近场远场测试方法对比
远场和近场的区别
近场与远场的划分2014-07-14 16:04电磁辐射的测量方法通常与测量点位置和辐射源的距离有关，即，所进展的测量是远场测量还是近场测量。
由于在远场和近场的情况下，电磁场的性质有所不同，因此，要对远场和近场测量有明确的了解。
1、电磁场的远场和近场划分电磁辐射源产生的交变电磁场可分为性质不同的两个局部，其中一局部电磁场能量在辐射源周围空间与辐射源之间周期性地来回流动，不向外发射，称为感应场；另一局部电磁场能量脱离辐射体，以电磁波的形式向外发射，称为辐射场。
一般情况下，电磁辐射场根据感应场和辐射场的不同而区分为远区场〔感应场〕和近区场〔辐射场〕。
由于远场和近场的划分相对复杂，要具体根据不同的工作环境和测量目的进展划分，一般而言，以场源为中心，在三个波长围的区域，通常称为近区场，也可称为感应场；在以场源为中心，半径为三个波长之外的空间围称为远区场，也可称为辐射场。
近区场通常具有如下特点：近区场，电场强度与磁场强度的大小没有确定的比例关系。
即：E 377H。
一般情况下，对于电压高电流小的场源(如发射天线、馈线等)，电场要比磁场强得多，对于电压低电流大的场源(如某些感应加热设备的模具)，磁场要比电场大得多。
近区场的电磁场强度比远区场大得多。
从这个角度上说，电磁防护的重点应该在近区场。
近区场的电磁场强度随距离的变化比拟快，在此空间的不均匀度较大。
远区场的主要特点如下：在远区场中，所有的电磁能量根本上均以电磁波形式辐射传播，这种场辐射强度的衰减要比感应场慢得多。
在远区场，电场强度与磁场强度有如下关系：在国际单位制中，E=377H，电场与磁场的运行方向互相垂直，并都垂直于电磁波的传播方向。
远区场为弱场，其电磁场强度均较小近区场与远区场划分的意义：通常，对于一个固定的可以产生一定强度的电磁辐射源来说，近区场辐射的电磁场强度较大，所以，应该格外注意对电磁辐射近区场的防护。
对电磁辐射近区场的防护，首先是对作业人员与处在近区场环境的人员的防护，其次是对位于近区场的各种电子、电气设备的防护。
电磁场近场和远场的差别
电磁场近场和远场的差别无线电波应该称作电磁波或者简称为EM波，因为无线电波包含电场和磁场。
来自发射器、经由天线发出的信号会产生电磁场，天线是信号到自由空间的转换器和接口。
因此，电磁场的特性变化取决于与天线的距离。
可变的电磁场经常划分为两部分——近场和远场。
要清楚了解二者的区别，就必须了解无线电波的传播。
电磁波图1展示了典型的半波偶极子天线是如何产生电场和磁场的。
转发后的信号被调制为正弦波，电压呈极性变化，因此在天线的各元件间生成了电场，极性每半个周期变换一次。
天线元件的电流产生磁场，方向每半个周期变换一次。
电磁场互为直角正交。
1.围绕着半波偶极子的电磁场包括一个电场(a)和一个磁场(b)。
电磁场均为球形且互成直角天线旁边的磁场呈球形或弧形，特别是距离天线近的磁场。
这些电磁场从天线向外发出，越向外越不明显，特性也逐渐趋向平面。
接收天线通常接收平面波。
虽然电磁场存在于天线周围，但他们会向外扩张(图2)，超出天线以外后，电磁场就会自动脱离为能量包独立传播出去。
实际上电场和磁场互相产生，这样的“独立”波就是无线电波。
2.距离天线一定范围内，电场和磁场基本为平面并以直角相交。
注意传播方向和电磁场均成直角。
在(a)图中，传播方向和电磁场线方向成正交，即垂直纸面向内或向外。
在(b)图中，磁场线垂直纸面向外，如图中圆圈所示。
近场对近场似乎还没有正式的定义——它取决于应用本身和天线。
通常，近场是指从天线开始到1个波长(λ)的距离。
波长单位为米，公式如下：λ=300/fMHzλ=300/fMHz因此，从天线到近场的距离计算方法如下：λ/2π=0.159λλ/2π=0.159λ图3标出了辐射出的正弦波和近场、远场。
近场通常分为两个区域，反应区和辐射区。
在反应区里，电场和磁场是最强的，并且可以单独测量。
根据天线的种类，某一种场会成为主导。
例如环形天线主要是磁场，环形天线就如同变压器的初级，因为它产生的磁场很大。
3.近场和远场的边界、运行频段的波长如图所示。
天线远场、近场和紧缩场
当前测量目标散射特性的基本方法有远场法、紧缩场法和近场法〔1〕。
对于远场法，设D为待测目标的最大截面尺寸，r为发射天线与待测目标的距离，则当r≥ 2D2／λ时(λ为波长)，可近似认为投射到待测目标上的电磁波是平面电磁波。
同样，接收天线与待测目标的距离也应满足这一要求，以使接收天线接收散射远场。
转动待测目标，测出相应的散射远场，即可确定目标的远场散射方向图，通过与标准目标进行比较，可以获得目标的RCS图。
从理论上讲，这种方法可以测得目标的单站和双站散射特性，但这种方法需要宠大的测试场地，且由于待测目标的远场散射信号一般比较弱（对于低RCS目标则更是如此），因而给精确测量带来了很大的困难。
紧缩场法是测量目标散射特性的一种有效的方法。
对于单站RCS测量，通常采用一个紧缩场反射面天线产生准平面波对待测目标进行照射，转动待测目标，改变入射波相对于目标的入射方向，在接收端测出相应的散射信号即可确定目标的单站RCS。
为了测出目标的双站RCS，则可以采用两个紧缩场反射面天线，一个发射，另一个接收，转动待测目标，测出接收天线处的散射信号，即可确定平面波以不同方向入射时目标的双站RCS，其双站角为两反射面天线口面法线间的夹角。
但由于两个紧缩场反射面天线的位置是固定的，所以双站角也是固定的。
采用紧缩场法，发射天线和接收天线与待测目标之间的距离不需要很大，这一点要优于远场法。
近场散射测量技术是近场天线测量技术的发展和延伸。
利用近场散射测量技术，可以在不转动目标的情况下测得扫描面外法向附近一个角域内的远场RCS，从而可以获得目标在不同双站角情况下的远场散射特性。
一般情况下，目标的散射场所延伸的范围比较广，客观上要求扫描面的宽度应足够大，以减小截断误差。
然而，在实际的双站近场散射测量中，扫描面的宽度总是有限的，而且截断电平不一定很低，有时甚至比较高。
天线近场测试、远场测试、紧缩场测试、天线罩测试 简介
近场测试所谓近场天线测试的近场是指从测试探头到被测天线口平面的距离约为3λ 5λ. 符合这样条件的天线测试即为近场测试.近场天线测试系统主要由这么几部分组成：1. 多轴扫描架子系统（包括控制驱动器及电缆组件）。
2. 被测天线定位子系统，通常由一个单轴或多轴转台，控制驱动器及电缆组件组成。
3. 射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件。
4. 系统主控器及一个负责给扫描架及转台子系统发定位指令，采集测试数据，近远场变换计算和分析测试结果的系统软件。
每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的近场天线测试系统也有很多不同规格的选择。
具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置。
远场测试所谓远场天线测试的远场就是指符合r=2D2/λ条件的天线测试, 其中r 就是测试场的收发间距离, D 就是被测天线的最大口径, 而λ 测试频率的波长.远场天线测试系统主要由这么几部分组成;1. 接收端单轴或多轴转台子系统（包括控制驱动器及电缆组件）。
2. 发射子系统，通常由一个单轴转台，控制驱动器及电缆组件组成。
3. 射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件。
4. 系统主控器及一个负责给转台子系统发定位指令，采集测试数据和分析测试结果的系统软件。
每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的远场天线测试系统也有很多不同规格的选择。
具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置。
紧缩场测试紧缩场天线测试的紧缩场意思是指在一个相对小(紧缩)的空间里产生出传统远场天线测试所需要的平面波. 产生这种一致性很好的平面波的设备就需要在有限空间里增设双曲反射面来延伸辐射空间.紧缩场天线测试系统主要由这么几部分组成;1. 被测天线的单轴或多轴转台子系统（包括控制驱动器及电缆组件）。
2. 馈源子系统，通常由一个单轴或多轴转台，控制驱动器及电缆组件组成。
3. 双曲单反射面或双曲双反射面，用于在有限空间里产生符合远场测试条件的平面波。
4.射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件。
各种近远场天线测量系统比较
按照天线场区的划分，天线测量系统可分为远场测量系统和近场测量系统。
1.远场测量系统远场测量系统按使用环境可分为室外远场测量系统和室内远场测量系统。
室外远场需要较长的测量距离，通常用天线高架法来尽量减小地面反射，其他架设方法还有地面反射法和斜距法。
室外远场测量需要在合适的外部环境和天气下进行，同时，室外远场对安全和电磁环境有较高要求。
室内远场在微波暗室中进行，暗室四周和上下铺设吸波材料来减小电磁反射。
如果暗室条件满足远场测量条件，可选择传统远场测量法，如果测量距离不够远场条件，可以选择紧缩场，通过反射天线在被测天线处形成平面电磁波。
2.近场测量系统近场测量在天线辐射近场区域实施。
在三至五个波长的辐射近场区，感应场能量已完全消退。
采集这一区域被测天线辐射的幅度和相位数据信息，通过严格的数学计算就可以推出被测天线测远场方向图。
按照扫描方式的不同，常用的近场测量系统可以分为平面近场系统、柱面近场系统和球面近场系统。
（1）近场测量系统平面近场测量系统在辐射近场区的平面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于增益>15dBi的定向天线、阵列天线等，最大测量角度<± 70 º。
（2）柱面测量系统柱面近场测量系统在辐射近场区的柱面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于扇形波束和宽波瓣的天线。
（3）球面测量系统球面近场测量系统在辐射近场区的球面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于低增益的宽波瓣或全向天线。
3.如何选择天线测量系统，需要考虑到的几个重要的特性和指标：1.天线应用领域；2.远场角度范围：远场波瓣图坐标系、各种天线性能参数定义、副瓣和后瓣特性；3.电尺寸：根据电尺寸和计算出远场距离；4.方向性指标：宽波瓣或窄波瓣；5.工作频率和带宽：工作频率设计到吸波材料尺寸和暗室工程设计及造价；6.环境和安全性要求：天气、地表环境等因素；7.其他因素：转台或铰链、通道切换开关等。
天线的近场和远场的判定条件
天线的近场和远场的判定条件
天线的近场和远场是根据电磁场的特性来区分的。
近场是指天线周围存在的电磁场，它的条件是：天线测量时的距离d小于天线的最大物理口径尺寸D与工作波长λ的平方根之比的2倍，即$d <
\frac{2D^2}{\lambda}$。
在近场中，电磁场能量在天线周围空间及天线之间周期性地来回流动，不向外发射。
远场是指电磁场能量脱离天线以电磁波的形式向外辐射的区域，它的条件是：天线测量时的距离d大于天线的最大物理口径尺寸D与工作波长λ的平方
根之比的2倍，即$d > \frac{2D^2}{\lambda}$。
希望以上内容对您有帮助，如需了解更多信息，建议查阅相关文献或咨询专业人士。
2.4G无线产品的“近场”与“远场”的划分
2.4G 无线产品的“近场”与“远场”的划分
我们一般在针对无线产品特性的无线测试中如OTA 或辐射杂散（RSE）等，从测量的准确率考虑，通常要求选用远场条件下的测试。
但事实上，目
前还没有一个特别确切而公认的说法，去划分到底什幺是“近场”？什幺又是“远场”？
昨天有检测行业的朋友问我，在EMC 标准3M 暗室条件下，是否可以测量2.4G 产品的辐射杂散？我们从经验的角度说，当然在3M 暗室中完成2.4G 产品的杂散是完全可以的。
但如果我们再往前考究一步的话，这个问题其实
是要确认2.4G 产品的远场状态的定义。
据此天纵检测（SKYLABS）也仔细翻看了一下2.4G 产品常见射频标准，以EN300328 为例，其在标准的最后附录中，确实有其对远场条件的定义，具体如下：
首先在EN300328 中明确说明在对被测物的辐射测量中，我们应该选择“远场”条件。
在此标准中，它定义了两个2.4G 无线产品的远场条件，需要说。
远场和近场的区别
近场与远场的划分2014-07-14 16:04电磁辐射的测量方法通常与测量点位置和辐射源的距离有关，即，所进行的测量是远场测量还是近场测量。
由于在远场和近场的情况下，电磁场的性质有所不同，因此，要对远场和近场测量有明确的了解。
1、电磁场的远场和近场划分电磁辐射源产生的交变电磁场可分为性质不同的两个部分，其中一部分电磁场能量在辐射源周围空间及辐射源之间周期性地来回流动，不向外发射，称为感应场；另一部分电磁场能量脱离辐射体，以电磁波的形式向外发射，称为辐射场。
一般情况下，电磁辐射场根据感应场和辐射场的不同而区分为远区场（感应场）和近区场（辐射场）。
由于远场和近场的划分相对复杂，要具体根据不同的工作环境和测量目的进行划分，一般而言，以场源为中心，在三个波长范围内的区域，通常称为近区场，也可称为感应场；在以场源为中心，半径为三个波长之外的空间范围称为远区场，也可称为辐射场。
近区场通常具有如下特点：近区场内，电场强度与磁场强度的大小没有确定的比例关系。
即：E 377H。
一般情况下，对于电压高电流小的场源(如发射天线、馈线等)，电场要比磁场强得多，对于电压低电流大的场源(如某些感应加热设备的模具)，磁场要比电场大得多。
近区场的电磁场强度比远区场大得多。
从这个角度上说，电磁防护的重点应该在近区场。
近区场的电磁场强度随距离的变化比较快，在此空间内的不均匀度较大。
远区场的主要特点如下：在远区场中，所有的电磁能量基本上均以电磁波形式辐射传播，这种场辐射强度的衰减要比感应场慢得多。
在远区场，电场强度与磁场强度有如下关系：在国际单位制中，E=377H，电场与磁场的运行方向互相垂直，并都垂直于电磁波的传播方向。
远区场为弱场，其电磁场强度均较小近区场与远区场划分的意义：通常，对于一个固定的可以产生一定强度的电磁辐射源来说，近区场辐射的电磁场强度较大，所以，应该格外注意对电磁辐射近区场的防护。
对电磁辐射近区场的防护，首先是对作业人员及处在近区场环境内的人员的防护，其次是对位于近区场内的各种电子、电气设备的防护。
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测试方法分析：
作为EMI测试一般有两者测试方法，近场测试和远场测试。具体两者用途见下表：
近场测试（频谱分析仪+探头）
远场测试（暗室测试）目的调试性，诊性测试，确定EMI产生的源头和区域
指标性测试
测试参数
磁场（电流）
电磁场
特点
单次测量结果没有意义，需要在相同设置下测量两次，通过两次结果的差值来判断改善效果
测量结果即EUT真实数据，也可以用两次测试结果的差值来判断改善效果。
缺点
可重复性差，对人员素质要求较高
费用较高
远场频率点在近场一定能测到，近场测试点在远场不一定测得到。近场的两次测试差值在远场上不一定也有同样的改善。
近场测量图示：
远场测量图示：