4-1电子显微分析概论
电子显微分析

(3)电子光学可仿照几何光学把电子运动轨迹看成射线,并由此引入一 系列的集合光学参数来表征电子透镜对于电子射线的聚焦成像作用。
但应注意电镜中的电子光学:
(1)是真空中的静场,即电、磁场与时间无关,且处于真空中。
(2)入射的电子束轨迹必须满足离轴条件:
|
r
|2
0
(1)
dr
2
1
(2)
dz
• 旋转对称的 磁场对电子束有聚焦作用,能使电子束聚焦成像。产生这 种旋转对称非均匀磁场的线圈装置就是磁透镜。
• 目前电子显微镜中使用的是极靴磁透镜,它是在短线圈、包壳磁透镜的 基础上发展而成的。
• 磁透镜的作用使入射电子束聚焦成像。几种磁透镜的作用示意图如下:
• 磁透镜与静电透镜的比较:
磁透镜与静电透镜都可以作会聚透镜,但现代所有的透射电镜除电子光源外都 用磁透镜做会聚镜,主要因为:一是磁透镜的焦距可以做得很短,获得高 的放大倍数和较小的球差;二是静电透镜要求过高的电压,使仪器的绝缘 问题难以解决。
1. 电子在静电场中的运动
电子在静电场中受到电场力的作用将产生加速度。初速度为0的自由电 子从零电位到达V电位时,电子的运动速度v为:
v 2eV
(10)
m
即加速电压的大小决定了电子运动的速度。当电子的初速度不为零、
运动方向与电场力方向不一致时,电场力不仅改变电子运动的能量,
而且也改变电子的运动方向。如图1
近一、二十年,出现了联合透射、扫描,并带有分析附件的分析电镜。 电镜控制的计算机化和制样设备的日趋完善,使电镜成为一种既观察 图象又测结构,既有显微图象又有各种谱线分析的多功能综合性分析 仪器。
80年代后,又研制出了扫描隧道电镜和原子力显微镜等新 型的电子显微镜。 我国自1958年试制成功第一台电镜以来,电镜的设计、制 造和应用曾有相当规模的发展。主要产地有北京和上海。 但因某些方面的原因,国产电镜逐渐被进口电镜取代。
《电子显微结构分析》课件

3 优点
能够观察样品的内部结构和组织,具有更高 的分辨率。
4 缺点
对样品的要求较高,需要制备薄片。
四、电子衍射技术
基本原理
计算方法
通过电子束与样品相互作用后的 衍射现象来确定样品的晶体结构。
根据电子衍射的衍射图案,利用 衍射公式计算出样品的晶格参数 和晶体结构。
应用
用于材料的晶体结构研究和晶体 缺陷分析。
优点
高分辨率,能够观察样品的表面形貌和元素分 布。
成像过程
扫描样品表面,通过收集和分析由扫描电子束 时产生的信号来构建图像。
缺点
不能观察样品的内部结构和组织。
三、透射电子显微镜
1 基本原理
通过透射样品的电子束来观察和分析样品的 内部结构和组织。
2 成像过程
将电子束透射到样品上,通过收集透射电子 的信息来构建图像。
《电子显微结构分析》 PPT课件
本课件将介绍电子显微结构分析的原理和技术,以及最新进展和应用领域, 帮助您深入了解这一领域的知识。
一、什么是电子显微结构分析
电子显微结构分析是一种通过使用电子显微镜和电子衍射技术来观察和分析 材料的微观结构和组织的方法。
二、扫描电子显微镜
基本原理
通过扫描样品表面,利用电子束与样品交互作 用产生的信号来获取图像和表征材料的信息。
五、扫描透射电子显微镜
1
基本原理
结合了扫描电子显微镜和透射电子显微镜的原理,在扫描过程中获取样品的内部结构图像。
2
成像过程
将电子束透射到样品上并进行扫描,通过收集透射电子的信号来构建图像。
3
应用
用于观察材料扫描电 子显微镜
结合多聚焦离子束和电子显微 镜的原理,提高了成像分辨率 和分析能力。
第四章 电子显微镜分析基础

极靴小孔隙中。如图19.6(a)、(b)、(c)所示,(c)是一种强
磁透镜。由于透镜焦距与所采用的磁场相关 磁场越强 焦 距越短 放大倍数也就越大 电子显微镜的成像物镜大多采 用短焦距的强磁透镜
强磁透镜
2.3 电磁透镜的像差、分辨本领、景深和焦长
ro
2
理论上 电子显微镜的分辨率很高 但事实上 其分辨率远
2.4 电子显微镜与光学显微镜的对比 电子显微镜在分辨本领、放大倍数、景深、焦长等 许多方面有着明显的优点 它能把微区(几个微米)、
甚至超微区(10nm以下)把形貌、成分、结构三个主
要测试方面的内容密切结合起来进行研究
电子显微镜的发明及发展开拓了许多新的研究领
域 但电子显微镜也有一些局限性 需要光学显微镜和
第4章
电子显微镜分析基础
一、光学显微镜的分辨率
人眼分辨极限只有0.2mm 光学显微镜的分辨极限是
0.1μm 电子显微镜的分辨率普遍达到0.3nm 最好的电
子显微镜的分辨率已经达到0.07nm 一般原子、离子半
径大约在0.1nm左右
在电子显微镜下可以直接观察到分子 甚至原子的世界 这
个分辨能力比人眼高出了近100万倍 比最好的光学显微
2.3.2电磁透镜的分辨本领 分辨本领取决于透镜的像差和衍射效应所产生的 散焦斑(或称埃利斑)尺寸的大小 光学显微镜在最佳 情况下 分辨本领可以达到照明光波波长的二分之一 电子束波长比可见光波长小五个数量级 如果电磁透镜 像差(特别是球差)能得到较好的矫正 那么它的分辨 本领理应达到照明波的半波长0.002nm极限值(按加速
1 eV m 2 2
式中 e为电子电荷绝对值 V为加速电压(kV) ν为电子运动速 度 m为电子的质量 从上式可以得到电子运动的速率为:
电子显微镜原理教学课件

样品吸收电子,导致不同区域 呈现不同亮度。
透射
部分电子穿过样品,形成透射 图像。
扫描电镜成像
逐点扫描样品表面,形成高分 辨率图像。
电子显微镜的分辨率
01
02
03
理论分辨率
受电子波长和物镜的NA 值影响。
实际分辨率
受到多种因素影响,如样 品厚度、结晶度和电子束 能量等。
提高分辨率的方法
采用更高能量的电子束、 提高物镜的NA值和使用 更短的波长。
电子显微镜原理教学课 件
目 录
• 电子显微镜简介 • 电子显微镜工作原理 • 电子显微镜样品制备技术 • 电子显微镜图像分析 • 电子显微镜操作与维护 • 电子显微镜未来发展趋势
01
电子显微镜简介
电子显微镜的发展历程
1926年
德国物理学家Max Knoll和Ernst Ruska发 明了第一台电子显微镜
放置样品
将需要观察的样品放置在载物 台上,并调整样品的位置和角 度。
观察
观察并记录样品的形态、结构 等特征。
电子显微镜的常见故障及排除方法
图像模糊
可能是由于焦距调节不当或样品表面 不平整导致,需要重新调整焦距或处 理样品表面。
图像扭曲或变形
可能是由于电子束倾斜或样品放置不 正确引起,需要检查电子束的路径和 样品放置情况。
无法聚焦
可能是由于样品太厚或焦距调节不当 导致,需要减小样品厚度或重新调整 焦距。
光源异常
可能是由于灯泡损坏或电源故障导致 ,需要更换灯泡或检查电源连接。
电子显微镜的日常维护与保养
清洁镜头
定期用干燥的镜头纸或镜头布擦拭镜头表面 ,保持镜头清洁。
定期校准
根据需要,定期对电子显微镜进行校准,以 确保观察结果的准确性。
电子显微分析

透射电子流
图1-3
1. 电子与固体作用产生的信号
IR为背散射电子流,它是入射电子与固体作用后又离开固体的总电 子流。背散射电子主要由两部分组成,一部分是被样品表面原子反射
回来的入射电子,另一部分是入射电子进入固体后通过散射连续改变
表面元素发射总强度
背散射电子流 二次电子流
透射电子流
样品吸收电流
前进方向,最后又从样品表面 发射出去的入射电子。前者一 般没有能量损失,称为弹性背 散射电子;后者通常有能量损 失,称为非弹性背散射电子。
绪论
❖电子显微分析主要仪器:
➢透射电子显微镜(TEM) 是一种具有原子尺度分辨能力,能同时提供物
理分析和化学分析所需全部功能的仪器。选区电子衍 射技术的应用,使得微区形貌与微区晶体结构分析结 合起来,再配以能谱或波谱进行微区成份分析,得到 全面的信息。
绪论
➢扫描电子显微镜(SEM)
SEM解释试样成像及制作试样较容易;以较高 的分辨率(3.5nm)和很大的景深,清晰地显示粗 糙样品的表面形貌,辐以多种方式给出微区成份等 信息,用来观察断口表面微观形态,分析研究断裂
绪论
表 1 各种主要分析仪器之比较表
常用光电观测仪器比较
仪器 特性
质波
波长
光学显微镜 可见光 ~5000
X光衍射仪 X光 ~1
电子 0.037
电子显微镜 (100 kV)
介质 鉴别率
空气 ~ 2000
偏折
聚焦镜 试片
光学镜片 不限厚度
讯号类 表明区域
空气
X衍射: 直接成像: ~ μm
无
反射:不限厚度 穿透:~mm 统计平均
h
150
2em 0U12m e0cU 2
6.电子显微分析概要

电镜的发展历史
1924年,德布罗意计算出电子波的波长。 1926年,布施发现轴对称非均匀磁场能使
电子波聚焦。 1932~1933年间,德国的劳尔和鲁斯卡
等研制成功世界上第一台电子显微镜。 1939年,德国的西门子公司生产出分辨本
领优于10nm的商品电子显微镜。
光学显微镜最小分辨距离计算公式
目前常用的电子枪是热阴极三极 电子枪,如图所示。它由发夹形钨丝 阴极、阳极和位于阴、阳极之间且电 位比阴极负数百伏的栅极组成。能发 射直径小于100μm的电子束斑。
(2) 聚光镜
聚光镜大多是磁透镜,其 作用是将来自电子枪的电子束 会聚到被观察的样品上,并通 过它来控制照明强度、照明孔 径角和束斑大小。高性能透射 电镜都采用双聚光镜系统。这 种系统由第一聚光镜(强激磁 透镜)和第二聚光镜(弱激磁透 镜)组成。
h —— Plank 常数 m —— v —— 电子速度
显然,v越大, λ越小,电子的速度与 其加速电压(E)有关,即
而
则
埃
即若被150伏的电压加速的电子,波长为 1 埃。若加速电压很高,就应进行相对论修正。
电子波长与加速电压的关系(经相对论修正)
加速电压(kV) 10 20 30
50
60
波长(Å)
比可见光波长更短的电磁波有: 1)紫外线 —— 波长13-390nm,用275nm的 紫外线可使分辨率达到100nm,提高一倍,而 紫外线会被物体强烈的吸收; 2)X 射线 ——波长0.05-10nm,但至今无法 使其会聚 ; 3)电子波。
电子的波长
根据德布罗意物质波的假设,即电子具 有微粒性,也具有波动性。电子波波长:
2. 样品室
样品室位于照明系统和物镜之间,其作用是安装各种形 式的样品台,提供样品在观察过程中的各种运动,如平移(选 择观察区域)、倾斜(选择合适的样品位向)和旋转等。
材料研究方法第四章电子显微分析[可修改版ppt]
电子显微分析
电子显微镜光学基础 透射电子显微分析 扫描电子显微分析 电子探针X射线显微分析
§1 电子显微镜光学基础
一、光学显微镜的局限性 二、电子的波性及波长 三、电磁透镜的像差和理论分辨本领 四、电磁透镜的场深和焦深
一、光学显微镜的局限性— 分辨本领有限
P—动量 m —电子质量 h—普朗克常数 —波长 v —电子运动的速度
De Broglie 波:h/mv
加速电子的动能与 电场加速电压的关系为:
—电子的速度 V —加速电压 m—电子静止质量
与V的关系式
➢ 加速电压较低时
h 12.25(埃)电子束的波
2m0eV V
长随电子枪 加速电压的
➢ 加速电压较高时
增高而减小
12.25
(埃)
V( 10.9781506V)
当加速电压为100kV时,电子束的波长约为可见光波长的 十万分之一。 因此,若用电子束作照明源,显微镜的分辨本领要高得多。
三、电磁透镜的像差和理论分辨本领
•电磁透镜在成像时会产生像差。 像差:不汇聚在一点;不按比例成像;不相似。
* 像差分为:几何像差和色差两类。
相似性:成像原理类似 不同点: (1)OM以可见光作照明束;TEM以电子束为照明 束。 (2)在OM中,将可见光聚焦成像的是玻璃透镜;
在TEM中,相应的为磁透镜。 (3)TEM的像分辨本领高,同时兼有结构分析的功
1、工作原理
透
射
电
照明源:聚焦电子束
子 显
试样:对电子束透明的薄膜
§2 透射电子显微分析
利用透射电子显微镜可以观察和分析材料的 形貌、组织和结构 透射电子显微镜是一种高分辨宰、高放大倍 数的显微镜。它用聚焦电子束作为照明源,使 用对电子束透明的薄膜试祥(几十到几百nm), 以透射电子为成象信号。
电子显微分析复习提纲学习资料
电⼦显微分析复习提纲学习资料电⼦显微分析复习提纲1.何为电磁透镜?理解并掌握电⼦在磁场中的运动规律,能够作图说明之。
:把电磁线圈所产⽣的磁场所构成的透镜成为电磁透镜,电⼦在磁场中以圆锥螺旋近轴运动聚焦。
2.电磁透镜的像差有哪些?它们是如何产⽣的?如何消除和减⼩?:⼏何像差和⾊散。
⼏何像差分为球差和像散。
球差:因电磁透镜中⼼区和边缘区对电⼦折射能⼒不同造成的。
减⼩CS值和减⼩孔径⾓a。
像散:由透镜磁场的⾮旋转对称引起的。
主要原因极靴内孔不远,极靴上下轴线错位,极靴材料不均匀,极靴孔污染。
措施:消像散器。
⾊差:⼊射电⼦的波长或能量的⾮单⼀性造成的。
主要原因:加速电压不稳,电⼦与样品的⾮弹性散射措施:稳定加速电压,样品厚度做薄,减⼩孔径⾓。
3.影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么?景深和焦长对透射电⼦显微镜的成像和设计有何影响?:景深:保持像清晰情况下,允许物平⾯沿透镜主轴⼀定的距离。
电磁透镜分辨率和孔径⾓。
焦长:固定物距和焦距,像平⾯沿透镜主轴移动时,仍能保持像清晰的距离范围。
分辨率,孔径⾓,透镜放⼤倍数。
对设计的影响:景深越⼤,焦长越长,可以使投射电镜成像更⽅便,⽽且电镜设计荧光屏和相机位置⾮常⽅便。
对成像的影响:物镜:强励磁短焦距,放⼤倍数较⾼。
中间镜:焦距很长,放⼤倍数通过调节励磁电流确定。
投影镜:短焦距,强励磁。
在⽤电⼦显微镜分析图像时,⼀般物镜和样品的距离是不变的,因此改变物镜放⼤倍数进⾏成像时,主要是改变物镜的焦距和像距来满⾜条件。
中间镜像平⾯和投影镜物平⾯的距离可以看做是不变的,因此要在荧光屏上得到⼀张清晰的放⼤像,必须使物镜的像平⾯和中间镜的物平⾯重合,即改变中间镜的焦距和物距。
4.什么是分辨率,影响透射电⼦显微镜分辨率的因素是哪些?如何提⾼电磁透镜的分辨率?分辨率:两个物点通过透镜成像,在像平⾯形成两个瑞利斑,如果两个物点相距较远,两个瑞利斑也各⾃分开;但如果两个物点相互靠近,两个瑞利斑也相互靠近,直⾄重叠,当两个瑞利斑的中⼼距等于瑞利斑半径时,此时两个物点的距离为分辨率。
电子显微分析知识点总结大全
电子显微分析知识点总结(粗字体为重点)
第一讲电子光学基础
1、电子显微分析特点
2、Airy斑概念
3、Rayleigh准则
4、光学显微镜极限分辨率大小:半波长,200nm
5、电子波的速度、波长推导公式
6、光学显微镜和电子显微镜的不同之处:光源不同、透镜不同、环境不同
7、电磁透镜的像差产生原因,如何消除和减少像差。
8、影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素,如何提高电磁透镜的分辨率
9、电子波的特征,与可见光的异同
第二讲TEM
1、TEM的基本构造
2、TEM中实现电子显微成像模式与电子衍射模式操作
第三讲电子衍射
1、电子衍射的基本公式推导过程
2、衍射花样的分类:斑点花样、菊池线花样、会聚束花样
3、透射电子显微镜图像衬度,各自的成像原理。
第四讲TEM制样
1、粉末样品制备步骤
2、块状样品制备减薄的方法
3、块状脆性样品制备减薄——离子减薄
4、塑料样品制备——离子减薄
5、复型的概念、分类
第五讲SEM
1、电子束入射固体样品表面会激发的信号、特点和用途
2、SEM工作原理
3、SEM的组成
4、SEM的成像衬度:二次电子表面形貌衬度、背散射电子原子序数衬度、吸收电子像的
衬度、X射线图像的衬度
第六讲EDS和WDS
1、EDS探测系统——锂漂移硅固体探测器
2、EDS与WDS的优缺点
第七讲EBSD
1、EBSD的应用
第八讲其它电子显微分析方法
1、各种设备的缩写形式。
电子显微分析简述
电子显微分析在材料研究中的应用
1、形态分析 2、元素的存在状态分析 3、玻璃的非晶态结构分析 4、材料断面的研究 5、晶界(微观研究) 6、微区结构分析 7、高分子材料的研究 8、………………….等等
电子与固体物质相互作用的物理信号
总结如下:
1、背散射电子 2、二次电子 SEM TEM EPMA
煤灰/硫化物混合颗粒的TEM图象
海盐气溶胶颗粒;匈牙利上空大陆大气层中收集到的煤灰/硫化 物混合颗粒
沙尘暴的矿物颗粒
生物磁铁矿晶体的完好晶形 (TEM照片)
Bi-系超导氧化物的堆积缺陷层调整 Stacking fault(堆垛层错) Layer modulation(层状调制结构)
Back to
矢量与r不垂直。这时g的端点落在第非零层倒易点平面。
与 ruvw 的关系示意图 ruvw
非零层倒易面
g g
零层倒易面
晶体对电子的衍射现象,可用布拉格定律来描 述
2dhkl sinθ = n λ 又等价于衍射方程
k´-k=g
θ sample
Beam
θ g k k′
4. 倒易点阵与电子衍射图的关系
塑料一级复型图像衬度
二
衍射衬度
衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条 件不同和结构振幅的差异。
明场像 上述采用物镜光栏将衍射束挡掉,只让透射束 通过而得到图象衬度的方法称为明场成像, 所得的图象称为明场像。 暗场像 用物镜光栏挡住透射束及其余衍射束,而只让 一束强衍射束通过光栏参与成像的方法,称 为暗场成像,所得图象为暗场像。
O O / O* G 50
在这个平面内的低指数倒易点 都落在反射球上
5. 倒易阵点的权重---结构振幅(结构因数)
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分辨本领
指显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离。以物
镜的分辨本领来定义显微镜的分辨本领。
1、光的折射现象及成像原理
一个物体可看作是由许多物点所组成,每一个物点散射的光经 透镜后都会聚在相应的像点上,许多的像点就构成了物体的像。
B` A B
F
.
.
F
A`
R 0.61 r0 r0 M n sin
一般来说,孔径角较大时为70-75°,n约为1.5,则nsinα约为1.25-1.35,故:
r0 0.5
波长是透镜分辨率大小的决定因素。 透镜的分辨本领主要取决于照明束波长λ。若用波长最短 的可见光(λ=400nm)作照明源, 则
贝齐格
赫尔
莫纳
4.1.2 电子束的波长
比可见光波长更短的有: 1)紫外线 —— 会被物体强烈的吸收; 2)X 射线 —— 无法使其会聚 ; 3)电子波 根据德布罗意物质波的假设,即电子具有微粒性,也 具有波动性。电子波
h —— Plank 常数 ,
m —— v ——电子速度
初速度为0的自由电子从零电位开始运动,因受到加速电压U的 作用获得速度为v: 1/2mv2 = eU 当电子速度v 远远小于光速C 时,电子质量m 近似等于电子静 止质量m0,由上述两式整理得:
Rs rs M
也就是说,当物平面上两点距离小于2rs时,则透镜不能分辨。
rs可通过下式计算:
1 3 rs Cs 4
Cs为球差系数,α为孔径半角。 采用小孔径成像是减少球差的有效途径。
(2)色差:是由于入射电子波长(或能量)的非单一性造成。
E rA C A E
电子束的能量变化率取决于加速电压的 稳定性和电子穿过样品时发生非弹性散 射的程度。
L1 透镜成像公式:
L2
1 1 1 L1 L2 f
A`B` L2 放大倍数:M AB L1
2、光的衍射现象和分辨本领的极限
由于光的衍射,使得由物平面内的点A 、B在象平面形成一A` 、 B`圆斑,圆斑由具有一定尺寸的中央亮斑及其周围明暗相间的 圆环组成,称为埃利斑(Airy斑)。
0.61 R M n sin
h 2em0U
电子波长与加速电压平方根成反比,即加速电压越高,电子 波长越短,但当电压很高时,电子质量需引入相对论进行校正。
将常数代入上单位为J· s,我们将得到:
1.226 U
[nm]
表1 不同加速电压下的电子波长
加速电压/kV 20 30 50 100 200 500 1000
n-透镜物方介质的折射率 λ -照明光波长 α -透镜孔径半角,即入射光束与透镜主轴的夹角; nsin α -数值孔径 M-放大倍数
R
R
图(1)两个Airy斑 明显可分辨出。
图(2)两个Airy斑 刚好可分辨出。
图(3)两个Airy斑 分辨不出。
将刚好可分辨出的两Airy斑中心间距相应于两个物点间距离△r0 定义为显微镜能分辨出的最小距离,此即透镜的分辨本领。
DL与电磁透镜分辨率△r0、像点所张的孔径半角β之间的关系:
2r0 M 2r0 M DL t an
M 2 2r0 M DL
其中,M为透镜的放大倍数
4.1.4 电子束与固体物质间的相互作用
电子束与物质相互 作用产生的信号图
(3)电磁透镜的分辨本领
电磁透镜的分辨本领由衍射效应和球面像差来决定。 衍射效应对分辨本领的影响: Δr0=0.61λ/Nsinα 球差对分辨率的影响: r 1 C 3 s s
4
必须确定一个最佳孔径半角,使得衍射效应Airy斑和球差散焦斑 尺寸大小相等时,表明两者对透镜分辨本领影响效果一样。
改变电流可以方便调整透镜的焦距,从而使放大倍数发生改变
电磁透镜结构示意图
2、电磁透镜的像差与分辨本领
控制电子束的运动在电子光学领域中主要使用电磁透镜
装置。但电磁透镜在成像时会产生像差-由于透镜物理条
件的限制,所成的像会模糊不清或发生畸变,形成的所有 缺陷和偏差统称为像差。 像差分为几何像差和色差两类。 几何像差:由于透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的像
d0 = 0.61×3.7×10-3/10-2 = 0.225 nm
4.1.3 电磁透镜
1、电磁透镜的焦距
电镜中用来对电子束聚焦的是电磁透镜,简单的电磁透镜 就是一个通电的短线圈。通电线圈所产生的磁场对电子束 有聚焦成像的作用。
其焦点f为:
RV0 f A ( NI ) 2
式中,V0-电压; R-透镜半径;I-电流;N-线圈匝数; A-与透镜结构有关的比例常数
电子波长/10-3nm 8.59 6.98 5.36 3.70 2.51 1.42 0.687
一般电镜的加速电压为50-200KV,100KV以上的为超高压电镜。
当加速电压为100kV时,电子束的波长约为可 见光波长的十万分之一。因此,若用电子束作照 明源,显微镜的分辨本领要高得多。但是,电磁 透镜的孔径半角的典型值仅为10-2-10-3rad。如 果加速电压为100kV,孔径半角为10-2rad,那么 分辨本领为:
Dr与电磁透镜分辨率△r0、孔径半角α之间的关系:
2r0 2r0 Dr tan
取 Δr0=1 nm, α=10-2~10-3rad 则 Dr = 200~2000nm 试样(薄膜)一般厚200~300nm,上述景深范围可 保证样品整个厚度范围内各个结构细节都清晰可见。
蓝宝石衬底表面形貌观察 表面三维岛状结构
d0=200nm
200nm是光学显微镜分辨本领的极限
提高透镜的分辨本领:增大数值孔径是困难的和有限的,唯有 寻找比可见光波长更短的光线才能解决这个问题。
知识补充
2014年诺贝尔化学奖给了三个物理学家:艾力克· 贝齐格 (Eric Betzig)、斯特凡· W· 赫尔(Stefan W. Hell)和 W· E· 莫纳(W. E. Moerner),以表彰他们对于发展超分 辨率荧光显微镜做出的卓越贡献。他们的突破性工作使光 学显微技术进入了纳米尺度,从而使科学家们能够观察到 活细胞中不同分子在纳米尺度上的运动。
的办法。这样,像差对电子透镜分辨本领
的限制就不容忽略了。
(1)球差
即球面像差,是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子 的折射能力不符合预定的规律而造成的。离主轴较远的电子 比主轴附近的电子被折射程度要大,当物点P通过透镜成像 时,电子就不会聚到同一焦点上,而形成一个散焦斑。
得到的最小散焦斑的半径用Rs表示。若把Rs除以放大倍数,就可以 把其折算到物平面上去,大小为:
焦长:指物点固定不变(物距不变),在保持成像清 晰的条件下,像平面沿透镜轴线可移动的距离。
当透镜焦距、物距一定时,像平面在一定的轴向距
离内移动,也会引起失焦。如果失焦尺寸不超过由衍 射效应和像差引起的散焦斑,那么像平面在一定的轴 向距离内移动,对透镜像分辨率并不产生影响。
因此,当用倾斜观察屏观察像时,以及当照相底片不位于观察 屏同一像平面时,所拍摄的像也是清晰的。投影仪的投影平面 之所以对距离要求不严也是由于焦长很大的缘故。
目前电镜的最佳分辨本领达到了0.1nm数量级。
3、电磁透镜的景深和焦长
电磁透镜的特点是景深大(场深),焦长很长。
透镜的景深是指在保持像清晰的前提下,试样在物平面 上下沿镜轴可移动的距离Dr。换言之,在景深范围内, 样品位置的变化并不影响物像的清晰度。 从原理上讲,当透镜焦距、像距一定时,只有一层样品 平面与透镜的理想物平面重合,能在透镜像平面上获得 该层平面的理想图象,而偏离理想物平面的物点都存在 一定程度的失焦,他们在透镜像平面上将产生具有一定 尺寸的失焦圆斑,如果失焦圆斑尺寸不超过由衍射效应 和像差引起的散焦斑,那么对透镜像分辨本领并不产生 影响。
差。主要指球差和像散。
色差:由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而 造成的像差。
透镜的实际分辨本领除了与衍射效应有 关以外,还与透镜的像差有关。 光学透镜,已经可以采用凸透镜和凹透 镜的组合等办法来矫正像差,使之对分辨
本领的影响远远小于衍射效应的影响;
但电子透镜只有会聚透镜,没有发散透
镜,所以至今还没有找到一种能矫正球差
第四章
发育中的拟南芥花芽
扫描电子显微镜拍摄,人工上色,萼片为绿色,花瓣为红色,花药为橙色,柱 头未上色。
图为西番莲花粉的扫描电子显微镜照片
4.1 引言 - 电子光学基础 4.1.1 分辨本领
1) 人的眼睛仅能分辨0.1~0.2mm的细节
2) 光学显微镜,人们可观察到象细菌那样小的物体。
3) 用光学显微镜来揭示更小粒子的显微组织结构是不