.焊盘变小后，就需要利用过滤的方法产生Testpoint（因钻孔文件机器本来就默认为要测试的点，用钻孔过滤的方法就是把钻孔上的点滤掉，避免2个测试点重叠在一起，过滤后剩下的点就是在焊盘上了，最值得注意的一点是：过滤时一定要注意过滤与被过滤的关系，一定是钻孔过滤变小后的阻焊在Compositesclear的命令里，钻孔一定是clear）9. 复合出测试点。
四线式测试技术研究
四线式测试技术研究本文详细介绍了低阻四线式测试技术的原理，以及四线式飞针、四线式针床的实际工作过程，并以飞针低阻四线式测试进行实验。
一、前言随着电子技术的迅猛发展，印制线路板（PCB）的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小，客户对板的要求越来越严。
通常情况下，PCB 的开短路测试测试参数值中的开路阻抗设为25Ω，线路阻值大于25Ω时机器判断为开路，小于25Ω时机器判断为合格，对于阻值小于25Ω的线路则无法精确测试出其实际电阻值，25Ω以下的线路成为测试盲区。
在实际生产中发现PCB的某些缺陷，如孔内无铜、空洞、铜薄、线幼、线路缺口等问题均会影响到线路阻值，当阻值小于25Ω时，用通常的开短路测试方法来测试以上缺陷板时，测试结果显示PASS，但客户经过高温焊接后阻值发生变化，导致开路问题发生，最终导致客户投诉，严重的还需向客户赔款。
二、现状经对我司某客户退回的板进行问题分析发现，在反馈的244 块开路缺陷板中，其中过孔阻值大于25Ω的板有6 块，过孔阻值小于25Ω的板有51 块，其它类型开路问题板187 块，而过孔阻值小于25Ω的51 块板退去元件上机测试后的结果显示为PASS,重新测试这51 块板的开路阻值，阻值分布在1.21Ω-23.4Ω之间（详见下表），从表中数据可以看出，被退回的244 块开路缺陷板中，阻值小于25Ω的数量共51 块，占总数的比例为20.9%，此部分板是由测试机判断测试结果为PASS 而正常出货的，现有测试机根本无法检测出，我们必须寻找一种新的测试方法，降低客户投诉。
序号阻值（Ω）序号阻值（Ω）序号阻值（Ω）序号阻值（Ω）1 3.8 14 3.8 27 10.2 40 3.52 4.8 15 22.7 28 10.4 41 2.33 4.8 16 22.4 29 14.8 42 3.24 6.8 17 23.4 30 3.2 43 4.15 10.8 18 3.6 31 3.5 44 2.66 6.8 19 7.2 32 1.25 45 1.97 7.3 20 10.8 33 2.2 46 3.08 3 21 8 34 5.6 47 2.09 2.8 22 4.9 35 2.6 48 7.410 8 23 5.6 35 1.21 49 2.611 4.6 24 8.4 37 2.5 50 9.412 6.4 25 5.8 38 4.2 51 3.613 10.8 26 4.2 39 4.8三、二线测试与四线测试原理对比1、普通二线测试原理通常的开短路测试方法即为普通二线测试，如下图所示，二线测试是目前普遍应用的一种方案。
飞针测试
1)每次换针过后都要对一下机器原点: 在菜单Mode-M.mode用鼠标左键双击Automatic Setup机器会对每个针进行较准,顺序是4->3->2->1校准完后会跳出这样的窗口注意直线一定要和圆相切,如果不相切需要手动改正2如何把板子的正反面的程序结合起来?在D Mode->coordinates management然后在Fail->open 选择A在找到top 面的程序,按照次方法选择botton 面的程序再选择这样就会产生一个正反面相结合的程序,我们测试需要正反面都要测的时候就不要在从新调程序了3)如何完成多快板子一起测试?1)首先要完成一片板子的程序对原点和辅助点(单块板子)2)在Tool->add在X方向和Y方向分别填写板子的数量然后点下一步用鼠标左键选择Group1 和测试的先后顺序,按鼠标右键可以翻转板子最后要设定增值板子的原点和辅助点4)如果有根针坏了而你身边又没有新的针可以换种针的组合在Tool->change->probe左边是现在使用的针,右边是你将要更换的针的组合,在Enter the starting and ending step number 下面输入要换针的步数,然后点击Execute 就OK了5)每完成一个程序都要程序进行优化在Optimization->Sort 然后点击Execute机器会自动对程序进行优化的6)每完成一个程序都要学习在Reference->Ref里选择Initialize measuring mode 和Set tolerance automatically在Enter the staring and ending step number输从1,? Dian点击Test start7)怎样设置才能产生测试报告?然后在M mode->File/Folder里设置报告产生的路境在Coordinate->可以选择旋转90度,180度,270度点击yes进去不要改变原始坐标9)如何设置高飞,低飞区?在菜单EXIT->EXIT 里点击出现程序在按F1出现点HML可以设置高中底飞4)机器有四根针它们倾斜的角度不同,第一根针12度,第二根针50度,第三根针70度,第四根针15度.5)针可接受的高度42mm,16mm,6mm.机器的PM6)在Self-dingProbe 检查针的移动性O panel 检查操作版的好坏Sensor 检查Sensor的好坏MeaunitRelay 检查Relay好坏Probe sensor prbe 是记录针的使用次数,针的使用最高次数为1500000次Self-diag 检查浮游容量P selt 针的自检10)如何产生自检文件About->Maint tenance infor mation->Acquisition11)各个pins 卡的功能及作用第五槽: TAKAYA TVX-01A如果坏了一般会出现两种情况1:机器会死机进不了程序;2 机器开机没机没有自检没有自检直接进入菜单第六槽 :TVX-02B如果坏了:是继电器坏了,不能测小电阻第七槽:TVX-04B是AC测定第八槽:TVX-0TB接马达磁浮控制器,卡松掉会导致马达不动第十三槽>TVX-22A控制LED第十四槽:IC OPEN 测试,感应棒的测量第十六槽控制Relay12)几种不可测试的电路情况:13)快捷键的应用：优化过按Ｙ键可以找到换针shit+B Openshit+A shortsshit+E NG>REF按Ｗ键可以放电按Ｉ键可以测试任意一步按小键盘/ or * 公差可设10 ,20,30或减30,20,10H 直接JUMP.电阻:评测时以测试值与标准值相比较,测试值略等于标准值为理想状态.测试值与标准值相比较,有明显差异时,或者是测试不安定之元件,建议利用隔离点的输入可能将测试值接近标准值隔离点可能将其值拉的相接近,零欧母电阻电脑并不会把它设定为Shorts测试测试,100欧母以下可以用KELVIN测试电容评测时以标准值作为比较, 测试值略等于标准值为理想状态测试值与标准值相比较,有明显差异时,或者是测试不安定之元件,电容测试时(含电解电容)必须确定若有缺件时能查出+30%,-30%,电解电容可以用影象方法检测检测Coil评测时以测试值与标准值相比较,测试值略等于标准值为理想状态.测试值与标准值相比较,有明显差异时,或者是测试不安定之元件,建议利用隔离点的输入可能将测试值接近标准值Diode测试时确认顺向电压及逆向电压,更改测试范围及測定時間使正反向出現反差●順方向电压与逆方向电压沒有偏差時有時可以測到缺件，此時應該比照線路圖。
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飞针测试机原理应用
飞针测试机 飞针测试的开路测试原理和针床的测试原理是相同的，通过两根探针同时
接触网络的端点进行通电，所获得的电阻与设定的开路电阻比较，从而判断开路与否。但短
路测试原理与针床的测试原理是不同的。由于测试探针有限（通常为4∽32根探针），同时
接触板面的点数非常小（相应4∽32点），若采用电阻测量法，测量所有网络间的电阻值，
那么对具有N个网络的PCB而言，就要进行N2/2次测试，加上探针移动速度有限，一般
为10点/秒到50点/秒，不同的测试方法有：充/放电时间（Charge/discharge rise time）法、
电感测量(Field measurement)法、电容测量(Capacitance measurement)法、相位差
(Phase difference)和相邻网(Adjacency)法、自适应测试(Adaptive measuring)法等等。飞针测试
机
1.1充/放电时间法
每个网络的充/放电时间（也称网络值，net value）是一定的。如果有网络值相等，它们
之间有可能短路，仅需在网络值相等的网络测量短路即可。它的测试步骤是，首件板：全开
路测试→全短路测试→网络值学习；第二块以后板：全开路测试→网络值测试，在怀疑有短
路的地方再用电阻法测试。这种测试方法的优点是测试结果准确，可靠性高；缺点是首件板
测试时间长，返测次数多，测试效率不高。
1.2电感测量法
电感测量法的原理是以一个或几个大的网络（一般为地网）作为天线，在其上施加信号，
其他的网络会感应到一定的电感。测试机对每个网络进行电感测量，比较各网络电感值，若
网络电感值相同，有可能短路，再进行短路测试。这种测试方法只适用于有地电层的板的测
试，若对双面板（无地网）测试可靠性不高；在有多个大规模网络时，由于有一个以上的探
针用于施加信号，而提供测试的探针减少，测试效率底，优点是测试可靠性较高，返测次数
低。
1.3电容测量法
这种方法类似于充/放电时间法。根据导电图形与电容的定律关系，若设置一参考平面，
导电图形到它的距离为L，导电图形面积为A，则C=εA/L。如果出现开路，导电图形面积
减少，相应的电容减少，则说明有开路；如果有两部分导电图形连在一起，电容响应增加，
说明有短路。在开路测试中，同一网络的各端点电容值应当相等，如不相等则有开路存在，
并记录下每个网络的电容值，作为短路测试的比较。这种方法的优点是测试效率高，不足之
处是完全依赖电容，而电容受影响因数较多，测试可靠性低于电阻法，特别是关联的电容和
二级电容造成的测量误差，端点较少的网络（如单点网络）的测试可靠性较低。
1.4相位差方法
此方法是将一个弦波的信号加入地层或电层，由线路层来取得相位落后的角度，从而取
得电容值或电感值。测试步骤是首件板先测开路，然后测其他网络的相位差值，最后测短路；
第二块以上板先测开路，再测网络相位差值，对有可能的短路再用电阻法测试验证。这种方
法的优点是测试效率较高，可靠性高；不足之处是只适合测4层以上的板，如测双面板只能
用电阻法。
1.5自适应测试法
自适应测试法是每个测试应用过程都是一次测试完成后，根据扳子具体情况和测试规
范，设备自己选择适当的测试过程，如一个网络的网络值（充电时间或电容等）小于设备测
试误差，设备会自动采用电阻测试和电场测试。这种测试方法速度最快，测试效果最好。
特征：
1．花岗岩平台
机器平台是花岗岩结构，长年使用不会变形。永久保持结构平面精度和高精度测针定位
2．测试可靠性高
对易于充电荷的电容，装载了自动放电功能，在测试时保护测定部. LRC元器件的测定
信号的全部模式、量程都在0.3V以下,不会对IC产生任何不良影响.
3. 测试程式简单制作
具有基准值产生功能和数据编程功能, 还可表示测定波形和周遍电路图
测试数据的编程和调整都可在短时间内完成
测试坐标的修改和变更可利用屏幕坐标图边看边做, 简单易行
4. 接触不良重测功能
备有四方向测针微小移动,自动再检测功能,以防止产生误判定
5. 影象辨识系统/高亮度双色LED照明
以CCD摄像器和光学影象辨认系统对坐标进行补正,解决被测板自身的倾斜和伸缩问
题
对因回路原因而不能进行电测的元器件,可进行器件有无,种类和装配方向的光学检测
机内在不同角度装有四个红,蓝两色的LED照明单元,可按被测元器件的颜色,形状和项
目调整亮度,进行最佳设定.影象辨识能力的可靠性高.
6. IC开路测试系统(选件)
装有2枚以独立技术开发的传感棒,以电气方式检测出QFP和SOP的IC焊接浮脚.测试
时不受引脚形状和焊盘尺寸的限制, SOJ,BGA 等各种IC焊接浮脚也能测出
7. 备有自动传送系统
8. 具备各种自动检测功能
9. 机器占地面积很小(W1,090×D850×H1,175 mm)
10.小型板专用测试机(可测板最大尺寸330×250 mm)
应用实例
l 高密度SMT 电路板的测试
l 试产电路板的测试
l 中、小批量电路板的测试
l 高质量要求的产业机器用电路板之测试
l 大量电路板生产线的定期抽样检测
l 经常进行设计变更的电路板之检测
l 贴片机试贴元器件之确认检测