X射线衍射分析
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编，称JCPDS卡，至2005年已搜集到无机 物、有机物近10万张卡片，而且还在不断 增补。
10
d 1a 1b 1c 1d 7
I/I1 2a 2b 2c 2d 8
RedλFilterDia
dÅ I/I1 hkl dÅ I/I1 hkl
Cut.offInt.I/I1
Ref.
3
Sys. S.G.
9
A0 b0 c0 A C
2.用数字索引进行鉴定:样品的化学成分未知 步骤：
• 测定样品的衍射谱，确定所有衍射线的d/I值； • 根据最强线的d值，在索引中找到所属的组，再根据d2 和d3找到其中的一行； • 比较此行中的三条线，看其相对强度是否与试样的三 强线基本一致，再看其余五条线，如d/I基本一致，即可 初步断定未知物质中含有卡片所记载的这种物相； • 根据索引中查找的卡片号，将该卡片上全部d/I与试样 的d/I对比，如果完全吻合，则试样中含有卡片记载的物 相。 •若被测物由多个物相组成，去除已检出物相的衍射线后 再按上述步骤进行检索鉴定出其它各物相。
三．晶系 根据晶体的对称性，可将晶体分为七个晶系。
1·三斜晶系（triclinic）a≠b≠c,≠≠≠90 2·单斜晶系(monoclinic)a≠b≠c,==90≠ 3·六方晶系(hexagonal)a=b≠c,==90=120 4·三方晶系(rhombohedral or trigonal)a=b=c,==≠90 5·正交晶系(orthorhombic)a≠b≠c,===90 6·四方晶系(tetragonal)a=b≠c,===90 7·立方晶系(cubic)a=b=c,===90
索引分为名称索引和分子式索引。 •名称索引：编排顺序和格式同无机物的字
母索引 •分子式索引：按碳原子数排列，碳原子数相
同，按氢原子数排列，氢原子数相同，按分子式 中第三个字母字顺排列。每条格式为：规格、分 子式、化合物名称、三条最强线的d值和强度、 卡片号。
四．物相鉴定（物相定性分析）方法
1.用字母索引进行鉴定:被测物的化学成分已知 步骤: • 测定样品的衍射谱，确定各衍射线的d/I值； • 按照可能含有的物相的英文名称，与字母索引中 的三强线数据对比，找出相应的卡片； • 将实验测得的d/I值与卡片中的d/I值一一对比， 若卡片的数据与样品衍射谱中的数据吻合，即待测 样品中含有卡片记载的物相。 • 若被测物由多个物相组成，则整个样品的衍射谱 图是各物相衍射谱图的简单迭加，同理，可将其它 物相一一检出。
6栏：样品的化学成分，样品的来源等。 7栏：样品的化学式和名称。 8栏：样品的矿物学名称或通用名称，有机物为结 构式，‘’号表示卡片数据高度可靠；‘o’表示 数据可靠性差；‘i’表示数据比无记号的质量高； ‘c’表示数据是计算值。 9栏：样品各衍射线的面间距d值，相对强度I/I0 值和衍射指数hkl值。 10栏：卡片序号，若某物质需两张卡片，则第二 张在序号之后以a指示。
四.样品测定
为保证测量数据准确可靠，一般使用 背压法制样，同一样品制备三只，每只
样品重复测试三次，求其平均值。
线宽法测平均晶粒大小
晶粒小于200nm以下，能够引起衍射峰宽化，晶粒越细峰越宽， 小到几个nm时，衍射线过宽而消失在背底中。晶粒大小和衍射线 变宽间的定量关系，可由Scherrer公式计算：
五.几点说明
1.由于实际实验条件与卡片上注明的实验条件不 会完全一致，而且测定的衍射数据和卡片记载的 数据都会有一定的误差，使得实验得到的d值与 卡片上的d值不完全相等，允许有一定的误差。 2.因为影响衍射强度的因素比较复杂，所以在分 析时以d值为主，I值作为参考。 3.当混合物中某相的含量很少或某相衍射能力很 弱时，它的衍射线条可能难于显现，因此，X射 线衍射分析只能肯定某相的存在，而不能确定某 相的不存在。 4.任何方法都有局限性，有时X射线衍射分析要 与其它方法配合才能得出正确结论。
晶体对X射线的衍射
联系衍射方向和晶胞大小形状间关系的方程
1. Laue方程：以直线点阵为出发点 2. Bragg方程：以平面点阵为出发点
两个方程等效
布拉格（Bragg）方程
X射线入射到晶体上，对于一族（hkl）平 面中的一个点阵面来说，若要求面上各点的 散射线同相，互相加强，则要求入射角和衍 射角相等，入射线、衍射线和平面法线在同 一平面内。
氟化钾的标准卡片
三．卡片索引 为了从几万张卡片中快速找到所需卡片，必
须使用索引。索引有二种：
1.Hanawalt数字索引 每条的格式为：规格、8条最强线的d值和相对强 度、分子式、卡片号。 规格表示该卡片的可靠性符号，d值的下标代表 相对强度，八个d值中的前三个是2<90的三条最 强线的d值。 数字索引的编排顺序：先按八个d值中的第一个d 值的大小范围分组，在同一组中，按第二个d值 由大到小顺序往下排，第二个d值相同，按第三 个d值由大到小排列，依次类推。
晶面指数和晶面间距
一．晶面指数（密勒指数） 晶体的空间点阵可划分为一族平行而等间距的平
面点阵。晶体中的每个晶面都和一族平面点阵平行， 可根据晶面和晶轴相互间的取向关系，用晶面指数 标记同一晶体内不同方向的平面点阵族或晶体的晶 面。
晶面指数的确定方法: 1.在一组互相平行的晶面中任选一个晶面，求它在 三个坐标轴上的截距m.n.p。 2.写出三个截距的倒数比1/m:1/n:1/P,化简为互质 的整数hkl，则hkl为晶面指数，记为（hkl）。
线。
二．特征X射线
由阳极金属材料决定，波长确定 产生机理：高速电子将原子内层电子激发， 再由外层电子跃迁至内层，势能下降而产生 的X射线，波长由原子的能级决定。 如CuK1＝1.5405Å
MoK1＝0.7093Å 在X射线衍射分析工作中，利用的是特
征X射线，而连续X射线只能增加衍射谱图的 背底。
特征X射线的激发原理
X射线衍射分析
X-ray diffraction
X射线衍射的发展历史
1895年，德国物理学家伦琴(W.C.Rontgen)发现了X射线。
1912年，劳厄(M.von Laue)首先发现X射线可以被晶体 衍射。
1912年，英国物理学家布拉格(W.L.Bragg)提出了布拉格 方程，并于1913年与他的父亲一起，首次用X射线衍射 法测定出氯化钠的晶体结构，开创了晶体结构的X射线 衍射测定法。
K Dhkl Cos
Dhkl：垂直于hkl晶面方向的晶粒尺寸（nm）。 ：（2X）射：线晶波粒长细（化n引m起）的。衍射峰的宽化（弧度）。 ：衍射角（度）。 K：常数，若取半高宽，K=0.94
一.注意事项
公式中的是由晶粒大小引起的衍射峰加宽。 实验测得的衍射峰半高宽 1，除了晶粒加 宽，还有仪器造成的加宽以及K1、K2衍 射迭加造成的加宽，需经过双线校正和仪 器因子校正才能得到晶粒加宽
Baidu Nhomakorabea
二.晶面间距 用符号dhkl表示，它是指由指标（hkl）
规定的平面族中两个相邻平面之间的垂直 距离，不同的晶系有不同的计算公式：
立方晶系：1/d2=(h2+k2+l2)/a2； 四方晶系：1/d2=(h2+k2)/a2+l2/c2； 正交晶系；1/d2=h2/a2+k2/b2+l2/c2
晶面间距是晶胞参数和晶面指数的函数， 晶面指数值越小，晶面间距越大，根据经 验，实际晶体中这个晶面出现的机会也越 大。
1916年，德国科学家德拜和谢乐首先提出X射线衍射粉 末法，1917年，美国科学家哈尔也独立提出了该法，因 此，X射线粉末法被称为德拜－谢乐－哈尔(DebyeScherrer-Hull)法，揭开了利用多晶样品进行晶体结构研 究的序幕。
X射线的产生及性质
X射线的性质
X射线与可见光一样，具有电磁波性质。 X射线波长范围：1×10-3～10nm之间。 用于测定晶体结构的X射线，波长为0.05～0.25nm，
2.字母索引 （1）无机化合物
• 无机化合物名称索引，按英文名称字顺排列。 每条格式为：规格（卡片的可靠性符号）、化合 物名称、分子式、三条最强线的d值和强度、卡 片号。
• 矿物名称索引，按矿物名称字顺排列。每条 的格式为：规格、矿物名称、分子式、三条最强 线的d值和强度、卡片号。
（2）有机化合物 有机物数字索引和字母索引合为一本，字母
这个波长范围与晶体点阵的面间距大小相当，从而 产生衍射。
X射线的产生
在真空状态下，在高压电场的作用下，高速运 动的电子碰撞到阳极靶时，产生X射线。
X射线谱
X射线有二种不同的波谱，即连续X射线 和特征X射线
一．连续X射线 产生机理：由于高速电子与阳极撞击时，
穿过一层物质，降低一部分动能，穿透深浅 不同，降低动能不等，所以有各种波长的X射
日本Rigaku 转靶X射线多晶衍射仪 型号： D/max 2550 VB/PC
对样品的要求
固体样品 粉末样品：粒度<50u，W>300mg
片状、块状样品：18×16mm>长×宽>10×5mm 表面平整
X射线衍射的应用
物相的定性分析
一．物相定性分析概述 每种结晶物质都有其特定的结构，没有两种晶体会
给出完全相同的衍射谱图，因此根据某一待测样品的衍射 谱图，不仅可以知道物质的化学组成还能知道它们的存在 状态。当样品为多相混合物时，整个衍射谱图为各组成相 衍射谱图的迭加。利用索引和标准卡片中的一组d/I与待 测样品的衍射谱图进行对比，可以进行物相定性分析。
二．标准卡片 标准卡片由国际粉末衍射标准协会搜
Ii/Is=K•Xi/Xs
K是常数，与物相I和标准物质S有关
二.K值的测定
将i物相的纯物质与标准物S按不同的比例 Xi/Xs配制成一系列样品，分别测定Ii/Is 值，画出Ii/Is对Xi/Xs曲线，称作校正曲 线。 该曲线应是一条直线，直线的斜率即为K 值。
三.内标物质的选定原则
（1）内标物衍射峰与待测物相衍射峰比较靠近， 但不重叠 （2）内标衍射峰较强 （3）内标结晶完整，无择优取向 （4）物理性质稳定，不潮解，不与试样发生化学 反应，纯度在99%以上 （5）易得价廉，一般选用-Al2O3，TiO2（金红 石），CeO2等。
晶体结构
晶体的定义
由原子或分子在三维空间周期排列而成 的固体物质
一．晶体结构的特征 晶体中原子或分子的排列具有三维空间的周
期性，隔一定的距离重复出现。
二．晶胞 按照晶体内部结构的周期性，划分出一个个
大小和形状完全一样的平行六面体，以代表晶体 结构的基本重复单位。
晶胞由晶体空间点阵中三个不相平行的单位 矢量a、b、c决定。其大小形状用晶胞参数a，b， c， 、、表示。
Αβγ Z Dx
Ref
4
Εa nωβ ε γ Sign
2V D mp Color
Ref.
5
6
卡片中各栏内容为： 1栏：1a、1b、1c分别列出三强线的晶面间距d值， 1d是样品的最大面间距。 2栏：2a、2b、2c、2d分别列出上述各衍射线的相 对强度，最强线的相对强度定为100。 3栏：实验方法和条件 4栏：样品的晶体学数据。 5栏：样品的物理性质，如密度、熔点、颜色等。
2dSin=n
式中：d为晶面间距，为入射角，为入射 线波长，n为整数，称为衍射级数。
X射线多晶衍射仪
X射线多晶衍射仪主要由五大部分组成：
1．X射线发生器，包括X射线管及其所需稳压、稳流电源。 2．测角台，测角台上放置狭缝、试样、滤色片或单色仪
和探测器，它们可绕测角台轴线转动并指示衍射角位 置。 3.真空系统 4.测量记录用的电子线路，将探测到的X射线光子转换成 X射线强度，并记录、储存。 5. 程序控制及衍射数据处理系统。
四．晶体的空间点阵 为了描述成千上万种晶体内部结构的几何规
律，1866年，布拉维（Bravias）根据晶体点阵 的对称性，引入空间点阵的概念，称为布拉维点 阵，共有14种型式。从而来进一步区分同一晶系 中的不同平行六面体晶胞的类型。
如：立方晶系还可以分成简单立方（cP）、体心 立方（cI）、面心立方（cF）三种型式的空间点 阵。
未知物的衍射谱图
稀土氧化物的衍射谱图
氧化钛的衍射谱图
物相的定量分析
物相定量分析的基础：衍射强度
一.内标法
预测样品中i物相的含量Xi，在样品中加入一定量的标准物 （样品中不包含的纯物相），称作内标S，设标准物S与 原样品的重量比为Xs。研磨混匀，采谱，测量i物相衍射 强度Ii和内标S的衍射强度Is，代入下面的公式计算原样品 中i物相的含量Xi。
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Sys. S.G.
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A0 b0 c0 A C
2.用数字索引进行鉴定:样品的化学成分未知 步骤：
• 测定样品的衍射谱，确定所有衍射线的d/I值； • 根据最强线的d值，在索引中找到所属的组，再根据d2 和d3找到其中的一行； • 比较此行中的三条线，看其相对强度是否与试样的三 强线基本一致，再看其余五条线，如d/I基本一致，即可 初步断定未知物质中含有卡片所记载的这种物相； • 根据索引中查找的卡片号，将该卡片上全部d/I与试样 的d/I对比，如果完全吻合，则试样中含有卡片记载的物 相。 •若被测物由多个物相组成，去除已检出物相的衍射线后 再按上述步骤进行检索鉴定出其它各物相。
三．晶系 根据晶体的对称性，可将晶体分为七个晶系。
1·三斜晶系（triclinic）a≠b≠c,≠≠≠90 2·单斜晶系(monoclinic)a≠b≠c,==90≠ 3·六方晶系(hexagonal)a=b≠c,==90=120 4·三方晶系(rhombohedral or trigonal)a=b=c,==≠90 5·正交晶系(orthorhombic)a≠b≠c,===90 6·四方晶系(tetragonal)a=b≠c,===90 7·立方晶系(cubic)a=b=c,===90
索引分为名称索引和分子式索引。 •名称索引：编排顺序和格式同无机物的字
母索引 •分子式索引：按碳原子数排列，碳原子数相
同，按氢原子数排列，氢原子数相同，按分子式 中第三个字母字顺排列。每条格式为：规格、分 子式、化合物名称、三条最强线的d值和强度、 卡片号。
四．物相鉴定（物相定性分析）方法
1.用字母索引进行鉴定:被测物的化学成分已知 步骤: • 测定样品的衍射谱，确定各衍射线的d/I值； • 按照可能含有的物相的英文名称，与字母索引中 的三强线数据对比，找出相应的卡片； • 将实验测得的d/I值与卡片中的d/I值一一对比， 若卡片的数据与样品衍射谱中的数据吻合，即待测 样品中含有卡片记载的物相。 • 若被测物由多个物相组成，则整个样品的衍射谱 图是各物相衍射谱图的简单迭加，同理，可将其它 物相一一检出。
6栏：样品的化学成分，样品的来源等。 7栏：样品的化学式和名称。 8栏：样品的矿物学名称或通用名称，有机物为结 构式，‘’号表示卡片数据高度可靠；‘o’表示 数据可靠性差；‘i’表示数据比无记号的质量高； ‘c’表示数据是计算值。 9栏：样品各衍射线的面间距d值，相对强度I/I0 值和衍射指数hkl值。 10栏：卡片序号，若某物质需两张卡片，则第二 张在序号之后以a指示。
四.样品测定
为保证测量数据准确可靠，一般使用 背压法制样，同一样品制备三只，每只
样品重复测试三次，求其平均值。
线宽法测平均晶粒大小
晶粒小于200nm以下，能够引起衍射峰宽化，晶粒越细峰越宽， 小到几个nm时，衍射线过宽而消失在背底中。晶粒大小和衍射线 变宽间的定量关系，可由Scherrer公式计算：
五.几点说明
1.由于实际实验条件与卡片上注明的实验条件不 会完全一致，而且测定的衍射数据和卡片记载的 数据都会有一定的误差，使得实验得到的d值与 卡片上的d值不完全相等，允许有一定的误差。 2.因为影响衍射强度的因素比较复杂，所以在分 析时以d值为主，I值作为参考。 3.当混合物中某相的含量很少或某相衍射能力很 弱时，它的衍射线条可能难于显现，因此，X射 线衍射分析只能肯定某相的存在，而不能确定某 相的不存在。 4.任何方法都有局限性，有时X射线衍射分析要 与其它方法配合才能得出正确结论。
晶体对X射线的衍射
联系衍射方向和晶胞大小形状间关系的方程
1. Laue方程：以直线点阵为出发点 2. Bragg方程：以平面点阵为出发点
两个方程等效
布拉格（Bragg）方程
X射线入射到晶体上，对于一族（hkl）平 面中的一个点阵面来说，若要求面上各点的 散射线同相，互相加强，则要求入射角和衍 射角相等，入射线、衍射线和平面法线在同 一平面内。
氟化钾的标准卡片
三．卡片索引 为了从几万张卡片中快速找到所需卡片，必
须使用索引。索引有二种：
1.Hanawalt数字索引 每条的格式为：规格、8条最强线的d值和相对强 度、分子式、卡片号。 规格表示该卡片的可靠性符号，d值的下标代表 相对强度，八个d值中的前三个是2<90的三条最 强线的d值。 数字索引的编排顺序：先按八个d值中的第一个d 值的大小范围分组，在同一组中，按第二个d值 由大到小顺序往下排，第二个d值相同，按第三 个d值由大到小排列，依次类推。
晶面指数和晶面间距
一．晶面指数（密勒指数） 晶体的空间点阵可划分为一族平行而等间距的平
面点阵。晶体中的每个晶面都和一族平面点阵平行， 可根据晶面和晶轴相互间的取向关系，用晶面指数 标记同一晶体内不同方向的平面点阵族或晶体的晶 面。
晶面指数的确定方法: 1.在一组互相平行的晶面中任选一个晶面，求它在 三个坐标轴上的截距m.n.p。 2.写出三个截距的倒数比1/m:1/n:1/P,化简为互质 的整数hkl，则hkl为晶面指数，记为（hkl）。
线。
二．特征X射线
由阳极金属材料决定，波长确定 产生机理：高速电子将原子内层电子激发， 再由外层电子跃迁至内层，势能下降而产生 的X射线，波长由原子的能级决定。 如CuK1＝1.5405Å
MoK1＝0.7093Å 在X射线衍射分析工作中，利用的是特
征X射线，而连续X射线只能增加衍射谱图的 背底。
特征X射线的激发原理
X射线衍射分析
X-ray diffraction
X射线衍射的发展历史
1895年，德国物理学家伦琴(W.C.Rontgen)发现了X射线。
1912年，劳厄(M.von Laue)首先发现X射线可以被晶体 衍射。
1912年，英国物理学家布拉格(W.L.Bragg)提出了布拉格 方程，并于1913年与他的父亲一起，首次用X射线衍射 法测定出氯化钠的晶体结构，开创了晶体结构的X射线 衍射测定法。
K Dhkl Cos
Dhkl：垂直于hkl晶面方向的晶粒尺寸（nm）。 ：（2X）射：线晶波粒长细（化n引m起）的。衍射峰的宽化（弧度）。 ：衍射角（度）。 K：常数，若取半高宽，K=0.94
一.注意事项
公式中的是由晶粒大小引起的衍射峰加宽。 实验测得的衍射峰半高宽 1，除了晶粒加 宽，还有仪器造成的加宽以及K1、K2衍 射迭加造成的加宽，需经过双线校正和仪 器因子校正才能得到晶粒加宽
Baidu Nhomakorabea
二.晶面间距 用符号dhkl表示，它是指由指标（hkl）
规定的平面族中两个相邻平面之间的垂直 距离，不同的晶系有不同的计算公式：
立方晶系：1/d2=(h2+k2+l2)/a2； 四方晶系：1/d2=(h2+k2)/a2+l2/c2； 正交晶系；1/d2=h2/a2+k2/b2+l2/c2
晶面间距是晶胞参数和晶面指数的函数， 晶面指数值越小，晶面间距越大，根据经 验，实际晶体中这个晶面出现的机会也越 大。
1916年，德国科学家德拜和谢乐首先提出X射线衍射粉 末法，1917年，美国科学家哈尔也独立提出了该法，因 此，X射线粉末法被称为德拜－谢乐－哈尔(DebyeScherrer-Hull)法，揭开了利用多晶样品进行晶体结构研 究的序幕。
X射线的产生及性质
X射线的性质
X射线与可见光一样，具有电磁波性质。 X射线波长范围：1×10-3～10nm之间。 用于测定晶体结构的X射线，波长为0.05～0.25nm，
2.字母索引 （1）无机化合物
• 无机化合物名称索引，按英文名称字顺排列。 每条格式为：规格（卡片的可靠性符号）、化合 物名称、分子式、三条最强线的d值和强度、卡 片号。
• 矿物名称索引，按矿物名称字顺排列。每条 的格式为：规格、矿物名称、分子式、三条最强 线的d值和强度、卡片号。
（2）有机化合物 有机物数字索引和字母索引合为一本，字母
这个波长范围与晶体点阵的面间距大小相当，从而 产生衍射。
X射线的产生
在真空状态下，在高压电场的作用下，高速运 动的电子碰撞到阳极靶时，产生X射线。
X射线谱
X射线有二种不同的波谱，即连续X射线 和特征X射线
一．连续X射线 产生机理：由于高速电子与阳极撞击时，
穿过一层物质，降低一部分动能，穿透深浅 不同，降低动能不等，所以有各种波长的X射
日本Rigaku 转靶X射线多晶衍射仪 型号： D/max 2550 VB/PC
对样品的要求
固体样品 粉末样品：粒度<50u，W>300mg
片状、块状样品：18×16mm>长×宽>10×5mm 表面平整
X射线衍射的应用
物相的定性分析
一．物相定性分析概述 每种结晶物质都有其特定的结构，没有两种晶体会
给出完全相同的衍射谱图，因此根据某一待测样品的衍射 谱图，不仅可以知道物质的化学组成还能知道它们的存在 状态。当样品为多相混合物时，整个衍射谱图为各组成相 衍射谱图的迭加。利用索引和标准卡片中的一组d/I与待 测样品的衍射谱图进行对比，可以进行物相定性分析。
二．标准卡片 标准卡片由国际粉末衍射标准协会搜
Ii/Is=K•Xi/Xs
K是常数，与物相I和标准物质S有关
二.K值的测定
将i物相的纯物质与标准物S按不同的比例 Xi/Xs配制成一系列样品，分别测定Ii/Is 值，画出Ii/Is对Xi/Xs曲线，称作校正曲 线。 该曲线应是一条直线，直线的斜率即为K 值。
三.内标物质的选定原则
（1）内标物衍射峰与待测物相衍射峰比较靠近， 但不重叠 （2）内标衍射峰较强 （3）内标结晶完整，无择优取向 （4）物理性质稳定，不潮解，不与试样发生化学 反应，纯度在99%以上 （5）易得价廉，一般选用-Al2O3，TiO2（金红 石），CeO2等。
晶体结构
晶体的定义
由原子或分子在三维空间周期排列而成 的固体物质
一．晶体结构的特征 晶体中原子或分子的排列具有三维空间的周
期性，隔一定的距离重复出现。
二．晶胞 按照晶体内部结构的周期性，划分出一个个
大小和形状完全一样的平行六面体，以代表晶体 结构的基本重复单位。
晶胞由晶体空间点阵中三个不相平行的单位 矢量a、b、c决定。其大小形状用晶胞参数a，b， c， 、、表示。
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Εa nωβ ε γ Sign
2V D mp Color
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6
卡片中各栏内容为： 1栏：1a、1b、1c分别列出三强线的晶面间距d值， 1d是样品的最大面间距。 2栏：2a、2b、2c、2d分别列出上述各衍射线的相 对强度，最强线的相对强度定为100。 3栏：实验方法和条件 4栏：样品的晶体学数据。 5栏：样品的物理性质，如密度、熔点、颜色等。
2dSin=n
式中：d为晶面间距，为入射角，为入射 线波长，n为整数，称为衍射级数。
X射线多晶衍射仪
X射线多晶衍射仪主要由五大部分组成：
1．X射线发生器，包括X射线管及其所需稳压、稳流电源。 2．测角台，测角台上放置狭缝、试样、滤色片或单色仪
和探测器，它们可绕测角台轴线转动并指示衍射角位 置。 3.真空系统 4.测量记录用的电子线路，将探测到的X射线光子转换成 X射线强度，并记录、储存。 5. 程序控制及衍射数据处理系统。
四．晶体的空间点阵 为了描述成千上万种晶体内部结构的几何规
律，1866年，布拉维（Bravias）根据晶体点阵 的对称性，引入空间点阵的概念，称为布拉维点 阵，共有14种型式。从而来进一步区分同一晶系 中的不同平行六面体晶胞的类型。
如：立方晶系还可以分成简单立方（cP）、体心 立方（cI）、面心立方（cF）三种型式的空间点 阵。
未知物的衍射谱图
稀土氧化物的衍射谱图
氧化钛的衍射谱图
物相的定量分析
物相定量分析的基础：衍射强度
一.内标法
预测样品中i物相的含量Xi，在样品中加入一定量的标准物 （样品中不包含的纯物相），称作内标S，设标准物S与 原样品的重量比为Xs。研磨混匀，采谱，测量i物相衍射 强度Ii和内标S的衍射强度Is，代入下面的公式计算原样品 中i物相的含量Xi。