DOS态密度
DOS态密度
态密度（Deｎｓitｙ of States,简称DOS)在DＯS结果图里可以查瞧就就是导体还就就是绝缘体还就就是半导体,请问怎么瞧。
理论就就是什么？或者哪位老师可以告诉我这方面得知识可以通过学习什么获得。
不胜感激。
查瞧就就是导体还就就是绝缘体还就就是半导体,最好还就就是用能带图DＯＳ得话瞧费米能级两侧得能量差谢希德。
复旦版得《固体能带论》一书中有,请参阅！另外到网上或者学校得数据库找找“第一性原理”方面得论文,里面通常会有一些计算分析。
下面有一篇可以下载得：ＺｎO得第一性原理计算ｈoffman得《固体与表面》对态密度得理解还就就是很有好处得。
下面这个就就是在版里找得，多瞧瞧吧:如何分析第一原理得计算结果用第一原理计算软件开展得工作,分析结果主要就就是从以下三个方面进行定性/定量得讨论:1 ﻫ、电荷密度图(chａrge density）；2、能带结构(EnergｙBaｎd Ｓｔruｃture);ﻫ３、态密度（Dｅnsity oｆStates,简称ＤＯS)。
ﻫﻫ电荷密度图就就是以图得形式出现在文章中,非常直观,因此对于一般得入门级研究人员来讲不会有任何得疑问。
唯一需要注意得就就就是这种分析得种种衍生形式,比如差分电荷密图(dｅf-ormatioｎcｈargｅdensity)与二次差分图（differeｎce charｇｅｄｅnsiｔｙ)等等，加自旋极化得工作还可能有自旋极化电荷密度图(sｐiｎ-polaｒｉzeｄc hａrge densitｙ)。
所谓“差分”就就是指原子组成体系(团簇）之后电荷得重新分布,“二次”就就是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷得重新分布,因此通过这种差分图可以很直观地瞧出体系中个原子得成键情况。
通过电荷聚集(accuｍuｌａtioｎ)/损失(ｄepl etion）得具体空间分布,瞧成键得极性强弱;通过某格点附近得电荷分布形状判断成键得轨道(这个主要就就是对d轨道得分析，对于s或者p轨道得形状分析我还没有见过)。
DOS态密度
态密度（Density of States，简称DOS）在DOS结果图里可以查看是导体还是绝缘体还是半导体，请问怎么看。
理论是什么？或者哪位老师可以告诉我这方面的知识可以通过学习什么获得。
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查看是导体还是绝缘体还是半导体，最好还是用能带图DOS的话看费米能级两侧的能量差谢希德。
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唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图（def-ormation charge density）和二次差分图（difference charge density）等等，加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图（spin-polarized charge density）。
所谓“差分”是指原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布，“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion）的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d轨道的分析，对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过）。
MS中,PDOS DOS的分析
用第一原理计算软件开展的工作，分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论：1、电荷密度图（charge density）；2、能带结构（Energy Band Structure）；3、态密度（Density of States，简称DOS）。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中，非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图（def-ormation charge density）和二次差分图difference charge density）等等，加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图（spin-polarized charge density）。
所谓"差分"是指原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布，"二次"是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion）的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d轨道的分析，对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过）。
分析总电荷密度图的方法类似，不过相对而言，这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性，对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身，我在这篇文章中不想涉及，这里只考虑已得到的能带，如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带（也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带）是否相交，若相交，则为金属，否则为半导体或者绝缘体。
对于本征半导体，还可以看出是直接能隙还是间接能隙：如果导带的最低点和价带的最高点在同一个k点处，则为直接能隙，否则为间接能隙。
DOS图详解说明
用第一原理计算软件开展的工作，分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论：1、电荷密度图（charge density）；2、能带结构（Energy Band Structure）；3、态密度（Density of States，简称DOS）。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中，非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图（def-ormation charge density）和二次差分图（difference charge density）等等，加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图（spin-polarized charge density）。
所谓“差分”是指原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布，“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion）的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d轨道的分析，对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过）。
分析总电荷密度图的方法类似，不过相对而言，这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性，对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身，我在这篇文章中不想涉及，这里只考虑已得到的能带，如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带（也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带）是否相交，若相交，则为金属，否则为半导体或者绝缘体。
对于本征半导体，还可以看出是直接能隙还是间接能隙：如果导带的最低点和价带的最高点在同一个k点处，则为直接能隙，否则为间接能隙。
DOS态密度
如何分析第一原理的计算结果用第一原理计算软件开展的工作，分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论：1、电荷密度图(charge density)；2、能带结构(Energy Band Structure)；3、态密度(Den sity of States，简称DOS)。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中，非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图(d ef-ormation charge density)和二次差分图(differenee charge density)等等，加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图(spin-polarized charge density)。
所谓差分”是指原子组成体系(团簇)之后电荷的重新分布，二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集(accumulation)/损失(depletion )的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道(这个主要是对d轨道的分析，对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过)。
分析总电荷密度图的方法类似，不过相对而言，这种图所携带的信息量较小。
能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
但是因为能带这个概念本身的抽象性，对于能带的分析是让初学者最感头痛的地方。
关于能带理论本身，我在这篇文章中不想涉及，这里只考虑已得到的能带，如何能从里面看出有用的信息。
首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带(也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带)是否相交，若相交，则为金属，否则为半导体或者绝缘体。
对于本征半导体，还可以看出是直接能隙还是间接能隙：如果导带的最低点和价带的最高点在同一个k点处，则为直接能隙，否则为间接能隙。
声子态密度计算
声子态密度计算声子态密度（Phonon Density of States，简称PDOS）是描述固体中声子态分布的物理量。
声子态密度对于研究固体的热力学性质、声学性质以及材料的电子结构具有重要意义。
本文将介绍声子态密度计算的原理、应用以及相关的计算方法。
一、声子态密度的原理声子态密度是描述固体中不同频率的声子态数目的函数。
声子态密度与固体材料的结构以及离散的振动模式有关。
在固体中，原子围绕着平衡位置发生微小的振动，形成不同频率的声子模式。
声子态密度可以看作是描述不同频率声子模式分布的直方图。
二、声子态密度的计算方法声子态密度的计算可以通过实验测量或理论计算得到。
实验测量声子态密度的常用方法包括中子散射、拉曼散射和红外吸收等。
这些实验方法可以通过测量散射或吸收光子的能量和强度来得到声子态密度的信息。
理论计算声子态密度的方法有多种，常用的方法包括密度泛函理论（Density Functional Theory，简称DFT）和分子动力学模拟（Molecular Dynamics，简称MD）。
DFT方法通过求解电子的Kohn-Sham方程来得到电子和声子的能带结构，进而计算声子态密度。
MD方法则通过模拟原子在势能场中的运动来得到固体的振动模式，再基于得到的振动模式计算声子态密度。
三、声子态密度的应用声子态密度在材料科学和固体物理领域有着广泛的应用。
首先，声子态密度对于研究固体的热力学性质非常重要。
通过计算声子态密度，可以得到固体的热容、热导率等热学性质，从而进一步研究固体的热传导机制和热稳定性。
声子态密度对于研究固体的声学性质也具有重要意义。
声子态密度可以用来计算固体的声速、声子色散关系等声学性质。
这些声学性质对于研究固体的声子传输、声波衍射和声子声子相互作用等现象有着重要影响。
声子态密度还与材料的电子结构密切相关。
声子态密度可以与电子态密度结合，用于计算固体的热力学性质和电学性质之间的相互作用。
通过计算声子态密度和电子态密度，可以得到固体的电子热容、热电效应等性质，为材料的热电转换和能量传输等应用提供理论基础。
声子散射曲线和声子态密度
声子散射曲线和声子态密度是两个与声子相关的概念。
声子散射曲线是描述声子色散关系的曲线。
色散关系其实就是频率与波失的关系函数。
对于一个晶胞内含有N个独特原子的体系，其色散关系曲线通常包含3N个分支，其中3个是声学枝，3(N-1)个是光学支。
这个曲线的一个重要应用是用来得到群速度v g = d ω / d K。
声子态密度（PDOS）曲线，通常会使用归一化之后的PDOS，这样PDOS就可看做一个概率密度函数。
这个概率可以理解为体系内声子的分布概率（宏观角度），也可以理解为声子处于某种状态的概率（量子力学角度）。
PDOS与PDC的关系可以从六方氮化硼的声子色散曲线中看到，曲线上的每一个点都代表一种声子模，统计一下以上点的概率分布，与PDOS相比较，可以看到两者的形状相似。
理论上，如果体系足够大，声子模足够多，这两个曲线应该是重合的。
综上所述，声子散射曲线和声子态密度都是用来研究固体中声子的性质和行为的工具。
dos态密度
dos态密度DOS态密度（DensityofStates）是物理和材料科学的重要概念，它指的是每一个能量状态的可能性，即被称为“Density of States”的概念。
总的来说，DOS态密度是材料和物质的重要特性之一，它可以帮助我们了解和计算材料的电子特性，如电子密度、电子态密度、气体密度、电子结构、物质的理想性等等。
DOS态密度可以以能量作为自变量，并以多段可调锥或多段平板调制函数形式显式地表示，以表示能量态状态的概率密度变化趋势。
假设我们有一种物质，它的多个电子态的能量分布为E1、E2等，那么可以把这些能量看作函数f(E)的一个横轴，把不同电子态的可能性看作纵轴，通过形成所谓的DOS态密度图，可以直观地分析物质的电子态状态密度分布情况。
DOS态密度有着广泛的应用，它可以用于帮助我们了解材料的电子态状态分布，从而帮助我们分析材料的特性，提高材料的性能。
例如，它可以用于分析金属和半导体的电子态密度，比如金属的电子态密度曲线可以帮助我们了解金属的导电性能，而半导体的电子态密度曲线可以帮助我们了解半导体的介电性能。
此外，DOS态密度还可以用于研究绝热流动体和非绝热流体的热力学行为，用于研究各种材料的复杂光学性能，用于研究各种物质的拉曼谱等。
因此，DOS态密度是一个重要的概念，它可以帮助我们了解材料的电子态密度分布情况，从而提高材料的性能。
然而，DOS态密度的估算也是一个挑战，因为它是一个非线性的函数，而且因为它的复杂性，很难解决。
但是，有了计算机的帮助，我们可以更加准确和容易地计算DOS态密度，从而分析材料的性能。
总之，DOS态密度及其相关概念是物理和材料科学研究中一个重要的概念，它可以帮助我们了解材料的特性和性能，从而提高材料的性能。
DOS
DOS:是态密度，是某个能量处的态的数目。
这个数目包含了各个分子轨道的贡献（包括占据轨道和未占据轨道，占据轨道的贡献一般在能量较低的位置，未占据轨道的贡献一般在能量较高处）。
因为DOS对能量空间积分后的数值等于计算中用的基函数的数量。
而基函数的数量等于计算出来的本征波函数（或分子轨道，这样称呼有时候不合适，但是为了方便还是这样叫吧）。
PDOS:是把DOS投影到各个基函数上。
要想计算一个原子轨道的PDOS，只需要将构成这个原子轨道的各个基函数的PDOS求和。
要想求某个原子对PDOS 的贡献，只需要将该原子在计算的时候使用的原子轨道求和就可以了。
既然原子轨道是定域的，也就是说以原子核为中心的，所以对某一个原子求PDOS实际上就算出LDOS了，LDOS是表现在某个能量范围内，态密度在空间的分布。
是表现在某一个能量范围内，原子上某个原子轨道上DOS的分布。
侧重点不同。
画PDOS实际上就是指明了空间位置了相当于研究的是LDOS的某一个空间点上的情况。
当然PDOS可以分析某一元素对DOS的贡献，这个就不是局域的了。
能带：金属、半导体和绝缘体的区别。
能带可分为价带、禁带和导带三部分，倒带和价带之间的空隙称为能隙，基本概念如图所示：如何能隙很小或为0 ，则固体为金属材料，在室温下电子很容易获得能量而跳跃至导带而导电；而绝缘材料则因为能隙很大（通常大于9电子伏特），电子很难跳跃至传导带，所以无法导电。
一般半导体材料的能隙约为1至3电子伏特，介于导体和绝缘体之间。
因此只要给予适当条件的能量激发，或是改变其能隙之间距，此材料就能导电。
能带用来定性地阐明了晶体中电子运动的普遍特点。
价带（valence band），或称价电带，通常指绝对零度时，固体材料里电子的最高能量。
在导带（conduction band）中，电子的能量范围高于价带，而所有在传导带中的电子均可经由外在的电场加速而形成电流。
对与半导体以及绝缘体而言，价带的上方有一个能隙（band gap），能隙上方的能带则是传导带，电子进入传导带后才能在固体材料内自由移动，形成电流。
DOS态密度
态密度（Density of States，简称DOS）在DOS结果图里可以查看是导体还是绝缘体还是半导体，请问怎么看。
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下面这个是在版里找的，多看看吧：如何分析第一原理的计算结果用第一原理计算软件开展的工作，分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论：1、电荷密度图（charge density）；2、能带结构（Energy Band Structure）；3、态密度（Density of States，简称DOS）。
电荷密度图是以图的形式出现在文章中，非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图（d ef-ormation charge density）和二次差分图（difference charge density）等等，加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图（spin-polarized charge density）。
所谓“差分”是指原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布，“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion）的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d轨道的分析，对于s 或者p轨道的形状分析我还没有见过）。
分析总电荷密度图的方法类似，不过相对而言，这种图所携带的信息量较小。
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电荷密度图是以图的形式出现在文章中，非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑问。
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通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion）的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d轨道的分析，对于s 或者p轨道的形状分析我还没有见过）。
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能带结构分析现在在各个领域的第一原理计算工作中用得非常普遍了。
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首先当然可以看出这个体系是金属、半导体还是绝缘体。
判断的标准是看费米能级和导带（也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带）是否相交，若相交，则为金属，否则为半导体或者绝缘体。
对于本征半导体，还可以看出是直接能隙还是间接能隙：如果导带的最低点和价带的最高点在同一个k点处，则为直接能隙，否则为间接能隙。
在具体工作中，情况要复杂得多，而且各种领域中感兴趣的方面彼此相差很大，分析不可能像上述分析一样直观和普适。
不过仍然可以总结出一些经验性的规律来。
主要有以下几点： 1）因为目前的计算大多采用超单胞（supercell）的形式，在一个单胞里有几十个原子以及上百个电子，所以得到的能带图往往在远低于费米能级处非常平坦，也非常密集。
原则上讲，这个区域的能带并不具备多大的解说/阅读价值。
因此，不要被这种现象吓住，一般的工作中，我们主要关心的还是费米能级附近的能带形状。
2）能带的宽窄在能带的分析中占据很重要的位置。
能带越宽，也即在能带图中的起伏越大，说明处于这个带中的电子有效质量越小、非局域（non-local）的程度越大、组成这条能带的原子轨道扩展性越强。
如果形状近似于抛物线形状，一般而言会被冠以类sp带（sp -like band）之名。
反之，一条比较窄的能带表明对应于这条能带的本征态主要是由局域于某个格点的原子轨道组成，这条带上的电子局域性非常强，有效质量相对较大。
3）如果体系为掺杂的非本征半导体，注意与本征半导体的能带结构图进行对比，一般而言在能隙处会出现一条新的、比较窄的能带。
这就是通常所谓的杂质态(doping state)，或者按照掺杂半导体的类型称为受主态或者施主态。
4）关于自旋极化的能带，一般是画出两幅图：majority spin和minority spin。
经典的说，分别代表自旋向上和自旋向下的轨道所组成的能带结构。
注意它们在费米能级处的差异。
如果费米能级与majority spin的能带图相交而处于minority spin的能隙中，则此体系具有明显的自旋极化现象，而该体系也可称之为半金属（half metal）。
因为majority spin与费米能级相交的能带主要由杂质原子轨道组成，所以也可以此为出发点讨论杂质的磁性特征。
5）做界面问题时，衬底材料的能带图显得非常重要，各高对称点之间有可能出现不同的情况。
具体地说，在某两点之间，费米能级与能带相交；而在另外的k的区间上，费米能级正好处在导带和价带之间。
这样，衬底材料就呈现出各项异性：对于前者，呈现金属性，而对于后者，呈现绝缘性。
因此，有的工作是通过某种材料的能带图而选择不同的面作为生长面。
具体的分析应该结合试验结果给出。
（如果我没记错的话，物理所薛其坤研究员曾经分析过$\beta$-Fe的(100)和(111)面对应的能带。
有兴趣的读者可进一步查阅资料。
）原则上讲，态密度可以作为能带结构的一个可视化结果。
很多分析和能带的分析结果可以一一对应，很多术语也和能带分析相通。
但是因为它更直观，因此在结果讨论中用得比能带分析更广泛一些。
简要总结分析要点如下：1）在整个能量区间之内分布较为平均、没有局域尖峰的DOS，对应的是类sp带，表明电子的非局域化性质很强。
相反，对于一般的过渡金属而言，d轨道的DOS一般是一个很大的尖峰，说明d电子相对比较局域，相应的能带也比较窄。
2）从DOS图也可分析能隙特性：若费米能级处于DOS值为零的区间中，说明该体系是半导体或绝缘体；若有分波DOS跨过费米能级，则该体系是金属。
此外，可以画出分波（PDOS）和局域（LDOS）两种态密度，更加细致的研究在各点处的分波成键情况。
3）从DOS图中还可引入“赝能隙”（pseudogap）的概念。
也即在费米能级两侧分别有两个尖峰。
而两个尖峰之间的DOS并不为零。
赝能隙直接反映了该体系成键的共价性的强弱：越宽，说明共价性越强。
如果分析的是局域态密度（LDOS），那么赝能隙反映的则是相邻两个原子成键的强弱：赝能隙越宽，说明两个原子成键越强。
上述分析的理论基础可从紧束缚理论出发得到解释：实际上，可以认为赝能隙的宽度直接和Hamiltonian矩阵的非对角元相关，彼此间成单调递增的函数关系。
4）对于自旋极化的体系，与能带分析类似，也应该将majority spin和minority spin 分别画出，若费米能级与majority的DOS相交而处于minority的DOS的能隙之中，可以说明该体系的自旋极化。
5）考虑LDOS，如果相邻原子的LDOS在同一个能量上同时出现了尖峰，则我们将其称之为杂化峰（hybridized peak），这个概念直观地向我们展示了相邻原子之间的作用强弱。
请教楼主：1、我一直不明白DOS图中的非键的概念。
这里的非键，到底是什么意思？DOS图中能不能看出来？如何看？2、金属中除了金属键，电子都是以什么状态存在的？是非键吗？所谓的非键是不是就是我们过去所说的自由电子？还是说，金属键的电子就是自由电子呢？金属中金属键占大部分啊，还是说非键占大部分？3、离子键在DOS中能不能看出来？如何看？4、我曾看到文献上说，费米能附近的非键是金属性的标志。
这句话如何理解？1.其实DOS是固体物理的概念，而非键（以及成键和反键等）是结构化学的概念，但是现在经常用在同一个体系说明不同的问题。
先说一下非键，然后在把它跟BAND和DOS结合起来。
从结构化学的角度来说，分子轨道是由原子轨道线性组合而成。
如果体系有n个原子轨道进行组合，就会产生n个分子轨道（即轨道数目守恒，其实从量子力学的角度，就是正交变换不会改变希尔伯特空间的维数）。
这些分子轨道的能量，可以高于，近似等于，或是低于原子轨道的能量，它们分别对应于成键，非键，或是反键态。
简单的说，非键轨道跟组成它的原子轨道能量差不多，如果有电子排在该轨道上，则对体系成键能量上没有太大帮助。
由于固体中的每个能带都是有许多原子轨道组合而成，简单的说，对于某一只能带，它的上半部对应化学上所谓的反键态，下半部分对应于成键态，而中部的区域对应于非键态。
但是，由于能带是非常密集的，从而是连续（准连续的），对于某个具体的能级，往往很难说出具体是什么键态，如果这个能级不是对应于能带低，或是能带顶的话。
而且，一般费米面附近的能带不仅仅由一种原子轨道扩展而成，而是不同种轨道杂化而成，要定量说明是比较难的。
2.关于金属，粗糙的说，金属中的电子是以电子气的情况出现，分布于整个金属所在的空间。
正价离子实通过对“公共”电子气的吸引而聚集在一起。
从化学上讲，金属键可以看做是一种共价键，只是没有饱和性和方向性。
但是这种理解太粗糙。
从固体物理的角度，金属中电子分布跟半导体，绝缘体（也就是电介质）类似，对基态都是按照能量最低排在能带上。
只不过，金属的费米能级穿过电子所在的能带（也就是电子没有占满该能带），从而使得费米面附近的电子参与导电。
所以，非键并不是我们说的自由电子，两者没有必然的联系。
金属中的电子也不是完全的自由电子，其波函数还是受离子周期调制的布洛赫波，而非平面波。
3.离子键等不能在DOS中看，我发过专门的帖子。
单纯的从DOS最多可以定性的看出杂化，但是不能看出杂化轨道中的电子究竟偏向哪个原子，因此不能看出离子键或是共价键的情况。
最近我师弟问我一个很垃圾杂志上用DOS分析离子键或是共价键的文章，这个文章我看了一下，它的分析是错的。
4.根据我上面的说法，由于固体的“非键态”在DOS或是BAND的中部，当费米能级附近是非键态时，换句话说，就是表明费米能级穿越了能带的中部，说明电子没有占满，因此是金属晶体，是金属性的标识。
这么理解有道理。
第一原理计算结果讨论（系列二）讨论一：电荷密度图（charge density)，变型电荷密图（def-ormation charge density）和差分电荷密度图（difference charge density）等等，加自旋极化的工作还可能有自旋极化电荷密度图（spin-polarized charge density）。
所谓“变型”是指原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布，“差分”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布，因此通过这种差分图可以很直观地看出体系中个原子的成键情况。
通过电荷聚集（accumulation）/损失（depletion）的具体空间分布，看成键的极性强弱；通过某格点附近的电荷分布形状判断成键的轨道（这个主要是对d轨道的分析，对于s或者p轨道的形状分析我还没有见过）。