TEC5实验四

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实验差热分析

实验差热分析

实验 差热分析一、实验目的1、熟悉和把握差热分析仪的工作原理、仪器结构和大体操作技术。

2、用差热分析方式测定硝酸钾晶型转变温度,和五水合硫酸铜的脱水进程。

二、实验原理差热分析也称差示热分析,是在温度程序操纵下,测量物质与基准物(参比物)之间的温度差随温度转变的技术。

试样在加热(冷却)进程中,凡有物理转变或化学转变发生时,就有吸热(或放热)效应发生,假设以在实验温度范围内不发生物理转变和化学转变的惰性物质作参比物,试样和参比物之间就显现温度差,温度差随温度转变的曲线称差热曲线或 DTA 曲线。

差热分析是研究物质在加热(或冷却)进程中发生各类物理转变和化学转变的重要手腕。

熔化、蒸发、升华、解吸、脱水为吸热效应;吸附、氧化、结晶等为放热效应;分解反映的热效应那么视化合物性质而定。

要弄清每一热效应的本质,还需借助其他测量手腕如热重量法、X 射线衍射、、化学分析等。

时间 t 温度 T温差 ΔT a b cd e fg h放热吸热示温曲线差热曲线图1 差热分析原理框图及示温曲线和差热曲线将样品和基准物置于相同的线性升温加热条件下(如图1中的示温曲线),当样品没有发生转变时,样品和基准物温度相等(ab 段,此段也称为基线),二者的温差ΔT 为零(由于样品和基准物热容和受热位置不完全相同,事实上基线略有偏移);当样品产生吸热进程时,样品温度将低于基准物温度,ΔT 不等于零,产生吸热峰bcd ;通过热传导后,样品和基准物的温度又趋于一致(de 段);当样品产生放热进程时,样品温度将高于基准物温度,在基线的另一侧产生放热峰efg。

在测量进程中,ΔT由基线到极值又回到基线,这种温差随时刻转变的曲线称为温差曲线。

由于温度和时刻具有近似线性的关系,也能够将温差曲线表示为温差随温度转变的曲线。

三、仪器与试剂ZCR差热实验装置(南京桑力电子设备厂),电子天平,采样及数据分析运算机,氧化铝坩埚(54)。

同步热分析仪 (STA 409 PC,德国耐驰仪器制造)。

三位一体四段式——教学模式的探索

三位一体四段式——教学模式的探索

践 ” 个 阶 梯循 序 渐 进 。 如 : 计 算 机 网 络 践 ” 四 例 《 四个 阶 梯 循 序 渐进 。 整 个 教学 过 程是 在 都 贯 穿 实 验 课 是 为 理 解 理 论 , 下 一环 节 为 的 技 能 训 练打 基 础 , 终 达 到 设 计 能 力 的 最 ( ) 摩 : 要 是 三 种 方式 , 拟 场 景 、 1观 主 模
根 据 高 等 职 业 教 育 的 培 养 目标 和 特 践 教 学 的 有 机 整 体 , 四 段 式 ” “ 就是 实 践 教 考 核 。 征 , 高 职 院校 中大 力 提 倡 和 推 崇 , 论 结 学 按 照认 知 规 律 “ 识 任 务 、 在 理 认 理论 教 学 及 实
合实际的教学方式 , 强调 学 生 对 课 程 的 实 际 应 用 能 力 和 实 践 能 力 的 培 养 , 大 部 分 即 验 验 证 理 解 、 能 训 练 实 训 、 计 能 力 实 技 设
鱼:
Sci ence an Tec d hnol ogy nno I vaton i Her d al
三位 一体 四段 式——教 学模 式 的探 索
王 桃
创 教 新 育
( 海南职业 技术学院 海 南海 口 5 0 0 ) 2 3 7
摘 要: 本文主要阐述 了 目前 高等职业技术 学校开设的理论 与实践课程 , 针对教 师如何实施理论 , 实验验证理解 能训练 实训、 计能力 技 设 实践 等的教 学方法 问题 阐述 了自己的观点 。 针对 高校教 师如何 充分利 用社会环境 , 学校 实验 与教学相结合进行教 学改革创新做一 些探讨 。 关键 词 : 学模式 观摩 理论 实验 学习方式 教 中图分类号 : 4 G 0 6 文 献标 识码 : A 文章编号 : 4 0 8 ( 0 )0 c一 1 6 0 1 7 — 9 X 2 1 1 () 0 — 1 6 o 7

实验二运算器实验

实验二运算器实验

实验二运算器实验实验二运算器am2901实验该实验操作不需用到电脑,不需实现电脑和实验箱的连接,操作全部在实验箱上完成。

实验过程当中,必须认真展开,避免损毁设备,分析可能将碰到的各种现象,推论结果与否恰当,记录运转结果。

实验目的:1、深入细致介绍am2901运算芯片的功能、结构;2、深入细致介绍4片am2901的级联方式;3、深化运算器部件的组成、设计、控制与使用等知识。

教学计算机的运算器部件主体由4片4位的运算器芯片am2901彼此串联形成,它输入16位的数据运算的结果(用y则表示)和4个结果特征位(用cy,f=0000,over,f15则表示)。

它的输出(用d则表示)就可以源自于内部总线。

确定运算器运算的数据来源、运算功能、结果处置,需要使用控制器提供的i8~i0、b3~b0、a3~a0共17个信号。

运算器的输入轻易相连接至地址寄存器ar的输出插槽,用作提供更多地址总线的信息来源。

运算器的输入还经过两个8位的244器件的掌控(采用dc1译码器的ytoib#信号)被送至内部总线ib,用作把运算器中的数据或者运算结果载入内存储器或者输入输出USB芯片。

运算器产生的4个结果特征位的信息需要保存,为此设置一个4位的标志寄存器flag,用于保存这4个结果特征信息,标志寄存器的输出分别用c、z、v、s表示。

控制标志寄存器何时和如何接收送给它的信息,需要使用控制器提供的sst2~sst0三位信号。

运算器还须要按照指令继续执行的建议,正确地获得最高位的位次输出信号,最高位和最低位的移位输出信号,为此须要布局另一个shift的线路,在控制器提供更多的ssh和sci1~sci0三位信号的掌控下,产生运算器最高位的位次输出信号,最高位和最低位的移位输出信号。

相关器件:4片am2901(alu)两片ar(74ls374)一片flag(gal20v8)一片shift(gal20v8)2片244(alutoib,74ls244)2个12位微动开关(红色)3个手动掌控信号内存芯片(hand,74ls240)am2901芯片的结构和功能:参考教材附录部分芯片具体内容线路表明:1、芯片输出受oe#信号控制,仅当其为低电平时,才有y值正常逻辑信号输出,否则输出为高阻态。

5饲料粗纤维测定

5饲料粗纤维测定

酸性洗涤剂溶解物(ADS) (半纤维素)
残渣 (木质素和硅酸盐)
溶解物 (纤维素)
Van Soest纤维素
分析方案
烧尽(逸出) 酸性洗涤木质素(ADL)
残渣 (灰分、硅酸盐)
滤袋技术在纤维测定中的应用




滤袋技术(FBT)是20世纪90年代初发展起来的一 种简便易行,高效准确分析技术。 该项技术目前主要应用于饲料和食品中粗纤维 (CF),中性洗涤纤维(NDF)、酸性洗涤纤维 (ADF)的测定。 1993年美国康奈尔大学和加拿大共同合作,开发了 Ankom纤维测定仪,获得专利。 自1996年以来,在世界上75个国家广泛的应用(美 国、法国、加拿大、意大利、澳大利亚等)。
一滴防泡沫剂(不宜过多, 过多使测定结果偏高);用 蜡笔在液面处划一刻度线, 同时加玻璃盖或连接回流冷
电 炉 消 煮
凝管;
抽滤布氏漏斗、高角烧杯
2 )将高角烧杯立即放电炉上加热,在 1-2 分 钟内沸腾,然后用小火继续沸腾 30 分钟( 保持沸腾状态);
注意:在加热过程中,使
溶液保持浓度不变,如有
H2SO4溶液ML 20
NaOH溶液毫升数 20
2、硫酸(H2SO4)溶液配制:
﹡配制1000ML 0.255 N H2SO4 取多少毫升? 量取7ML H2SO4 溶于1000ML蒸馏水中。 ﹡标定H2SO4溶液(用0.315 N NaOH 标准溶液) 量取20MLH2SO4溶液—加2滴0.2%甲基橙指 示剂,用0.315 N NaOH 溶液滴定ML数? (16ML) N H2SO4=NaOH当量浓度×消耗NaOH ML = 0.315×16 = 0.252
测定原理(续)

应用酸性洗涤剂可将NDF各组分进一步细

微程序控制实验报告(共10篇)

微程序控制实验报告(共10篇)

微程序控制实验报告(共10篇)微程序控制器实验报告计算机组成原理实验报告一、实验目的:(1)掌握微程序控制器的组成原理。

(2)掌握微程序的编制、写入,观察微程序的运行过程。

二、实验设备:PC 机一台,TD-CMA 实验系统一套。

三、实验原理:微程序控制器的基本任务是完成当前指令的翻译和执行,即将当前指令的功能转换成可以控制的硬件逻辑部件工作的微命令序列,完成数据传送和各种处理操作。

它的执行方法就是将控制各部件动作的微命令的集合进行编码,即将微命令的集合仿照机器指令一样,用数字代码的形式表示,这种表示称为微指令。

这样就可以用一个微指令序列表示一条机器指令,这种微指令序列称为微程序。

微程序存储在一种专用的存储器中,称为控制存储器,微程序控制器原理框图如图所示:微程序控制器组成原理框图在实验平台中设有一组编程控制开关KK3、KK4、KK5(位于时序与操作台单元),可实现对存储器(包括存储器和控制存储器)的三种操作:编程、校验、运行。

考虑到对于存储器(包括存储器和控制存储器)的操作大多集中在一个地址连续的存储空间中,实验平台提供了便利的手动操作方式。

以向00H 单元中写入332211 为例,对于控制存储器进行编辑的具体操作步骤如下:首先将KK1 拨至‘停止’档、KK3 拨至‘编程’档、KK4 拨至‘控存’档、KK5 拨至‘置数’档,由CON 单元的SD05——SD00 开关给出需要编辑的控存单元首地址(000000),IN 单元开关给出该控存单元数据的低8 位(00010001),连续两次按动时序与操作台单元的开关ST(第一次按动后MC 单元低8 位显示该单元以前存储的数据,第二次按动后显示当前改动的数据),此时MC 单元的指示灯MA5——MA0 显示当前地址(000000),M7——M0 显示当前数据(00010001)。

然后将KK5 拨至‘加1’档,IN 单元开关给出该控存单元数据的中8 位(00100010),连续两次按动开关ST,完成对该控存单元中8 位数据的修改,此时MC 单元的指示灯MA5——MA0 显示当前地址(000000),M15——M8 显示当前数据(00100010);再由IN 单元开关给出该控存单元数据的高8 位(00110011),连续两次按动开关ST,完成对该控存单元高8 位数据的修改此时MC 单元的指示灯MA5——MA0 显示当前地址(000000),M23——M16 显示当前数据(00110011)。

印度电信TEC认证介绍

印度电信TEC认证介绍

CERTIFICATION & MARKS54SAFETY & EMC No.1 20211 概述近几年印度政府提高了产品认证的准入要求,针对电信类设备设立了强制认证法规。

印度电信局于2017年在印度通讯法规中提出所有通讯设备必须获得强制性认证,才可以出售、进口和销售。

但该法规的强制实施一直延期,2019年以前,TEC 认证都作为自愿性产品的注册认证。

直到2019年7月印度官方发布通告,TEC 认证将于2019年9月1日起强制实施。

TEC 是印度政府电信局的一个分支机构,管控所有电信网络服务设备,负责颁布制定电信产品所有法规、标准与计划文件,并管控认证的审核、证书的发放以及市场监督。

TEC 认证在印度本地叫MT&CTE(Mandatory Testing & Certification of Telecom Equipment)认证,即“电信设备强制测试认证”。

最初TEC 是认证的发证机构,由于这个认证的标识是TEC logo,因此简称TEC 认证(见图1)。

但印度官方的叫法仍然是MT&CTE 认证。

2 认证模式及产品类别目前,根据产品的不同,TEC 将产品分为简化认证模式(SCS)产品(如:网络电话、无绳电话、会议电话、Moden、POS 机等)和通用认证模式(GCS)产品(如:路由器、移动电话、基站、网关、服务器、机顶盒、射频移动通讯设备等)。

TEC 认证的产品范围如表1所示。

摘要TEC(印度电信工程中心)是印度政府面向所有电信类设备设立的一个认证类型,目前已是印度强制性认证。

对TEC 认证的基本情况、测试内容与条目、基本流程以及注意事项进行了介绍,旨在为后续相关研究测试提供参考。

关键词印度;认证;TEC ;简化认证模式;通用认证模式AbstractTEC (Indian Telecommunication Engineering Center) is a certification type set up by the Indian government for all telecommunication equipment, which is now mandatory in India. This paper introduces the basic situation of TEC certification, test content and items, basic process and precautions, in order to provide reference for subsequent research and testing.KeywordsIndian; certification; TEC; simplified certification scheme; general certification scheme印度电信TEC 认证介绍Introduction to TEC Certification of India Telecom中兴通讯南京研发中心 徐加征图1 TEC认证标志示意图注:图中的o 点是以T 和P 为坐标轴的椭圆圆心。

TEM-操作规范

查看仪器控制面板上的指示灯(正常情况为On 灯灭,Of 、Vac 和 HT 灯亮)。

A 口口查看样品台的指示灯(正常情况指示灯不亮)检查空调、冷却水机、空气压缩机、不间断电源及其他相关设备仪表的工作状况,确保 其正常运行。

检查实验器材(样品杆、镊子、杜瓦瓶、投影室视窗)是否有损坏。

检查仪器使用日志。

二、登陆用户界面(User In terface )在登陆界面输入用户名和密码(直接进入,现在没设)。

启动主程序 Tec nai User In terface (一般是开启状态)。

再次检查仪器是否处于正常状况。

确认Column Valves Closed 按钮处于关闭状态(黄色)。

查看真空和高压值是否正常:真空:在Tec nai User In terface 软件中,在 Setup Vacuum 控制面板中:Gun ⑴,Column (6), Camera (30-32)的压力指示条都应该是绿色的才为正常。

高压:在 TecnaiUser In terface 软件中,在 Setup HighTe nsio n 控制面板中:在正常情况 下,High Tension 指示条为黄色,高压指示值为 200kV (高压平时一直加到 200kV )。

FEG Control 控制面板中,Op erate 是黄色的(灯丝开启状态)。

查看样品台位置是否正常。

<注意事项>1. TEM 操作程序(笔记)检查仪器是否运行正常1. 2. 3.① ② ③d I --I T和 心 1代 ■■ Vrm ■上二^—-3*5 1 石.I I -J 1 I I . r1 绘I I ・■■* . ■■ ▼JnT£M Bn^nt AridSA 逊B[ it 宙.a 二a. 皿*曲 _1. 2. 3. 4. 5. 6. Vacuum 中,Status 显示为COL.V ALVES , Gun 的真空值必须为 1, Column 值必须为6, camera值小于40。

价层电子对互斥模型

价层电子对互斥模型英文:(valence-shell electron-pair repulsion model) (VSEPR)简称: VSEPR概念:VSEPR模型是将共用电子对与孤对电子的概念,与原子轨道的概念相结合,且电子斥力达到最小。

在这个模型中电子对相互排斥,成键电子与孤对电子距离越远越好。

VSEPR模型以最简单的方法形象化了化学变化,也很容易判断物质的空间构型。

简介在1940年,希吉维克(Sidgwick)和坡维尔(Powell)在总结实验事实的基础上提出了一种简单的理论模型,用以预测简单分子或离子的立体结构。

这种理论模型后经吉列斯比(R.J,Gillespie)和尼霍尔姆(Nyholm)在20世纪50年代加以发展,定名为价层电子对互斥模型,简称VSEPR(Valence Shell Electron Pair Repulsion)。

价层电子对互斥理论(英文VSEPR),是一个用来预测单个共价分子形态的化学模型。

理论通过计算中心原子的价层电子数和配位数来预测分子的几何构型,并构建一个合理的路易斯结构式来表示分子中所有键和孤对电子的位置。

同时,也是一种较简便的判断共价分子几何形状的方法,该理论紧紧抓住中心原子价层电子对数目这一关键因素,运用分子的几何构型取决于价层电子对数目这一假设,成功的解释并推测了许多简单分子的几何形状.常见分子构型二氧化硫 4sp3杂化正四面体 0 正四面体甲烷 1 三角锥氨 2V字型水 5sp3d 三角双锥 0 三角双锥 PCl5 1 变形四面体(跷跷板型) TeCl4 2T字型 ClF3 3 直线型I3 6sp3d2 正八面体 0 正八面体六氟化硫 1 四方锥 IF5 2 平面四边形 ICl4 3T字型 4 直线型 7sp3d3五角双锥 0 五角双锥 IF7AXE方法价层电子对互斥理论常用AXE方法计算分子构型。

这种方法也叫ABE,其中A代表中心原子,X或B代表配位原子,E代表孤电子对。

MC9S08DZ学习板说明书

H 2.5 跳线说明 C z HCS08 Open Source BDM E 1) 正常使用时 J1,J2 的 2,3 短接
2) J3 与 MC9S08DZ 部分的 J1 用线缆连接,要求一一对应
T 3) SW5 的使用:在调试过程中,当目标 MCU(即 MC9S08DZ 部分的 MCU)进入不了后台调试 模式(BDM)时,可使用该按键强制目标 MCU 进入 BDM。 E 方法:断开 USB 数据线,按下 SW5(不松开),然后把 USB 数据线连接到 JP1,几秒种后
泰 实验十四 SPI 接口--------------------------------------------102
实验十五 数码管实验------------------------------------------109 实验十六 单线协议 LIN 实验----------------------------------------------110
参见 MC9S08DZ 学习板顶层.pdf;MC9S08DZ 学习板顶层丝印层.pdf;MC9S08DZ 学 习板底层.pdf。
13
2.3 主要器件
参见 HCS08-DEMO 料单.pdf 和 MC9S08DZ 料单.pdf。
2.4 外围接口
MC9S08DZ 学习板主要配用 5 条线缆:USB 数据线连接 PC 的 USB 接口和学习板的 JP1;串口线连接 PC 的串口和学习板的 JP2;6 芯线缆连接 HCS08-DEMO 板的 J3 与 MC9S08DZ 的 J1。3p 的线缆联接子板进行 lin 和 can 的通讯。
实验十二 ADC 实验----------------------------------------------------------------83 实验十三 IIC 模块实验------------------------------------------------------------94

直播堂41


直播课堂内容
1. 布置控制器教学实验 2. 布置内存扩展教学实验 布置串行接口入出教学实验 3. 布置第四、五章作业 4. 第四、五章教学内容辅导
1.控制器教学实验
(1) 教学实验计算机介绍
有 8位 或 16位两种字长, 可以选组合逻辑的控制器、 或是微程序的控制器方案。 有监控程序、交叉汇编程序、 和 PC仿真终端 等软件支持。
AB k 位(给出地址) DB n 位(传送数据)
CPU
READ
Main Memory
设计用串口完成I/O操作的程序
(3)教学实验步骤
学懂教材中使用串行接口的程序, 学习查询串行口运行状态的方法,
用状态查询方式使用IN、OUT指令。 写出几个小的完成输入/输出操作
功能的程序,具体内容自己确定。
3.第四章作业
第四章习题中的 第1题, 第 2题,第 3题, 第6题, 第12题,第13题, 第27题,第31题。 (8个作业题均必做)
第四章 多级结构的存储器系 统
一. 二. 三. 四. 五.
层次存储器系统概述 主存储器部件 高速缓存CACHE 虚拟存储器部件 外存储器设备 阵列技术与容错
一. 层次存储器系统概述 1. 概念与追求的目标 2. 程序运行的局部性特性 3. 各层存储器所用介质其 特性 4.一致性、包含性
层次存储器系统概述
再扩展出 2KB 的 RAM存储空间, 用 LS6116(20488)静态存储
器芯片进行内存容量扩展。
(3)教学实验步骤
学懂教学计算机内存储器设计,
把新的一片 LS6116芯片插到板上。 主要工作是接好该芯片的地址线,
数据线,片选和读写控制信号等。
对硬件进行调试,并在程序中使用 这片存储区,检查读写的正确性。
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实验四 CPU组成与机器指令执行周期实验 一、实验目的 1. 将微程序控制器同执行部件(整个数据通路)联机,组成一台模型计算机。 2. 用微程序控制器控制模型计算机的数据通路。 3. 通过TEC-5执行由8条机器指令组成的简单程序,掌握机器指令与微指令的关系,牢固建立计算机的整机概念。

二、实验电路 本次实验将前面几个实验中的所有电路,包括运算器、存储器、通用寄存器堆、微程序控制器等模块组合在一起,构成一台简单的模型机。因此,在基本实验中,这是最复杂的一个实验,也将是最有收获的一个实验。 在前面的实验中,实验者本身作为“控制器”,完成了对数据通路的控制。而在本次实验中,数据通路的控制将交由微程序控制器来完成。TEC-5从内存中取出一条机器指令到执行指令结束的一个指令周期,是由微程序完成的,即一条机器指令对应一个微程序序列。

三、实验设备 1. TEC-5计算机组成原理实验系统1台 2. 逻辑测试笔一支(在TEC-5)上 3. 双踪示波器一台(公用) 4. 直流万用表一只(公用) 四、实验任务 1. 对机器指令组成的简单程序进行译码。将下表的程序按机器指令格式手工汇编成二进制机器代码,此项任务请在预习时完成。

内存地址 机器指令 机器代码(十六进制表示) 00H ADD R1, R0 01H JC R3 02H STA R1, [R2] 03H LDA R2, [R2] 04H AND R2, R0 05H SUB R2, R3 06H OUT R2 07H STP

2. 按照下面框图,参考前面实验的电路图完成连线,工作量大概是:控制台、时序部件、数据通路和微程序控制器之间的连线。控制器是控制部件,数据通路是执行部件,时序发生器是时序部件。注意通用寄存器堆RF的RD1、RD0、RS1、RS0、WR1、WR0与IR3-IR0间的连线。 控制台时序发生器数据通路微程序控制器

指令代码、条件信号

控制信号

控制信号时序信号

开关控制时序信号

开关控制

指示灯信号

图3.9 模型机连线示意图 3. 将任务1中的程序代码用控制台指令存入内存中,并根据程序的需要,用数码开关SW7-SW0设置通用寄存器的数据。注意:由于设置通用寄存器时会破坏存储器单元的数据,因此应先设置寄存器中的数据,再设置存储器中的程序和数据。要求使用两组寄存器数据,一组寄存器数据在执行 ADD R1,R0指令时产生进位,一组寄存器数据在执行ADD R1,R0指令时不产生进位,以观察同一程序程序的不同执行流程。 4. 用单拍(DP)方式执行一遍程序,记录最后得到的四个寄存器的数据,以及由STA指令存入RAM中的数据,与理论分析值比较。执行时注意观察各个指示灯的显示,以跟踪程序执行的详细过程(可观察到每一条微指令的执行过程)。 5. 用连续方式再次执行程序。这种情况相当于计算机正常的工作。程序执行到STP指令后自动停机。读出寄存器中的运算结果,与理论值比较。 五、实验要求 1. 务必做好实验预习,这样在实验中才能做到头脑清醒、思路清晰、忙而不乱、心中有数。 2. 根据实验任务的要求,预习时做好必要的准备,填好相关表格、数据和理论分析值,以便与实验值对照。 3. 本次实验接线较多,务必仔细,以免因接线错误导致控制出错,影响实验进度。 4. 写出实验报告,内容是: (1) 实验目的。 (2) 实验任务1-5中的数据表格。 (3) 值得讨论的其他问题。 六、实验步骤和实验结果 (1)按照表1中的指令格式与功能对表2中的机器指令组成的简单程序进行译码。

(1)按照表1中的指令格式与功能对表2中的机器指令组成的简单程序进行译码。 表1 指令格式与功能 名称 助记符 功能 指令格式 IR7 IR6 IR5 IR4 IR3 IR2 IR1 IR0 加法 ADD Rd, Rs Rd + Rs→Rd 0 0 0 0 Rs1 Rs0 Rd1 Rd0 减法 SUB Rd, Rs Rd - Rs→Rd 0 0 0 1 Rs1 Rs0 Rd1 Rd0 逻辑与 AND Rd, Rs Rd & Rs→Rd 0 0 1 0 Rs1 Rs0 Rd1 Rd0 存数 STA Rd, [Rs] Rd→[Rs] 0 0 1 1 Rs1 Rs0 Rd1 Rd0 取数 LDA Rd, [Rs] [Rs]→Rd 0 1 0 0 Rs1 Rs0 Rd1 Rd0 条件转移 JC R3 若C=1 则R3→PC 0 1 0 1 1 1 × ×

停机 STP 暂停执行 0 1 1 0 × × × × 输出 OUT Rs Rs→DBUS 0 1 1 1 Rs1 Rs0 × × 表2 机器指令程序 内存地址 机器指令 机器代码(十六进制表示) 00H ADD R1, R0 01H JC R3 02H STA R1, [R2] 03H LDA R2, [R2] 04H AND R2, R0 05H SUB R2, R3 06H OUT R2 07H STP

(2)接线 本实验接线比较多,需仔细。 接 线 表 控制器 LDIR PC+1 LDPC# AR+1 LDAR# LDDR1 LDDR2 LDRi 数据通路 LDIR PC+1 LDPC# AR+1 LDAR# LDDR1 LDDR2 LDRi

控制器 SW_BUS# Rs_BUS# ALU_BUS# RAM_BUS# CER# CEL# 数据通路 SW_BUS# Rs_BUS# ALU_BUS# RAM_BUS# CER# CEL#

控制器 LR/W# Cn# M S0 S1 S2 S3 数据通路 LR/W# Cn# M S0 S1 S2 S3

控制器 进位C IR7 IR6 IR5 IR4 数据通路 进位C IR7 IR6 IR5 IR4

数据通路 IR3 IR2 IR1 IR0 IR1 IR0 数据通路 RS1 RS0 RD1 RD0 WR1 WR0

控制器 TJ 时序电路 TJ 只要把上表种同列的信号用线连接即可,一共接线33条。 接好线后,将编程开关拨到“正常位置”。合上电源,按CLR#按钮,使TEC-5实验实验系统处于初始状态。

(3)存程序代码,设置通用寄存器R0、R1、R2和R3的第一组值及存储器相关单元的数据。 本组的寄存器数据是R0=35H,R1=43H,R2=10H,R3=07H。存储器10H单元的内容为55H。选择这组数据的目的是执行ADD R1,R0指令时不产生进位C,从而在执行JC R3指令时不产生跳转,而是顺序执行。

● 设置通用寄存器R0、R1、R2和R3的值 在本操作中,我们打算使R0=35H,R1=43H,R2=10H,R3=07H 1.令DP=0,DB=0,使系统处于连续运行状态。令SWC=0,SWB=1,SWA=1,使系统处于写寄存器状态WRF。按CLR#按钮,使实验系统处于初始状态。 2. 在SW7—SW0上设置一个存储器地址,该存储器地址供设置通用寄存器使用。该存储器地址最好是不常用的一个地址,以免设置通用寄存器操作破坏重要的存储器单元的内容。例如可将该地址设置为0FFH。按一次QD按钮,将0FFH写入左端口地址寄存器AR。 3. 在SW7—SW0上设置00H,作为通用寄存器R0的寄存器号。按一次QD按钮,将00H写入指令寄存器IR。 4. 在SW7—SW0设置35H,按一次QD按钮,将35H写入IR指定的R0寄存器。 5. 在SW7—SW0上设置01H,作为通用寄存器R1的寄存器号。按一次QD按钮,将01H写入指令寄存器IR。 6. 在SW7—SW0设置43H,按一次QD按钮,将43H写入IR指定的R1寄存器。 7. 在SW7—SW0上设置02H,作为通用寄存器R2的寄存器号。按一次QD按钮,将02H写入指令寄存器IR。 8. 在SW7—SW0设置10H,按一次QD按钮,将10H写入IR指定的R2寄存器。 9. 在SW7—SW0上设置03H,作为通用寄存器R3的寄存器号。按一次QD按钮,将03H写入指令寄存器IR。 10. 在SW7—SW0设置07H,按一次QD按钮,将07H写入IR指定的R3寄存器。 设置寄存器内容完毕。按CLR#按钮,使系统恢复到初始状态。 注意:设置完R0、R1、R2、R3的值后,最好用读寄存器控制台操作检查一下写入的内容是否正确。读寄存器内容的控制台操作见第一章的第七部分控制台。

● 存程序机器代码 本操作中,我们从00地址开始存8个机器代码:01H,5CH,39H,4AH,22H,1EH,78H,60H。在10H单元存入55H,作为10H单元的初值,以检查LDA和STA两条指令的作用。 1. 令DP = 0,DB = 0,使实验系统处于连续运行状态。令SWC = 0、SWB = 0、SWA = 1,使实验系统处于写双端口存储器工作方式WRM。按CLR#按钮,使实验系统处于初始状态。 2.置SW7—SW0为00H,按QD按钮,将00H写入左端口地址寄存器AR。 3.置SW7—SW0 为01H,按QD按钮,将01H写入存储器00H单元。AR自动加1,变为01H。 4.置SW7—SW0 为5CH,按QD按钮,将5CH写入存储器01H单元。AR自动加1,变

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